JPH0792407A - 光走査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】電気的にｆθ誤差補正及び各ドットの露光量補
正を行うものにおいて、回路構成の簡単化を図る 【構成】メモリからラッチ回路に読み出されたｆθ誤差
補正用パルス幅データをプログラマブルカウンタに入力
すると共にレーザダイオードドライバーに電流補正用デ
ータｄ1 として入力する。カウンタはパルス幅データと
基準クロックのカウント値を比較するとともに画像デー
タを取り込み、カウント値がパルス幅データに達するタ
イミングで画像データｄ2 をドライバーに出力する。ド
ライバーは、電流スイッチ回路４６ａと電流値制御回路
４６ｂからなり、電流スイッチ回路は画像データｄ2 に
基づいて所定のタイミングでレーザダイオード２１ａを
オン、オフ制御し、電流値制御回路は電流補正用データ
ｄ1 に基づいてレーザダイオードに通電する電流値を制
御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、レーザプリンタ、レー
ザファクス、デジタル複写機等に使用する光走査装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】例えばレーザプリンタに使用する光走査
装置はレーザ光を偏向走査して結像面である感光体ドラ
ム面に照射するようになっているが、このような光走査
装置では主走査・副走査像面湾曲、走査線湾曲、ｆθ誤
差、面倒れの各光学収差の補正を純光学的に行うことが
一般的で、複数枚のｆθレンズと面倒れ補正シリンダー
状レンズを組合わせる構造が知られている。また光学系
を簡単にするため、ｆθレンズを使用せずに楕円筒ポリ
ゴンミラーと両面非球面補正レンズの組合わせで光学収
差補正を行うものも知られている。

【０００３】また光学収差のうち、ｆθ誤差（レーザ光
を一定角速度で走査した場合に走査面上でのレーザ光の
走査速度が走査位置によって変化するため、画素の間隔
が一定にならないという誤差）については電気的補正に
より行い、その他の収差を光学的に補正するものも知ら
れている。

【０００４】例えば特開平２−１３１２１２号公報のも
のは、図１１に示すように、半導体レーザ１からの発散
レーザ光をコリメータレンズ２で収束又は平行光束に修
正し、その修正したレーザ光をシリンドリカルレンズ３
を介してポリゴンミラー４に照射して偏向走査し、その
偏向光をトロイダルレンズ５を介して折り返しミラー
６，７で反射させて感光体ドラム８上に結像させる構成
になっている。

【０００５】この装置では感光体ドラム面の主走査ライ
ン９上を走査させる場合に、主走査ライン９において、
中心部から端部にわたって走査速度に差が生じるため、
すなわち中央部に比べて端部の走査速度が大きくなるた
め、等時的なタイミングで露光したのではドットピッチ
にばらつきが生じるという問題がある。

【０００６】そこで主走査ライン９の全領域を中央で二
分し、それぞれの半分の領域を図１２に示すようにａ〜
ｇの７ブロックに分割し、各ブロックａ〜ｇにおいて印
字クロックの１０倍の基準クロックの１０パルス分で１
ドットを構成する部分と９パルス分で１ドットを構成す
る部分との比率を変化させて、端部になるに従ってドッ
ト印字タイミングを早め、それにより巨視的に中央部か
ら端部にわたって画素間隔が均一になるようにし電気的
にｆθ誤差の補正を行うようにしている。すなわち、ｆ
θ誤差の補正を図１３に示すように走査速度補正回路１
０とパルス幅補正回路１１を使用して行っている。この
各補正回路１０，１１はそれぞれ基準クロック発振器、
アドレスカウンタ、ＲＯＭ、ラッチ回路を設け、走査速
度補正回路１０はさらにクロック発振器、プログラマブ
ルカウンタを設け、パルス幅補正回路１１はさらに変調
器を設けている。

