JPH0658298B2 - 軸受の異常診断装置 - Google Patents
軸受の異常診断装置Info
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- JPH0658298B2 JPH0658298B2 JP63059012A JP5901288A JPH0658298B2 JP H0658298 B2 JPH0658298 B2 JP H0658298B2 JP 63059012 A JP63059012 A JP 63059012A JP 5901288 A JP5901288 A JP 5901288A JP H0658298 B2 JPH0658298 B2 JP H0658298B2
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims description 28
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title description 9
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 208000032368 Device malfunction Diseases 0.000 description 4
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ この発明はアコースティックエミッション(ＡＥ)を利用
した軸受の異常診断装置に関する。
した軸受の異常診断装置に関する。
＜従来の技術＞ 従来、ＡＥによる軸受の異常診断装置としては次のよう
なものがある。この軸受の異常診断装置は軸受からのＡ
ＥをＡＥセンサにより検出し、ＡＥセンサからの出力を
比較器で一定のしきい値と比較することによって、ＡＥ
信号が上記しきい値を超えたときにランプ等を点灯して
軸受の異常を表示するようにしている。
なものがある。この軸受の異常診断装置は軸受からのＡ
ＥをＡＥセンサにより検出し、ＡＥセンサからの出力を
比較器で一定のしきい値と比較することによって、ＡＥ
信号が上記しきい値を超えたときにランプ等を点灯して
軸受の異常を表示するようにしている。
＜発明が解決しようとする課題＞ しかしながら、上記従来の軸受の異常診断装置では単に
ＡＥ信号のレベルが一定のしきい値を超えたか否かによ
って、軸受の異常をランプ等で表示しているため、たと
えば装置が誤動作したり他の原因で多量のＡＥが発生し
た場合においても、表示としては軸受の異常としか表示
されず、軸受が正常であるにもかかわらず装置の停止，
軸受の分解が行われ、膨大な労力，経費の損失を招くと
いう問題があった。
ＡＥ信号のレベルが一定のしきい値を超えたか否かによ
って、軸受の異常をランプ等で表示しているため、たと
えば装置が誤動作したり他の原因で多量のＡＥが発生し
た場合においても、表示としては軸受の異常としか表示
されず、軸受が正常であるにもかかわらず装置の停止，
軸受の分解が行われ、膨大な労力，経費の損失を招くと
いう問題があった。
そこで、この発明の目的は、ＡＥの発生の周期性を考慮
し、かつ、それを表示することによって、軸受の異常、
装置の誤動作、あるいは装置の異常を判別できる軸受の
異常診断装置を提供することにある。
し、かつ、それを表示することによって、軸受の異常、
装置の誤動作、あるいは装置の異常を判別できる軸受の
異常診断装置を提供することにある。
＜課題を解決するための手段＞ この発明の原理を第４図に基づいて説明する。
第４図(a)は、ＡＥ信号を包絡線検波した後の検波波形
を示すものであり、レベルが急に高くなっている箇所が
異常時に発生するＡＥ信号でありレベルの低い箇所はバ
ックノイズを表わしている。このＡＥ信号は、軸受の異
常部位により特定の周期（特性周期）をもって発生す
る。すなわち内輪の場合には内輪回転周期と内輪の一点
を転動体が通過する周期（内輪転動体通過周期）、外輪
の場合には外輪の一点を転動体が通過する周期（外輪転
動体通過周期）、転動体の場合には転動体自転周期及び
保持器公転周期である。
を示すものであり、レベルが急に高くなっている箇所が
異常時に発生するＡＥ信号でありレベルの低い箇所はバ
ックノイズを表わしている。このＡＥ信号は、軸受の異
常部位により特定の周期（特性周期）をもって発生す
る。すなわち内輪の場合には内輪回転周期と内輪の一点
を転動体が通過する周期（内輪転動体通過周期）、外輪
の場合には外輪の一点を転動体が通過する周期（外輪転
