JPH08138065A - 太線描画方式 - Google Patents
太線描画方式Info
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- JPH08138065A JPH08138065A JP30433894A JP30433894A JPH08138065A JP H08138065 A JPH08138065 A JP H08138065A JP 30433894 A JP30433894 A JP 30433894A JP 30433894 A JP30433894 A JP 30433894A JP H08138065 A JPH08138065 A JP H08138065A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 線幅の品質を維持するようにした太線描画方
式を提供する。 【構成】 グラフィック表示装置に表示される直線の線
幅（|d0-d1|,|d2-d3|)が、線幅ｗを物理量で変換した値
ｗ’の許容範囲に収まるように、表示装置上でのドット
(d0,d1,d2,d3）に補正を加えることで、線幅の品質を維
持するようにした。
式を提供する。 【構成】 グラフィック表示装置に表示される直線の線
幅（|d0-d1|,|d2-d3|)が、線幅ｗを物理量で変換した値
ｗ’の許容範囲に収まるように、表示装置上でのドット
(d0,d1,d2,d3）に補正を加えることで、線幅の品質を維
持するようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ビットマップメモリを
備えたグラフィック表示装置を有する情報処理システム
での太線描画方式に関するものである。
備えたグラフィック表示装置を有する情報処理システム
での太線描画方式に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ビットマップメモリを備えたグラフィッ
ク表示装置において、２点(P1,P2）を結ぶ線幅ｗの直線
を描画する場合を図２を用いて説明する。
ク表示装置において、２点(P1,P2）を結ぶ線幅ｗの直線
を描画する場合を図２を用いて説明する。
【０００３】２点(P1,P2）を結ぶ線幅ｗの直線は、座標
（P1,P2）並びに線幅ｗから求まるＰｏｌｙｇｏｎ(q0,q
1,q2,q3）の内部をライン毎にスキャンしてラスタライ
ズしたり、Ｐｏｌｙｇｏｎを塗り潰すことで実現するこ
とができる。しかし、前記グラフィック表示装置に表示
する場合は、Ｐｏｌｙｇｏｎ(q0,q1,q2,q3）の各点を物
理座標変換して座標(q0',q1',q2',q3'）を算出し、これ
ら４点が載る表示装置上のドット(d0,d1,d2,d3）を求め
て、これら４ドットが構成するＰｏｌｙｇｏｎの内部を
ライン毎にスキャンしてラスタライズしたり、Ｐｏｌｙ
ｇｏｎを塗り潰すことで太線描画を実現していた。
（P1,P2）並びに線幅ｗから求まるＰｏｌｙｇｏｎ(q0,q
1,q2,q3）の内部をライン毎にスキャンしてラスタライ
ズしたり、Ｐｏｌｙｇｏｎを塗り潰すことで実現するこ
とができる。しかし、前記グラフィック表示装置に表示
する場合は、Ｐｏｌｙｇｏｎ(q0,q1,q2,q3）の各点を物
理座標変換して座標(q0',q1',q2',q3'）を算出し、これ
ら４点が載る表示装置上のドット(d0,d1,d2,d3）を求め
て、これら４ドットが構成するＰｏｌｙｇｏｎの内部を
ライン毎にスキャンしてラスタライズしたり、Ｐｏｌｙ
ｇｏｎを塗り潰すことで太線描画を実現していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の太線描画方式では、Ｐｏｌｙｇｏｎ（q0,q1,q2,q
3）を算出し、これら４点が載る表示装置上のドット（d
0,d1,d2,d3）を求めるだけであったので、物理座標変換
による丸め誤差の影響で、グラフィック表示装置に表示
される直線の線幅（|d0-d1|,|d2-d3|)が、線幅ｗを物理
量変換した値ｗ’の許容範囲に収まらないことがあっ
た。
来の太線描画方式では、Ｐｏｌｙｇｏｎ（q0,q1,q2,q
3）を算出し、これら４点が載る表示装置上のドット（d
0,d1,d2,d3）を求めるだけであったので、物理座標変換
による丸め誤差の影響で、グラフィック表示装置に表示
される直線の線幅（|d0-d1|,|d2-d3|)が、線幅ｗを物理
量変換した値ｗ’の許容範囲に収まらないことがあっ
た。
【０００５】本発明は上記従来の問題点に鑑み、グラフ
ィック表示装置に表示される直線の線幅（|d0-d1|,|d2-
d3|)が、線幅ｗを物理量で変換した値ｗ’の許容範囲に