【０００７】一方、基準クロック発振器１２、アドレス
カウンタ１３、ＲＯＭ１４、ラッチ回路１５及びパワー
コントローラ１６で構成した露光量補正回路１７を別途
設け、走査速度が中央部と端部とで異なることによって
発生する各ドットの露光量の変化、すなわち、露光むら
を半導体レーザの入力電流を制御することによって補正
している。

【０００８】このように公報のものは、ｆθ誤差を補正
する回路系と露光量の補正を行う回路系をそれぞれ独立
して設け、ｆθ誤差補正と各ドットの露光量補正を個々
に行って半導体レーザドライブ回路１８を駆動するよう
になっている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしこの公報のよう
に、ｆθ誤差を補正する回路系と露光量の補正を行う回
路系をそれぞれ独立して設けたのでは、基準クロック発
振器、アドレスカウンタ、ＲＯＭ、ラッチ回路を各補正
回路において個々に設けなければならず、全体として回
路構成が複雑化し、かつコスト的にも高価となる問題が
あった。

【００１０】そこで本発明は、電気的にｆθ誤差補正及
び各ドットの露光量補正を行うものにおいて、全体の回
路構成を簡単にできるとともにコスト低下を図ることが
できる光走査装置を提供する。

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１対応の発明は、
記録情報に基づいてレーザダイオードをオン、オフ制御
し、そのレーザダイオードから出射するレーザ光を偏向
走査し、結像面にレーザ光を集光してドット単位で情報
を記録する光走査装置において、レーザ光の１走査中に
おける走査速度の変化により発生するｆθ誤差を補正す
るために、１走査における各ドットに対応する駆動パル
ス幅を決めるデータを記憶した記憶手段と、１走査毎に
記憶手段からデータを読出し、そのデータに対応する駆
動パルス幅に基づいてレーザ光をオン、オフ制御するオ
ン、オフ制御手段と、１走査毎に記憶手段から読出され
るデータが決める駆動パルス幅の大きさに対して反比例
するようにレーザダイオードに通電する電流値を制御す
る電流値制御手段を設けたものである。

【００１２】請求項２対応の発明は、電流値制御手段と
して、予め設定した基準電流値をＩ_s 、基準電流値にお
ける駆動パルス幅をＴ_s 、ｎ画素目の駆動パルス幅をＴ
_n としたとき、ｎ画素目の電流値Ｉ_n を、Ｉ_n ＝Ｉ_s ＋
Ｉ_s ・ｋ・（Ｔ_s −Ｔ_n ）／Ｔ_s の関係に制御する構成
としたものである。

【００１３】

【作用】このような構成の本発明においては、１走査毎
に記憶手段からデータを読出し、そのデータに対応する
駆動パルス幅に基づいてレーザ光をオン、オフ制御する
とともにそのデータが決める駆動パルス幅の大きさに対
して反比例するようにレーザダイオードに通電する電流
値を制御する。これによりｆθ誤差補正と露光量補正を
記憶手段に記憶しているデータを共通に使用して行うこ
とができる。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。

【００１５】図１及び図２に示すように、半導体レーザ
発振器２１からのレーザ光を収束レンズ２２で発散気味
の光束に変換した後スリット２３で円形のビームに成形
し、そのビームを反射ミラー２４に反射し直角に光路を
変更した後、スキャナモータ２５のロータ２５ａの回転
軸２５ｂ上に配置している直角プリズム２６の２つの４
５°反射面に照射している。すなわち前記直角プリズム
２６は、互いに直交する２つの面を反射面にしている。
そしてこの２つの反射面に挟まれた長方形の面の中心を
スキャナモータ２５の回転軸２５ｂに合わせて配置し、
反射ミラー２４からの反射光をスキャナモータ２５の回
転軸２５ｂから数mm程度離れた位置にその回転軸２５ｂ
に平行に入射している。

【００１６】前記スキャナモータ２５はロータ２５ａに
マグネット２５ｃを一体に取付けている。前記回転軸２
５ｂはステータ部材２５ｄにボールベアリング２５ｅを
介して回転自在に取付けている。前記ステータ部材２５
ｄにはスペーサ２５ｆを介して回路基板２５ｇを固定
し、この回路基板２５ｇの前記マグネット２５ｃと対向
した部位の裏面側にはコイル２５ｈを取付けている。