動体通過周期）、転動体の場合には転動体自転周期及び
保持器公転周期である。
第４図(b)は内輪が剥離している場合のＡＥの発生周期
を周期別の発生数で集計したものであり、これから、軸
受の異常時には特性周期をもったＡＥのみが発生するこ
とがわかる。したがって、軸受の異常判断は、特性周期
をもったＡＥの発生がある数以上発生すれば異常と考え
ればよい。すなわち、第４図(c)のようにしきい値を設
け、ＡＥの発生数がこのしきい値を超えれば異常と判断
すればよい。第４図(d)は、軸受異常以外、ここではセ
ンサの破損時のＡＥ発生周期を示すが、ランダムな周期
をもったＡＥが多数発生しており、特性周期をもったＡ
Ｅだけが発生しているとは言えない。しきい値を超えて
いるのは、特性周期だけでなく他の周期をもったＡＥも
超えており、一目で軸受の異常でないことが判断でき
る。
を周期別の発生数で集計したものであり、これから、軸
受の異常時には特性周期をもったＡＥのみが発生するこ
とがわかる。したがって、軸受の異常判断は、特性周期
をもったＡＥの発生がある数以上発生すれば異常と考え
ればよい。すなわち、第４図(c)のようにしきい値を設
け、ＡＥの発生数がこのしきい値を超えれば異常と判断
すればよい。第４図(d)は、軸受異常以外、ここではセ
ンサの破損時のＡＥ発生周期を示すが、ランダムな周期
をもったＡＥが多数発生しており、特性周期をもったＡ
Ｅだけが発生しているとは言えない。しきい値を超えて
いるのは、特性周期だけでなく他の周期をもったＡＥも
超えており、一目で軸受の異常でないことが判断でき
る。
第４図(e)は、ＡＥの発生数がしきい値を超えていな
い。この状態で装置が異常と表示した場合には、明らか
に誤動作であることがわかる。
い。この状態で装置が異常と表示した場合には、明らか
に誤動作であることがわかる。
本発明は、この点に着目してなされたものであり、軸受
からのアコースティックエミッションを検出してＡＥ信
号を出力するＡＥセンサと、上記ＡＥセンサからのＡＥ
信号としきい値とを比較する比較手段と、上記比較手段
から、上記ＡＥ信号が上記しきい値を超えたことを表わ
す信号を受けて、上記しきい値を超えるＡＥ信号の発生
周期を算出する周期算出手段と、上記周期算出手段で算
出された発生周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ信号の
発生数を集計する集計手段と、上記集計手段で集計され
た周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ信号の発生数と上
記発生周期とを表示する表示装置とを備えたことを特徴
としている。
からのアコースティックエミッションを検出してＡＥ信
号を出力するＡＥセンサと、上記ＡＥセンサからのＡＥ
信号としきい値とを比較する比較手段と、上記比較手段
から、上記ＡＥ信号が上記しきい値を超えたことを表わ
す信号を受けて、上記しきい値を超えるＡＥ信号の発生
周期を算出する周期算出手段と、上記周期算出手段で算
出された発生周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ信号の
発生数を集計する集計手段と、上記集計手段で集計され
た周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ信号の発生数と上
記発生周期とを表示する表示装置とを備えたことを特徴
としている。
＜作用＞ 軸受などからのＡＥはＡＥセンサによって検出され、Ａ
Ｅ信号が出力される。
Ｅ信号が出力される。
このＡＥ信号は適宜処理された後、比較手段で所定のし
きい値と比較され、上記ＡＥ信号が上記しきい値を超え
た時にそれを表わす信号が出力される。この比較手段の
信号を受けて周期算出手段はＡＥ信号の周期を算出す
る。集計手段は上記周期算出手段で算出された発生周期
毎のＡＥ信号の発生数を集計する。上記集計手段で集計
された各発生周期毎の発生数と上記発生周期とが表示装
置に表示される。この表示装置に表示された内容より、
特性周期におけるＡＥの発生数がしきい値を超えない場
合には誤動作と判断し、しきい値を超えた場合の発生周
期が特性周期である場合には軸受が異常と判断し、また
しきい値を超えた発生周期が特性周期でない場合には例
えばセンサなど軸受以外が異常だと判断できる。
きい値と比較され、上記ＡＥ信号が上記しきい値を超え
た時にそれを表わす信号が出力される。この比較手段の
信号を受けて周期算出手段はＡＥ信号の周期を算出す
る。集計手段は上記周期算出手段で算出された発生周期
