JPH08114759A - 光走査装置のｆθ誤差補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】電気的にｆθ誤差の補正を行うものにおいて、
モアレ発生を防止すると共にドットズレにより印字にギ
ザギザのゆれが生じるのを極力防止する。 【構成】メモリに１２４４ドット分のｆθ誤差補正用パ
ルス幅データを記憶し、先頭部の４ドットと後尾部の４
ドットをダミードットとし、このダミードットとして１
走査に使用するｆθ誤差補正用パルス幅データの平均値
である「１４」を書き込む。そして１走査目は１ドット
目から１２４０ドット目までのデータを折返して使用
し、２走査目は２ドット目から１２４１ドット目までの
データを折返して使用し、３走査目は３ドット目から１
２４２ドット目までのデータを折返して使用し、４走査
目は４ドット目から１２４３ドット目までのデータを折
返して使用する。そして５走査目以降はこれを繰返して
全体の印字を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、レーザプリンタ、レー
ザファクス、デジタル複写機等に使用する光走査装置の
ｆθ誤差補正方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、レーザプリンタに使用する光走
査装置はレーザ光を偏向走査して感光面に照射するよう
になっているが、このような光走査装置では主走査・副
走査像面湾曲、走査線湾曲、ｆθ補正、面倒れ等の各光
学収差の補正を純光学的に行うことが一般的で、複数枚
のｆθレンズと面倒れ補正シリンダー状レンズを組合わ
せる構造が知られている。また光学系を簡単にするた
め、ｆθレンズの１面をトーリック面にして面倒れ補正
までｆθレンズで行ってしまう方法なども知られてい
る。

【０００３】しかしこのようにｆθレンズを使用するも
のは、ｆθレンズが大きくしかも高価であるため、装置
が大形化し、かつコストアップとなる。

【０００４】このようなことから、ｆθレンズを使用し
ないものとして、光学収差のうち、ｆθ誤差（レーザ光
を一定角速度で走査した場合に走査面上でのレーザ光の
走査速度が走査位置によって変化するため、画素の間隔
が一定にならないという誤差）については電気的補正に
より行い、その他の収差を光学的に補正するものが知ら
れている。

【０００５】例えば特開平２−１３１２１２号公報のも
のは、図１１に示すように、半導体レーザ１からの発散
レーザ光をコリメータレンズ２で収束又は平行光束に修
正し、その修正したレーザ光をシリンドリカルレンズ３
を介してポリゴンミラー４に照射して偏向走査し、その
偏向光をトロイダルレンズ５を介して折り返しミラー
６，７で反射させて感光体ドラム８上に結像させ、主走
査ライン９上を走査するようになっている。

【０００６】この場合に主走査ライン９において、中心
部から端部にわたって走査速度に差が生じるため、すな
わち中央部に比べて端部の走査速度が大きくなるため、
等時的なタイミングで露光したのではドットピッチにば
らつきが生じる。すなわち、ｆθ誤差が生じる。

【０００７】そこでこの公報では、主走査ライン９の全
領域を中央で二分し、それぞれの半分の領域を図１２に
示すようにａ〜ｇの７ブロックに分割し、各ブロックａ
〜ｇにおいて印字クロックの１０倍の基準クロックの１
０パルス分で１ドットを構成する部分と９パルス分で１
ドットを構成する部分との比率を変化させて、端部にな
るに従ってドット印字タイミングを早め、それにより巨
視的に中央部から端部にわたって印字間隔が均一になる
ようにし電気的にｆθ誤差の補正を行うようにしてい
る。

【０００８】しかし、このように単に印字クロックの１
０倍の基準クロックの１０パルス分で１ドットを構成す
る部分と９パルス分で１ドットを構成する部分との比率
を変化させるのみでは、各走査ライン毎に常に同一の位
置でドット幅が一致するため縦線のモアレが生じ画質が
低下する。

【０００９】このような問題を解決するため、本発明者
らは、印字クロックの数倍の基準クロックを利用し、３
つ以上の複数のパルス幅を用いて各領域毎に２つずつ選
択してその割合を決め、この割合から決まる各ドット毎
の基準クロック数を各ドットに対応する駆動パルス幅を
決めるｆθ誤差補正用パルス幅データをメモリに記憶
し、各走査毎にこのメモリからの読出し位置を変化させ
て電気的にｆθ誤差の補正を行う方法を提案し出願し
た。（特願平５−２５１３５７号）このようにすること
で隣接する走査ライン間の同一位置でのドット幅を異な
らせることができ、縦線のモアレ発生を防止することが
できる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしこのように、各
走査毎にメモリからのｆθ誤差補正用パルス幅データの
読出し位置を変化させてｆθ誤差補正を行う場合、ｆθ
誤差補正用パルス幅データの並び方により、走査開始位
置、中央部、走査終了位置などに読出し位置を変化させ
る周期で蛇行が発生する。

【００１１】例えば、Ａ４サイズの主走査方向の幅は２
１０mmで、３００ｄｐｉでは２４８０ドットとなる。こ
れに対して、印字クロックの１６倍の基準クロックを使
用し、メモリに、図１３の(a) に示すように、１／２走
査幅である１０５mmのドット数、すなわち、１２４０ド
ットよりも４ドット多い、１２４４ドット分のｆθ誤差
補正用パルス幅データを記憶する。

