JP3205114B2 - 被検体の異常箇所標定装置 - Google Patents
被検体の異常箇所標定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被検体が発生するＡ
Ｅに基づいて、被検体の異常箇所を標定する被検体の異
常箇所標定装置に関する。
Ｅに基づいて、被検体の異常箇所を標定する被検体の異
常箇所標定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の被検体の異常箇所標定装
置としては、被検体の異常箇所が発生するＡＥを、被検
体に取り付けられた２つのＡＥセンサで検出し、この２
つのＡＥセンサからのＡＥ信号Ｓ１,Ｓ２を、図５に示
すように包絡線検波して、この包絡線検波したＡＥ信号
ＳＳ１,ＳＳ２のピークの発生時刻間の時間差に基づい
て、上記被検体の異常箇所を標定するようにしたものが
ある。
置としては、被検体の異常箇所が発生するＡＥを、被検
体に取り付けられた２つのＡＥセンサで検出し、この２
つのＡＥセンサからのＡＥ信号Ｓ１,Ｓ２を、図５に示
すように包絡線検波して、この包絡線検波したＡＥ信号
ＳＳ１,ＳＳ２のピークの発生時刻間の時間差に基づい
て、上記被検体の異常箇所を標定するようにしたものが
ある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記ＡＥ信
号ピークの時間差を測定する最小単位時間を小さくすれ
ばする程、被検体の異常箇所の標定精度が良くなるが、
この場合、上記時間差を格納する記憶容量を大きくする
必要が生じる。逆に、上記最小単位時間を大きくすれ
ば、測定精度が粗くなる。著しい場合には、最小単位時
間が過大になって、全く位置標定ができなくなる。特
に、被検体の種類によって、ＡＥの伝搬速度が異なるか
ら、この最小単位時間の設定が位置標定に大きく影響す
る。従って、被検体の種類および検出装置の記憶容量に
応じて、上記ＡＥ信号のピークの時間差の最小単位時間
を最適に設定する必要がある。
号ピークの時間差を測定する最小単位時間を小さくすれ
ばする程、被検体の異常箇所の標定精度が良くなるが、
この場合、上記時間差を格納する記憶容量を大きくする
必要が生じる。逆に、上記最小単位時間を大きくすれ
ば、測定精度が粗くなる。著しい場合には、最小単位時
間が過大になって、全く位置標定ができなくなる。特
に、被検体の種類によって、ＡＥの伝搬速度が異なるか
ら、この最小単位時間の設定が位置標定に大きく影響す
る。従って、被検体の種類および検出装置の記憶容量に
応じて、上記ＡＥ信号のピークの時間差の最小単位時間
を最適に設定する必要がある。
【０００４】ところが、上記従来の被検体の異常箇所標
定装置では、上記ＡＥ信号のピークの時間差の最小単位
時間を、被検体の寸法,形状,種類に応じて手動で設定し
なければならないので、取り扱いが繁雑になるという問
題がある。
定装置では、上記ＡＥ信号のピークの時間差の最小単位
時間を、被検体の寸法,形状,種類に応じて手動で設定し
なければならないので、取り扱いが繁雑になるという問
題がある。
【０００５】そこで、この発明の目的は、ＡＥ信号のピ
ークの時間差を測定する最小単位時間を、被検体に応じ
て、最適に、かつ自動的に設定することができる被検体
の異常箇所標定装置を提供することにある。
ークの時間差を測定する最小単位時間を、被検体に応じ
て、最適に、かつ自動的に設定することができる被検体
の異常箇所標定装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の被検体の異常箇所標定装置は、被検体に
設けられ、上記被検体が発生するアコースティックエミ
ッション(ＡＥ)を検出してＡＥ信号を出力すると共に、
所定の間隔を互いに隔てられた２つのＡＥセンサと、上
記２つのＡＥセンサからのＡＥ信号を受けて、一方のＡ
ＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻と、他方のＡＥセ
ンサからのＡＥ信号を受けた時刻との時刻差を計測する
被検体ＡＥ到達時刻差計測手段とを備え、上記時刻差に
基づいて被検体の異常箇所を標定する被検体の異常箇所
標定装置であって、上記一方のＡＥセンサとの距離が、
上記２つのＡＥセンサの間の距離に比べて実質的に零に
なるように、上記被検体に装着したＡＥ発振器と、上記
ＡＥ発振器が発生した発振器ＡＥが上記一方のＡＥセン
サに到達するまでの発振器ＡＥ到達時間と、上記ＡＥ発
振器が発生した発振器ＡＥが上記他方のＡＥセンサに到
達するまでの発振器ＡＥ到達時間との発振器ＡＥ到達時
間差を計測する発振器ＡＥ到達時間差計測手段と、上記
到達時間差を１以上の所定の数で除した値を、上記被検
体ＡＥ到達時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小
単位時間に設定する時刻差計測クロック設定手段とを備
えたことを特徴としている。
め、この発明の被検体の異常箇所標定装置は、被検体に
設けられ、上記被検体が発生するアコースティックエミ
ッション(ＡＥ)を検出してＡＥ信号を出力すると共に、
所定の間隔を互いに隔てられた２つのＡＥセンサと、上
記２つのＡＥセンサからのＡＥ信号を受けて、一方のＡ
ＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻と、他方のＡＥセ
ンサからのＡＥ信号を受けた時刻との時刻差を計測する
被検体ＡＥ到達時刻差計測手段とを備え、上記時刻差に
基づいて被検体の異常箇所を標定する被検体の異常箇所
標定装置であって、上記一方のＡＥセンサとの距離が、
上記２つのＡＥセンサの間の距離に比べて実質的に零に
なるように、上記被検体に装着したＡＥ発振器と、上記
ＡＥ発振器が発生した発振器ＡＥが上記一方のＡＥセン
サに到達するまでの発振器ＡＥ到達時間と、上記ＡＥ発
振器が発生した発振器ＡＥが上記他方のＡＥセンサに到
達するまでの発振器ＡＥ到達時間との発振器ＡＥ到達時
間差を計測する発振器ＡＥ到達時間差計測手段と、上記
到達時間差を１以上の所定の数で除した値を、上記被検
体ＡＥ到達時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小
単位時間に設定する時刻差計測クロック設定手段とを備
えたことを特徴としている。
【０００７】
【作用】上記構成の被検体の異常箇所標定装置は、ＡＥ
発振器が発生した発振器ＡＥが上記一方のＡＥセンサに
到達するまでの発振器ＡＥ到達時間と上記ＡＥ発振器が
発生した発振器ＡＥが上記他方のＡＥセンサに到達する
までの発振器ＡＥ到達時間との発振器ＡＥ到達時間差を
上記発振器ＡＥ到達時間差計測手段が計測する。そし
て、上記時刻差計測クロック設定手段が、上記発振器Ａ
Ｅ到達時間差を１以上の所定の数で除した値を、上記被
検体ＡＥ到達時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最
小単位時間に設定する。
発振器が発生した発振器ＡＥが上記一方のＡＥセンサに
到達するまでの発振器ＡＥ到達時間と上記ＡＥ発振器が
発生した発振器ＡＥが上記他方のＡＥセンサに到達する
までの発振器ＡＥ到達時間との発振器ＡＥ到達時間差を
上記発振器ＡＥ到達時間差計測手段が計測する。そし
て、上記時刻差計測クロック設定手段が、上記発振器Ａ
Ｅ到達時間差を１以上の所定の数で除した値を、上記被
検体ＡＥ到達時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最
小単位時間に設定する。
【０００８】従って、本発明によれば、一方のＡＥセン
サから他方のＡＥセンサにＡＥが伝わる伝達時間と略一