毎のＡＥ信号の発生数を集計する。上記集計手段で集計
された各発生周期毎の発生数と上記発生周期とが表示装
置に表示される。この表示装置に表示された内容より、
特性周期におけるＡＥの発生数がしきい値を超えない場
合には誤動作と判断し、しきい値を超えた場合の発生周
期が特性周期である場合には軸受が異常と判断し、また
しきい値を超えた発生周期が特性周期でない場合には例
えばセンサなど軸受以外が異常だと判断できる。
さらに、本発明では、集計手段で集計された発生周期毎
のＡＥ信号の発生数と発生周期とを表示装置に表示でき
るので、作業者がノイズのレベルを視認しながら異常の
認識基準となる頻度のしきい値を適宜に設定でき、軸受
の異常、装置の誤動作、あるいは、装置自体の異常かど
うかを正確かつ迅速に判別することができる。すなわ
ち、適正なしきい値を探し出すのに、試行錯誤を行う必
要がなく、迅速に異常診断ができるのである。
のＡＥ信号の発生数と発生周期とを表示装置に表示でき
るので、作業者がノイズのレベルを視認しながら異常の
認識基準となる頻度のしきい値を適宜に設定でき、軸受
の異常、装置の誤動作、あるいは、装置自体の異常かど
うかを正確かつ迅速に判別することができる。すなわ
ち、適正なしきい値を探し出すのに、試行錯誤を行う必
要がなく、迅速に異常診断ができるのである。
＜実施例＞ 以下、この発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第１図において、１は軸受などからのＡＥを検出するＡ
Ｅセンサである。このＡＥセンサ１から出力されるＡＥ
の大きさを表わすＡＥ信号はプリアンプ２で増幅された
後、バンドパスフィルター３で例えば１００ＫＨzから
５００ＫＨzの帯域のＡＥ信号が通過させられ、ノイズ
が除去される。上記バンドパスフィルター３でノイズが
除去されたＡＥ信号はメインアンプ４でさらに増幅さ
れ、包絡線検波回路５に入力され、包絡線検波される。
包絡線検波された後のＡＥ信号は比較器６においてしき
い値と比較され、ＡＥ信号がしきい値を超えたときにパ
ルスをコンピュータ７に出力する。また、コンピュータ
７には回転センサ８より単位時間あたりの軸受の回転数
が入力される。そして、コンピュータ７における演算結
果が表示装置としてのＣＲＴ９に表示される。
Ｅセンサである。このＡＥセンサ１から出力されるＡＥ
の大きさを表わすＡＥ信号はプリアンプ２で増幅された
後、バンドパスフィルター３で例えば１００ＫＨzから
５００ＫＨzの帯域のＡＥ信号が通過させられ、ノイズ
が除去される。上記バンドパスフィルター３でノイズが
除去されたＡＥ信号はメインアンプ４でさらに増幅さ
れ、包絡線検波回路５に入力され、包絡線検波される。
包絡線検波された後のＡＥ信号は比較器６においてしき
い値と比較され、ＡＥ信号がしきい値を超えたときにパ
ルスをコンピュータ７に出力する。また、コンピュータ
７には回転センサ８より単位時間あたりの軸受の回転数
が入力される。そして、コンピュータ７における演算結
果が表示装置としてのＣＲＴ９に表示される。
上記コンピュータ７においては第２図のフローチャート
に示す処理が行なわれる。
に示す処理が行なわれる。
まず、第２図のステップＳ1で初期設定がなされ、ステ
ップＳ2に進んで、予め定められた規定時間が経過した
か否かが判断される。ここで、規定時間が経過していな
いと判断されたときはステップＳ3に進み、比較器６の
パルスを受けたか否かによって、ＡＥが発生したか否か
が判別され、ＡＥが発生していないと判別した時はステ
ップＳ2に戻り、ＡＥが発生したと判別した時はステッ
プＳ4に進み、このＡＥを検出した時間をメモリに記憶
し、ステップＳ2に戻る。このステップＳ2，Ｓ3，Ｓ4を
繰り返した後、ステップＳ2で規定時間が経過したと判
断すると、ステップＳ5に進んで、ステップＳ4で記憶し
たＡＥの発生時間相互の周期を算出する。次いで、ステ
ップＳ6に進み、回転センサ８から受けた規定時間経過
中の軸受の単位時間当りの回転数変化を基準回転数に換
算して、基準回転数における周期にステップＳ5で算出
した周期を補正する。すなわち、ステップＳ5で算出し
た周期に対して、回転センサ８で検出した軸受の単位時
間当たりの回転数を掛け、基準回転数で割る処理を行な
う。次いで、ステップＳ7に進んで、各ＡＥ信号を発生
周期毎に集計を行なう。すなわち、第５図(a)に示すよ
うに、ＡＥの発生周期毎の発生数の頻度を算出する。次
いで、ステップＳ8に進んで、ＡＥのいずれかの発生周
期の頻度が第５図(a)に示すようにある一定のしきい値