【００１２】記憶するｆθ誤差補正用パルス幅データ
は、走査開始側から中央部へｂ5 〜ｂ1 の５つの領域に
分割し、走査開始部に当たる領域ｂ5 では基準クロック
１３個で１ドットを構成するものを１／３の割合とし、
基準クロック１２個で１ドットを構成するものを２／３
の割合とし、領域ｂ4 では基準クロック１４個で１ドッ
トを構成するものを１／３の割合とし、基準クロック１
３個で１ドットを構成するものを２／３の割合としてい
る。また、領域ｂ3 では基準クロック１４個で１ドット
を構成している。また、領域ｂ2 では基準クロック１５
個で１ドットを構成するものを１／２の割合とし、基準
クロック１４個で１ドットを構成するものを１／２の割
合とし、中央部に当たる領域ｂ1 では基準クロック１６
個で１ドットを構成するものを１／１８の割合とし、基
準クロック１５個で１ドットを構成するものを１７／１
８の割合としている。

【００１３】こようなｆθ誤差補正用パルス幅データ
を、１走査目は図１３の(b) に示すように、１ドット目
から１２４０ドット目まで読出した後、折り返して１２
４０ドット目から１ドット目まで読出し、これにより１
走査に相当する２４８０ドットの駆動パルス幅を決め、
２走査目は図１３の(c) に示すように、２ドット目から
１２４１ドット目まで読出した後、折り返して１２４１
ドット目から２ドット目まで読出し、これにより１走査
に相当する２４８０ドットの駆動パルス幅を決め、３走
査目は図１３の(d) に示すように、３ドット目から１２
４２ドット目まで読出した後、折り返して１２４２ドッ
ト目から３ドット目まで読出し、これにより１走査に相
当する２４８０ドットの駆動パルス幅を決め、４走査目
は図１３の(e) に示すように、４ドット目から１２４３
ドット目まで読出した後、折り返して１２４３ドット目
から４ドット目まで読出し、これにより１走査に相当す
る２４８０ドットの駆動パルス幅を決める。

【００１４】このようにメモリから読み出すｆθ誤差補
正用パルス幅データの位置を変化させつつ４走査毎にこ
れを繰り返すと、隣接する走査ライン間の同一位置での
ドット幅を異ならせることができて縦線のモアレ発生を
防止できる。しかし、図１３の(f) に示すように、１走
査目と４走査目を比べると、書出し位置ではズレは発生
しないが、書出し位置から５ドット目には１／１２．３
３ドットのズレが生じる。なお、１２．３３はｂ5 ブロ
ックのｆθ誤差補正用パルス幅データの平均値である。

【００１５】このズレ量は走査が中央部に向かうに従っ
て徐々に大きくなり、中央付近ではで８／１５．０６ド
ットのズレが生じる。なお、１５．０６はｂ1 ブロック
のｆθ誤差補正用パルス幅データの平均値である。

【００１６】さらにズレ量は中央部から走査終了部に向
かうに従って大きくなり、終了位置では１６／１２．３
３ドットのズレ、すなわち１ドット以上のズレが生じ
る。

【００１７】このようなズレが４走査毎に繰り返される
ので、全体として印字にギザギザのゆれが発生すること
になる。

【００１８】そこで本発明は、電気的にｆθ誤差の補正
を行うものにおいて、モアレ発生を防止でき、しかもド
ットズレにより印字にギザギザのゆれが生じるのを極力
防止できる光走査装置のｆθ誤差補正方法を提供する。

【００１９】

【課題を解決するための手段と作用】請求項１対応の発
明は、記録情報に基づいてオン、オフするレーザ光を偏
向し、このレーザ光を主走査方向に走査してドット単位
で情報を記録する光走査装置において、レーザ光の１走
査中における走査速度の変化により発生するｆθ誤差を
補正するために、１走査における各ドットに対応する駆
動パルス幅を決めるｆθ誤差補正用パルス幅データを記
録領域幅の半分のドット数よりも所定ドット長いドット
数分メモリに記憶し、このメモリに記憶したｆθ誤差補
正用パルス幅データは、記録領域の一端側に対応する先
頭部の数ドットを１走査に使用するｆθ誤差補正用パル
ス幅データの平均値か平均値近傍の値とし、記録領域の
中央部に対応する後尾部の記録領域幅の半分を越える所
定ドットを１走査に使用するｆθ誤差補正用パルス幅デ
ータの平均値の値とし、レーザ光の１走査においてメモ
リからｆθ誤差補正用パルス幅データを読出し、これを
使用して記録領域の一端から中央部までの主走査のｆθ
誤差補正を行い、残りの記録領域中央部から他端までの
ｆθ誤差補正は読出したｆθ誤差補正用パルス幅データ
を逆に折り返して使用し、隣接する走査ライン間でメモ
リから読み出すｆθ誤差補正用パルス幅データの読出し
位置を変化させる。

【００２０】これにより、隣接する走査ライン間でメモ
リから読み出すｆθ誤差補正用パルス幅データの読出し
位置を変化させることでモアレ発生を防止し、先頭部の
数ドットを１走査に使用するｆθ誤差補正用パルス幅デ
ータの平均値か平均値近傍の値とし、後尾部の記録領域
幅の半分を越える所定ドットを１走査に使用するｆθ誤
差補正用パルス幅データの平均値の値とすることで印字
のゆれを極力小さくする。