収まるように、表示装置上でのドット(d0,d1,d2,d3）に
補正を加えることで、線幅の品質を維持するようにした
太線描画方式を提供することを目的とする。
ィック表示装置に表示される直線の線幅（|d0-d1|,|d2-
d3|)が、線幅ｗを物理量で変換した値ｗ’の許容範囲に
収まるように、表示装置上でのドット(d0,d1,d2,d3）に
補正を加えることで、線幅の品質を維持するようにした
太線描画方式を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、ビットマップメモリを備えたグラフィッ
ク表示装置を用い、論理座標系で２点(P1,P2) を結ぶ線
幅ｗの太線を描画する太線描画方式において、前記線幅
ｗと太線の外接矩形を構成する４つの頂点の座標(q0,q
1,q2,q3) とをそれぞれ物理座標変換して、物理単位の
線幅ｗ’と前記グラフィック表示装置上での座標(q0',q
1',q2',q3'）とを算出した後で、前記座標(q0',q1',q
2',q3'）が載る前記グラフィック表示装置上のドットＤ
１(d0,d1,d2,d3) から、線幅ｗ１（|d0-d1|,|d2-d3|)を
求める第１の線幅処理と、前記線幅ｗ’と前記線幅ｗ１
を比較して、両者の差分Δ１が許容幅Δｗの範囲にある
かを判定する第１の判定処理と、前記第１の判定処理に
よって前記差分Δ１が許容幅Δｗの範囲にないと判定さ
れたときに、座標(q0',q3'）を前記グラフィック表示装
置上のドット(d0,d3) の原点(q0'',q3'') へ移動する第
１の移動処理と、座標(q1'）を、ベクトルq0’−＞ q
0'' とq1’−＞q1''とが平行かつ長さが等しくなるよう
な座標(q1''）へ移動する第２の移動処理と、座標(q
2'）を、ベクトル q0''−＞ q3''とq1''−＞q2''とが
平行かつ長さが等しくなるような座標(q2''）へ移動す
る第３の移動処理と、前記座標（q0'',q1'',q2'',q
3''）が載る前記グラフィック表示装置上のドットＤ２
（d0,d1',d2',d3 ) から、線幅ｗ２（｜d0−d1''|,| d2
''−d3|)を求める第２の線幅処理と、前記線幅ｗ’と
前記線幅ｗ２を比較した差分Δ２と前記差分Δ１とのう
ち、どちらがより小さいかを判定する第２の判定処理
と、前記第２の判定処理で差分Δ１の方が小さいと判定
されたときに、ドットＤ１(d0,d1,d2,d3) からなるポリ
ゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズす
る、もしくはポリゴンを塗り潰す第１のポリゴン処理
と、前記第２の判定処理で差分Δ２の方が小さいと判定
されたときに、ドットＤ２（d0,d1',d2',d3 ) からなる
ポリゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズ
する、もしくはポリゴンを塗り潰す第２のポリゴン処理
とを実行するようにしたものである。
に、本発明は、ビットマップメモリを備えたグラフィッ
ク表示装置を用い、論理座標系で２点(P1,P2) を結ぶ線
幅ｗの太線を描画する太線描画方式において、前記線幅
ｗと太線の外接矩形を構成する４つの頂点の座標(q0,q
1,q2,q3) とをそれぞれ物理座標変換して、物理単位の
線幅ｗ’と前記グラフィック表示装置上での座標(q0',q
1',q2',q3'）とを算出した後で、前記座標(q0',q1',q
2',q3'）が載る前記グラフィック表示装置上のドットＤ
１(d0,d1,d2,d3) から、線幅ｗ１（|d0-d1|,|d2-d3|)を
求める第１の線幅処理と、前記線幅ｗ’と前記線幅ｗ１
を比較して、両者の差分Δ１が許容幅Δｗの範囲にある
かを判定する第１の判定処理と、前記第１の判定処理に
よって前記差分Δ１が許容幅Δｗの範囲にないと判定さ
れたときに、座標(q0',q3'）を前記グラフィック表示装
置上のドット(d0,d3) の原点(q0'',q3'') へ移動する第
１の移動処理と、座標(q1'）を、ベクトルq0’−＞ q
0'' とq1’−＞q1''とが平行かつ長さが等しくなるよう
な座標(q1''）へ移動する第２の移動処理と、座標(q
2'）を、ベクトル q0''−＞ q3''とq1''−＞q2''とが
平行かつ長さが等しくなるような座標(q2''）へ移動す
る第３の移動処理と、前記座標（q0'',q1'',q2'',q
3''）が載る前記グラフィック表示装置上のドットＤ２
（d0,d1',d2',d3 ) から、線幅ｗ２（｜d0−d1''|,| d2
''−d3|)を求める第２の線幅処理と、前記線幅ｗ’と
