JPH08122418A - ワイル合成試験回路 - Google Patents
ワイル合成試験回路Info
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- JPH08122418A JPH08122418A JP26333594A JP26333594A JPH08122418A JP H08122418 A JPH08122418 A JP H08122418A JP 26333594 A JP26333594 A JP 26333594A JP 26333594 A JP26333594 A JP 26333594A JP H08122418 A JPH08122418 A JP H08122418A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 供試遮断器ＣＢＴに電流源回路と電圧源回路
を並列に接続し、電流重畳法を用いて供試遮断器の短絡
試験を行うワイル合成試験回路において、供試遮断器Ｃ
ＢＴが波高値で閃絡しても過渡回復電圧遅れ時間調整用
コンデンサＣ0に高周波電流が流れないようにし、該コ
ンデンサＣ0の破壊を防止する。 【構成】 供試遮断器ＣＢＴに並列接続される電圧源回
路を、試験規格に合致した遅れ時間が得られる抵抗値を
有した抵抗Ｒ0および過渡回復遅れ時間調整用コンデン
サＣ0から成る第１直列回路と、該直列回路に並列接続
された、抵抗Ｒｅおよび過渡回復電圧波高時間調整用コ
ンデンサＣｅから成る第２直列回路と、該直列回路に並
列接続された、電圧源電流調整用インダクタンスＬｂお
よび始動ギャップｇａｐおよび電圧源コンデンサＣｓか
ら成る第３直列回路とで構成する。これにより配線イン
ダクタンスＬ0を原因とする高周波電流は流れない。
を並列に接続し、電流重畳法を用いて供試遮断器の短絡
試験を行うワイル合成試験回路において、供試遮断器Ｃ
ＢＴが波高値で閃絡しても過渡回復電圧遅れ時間調整用
コンデンサＣ0に高周波電流が流れないようにし、該コ
ンデンサＣ0の破壊を防止する。 【構成】 供試遮断器ＣＢＴに並列接続される電圧源回
路を、試験規格に合致した遅れ時間が得られる抵抗値を
有した抵抗Ｒ0および過渡回復遅れ時間調整用コンデン
サＣ0から成る第１直列回路と、該直列回路に並列接続
された、抵抗Ｒｅおよび過渡回復電圧波高時間調整用コ
ンデンサＣｅから成る第２直列回路と、該直列回路に並
列接続された、電圧源電流調整用インダクタンスＬｂお
よび始動ギャップｇａｐおよび電圧源コンデンサＣｓか
ら成る第３直列回路とで構成する。これにより配線イン
ダクタンスＬ0を原因とする高周波電流は流れない。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、遮断器の短絡試験を行
うワイル合成試験回路に関する。
うワイル合成試験回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】遮断器の短絡試験を行う際に、試験設備
上の制約から直接短絡試験法による短絡遮断性能の検証
ができない場合、これらに代わる検証手法として合成短
絡試験法がある。この合成短絡試験法の試験回路は例え
ば図３のように構成されていた。図３は電流重畳法と呼
ばれている方法であり、供試遮断器ＣＢＴには、低圧大
電流源ＡＧ、保護遮断器５２、短絡電流調整用リアクタ
ンスＬ、投入スイッチ８９および補助遮断器ＡＵＸを直
列接続して成る電流源回路１が並列接続されている。ま
た供試遮断器ＣＢＴには、電圧源電流調整用インダクタ
ンスＬｂおよび始動ギャップｇａｐおよび電圧源コンデ
ンサＣｓから成る直列回路と、抵抗Ｒｅおよび過渡回復
電圧波高時間（ｔ3）調整用コンデンサＣｅから成る直
列回路と、過渡回復電圧遅れ時間（ｔｄ）調整用コンデ
ンサＣ0とを並列接続した電圧源回路２が接続されてい
る。尚電圧源回路２には図示省略しているがコンデンサ
の充電装置も含んでいる。
上の制約から直接短絡試験法による短絡遮断性能の検証
ができない場合、これらに代わる検証手法として合成短
絡試験法がある。この合成短絡試験法の試験回路は例え
