JPH07260630A - 軸受の異常診断方法 - Google Patents
軸受の異常診断方法Info
- Publication number
- JPH07260630A JPH07260630A JP6050243A JP5024394A JPH07260630A JP H07260630 A JPH07260630 A JP H07260630A JP 6050243 A JP6050243 A JP 6050243A JP 5024394 A JP5024394 A JP 5024394A JP H07260630 A JPH07260630 A JP H07260630A
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- Japan
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- signal
- bearing
- event
- signals
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ノイズの影響で発生する無駄な信号処理時間
を抑えて、効率良く軸受の異常を診断できる軸受の異常
診断方法を提供する。 【構成】 軸受の所定の部分が発生するＡＥに起因する
ＡＥ信号のうち、所定のしきい値を越えるＡＥ信号の周
期と、しきい値を越えるＡＥ信号を集計する最大個数Ｎ
maxとの積を、ＡＥセンサでＡＥを検出する計測時間Ｔ
１に設定する。最大個数Ｎmaxは予め定めた傷の数に応
じて定められる。そして、計測時間Ｔ１だけＡＥを計測
し、計測時間Ｔ１内に計測したＡＥよって発生したしき
い値を越えるＡＥ信号の集計個数ｉが最大個数Ｎmaxを
越えたときに、ＡＥ信号の集計を終了する。 【効果】 ＡＥ信号にノイズが混入して、計測時間Ｔ１
内のしきい値を越えるＡＥ信号の個数が著しく増加して
も、信号処理するＡＥ信号の個数ｉを最大個数Ｎmax以
下に抑えることができる。
を抑えて、効率良く軸受の異常を診断できる軸受の異常
診断方法を提供する。 【構成】 軸受の所定の部分が発生するＡＥに起因する
ＡＥ信号のうち、所定のしきい値を越えるＡＥ信号の周
期と、しきい値を越えるＡＥ信号を集計する最大個数Ｎ
maxとの積を、ＡＥセンサでＡＥを検出する計測時間Ｔ
１に設定する。最大個数Ｎmaxは予め定めた傷の数に応
じて定められる。そして、計測時間Ｔ１だけＡＥを計測
し、計測時間Ｔ１内に計測したＡＥよって発生したしき
い値を越えるＡＥ信号の集計個数ｉが最大個数Ｎmaxを
越えたときに、ＡＥ信号の集計を終了する。 【効果】 ＡＥ信号にノイズが混入して、計測時間Ｔ１
内のしきい値を越えるＡＥ信号の個数が著しく増加して
も、信号処理するＡＥ信号の個数ｉを最大個数Ｎmax以
下に抑えることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、軸受が発生するアコ
ースティックエミッション(ＡＥ）を検出して、軸受の
異常を診断する軸受の異常診断方法に関する。
ースティックエミッション(ＡＥ）を検出して、軸受の
異常を診断する軸受の異常診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の軸受の異常診断方法とし
ては、軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで検出してＡＥ
センサからＡＥ信号を出力し、所定のしきい値を越えた
ＡＥ信号の個数つまりイベントＡＥ信号の個数を、同じ
周期のイベントＡＥ信号毎に集計し、上記集計したイベ
ントＡＥ信号の個数が所定の値を越えたときに、上記イ
ベント信号が有する周期に対応する箇所に異常が発生し
たと診断する方法がある。
ては、軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで検出してＡＥ
センサからＡＥ信号を出力し、所定のしきい値を越えた
ＡＥ信号の個数つまりイベントＡＥ信号の個数を、同じ
周期のイベントＡＥ信号毎に集計し、上記集計したイベ
