JPH08139235A - 電子機器およびその製造方法 - Google Patents

電子機器およびその製造方法

Info

Publication number
JPH08139235A
JPH08139235A JP27373094A JP27373094A JPH08139235A JP H08139235 A JPH08139235 A JP H08139235A JP 27373094 A JP27373094 A JP 27373094A JP 27373094 A JP27373094 A JP 27373094A JP H08139235 A JPH08139235 A JP H08139235A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic device
spacer
wiring board
heat medium
printed wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP27373094A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Horiuchi
整 堀内
Takayuki Okinaga
隆幸 沖永
Hiroshi Tate
宏 舘
Koji Emata
孝司 江俣
Masako Sasaki
雅子 佐々木
Atsushi Honda
厚 本多
Hiroyuki Hozoji
裕之 宝蔵寺
Taku Kikuchi
卓 菊池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi ULSI Engineering Corp, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi ULSI Engineering Corp
Priority to JP27373094A priority Critical patent/JPH08139235A/ja
Publication of JPH08139235A publication Critical patent/JPH08139235A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電子機器内のプリント配線基板に実装された
LSIパッケージの熱を速やかに電子機器の筐体に伝達
する。 【構成】 プリント配線基板3に実装されたQFP6を
金属製のスペーサ5で覆い、QFP6とスペーサ5との
隙間に弾性を有するヒートシンク8を介在させると共
に、プリント配線基板3を搭載した電子機器の筐体7と
スペーサ5との隙間にも弾性を有するヒートシンク12
を介在させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器およびその製
造技術に関し、特に、電子機器内のプリント配線基板に
実装されたLSIパッケージの放熱性の改善に適用して
有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、QFP(Quad Flat Package) など
の樹脂封止型LSIパッケージは、LSIの高集積化、
高速化に伴って半導体チップの発熱量が増大しているこ
とから、パッケージの熱抵抗を如何にして低減するかが
重要な課題となっている。
【0003】樹脂封止型LSIパッケージの放熱対策と
しては、LSIパッケージを実装したプリント配線基板
を電子機器に装着する際に、電子機器の筐体(メタルハ
ウジング)とLSIパッケージとの隙間に熱媒体を介在
させ、この熱媒体を通じてLSIパッケージの熱を速や
かに筐体に伝達させる構造が提案されている。
【0004】例えば、特開平3−288465号公報に
は、樹脂封止型LSIパッケージの一種であるZIP(Z
igzag In-line Package)をプリント配線基板に実装し、
このZIPと外部放熱体との間に液状熱媒体(パーフル
オロカーボン液)を封入したヒートシンクを介在させる
構造が記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電子機
器の筐体とLSIパッケージとの隙間に熱媒体を介在さ
せる前記従来技術は、LSIパッケージのリードとプリ
ント配線基板の電極(フットプリント)との接続部に熱
応力が加わり易いことから、リードと電極との接続信頼
性を充分に確保することができないという問題があっ
た。
【0006】また、前記従来技術は、電子機器の筐体と
LSIパッケージとの接触面積が小さいことから、LS
Iパッケージの熱を速やかに筐体に伝達させることがで
きないという問題があった。
【0007】本発明の目的は、電子機器の筐体とLSI
パッケージとの隙間に熱媒体を介在させる放熱構造にお
いて、LSIパッケージのリードとプリント配線基板の
電極との接続信頼性を向上させることのできる技術を提
供することにある。
【0008】本発明の他の目的は、電子機器の筐体とL
SIパッケージとの隙間に熱媒体を介在させる放熱構造
において、LSIパッケージの熱を速やかに筐体に伝達
させることのできる技術を提供することにある。
【0009】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
次のとおりである。
【0011】本発明の電子機器は、プリント配線基板に
実装された樹脂封止型LSIパッケージを金属製のスペ
ーサで覆い、この樹脂封止型LSIパッケージとスペー
サとの隙間に弾性を有する第1の熱媒体を介在させると
共に、プリント配線基板を収容した電子機器の筐体と上
記スペーサとの隙間に弾性を有する第2の熱媒体を介在
させるものである。
【0012】本発明の電子機器は、半導体チップをチッ
プ・オン・ボード方式で実装したプリント配線基板に前