前記線幅ｗ２を比較した差分Δ２と前記差分Δ１とのう
ち、どちらがより小さいかを判定する第２の判定処理
と、前記第２の判定処理で差分Δ１の方が小さいと判定
されたときに、ドットＤ１(d0,d1,d2,d3) からなるポリ
ゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズす
る、もしくはポリゴンを塗り潰す第１のポリゴン処理
と、前記第２の判定処理で差分Δ２の方が小さいと判定
されたときに、ドットＤ２（d0,d1',d2',d3 ) からなる
ポリゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズ
する、もしくはポリゴンを塗り潰す第２のポリゴン処理
とを実行するようにしたものである。
【０００７】
【作用】上記構成により本発明によれば、物理単位の線
幅ｗ’と前記グラフィック表示装置上での座標(q0',q
1',q2',q3'）とを算出した後で、次のような処理を行
う。まず、座標(q0',q1',q2',q3'）が載るグラフィック
表示装置上のドットＤ１(d0,d1,d2,d3) から、線幅ｗ１
（|d0-d1|,|d2-d3|)を求め、前記線幅ｗ’と前記線幅ｗ
１を比較して、両者の差分Δ１が許容幅Δｗの範囲にあ
るかを判定する。そして、前記差分Δ１が許容幅Δｗの
範囲にないと判定されたときに、座標(q0',q3'）をグラ
フィック表示装置上のドット(d0,d3) の原点(q0'',q
3'') へ移動し、座標(q1'）を、ベクトルq0’−＞ q0''
とq1’−＞q1''とが平行かつ長さが等しくなるような
座標(q1''）へ移動し、さらに座標(q2'）を、ベクトル
q0'' −＞q3''とq1''−＞q2''とが平行かつ長さが等し
くなるような座標(q2''）へ移動する。
幅ｗ’と前記グラフィック表示装置上での座標(q0',q
1',q2',q3'）とを算出した後で、次のような処理を行
う。まず、座標(q0',q1',q2',q3'）が載るグラフィック
表示装置上のドットＤ１(d0,d1,d2,d3) から、線幅ｗ１
（|d0-d1|,|d2-d3|)を求め、前記線幅ｗ’と前記線幅ｗ
１を比較して、両者の差分Δ１が許容幅Δｗの範囲にあ
るかを判定する。そして、前記差分Δ１が許容幅Δｗの
範囲にないと判定されたときに、座標(q0',q3'）をグラ
フィック表示装置上のドット(d0,d3) の原点(q0'',q
3'') へ移動し、座標(q1'）を、ベクトルq0’−＞ q0''
とq1’−＞q1''とが平行かつ長さが等しくなるような
座標(q1''）へ移動し、さらに座標(q2'）を、ベクトル
q0'' −＞q3''とq1''−＞q2''とが平行かつ長さが等し
くなるような座標(q2''）へ移動する。
【０００８】さらに、前記座標（q0'',q1'',q2'',q
3''）が載る前記グラフィック表示装置上のドットＤ２
（d0,d１’,d２’,d3 ) から、線幅ｗ２（｜d0−d1''|,
| d2 ''-d3|)を求め、前記線幅ｗ’と前記線幅ｗ２を比
較した差分Δ２と前記差分Δ１とのうち、どちらがより
小さいかを判定し、第２の判定処理で差分Δ１の方が小
さいと判定されたときに、ドットＤ１(d0,d1,d2,d3) か
らなるポリゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタ
ライズする、もしくはポリゴンを塗り潰す。また、差分
Δ２の方が小さいと判定されたときに、ドットＤ２（d
0,d1',d2',d3 ) からなるポリゴンの内部をライン毎に
スキャンしてラスタライズする、もしくはポリゴンを塗
り潰す第２のポリゴン処理とを実行する。
3''）が載る前記グラフィック表示装置上のドットＤ２
（d0,d１’,d２’,d3 ) から、線幅ｗ２（｜d0−d1''|,
| d2 ''-d3|)を求め、前記線幅ｗ’と前記線幅ｗ２を比
較した差分Δ２と前記差分Δ１とのうち、どちらがより
小さいかを判定し、第２の判定処理で差分Δ１の方が小
さいと判定されたときに、ドットＤ１(d0,d1,d2,d3) か
らなるポリゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタ
ライズする、もしくはポリゴンを塗り潰す。また、差分
Δ２の方が小さいと判定されたときに、ドットＤ２（d
0,d1',d2',d3 ) からなるポリゴンの内部をライン毎に
スキャンしてラスタライズする、もしくはポリゴンを塗
り潰す第２のポリゴン処理とを実行する。
【０００９】これにより、グラフィック表示装置に表示
される直線の線幅が、線幅ｗを物理量変換した値ｗ’の
許容範囲に収まるように、表示装置上でのドット(d0,d