致している上記発振器ＡＥ到達時間差よりも小さい値
を、被検体ＡＥ到達時刻差計測手段が計測する時刻差の
最小単位時間に、自動的に設定する。
サから他方のＡＥセンサにＡＥが伝わる伝達時間と略一
致している上記発振器ＡＥ到達時間差よりも小さい値
を、被検体ＡＥ到達時刻差計測手段が計測する時刻差の
最小単位時間に、自動的に設定する。
【０００９】したがって、本発明によれば、ＡＥ信号の
ピークの時間差の最小測定単位を、被検体の種類に応じ
て、最適に、かつ自動的に設定することができる。
ピークの時間差の最小測定単位を、被検体の種類に応じ
て、最適に、かつ自動的に設定することができる。
【００１０】
【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。
説明する。
【００１１】図１に本発明の被検体の異常箇所標定装置
の実施例のブロック図を示す。この実施例は、図４に示
すように、被検体４１の両端に取り付けられた２つのＡ
Ｅセンサ１１,１２を有し、この２つのＡＥセンサ１１,
１２には、増幅器１３,１４と、包絡線検波回路１５,１
６と、ＡＤ変換器１７，１８とが順に接続されている。
そして、上記ＡＤ変換器１７,１８には、コンピュータ
１９が接続され、このコンピュータ１９には、高速フー
リエ変換器２０と、ハードディスクドライブ２１と、Ｃ
ＲＴディスプレイ２２と、プリンタ２３が接続されてい
る。
の実施例のブロック図を示す。この実施例は、図４に示
すように、被検体４１の両端に取り付けられた２つのＡ
Ｅセンサ１１,１２を有し、この２つのＡＥセンサ１１,
１２には、増幅器１３,１４と、包絡線検波回路１５,１
６と、ＡＤ変換器１７，１８とが順に接続されている。
そして、上記ＡＤ変換器１７,１８には、コンピュータ
１９が接続され、このコンピュータ１９には、高速フー
リエ変換器２０と、ハードディスクドライブ２１と、Ｃ
ＲＴディスプレイ２２と、プリンタ２３が接続されてい
る。
【００１２】また、上記コンピュータ１９には、パルス
発生器２４を介して、発振用センサ２５が接続されてい
る。この発振用センサ２５は、図４に示すように、一方
のＡＥセンサ１１のすぐ近くに取り付けられている。
発生器２４を介して、発振用センサ２５が接続されてい
る。この発振用センサ２５は、図４に示すように、一方
のＡＥセンサ１１のすぐ近くに取り付けられている。
【００１３】上記被検体の異常箇所標定装置は、被検体
４１の異常箇所が発生するＡＥを、被検体４１に取り付
けられた２つのＡＥセンサ１１,１２で検出する。そし
て、図５に示すように、この２つのＡＥセンサ１１，１
２からのＡＥ信号Ｓ１,Ｓ２を、包絡線検波回路１５,１
６で包絡線検波する。そして、上記コンピュータ１９
は、この包絡線検波したＡＥ信号ＳＳ１,ＳＳ２のピー
クの時刻差に基づいて、被検体４１の異常箇所を標定す
る。この標定時に、必要に応じて、上記高速フーリエ変
換器２０を用いて、周波数解析を行う。また、上記ハー
ドディスクドライブ２１に、上記ＡＥ信号を計数したデ
ータを格納する場合もある。そして、上記異常箇所を標
定した結果は、上記ＣＲＴディスプレイ２２やプリンタ
２３に出力されて表示される。
４１の異常箇所が発生するＡＥを、被検体４１に取り付
けられた２つのＡＥセンサ１１,１２で検出する。そし
て、図５に示すように、この２つのＡＥセンサ１１，１
２からのＡＥ信号Ｓ１,Ｓ２を、包絡線検波回路１５,１
６で包絡線検波する。そして、上記コンピュータ１９
は、この包絡線検波したＡＥ信号ＳＳ１,ＳＳ２のピー
クの時刻差に基づいて、被検体４１の異常箇所を標定す
る。この標定時に、必要に応じて、上記高速フーリエ変
換器２０を用いて、周波数解析を行う。また、上記ハー
ドディスクドライブ２１に、上記ＡＥ信号を計数したデ
ータを格納する場合もある。そして、上記異常箇所を標
定した結果は、上記ＣＲＴディスプレイ２２やプリンタ