を超えたか否かを判別して、発生数がしきい値を超えた
時には何らかの異常と判定し、ステップＳ9に進んで警
報を出力する。次いで、ステップＳ10に進んで集計され
た周期毎の発生数と、しきい値と、特性周期をＣＲＴ９
に表示する。そして、この表示内容は周期毎のＡＥの発
生回数を表わし、例えば第５図(a)に示すように表示さ
れる。作業者はこのＣＲＴ９の表示内容より軸受の異常
か否かを判断する。その作業者の判断処理の内容は第３
図のフローチャートに示す。まず、ステップＳ11に示す
ようにＡＥの発生数がしきい値を超えたか否かを判断す
る。そして、ＡＥの発生数がしきい値を超えた場合（第
５図(b),(d)）にはステップＳ13に進んで、発生周期が
特性周期であるか否かを判断する。ＡＥの発生周期が特
性周期である場合（第５図(b)）、軸受の異常と正確に
判断される。一方、ＡＥの発生回数がしきい値を超える
周期が特性周期以外の他の周期にも存する場合（第５図
(d)）、例えば軸受以外のセンサあるいは他の装置に異
常があるとわかる。一方、ステップＳ11でＡＥ発生数が
しいき値を超えていないと判断した場合（第５図
(c)）、何らかの誤動作だと判断される。
ップＳ2に進んで、予め定められた規定時間が経過した
か否かが判断される。ここで、規定時間が経過していな
いと判断されたときはステップＳ3に進み、比較器６の
パルスを受けたか否かによって、ＡＥが発生したか否か
が判別され、ＡＥが発生していないと判別した時はステ
ップＳ2に戻り、ＡＥが発生したと判別した時はステッ
プＳ4に進み、このＡＥを検出した時間をメモリに記憶
し、ステップＳ2に戻る。このステップＳ2，Ｓ3，Ｓ4を
繰り返した後、ステップＳ2で規定時間が経過したと判
断すると、ステップＳ5に進んで、ステップＳ4で記憶し
たＡＥの発生時間相互の周期を算出する。次いで、ステ
ップＳ6に進み、回転センサ８から受けた規定時間経過
中の軸受の単位時間当りの回転数変化を基準回転数に換
算して、基準回転数における周期にステップＳ5で算出
した周期を補正する。すなわち、ステップＳ5で算出し
た周期に対して、回転センサ８で検出した軸受の単位時
間当たりの回転数を掛け、基準回転数で割る処理を行な
う。次いで、ステップＳ7に進んで、各ＡＥ信号を発生
周期毎に集計を行なう。すなわち、第５図(a)に示すよ
うに、ＡＥの発生周期毎の発生数の頻度を算出する。次
いで、ステップＳ8に進んで、ＡＥのいずれかの発生周
期の頻度が第５図(a)に示すようにある一定のしきい値
を超えたか否かを判別して、発生数がしきい値を超えた
時には何らかの異常と判定し、ステップＳ9に進んで警
報を出力する。次いで、ステップＳ10に進んで集計され
た周期毎の発生数と、しきい値と、特性周期をＣＲＴ９
に表示する。そして、この表示内容は周期毎のＡＥの発
生回数を表わし、例えば第５図(a)に示すように表示さ
れる。作業者はこのＣＲＴ９の表示内容より軸受の異常
か否かを判断する。その作業者の判断処理の内容は第３
図のフローチャートに示す。まず、ステップＳ11に示す
ようにＡＥの発生数がしきい値を超えたか否かを判断す
る。そして、ＡＥの発生数がしきい値を超えた場合（第
５図(b),(d)）にはステップＳ13に進んで、発生周期が
特性周期であるか否かを判断する。ＡＥの発生周期が特
性周期である場合（第５図(b)）、軸受の異常と正確に
判断される。一方、ＡＥの発生回数がしきい値を超える
周期が特性周期以外の他の周期にも存する場合（第５図
(d)）、例えば軸受以外のセンサあるいは他の装置に異
常があるとわかる。一方、ステップＳ11でＡＥ発生数が
しいき値を超えていないと判断した場合（第５図
(c)）、何らかの誤動作だと判断される。
なお、ステップＳ8で、どの周期においても発生数がし
きい値を超えないと判断した時はステップＳ2に戻る。
きい値を超えないと判断した時はステップＳ2に戻る。
また、この軸受の異常診断装置では、ＣＲＴ９に発生周
期毎のＡＥ信号の発生数と発生周期とを表示するので、
作業者がノイズのレベルを視認しながら異常の認識基準
となる頻度のしきい値を適宜に設定でき、したがって、
軸受の異常、装置の誤動作、あるいは、装置自体の異常
かどうかを正確かつ迅速に判別することができる。すな
わち、適正なしきい値を探し出すのに、試行錯誤を行う
処理がなく、迅速に異常診断ができるのである。
期毎のＡＥ信号の発生数と発生周期とを表示するので、
作業者がノイズのレベルを視認しながら異常の認識基準
となる頻度のしきい値を適宜に設定でき、したがって、
軸受の異常、装置の誤動作、あるいは、装置自体の異常