記半導体チップを覆う金属製のスペーサを搭載し、前記
スペーサの内部にゲル状の熱媒体を充填すると共に、前
記スペーサと前記電子機器の筐体との隙間に弾性を有す
る熱媒体を介在させるものである。
【0013】
【作用】上記した手段によれば、樹脂封止型LSIパッ
ケージとスペーサとの隙間に弾性を有する第1の熱媒体
を介在させると共に、スペーサと電子機器の筐体との隙
間に弾性を有する第2の熱媒体を介在させることによ
り、スペーサ、LSIパッケージ、筐体、プリント配線
基板の熱膨張係数の違いによって発生する熱応力が弾性
を有する2つのヒートシンクによって緩和、吸収される
ので、LSIパッケージのリードとプリント配線基板の
電極との接続部に大きな熱応力が加わるのを防止するこ
とができる。
【0014】また、LSIパッケージ(半導体チップ)
と電子機器の筐体との間に大面積のスペーサを介在させ
ることにより、放熱面積が拡大すると共に、LSIパッ
ケージと筐体との接触面積が実質的に増大する。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
【0016】(実施例1)図1は、本発明の実施例1で
ある電子機器の要部を拡大して示す断面図、図2は、こ
の電子機器の要部を破断して示す側面図である。
【0017】図2に示すように、本実施例の電子機器1
のメインボード2には、プリント配線基板3がソケット
4を介して実装されている。このプリント配線基板3の
片面には、例えばCu(銅)やAl(アルミニウム)の
ような熱伝導率の高い金属で構成されたスペーサ5が搭
載されている。同図は示さないが、このスペーサ5の内
部には、樹脂封止型LSIパッケージの一種のQFP6
が封入されている。
【0018】上記プリント配線基板3に搭載されたスペ
ーサ5と電子機器1の筐体(ハウジング)7との隙間に
は、弾性を有する熱媒体、例えばプラスチック製の袋に
液状熱媒体の一種であるパーフルオロカーボン液を封入
したヒートシンク8が挿入されている。電子機器1の筐
体(ハウジング)7は、鋼板あるいはAl板などの金属
板で構成されている。
【0019】図1に拡大して示すように、上記スペーサ
5は、弾性を有する接着剤、例えば金属フィラーを混入
させて熱伝導率を向上させたゴム系の接着剤9を介して
プリント配線基板3の主面に接合されている。また、ス
ペーサ5の内部のQFP6は、リード10を介してプリ
ント配線基板3の電極(フットプリント)11に半田付
けされており、さらに、スペーサ5とQFP6との隙間
には、スペーサ5と筐体(ハウジング)7との隙間に挿
入された前記ヒートシンク8と同種のヒートシンク12
が挿入されている。
【0020】本実施例の電子機器1を組み立てるには、
まず図3に示すように、QFP6のリード10をプリン
ト配線基板3の電極11上に位置決めし、赤外線リフロ
ーなどによって両者を半田付けした後、図4に示すよう
に、スペーサ5を固定するための接着剤9をプリント配
線基板3の主面に塗布する。
【0021】次に、図5に示すように、QFP6上にヒ
ートシンク12を接着剤などで取り付けた後、図6に示
すように、スペーサ5を接着剤9でプリント配線基板3
の主面に固定する。その後、このプリント配線基板3を
電子機器1に搭載する際に、スペーサ5と電子機器1の
筐体(ハウジング)7との隙間にヒートシンク8を挿入
し、接着剤あるいは固定具などで固定する。
【0022】上記のように構成された本実施例の電子機
器1においては、QFP6で発生した熱が、まずヒート
シンク12を通じてスペーサ5に伝達され、その一部が
スペーサ5の表面から外部に放散される。また、スペー
サ5に伝達された熱の他の一部はヒートシンク8を通じ
て電子機器1の筐体(ハウジング)7に伝達され、その
表面から外部に放散される。
【0023】このように、本実施例によれば、電子機器
1の筐体(ハウジング)7とQFP6との隙間に大面積
のスペーサ5を介在させることにより、放熱面積が拡大
すると共に、QFP6と筐体(ハウジング)7との接触
面積が実質的に増大するため、QFP6で発生した熱を
速やかに外部に放散させることができ、この結果、QF
P6の熱抵抗を大幅に低減することができる。
【0024】また、本実施例によれば、スペーサ5、Q
FP6、筐体(ハウジング)7、プリント配線基板3な
どの熱膨張係数の違いによって発生する熱応力が弾性を
有する2つのヒートシンク8,12によって緩和、吸収
されるので、QFP6のリード10の接続部にかかる応
力を低減することができる。
【0025】また、本実施例によれば、ゴム系の接着剤
9を介してスペーサ5をプリント配線基板3に接合した
ことにより、スペーサ5とプリント配線基板3の熱膨張
係数の違いによって発生する熱応力がゴム系の接着剤9
によって緩和、吸収されるので、スペーサ5をプリント
配線基板3に確実に接合させることができる。
【0026】(実施例2)図7は、本発明の実施例2で
ある電子機器1の要部を拡大して示す断面図である。
【0027】前記実施例1では、各スペーサ5の内部に
QFP6を1個ずつ封入したが、本実施例では、1個の
QFP6だけでなく、他のQFP6、さらには抵抗素子
14など、同じプリント配線基板3に実装されたすべて
の電子部品全体を1個の金属製のスペーサ15で覆って
いる。
【0028】本実施例によれば、前記実施例1と同様の
効果が得られることに加えて、スペーサ5の数が最小限
で済むので、電子部品をプリント配線基板3に高密度に
実装することが可能となる。
【0029】(実施例3)図8は、本発明の実施例3で
ある電子機器1の要部を拡大して示す断面図である。
【0030】前記実施例1、2では、スペーサ5の内部
にQFP6を封入したが、本実施例では、半導体チップ
16を樹脂封止することなく、チップ・オン・ボード方
式でプリント配線基板3に実装し、この半導体チップ1
6を金属製のスペーサ5で覆っている。これは、スペー
