JPH08136580A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JPH08136580A
JPH08136580A JP29394794A JP29394794A JPH08136580A JP H08136580 A JPH08136580 A JP H08136580A JP 29394794 A JP29394794 A JP 29394794A JP 29394794 A JP29394794 A JP 29394794A JP H08136580 A JPH08136580 A JP H08136580A
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JP
Japan
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arm
mounting table
mounting
inspection
drive mechanism
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JP29394794A
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Inventor
Shinji Iino
伸治 飯野
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TERU ENG KK
Tokyo Electron Ltd
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TERU ENG KK
Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 装置の構造を簡素化して設置スペースを削減
することができるプローブ装置等の検査装置を提供す
る。 【構成】 本プローブ装置1は、例えば25枚のLCD
基板Sが収納されたカセットCをY方向に3個配列して
載置する載置部2と、この載置部2に隣接する検査部3
に設けられた載置台4と、この載置台4とカセットCと
の間でLCD基板Sを授受する回転可能なアーム5とを
備え、アーム5を載置台4上に設けると共に、アーム5
及び載置台4を一体的にカセットCの配列方向と同方向
へ移動させる第1駆動機構8を設けたことを特徴とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウエハ、液晶デ
ィスプレイ(LCD)基板等の被検査体を検査する検査
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置やLCD基板の製造工程で
は、半導体ウエハやガラス基板の表面に金属薄膜や絶縁
薄膜などの成膜、エッチングを施した後、成膜あるいは
エッチングの良否を電気的検査により調べるようにして
いる。このような検査装置として従来から例えばプロー
ブ装置が知られている。このプローブ装置は、半導体ウ
エハ、LCD基板等の被検査体をカセット単位で収納載
置するカセット載置部と、このカセット載置部の被検査
体をロード、アンロードするローダと、このローダを介
して移載された被検査体を載置する載置台と、この載置
台上の被検査体の電気的検査を行なう検査部とを備えて
いる。
【0003】被検査体を検査する場合には、検査部に配
設されたプローブカードまで載置台を上昇させ、プロー
ブ針などの接触子に被検査体の電極パッドを所定の針圧
で接触させることにより被検査体の電気的検査を行なっ
ている。また、上記ローダは被検査体を移載する移載用
アームを有し、この移載用アームを回転させてカセット
と載置台との間で被検査体を移載するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、移載用
アームが回転するタイプの従来の検査装置の場合には、
カセットが移載用アームを三方向からコ字状に囲むよう
に配列されているため、移載用アーム回転動作だけでカ
セットの被検査体を取り出すことができる反面、最近の
ように製造ラインが自動化されると、自動搬送車による
カセットの搬入搬出動作回数を軽減するために、載置部
に載置するカセットの数が増大する傾向にある。このよ
うな傾向下では移載用アームは従来のような単なる回転