２３に出力されて表示される。
【００１４】次に、上記コンピュータ１９のメモリに格
納されたプログラムに基づいて、上記ＡＥ信号ＳＳ１,
ＳＳ２のピークの時間差を測定する最小単位時間を設定
する動作を説明する。
納されたプログラムに基づいて、上記ＡＥ信号ＳＳ１,
ＳＳ２のピークの時間差を測定する最小単位時間を設定
する動作を説明する。
【００１５】まず、ステップＳ１で、パルス発生器２４
からパルス信号を発生させ、発振用センサ２５から被検
体４１にパルス音を出力する。次に、ステップＳ２に進
み、発振用センサ２５から出力したパルス音が上記ＡＥ
センサ１１に達した時刻と、上記パルス音が上記ＡＥセ
ンサ１２に達した時刻との時刻差Δｔを計測する(図３
参照)。上記ステップＳ２が、発振器ＡＥ到達時間差計
測手段を構成している。上記発振用センサ２５は上記一
方のＡＥセンサ１１の真近に取り付けられているので、
上記時刻差Δｔは、ＡＥが、上記ＡＥセンサ１１からＡ
Ｅセンサ１２まで、到達するのに必要なＡＥ到達時間に
略等しい。また、上記ＡＥセンサ１１と１２は、上記被
検体４１の両端に取り付けられているので、上記時刻差
Δｔは、被検体４１におけるＡＥの到達時間の最大値で
あるとみなすことができる。
からパルス信号を発生させ、発振用センサ２５から被検
体４１にパルス音を出力する。次に、ステップＳ２に進
み、発振用センサ２５から出力したパルス音が上記ＡＥ
センサ１１に達した時刻と、上記パルス音が上記ＡＥセ
ンサ１２に達した時刻との時刻差Δｔを計測する(図３
参照)。上記ステップＳ２が、発振器ＡＥ到達時間差計
測手段を構成している。上記発振用センサ２５は上記一
方のＡＥセンサ１１の真近に取り付けられているので、
上記時刻差Δｔは、ＡＥが、上記ＡＥセンサ１１からＡ
Ｅセンサ１２まで、到達するのに必要なＡＥ到達時間に
略等しい。また、上記ＡＥセンサ１１と１２は、上記被
検体４１の両端に取り付けられているので、上記時刻差
Δｔは、被検体４１におけるＡＥの到達時間の最大値で
あるとみなすことができる。
【００１６】次に、ステップＳ３に進み、時刻差Δｔを
Ｎ回(Ｎは所定の自然数)だけ測定したか否かを判断し、
Ｎ回だけ測定したと判断したときにはステップＳ４に進
み、Ｎ回だけ測定していないと判断した時にはステップ
Ｓ１に戻る。ステップＳ４では、上記Ｎ回の測定によっ
て得たＮ個の時刻差Δｔの平均値を計算する。次に、ス
テップＳ５に進み、上記時刻差Δｔの平均値を、コンピ
ュータ１９のメモリに格納できるＡＥ信号の時刻差のデ
ータ数(たとえば、５１２個)で除した値を、ＡＥ信号Ｓ
Ｓ１,ＳＳ２のピークの発生時刻間の時刻差を計測する
最小単位時間に設定する。上記ステップＳ５が、時刻差
計測クロック設定手段を構成している。
Ｎ回(Ｎは所定の自然数)だけ測定したか否かを判断し、
Ｎ回だけ測定したと判断したときにはステップＳ４に進
み、Ｎ回だけ測定していないと判断した時にはステップ
Ｓ１に戻る。ステップＳ４では、上記Ｎ回の測定によっ
て得たＮ個の時刻差Δｔの平均値を計算する。次に、ス
テップＳ５に進み、上記時刻差Δｔの平均値を、コンピ
ュータ１９のメモリに格納できるＡＥ信号の時刻差のデ
ータ数(たとえば、５１２個)で除した値を、ＡＥ信号Ｓ
Ｓ１,ＳＳ２のピークの発生時刻間の時刻差を計測する
最小単位時間に設定する。上記ステップＳ５が、時刻差
計測クロック設定手段を構成している。
【００１７】このように、この実施例によれば、被検体
４１におけるＡＥの到達時間の最大値とみなすことがで
きる上記時刻差Δｔをメモリに格納可能なデータ個数で
除した値を、時刻差計測の最小単位時間に設定すること
を自動的に実行できる。したがって、この実施例によれ
ば、ＡＥ信号のピークの発生時刻間の時刻差の最小測定
単位を、被検体４１に応じて自動的かつ最適に設定する
ことができる。したがって、上記実施例によれば、上記
