JP3170006B2 - 軸受の異常検出装置 - Google Patents
軸受の異常検出装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、アコースティックエミ
ッション(ＡＥ)を利用した軸受の異常検出装置に関す
る。
ッション(ＡＥ)を利用した軸受の異常検出装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＡＥを利用した軸受の異常検出装
置としては、軸受からのＡＥをＡＥセンサにより検出
し、このＡＥセンサからのＡＥ信号をバンドパスフィル
タによってノイズ除去して、このノイズ除去したＡＥ信
号を包絡線検波回路で包絡線検波し、この包絡線検波回
路からのＡＥ信号を比較器で一定の基準値と比較し、上
記ＡＥ信号が上記基準値を超えた時に軸受の異常として
検出するようにしたものがある。
置としては、軸受からのＡＥをＡＥセンサにより検出
し、このＡＥセンサからのＡＥ信号をバンドパスフィル
タによってノイズ除去して、このノイズ除去したＡＥ信
号を包絡線検波回路で包絡線検波し、この包絡線検波回
路からのＡＥ信号を比較器で一定の基準値と比較し、上
記ＡＥ信号が上記基準値を超えた時に軸受の異常として
検出するようにしたものがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
軸受の異常検出装置は、包絡線検波前のＡＥ信号をバン
ドパスフィルタでノイズ除去しているものの、電気パル
スノイズに起因し、低周波数から高周波数までの広い周
波数成分を持つノイズ成分を上記ＡＥ信号から十分に取
り除くことができず、そのまま、ある基準値を設定して
比較するとノイズ成分に起因したＡＥ信号をも軸受の異
常のものとして検出してしまうため、軸受の異常検出が
不正確になるという問題があることが判明した。
軸受の異常検出装置は、包絡線検波前のＡＥ信号をバン
ドパスフィルタでノイズ除去しているものの、電気パル
スノイズに起因し、低周波数から高周波数までの広い周
波数成分を持つノイズ成分を上記ＡＥ信号から十分に取
り除くことができず、そのまま、ある基準値を設定して
比較するとノイズ成分に起因したＡＥ信号をも軸受の異
常のものとして検出してしまうため、軸受の異常検出が
不正確になるという問題があることが判明した。
【０００４】そこで、本発明の目的は、ＡＥ信号からノ
イズ成分を略完全に取り除くことができて、異常検出を
正確にできる軸受の異常検出装置を提供することにあ
る。
イズ成分を略完全に取り除くことができて、異常検出を
正確にできる軸受の異常検出装置を提供することにあ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、従来の軸受の
異常検出装置のバンドパスフィルタによってＡＥ信号か
ら取り除くことができない電気パルスノイズに起因する
ノイズ成分の持続時間は、軸受の異常によるＡＥ信号の
持続時間よりも短いことに着目し、ローパスフィルタを
用いて、包絡線検波後のＡＥ信号から、軸受の異常によ
るＡＥ信号よりも持続時間の短いノイズ成分を取り除く
ことができるという考察に基づいて成された。
異常検出装置のバンドパスフィルタによってＡＥ信号か
ら取り除くことができない電気パルスノイズに起因する
ノイズ成分の持続時間は、軸受の異常によるＡＥ信号の
持続時間よりも短いことに着目し、ローパスフィルタを
用いて、包絡線検波後のＡＥ信号から、軸受の異常によ
るＡＥ信号よりも持続時間の短いノイズ成分を取り除く
ことができるという考察に基づいて成された。
【０００６】すなわち、本発明の軸受の異常検出装置
は、軸受から受けたアコースティックエミッション(Ａ
Ｅ)を検出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサと、上記
ＡＥセンサからのＡＥ信号を包絡線検波して、包絡線検
波したＡＥ信号を出力する包絡線検波手段と、上記包絡
線検波手段からのＡＥ信号を受けて、このＡＥ信号から
所定持続時間幅を有する上記軸受の異常によるＡＥ信号
の持続時間よりも短い持続時間を有するＡＥ信号を取り
除いたＡＥ信号を出力するローパスフィルタと、上記ロ
ーパスフィルタからのＡＥ信号と基準値とを比較する比
較手段と、上記比較手段から、上記ＡＥ信号が上記基準