ば図３のように構成されていた。図３は電流重畳法と呼
ばれている方法であり、供試遮断器ＣＢＴには、低圧大
電流源ＡＧ、保護遮断器５２、短絡電流調整用リアクタ
ンスＬ、投入スイッチ８９および補助遮断器ＡＵＸを直
列接続して成る電流源回路１が並列接続されている。ま
た供試遮断器ＣＢＴには、電圧源電流調整用インダクタ
ンスＬｂおよび始動ギャップｇａｐおよび電圧源コンデ
ンサＣｓから成る直列回路と、抵抗Ｒｅおよび過渡回復
電圧波高時間（ｔ3）調整用コンデンサＣｅから成る直
列回路と、過渡回復電圧遅れ時間（ｔｄ）調整用コンデ
ンサＣ0とを並列接続した電圧源回路２が接続されてい
る。尚電圧源回路２には図示省略しているがコンデンサ
の充電装置も含んでいる。
【０００３】上記のように構成された回路において短絡
試験時の各部の電圧、電流は図４のように示される。図
４においてｔは供試遮断器ＣＢＴの開極時刻であり、Ｉ
ｉは電流源電流、Ｉｖは電圧源電流、ＩMは合成電流、
ＶTは供試遮断器ＣＢＴの端子電圧を示している。通
常、供試遮断器ＣＢＴが正常に合成電流ＩMを遮断した
場合、電流遮断直後はまだ始動ギャップｇａｐはつなが
っており、電圧源コンデンサＣｓに充電されている電荷
はＣ0，Ｃｅ−Ｒｅ回路に蓄積され、Ｌｂ，Ｃｅ，Ｃ0で
過渡回復電圧を形成する。その後始動ギャップｇａｐは
電圧源コンデンサＣｓ回路の電荷とＣｅ−Ｒｅ回路の電
荷が等しくなった時点で切れ、直流が印加される。
試験時の各部の電圧、電流は図４のように示される。図
４においてｔは供試遮断器ＣＢＴの開極時刻であり、Ｉ
ｉは電流源電流、Ｉｖは電圧源電流、ＩMは合成電流、
ＶTは供試遮断器ＣＢＴの端子電圧を示している。通
常、供試遮断器ＣＢＴが正常に合成電流ＩMを遮断した
場合、電流遮断直後はまだ始動ギャップｇａｐはつなが
っており、電圧源コンデンサＣｓに充電されている電荷
はＣ0，Ｃｅ−Ｒｅ回路に蓄積され、Ｌｂ，Ｃｅ，Ｃ0で
過渡回復電圧を形成する。その後始動ギャップｇａｐは
電圧源コンデンサＣｓ回路の電荷とＣｅ−Ｒｅ回路の電
荷が等しくなった時点で切れ、直流が印加される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図３の回路を用いて遮
断器の短絡試験を行った際に、供試遮断器ＣＢＴが図５
に示す波高値（ｕｃ）で図６に示すように閃絡したとす
ると、波高値に到達する時間までに過渡回復電圧遅れ時
間調整用コンデンサＣ0、過渡回復電圧波高時間調整用
コンデンサＣｅに蓄積された電荷が放出され、Ｃｅ−Ｒ
ｅ回路およびＣ0に各々図５に示すようなＩCeRe，ＩC0
なる電流が流れる。また始動ギャップｇａｐはコンデン
サＣｓの電位とＣｅ−Ｒｅ回路の電位とが等しくなるま
でつながっているため、Ｃｓ−Ｌｂ回路にもＩｎの電流
が流れる。
断器の短絡試験を行った際に、供試遮断器ＣＢＴが図５
に示す波高値（ｕｃ）で図６に示すように閃絡したとす
ると、波高値に到達する時間までに過渡回復電圧遅れ時
間調整用コンデンサＣ0、過渡回復電圧波高時間調整用
コンデンサＣｅに蓄積された電荷が放出され、Ｃｅ−Ｒ
ｅ回路およびＣ0に各々図５に示すようなＩCeRe，ＩC0
なる電流が流れる。また始動ギャップｇａｐはコンデン
サＣｓの電位とＣｅ−Ｒｅ回路の電位とが等しくなるま
でつながっているため、Ｃｓ−Ｌｂ回路にもＩｎの電流
が流れる。
【０００５】ここで図５に示す各電流ＩC0，ＩCeRe，Ｉ
ｖは次式で表される。
ｖは次式で表される。
【０００６】
【数１】
【０００７】
【数２】
【０００８】
【数３】
【０００９】
【数４】
【００１０】
【数５】
【００１１】
【数６】
【００１２】但しＶは充電電圧である。
【００１３】尚図６は図３の電圧源回路２のみを図示し
たものである。
たものである。
【００１４】前記過渡回復電圧遅れ時間調整用コンデン
サＣ0に流れる電流ＩC0はＣ0（Ｃｓ≫Ｃ0）に充電され
た電荷と印加線のインダクタンスＬ0（Ｌb≫Ｌ0）によ
って決まる周波数（数１０ＫＨZ）の高い、高電流が流
れる。このため場合によってはコンデンサＣ0を破壊し
てしまう可能性がある。
サＣ0に流れる電流ＩC0はＣ0（Ｃｓ≫Ｃ0）に充電され