1,d2,d3）に補正が加えられる。
される直線の線幅が、線幅ｗを物理量変換した値ｗ’の
許容範囲に収まるように、表示装置上でのドット(d0,d
1,d2,d3）に補正が加えられる。
【００１０】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
する。
【００１１】図１は、本発明の実施例に係る太線描画方
式が適用される情報処理システムの概略構成を示すブロ
ック図である。
式が適用される情報処理システムの概略構成を示すブロ
ック図である。
【００１２】この情報処理システムは、システム全体の
動作を制御する中央処理装置１と、制御プログラム等を
格納するＲＯＭやビット情報を格納するためのバッファ
等が設けられた記憶装置２と、各種の入力情報を入力す
るための入力装置３と、ビットマップメモリを備えたグ
ラフィック表示装置４とで、主要部が構成されている。
動作を制御する中央処理装置１と、制御プログラム等を
格納するＲＯＭやビット情報を格納するためのバッファ
等が設けられた記憶装置２と、各種の入力情報を入力す
るための入力装置３と、ビットマップメモリを備えたグ
ラフィック表示装置４とで、主要部が構成されている。
【００１３】以下、このように構成される情報処理シス
テムをよって実施される本実施例の太線描画方式の詳細
な説明を行う。
テムをよって実施される本実施例の太線描画方式の詳細
な説明を行う。
【００１４】上記の情報処理システムに対して、「２点
(P1,P2) を結ぶ線幅ｗの直線」を描画するように要求が
与えられたとする。
(P1,P2) を結ぶ線幅ｗの直線」を描画するように要求が
与えられたとする。
【００１５】中央処理装置１は、論理座標系でいうとこ
ろの２点(P1,P2) の座標値と線幅ｗより、要求された太
線を描画する場合の外接矩形を構成する４つの頂点の座
標(q0,q1,q2,q3) の各座標値を算出する（図２）。
ろの２点(P1,P2) の座標値と線幅ｗより、要求された太
線を描画する場合の外接矩形を構成する４つの頂点の座
標(q0,q1,q2,q3) の各座標値を算出する（図２）。
【００１６】次に、これら４点(q0,q1,q2,q3）の各座標
値を物理座標変換して、物理単位の線幅ｗ’と前記グラ
フィック表示装置４上での座標(q0',q1',q2',q3'）とを
算出する。従来技術では、これら４点(q0',q1',q2',q
3'）が載る表示装置４上のドット(d0,d1,d2,d3) を求め
て、これら４ドットが構成するＰｏｌｙｇｏｎの内部を
ライン毎にスキャンしてライタライズしたり、Ｐｏｌｙ
ｇｏｎを塗り潰すことで太線描画を実現していた（図
３）。
値を物理座標変換して、物理単位の線幅ｗ’と前記グラ
フィック表示装置４上での座標(q0',q1',q2',q3'）とを
算出する。従来技術では、これら４点(q0',q1',q2',q
3'）が載る表示装置４上のドット(d0,d1,d2,d3) を求め
て、これら４ドットが構成するＰｏｌｙｇｏｎの内部を
ライン毎にスキャンしてライタライズしたり、Ｐｏｌｙ
ｇｏｎを塗り潰すことで太線描画を実現していた（図
３）。
【００１７】図４及び図５は、本実施例の太線描画方式
を示すフローチャートである。同図を参照して、本発明
の処理シーケンスを説明する。
を示すフローチャートである。同図を参照して、本発明
の処理シーケンスを説明する。
【００１８】図３に示すところの、座標(q0',q1',q2',q
3'）が載る表示装置４上のドットＤ１(d0,d1,d2,d3) か
ら、線幅ｗ１（|d0-d1|,|d2-d3|)を求める（ステップＳ
２１）。次いで、線幅の物理量値である線幅ｗ’と、ス
テップＳ２１で求めた線幅ｗ１を比較して、両者の差分
Δ１が許容幅Δｗの範囲にあるかを判定する（ステップ
Ｓ２２）。
3'）が載る表示装置４上のドットＤ１(d0,d1,d2,d3) か
ら、線幅ｗ１（|d0-d1|,|d2-d3|)を求める（ステップＳ
２１）。次いで、線幅の物理量値である線幅ｗ’と、ス
テップＳ２１で求めた線幅ｗ１を比較して、両者の差分
Δ１が許容幅Δｗの範囲にあるかを判定する（ステップ
Ｓ２２）。
【００１９】ステップＳ２２で差分Δ１が許容幅Δｗの
範囲にあれば、図３の斜線に示すように、表示装置４上
のドットＤ１(d0,d1,d2,d3) が囲むＰｏｌｙｇｏｎの内
部をライン毎にスキャンしてラスタライズするか、また
はＰｏｌｙｇｏｎを塗り潰すことで太線の描画を実現
し、終了する（ステップＳ２３）。
範囲にあれば、図３の斜線に示すように、表示装置４上
のドットＤ１(d0,d1,d2,d3) が囲むＰｏｌｙｇｏｎの内