【００１７】前記反射ミラー２４からの反射光は前記ス
キャナモータ２５で回転駆動する直角プリズム２６の反
射面で反射してスキャナモータ２５の回転軸２５ｂに垂
直な平面方向に偏向走査する偏向光に変換した後、入射
面よりも出射面の曲率半径が小さく、外側に向かって凸
のメニスカスレンズ２７に入射し、図３に示すように偏
向点、すなわち直角プリズム２６の反射点から距離Ｌ隔
てた位置にある結像面、例えば感光体ドラムの感光面３
０に結像するようになっている。この偏向光の中心から
の最大振れ角はθとなっている。

【００１８】前記半導体レーザ発振器２１、収束レンズ
２２及びスリット２３は光出射ユニット２８として一体
化している。前記メニスカスレンズ２７はケース２９内
に組み込まれている。

【００１９】そして前記光出射ユニット２８を例えば合
成樹脂等からなる装置全体を包囲する筐体３１の上部後
方に嵌め込み、前記反射ミラー２４を前記筐体３１の上
部前方の傾斜部に埋設し、前記ケース２９を前記筐体３
１の前部開口部に嵌め込んでいる。前記筐体３１はその
フランジ部を前記スキャナモータ２５のステータ部材２
５ｄの周縁部にネジ止めしている。

【００２０】前記直角プリズム２６の反射面からの偏向
光は、感光体ドラムの感光面３０に結像するが、その感
光面３０での走査スピードは図４に示すように中央部か
ら端部へ行くに従って速くなる。

【００２１】そこで中央から１１０mm離れた位置で最大
画角となるようにクロックを決めると、走査位置６５mm
付近での速度が平均走査速度なり、これを基準走査速度
としてその速度を基準に印字クロックを決め、かつ中央
と端で正規位置に画素が重なるように光学系を設定する
と、中央部近傍では正規ドット位置より中央に縮まり、
走査位置６５mm付近で最大位置ずれが生じ、端部近傍で
徐々に正規位置に近付き１１０mmの位置で正規位置と重
なるようになる。すなわち走査位置と最大位置誤差の関
係は図４のグラフ（イ）に示すようになる。

【００２２】そこでこのようなｆθ誤差をデジタル的に
補正するため、中央から端部までの走査距離１１０mmを
図５に示すようにｂ1 〜ｂ5 の５ブロックの領域に分割
する。そしてｂ1 ブロックを４０mm、ｂ2 ブロックを１
８mm、ｂ3 ブロックを１６mm、ｂ4 ブロックを１８mm、
ｂ5 ブロックを１８mmに設定する。

【００２３】例えば１走査幅を２２０mmとすると、解像
度が３００dpi では２５９８ドットとなる。従って、ｂ
1 ブロックは４７３ドット、ｂ2 ブロックは２１２ドッ
ト、ｂ3 ブロックは１８９ドット、ｂ4 ブロックは２１
３ドット、ｂ5 ブロックは２１２ドットとなる。

【００２４】そこで基準クロックとして画素クロックの
１６倍のクロックを使用した場合には、ｂ1 ブロックは
基準クロック１６個で１ドットを構成するものを１／１
８の割合にし、基準クロック１５個で１ドットを構成す
るものを１７／１８の割合にする。またｂ2 ブロックは
基準クロック１５個で１ドットを構成するものを１／２
の割合にし、基準クロック１４個で１ドットを構成する
ものを１／２の割合にする。またｂ3 ブロックは基準ク
ロック１４個で１ドットを構成する。またｂ4ブロック
は基準クロック１４個で１ドットを構成するものを１／
３の割合にし、基準クロック１３個で１ドットを構成す
るものを２／３の割合にする。さらにｂ5 ブロックは基
準クロック１３個で１ドットを構成するものを１／３の
割合にし、基準クロック１２個で１ドットを構成するも
のを２／３の割合にする。