値を超えたことを表わす検出信号を受けて、この検出信
号に基づいて、軸受の異常を判別する判別手段とを備え
たことを特徴としている。
は、軸受から受けたアコースティックエミッション(Ａ
Ｅ)を検出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサと、上記
ＡＥセンサからのＡＥ信号を包絡線検波して、包絡線検
波したＡＥ信号を出力する包絡線検波手段と、上記包絡
線検波手段からのＡＥ信号を受けて、このＡＥ信号から
所定持続時間幅を有する上記軸受の異常によるＡＥ信号
の持続時間よりも短い持続時間を有するＡＥ信号を取り
除いたＡＥ信号を出力するローパスフィルタと、上記ロ
ーパスフィルタからのＡＥ信号と基準値とを比較する比
較手段と、上記比較手段から、上記ＡＥ信号が上記基準
値を超えたことを表わす検出信号を受けて、この検出信
号に基づいて、軸受の異常を判別する判別手段とを備え
たことを特徴としている。
【０００７】
【作用】軸受からのＡＥはＡＥセンサによって検出さ
れ、ＡＥ信号が出力される。このＡＥ信号は、包絡線検
波手段によって包絡線検波される。そして、上記包絡線
検波されたＡＥ信号は、ローパスフィルタによって、上
記ＡＥ信号のうち、上記軸受の異常によるＡＥ信号の持
続時間よりも短い持続時間を有するＡＥ信号が取り除か
れる。つまり、上記包絡線検波後のＡＥ信号から、軸受
の異常によるＡＥ信号よりも持続時間の短いノイズ成分
が取り除かれる。
れ、ＡＥ信号が出力される。このＡＥ信号は、包絡線検
波手段によって包絡線検波される。そして、上記包絡線
検波されたＡＥ信号は、ローパスフィルタによって、上
記ＡＥ信号のうち、上記軸受の異常によるＡＥ信号の持
続時間よりも短い持続時間を有するＡＥ信号が取り除か
れる。つまり、上記包絡線検波後のＡＥ信号から、軸受
の異常によるＡＥ信号よりも持続時間の短いノイズ成分
が取り除かれる。
【０００８】そして、上記ローパスフィルタからのＡＥ
信号は比較手段によって基準値と比較され、上記ＡＥ信
号が基準値を超えたときに、比較手段から、検出信号が
出力される。そして、この検出信号を受けた判別手段に
よって、軸受の異常が判別される。
信号は比較手段によって基準値と比較され、上記ＡＥ信
号が基準値を超えたときに、比較手段から、検出信号が
出力される。そして、この検出信号を受けた判別手段に
よって、軸受の異常が判別される。
【０００９】このように、上記ローパスフィルタを通過
したＡＥ信号からは、軸受の異常によるＡＥ信号の持続
時間よりも短い持続時間を有するノイズ成分が取り除か
れるので、上記比較手段と判別手段によって、軸受の異
常が正確に検出される。
したＡＥ信号からは、軸受の異常によるＡＥ信号の持続
時間よりも短い持続時間を有するノイズ成分が取り除か
れるので、上記比較手段と判別手段によって、軸受の異
常が正確に検出される。
【００１０】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例により詳細に説
明する。
明する。
【００１１】図１は本発明の軸受の異常検出装置の一実
施例を示すブロック図であり、１はＡＥセンサ、２はプ
リアンプ、３はＡＥ信号選別用のバンドパスフィルタ、
４はメインアンプ、５は包絡線検波回路である。また、
６はローパスフィルタで構成した包絡線検波波形整形回
路、７は基準値設定回路、８は比較手段としての比較
器、９は判別手段としてのホストコンピュータ(演算
器)、１０はＣＲＴ,プリンタを含む表示装置である。
施例を示すブロック図であり、１はＡＥセンサ、２はプ
リアンプ、３はＡＥ信号選別用のバンドパスフィルタ、
４はメインアンプ、５は包絡線検波回路である。また、
６はローパスフィルタで構成した包絡線検波波形整形回
路、７は基準値設定回路、８は比較手段としての比較
器、９は判別手段としてのホストコンピュータ(演算
器)、１０はＣＲＴ,プリンタを含む表示装置である。
【００１２】上記ＡＥセンサ１は軸受からのＡＥを検出
して、このＡＥの大きさを表わすＡＥ信号を出力する。
上記ＡＥセンサ１からのＡＥ信号はプリアンプ２で増幅
された後、バンドパスフィルタ３で、例えば２００ＫＨ
zから５００ＫＨzの帯域の異常ＡＥ信号が通過させら
れ、２００ＫＨzから５００ＫＨzの帯域外のノイズが除
去される。上記バンドパスフィルタ３でノイズ除去され