部をライン毎にスキャンしてラスタライズするか、また
はＰｏｌｙｇｏｎを塗り潰すことで太線の描画を実現
し、終了する（ステップＳ２３）。
【００２０】ステップＳ２２で差分Δ１が許容幅Δｗの
範囲でなければ、図６に示すように、座標(q0',q3'）を
前記表示装置４上のドット(d0,d3) の原点(q0'',q3'')
へ移動すると共に（ステップＳ２４）、座標(q1'）を、
ベクトルq0’−＞ q0'' とq1’−＞q1''とが平行かつ
長さが等しくなるような座標(q1''）へ、また座標(q
2'）を、ベクトル q0'' −＞ q3''とq1’−＞q2''と
が平行かつ長さが等しくなるような座標(q2''）へそれ
ぞれ移動する（ステップＳ２５，Ｓ２６）。
範囲でなければ、図６に示すように、座標(q0',q3'）を
前記表示装置４上のドット(d0,d3) の原点(q0'',q3'')
へ移動すると共に（ステップＳ２４）、座標(q1'）を、
ベクトルq0’−＞ q0'' とq1’−＞q1''とが平行かつ
長さが等しくなるような座標(q1''）へ、また座標(q
2'）を、ベクトル q0'' −＞ q3''とq1’−＞q2''と
が平行かつ長さが等しくなるような座標(q2''）へそれ
ぞれ移動する（ステップＳ２５，Ｓ２６）。
【００２１】続いて、ステップＳ２４，Ｓ２５，Ｓ２６
で求められた座標（q0'',q1'',q2'',q3''）が載る表示
装置４上のドットＤ２（d0,d1',d2',d3 ) から、線幅ｗ
２（｜d0−d1''|,| d2 ''−d3|)を求める（ステップＳ
２７）。
で求められた座標（q0'',q1'',q2'',q3''）が載る表示
装置４上のドットＤ２（d0,d1',d2',d3 ) から、線幅ｗ
２（｜d0−d1''|,| d2 ''−d3|)を求める（ステップＳ
２７）。
【００２２】図７に示すようにステップＳ２７で線幅ｗ
２が求まるが、これと線幅ｗ’とを比較した差分Δ２
と、ステップＳ２２で求めた差分Δ１とのうち、どちら
がより小さいかを判定する（ステップＳ２８）。
２が求まるが、これと線幅ｗ’とを比較した差分Δ２
と、ステップＳ２２で求めた差分Δ１とのうち、どちら
がより小さいかを判定する（ステップＳ２８）。
【００２３】前記ステップＳ２８の判定で差分Δ１の方
が小さいと判定されたときには、ドットＤ１(d0,d1,d2,
d3) からなるＰｏｌｙｇｏｎ（図３の斜線部）の内部を
ライン毎にスキャンしてラスタライズするか、またはＰ
ｏｌｙｇｏｎを塗り潰すことで太線の描画を実現し、処
理を終了する（ステップＳ２９）。
が小さいと判定されたときには、ドットＤ１(d0,d1,d2,
d3) からなるＰｏｌｙｇｏｎ（図３の斜線部）の内部を
ライン毎にスキャンしてラスタライズするか、またはＰ
ｏｌｙｇｏｎを塗り潰すことで太線の描画を実現し、処
理を終了する（ステップＳ２９）。
【００２４】前記ステップＳ２８の判定で差分Δ２の方
が小さいと判定されたときには、ドットＤ２（d0,d1',d
2',d3 ) からなるＰｏｌｙｇｏｎ（図７の斜線部）の内
部をライン毎にスキャンしてラスタライズする、または
Ｐｏｌｙｇｏｎを塗り潰すことで太線の描画を実現し、
処理を終了する（ステップＳ３０）。
が小さいと判定されたときには、ドットＤ２（d0,d1',d
2',d3 ) からなるＰｏｌｙｇｏｎ（図７の斜線部）の内
部をライン毎にスキャンしてラスタライズする、または
Ｐｏｌｙｇｏｎを塗り潰すことで太線の描画を実現し、
処理を終了する（ステップＳ３０）。
【００２５】上記シーケンスによって、ステップＳ２
３，Ｓ２９，Ｓ３０の３つの描画方法を適宜使い分ける
ことによって、グラフィック表示装置４に表示される直
線の線幅を、線幅ｗを物理用変換した値ｗ’の許容範囲
に収まるようにし、線幅品質の維持を図ることが可能に
なる。
３，Ｓ２９，Ｓ３０の３つの描画方法を適宜使い分ける
ことによって、グラフィック表示装置４に表示される直
線の線幅を、線幅ｗを物理用変換した値ｗ’の許容範囲
に収まるようにし、線幅品質の維持を図ることが可能に
なる。
【００２６】なお、本発明は、図示の実施例に限定され
ず、種々の変形が可能である。例えば、その変形例とし
て次のようなものがある。
ず、種々の変形が可能である。例えば、その変形例とし
て次のようなものがある。
【００２７】（１）論理座標系でいうところの２点(P1,
P2) の座標値と線幅ｗより外接矩形を構成する頂点(q0,
q1,q2,q3) の各座標値を算出する算出方法、並びに物理
座標変換に用いる算術方法、前記ステップＳ２１並びに
ステップＳ２７で用いる線幅算術方式については、本発
明では特定するものではない。
P2) の座標値と線幅ｗより外接矩形を構成する頂点(q0,