【００２１】請求項２対応の発明は、請求項１記載の発
明において、メモリに記憶するｆθ誤差補正用パルス幅
データを記録領域幅の半分のドット数よりも数ドット長
いドット数分とし、このｆθ誤差補正用パルス幅データ
は、先頭部及び後尾部の数ドットを１走査に使用するｆ
θ誤差補正用パルス幅データの平均値の値とし、レーザ
光の１走査においてメモリからｆθ誤差補正用パルス幅
データを読出し、これを使用して記録領域の一端から中
央までの主走査の半分のｆθ誤差補正を行い、残りの半
分のｆθ誤差補正は読出したｆθ誤差補正用パルス幅デ
ータを逆に折り返して使用し、隣接する走査ライン間で
メモリから読み出すｆθ誤差補正用パルス幅データの読
出し開始位置を先頭部の数ドットのうちの少なくとも１
ドットが含むように変化させ、使用する１走査のｆθ誤
差補正用パルス幅データの値の総和及び１走査の半分の
ｆθ誤差補正用パルス幅データの値の総和がメモリから
読み出すｆθ誤差補正用パルス幅データの読出し開始位
置を変化しても同一となるようにする。これにより同様
に、モアレ発生を防止し、印字のゆれを極力小さくす
る。

【００２２】請求項３対応の発明は、請求項１記載の発
明において、メモリに記憶するｆθ誤差補正用パルス幅
データを記録領域幅の半分のドット数よりも数ドット長
いドット数分とし、このｆθ誤差補正用パルス幅データ
は、先頭部の数ドットを１走査に使用するｆθ誤差補正
用パルス幅データの平均値よりも小さい値とし、後尾部
の数ドットを１走査に使用するｆθ誤差補正用パルス幅
データの平均値の値とし、レーザ光の１走査においてメ
モリからｆθ誤差補正用パルス幅データを読出し、これ
を使用して記録領域の一端から中央までの主走査の半分
のｆθ誤差補正を行い、残りの半分のｆθ誤差補正は読
出したｆθ誤差補正用パルス幅データを逆に折り返して
使用し、隣接する走査ライン間でメモリから読み出すｆ
θ誤差補正用パルス幅データの読出し開始位置を先頭部
の数ドットのうちの少なくとも１ドットを含むように変
化させる。これにより同様に、モアレ発生を防止し、印
字のゆれを極力小さくする。

【００２３】請求項４対応の発明は、請求項１記載の発
明において、メモリに記憶するｆθ誤差補正用パルス幅
データを記録領域幅の半分のドット数よりも数ドット長
いドット数分とし、このｆθ誤差補正用パルス幅データ
は、先頭部及び後尾部の数ドットを１走査に使用するｆ
θ誤差補正用パルス幅データの平均値の値とし、レーザ
光の１走査においてメモリからｆθ誤差補正用パルス幅
データを読出し、これを使用して記録領域の一端から中
央部までの主走査のｆθ誤差補正を行い、記録領域の残
りのｆθ誤差補正は読出したｆθ誤差補正用パルス幅デ
ータを逆に折り返して使用し、隣接する走査ライン間で
メモリから読み出すｆθ誤差補正用パルス幅データの読
出し開始位置を先頭部の数ドットのうちの少なくとも１
ドットが含まれるように変化させ、かつｆθ誤差補正用
パルス幅データの折り返し位置を常にｆθ誤差補正用パ
ルス幅データの最後尾ドットとする。これにより同様
に、モアレ発生を防止し、印字のゆれを極力小さくす
る。

【００２４】

【実施例】

（第１の実施例）この実施例は請求項１及び請求項２に
対応した実施例である。

【００２５】図１及び図２に示すように、レーザダイオ
ードを備えた半導体レーザ発振器１１からのレーザ光を
収束レンズ１２で発散気味の光束に変換した後スリット
１３で円形のビームに成形し、そのビームを反射ミラー
１４に反射して直角に光路を変更した後、スキャナモー
タ１５のロータ１５ａの回転軸１５ｂ上に配置した直角
プリズム１６の２つの４５°反射面に照射している。す
なわち、前記直角プリズム１６は、互いに直交する２つ
の面を反射面としている。

【００２６】そして、この２つの反射面に挟まれた長方
形の面の中心をスキャナモータ１５の回転軸１５ｂに合
わせて配置し、前記反射ミラー１４からの反射光をスキ
ャナモータ１５の回転軸１５ｂから数mm程度離れた位置
に、その回転軸１５ｂに平行に入射している。

【００２７】前記スキャナモータ１５は、ロータ１５ａ
にマグネット１５ｃを一体に取付けている。前記回転軸
１５ｂはベース部を構成するステータ部材１５ｄにボー
ルベアリング１５ｅを介して回転自在に取付けている。

【００２８】前記ステータ部材１５ｄにはスペーサ１５
ｆを介して回路基板１５ｇを固定し、この回路基板１５
ｇの前記マグネット１５ｃと対向した部位の裏面側には
コイル１５ｈを取付けている。

【００２９】前記反射ミラー１４からの反射光は、前記
スキャナモータ１５により回転駆動する直角プリズム１
６の反射面で反射してスキャナモータ１５の回転軸１５
ｂに垂直な平面方向に偏向走査する偏向光に変換した
後、入射面よりも出射面の曲率半径が小さく、外側に向
かって凸のメニスカスレンズ１７に入射し、図３に示す
ように偏向点、すなわち直角プリズム１６の反射点から
距離Ｌ隔てた位置にある結像面２１に結像するようにな
っている。この偏向光の中心からの最大振れ角はθとな
っている。なお、結像面２１は、レーザプリンタに適用
する場合には感光体ドラムの感光面となる。

【００３０】前記半導体レーザ発振器１１、収束レンズ
１２及びスリット１３は光出射ユニット１８として一体
化している。前記メニスカスレンズ１７はケース１９内
に組み込んである。