たＡＥ信号はメインアンプ４でさらに増幅されてから、
包絡線検波回路５に入力され、包絡線検波される。この
包絡線検波されたＡＥ信号(図１中矢印Ａで示す箇所の
ＡＥ信号)は、図２(Ａ)に例示するように、軸受の異常
に起因する異常ＡＥ信号Ｘに電気パルスノイズに起因す
るノイズ成分が重畳している。そして、この包絡線検波
されたＡＥ信号は、ローパスフィルタで構成した包絡線
検波波形整形回路６によって、上記軸受の異常に起因す
る異常ＡＥ信号の持続時間よりも短い持続時間を有する
ノイズ成分が取り除かれる。つまり、図２(Ｂ)に例示す
るように、軸受の異常に起因する異常ＡＥ信号Ｘだけが
上記包絡線検波波形整形回路６から出力される。
して、このＡＥの大きさを表わすＡＥ信号を出力する。
上記ＡＥセンサ１からのＡＥ信号はプリアンプ２で増幅
された後、バンドパスフィルタ３で、例えば２００ＫＨ
zから５００ＫＨzの帯域の異常ＡＥ信号が通過させら
れ、２００ＫＨzから５００ＫＨzの帯域外のノイズが除
去される。上記バンドパスフィルタ３でノイズ除去され
たＡＥ信号はメインアンプ４でさらに増幅されてから、
包絡線検波回路５に入力され、包絡線検波される。この
包絡線検波されたＡＥ信号(図１中矢印Ａで示す箇所の
ＡＥ信号)は、図２(Ａ)に例示するように、軸受の異常
に起因する異常ＡＥ信号Ｘに電気パルスノイズに起因す
るノイズ成分が重畳している。そして、この包絡線検波
されたＡＥ信号は、ローパスフィルタで構成した包絡線
検波波形整形回路６によって、上記軸受の異常に起因す
る異常ＡＥ信号の持続時間よりも短い持続時間を有する
ノイズ成分が取り除かれる。つまり、図２(Ｂ)に例示す
るように、軸受の異常に起因する異常ＡＥ信号Ｘだけが
上記包絡線検波波形整形回路６から出力される。
【００１３】上記軸受の異常に起因する異常ＡＥ信号Ｘ
は、比較器８によって、基準値設定回路７が出力する基
準値と比較され、上記異常ＡＥ信号が上記基準値を超え
たときに比較器８はパルス信号を出力する。つまり、比
較器８は、上記基準値を超えた異常ＡＥ信号をパルス化
する。
は、比較器８によって、基準値設定回路７が出力する基
準値と比較され、上記異常ＡＥ信号が上記基準値を超え
たときに比較器８はパルス信号を出力する。つまり、比
較器８は、上記基準値を超えた異常ＡＥ信号をパルス化
する。
【００１４】このように、比較器８はローパスフィルタ
からなる包絡線検波波形整形回路６によってノイズ成分
が取り除かれた異常ＡＥ信号と上記基準値とを比較する
ので、ノイズ成分が重畳した上記異常ＡＥ信号が上記基
準値を超えていても、軸受の異常に起因する異常ＡＥ信
号が上記基準値を超えていない限り、比較器８はパルス
信号を出力しない。したがって、電気パルスノイズに起
因するノイズ成分の影響により、比較器８がパルス信号
を出力することを防止でき、比較器８が軸受の異常に起
因する異常ＡＥ信号が基準値を超えたときだけに、出力
するパルス信号に基づいて、ホストコンピュータ９は、
軸受の正確な異常診断を行なうことができる。このホス
トコンピュータ９の異常診断動作を、図３に示すフロー
チャートに基づいて説明する。
からなる包絡線検波波形整形回路６によってノイズ成分
が取り除かれた異常ＡＥ信号と上記基準値とを比較する
ので、ノイズ成分が重畳した上記異常ＡＥ信号が上記基
準値を超えていても、軸受の異常に起因する異常ＡＥ信
号が上記基準値を超えていない限り、比較器８はパルス
信号を出力しない。したがって、電気パルスノイズに起
因するノイズ成分の影響により、比較器８がパルス信号
を出力することを防止でき、比較器８が軸受の異常に起
因する異常ＡＥ信号が基準値を超えたときだけに、出力
するパルス信号に基づいて、ホストコンピュータ９は、
軸受の正確な異常診断を行なうことができる。このホス
トコンピュータ９の異常診断動作を、図３に示すフロー
チャートに基づいて説明する。
【００１５】まず、ステップＳ１で、比較器８からのパ
ルス信号のパルス発生周期を演算する。次に、ステップ
Ｓ２に進んで、上記パルス発生周期が、内輪の回転周期
もしくは、ころが内輪を通過する周期と等しいか否かを
判断し、上記パルス発生周期が、内輪の回転周期もしく
は、ころが内輪を通過する周期と等しいと判断したとき
はステップＳ６に進み、上記パルス発生周期が、内輪の
回転周期および、ころが内輪を通過する周期と等しくな