時刻差の最小測定単位を設定する手間を省くことがで
き、取り扱いを簡単にできる。
４１におけるＡＥの到達時間の最大値とみなすことがで
きる上記時刻差Δｔをメモリに格納可能なデータ個数で
除した値を、時刻差計測の最小単位時間に設定すること
を自動的に実行できる。したがって、この実施例によれ
ば、ＡＥ信号のピークの発生時刻間の時刻差の最小測定
単位を、被検体４１に応じて自動的かつ最適に設定する
ことができる。したがって、上記実施例によれば、上記
時刻差の最小測定単位を設定する手間を省くことがで
き、取り扱いを簡単にできる。
【００１８】
【発明の効果】以上より明らかなように、この発明の被
検体の異常箇所標定装置は、発生ＡＥ到達時間差計測手
段が、ＡＥ発振器が発生した発振器ＡＥが一方のＡＥセ
ンサに到達するまでの発振器ＡＥ到達時間と、上記ＡＥ
が他方のＡＥセンサに到達するまでの発振器ＡＥ到達時
間との発振器ＡＥ到達時間差を計測する。そして、時刻
差計測クロック設定手段が、上記発振器ＡＥ到達時間差
を１以上の所定の数で除した値を、被検体ＡＥ到達時刻
差計測手段が上記時刻差を計測する最小単位時間に設定
する。
検体の異常箇所標定装置は、発生ＡＥ到達時間差計測手
段が、ＡＥ発振器が発生した発振器ＡＥが一方のＡＥセ
ンサに到達するまでの発振器ＡＥ到達時間と、上記ＡＥ
が他方のＡＥセンサに到達するまでの発振器ＡＥ到達時
間との発振器ＡＥ到達時間差を計測する。そして、時刻
差計測クロック設定手段が、上記発振器ＡＥ到達時間差
を１以上の所定の数で除した値を、被検体ＡＥ到達時刻
差計測手段が上記時刻差を計測する最小単位時間に設定
する。
【００１９】従って、本発明によれば、一方のＡＥセン
サから他方のＡＥセンサにＡＥが伝わる伝達時間と略一
致している上記発振器ＡＥ到達時間差よりも小さい値
を、被検体ＡＥ到達時刻差計測手段が計測する時刻差の
最小単位時間に自動的に設定することができる。
サから他方のＡＥセンサにＡＥが伝わる伝達時間と略一
致している上記発振器ＡＥ到達時間差よりも小さい値
を、被検体ＡＥ到達時刻差計測手段が計測する時刻差の
最小単位時間に自動的に設定することができる。
【００２０】したがって、本発明によれば、ＡＥ信号の
ピークの時間差の最小測定単位を、被検体の種類に応じ
て、最適に、かつ自動的に設定することができる。した
がって、本発明によれば、上記時間差を測定する最小単
位時間を設定する手間を省くことができ、取り扱いを簡
単にできる。
ピークの時間差の最小測定単位を、被検体の種類に応じ
て、最適に、かつ自動的に設定することができる。した
がって、本発明によれば、上記時間差を測定する最小単
位時間を設定する手間を省くことができ、取り扱いを簡
単にできる。
【図１】 この発明の被検体の異常箇所標定装置の実施
例のブロック図である。
例のブロック図である。
【図２】 上記実施例が、ＡＥ信号のピークの時間差を
計測する最小単位時間を設定する動作を説明するフロー
チャートである。
計測する最小単位時間を設定する動作を説明するフロー
チャートである。
【図３】 上記実施例の発振用センサが発振したパルス
音のパルス波形図である。
音のパルス波形図である。
【図４】 被検体に発振用センサと２つのＡＥセンサと
を取り付けた状態を示す図である。
を取り付けた状態を示す図である。
【図５】 ＡＥ信号および包絡線検波したＡＥ信号の波
形図である。
形図である。
１１,１２…ＡＥセンサ、１３,１４…増幅器、１５,１
６…包絡線検波回路、１７,１８…ＡＤ変換器、１９…
コンピュータ、２０…高速フーリエ変換器 ２１…ハードディスクドライブ、２２…ＣＲＴディスプ
レイ、２３…プリンタ、２４…パルス発生器、２５…発
振用センサ、４１…被検体。
６…包絡線検波回路、１７,１８…ＡＤ変換器、１９…
コンピュータ、２０…高速フーリエ変換器 ２１…ハードディスクドライブ、２２…ＣＲＴディスプ