ントＡＥ信号の個数が所定の値を越えたときに、上記イ
ベント信号が有する周期に対応する箇所に異常が発生し
たと診断する方法がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記ＡＥセン
サが出力するＡＥ信号に、軸受の異常に起因するイベン
トＡＥ信号Ｓよりも短い周期のノイズが多数混入して、
ＡＥ信号の波形が図２(Ｃ)に示すようになると、図２
(Ａ)や図２(Ｂ)に示すようなノイズが無いＡＥ信号の波
形に比べて、所定の時間内にしきい値を越えるＡＥ信号
の個数が著しく増加する。したがって、上記ＡＥ信号を
周期(発生時間差)毎に集計するために必要な信号処理時
間が著しく増大し、かつ、この著しく増大した信号処理
時間は軸受の異常診断に何ら役立てることができない。
サが出力するＡＥ信号に、軸受の異常に起因するイベン
トＡＥ信号Ｓよりも短い周期のノイズが多数混入して、
ＡＥ信号の波形が図２(Ｃ)に示すようになると、図２
(Ａ)や図２(Ｂ)に示すようなノイズが無いＡＥ信号の波
形に比べて、所定の時間内にしきい値を越えるＡＥ信号
の個数が著しく増加する。したがって、上記ＡＥ信号を
周期(発生時間差)毎に集計するために必要な信号処理時
間が著しく増大し、かつ、この著しく増大した信号処理
時間は軸受の異常診断に何ら役立てることができない。
【０００４】たとえば、大型の軸受の場合には、軸受の
回転速度が低速であるので、軸受の異常に起因するイベ
ントＡＥ信号Ｓ間に多数のノイズが入ることがあり、上
記増大した信号処理時間が３０分に達することがある。
回転速度が低速であるので、軸受の異常に起因するイベ
ントＡＥ信号Ｓ間に多数のノイズが入ることがあり、上
記増大した信号処理時間が３０分に達することがある。
【０００５】そこで、この発明の目的は、ＡＥ信号に混
入したノイズが無駄な信号処理時間を著しく増大させる
ことを防止でき、効率良く軸受の異常を診断できる軸受
の異常診断方法を提供することにある。
入したノイズが無駄な信号処理時間を著しく増大させる
ことを防止でき、効率良く軸受の異常を診断できる軸受
の異常診断方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の軸受の異常診断方法は、軸受が発生する
ＡＥをＡＥセンサで検出して、上記ＡＥセンサから上記
ＡＥを表すＡＥ信号を出力し、所定のしきい値を越えた
ＡＥ信号であるイベントＡＥ信号の周期を計測して、軸
受の異常を診断する軸受の異常診断方法において、上記
軸受の所定の部分が発生するイベントＡＥ信号の周期
と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計すべきイベン
トＡＥ信号の最大個数とから、上記ＡＥセンサでＡＥを
検出する計測時間を設定し、上記ＡＥセンサで上記計測
時間だけ軸受が発生するＡＥを計測し、上記計測時間内
に計測したＡＥについて、イベントＡＥ信号の周期毎の
発生個数を集計し、上記集計したイベントＡＥ信号の発
生個数が上記最大個数を越えたときに、上記イベントＡ
Ｅ信号の集計を終了することを特徴としている。
め、この発明の軸受の異常診断方法は、軸受が発生する
ＡＥをＡＥセンサで検出して、上記ＡＥセンサから上記
ＡＥを表すＡＥ信号を出力し、所定のしきい値を越えた
ＡＥ信号であるイベントＡＥ信号の周期を計測して、軸
受の異常を診断する軸受の異常診断方法において、上記
軸受の所定の部分が発生するイベントＡＥ信号の周期
と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計すべきイベン
トＡＥ信号の最大個数とから、上記ＡＥセンサでＡＥを
検出する計測時間を設定し、上記ＡＥセンサで上記計測
時間だけ軸受が発生するＡＥを計測し、上記計測時間内
に計測したＡＥについて、イベントＡＥ信号の周期毎の
発生個数を集計し、上記集計したイベントＡＥ信号の発
生個数が上記最大個数を越えたときに、上記イベントＡ
Ｅ信号の集計を終了することを特徴としている。
【０００７】
【作用】この発明の軸受の異常診断方法は、上記軸受の