サ5が実質的に半導体チップ16を外部の汚染や湿気か
ら保護するキャップとしての機能を有しているため、半
導体チップ16を樹脂封止する必要がないからである。
【0031】上記半導体チップ16は、Agペーストな
どの接着剤によってプリント配線基板3に実装(ペレッ
ト付け)されており、半導体チップ16とプリント配線
基板3の電極11とは、Auのボンディングワイヤ17
を介して電気的に接続されている。また、スペーサ5の
内部には、その一部に設けた注入口18を通じてシリコ
ーンゲル20が充填され、これによって、半導体チップ
16の熱抵抗を低減すると共に、半導体チップ16を外
部の汚染や湿気から保護している。また、注入口18の
内部には、充填剤21が封入されている。
【0032】上記半導体チップ16を覆うスペーサ5と
電子機器1の筐体(ハウジング)7との隙間には、弾性
を有するヒートシンク8が挿入されている。このヒート
シンク8は、前述したプラスチック製の袋にパーフルオ
ロカーボン液を封入したヒートシンクで構成される。な
お、ヒートシンク8としては、パーフルオロカーボン液
に代えて、金属フィラーを混入した導電性グリース、導
電性ゴムなど、弾性を有する各種の熱媒体を使用するこ
とができる。
【0033】本実施例によれば、前記実施例1、2と同
様の効果が得られることに加えて、半導体チップ16を
樹脂封止する工程や金型などの部品が不要となるので、
電子機器1の製造コストを低減することができる。
【0034】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0035】例えば、プリント配線基板3へのスペーサ
5の取り付けは、Agロウ、半田、あるいはネジなどの
固定具を使って行ってもよい。
【0036】上述した本発明の放熱構造は、QFP以外
の各種樹脂封止型LSIパッケージを実装したプリント
配線基板を電子機器に搭載する場合にも適用することが
できる。
【0037】
【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下の通りである。
【0038】本実施例によれば、樹脂封止型LSIパッ
ケージと電子機器の筐体との間にスペーサを介在させ、
LSIパッケージとスペーサとの隙間およびスペーサと
筐体との隙間にそれぞれ弾性を有する熱媒体を介在させ
ることにより、LSIパッケージで発生した熱を速やか
に外部に放散させることが可能となる。
【0039】また、本発明によれば、LSIパッケージ
のリードとプリント配線基板の電極(フットプリント)
との接続部に大きな熱応力が加わらないので、リードと
電極との接続信頼性を確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である電子機器の要部を拡大
して示す断面図である。
【図2】本発明の一実施例である電子機器の一部を破断
して示す側面図である。
【図3】本発明の一実施例である電子機器の組立て方法
を示す断面図である。
【図4】本発明の一実施例である電子機器の組立て方法
を示す断面図である。
【図5】本発明の一実施例である電子機器の組立て方法
を示す断面図である。
【図6】本発明の一実施例である電子機器の組立て方法
を示す断面図である。
【図7】本発明の他の実施例である電子機器の要部を拡
大して示す断面図である。
【図8】本発明の他の実施例である電子機器の要部を拡
大して示す断面図である。
【符号の説明】
1 電子機器 2 メインボード 3 プリント配線基板 4 ソケット 5 スペーサ 6 QFP 7 筐体(ハウジング) 8 ヒートシンク(熱媒体) 9 接着剤 10 リード 11 電極(フットプリント) 12 ヒートシンク(熱媒体) 14 抵抗素子 15 スペーサ 16 半導体チップ 17 ボンディングワイヤ 18 注入口 20 シリコーンゲル 21 充填剤
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 沖永 隆幸 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 日 立超エル・エス・アイ・エンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 舘 宏 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 日 立超エル・エス・アイ・エンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 江俣 孝司 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 日 立超エル・エス・アイ・エンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 佐々木 雅子 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 日 立超エル・エス・アイ・エンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 本多 厚 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 (72)発明者 宝蔵寺 裕之 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 (72)発明者 菊池 卓 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 樹脂封止型LSIパッケージを実装した
    プリント配線基板と前記プリント配線基板を収容する電
    子機器の筐体との隙間に熱媒体を介在させた電子機器の
    放熱構造であって、前記プリント配線基板に前記樹脂封
    止型LSIパッケージを覆う金属製のスペーサを搭載