かどうかを正確かつ迅速に判別することができる。すな
わち、適正なしきい値を探し出すのに、試行錯誤を行う
処理がなく、迅速に異常診断ができるのである。
上記実施例では作業者がＣＲＴ９の表示内容より第３図
の判断処理を行なうようにしたが、それに加えて、コン
ピュータ７に第３図のステップＳ13に示すしきい値を超
えた周期が特性周期であるか否かを判断するプログラム
を記憶させて、第３図に示す処理を自動的に行なうよう
にしてもよい。さらに、ステップＳ13でＡＥの発生回数
がしきい値を超える特性周期が、内輪の回転周期，内輪
の一点を転動体が通過する周期か、あるいは外輪の一点
を転動体が通過する周期かによって、内輪の損傷か外輪
の損傷かが判断される。また上記特性周期が転動体の自
転周期あるいは保持器の公転周期である場合には転動体
の損傷と判断される。
の判断処理を行なうようにしたが、それに加えて、コン
ピュータ７に第３図のステップＳ13に示すしきい値を超
えた周期が特性周期であるか否かを判断するプログラム
を記憶させて、第３図に示す処理を自動的に行なうよう
にしてもよい。さらに、ステップＳ13でＡＥの発生回数
がしきい値を超える特性周期が、内輪の回転周期，内輪
の一点を転動体が通過する周期か、あるいは外輪の一点
を転動体が通過する周期かによって、内輪の損傷か外輪
の損傷かが判断される。また上記特性周期が転動体の自
転周期あるいは保持器の公転周期である場合には転動体
の損傷と判断される。
＜発明の効果＞ 以上より明らかなように、この発明の軸受の異常診断装
置は、ＡＥセンサからのＡＥ信号としきい値を比較する
比較手段と、しきい値を超えたＡＥ信号の発生周期を算
出する周期算出手段と、ＡＥ信号の発生周期毎の発生数
を集計する集計手段と、上記周期算出手段で算出された
発生周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ信号の発生数を
集計する集計手段と、上記集計で集計された発生周期毎
の上記しきい値を超えるＡＥ信号の発生数と上記発生周
期を表示する表示装置とを備えたので、単なる軸受の異
常診断だけでなく、その根拠となるＡＥの発生の周期性
を確認でき、軸受の診断が正確に行なわれたかどうかを
識別でき、誤診断による装置の停止，軸受の分解などを
防止できる。
置は、ＡＥセンサからのＡＥ信号としきい値を比較する
比較手段と、しきい値を超えたＡＥ信号の発生周期を算
出する周期算出手段と、ＡＥ信号の発生周期毎の発生数
を集計する集計手段と、上記周期算出手段で算出された
発生周期毎の上記しきい値を超えるＡＥ信号の発生数を
集計する集計手段と、上記集計で集計された発生周期毎
の上記しきい値を超えるＡＥ信号の発生数と上記発生周
期を表示する表示装置とを備えたので、単なる軸受の異
常診断だけでなく、その根拠となるＡＥの発生の周期性
を確認でき、軸受の診断が正確に行なわれたかどうかを
識別でき、誤診断による装置の停止，軸受の分解などを
防止できる。
さらに、本発明では、集計手段で集計された発生周期毎
のＡＥ信号の発生数と発生周期とを表示装置に表示でき
るので、作業者がノイズのレベルを視認しながら異常の
認識基準となる頻度のしきい値を適宜に設定でき、軸受
の異常、装置の誤動作、あるいは、装置自体の異常かど
うかを正確かつ迅速に判別することができる。すなわ
ち、適正なしきい値を探し出すのに、試行錯誤を行う必
要がなく、迅速に異常診断ができるのである。
のＡＥ信号の発生数と発生周期とを表示装置に表示でき
るので、作業者がノイズのレベルを視認しながら異常の
認識基準となる頻度のしきい値を適宜に設定でき、軸受
の異常、装置の誤動作、あるいは、装置自体の異常かど
うかを正確かつ迅速に判別することができる。すなわ
ち、適正なしきい値を探し出すのに、試行錯誤を行う必
要がなく、迅速に異常診断ができるのである。
第１図はこの発明の軸受の異常診断装置のブロック図、
第２図，第３図は上記実施例のフローチャート、第４図
は包絡線検波波形およびＡＥの発生周期と発生回数の関
係を示す図、第５図はＣＲＴの表示内容を示す図であ
る。 １……ＡＥセンサ、３……バンドパスフィルター、５…
…包絡線検波回路、 ６……比較器、７……コンピュータ、８……回転セン
サ、９……ＣＲＴ。
第２図，第３図は上記実施例のフローチャート、第４図
は包絡線検波波形およびＡＥの発生周期と発生回数の関
係を示す図、第５図はＣＲＴの表示内容を示す図であ
る。 １……ＡＥセンサ、３……バンドパスフィルター、５…
…包絡線検波回路、 ６……比較器、７……コンピュータ、８……回転セン