所定の部分が発生するＡＥに起因するイベントＡＥ信号
の周期と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計すべき
イベントＡＥ信号の最大個数とから、上記ＡＥセンサで
ＡＥを検出する計測時間を設定する。そして、上記計測
時間だけＡＥを計測し、上記計測時間内に計測したＡＥ
についてイベントＡＥ信号を周期毎に集計する。そし
て、この集計したイベントＡＥ信号の発生個数が上記最
大個数を越えたときに、上記イベントＡＥ信号の集計を
終了する。
所定の部分が発生するＡＥに起因するイベントＡＥ信号
の周期と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計すべき
イベントＡＥ信号の最大個数とから、上記ＡＥセンサで
ＡＥを検出する計測時間を設定する。そして、上記計測
時間だけＡＥを計測し、上記計測時間内に計測したＡＥ
についてイベントＡＥ信号を周期毎に集計する。そし
て、この集計したイベントＡＥ信号の発生個数が上記最
大個数を越えたときに、上記イベントＡＥ信号の集計を
終了する。
【０００８】このように、この発明は、ＡＥの計測時間
と、集計するイベントＡＥ信号の最大個数とが、あらか
じめ設定されている。したがって、ＡＥ信号にノイズが
混入して、所定の期間内にしきい値を越えるＡＥ信号の
個数が著しく増加しても、信号処理するＡＥ信号の個数
が上記最大個数を越えることがない。したがって、ＡＥ
信号に混入したノイズが無駄な信号処理時間を著しく増
大させることを防止でき、効率の良い軸受の異常診断が
できる。
と、集計するイベントＡＥ信号の最大個数とが、あらか
じめ設定されている。したがって、ＡＥ信号にノイズが
混入して、所定の期間内にしきい値を越えるＡＥ信号の
個数が著しく増加しても、信号処理するＡＥ信号の個数
が上記最大個数を越えることがない。したがって、ＡＥ
信号に混入したノイズが無駄な信号処理時間を著しく増
大させることを防止でき、効率の良い軸受の異常診断が
できる。
【０００９】
【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。
説明する。
【００１０】図３に、この発明の軸受の異常診断方法で
軸受の異常を診断する異常診断装置のブロック図を示
す。この異常診断装置は、ＡＥセンサ１と、プリアンプ
２と、バンドパスフィルタ３と、メインアンプ４と、包
絡線検波回路５と、比較器６と、コンピュータ７とを備
えている。ＡＥセンサ１は軸受が発生するＡＥを検出し
て、ＡＥ信号を出力する。このＡＥ信号はプリアンプ２
で増幅され、バンドパスフィルタ３で所定の帯域のみが
通過させられ、メインアンプ４でさらに増幅されてか
ら、包絡線検波回路５で包絡線検波される。この包絡線
検波されたＡＥ信号は、比較器６で所定のしきい値を比
較され、ＡＥ信号がしきい値を越えたときに、比較器６
からコンピュータ７に信号が出力される。
軸受の異常を診断する異常診断装置のブロック図を示
す。この異常診断装置は、ＡＥセンサ１と、プリアンプ
２と、バンドパスフィルタ３と、メインアンプ４と、包
絡線検波回路５と、比較器６と、コンピュータ７とを備
えている。ＡＥセンサ１は軸受が発生するＡＥを検出し
て、ＡＥ信号を出力する。このＡＥ信号はプリアンプ２
で増幅され、バンドパスフィルタ３で所定の帯域のみが
通過させられ、メインアンプ４でさらに増幅されてか
ら、包絡線検波回路５で包絡線検波される。この包絡線
検波されたＡＥ信号は、比較器６で所定のしきい値を比
較され、ＡＥ信号がしきい値を越えたときに、比較器６
からコンピュータ７に信号が出力される。
【００１１】このコンピュータ７は、図１に示すフロー
チャートに従って信号処理を行うようになっている。
チャートに従って信号処理を行うようになっている。
【００１２】即ち、このコンピュータ７は、まず、ステ
ップＳ１で、軸受の特定の箇所に剥離などの傷が生じた
ときに発生するＡＥの内、所定のしきい値を越えるＡＥ
信号であるイベントＡＥ信号の周期すなわち特性周期Ｔ