た電荷と印加線のインダクタンスＬ0（Ｌb≫Ｌ0）によ
って決まる周波数（数１０ＫＨZ）の高い、高電流が流
れる。このため場合によってはコンデンサＣ0を破壊し
てしまう可能性がある。
【００１５】尚、Ｃｓ−Ｌｂ回路に流れる電流Ｉｖは試
験の等価性をはかるうえで、商用周波数の１０倍程度
（５００ＨZ〜６００ＨZ）であり、またＣｅ−Ｒｅ回路
に流れる電流ＩCeReは回路の特性上、非振動の電流であ
る。
験の等価性をはかるうえで、商用周波数の１０倍程度
（５００ＨZ〜６００ＨZ）であり、またＣｅ−Ｒｅ回路
に流れる電流ＩCeReは回路の特性上、非振動の電流であ
る。
【００１６】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
その目的は、供試遮断器が波高値で閃絡しても過渡回復
電圧遅れ時間調整用コンデンサＣ0に高周波電流が流れ
ないようにし、該コンデンサの破壊を防止したワイル合
成試験回路を提供することにある。
その目的は、供試遮断器が波高値で閃絡しても過渡回復
電圧遅れ時間調整用コンデンサＣ0に高周波電流が流れ
ないようにし、該コンデンサの破壊を防止したワイル合
成試験回路を提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明は、供試遮断器に
電流源回路と電圧源回路を並列に接続し、電流重畳法を
用いて供試遮断器の短絡試験を行うワイル合成試験回路
において、（１）前記電圧源回路を、前記供試遮断器に
並列接続された、第１抵抗および過渡回復遅れ時間調整
用コンデンサから成る第１直列回路と、該第１直列回路
に並列接続された、第２抵抗および過渡回復電圧波高時
間調整用コンデンサから成る第２直列回路と、該第２直
列回路に並列接続された、電圧源電流調整用インダクタ
ンスおよび始動ギャップおよび電圧源コンデンサから成
る第３直列回路とで構成したことを特徴とし、（２）前
記第１抵抗は試験規格に合致した遅れ時間が得られる抵
抗値を有していることを特徴としている。
電流源回路と電圧源回路を並列に接続し、電流重畳法を
用いて供試遮断器の短絡試験を行うワイル合成試験回路
において、（１）前記電圧源回路を、前記供試遮断器に
並列接続された、第１抵抗および過渡回復遅れ時間調整
用コンデンサから成る第１直列回路と、該第１直列回路
に並列接続された、第２抵抗および過渡回復電圧波高時
間調整用コンデンサから成る第２直列回路と、該第２直
列回路に並列接続された、電圧源電流調整用インダクタ
ンスおよび始動ギャップおよび電圧源コンデンサから成
る第３直列回路とで構成したことを特徴とし、（２）前
記第１抵抗は試験規格に合致した遅れ時間が得られる抵
抗値を有していることを特徴としている。
【００１８】
【作用】供試遮断器の開極時に該遮断器が波高値で閃絡
したとすると、波高値に到達する時間までに第１、第２
直列回路の各コンデンサに蓄積されていた電荷が放出さ
れ、当該供試遮断器と第１、第２、第３直列回路を結ぶ
各電路に各々電流が流れる。このとき第１直列回路の過
渡回復電圧遅れ時間調整用コンデンサには、第１抵抗が
接続されているので、該第１直列回路と供試遮断器を結
ぶ印加線のインダクタンスによる影響は受けず、高周波
の振動系の電流が流れることはない。このため過渡回復
電圧遅れ時間調整用コンデンサが破壊されることはな
い。
したとすると、波高値に到達する時間までに第１、第２
直列回路の各コンデンサに蓄積されていた電荷が放出さ
れ、当該供試遮断器と第１、第２、第３直列回路を結ぶ
各電路に各々電流が流れる。このとき第１直列回路の過
渡回復電圧遅れ時間調整用コンデンサには、第１抵抗が
接続されているので、該第１直列回路と供試遮断器を結
ぶ印加線のインダクタンスによる影響は受けず、高周波
の振動系の電流が流れることはない。このため過渡回復
電圧遅れ時間調整用コンデンサが破壊されることはな
い。
【００１９】
【実施例】以下図面を参照しながら本発明の一実施例を
説明する。本発明では図１に示すように、過渡回復電圧
遅れ時間調整用コンデンサＣ0に抵抗Ｒ0を直列に接続し
