JPH028250B2 - - Google Patents

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JPH028250B2
JPH028250B2 JP1247683A JP1247683A JPH028250B2 JP H028250 B2 JPH028250 B2 JP H028250B2 JP 1247683 A JP1247683 A JP 1247683A JP 1247683 A JP1247683 A JP 1247683A JP H028250 B2 JPH028250 B2 JP H028250B2
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JP
Japan
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spectrum
circuit
noise
frequency
determination
Prior art date
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Expired
Application number
JP1247683A
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English (en)
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JPS59136625A (ja
Inventor
Toshio Takenaka
Takeshi Inoe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS59136625A publication Critical patent/JPS59136625A/ja
Publication of JPH028250B2 publication Critical patent/JPH028250B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
    • G01H3/00Measuring characteristics of vibrations by using a detector in a fluid

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は機器の振動や発生音を判定すること
により異常を検出する機器の異常検出装置に関す
る。
以下、発生音(騒音)を判定することによつて
モータの異常を検出する、従来の異常検出装置を
示す第1図について説明する。
図において、1は騒音判定の対象となるモー
タ、2はマイクロフオン、3は増幅器、4は周波
数分析器、5は周波数スペクトルの平均を求める
アペレージヤー、6は比較のための基準スペクト
ルを記憶するメモリ、7は差分回路、8は絶対値
回路、9は累積器、10は判定回路、11は制御
回路である。
次に動作について説明する。モータ1が回転し
て発する騒音は、マイクロフオン2によつて電気
信号に変換され、増幅器3によつて増幅された
後、周波数分析器4により周波数スペクトルaが
求められる。ここで言う周波数スペクトルは対象
の音の周波数成分の強度分布を意味する。得られ
た周波数スペクトルaは、アベレージヤー5によ
り所定の回数の平均が演算され平均スペクトルb
が求められる。平均スペクトルbは、差分回路7
によつて基準スペクトルメモリ6よりの基準スペ
クトルCとの差がとられ、絶対値回路8によつて
絶対値がとられた後、累積器9により全周波数の
総和値dが求められる。以下、この総和値を偏差
量と呼ぶ。偏差量dに判定回路10で一定の値と
比較され、モータの良否が判定されて例えばラン
プのようなもので判定結果が表示される。これら
一連の動作は制御回路11でコントロールされ
る。基準スペクトルcとしては通常多数の良品の
周波数スペクトルの平均を用いたり、設計データ
から作成したものが用いられる。
尚、アベレージヤーによつて周波数スペクトル
の平均演算を行なつているのは、サンプリングさ
れる入力騒音にはバラツキが存在するためで、平
均する事により信頼性よく基準スペクトルと比較
できるようにするものである。
第2図は従来装置による判定例を示し、図にお
いて実線は対象の周波数スペクトル、点線は比較
判定用の基準スペクトルである。図のaは良品の
場合で、対象の周波数スペクトルは基準スペクト
ルとよく似ている。それに対し図のbは不良品の
場合で、特別な異常成分を持つている。図におい
て斜線を付した部分の面積が基準スペクトルとの
偏差量dを表わす。図のように不良品の偏差量の
方が良品の偏差量に比べて大きく、適当な閾値を
設定すれば対象の良否判定を自動的に行なえるこ
とがわかる。
尚、上記説明において、累積器9は単に全周波
数の総和を求めるとしたが、周波数別に重みづけ
した和をとつたり、各周波数別に2乗した2乗和
をとるなど判定対象に応じて様々の工程が行なわ
れるのが普通である。
また、本構成の絶対値回路8を非負回路(入力
が負の値のとき出力を0とする回路)に置換え、
対象の周波数スペクトルが基準スペクトルを越え
る部分についての総和を求めるようにしてもよ
い。但し、この場合は基準スペクトルは良品の各
周波数における限度値を与えるようにしなければ
ならない。
このようにして対象の騒音による判定が自動的
に行なわれるが、上記構成では対象の騒音検出時
に外部の騒音が対象の騒音に比較して大きいと、
正しい騒音の判定が妨げられる。第2図のcとd
は外部騒音が大きいときの判定例であり、それぞ
れ良品の場合と不良品の場合の判定例であるが、
どちらも外部騒音によつて偏差量が大きくなつて
おり、これでは正しく判定することはできない。
本発明は上記のような欠点を除去し、外部の環
境条件が突発的に変化しても正確に判定を行なう
ことができる異常検出装置を提供することを目的
としている。
以下第3図に示すこの発明の一実施例について
説明する。図において、1は騒音検査の対象とな
るモータ、2はマイクロフオン、3は増幅器、4
は周波数分析器、5はアペレージヤー、6は基準
スペクトルを記憶しておくメモリ、7は差分回
路、8は絶対値回路、9は累積器、10は判定回
路、11は制御回路、12は外部騒音検出用マイ
ク、13は増幅器、14は振幅監視回路である。
次に動作につき説明する。モータ1が回転して
発する騒音は従来例と同様にマイクロフオン2、