【００３１】前記光出射ユニット１８を例えば合成樹脂
等からなる装置全体を包囲するハウジング２０の上部後
方に嵌め込み、前記反射ミラー１４を前記ハウジング２
０の上部前方の傾斜部に埋設し、前記ケース１９を前記
ハウジング２０の前部開口部に嵌め込み、このハウジン
グ２０を前記スキャナモータ１５のステータ部材１５ｄ
の周縁部にネジにより固定している。

【００３２】前記直角プリズム１６の反射面からの偏向
光は、結像面２１に結像するが、この結像面２１での走
査スピードは図４に示すように中央部から端部へ行くに
従って速くなる。

【００３３】そこで、１走査の有効走査域を２２０mmと
し、中央から１１０mm離れた端の位置で最大画角となる
ようにクロックを決めると、走査位置６５mm付近での速
度が平均走査速度なり、これを基準に印字クロックを決
めると中央部では正規ドット位置より中央部に縮まり、
端部では徐々に正規位置に近付き１１０mmの端位置で正
規位置と重なるようになる。走査位置と最大位置誤差の
関係を示すと、図４のグラフ（イ）に示すようになる。

【００３４】走査位置６５mm付近では理想走査位置から
の実走査位置のずれは３．２mm程度中心よりになる。ま
た、中央の走査スピードに対する１１０mmの位置での走
査スピードの比は約１．２４倍になる。

【００３５】そこで、各走査位置に対する走査スピード
の違いによって生じるｆθ誤差をデジタル的なパルス幅
変調方式で補正するため図５に示すように、中央から端
部までの主走査領域１１０mmを累積位置誤差が直線近似
できるｂ1 〜ｂ5 の５ブロックの領域に分割する。そし
てｂ1 ブロックを４０mm、ｂ2 ブロックを１８mm、ｂ3
ブロックを１６mm、ｂ4 ブロックを１８mm、ｂ5 ブロッ
クを１８mmに設定する。

【００３６】この場合、１走査の有効走査領域は２２０
mmなので、解像度が３００dpi では２，５９８ドットと
なる。従って、ｂ1 ブロックは４７３ドット、ｂ2 ブロ
ックは２１２ドット、ｂ3 ブロックは１８９ドット、ｂ
4 ブロックは２１３ドット、ｂ5 ブロックは２１２ドッ
トとなる。

【００３７】基準クロックとして印字クロックの１６倍
のクロックを使用するとすると、ｂ1 ブロックは基準ク
ロック１６個で１ドットを構成するものを１／１８の割
合とし、基準クロック１５個で１ドットを構成するもの
を１７／１８の割合とする。また、ｂ2 ブロックは基準
クロック１５個で１ドットを構成するものを１／２の割
合とし、基準クロック１４個で１ドットを構成するもの
を１／２の割合とする。また、ｂ3 ブロックは基準クロ
ック１４個で１ドットを構成する。

【００３８】また、ｂ4 ブロックは基準クロック１４個
で１ドットを構成するものを１／３の割合とし、基準ク
ロック１３個で１ドットを構成するものを２／３の割合
とする。さらに、ｂ5 ブロックは基準クロック１３個で
１ドットを構成するものを１／３の割合とし、基準クロ
ック１２個で１ドットを構成するものを２／３の割合と
する。

【００３９】このように、走査スピードの速い周辺部
（ｂ4 ブロック、ｂ5 ブロック）では少ない基準クロッ
ク数で１ドットの印字パルス幅を規定し、走査スピード
の遅い中央部（ｂ1 ブロック、ｂ2 ブロック）では比較
的多い基準クロック数で１ドットの印字パルス幅を規定
する。このように印字パルス幅を規定することにより、
解像度３００dpi の場合のｆθ誤差をデジタル的に補正
することが可能となる。

【００４０】図６は回路構成を示すブロック図で、３１
は書出し位置検出信号Ｓによりカウントを開始するライ
ンカウンタである。このラインカウンタ３１のカウント
出力をアドレスカウンタ３２に入力している。

【００４１】３３はメモリで、このメモリ３３には前述
したｆθ誤差をデジタル的に補正するための印字パルス
幅を規定するｆθ誤差補正用パルス幅データを格納して
いる。

【００４２】前記アドレスカウンタ３２のカウントデー
タにより前記メモリ３３からｆθ誤差補正用パルス幅デ
ータを読出してラッチ回路３４にラッチし、このラッチ
回路３４の出力をプログラマブルカウンタ３５に入力す
る。

【００４３】３６は印字クロックの１６倍の基準クロッ
クを発生する基準クロック発振器で、この発振器３６か
らの基準クロックを前記プログラマブルカウンタ３５で
カウントしている。

【００４４】前記プログラマブルカウンタ３５はラッチ
回路３４からのｆθ誤差補正用パルス幅データと発振器
３６からの基準クロックのカウント値を比較し、カウン
ト値がデータ値に達するタイミングでレーザダイオード
ドライバ３７に出力する画像データのドット切替えを行
う。

【００４５】前記レーザダイオードドライバ３７は、入
力する画像データに基づいて半導体レーザ発振器１１の
レーザダイオード３８を駆動するようになっている。

【００４６】書出し位置検出信号Ｓは、結像面２１を走
査するレーザ光が有効走査域である２２０mmから一方の
側に若干外れた位置に来たとき、そのレーザ光を検出す
るセンサにより出力するもので、図７の(a) に示すタイ
ミングで出力し、ラインカウンタ３１に入力する。