動作だけでは対応できず、移載用アームを移動させるボ
ールネジ等の駆動機構が必要になり、ロード、アンロー
ド機構が益々複雑になり、装置が大型化して床面積が増
大するという課題があった。
【0005】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、装置の構造を簡素化して床面積を削減する
ことができるプローブ装置等の検査装置を提供すること
を目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の検査装置は、複数の被検査体が収納された容器を一方
向に複数配列して載置する載置部と、この載置部に隣接
する検査部に設けられた載置台と、この載置台と上記容
器との間で上記被検査体を授受する回転可能なアームと
を備え、上記アームを上記載置台上に設けると共に、上
記アーム及び上記載置台を一体的に上記容器の配列方向
と同方向へ移動させる第1駆動機構を設けたものであ
る。
【0007】また、本発明の請求項2に記載の検査装置
は、複数の被検査体が収納された容器を一方向に複数配
列して載置する載置部と、この載置部と隣接する検査部
に設けられた載置台と、この載置台と上記容器との間で
上記被検査体を授受する回転可能なアームとを備え、上
記アームを上記載置台上に設けると共に、上記アーム及
び上記載置台を一体的に上記容器の配列方向と同方向へ
移動させる第1駆動機構を設け、また、上記アーム及び
上記載置台を一体的に移動させて上記被検査体を上記容
器と上記検査部との間で搬送する第2駆動機構を設けた
ものである。
【0008】また、本発明の請求項3に記載の検査装置
は、請求項1または請求項2に記載の発明において、上
記各容器を個別に昇降させる昇降駆動機構を上記載置部
に設けたものである。
【0009】
【作用】本発明の請求項1に記載の発明によれば、アー
ムにより載置部の容器から被検査体を取り出して検査す
る時には、第1駆動機構が駆動してアームが載置台と一
体的に載置部の容器の配列方向と同方向へ移動してアー
ムが容器の所定配列位置へアクセスし、その後、アーム
が容器と載置台との間で被検査体を受渡し、載置台で被
検査体を受け取った後には第1駆動機構が駆動して載置
台が検査部へ移動することができる。
【0010】また、本発明の請求項2に記載の発明によ
れば、アームにより載置部の容器から被検査体を取り出
して検査する時には、第1駆動機構が駆動してアームが
載置台と一体的に載置部の容器の配列方向と同方向へ移
動してアームが容器の所定配列位置へアクセスし、その
位置で第2駆動機構が駆動してアーム及び載置台が容器
と検査部へ交互にアクセスすると共に容器と載置台との
間で被検査体の受渡しを行なうことができる。
【0011】また、本発明の請求項3に記載の発明によ
れば、請求項1または請求項2の発明において、各容器
を個別に昇降させる昇降駆動機構を載置部に設けたたた
め、容器内の次の被検査体を取り出す時には昇降駆動機
構が駆動して次の被検査体を取り出す位置まで容器が昇
降することができる。
【0012】
【実施例】以下、図1〜図4に示す実施例に基づいて本
発明を説明する。本実施例では検査装置として被検査体
としてのLCD基板の電気的検査を行なうプローブ装置
を例に挙げて説明する。本実施例のプローブ装置1は、
図1、図2に示すように、複数(例えば25枚)の矩形
状に形成されたLCD基板Sが収納された容器例えばカ
セットCを複数個(本実施例では3個)載置する載置部
2と、この載置部2と間隔を空けて対向する検査部3に
設けられた載置台4と、この載置台4とカセットCとの
間でLCD基板Sを受渡しする回転可能なアーム5とを
備えて構成されている。これらの載置部2、検査部3及
び載置台4はいずれもプローブ装置本体(以下、「装置
本体」と称す。)6に設けられている。そして、上記載
置部2には3個のカセットCがY方向に配列され、各カ
セットCは後述のように上下方向即ちZ方向に移動でき
るようにしてある。従って、載置部2にはカセットCが
Y方向に一列に配列されているため、図示しない自動搬
送車はカセットCのY方向に直線状に移動しながらカセ
ットCを載置部2へ移載することができる。
【0013】また、上記検査部3にはLCD基板Sより
大きな矩形状に形成された載置台4がアーム5と一体化
して配設され、載置台4上に載置されたLCD基板Sを