増幅器3、周波数分析器4により、周波数スペク
トルaが求められ、アベレージヤー5で所定回数
の平均スペクトルbが演算され、基準スペクトル
メモリ6、差分回路7、絶対値回路8、累積器9
により基準スペクトルcと比較されて偏差量dが
求められ、判定回路10により、良否判定され
る。そして、これら一連の動作は制御回路11に
よりコントロールされる。しかし、マイクロフオ
ン2によつて入力される音にはモータ騒音だけで
なく、外部騒音も含まれており、外部騒音が突発
的に大きくなつたときの周波数スペクトルを用い
て平均スペクトルを求めたのでは正しく判定する
ことができない。そこで、本発明においては対象
の騒音以外の外部騒音を検出するマイクロフオン
12を新たに設け、その信号を増幅器13により
増幅し、振幅監視回路14により振幅を監視し、
振幅が一定の値を越えているときは制御回路11
に働きかけ、そのとき入力した周波数スペクトル
を平均に加えず、外部騒音が小さいときの周波数
スペクトルのみで平均スペクトルbを求めるよう
にした。尚、突発的な外部騒音は通常、比較的短
時間に減衰するので、判定動作への影響はわずか
であると考えられる。
第4図は外部騒音の検出の例を示し、図のaは
増幅器13の出力eであり、bは振幅監視回路1
4の出力fである。図aのように信号の振幅が一
定値を越えたときは外部騒音によりモータ騒音の
判定に影響を与える可能性が大きいと考えられる
ので制御回路11に対して図bのような平均演算
禁止信号を送出する。尚、ここで図bの信号は図
aで検出される信号より幅が広くなつているが、
これは外部騒音が検出されてから一定期間は、た
とえ振幅が小さくなつても余韻によつて周波数ス
ペクトルが影響されていると考えられるためで、
ここでは、振幅監視回路に適当な時定数を持たせ
ている。
このようにして平均スペクトルcを求めれば、
外部騒音に影響されることなく正しく判定でき
る。以上の説明においては、検査としてモータの
騒音検査を例にとつたが、本発明は特に対象を限
定するものではなく、またマイクロフオンを振動
ピツクアツプにすれば振動検査にも適用でき、一
般の機器における振動・騒音による検査に適用で
きることは言うまでもない。
なお、上記実施例では振幅監視回路によつて外
部騒音が大きいことを検出したが、第5図のよう
に周波数分析器15によつて外部騒音の周波数ス
ペクトルgを求め、外部騒音検出用基準スペクト
ルメモリ16と差分回路17とによつて外部騒音
検出用基準スペクトルhと比較し、これを越えて
いるときに制御回路11に働きかけ、平均演算を
禁止するようにしてもよい。尚この場合の外部騒
音検出用基準スペクトルhとしては、平均スペク
トルとの比較判定用の基準スペクトルcを共用す
るようにしてもよい。
また、周波数分析器のかわりに複数のバンドパ
スフイルタを使用し、各バンドパスフイルタの出
力に対して平均演算や基準との比較演算を行なつ
て判定させるようにしても同様の効果を奏する。
以上のように、本発明によれば判定対象機器の
振動又は発生音と共に外部の振動又は発生音を検
出し、この外部の振動又は発生音が判定に影響す
る所定値以上の場合、判定対象機の周波数スペク
トルの平均を求める動作を停止するようにしたの
で、外部環境に影響を受けることなく機器の異常
を正確に検出することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の装置を示すブロツク図、第2図
は判定例を示す周波数スペクトル図、第3図は本
発明の一実施例を示すブロツク図、第4図は外部
騒音の一例を示す図、第5図は本発明の他の実施
例を示すブロツク図である。 図において、1は被検出モータ、2はマイクロ
フオン、3は増幅器、4は周波数分析器、5はア
ベレージヤー、6は基準スペクトルメモリ、7は
差分回路、8は絶対値回路、9は累積器、10は
判定回路、11は制御回路、12は外部騒音検出
用マイクロフオン、13は増幅器、14は振幅監
視回路、15は周波数分析器、16は外部騒音検
出用基準スペクトルメモリ、17は差分回路、
尚、図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 対象機器の振動又は発生音を電気信号に変換
    しその周波数スペクトルの平均値を求め、この平
    均値と基準値とを比較し上記対象機器の異常を検
    出する機器の異常検出装置において、上記機器の
    外部の振動又は発生音を検出する手段を備え、前
    記手段により検出された振動又は発生音が所定値
    以上のとき、上記周波数スペクトルの平均値を求
    める動作を停止するようにしたことを特徴とする
    機器の異常検出装置。
JP1247683A 1983-01-26 1983-01-26 機器の異常検出装置 Granted JPS59136625A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1247683A JPS59136625A (ja) 1983-01-26 1983-01-26 機器の異常検出装置

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JP1247683A JPS59136625A (ja) 1983-01-26 1983-01-26 機器の異常検出装置

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Publication Number Publication Date
JPS59136625A JPS59136625A (ja) 1984-08-06
JPH028250B2 true JPH028250B2 (ja) 1990-02-23

Family

ID=11806427

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JP1247683A Granted JPS59136625A (ja) 1983-01-26 1983-01-26 機器の異常検出装置

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KR20120055483A (ko) * 2010-11-23 2012-05-31 허친슨 신규의 황 개질된 모놀리식 다공성 탄소 기재 물질, 그의 제조 방법 및 에너지 저장 및 방출에서의 그의 용도

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