いと判断したときはステップＳ３に進む。
ルス信号のパルス発生周期を演算する。次に、ステップ
Ｓ２に進んで、上記パルス発生周期が、内輪の回転周期
もしくは、ころが内輪を通過する周期と等しいか否かを
判断し、上記パルス発生周期が、内輪の回転周期もしく
は、ころが内輪を通過する周期と等しいと判断したとき
はステップＳ６に進み、上記パルス発生周期が、内輪の
回転周期および、ころが内輪を通過する周期と等しくな
いと判断したときはステップＳ３に進む。
【００１６】ステップＳ６では、ＣＲＴやプリンタを含
む表示装置１０に、内輪に異常が発生したことを表示さ
せて異常診断を終了する。
む表示装置１０に、内輪に異常が発生したことを表示さ
せて異常診断を終了する。
【００１７】ステップＳ３では、上記パルス発生周期
が、ころが外輪を通過する周期と等しいか否かを判断
し、上記パルス発生周期が、ころが外輪を通過する周期
と等しいと判断したときにはステップＳ７に進み、パル
ス発生周期が、ころが外輪を通過する周期と等しくない
と判断したときにはステップＳ４に進む。
が、ころが外輪を通過する周期と等しいか否かを判断
し、上記パルス発生周期が、ころが外輪を通過する周期
と等しいと判断したときにはステップＳ７に進み、パル
ス発生周期が、ころが外輪を通過する周期と等しくない
と判断したときにはステップＳ４に進む。
【００１８】ステップＳ７では、上記表示装置１０に、
外輪に異常が発生したことを表示させて異常診断を終了
する。
外輪に異常が発生したことを表示させて異常診断を終了
する。
【００１９】ステップＳ４では、上記パルス発生周期
が、軸受の保持器の回転もしくは、ころの自転周期と等
しいか否かを判断し、上記パルス発生周期が、保持器の
回転周期もしくは、ころの自転周期と等しいと判断した
時にはステップＳ８に進み、パルス発生周期が、保持器
の回転周期およびころの自転周期と等しくないと判断し
た時にはステップＳ５に進む。
が、軸受の保持器の回転もしくは、ころの自転周期と等
しいか否かを判断し、上記パルス発生周期が、保持器の
回転周期もしくは、ころの自転周期と等しいと判断した
時にはステップＳ８に進み、パルス発生周期が、保持器
の回転周期およびころの自転周期と等しくないと判断し
た時にはステップＳ５に進む。
【００２０】ステップＳ８では、上記表示装置１０に、
ころに異常が発生したことを表示させて異常診断を終了
する。
ころに異常が発生したことを表示させて異常診断を終了
する。
【００２１】ステップＳ５では、軸受の異常診断が終了
したか否かを判断し、異常診断が終了したと判断したと
きは、異常診断を終了し、異常診断が終了していないと
判断したときはステップＳ２に戻る。
したか否かを判断し、異常診断が終了したと判断したと
きは、異常診断を終了し、異常診断が終了していないと
判断したときはステップＳ２に戻る。
【００２２】このように、本実施例によれば、軸受の故
障箇所の正確な位置標定ができる。
障箇所の正確な位置標定ができる。
【００２３】
【発明の効果】以上より明らかなように、本発明は、包
絡線検波手段の後段にローパスフィルタを設けて、包絡
線検波手段によって包絡線検波されたＡＥ信号は、ロー
パスフィルタによって、上記ＡＥ信号のうち、軸受の異
常によるＡＥ信号の持続時間よりも短い持続時間を有す
る電気パルスノイズに起因するノイズ成分が取り除かれ
るようにしたので、軸受の異常を正確に検出できる。ま
た、電気パルスノイズに起因するノイズ成分ばかりでな
く、軸受の異常によるＡＥ信号の持続時間よりも短い持
続時間を有する機械ノイズに起因するノイズ成分も同様
に取り除かれる。
絡線検波手段の後段にローパスフィルタを設けて、包絡
線検波手段によって包絡線検波されたＡＥ信号は、ロー
パスフィルタによって、上記ＡＥ信号のうち、軸受の異
常によるＡＥ信号の持続時間よりも短い持続時間を有す
る電気パルスノイズに起因するノイズ成分が取り除かれ
るようにしたので、軸受の異常を正確に検出できる。ま
た、電気パルスノイズに起因するノイズ成分ばかりでな
く、軸受の異常によるＡＥ信号の持続時間よりも短い持
続時間を有する機械ノイズに起因するノイズ成分も同様
に取り除かれる。
【図１】 本発明の軸受の異常検出装置の実施例のブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】 上記実施例におけるＡＥ信号波形を示す図で