検査部3において検査するようにしてある。また、この
載置台4は、図1に示すように、アーム5と一体的に駆
動機構7によりX方向、Y方向及びZ方向に同時にある
いは個別に移動するようにしてある。ここでX方向はカ
セットCの配列方向と直交する方向であり、Y方向はX
方向と同一平面内で直交する方向(カセットCの配列方
向と同方向)であり、Z方向はこれら両方向に垂直な上
下方向である。
【0014】上記駆動機構7は、載置台4をY方向へ駆
動させる第1駆動機構8と、この第1駆動機構8上に配
設され且つ載置台4をX方向に駆動する第2駆動機構9
と、載置台4をZ方向に駆動する昇降機構(図示せず)
とを備えている。第1駆動機構8は、図1、図3に示す
ように、装置本体6内に配設された第1基台10上にY
方向に向けて互いに平行に配設された一対のYレール1
1と、これらのレール11の間に配設されたボールネジ
12と、このボールネジ12と螺合するボール軸受(図
示せず)が裏面に取り付けられたYテーブル13とを備
えている。そして、第1駆動機構8のモータ14が駆動
すると、ボールネジ12を介してYテーブル13がY方
向即ち載置部2のカセットCの配列方向と同方向に沿っ
て往復移動し、3個のカセットCの取出し口前方へアク
セスするようにしてある。
【0015】また、第2駆動機構9は、第2基台15上
にX方向に向けて互いに平行に配設された一対のXレー
ル16と、これらのレール16の間に配設されたボール
ネジ17と、このボールネジ17と螺合するボール軸受
(図示せず)が裏面に取り付けられたXテーブル18と
を備え、ボールネジ17がモータ19の駆動によってX
テーブル18をX方向即ち載置部2と検査部3との間を
往復移動するようにしてある。従って、第1駆動機構8
のモータ119が駆動すると、ボールネジ17を介して
Xテーブル18と一体化したアーム5及び載置台4が載
置部2のカセットCへアクセスしたり、検査部3へアク
セスしたりするようになっている。
【0016】上記載置台4は、図2に示すように、軸部
材20を介してXテーブル18の検査部3寄りに連結さ
れ、Xテーブル18に内蔵された昇降機構(図示せず)
によりZ方向に昇降するようになっている。この昇降機
構は例えば軸部材20を駆動するカム機構やエアシリン
ダなどによって構成されている。また、載置台4の上面
には図1、図3に示すように一対の細長形状の溝4Aが
平行に形成され、これらの溝4A内にフォーク状アーム
5の分岐部5Aが嵌り込むようにしてある。
【0017】また、フォーク状のアーム5は軸部材21
を介してXテーブル18の載置部2寄りに連結され、X
テーブル18を介してアーム5と一体化しており、しか
もXテーブル18に内蔵された昇降機構(図示せず)に
よりアーム5をZ方向に昇降するようにしてある。そし
て、この昇降機構は載置台4の昇降機構と同様に構成さ
れている。また、Xテーブル18内には軸部材21を回
転させる回転駆動機構(図示せず)が内蔵され、第2駆
動機構9によりXテーブル18が載置部2及び検査部3
へ交互にアクセスする間に回転駆動機構によりアーム5
が少なくとも180°回転し、カセットCと載置台4と
の間でLCD基板Sを受渡しするようにしてある。そし
て、アーム5はLCD基板Sを載置台4上に載置する時
には、アーム5の分岐部5Aが載置台4の溝4Aの上方
に位置した後、昇降機構が駆動して分岐部5Aを溝4A
内に嵌り込み、図1に示すようにLCD基板Sを載置台
4上に載せるようにしてある。
【0018】上記Xテーブル18には図1、図3に示す
ようにプリアライメント機構22が配設されている。こ
のプリアライメント機構22はアーム5が駆動してカセ
ットCから載置台4上へLCD基板Sを移載する間に作
動し、LCD基板Sのθ方向の位置決めを行なうように
構成されている。即ち、このプリアライメント機構22
は、Z方向に昇降可能でθ方向に回転可能な真空チャッ
ク22Aと、この真空チャック22AがLCD基板Sを
吸着し回転する時にLCD基板S側面の角度変化を光学
的に検出してLCD基板Sのθ方向を検出する光学セン
サ22Bと、この光学センサ22Bによって検出された
LCD基板S側面の方向に基づいて演算し、位置決めす
る演算部(図示せず)とを備えている。
【0019】また、上記載置台4は、図2に示すよう
に、Xテーブル18内に配設された昇降機構により昇降