【００２５】以上のような規則に従って画素クロック
幅、すなわち印字ドット幅を規定することにより解像度
３００dpi の場合のｆθ誤差をデジタル的に補正するこ
とが可能となる。

【００２６】また、露光量変化、すなわち露光むらの補
正は半導体レーザ発振器２１を構成するレーザダイオー
ドを発光させる電流を制御することで補正することが可
能となる。

【００２７】本実施例の光学系では前述したように走査
速度は中央に比べ端部に行くに従い速くなる。そのとき
のレーザダイオードによる１画素当たりの露光強度は中
央に比べ端部に行くに従い弱くなる。すなわち露光量が
端部に行くに従い低下する。そこでｆθ誤差を補正する
ための基準走査速度を設定したときと同様に考えれば、
中央より６５mm離れた走査位置付近の露光強度が平均露
光強度、すなわち基準露光強度となる。これを図で示せ
ば図６に示すようになる。

【００２８】ここで中央における露光強度、レーザダイ
オードの発光量、１画素当たりの露光時間（駆動パルス
幅）をそれぞれＥ0 、Ｐ0 、Ｔ0 、走査位置６５mm、す
なわち基準位置における露光強度、レーザダイオードの
発光量、１画素当たりの露光時間（駆動パルス幅）をそ
れぞれＥ65、Ｐ65、Ｔ65、中央から１１０mm離れた端に
おける露光強度、レーザダイオードの発光量、１画素当
たりの露光時間（駆動パルス幅）をそれぞれＥ110 、Ｐ
110 、Ｔ110 とすると、Ｅ0 、Ｅ65、Ｅ110 はそれぞれ
次式で表わせる。

【００２９】 Ｅ0 ＝Ｐ0 ・Ｔ0 …(1) Ｅ65＝Ｐ65・Ｔ65 …(2) Ｅ110 ＝Ｐ110 ・Ｔ110 …(3) 露光強度の補正を行い、露光むらがないようにするため
には、 Ｅ0 ＝Ｅ65＝Ｅ110 …(4) とすればよいことが判る。ここで、１画素当たりの露光
時間（駆動パルス幅）Ｔ0 、Ｔ65、Ｔ110 は前述したｆ
θ誤差補正に使用する基準クロックの各位置での数に等
しいので、それぞれＴ0 ＝１６、Ｔ65＝１４、Ｔ110 ＝
１２と置き換えられる。

【００３０】この結果、Ｐ0 、Ｐ65、Ｐ110 の関係は、 Ｐ0 ＝Ｐ65・１６／１４ …(5) Ｐ110 ＝Ｐ65・１２／１４ …(6) となり、このようにレーザの発光量の関係を満足すれば
露光むらがなくなる。

【００３１】一方、レーザダイオードの発光特性は図７
に示すようになっており、途中に電流量と発光量が比例
する安定部分、すなわちＡ領域があり、このＡ領域を使
用すれば電流制御によって簡単に発光量を制御できる。

【００３２】そこで、Ａ範囲の中心点Ｃを仮にＰ65のレ
ーザ発光量を得る電流値Ｉ65とすれば、Ｂ点がＰ0 のレ
ーザ発光量を得る電流値Ｉ0 、Ｄ点がＰ110 のレーザ発
光量を得る電流値Ｉ110 となる。

【００３３】従って、レーザの発光量Ｐ0 は、 Ｉ0 ＝Ｉ65＋Ｉ65・ｋ・（１４−１６）／１４ …(7) の電流により補正され、また、レーザの発光量Ｐ110
は、 Ｉ110 ＝Ｉ65＋Ｉ65・ｋ・（１４−１２）／１４ …(8) の電流により補正されることになる。なお、ｋは、レー
ザダイオードの発光特性の比例係数である。