ある。
ある。
【図３】 上記実施例のホストコンピュータの動作を説
明するフローチャートである。
明するフローチャートである。
１ ＡＥ信号 ２ プリアンプ ３ バンドパスフィルタ ４ メインアンプ ５ 包絡線検波回路 ６ 包絡線検波波形整
形回路 ７ 基準値設定回路 ８ 比較器 ９ ホストコンピュータ １０ 表示装置
形回路 ７ 基準値設定回路 ８ 比較器 ９ ホストコンピュータ １０ 表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 13/04 G01N 29/14
Claims (1)
- 【請求項１】 軸受から受けたアコースティックエミッ
ション(ＡＥ)を検出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサ
と、 上記ＡＥセンサからのＡＥ信号を包絡線検波して、包絡
線検波したＡＥ信号を出力する包絡線検波手段と、 上記包絡線検波手段からのＡＥ信号を受けて、このＡＥ
信号から所定持続時間幅を有する上記軸受の異常による
ＡＥ信号の持続時間よりも短い持続時間を有するＡＥ信
号を取り除いたＡＥ信号を出力するローパスフィルタ
と、 上記ローパスフィルタからのＡＥ信号と基準値とを比較
する比較手段と、 上記比較手段から、上記ＡＥ信号が上記基準値を超えた
ことを表わす検出信号を受けて、この検出信号に基づい
て、軸受の異常を判別する判別手段とを備えたことを特
徴とする軸受の異常検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28982891A JP3170006B2 (ja) | 1991-11-06 | 1991-11-06 | 軸受の異常検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28982891A JP3170006B2 (ja) | 1991-11-06 | 1991-11-06 | 軸受の異常検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05126678A JPH05126678A (ja) | 1993-05-21 |
| JP3170006B2 true JP3170006B2 (ja) | 2001-05-28 |
Family
ID=17748299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28982891A Expired - Fee Related JP3170006B2 (ja) | 1991-11-06 | 1991-11-06 | 軸受の異常検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3170006B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102620669B1 (ko) * | 2022-02-14 | 2024-01-04 | (주)잇츠어스 | 카드형 휴대 전자기기 거치대 |
| KR200497690Y1 (ko) * | 2023-05-12 | 2024-01-29 | 유한책임회사 그래피디자인 | 기능성 매트 |
-
1991
- 1991-11-06 JP JP28982891A patent/JP3170006B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102620669B1 (ko) * | 2022-02-14 | 2024-01-04 | (주)잇츠어스 | 카드형 휴대 전자기기 거치대 |
| KR200497690Y1 (ko) * | 2023-05-12 | 2024-01-29 | 유한책임회사 그래피디자인 | 기능성 매트 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05126678A (ja) | 1993-05-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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