するようにしてある。この検査部3は、LCD基板Sの
電気的検査を行なうプローブカード23と、このプロー
ブカード23と接続リング24を介して電気的に接続さ
れたテストヘッド25とを備え、このテストヘッド25
は図示しないテスタに接続されている。また、プローブ
カード23は、プローブ装置本体6に取り付けられたヘ
ッドプレート25に対してカードホルダー26を介して
取り付けられている。そして、プローブカード23と接
続リング24間、及び接続リング24とテストヘッド2
5間は例えばポゴピン28を介して電気的な接続が行な
われ、プローブカード23を介してテスタからの信号を
LCD基板Sが授受し、その電気的検査を行なうように
してある。尚、23Aはプローブ針である。
【0020】更に、上記載置部2には図4に示すように
各カセットCを個別に昇降駆動する昇降駆動機構29が
設けられている。この昇降駆動機構29は、カセットC
を載置する載置板30と、この載置板30にその後端
(図4では右端)で螺合するボールネジ31と、このボ
ールネジ31の下端に取り付けられたプーリ32に掛け
回されたベルト33と、このベルト33が掛け回された
プーリ34を有するモータ35とを備えている。そし
て、昇降駆動機構29は、モータ35及びボールネジ3
1を介して載置板30を昇降させ、カセットC内の取り
出すべきLCD基板Sをアーム5の高さに合わせて停止
するようにしてある。また、載置部2にはカセットCの
向きを検出する光学センサ(図示せず)が設けられてお
り、この光学センサにより例えばカセットCの一部に形
成された切欠部などの目印を光学的に検出してカセット
Cの載置方向を間違わないようにしてある。尚、図示し
てないが載置板30の後端には装置本体6内に立設され
たガイドロッドが貫通し、ボールネジ31が駆動すると
載置板30がガイドロッドに案内されながら昇降するよ
うになっている。
【0021】次に、動作について説明する。本実施例の
プローブ装置を用いてLCD基板Sの電気的検査を行な
う場合には、自動搬送車によりLCD基板Sをカセット
単位でプローブ装置1の載置部2上でY方向へ一列に配
列する。この際、自動搬送車はY方向へ直線状に移動す
るだけでカセットCを載置部2に移載でき、自動搬送車
の駆動制御が容易であり、カセットCの向きを誤って移
載する虞が少ない。万一、誤って移載するとがあって
も、例えばカセットCに形成された切欠部などを光学セ
ンサにより検出して誤移載を防止することができる。
【0022】カセットCが載置部2へ移載されて、例え
ば図1の手前のカセットCのLCD基板Sの検査から開
始する場合に載置台4が検査部3に位置しておれば、ま
ず、第2駆動機構9が駆動する。これにより第2駆動機
構8のボールネジ17が駆動し、Xテーブル18が一対
のXレール16に案内されながら第2基台15上を移動
して手前のカセットCへ接近する。接近する間にアーム
5が軸部材21を介して回転し、その先端をカセットC
側に向ける。更に、Xテーブル18が所定距離だけ移動
すると、図4に示すようにアーム5が中央のカセットC
内の所望のLCD基板Sの下側の隙間から侵入して停止
する。その後、アーム5の昇降機構が駆動してアーム5
が僅かな距離だけ上昇し、LCD基板SをカセットCの
支持部から持ち上げてアーム5上に載せる。
【0023】次いで、第2駆動機構9が逆方向に駆動
し、Xテーブル18がカセットCから後退し、アーム5
がLCD基板Sを載せた状態でカセットCから外側へ出
ると、アーム5の回転駆動機構が駆動してその向きを9
0°方向転換してLCD基板Sの中心をプリアラインの
中心に向ける。この状態でプリアライメント機構22が
駆動し、その真空チャック22AがLCD基板Sの中心
のやや上方に向かい、その位置から下降してLCD基板
Sを真空吸着する。更に真空チャック22Aが上昇して
LCD基板Sをアーム5から離した状態で回転し始め
る。真空チャック22Aを介してLCD基板Sがθ方向
へ回転すると、光学センサ22BがLCD基板Sの側面
を基準にしてLCD基板Sの向きを光学的に検出し、そ
の検出値に基づいてLCD基板Sの向きを基準の向きに
合わせた後、真空チャック22Aは回転を停止してLC
D基板Sのθ方向の位置決めを終了する。位置決め後、
真空チャック22Aが下降してLCD基板Sをアーム5
上に引き渡す。アーム5を更に90°回転させる。この