    し、前記樹脂封止型LSIパッケージと前記スペーサと
    の隙間に弾性を有する第1の熱媒体を介在させると共
    に、前記スペーサと前記電子機器の筐体との隙間に弾性
    を有する第2の熱媒体を介在させたことを特徴とする電
    子機器。
  2. 【請求項2】 前記弾性を有する第1の熱媒体は、導電
    性グリース、導電性ゴムまたは液状熱媒体であることを
    特徴とする請求項1記載の電子機器。
  3. 【請求項3】 前記弾性を有する第2の熱媒体は、導電
    性グリース、導電性ゴムまたは液状熱媒体であることを
    特徴とする請求項1記載の電子機器。
  4. 【請求項4】 前記スペーサは、弾性を有する接着剤を
    介して前記プリント配線基板に接合されていることを特
    徴とする請求項1記載の電子機器。
  5. 【請求項5】 前記プリント配線基板に前記樹脂封止型
    LSIパッケージを含む複数の電子部品を実装し、これ
    らの電子部品全体を前記スペーサで覆ったことを特徴と
    する請求項1記載の電子機器。
  6. 【請求項6】 半導体チップをチップ・オン・ボード方
    式で実装したプリント配線基板に前記半導体チップを覆
    う金属製のスペーサを搭載し、前記スペーサの内部にゲ
    ル状の熱媒体を充填すると共に、前記スペーサと前記電
    子機器の筐体との隙間に弾性を有する熱媒体を介在させ
    たことを特徴とする電子機器。
  7. 【請求項7】 前記弾性を有する熱媒体は、導電性グリ
    ース、導電性ゴムまたは液状熱媒体であることを特徴と
    する請求項6記載の電子機器。
  8. 【請求項8】 樹脂封止型LSIパッケージをプリント
    配線基板に実装した後、前記プリント配線基板に前記樹
    脂封止型LSIパッケージを覆う金属製のスペーサを搭
    載し、前記樹脂封止型LSIパッケージと前記スペーサ
    との隙間に弾性を有する第1の熱媒体を介在させた後、
    前記スペーサと前記電子機器の筐体との隙間に弾性を有
    する第2の熱媒体を介在させることを特徴とする請求項
    1〜5のいずれか1項に記載の電子機器の製造方法。
JP27373094A 1994-11-08 1994-11-08 電子機器およびその製造方法 Withdrawn JPH08139235A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27373094A JPH08139235A (ja) 1994-11-08 1994-11-08 電子機器およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27373094A JPH08139235A (ja) 1994-11-08 1994-11-08 電子機器およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08139235A true JPH08139235A (ja) 1996-05-31

Family

ID=17531772

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27373094A Withdrawn JPH08139235A (ja) 1994-11-08 1994-11-08 電子機器およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08139235A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6252776B1 (en) 1998-07-23 2001-06-26 Nec Corporation Heat radiating member for heat generating device
JP2002134666A (ja) * 2000-10-30 2002-05-10 Achilles Corp 放熱樹脂シート
CN100401222C (zh) * 2002-04-22 2008-07-09 株式会社东芝 电子装置
JP2008172110A (ja) * 2007-01-15 2008-07-24 Hitachi Ltd 複数の部材高さを同時に均一に固定する押さえ構造
US7608923B2 (en) * 2007-08-15 2009-10-27 Via Technologies, Inc. Electronic device with flexible heat spreader
JP2011165903A (ja) * 2010-02-10 2011-08-25 Rohm Co Ltd 半導体モジュールおよび半導体モジュールの製造方法
JP2011166024A (ja) * 2010-02-12 2011-08-25 Toshiba Corp 電子機器
JP2011530190A (ja) * 2008-08-04 2011-12-15 クラスタード システムズ カンパニー 接点を冷却した電子機器匡体
WO2016185687A1 (en) * 2015-05-20 2016-11-24 Ricoh Company, Ltd. Electronic device and heat spreader
JP2018063994A (ja) * 2016-10-11 2018-04-19 トヨタ自動車株式会社 半導体冷却装置
JP2018113400A (ja) * 2017-01-13 2018-07-19 ブラザー工業株式会社 電子装置
JPWO2017122254A1 (ja) * 2016-01-15 2018-11-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 電子機器