【００４７】その後レーザ光はオフし、図７の(b) に示
す有効走査域内の前後５mm内側に設定された図７の(c)
に示す印字領域に走査位置が到達すると、レーザ光が画
像データに基づいてオン、オフ駆動され印字が行われ
る。従って、印字領域は２１０mmで２，４８０ドットと
なる。この印字領域の各端は図７の(b) に示すようにｂ
5 ブロック内に位置することになる。

【００４８】前記メモリ３３は、図８の(a) に示すよう
に、１走査の記録領域である印字領域の半分である１２
４０ドットよりも４ドット多い１２４４ドット分のｆθ
誤差補正用パルス幅データを記憶している。そしてこの
ｆθ誤差補正用パルス幅データのうちの先頭部の４ドッ
トと後尾部の４ドットをダミードットとし、先頭部のダ
ミードットには１走査に使用するｆθ誤差補正用パルス
幅データの平均値である「１４」をそれぞれ書き込み、
後尾部のダミードットにも１走査に使用するｆθ誤差補
正用パルス幅データの平均値である「１４」をそれぞれ
書き込む。

【００４９】ダミードット以外のｆθ誤差補正用パルス
幅データは各領域ｂ1 〜ｂ5 に対して前述した基準クロ
ックの配分の規則に従ったデータを書き込んである。

【００５０】このようにメモリ３３に記憶したｆθ誤差
補正用パルス幅データを用いて１走査における各ドット
を印字するための印字クロックを以下のように制御す
る。

【００５１】１走査目は図８の(b) に示すように、メモ
リ３３に記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを１ド
ット目から順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一
端から中央までの各ドットを印字する。そして１２４０
ドット目になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差補正用
パルス幅データを１２４０ドット目から順次読出して領
域ｂ1 〜ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各ドット
を印字する。

【００５２】１走査目が終了すると２走査目を開始する
が、２走査目は図８の(c) に示すように、メモリ３３に
記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを２ドット目か
ら順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から中
央までの各ドットを印字する。そして１２４１ドット目
になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差補正用パルス幅
データを１２４１ドット目から順次読出して領域ｂ1 〜
ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各ドットを印字す
る。

【００５３】２走査目が終了すると３走査目を開始する
が、３走査目は図８の(d) に示すように、メモリ３３に
記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを３ドット目か
ら順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から中
央までの各ドットを印字する。そして１２４２ドット目
になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差補正用パルス幅
データを１２４２ドット目から順次読出して領域ｂ1 〜
ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各ドットを印字す
る。

【００５４】３走査目が終了すると４走査目を開始する
が、４走査目は図８の(e) に示すように、メモリ３３に
記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを４ドット目か
ら順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から中
央までの各ドットを印字する。そして１２４３ドット目
になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差補正用パルス幅
データを１２４３ドット目から順次読出して領域ｂ1 〜
ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各ドットを印字す
る。

【００５５】４走査目が終了すると５走査目を開始する
が、５走査目は１走査目と同様ｆθ誤差補正用パルス幅
データを１ドット目から順次読出して印字を行う。

【００５６】このように、４走査の周期でスタートドッ
トを１つずつずらして印字を行うことにより、隣接する
走査ライン間の同一位置でのドット幅を異ならせること
ができ、縦線のモアレ発生を防止できることになる。

【００５７】また、このようなドット印字の制御を行う
と、図８の(f) に示すように、１ドット目では４走査間
でのドットのズレは発生しない。５ドット目では１走査
目と４走査目との間で｛（14−12）＋（14−12）＋（14
−13）｝／１２．３３＝５／１２．３３だけドットズレ
が生じる。なお、１２．３３はｂ5 ブロックのｆθ誤差
補正用パルス幅データの平均値である。

【００５８】しかし、その後１走査目と４走査目との間
のドットズレは徐々に小さくなり、中央の４ドット手前
では５／１５．０６のズレとなる。すなわち、領域のｆ
θ誤差補正用パルス幅データの平均値が１５．０６と大
きくなる中央付近ではドットのゆれが小さくなる。

【００５９】また、中央では各走査のｆθ誤差補正用パ
ルス幅データの総和が等しくなるので、ゆれはなくなり
０となる。そして、中央から走査終了側に４ドット進ん
だ位置では（１５−１４）×（ｎ−１）／１５．０６、
但し、ｎは走査間隔で、この場合は４となる。すなわ
ち、３／１５．０６のゆれとなり、徐々にゆれは大きく
なるが１／４以下のゆれに収まる。さらに、走査終了時
には再び各走査のｆθ誤差補正用パルス幅データの総和
が等しくなるので、ゆれはなくなり０となる。

【００６０】このように、前述した先願のものでは走査
終了時には１．３ドットものドットズレが生じたのに対
し、この実施例では書出し側のズレは若干あるものの走
査終了側でのゆれは０．２５ドット以下に押さえること
ができる。

【００６１】従って、例えば１頁の印字を終了した時点
で全体を見た場合のドットズレによる印字のゆれを小さ
くできる。

【００６２】（第２の実施例）この実施例は請求項１及
び請求項３に対応した実施例である。

【００６３】この実施例では前記メモリ３３は、図９の
(a) に示すように、１走査の記録領域である印字領域の
半分である１２４０ドットよりも４ドット多い１２４４
ドット分のｆθ誤差補正用パルス幅データを記憶してい
る。そしてこのｆθ誤差補正用パルス幅データのうちの
先頭部の４ドットと後尾部の４ドットをダミードットと
し、先頭部のダミードットには１走査に使用するｆθ誤
差補正用パルス幅データの平均値である「１４」よりも
「１」小さい「１３」をそれぞれ書き込み、後尾部のダ
ミードットには１走査に使用するｆθ誤差補正用パルス
幅データの平均値である「１４」をそれぞれ書き込む。