て構成した。図１は試験装置の電圧源回路のみを図示し
ており、実際には供試遮断器ＣＢＴに図３と同様の電流
源回路１が接続されているものである。前記抵抗Ｒ0の
抵抗値は数Ω程度であり、規格に合致した遅れ時間（ｔ
ｄ）が得られる値に設定しておく。
説明する。本発明では図１に示すように、過渡回復電圧
遅れ時間調整用コンデンサＣ0に抵抗Ｒ0を直列に接続し
て構成した。図１は試験装置の電圧源回路のみを図示し
ており、実際には供試遮断器ＣＢＴに図３と同様の電流
源回路１が接続されているものである。前記抵抗Ｒ0の
抵抗値は数Ω程度であり、規格に合致した遅れ時間（ｔ
ｄ）が得られる値に設定しておく。
【００２０】上記のように過渡回復電圧遅れ時間調整用
コンデンサＣ0に抵抗Ｒ0を直列に接続したことにより、
前述したように供試遮断器ＣＢＴが波高値で閃絡して
も、Ｒ0−Ｃ0回路に流れる電流は図５のＩC0に示すよう
な高周波の振動系の電流は流れず、図５のＩCeReのよう
に非振動の電流が流れる。すなわち従来のＣ0のみの場
合に流れる電流は図２（ａ）となり、本発明のＣ0−Ｒ0
の回路に流れる電流は図２（ｂ）となる。これによって
過渡回復電圧遅れ時間調整用コンデンサＣ0の破壊を防
ぐことができる。
コンデンサＣ0に抵抗Ｒ0を直列に接続したことにより、
前述したように供試遮断器ＣＢＴが波高値で閃絡して
も、Ｒ0−Ｃ0回路に流れる電流は図５のＩC0に示すよう
な高周波の振動系の電流は流れず、図５のＩCeReのよう
に非振動の電流が流れる。すなわち従来のＣ0のみの場
合に流れる電流は図２（ａ）となり、本発明のＣ0−Ｒ0
の回路に流れる電流は図２（ｂ）となる。これによって
過渡回復電圧遅れ時間調整用コンデンサＣ0の破壊を防
ぐことができる。
【００２１】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、供試遮断
器に電流源回路と電圧源回路を並列に接続し、電流重畳
法を用いて供試遮断器の短絡試験を行うワイル合成試験
回路において、前記電圧源回路の過渡回復遅れ時間調整
用コンデンサに抵抗を直列接続したので、短絡試験時に
供試遮断器が波高値で閃絡しても、過渡回復遅れ時間調
整用コンデンサおよび抵抗に高周波の振動系の電流が流
れることはなく、過渡回復遅れ時間調整用コンデンサの
破壊は防止される。
器に電流源回路と電圧源回路を並列に接続し、電流重畳
法を用いて供試遮断器の短絡試験を行うワイル合成試験
回路において、前記電圧源回路の過渡回復遅れ時間調整
用コンデンサに抵抗を直列接続したので、短絡試験時に
供試遮断器が波高値で閃絡しても、過渡回復遅れ時間調
整用コンデンサおよび抵抗に高周波の振動系の電流が流
れることはなく、過渡回復遅れ時間調整用コンデンサの
破壊は防止される。
【図１】本発明の一実施例を示し、ワイル合成試験回路
の要部の回路図。
の要部の回路図。
【図２】ワイル合成試験回路の過渡回復遅れ時間調整用
コンデンサに流れる電流を示し、（ａ）は従来回路の場
合の電流波形図、（ｂ）は本発明回路の場合の電流波形
図。
コンデンサに流れる電流を示し、（ａ）は従来回路の場
合の電流波形図、（ｂ）は本発明回路の場合の電流波形
図。
【図３】従来のワイル合成試験回路の一例を示す回路
図。
図。
【図４】従来の試験回路による短絡試験時の正常動作時
の各部の電圧、電流を示す電圧、電流波形図。
の各部の電圧、電流を示す電圧、電流波形図。
【図５】従来の試験回路による短絡試験時に、供試遮断
器が波高値で閃絡した場合の各部の電圧、電流を示す電
圧、電流波形図。
器が波高値で閃絡した場合の各部の電圧、電流を示す電
圧、電流波形図。
【図６】従来の試験回路による短絡試験時に、供試遮断
器が波高値で閃絡した様子を示す要部回路図。
器が波高値で閃絡した様子を示す要部回路図。
１…電流源回路 ２…電圧源回路 ＣＢＴ…供試遮断器 ＡＧ…低圧大電流源 ５２…保護遮断器 Ｌ…短絡電流調整用リアクタンス ８９…投入スイッチ ＡＵＸ…補助遮断器 Ｌｂ…電圧源電流調整用インダクタンスＬｂ ｇａｐ…始動ギャップ Ｃｓ…電圧源コンデンサ Ｒ0，Ｒｅ…抵抗 Ｃｅ…過渡回復電圧波高時間調整用コンデンサ Ｃ0…過渡回復電圧遅れ時間調整用コンデンサ