WO2023112709A1 (ja) * 2021-12-14 2023-06-22 オムロン株式会社 実装基板、及び実装基板を搭載した電気機器

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6252776B1 (en) 1998-07-23 2001-06-26 Nec Corporation Heat radiating member for heat generating device
JP2002134666A (ja) * 2000-10-30 2002-05-10 Achilles Corp 放熱樹脂シート
JP4584439B2 (ja) * 2000-10-30 2010-11-24 アキレス株式会社 放熱樹脂シート
CN100401222C (zh) * 2002-04-22 2008-07-09 株式会社东芝 电子装置
JP2008172110A (ja) * 2007-01-15 2008-07-24 Hitachi Ltd 複数の部材高さを同時に均一に固定する押さえ構造
US7608923B2 (en) * 2007-08-15 2009-10-27 Via Technologies, Inc. Electronic device with flexible heat spreader
JP2011530190A (ja) * 2008-08-04 2011-12-15 クラスタード システムズ カンパニー 接点を冷却した電子機器匡体
JP2011165903A (ja) * 2010-02-10 2011-08-25 Rohm Co Ltd 半導体モジュールおよび半導体モジュールの製造方法
JP2011166024A (ja) * 2010-02-12 2011-08-25 Toshiba Corp 電子機器
US8351210B2 (en) 2010-02-12 2013-01-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Electronic apparatus
WO2016185687A1 (en) * 2015-05-20 2016-11-24 Ricoh Company, Ltd. Electronic device and heat spreader
JP2016219599A (ja) * 2015-05-20 2016-12-22 株式会社リコー 電子機器および熱拡散体
US10524389B2 (en) 2015-05-20 2019-12-31 Ricoh Company, Ltd. Electronic device and heat spreader
JPWO2017122254A1 (ja) * 2016-01-15 2018-11-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 電子機器
JP2018063994A (ja) * 2016-10-11 2018-04-19 トヨタ自動車株式会社 半導体冷却装置
JP2018113400A (ja) * 2017-01-13 2018-07-19 ブラザー工業株式会社 電子装置
WO2023112709A1 (ja) * 2021-12-14 2023-06-22 オムロン株式会社 実装基板、及び実装基板を搭載した電気機器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5710459A (en) Integrated circuit package provided with multiple heat-conducting paths for enhancing heat dissipation and wrapping around cap for improving integrity and reliability
US6617684B2 (en) Packaged die on PCB with heat sink encapsulant
US6566164B1 (en) Exposed copper strap in a semiconductor package
JPH07254668A (ja) 高熱放出用の半導体パッケージ
JP2004281722A (ja) 電子回路装置及びその製造方法
JPH08139235A (ja) 電子機器およびその製造方法
US5978224A (en) Quad flat pack integrated circuit package
US6600651B1 (en) Package with high heat dissipation
JP3922809B2 (ja) 半導体装置
JPS6150387B2 (ja)
JPH0637217A (ja) 半導体装置
JPH0846100A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0864730A (ja) 半導体集積回路装置
JPH03238852A (ja) モールド型半導体集積回路
JP4013780B2 (ja) 半導体装置の実装構造
JPS6329413B2 (ja)
JPS60136348A (ja) 半導体装置
JP2919313B2 (ja) プリント配線基板及びその実装方法
JPS618959A (ja) 半導体装置
JP3235346B2 (ja) Icパッケージ
JP2630291B2 (ja) 半導体装置
JPH07161872A (ja) 半導体集積回路装置
JP3447504B2 (ja) 半導体素子用パッケージ
JP2001210769A (ja) 半導体装置
JPH10308480A (ja) 半導体デバイス用封止樹脂材料及び半導体デバイス

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20020115