【００６４】ダミードット以外のｆθ誤差補正用パルス
幅データは各領域ｂ1 〜ｂ5 に対して前述した基準クロ
ックの配分の規則に従ったデータを書き込んである。

【００６５】なお、その他の構成は第１の実施例と同様
である。

【００６６】このようにメモリ３３に記憶したｆθ誤差
補正用パルス幅データを用いて１走査における各ドット
を印字するための印字クロックを以下のように制御す
る。

【００６７】１走査目は図９の(b) に示すように、メモ
リ３３に記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを１ド
ット目から順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一
端から中央までの各ドットを印字する。そして１２４０
ドット目になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差補正用
パルス幅データを１２４０ドット目から順次読出して領
域ｂ1 〜ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各ドット
を印字する。

【００６８】１走査目が終了すると２走査目を開始する
が、２走査目は図９の(c) に示すように、メモリ３３に
記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを２ドット目か
ら順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から中
央までの各ドットを印字する。そして１２４１ドット目
になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差補正用パルス幅
データを１２４１ドット目から順次読出して領域ｂ1 〜
ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各ドットを印字す
る。

【００６９】２走査目が終了すると３走査目を開始する
が、３走査目は図９の(d) に示すように、メモリ３３に
記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを３ドット目か
ら順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から中
央までの各ドットを印字する。そして１２４２ドット目
になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差補正用パルス幅
データを１２４２ドット目から順次読出して領域ｂ1 〜
ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各ドットを印字す
る。

【００７０】３走査目が終了すると４走査目を開始する
が、４走査目は図９の(e) に示すように、メモリ３３に
記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを４ドット目か
ら順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から中
央までの各ドットを印字する。そして１２４３ドット目
になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差補正用パルス幅
データを１２４３ドット目から順次読出して領域ｂ1 〜
ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各ドットを印字す
る。

【００７１】４走査目が終了すると５走査目を開始する
が、５走査目は１走査目と同様ｆθ誤差補正用パルス幅
データを１ドット目から順次読出して印字を行う。

【００７２】このように、４走査の周期でスタートドッ
トを１つずつずらして印字を行うことにより、隣接する
走査ライン間の同一位置でのドット幅を異ならせること
ができ、縦線のモアレ発生を防止できることになる。

【００７３】また、このようなドット印字の制御を行う
と、図９の(f) に示すように、１ドット目では４走査間
でのドットのズレは発生しない。また、書出し位置から
４ドット目までの累積ｆθ誤差補正用パルス幅データの
差は僅かに２でゆれは｛（13−12）＋（13−12）｝／１
２．３３＝２／１２．３３と小さい。なお、１２．３３
はｂ5 ブロックのｆθ誤差補正用パルス幅データの平均
値である。

【００７４】その後１走査目と４走査目との間のドット
ズレはさらに小さくなり、中央の４ドット手前では２／
１５．０６のズレとなる。すなわち、領域のｆθ誤差補
正用パルス幅データの平均値が１５．０６と大きくなる
中央付近ではドットのゆれが小さくなる。

【００７５】また、中央では｛（14−13）×３｝／１
５．０６＝２／１５．０６のゆれになるものの、中央か
ら走査終了側に４ドット進んだ位置ではゆれは０とな
る。

【００７６】その後、徐々にゆれは大きくなるが走査終
了の４ドット手前でもゆれは４／１２．３３程度であ
り、また、走査終了位置でのゆれも６／１２．３３程度
で済む。

【００７７】このように、この実施例では走査終了部で
若干ズレが大きくなるものの印字範囲の大部分ではゆれ
を小さく押さえることができる。

【００７８】従って、この実施例でも１頁の印字を終了
した時点で全体を見た場合のドットズレによる印字のゆ
れを小さくできる。

【００７９】なお、ｆθ誤差補正用パルス幅データを印
字範囲よりも多めに設定しておけば、前後の数ドット分
のゆれを印字させずに済むので見掛上のゆれをさらに小
さくできる。

【００８０】（第３の実施例）この実施例は請求項１及
び請求項４に対応した実施例である。

【００８１】この実施例では前記メモリ３３は、図１０
の(a) に示すように、１走査の記録領域である印字領域
の半分である１２４０ドットよりも４ドット多い１２４
４ドット分のｆθ誤差補正用パルス幅データを記憶して
いる。そしてこのｆθ誤差補正用パルス幅データのうち
の先頭部の４ドットと後尾部の４ドットをダミードット
とし、先頭部のダミードットには１走査に使用するｆθ
誤差補正用パルス幅データの平均値である「１４」をそ
れぞれ書き込み、後尾部のダミードットにも１走査に使
用するｆθ誤差補正用パルス幅データの平均値である
「１４」をそれぞれ書き込む。

【００８２】ダミードット以外のｆθ誤差補正用パルス
幅データは各領域ｂ1 〜ｂ5 に対して前述した基準クロ
ックの配分の規則に従ったデータを書き込んである。

【００８３】なお、その他の構成は第１の実施例と同様
である。

【００８４】このようにメモリ３３に記憶したｆθ誤差
補正用パルス幅データを用いて１走査における各ドット
を印字するための印字クロックを以下のように制御す
る。

【００８５】１走査目は図１０の(b) に示すように、メ
モリ３３に記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを１
ドット目から順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、
一端から中央部までの各ドットを印字する。そしてメモ
リ３３に記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データの最後
尾のドットである１２４４ドット目になると折り返し、
今度は逆にｆθ誤差補正用パルス幅データを１２４４ド
ット目から順次読出して領域ｂ1 〜ｂ5 、すなわち、中
央部から他端までの各ドットを印字する。従って１走査
目はメモリ３３に記憶したｆθ誤差補正用パルス幅デー
タの５ドット目を印字して終了することになる。