１をあらかじめ計算する。上記特定の箇所とは、たとえ
ば、軸受の外輪と内輪と転動体である。
ップＳ１で、軸受の特定の箇所に剥離などの傷が生じた
ときに発生するＡＥの内、所定のしきい値を越えるＡＥ
信号であるイベントＡＥ信号の周期すなわち特性周期Ｔ
１をあらかじめ計算する。上記特定の箇所とは、たとえ
ば、軸受の外輪と内輪と転動体である。
【００１３】次に、ステップＳ２に進み、上記特性周期
Ｔ１と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計すべきイ
ベントＡＥ信号の最大個数Ｎmaxとから、ＡＥセンサ１
で軸受が発生するＡＥを検出する計測時間Ｔ２を計算す
る。つまり、Ｔ２＝Ｔ１×Ｎmaxである。
Ｔ１と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計すべきイ
ベントＡＥ信号の最大個数Ｎmaxとから、ＡＥセンサ１
で軸受が発生するＡＥを検出する計測時間Ｔ２を計算す
る。つまり、Ｔ２＝Ｔ１×Ｎmaxである。
【００１４】次に、ステップＳ３に進み、ＡＥセンサ１
による軸受からのＡＥの計測を開始する。次に、ステッ
プＳ４に進み、上記計測開始後の経過時間がステップＳ
２で設定した計測時間Ｔ２に達したか否かを判断する。
そして、上記計測経過時間が計測時間Ｔ２に達したと判
断したときに、ステップＳ５に進み、計測時間Ｔ２に達
していないと判断したときには上記計測を続ける。
による軸受からのＡＥの計測を開始する。次に、ステッ
プＳ４に進み、上記計測開始後の経過時間がステップＳ
２で設定した計測時間Ｔ２に達したか否かを判断する。
そして、上記計測経過時間が計測時間Ｔ２に達したと判
断したときに、ステップＳ５に進み、計測時間Ｔ２に達
していないと判断したときには上記計測を続ける。
【００１５】ステップＳ５では、上記計測したイベント
ＡＥ信号の周期毎(信号の発生時間差毎)の集計を開始
し、イベントＡＥ信号の信号処理個数ｉ＝０とする。
ＡＥ信号の周期毎(信号の発生時間差毎)の集計を開始
し、イベントＡＥ信号の信号処理個数ｉ＝０とする。
【００１６】つぎに、ステップＳ６に進み、上記イベン
トＡＥ信号の信号処理個数ｉが上記最大個数Ｎmaxを越
えたか否かを判断し、Ｎmaxを越えたと判断したときに
はステップＳ１０に進み、Ｎmaxを越えていないと判断
したときにはステップＳ７に進む。
トＡＥ信号の信号処理個数ｉが上記最大個数Ｎmaxを越
えたか否かを判断し、Ｎmaxを越えたと判断したときに
はステップＳ１０に進み、Ｎmaxを越えていないと判断
したときにはステップＳ７に進む。
【００１７】ステップＳ７では、上記イベントＡＥ信号
の周期別発生個数ｎおよび周期別発生率ｐを集計する。
この周期別発生率ｐは、ある期間Ｔx内に、ある周期Ｔy
のイベントＡＥ信号がその周期Ｔy毎に確実に発生した
ならば１００％である。つまり、周期別発生率ｐは、１
００×(ある期間内に集計したある周期のイベントＡＥ
信号の数）／（ＴxをＴyで除した値の小数点以下を切り
捨てて整数化した値）である。
の周期別発生個数ｎおよび周期別発生率ｐを集計する。
この周期別発生率ｐは、ある期間Ｔx内に、ある周期Ｔy
のイベントＡＥ信号がその周期Ｔy毎に確実に発生した
ならば１００％である。つまり、周期別発生率ｐは、１
００×(ある期間内に集計したある周期のイベントＡＥ
信号の数）／（ＴxをＴyで除した値の小数点以下を切り
捨てて整数化した値）である。
【００１８】次に、ステップＳ８に進み、信号処理個数
ｉをｉ＋１にする。次に、ステップＳ９に進み、ステッ
プＳ５に戻る。
ｉをｉ＋１にする。次に、ステップＳ９に進み、ステッ
プＳ５に戻る。
【００１９】ステップＳ１０では、上記集計ループ（ス
テップＳ５〜Ｓ９）で集計したイベントＡＥ信号の周期
別発生個数ｎと周期別の発生率ｐとを表示する。
テップＳ５〜Ｓ９）で集計したイベントＡＥ信号の周期
別発生個数ｎと周期別の発生率ｐとを表示する。
【００２０】このように、この実施例は、ＡＥセンサで
軸受のＡＥの検出を開始する前に、軸受の所定の箇所に
傷が生じたときに発生するイベントＡＥ信号の周期（特