時、アーム5の分岐部5Aは載置台4の溝4Aの上方に
来る。この方向転換を行なう間にXテーブル18を介し
て載置台4が検査部3まで移動した後停止する。そし
て、載置台4が検査部3に達すると、アーム5は方向転
換を終了した時点で、その分岐部5Aが溝4Aの上方に
位置している。その後、アーム5が下降して図1に示す
ようにLCD基板Sを載置台4上に載置すると共に溝4
A内に納まる。
【0024】検査部3では、アライメント機構としても
機能する第1、第2駆動機構8、9が駆動制御されてX
テーブル18及びYテーブル13をそれぞれ移動させて
載置台4の水平方向でX方向及びY方向の位置決めを行
なう。水平方向での位置決めが終了すると、載置台4の
昇降機構が駆動して載置台4を所定の位置よりもミクロ
ンオーダーでオーバードライブしてLCD基板Sの電極
がプローブカード23のプローブ針23Aに電気的に接
触してLCD基板Sの検査を行う。検査が終了すると載
置台4が下降し、第1、第2駆動機構8、9が駆動し、
第2基台15を手前のカセットCに位置決めした後、ア
ーム5が溝4Aから浮上して載置台4上の検査済みのL
CD基板Sを受け取ってその先端をカセットC側に向け
ると共に第2駆動機構9が駆動してXテーブル18がカ
セットCに接近する。Xテーブル18が更にカセットC
に接近して図4で示すようにそのLCD基板Sを元の位
置へ戻した後、アーム5は一旦カセットCから外側へ出
て停止する。
【0025】その後、載置部2の昇降駆動機構29のモ
ータ35が駆動すると、プーリ34、ベルト33、プー
リ32を介してボールネジ31が回転して載置板30が
所定寸法だけ昇降し、次に検査すべきLCD基板Sをア
ーム5によって取り出せる位置でモータ35が停止す
る。そして、第2駆動機構9が駆動してアーム5が取り
出すべきLCD基板Sの下側へ侵入し、前述のようにL
CD基板Sを取り出す。後は第1、第2駆動機構8、9
が前述した動作を繰り返してアーム5上のLCD基板S
をプリアライメントした後、そのLCD基板Sを載置台
4へ引き渡して検査を行なう。このような動作を繰り返
して手前のカセットCに収納されたLCD基板Sの検査
が全て終了すると、次に、例えば中央のカセットCに収
納されたLCD基板Sについて検査を行なう。
【0026】中央のカセットCのLCD基板Sの検査を
行なう場合には第1駆動機構8が駆動し、第2基台15
上のテーブル18が中央のカセットCの前方まで移動す
る。即ち、ボールネジ12が駆動し、Yテーブル13が
Yレール11に案内されながら図3の上方へ移動して中
央のカセットCの前方(図3では左方)で停止する。次
いで、第2駆動機構9が上述のように駆動してアーム5
が図3に示すようにカセットC内に侵入してLCD基板
Sを取り出し、載置台4が検査部3側へ移動する間にア
ーム5上のLCD基板Sを載置台4上に移載する。その
後、第1駆動機構8が駆動してXテーブル18と一体化
した載置台4及びアーム5が図3の手前側へ移動し、載
置台4が検査部3に到達する。この間にアーム5はその
向きを180°転換し、プリアライメント機構22がプ
リアライメントした後、LCD基板Sをアーム5から載
置台4上へ移載する。その後、検査部3では上述した場
合と同様にしてLCD基板Sの検査を行ない、検査終了
後には載置台4及びアーム5が逆方向へ移動して検査済
みのLCD基板Sを中央のカセットCへ収納すると共に
カセットCの昇降駆動機構29が駆動して次のLCD基
板Sをアーム5により取り出して順次同様の動作を繰り
返す。
【0027】以上説明したように本実施例によれば、カ
セットCの配列個数が増大してもアーム5を直線方向で
移動させる必要が生じても、第2駆動機構9が載置台4
の検査部3へのアライメント機構とアーム5の3個のカ
セットCの配列方向への駆動機構とを兼ねるように構成
されているため、従来のようにアーム5を移動するため
の独自のボールネジ等の駆動機構が不要になり、装置の
構造を簡素化して装置本体の設置スペース(床面積)の
拡大を抑制することができ、延いては低コストで自動化
ラインに好適なプローブ装置1を得ることができる。ま
た、カセットCを載置部2に直線状に配列するようにし
たため、カセットCを載置部2へ搬送する自動搬送車の
運行形態が簡素化し、カセットCの誤移載を格段に抑制
することができる。