【００８６】１走査目が終了すると２走査目を開始する
が、２走査目は図１０の(c) に示すように、メモリ３３
に記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを２ドット目
から順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から
中央部までの各ドットを印字する。そしてこの場合も１
２４４ドット目になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差
補正用パルス幅データを１２４４ドット目から順次読出
して領域ｂ1 〜ｂ5 、すなわち、中央部から他端までの
各ドットを印字する。従って２走査目はメモリ３３に記
憶したｆθ誤差補正用パルス幅データの４ドット目を印
字して終了することになる。

【００８７】２走査目が終了すると３走査目を開始する
が、３走査目は図１０の(d) に示すように、メモリ３３
に記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを３ドット目
から順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から
中央部までの各ドットを印字する。そしてこの場合も１
２４４ドット目になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差
補正用パルス幅データを１２４４ドット目から順次読出
して領域ｂ1 〜ｂ5 、すなわち、中央部から他端までの
各ドットを印字する。従って３走査目はメモリ３３に記
憶したｆθ誤差補正用パルス幅データの３ドット目を印
字して終了することになる。

【００８８】３走査目が終了すると４走査目を開始する
が、４走査目は図１０の(e) に示すように、メモリ３３
に記憶したｆθ誤差補正用パルス幅データを４ドット目
から順次読出して領域ｂ5 〜ｂ1 、すなわち、一端から
中央部までの各ドットを印字する。そしてこの場合も１
２４４ドット目になると折り返し、今度は逆にｆθ誤差
補正用パルス幅データを１２４４ドット目から順次読出
して領域ｂ1 〜ｂ5 、すなわち、中央から他端までの各
ドットを印字する。従って４走査目はメモリ３３に記憶
したｆθ誤差補正用パルス幅データの２ドット目を印字
して終了することになる。

【００８９】４走査目が終了すると５走査目を開始する
が、５走査目は１走査目と同様ｆθ誤差補正用パルス幅
データを１ドット目から順次読出して印字を行う。

【００９０】このように、４走査の周期でスタートドッ
トを１つずつずらして印字を行うことにより、隣接する
走査ライン間の同一位置でのドット幅を異ならせること
ができ、縦線のモアレ発生を防止できることになる。

【００９１】また、このようなドット印字の制御を行う
と、図１０の(f) に示すように、１ドット目では４走査
間でのドットのズレは発生しない。４ドット目では１走
査目と４走査目との間で５／１２．３３だけドットズレ
が生じが、その後、ドットズレは徐々に小さくなり、中
央の４ドット手前では３／１５．０６のズレとなる。

【００９２】そして、中央部で各走査のｆθ誤差補正用
パルス幅データの総和が等しくなるので、ゆれはなくな
り０となる。そして、折返し位置から走査終了側に４ド
ット進んだ位置では３／１５．０６のゆれとなり、その
後、徐々にゆれは大きくなり、走査終了の４ドット手前
では５／１２．３３のゆれとなるが、走査終了時には再
び各走査のｆθ誤差補正用パルス幅データの総和が等し
くなるので、ゆれはなくなり０となる。

【００９３】このように、この実施例では書出し側と走
査終了側でズレは若干大きくなるものの全体としてゆれ
を小さく押さえることができる。

【００９４】従って、例えば１頁の印字を終了した時点
で全体を見た場合のドットズレによる印字のゆれを小さ
くできる。

【００９５】なお、前記各実施例では４走査の周期でス
タートドットを１つずつずらして印字を行う場合につい
て述べたが必ずしもこれに限定するものではなく、２〜
３走査の周期で行っても、また４走査を越える周期で行
ってもよい。２〜３走査の周期でスタートドットを１つ
ずつずらして印字を行った場合にはゆれをさらに小さく
できる。但し、縦線のモアレは走査周期を大きくした方
が目立たなくなるので、走査周期をどの程度にするかは
印字サンプルを見て決定すればよい。なお、走査周期は
２〜４程度が最適である。

【００９６】

【発明の効果】以上、各請求項対応の発明によれば、電
気的にｆθ誤差の補正を行うものにおいて、モアレ発生
を防止でき、しかもドットズレにより印字にギザギザの
ゆれが生じるのを極力防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を示す筐体を省いた状態
の平面図。

【図２】図１のＡ−Ａ線に沿った断面図。

【図３】同実施例における感光面での走査範囲を示す
図。

【図４】同実施例における走査スピードの変化と最大位
置誤差との関係を示す図。

【図５】同実施例における走査位置と分割ブロック及び
最大位置誤差の関係を示す図。

【図６】同実施例の制御回路構成を示すブロック図。

【図７】同実施例における書出し位置検出信号と走査範
囲、印字領域との関係を示す図。

【図８】同実施例におけるメモリに記憶したｆθ誤差補
正用パルス幅データと各走査に使用するｆθ誤差補正用
パルス幅データとドットズレとの関係を示す図。

【図９】本発明の第２の実施例におけるメモリに記憶し
たｆθ誤差補正用パルス幅データと各走査に使用するｆ
θ誤差補正用パルス幅データとドットズレとの関係を示
す図。