性周期Ｔ１）をあらかじめ計算し、この特性周期Ｔ１
と、集計すべきイベントＡＥ信号の最大個数Ｎmaxとの
積を、ＡＥの計測時間Ｔ２に定める。上記最大個数Ｎma
xは、予め定めた傷の数に応じて定めた数である。
軸受のＡＥの検出を開始する前に、軸受の所定の箇所に
傷が生じたときに発生するイベントＡＥ信号の周期（特
性周期Ｔ１）をあらかじめ計算し、この特性周期Ｔ１
と、集計すべきイベントＡＥ信号の最大個数Ｎmaxとの
積を、ＡＥの計測時間Ｔ２に定める。上記最大個数Ｎma
xは、予め定めた傷の数に応じて定めた数である。
【００２１】したがって、上記計測時間Ｔ２の間に、Ａ
Ｅ信号にノイズが混入して、上記計測時間Ｔ２内のしき
い値を越えるＡＥ信号の個数が著しく増加しても、信号
処理するイベントＡＥ信号の個数は、上記最大個数Ｎma
x以下に抑えられる。
Ｅ信号にノイズが混入して、上記計測時間Ｔ２内のしき
い値を越えるＡＥ信号の個数が著しく増加しても、信号
処理するイベントＡＥ信号の個数は、上記最大個数Ｎma
x以下に抑えられる。
【００２２】したがって、ＡＥ信号に混入したノイズが
無駄な信号処理時間を著しく増大させることを防止でき
る。したがって、軸受の異常を効率良く診断することが
できる。
無駄な信号処理時間を著しく増大させることを防止でき
る。したがって、軸受の異常を効率良く診断することが
できる。
【００２３】
【発明の効果】以上より明らかなように、この発明の軸
受の異常診断方法は、軸受の所定の部分が発生するＡＥ
に起因するＡＥ信号のうち、所定のしきい値を越えるＡ
Ｅ信号の周期と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計
すべきイベントＡＥ信号の最大個数とから、ＡＥセンサ
でＡＥを検出する計測時間とを設定する。そして、上記
設定された計測時間の間だけＡＥを計測し、この計測時
間内に計測したＡＥに基づくＡＥ信号のうち、しきい値
を越えたＡＥ信号を集計し、この集計個数が上記最大個
数を越えたときに、上記しきい値を越えたＡＥ信号つま
りイベントＡＥ信号の集計を終了する。
受の異常診断方法は、軸受の所定の部分が発生するＡＥ
に起因するＡＥ信号のうち、所定のしきい値を越えるＡ
Ｅ信号の周期と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計
すべきイベントＡＥ信号の最大個数とから、ＡＥセンサ
でＡＥを検出する計測時間とを設定する。そして、上記
設定された計測時間の間だけＡＥを計測し、この計測時
間内に計測したＡＥに基づくＡＥ信号のうち、しきい値
を越えたＡＥ信号を集計し、この集計個数が上記最大個
数を越えたときに、上記しきい値を越えたＡＥ信号つま
りイベントＡＥ信号の集計を終了する。
【００２４】したがって、この発明によれば、ＡＥの計
測時間が、集計するイベントＡＥ信号の最大個数と、軸
受が発生するＡＥのイベントＡＥ信号の周期とからあら
かじめ設定されている。したがって、上記計測時間内
に、ＡＥ信号にノイズが混入して、上記計測時間内のイ
ベントＡＥ信号の個数が著しく増加しても、信号処理す
るイベントＡＥ信号の個数を上記最大個数以下に抑える
ことができる。したがって、この発明によれば、ＡＥ信
号に混入したノイズが無駄な信号処理時間を著しく増大
させることを防止でき、効率良く軸受の異常を診断でき
る。
測時間が、集計するイベントＡＥ信号の最大個数と、軸
受が発生するＡＥのイベントＡＥ信号の周期とからあら
かじめ設定されている。したがって、上記計測時間内
に、ＡＥ信号にノイズが混入して、上記計測時間内のイ
ベントＡＥ信号の個数が著しく増加しても、信号処理す
るイベントＡＥ信号の個数を上記最大個数以下に抑える
ことができる。したがって、この発明によれば、ＡＥ信
号に混入したノイズが無駄な信号処理時間を著しく増大
させることを防止でき、効率良く軸受の異常を診断でき
る。
【図１】 この発明の軸受の異常診断方法の実施例のフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図２】 図２(Ａ)は軸受の所定の箇所に１個の傷が発