【００３４】従って、中央からｎmm離れた位置でのレー
ザの電流値Ｉn は、 Ｉn ＝Ｉ65＋Ｉ65・ｋ・（１４−Ｔn ）／１４ …(9) となる。

【００３５】以上の結果により電流値は露光時間から簡
単に求めることができる。

【００３６】図７は回路構成を示すブロック図で、４１
は書出し位置検出信号によりカウントを開始するライン
カウンタである。このラインカウンタ４１のカウント出
力をアドレスカウンタ４２に入力している。

【００３７】４３はメモリで、このメモリ４３には前述
したｆθ誤差をデジタル的に補正するｆθ誤差補正用パ
ルス幅データを格納している。このパルス幅データは、
解像度３００dpi の場合は、２５９８画素＋ｎ（ｎ≧１
の整数）画素のデータからなる。例えばｎ＝１とし、１
〜２５９９番目のアドレスにｆθ誤差補正用パルス幅デ
ータを格納している。

【００３８】ｆθ誤差補正用パルス幅データを１ライン
分よりもｎ画素分多く格納するのは、隣接する主走査間
で使用する画素のｆθ誤差補正用パルス幅データの範囲
をずらせることにより各主走査間で対応する画素が常に
同一位置となるのを防止し、これにより縦線のモアレ発
生を防止している。

【００３９】この切換えは、ラインカウンタ４１の出力
をアドレスカウンタ４２に入力することで容易に達成で
きる。

【００４０】前記アドレスカウンタ４２からのカウント
データにより前記メモリ４３から読み出されたｆθ誤差
補正用パルス幅データはラッチ回路４４でラッチし、こ
のラッチ回路４４の出力をプログラマブルカウンタ４５
及びレーザダイオードドライバー４６にそれぞれ入力し
ている。すなわち前記ラッチ回路４４からのパルス幅デ
ータはレーザダイオードの電流補正用データｄ1 として
レーザダイオードドライバー４６に入力している。

【００４１】４７は印字クロックの１６倍の基準クロッ
クを発生する基準クロック発振器で、この発振器４７か
らの基準クロックを前記プログラマブルカウンタ４５で
カウントしている。

【００４２】前記プログラマブルカウンタ４５はラッチ
回路４４からのｆθ誤差補正用パルス幅データと基準ク
ロックのカウント値を比較するとともに画像データを取
り込み、カウント値がパルス幅データに達するタイミン
グで画像データｄ2 を前記レーザダイオードドライバ４
６に出力している。

【００４３】前記レーザダイオードドライバ４６は、図
９に示すように、電流スイッチ回路４６ａと電流値制御
回路４６ｂからなり、前記電流スイッチ回路４６ａは画
像データｄ2 に基づいて所定のタイミングでレーザダイ
オード２１ａをオン、オフ制御し、また、前記電流値制
御回路４６ｂは電流補正用データｄ1 に基づいて前述し
た(9) 式の関係を保つようにレーザダイオード２１ａに
通電する電流値を制御する。

【００４４】このような構成の実施例においては、半導
体レーザ発振器２１からのレーザ光は収束レンズ２２で
発散気味の光束に変換した後スリット２３で円形のビー
ムとなる。円形のビームとなったレーザ光は反射ミラー
２４で反射し直角に光路を変更してスキャナモータ２５
の回転軸２５ｂ上に配置している直角プリズム２６の反
射面に照射する。そしてレーザ光は回転する直角プリズ
ム２６により回転軸に垂直な平面方向を走査する偏向走
査光となる。この走査光はメニスカスレンズ２７を介し
て感光面３０に結像する。

【００４５】ラインカウンタ４１は図１０の(a) に示す
書出し位置検出信号Ｓによりカウント動作を開始する。
そしてラインカウンタ４１が所定値になるとアドレスカ
ウンタ４２はメモリ４３のアドレス指定を行う。