サ、９……ＣＲＴ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 紀明 岡山県倉敷市水島川崎通１丁目（番地表示 なし）川崎製鉄株式会社水島製鉄所内 (56)参考文献 特開 昭63−304128（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】軸受からのアコースティックエミッション
を検出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサと、 上記ＡＥサンサからのＡＥ信号としきい値とを比較する
比較手段と、 上記比較手段から、上記ＡＥ信号が上記しきい値を超え
たとことを表わす信号を受けて、上記しきい値を超える
ＡＥ信号の発生周期を算出する周期算出手段と、 上記周期算出手段で算出された発生周期毎の上記しきい
値を超えるＡＥ信号の発生数を集計する集計手段と、 上記集計手段で集計された発生周期毎の上記しきい値を
超えるＡＥ信号の発生数と上記発生周期とを表示する表
示装置とを備えたことを特徴とする軸受の異常診断装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63059012A JPH0658298B2 (ja) | 1988-03-10 | 1988-03-10 | 軸受の異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63059012A JPH0658298B2 (ja) | 1988-03-10 | 1988-03-10 | 軸受の異常診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01232230A JPH01232230A (ja) | 1989-09-18 |
| JPH0658298B2 true JPH0658298B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=13100953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63059012A Expired - Lifetime JPH0658298B2 (ja) | 1988-03-10 | 1988-03-10 | 軸受の異常診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658298B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006234785A (ja) * | 2005-01-26 | 2006-09-07 | Nsk Ltd | 機械設備の異常診断装置及び異常診断方法 |
| WO2006030786A1 (ja) | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Nsk Ltd. | 異常診断装置及び異常診断方法 |
| JP5940213B2 (ja) * | 2012-05-02 | 2016-06-29 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフトＳｉｅｍｅｎｓ Ａｋｔｉｅｎｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ | 軸の損傷を監視するための方法 |
| CN106124212B (zh) * | 2016-06-16 | 2018-09-04 | 燕山大学 | 基于稀疏编码器和支持向量机的滚动轴承故障诊断方法 |
| CN113776828A (zh) * | 2021-07-30 | 2021-12-10 | 贵州西电电力股份有限公司黔北发电厂 | 轴承温度测量异常的智能判断方法及系统 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH065195B2 (ja) * | 1987-06-03 | 1994-01-19 | 光洋精工株式会社 | 軸受の異常検出装置 |
-
1988
- 1988-03-10 JP JP63059012A patent/JPH0658298B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01232230A (ja) | 1989-09-18 |
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