生したときに、軸受から発生するＡＥを検出したＡＥセ
ンサが出力するＡＥ信号の波形図であり、図２(Ｂ)は軸
受に２個の傷が発生したときのＡＥ信号の波形図であ
り、図２(Ｃ)は図２(Ａ)に示したＡＥ信号にノイズが混
入したときの波形図である。
生したときに、軸受から発生するＡＥを検出したＡＥセ
ンサが出力するＡＥ信号の波形図であり、図２(Ｂ)は軸
受に２個の傷が発生したときのＡＥ信号の波形図であ
り、図２(Ｃ)は図２(Ａ)に示したＡＥ信号にノイズが混
入したときの波形図である。
【図３】 上記実施例の異常診断を行う異常診断装置の
ブロック図である。
ブロック図である。
１…ＡＥセンサ、２…プリアンプ、３…バンドパスフィ
ルタ、４…メインアンプ、５…包絡線検波回路、６…比
較器、７…コンピュータ、Ｓ…信号。
ルタ、４…メインアンプ、５…包絡線検波回路、６…比
較器、７…コンピュータ、Ｓ…信号。
Claims (1)
- 【請求項１】 軸受が発生するＡＥをＡＥセンサで検出
して、上記ＡＥセンサから上記ＡＥを表すＡＥ信号を出
力し、所定のしきい値を越えたＡＥ信号であるイベント
ＡＥ信号の周期を計測して、軸受の異常を診断する軸受
の異常診断方法において、 上記軸受の所定の部分が発生するイベントＡＥ信号の周
期と、予め定めた傷の数に応じて定めた集計すべきイベ
ントＡＥ信号の最大個数とから、上記ＡＥセンサでＡＥ
を検出する計測時間を設定し、 上記ＡＥセンサで上記計測時間だけ軸受が発生するＡＥ
を計測し、 上記計測時間内に計測したＡＥについて、イベントＡＥ
信号の周期毎の発生個数を集計し、 上記集計したイベントＡＥ信号の発生個数が上記最大個
数を越えたときに、上記イベントＡＥ信号の集計を終了
することを特徴とする軸受の異常診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6050243A JPH07260630A (ja) | 1994-03-22 | 1994-03-22 | 軸受の異常診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6050243A JPH07260630A (ja) | 1994-03-22 | 1994-03-22 | 軸受の異常診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07260630A true JPH07260630A (ja) | 1995-10-13 |
Family
ID=12853559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6050243A Pending JPH07260630A (ja) | 1994-03-22 | 1994-03-22 | 軸受の異常診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07260630A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108225768A (zh) * | 2016-12-15 | 2018-06-29 | 唐智科技湖南发展有限公司 | 一种诊断轴承轴向擦伤和扩展故障及减少该故障的方法 |
-
1994
- 1994-03-22 JP JP6050243A patent/JPH07260630A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108225768A (zh) * | 2016-12-15 | 2018-06-29 | 唐智科技湖南发展有限公司 | 一种诊断轴承轴向擦伤和扩展故障及减少该故障的方法 |
| CN108225768B (zh) * | 2016-12-15 | 2019-09-20 | 唐智科技湖南发展有限公司 | 一种诊断轴承轴向擦伤和扩展故障及减少该故障的方法 |
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