q1,q2,q3) の各座標値を算出する算出方法、並びに物理
座標変換に用いる算術方法、前記ステップＳ２１並びに
ステップＳ２７で用いる線幅算術方式については、本発
明では特定するものではない。
【００２８】（２）線幅の物理値である線幅ｗ’と表示
装置４上の線幅ｗ１との間の許容幅Δｗを固定値とせ
ず、描画品位や処理速度などで何段かに切り替えられる
ようにすることもできる。
装置４上の線幅ｗ１との間の許容幅Δｗを固定値とせ
ず、描画品位や処理速度などで何段かに切り替えられる
ようにすることもできる。
【００２９】（３）ユーザインターフェ−スを付加し
て、前記許容幅Δｗの切り替えをユーザが任意に設定で
きるようにすることも可能である。この場合のユーザイ
ンタフェースのデザインについては特定するものではな
い。
て、前記許容幅Δｗの切り替えをユーザが任意に設定で
きるようにすることも可能である。この場合のユーザイ
ンタフェースのデザインについては特定するものではな
い。
【００３０】（４）表示装置４の解像度に合わせて、表
示結果が視覚的に妥当と判断できるように前記の許容幅
Δｗの切り替えを中央処理装置１が自動的に設定できる
ようにすることも可能である。この場合の解像度を検出
する方法については特定するものではない。
示結果が視覚的に妥当と判断できるように前記の許容幅
Δｗの切り替えを中央処理装置１が自動的に設定できる
ようにすることも可能である。この場合の解像度を検出
する方法については特定するものではない。
【００３１】（５）上記実施例の説明において、座標(q
0',q3'）を表示装置４上のドット(d0,d3) の原点(q0'',
q3'') へ移動するという前記ステップＳ２４の説明例と
して、図６では、そのドット原点を図中の左上にする例
を示したが、このドット原点を図８に示すように、図中
のＯ１（左下），Ｏ２（右下），Ｏ３（右上），Ｏ４
（中心）の位置に設定することも可能である。
0',q3'）を表示装置４上のドット(d0,d3) の原点(q0'',
q3'') へ移動するという前記ステップＳ２４の説明例と
して、図６では、そのドット原点を図中の左上にする例
を示したが、このドット原点を図８に示すように、図中
のＯ１（左下），Ｏ２（右下），Ｏ３（右上），Ｏ４
（中心）の位置に設定することも可能である。
【００３２】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、線幅ｗと太線の外接矩形を構成する４つの頂点の
座標(q0,q1,q2,q3) とをそれぞれ物理座標変換して、物
理単位の線幅ｗ’とグラフィック表示装置上での座標(q
0',q1',q2',q3'）とを算出した後で、前記座標(q0',q
1',q2',q3'）が載る前記グラフィック表示装置上のドッ
トＤ１(d0,d1,d2,d3) から、線幅ｗ１（|d0-d1|,|d2-d3
|)を求める第１の線幅処理と、前記線幅ｗ’と前記線幅
ｗ１を比較して、両者の差分Δ１が許容幅Δｗの範囲に
あるかを判定する第１の判定処理と、前記第１の判定処
理によって前記差分Δ１が許容幅Δｗの範囲にないと判
定されたときに、座標(q0',q3'）を前記グラフィック表
示装置上のドット(d0,d3) の原点(q0'',q3'') へ移動す
る第１の移動処理と、座標(q1'）を、ベクトルq0'−＞
q0'' とq1'−＞q1''とが平行かつ長さが等しくなるよ
うな座標(q1''）へ移動する第２の移動処理と、座標(q
2'）を、ベクトル q0'' −＞ q3''とq1''−＞q2''とが
平行かつ長さが等しくなるような座標(q2''）へ移動す
る第３の移動処理と、前記座標（q0'',q1'',q2'',q
3''）が載る前記グラフィック表示装置上のドットＤ２
（d0,d1',d2',d3 ) から、線幅ｗ２（｜d0−d1''|,| d2
''−d3|)を求める第２の線幅処理と、前記線幅ｗ’と
前記線幅ｗ２を比較した差分Δ２と前記差分Δ１とのう
ち、どちらがより小さいかを判定する第２の判定処理
と、前記第２の判定処理で差分Δ１の方が小さいと判定
されたときに、ドットＤ１(d0,d1,d2,d3) からなるポリ
ゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズす
る、もしくはポリゴンを塗り潰す第１のポリゴン処理
と、前記第２の判定処理で差分Δ２の方が小さいと判定
されたときに、ドットＤ２（d0,d1',d2',d3 ) からなる
ポリゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズ
する、もしくはポリゴンを塗り潰す第２のポリゴン処理