レイ、２３…プリンタ、２４…パルス発生器、２５…発
振用センサ、４１…被検体。
Claims (1)
- 【請求項１】 被検体に設けられ、上記被検体が発生す
るアコースティックエミッション(ＡＥ)を検出してＡＥ
信号を出力するとともに、所定の間隔を互いに隔てられ
た２つのＡＥセンサと、上記２つのＡＥセンサからのＡ
Ｅ信号を受けて、一方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受
けた時刻と、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた
時刻との時刻差を計測する被検体ＡＥ到達時刻差計測手
段とを備え、上記時刻差に基づいて被検体の異常箇所を
標定する被検体の異常箇所標定装置であって、 上記一方のＡＥセンサとの距離が、上記２つのＡＥセン
サの間の距離に比べて実質的に零になるように、上記被
検体に装着したＡＥ発振器と、 上記ＡＥ発振器が発生した発振器ＡＥが上記一方のＡＥ
センサに到達するまでの発振器ＡＥ到達時間と、上記Ａ
Ｅ発振器が発生した発振器ＡＥが上記他方のＡＥセンサ
に到達するまでの発振器ＡＥ到達時間との発振器ＡＥ到
達時間差を計測する発振器ＡＥ到達時間差計測手段と、 上記到達時間差を１以上の所定の数で除した値を、上記
被検体ＡＥ到達時刻差計測手段が上記時刻差を計測する
最小単位時間に設定する時刻差計測クロック設定手段と
を備えたことを特徴とする被検体の異常箇所標定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03985993A JP3205114B2 (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 被検体の異常箇所標定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03985993A JP3205114B2 (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 被検体の異常箇所標定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06249751A JPH06249751A (ja) | 1994-09-09 |
| JP3205114B2 true JP3205114B2 (ja) | 2001-09-04 |
Family
ID=12564705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03985993A Expired - Fee Related JP3205114B2 (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 被検体の異常箇所標定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3205114B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114486232B (zh) * | 2020-11-12 | 2023-09-22 | 珠海优特电力科技股份有限公司 | 阀门状态标定方法、装置、目标检测设备及存储介质 |
-
1993
- 1993-03-01 JP JP03985993A patent/JP3205114B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06249751A (ja) | 1994-09-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
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