【0028】尚、上記実施例では検査装置としてLCD
基板Sを検査するプローブ装置1を例に挙げて説明した
が、半導体ウエハを検査するプローブ装置についても同
様に本発明を適用することができる。また、本発明の第
1、第2駆動機構8、9及び昇降駆動機構29は上記実
施例に制限されるものではなく、必要に応じて設計変更
することができる。
【0029】
【発明の効果】本発明の請求項1〜請求項3に記載の発
明によれば、装置の構造を簡素化して設置スペースを削
減することができるプローブ装置等の検査装置を提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の検査装置の一実施例の要部を示す斜視
図で、LCD基板を載置台上に載置した状態を示す図で
ある。
【図2】図1に示す検査装置の検査部を示す部分断面図
で、LCD基板を検査する時に状態を示す図である。
【図3】図1に示す検査装置の平面図で、アームにより
LCD基板をカセットから取り出す状態を示す図であ
る。
【図4】図3に示す検査装置の要部を示す部分側面図で
ある。
【符号の説明】
1 プローブ装置(検査装置) 2 載置部 3 検査部 4 載置台 5 アーム 8 第1駆動機構 9 第2駆動機構 28 昇降駆動機構 C カセット(容器) S LCD基板(被検査体)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の被検査体が収納された容器を一方
    向に複数配列して載置する載置部と、この載置部に隣接
    する検査部に設けられた載置台と、この載置台と上記容
    器との間で上記被検査体を授受する回転可能なアームと
    を備え、上記アームを上記載置台上に設けると共に、上
    記アーム及び上記載置台を一体的に上記容器の配列方向
    と同方向へ移動させる第1駆動機構を設けたことを特徴
    とする検査装置。
  2. 【請求項2】 複数の被検査体が収納された容器を一方
    向に複数配列して載置する載置部と、この載置部と隣接
    する検査部に設けられた載置台と、この載置台と上記容
    器との間で上記被検査体を授受する回転可能なアームと
    を備え、上記アームを上記載置台上に設けると共に、上
    記アーム及び上記載置台を一体的に上記容器の配列方向
    と同方向へ移動させる第1駆動機構を設け、また、上記
    アーム及び上記載置台を一体的に移動させて上記被検査
    体を上記容器と上記検査部との間で搬送する第2駆動機
    構を設けたことを特徴とする検査装置。
  3. 【請求項3】 上記各容器を個別に昇降させる昇降駆動
    機構を上記載置部に設けたことを特徴とする請求項1ま
    たは請求項2に記載の検査装置。
JP29394794A 1994-11-02 1994-11-02 検査装置 Pending JPH08136580A (ja)

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JP (1) JPH08136580A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100685308B1 (ko) * 1999-12-04 2007-02-22 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자의 검사장치
CN108709859A (zh) * 2018-06-26 2018-10-26 华南理工大学 用于曲面玻璃视觉检测的通用型夹具及检测方法

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KR100685308B1 (ko) * 1999-12-04 2007-02-22 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자의 검사장치
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CN108709859B (zh) * 2018-06-26 2023-11-07 华南理工大学 用于曲面玻璃视觉检测的通用型夹具及检测方法

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