とを実行するようにしたので、グラフィック表示装置に
表示される直線の線幅が、線幅ｗを物理量変換した値
ｗ’の許容範囲に収まるように表示装置上でのドット(d
0,d1,d2,d3）に補正が加えられるため、線幅の品質を維
持することが可能となる。
れば、線幅ｗと太線の外接矩形を構成する４つの頂点の
座標(q0,q1,q2,q3) とをそれぞれ物理座標変換して、物
理単位の線幅ｗ’とグラフィック表示装置上での座標(q
0',q1',q2',q3'）とを算出した後で、前記座標(q0',q
1',q2',q3'）が載る前記グラフィック表示装置上のドッ
トＤ１(d0,d1,d2,d3) から、線幅ｗ１（|d0-d1|,|d2-d3
|)を求める第１の線幅処理と、前記線幅ｗ’と前記線幅
ｗ１を比較して、両者の差分Δ１が許容幅Δｗの範囲に
あるかを判定する第１の判定処理と、前記第１の判定処
理によって前記差分Δ１が許容幅Δｗの範囲にないと判
定されたときに、座標(q0',q3'）を前記グラフィック表
示装置上のドット(d0,d3) の原点(q0'',q3'') へ移動す
る第１の移動処理と、座標(q1'）を、ベクトルq0'−＞
q0'' とq1'−＞q1''とが平行かつ長さが等しくなるよ
うな座標(q1''）へ移動する第２の移動処理と、座標(q
2'）を、ベクトル q0'' −＞ q3''とq1''−＞q2''とが
平行かつ長さが等しくなるような座標(q2''）へ移動す
る第３の移動処理と、前記座標（q0'',q1'',q2'',q
3''）が載る前記グラフィック表示装置上のドットＤ２
（d0,d1',d2',d3 ) から、線幅ｗ２（｜d0−d1''|,| d2
''−d3|)を求める第２の線幅処理と、前記線幅ｗ’と
前記線幅ｗ２を比較した差分Δ２と前記差分Δ１とのう
ち、どちらがより小さいかを判定する第２の判定処理
と、前記第２の判定処理で差分Δ１の方が小さいと判定
されたときに、ドットＤ１(d0,d1,d2,d3) からなるポリ
ゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズす
る、もしくはポリゴンを塗り潰す第１のポリゴン処理
と、前記第２の判定処理で差分Δ２の方が小さいと判定
されたときに、ドットＤ２（d0,d1',d2',d3 ) からなる
ポリゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズ
する、もしくはポリゴンを塗り潰す第２のポリゴン処理
とを実行するようにしたので、グラフィック表示装置に
表示される直線の線幅が、線幅ｗを物理量変換した値
ｗ’の許容範囲に収まるように表示装置上でのドット(d
0,d1,d2,d3）に補正が加えられるため、線幅の品質を維
持することが可能となる。
【図１】本発明の実施例に係る太線描画方式が適用され
る情報処理システムの概略構成を示すブロック図であ
る。
る情報処理システムの概略構成を示すブロック図であ
る。
【図２】論理座標系で２点を結ぶ線幅ｗの直線を実現し
た時の表示例を示す図である。
た時の表示例を示す図である。
【図３】図２で表示した直線を表示装置に表示する場合
の表示例を示す図である。
の表示例を示す図である。
【図４】実施例の太線描画方式を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図５】図４の続きのフローチャートである。
【図６】図４に示すステップＳ２４，Ｓ２５，Ｓ２６で
の座標移動を視覚化した図である。
の座標移動を視覚化した図である。
【図７】図４に示すステップＳ２７での座標移動を視覚
化した図である。
化した図である。
【図８】図４に示すステップＳ２４で用いるドット原点
の設定例を示す図である。
の設定例を示す図である。
１ 中央処理装置 ２ 記憶装置 ３ 入力装置 ４ 表示装置
Claims (1)
- 【請求項１】 ビットマップメモリを備えたグラフィッ
ク表示装置を用い、論理座標系で２点(P1,P2) を結ぶ線
幅ｗの太線を描画する太線描画方式において、 前記線幅ｗと太線の外接矩形を構成する４つの頂点の座
標(q0,q1,q2,q3) とをそれぞれ物理座標変換して、物理
単位の線幅ｗ’と前記グラフィック表示装置上での座標
(q0',q1',q2',q3'）とを算出した後で、 前記座標(q0',q1',q2',q3'）が載る前記グラフィック表
示装置上のドットＤ１(d0,d1,d2,d3) から、線幅ｗ１
（|d0-d1|,|d2-d3|)を求める第１の線幅処理と、 前記線幅ｗ’と前記線幅ｗ１を比較して、両者の差分Δ
１が許容幅Δｗの範囲にあるかを判定する第１の判定処
理と、 前記第１の判定処理によって前記差分Δ１が許容幅Δｗ