Claims (2)
- 【請求項１】 供試遮断器に電流源回路と電圧源回路を
並列に接続し、電流重畳法を用いて供試遮断器の短絡試
験を行うワイル合成試験回路において、 前記電圧源回路を、前記供試遮断器に並列接続された、
第１抵抗および過渡回復遅れ時間調整用コンデンサから
成る第１直列回路と、該第１直列回路に並列接続され
た、第２抵抗および過渡回復電圧波高時間調整用コンデ
ンサから成る第２直列回路と、該第２直列回路に並列接
続された、電圧源電流調整用インダクタンスおよび始動
ギャップおよび電圧源コンデンサから成る第３直列回路
とで構成したことを特徴とするワイル合成試験回路。 - 【請求項２】 前記第１抵抗は試験規格に合致した遅れ
時間が得られる抵抗値を有していることを特徴とする請
求項１に記載のワイル合成試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26333594A JPH08122418A (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | ワイル合成試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26333594A JPH08122418A (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | ワイル合成試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08122418A true JPH08122418A (ja) | 1996-05-17 |
Family
ID=17388051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26333594A Pending JPH08122418A (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | ワイル合成試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08122418A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102680891A (zh) * | 2012-06-15 | 2012-09-19 | 东莞市三友联众电器有限公司 | 一种用于检测成品继电器超行程值的电子检测设备 |
| CN104934927A (zh) * | 2015-06-05 | 2015-09-23 | 武汉市圣德利科技有限公司 | 一种光伏直流侧短路保护装置及其控制方法 |
| WO2022193505A1 (zh) * | 2021-03-15 | 2022-09-22 | 深圳慧能泰半导体科技有限公司 | 一种故障检测电路与方法、电源适配器及电子设备 |
-
1994
- 1994-10-27 JP JP26333594A patent/JPH08122418A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102680891A (zh) * | 2012-06-15 | 2012-09-19 | 东莞市三友联众电器有限公司 | 一种用于检测成品继电器超行程值的电子检测设备 |
| CN104934927A (zh) * | 2015-06-05 | 2015-09-23 | 武汉市圣德利科技有限公司 | 一种光伏直流侧短路保护装置及其控制方法 |
| CN104934927B (zh) * | 2015-06-05 | 2018-05-18 | 武汉市圣德利科技有限公司 | 一种光伏直流侧短路保护装置及其控制方法 |
| WO2022193505A1 (zh) * | 2021-03-15 | 2022-09-22 | 深圳慧能泰半导体科技有限公司 | 一种故障检测电路与方法、电源适配器及电子设备 |
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