【図１０】本発明の第３の実施例におけるメモリに記憶
したｆθ誤差補正用パルス幅データと各走査に使用する
ｆθ誤差補正用パルス幅データとドットズレとの関係を
示す図。

【図１１】従来例を示す斜視図。

【図１２】同従来例における走査位置に対するレーザ制
御信号の周期を示す図。

【図１３】先願におけるメモリに記憶したｆθ誤差補正
用パルス幅データと各走査に使用するｆθ誤差補正用パ
ルス幅データとドットズレとの関係を示す図。

【符号の説明】

１１…半導体レーザ発振器 １５…スキャナモータ １６…直角プリズム ３３…メモリ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録情報に基づいてオン、オフするレー
   ザ光を偏向し、このレーザ光を主走査方向に走査してド
   ット単位で情報を記録する光走査装置において、レーザ
   光の１走査中における走査速度の変化により発生するｆ
   θ誤差を補正するために、１走査における各ドットに対
   応する駆動パルス幅を決めるｆθ誤差補正用パルス幅デ
   ータを記録領域幅の半分のドット数よりも所定ドット長
   いドット数分メモリに記憶し、このメモリに記憶したｆ
   θ誤差補正用パルス幅データは、記録領域の一端側に対
   応する先頭部の数ドットを１走査に使用するｆθ誤差補
   正用パルス幅データの平均値か平均値近傍の値とし、記
   録領域の中央部に対応する後尾部の記録領域幅の半分を
   越える所定ドットを１走査に使用するｆθ誤差補正用パ
   ルス幅データの平均値の値とし、レーザ光の１走査にお
   いて前記メモリからｆθ誤差補正用パルス幅データを読
   出し、これを使用して記録領域の一端から中央部までの
   ｆθ誤差補正を行い、残りの記録領域の中央部から他端
   までのｆθ誤差補正は読出したｆθ誤差補正用パルス幅
   データを逆に折り返して使用し、隣接する走査ライン間
   で前記メモリから読み出すｆθ誤差補正用パルス幅デー
   タの読出し位置を変化させることを特徴とする光走査装
   置のｆθ誤差補正方法。
2. 【請求項２】 メモリに記憶するｆθ誤差補正用パルス
   幅データを記録領域幅の半分のドット数よりも数ドット
   長いドット数分とし、このｆθ誤差補正用パルス幅デー
   タは、先頭部及び後尾部の数ドットを１走査に使用する
   ｆθ誤差補正用パルス幅データの平均値の値とし、レー
   ザ光の１走査において前記メモリからｆθ誤差補正用パ
   ルス幅データを読出し、これを使用して記録領域の一端
   から中央までの半分のｆθ誤差補正を行い、残りの半分
   のｆθ誤差補正は読出したｆθ誤差補正用パルス幅デー
   タを逆に折り返して使用し、隣接する走査ライン間で前
   記メモリから読み出すｆθ誤差補正用パルス幅データの
   読出し開始位置を先頭部の数ドットのうちの少なくとも
   １ドットが含むように変化させ、使用する１走査のｆθ
   誤差補正用パルス幅データの値の総和及び１走査の半分
   のｆθ誤差補正用パルス幅データの値の総和が前記メモ
   リから読み出すｆθ誤差補正用パルス幅データの読出し
   開始位置を変化しても同一となるようにしたことを特徴
   とする請求項１記載の光走査装置のｆθ誤差補正方法。
3. 【請求項３】 メモリに記憶するｆθ誤差補正用パルス
   幅データを記録領域幅の半分のドット数よりも数ドット
   長いドット数分とし、このｆθ誤差補正用パルス幅デー
   タは、先頭部の数ドットを１走査に使用するｆθ誤差補
   正用パルス幅データの平均値よりも小さい値とし、後尾
   部の数ドットを１走査に使用するｆθ誤差補正用パルス
   幅データの平均値の値とし、レーザ光の１走査において
   前記メモリからｆθ誤差補正用パルス幅データを読出
   し、これを使用して記録領域の一端から中央までの半分
   のｆθ誤差補正を行い、残りの半分のｆθ誤差補正は読
   出したｆθ誤差補正用パルス幅データを逆に折り返して
   使用し、隣接する走査ライン間で前記メモリから読み出
   すｆθ誤差補正用パルス幅データの読出し開始位置を先
   頭部の数ドットのうちの少なくとも１ドットを含むよう
   に変化させることを特徴とする請求項１記載の光走査装
   置のｆθ誤差補正方法。
4. 【請求項４】 メモリに記憶するｆθ誤差補正用パルス
   幅データを記録領域幅の半分のドット数よりも数ドット
   長いドット数分とし、このｆθ誤差補正用パルス幅デー
   タは、先頭部及び後尾部の数ドットを１走査に使用する
   ｆθ誤差補正用パルス幅データの平均値の値とし、レー
   ザ光の１走査において前記メモリからｆθ誤差補正用パ
   ルス幅データを読出し、これを使用して記録領域一端か
   ら中央部までのｆθ誤差補正を行い、記録領域の残りの
   ｆθ誤差補正は読出したｆθ誤差補正用パルス幅データ
   を逆に折り返して使用し、隣接する走査ライン間で前記
   メモリから読み出すｆθ誤差補正用パルス幅データの読
   出し開始位置を先頭部の数ドットのうちの少なくとも１
   ドットが含むように変化させ、かつｆθ誤差補正用パル
   ス幅データの折り返し位置を常にｆθ誤差補正用パルス
   幅データの最後尾ドットとしたことを特徴とする請求項
   １記載の光走査装置のｆθ誤差補正方法。