の範囲にないと判定されたときに、座標(q0',q3'）を前
記グラフィック表示装置上のドット(d0,d3) の原点(q
0'',q3'') へ移動する第１の移動処理と、 座標(q1'）を、ベクトルq0’−＞ q0'' とq1’−＞q
1''とが平行かつ長さが等しくなるような座標(q1''）へ
移動する第２の移動処理と、 座標(q2'）を、ベクトル q0'' −＞ q3''とq1''−＞q
2''とが平行かつ長さが等しくなるような座標(q2''）へ
移動する第３の移動処理と、 前記座標（q0'',q1'',q2'',q3''）が載る前記グラフィ
ック表示装置上のドットＤ２（d0,d1',d2',d3 ) から、
線幅ｗ２（｜d0−d1''|,| d2 ''-d3|)を求める第２の線
幅処理と、 前記線幅ｗ’と前記線幅ｗ２を比較した差分Δ２と前記
差分Δ１とのうち、どちらがより小さいかを判定する第
２の判定処理と、 前記第２の判定処理で差分Δ１の方が小さいと判定され
たときに、ドットＤ１(d0,d1,d2,d3) からなるポリゴン
の内部をライン毎にスキャンしてラスタライズする、も
しくはポリゴンを塗り潰す第１のポリゴン処理と、 前記第２の判定処理で差分Δ２の方が小さいと判定され
たときに、ドットＤ２（d0,d1',d2',d3 ) からなるポリ
ゴンの内部をライン毎にスキャンしてラスタライズす
る、もしくはポリゴンを塗り潰す第２のポリゴン処理と
を実行することを特徴とする太線描画方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30433894A JPH08138065A (ja) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | 太線描画方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30433894A JPH08138065A (ja) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | 太線描画方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08138065A true JPH08138065A (ja) | 1996-05-31 |
Family
ID=17931810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30433894A Pending JPH08138065A (ja) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | 太線描画方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08138065A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012165238A1 (ja) * | 2011-05-30 | 2012-12-06 | アイシン精機株式会社 | 描画装置、描画方法及びプログラム |
-
1994
- 1994-11-14 JP JP30433894A patent/JPH08138065A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012165238A1 (ja) * | 2011-05-30 | 2012-12-06 | アイシン精機株式会社 | 描画装置、描画方法及びプログラム |
| CN103562965A (zh) * | 2011-05-30 | 2014-02-05 | 爱信精机株式会社 | 描画装置、描画方法及程序 |
| EP2717224A1 (en) * | 2011-05-30 | 2014-04-09 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Rendering device, rendering method, and program |
| EP2717224A4 (en) * | 2011-05-30 | 2014-11-19 | Aisin Seiki | PRESENTING DEVICE, PRESENTATION METHOD AND PROGRAM THEREFOR |
| JPWO2012165238A1 (ja) * | 2011-05-30 | 2015-02-23 | アイシン精機株式会社 | 描画装置、描画方法及びプログラム |
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