【００４６】このアドレス指定により、メモリ４３から
は対応する画素のｆθ誤差補正用パルス幅データが読み
出されてラッチ回路４４に入力する。そしてラッチ回路
４４はラッチしたパルス幅データを、プログラマブルカ
ウンタ４５に出力すると共に、レーザダイオードドライ
バー４６に電流補正用データｄ1 として出力する。

【００４７】プログラマブルカウンタ４５は、ラッチ回
路４４からのパルス幅データと基準クロック発振器４７
からの基準クロックをカウントした結果に応じた長さで
画像データｄ2 をレーザダイオードドライバー４６に出
力する。

【００４８】レーザダイオードドライバー４６は電流補
正用データｄ1 に基づいて電流値制御回路４６ｂを駆動
し前述した(9) 式の関係を保つようにレーザダイオード
２１ａに通電する電流値を制御する。また、レーザダイ
オードドライバー４６は画像データｄ2 に基づいて電流
スイッチ回路４６ａを駆動し、レーザダイオード２１ａ
への通電をオン、オフ制御する。

【００４９】こうしてレーザダイオード２１ａの通電制
御が行われ、半導体レーザ発振器２１は発振動作する。

【００５０】そしてこの装置では図１０の(b) に示すよ
うに１走査をｂ5 、ｂ4 、ｂ3 、ｂ2 、ｂ1 、ｂ1 、ｂ
2 、ｂ3 、ｂ4 、ｂ5 ブロックという順にたどり、各ブ
ロック毎に決められた画素クロック幅でドット印字を行
い、１走査で２５９８ドットを印字する。こうしてｆθ
誤差の補正が電気的に行われることになる。

【００５１】そして奇数ラインの走査では図１０の(c)
に示すように１〜２５９８番目のアドレスに格納してい
るデータをメモリ４３から読出してラッチ回路４４にラ
ッチし、また偶数ラインの走査では図１０の(d) に示す
ように２〜２５９９番目のアドレスに格納しているデー
タをメモリ４３から読出してラッチ回路４４にラッチす
る。

【００５２】すなわち奇数ラインの走査ではｂ5 ブロッ
クにおいては先ず基準クロック１３個で１ドットを構成
する出力を１回行い、次に基準クロック１２個で１ドッ
トを構成する出力を２回行い、以降この出力制御を繰り
返す。

【００５３】またｂ4 ブロックにおいては基準クロック
１４個で１ドットを構成する出力を１回行い、次に基準
クロック１３個で１ドットを構成する出力を２回行い、
以降この出力制御を繰り返す。

【００５４】またｂ3 ブロックにおいては基準クロック
１４個で１ドットを構成する出力制御のみを行う。

【００５５】またｂ2 ブロックにおいては基準クロック
１５個で１ドットを構成する出力と基準クロック１４個
で１ドットを構成する出力を交互に繰り返す出力制御を
行う。

【００５６】さらにｂ1 ブロックにおいては基準クロッ
ク１６個で１ドットを構成する出力を１回行い、次に基
準クロック１５個で１ドットを構成する出力を１７回行
い、以降この出力制御を繰り返す。

【００５７】以上により１走査の半分の出力制御が終了
し、残りの半分は逆にｂ1 、ｂ2 、ｂ3 、ｂ4 、ｂ5 ブ
ロックの順に出力制御を行う。

【００５８】こうして奇数ラインの走査が終了すると次
に偶数ラインの走査を行うがこのときにはｂ5 ブロック
の最初は２番目のデータから始まる。すなわち偶数ライ
ンのｂ5 ブロックにおいては先ず基準クロック１２個で
１ドットを構成する出力を２回行い、次に基準クロック
１３個で１ドットを構成する出力を１回行い、次に基準
クロック１２個で１ドットを構成する出力を２回行い、
以降１回の基準クロック１３個で１ドットを構成する出
力と２回の基準クロック１２個で１ドットを構成する出
力を繰り返す。

【００５９】こうして奇数ラインと偶数ラインとのｆθ
誤差補正用パルス幅データのパターンをずらすことがで
きるので、各ライン間で主走査方向の同じ位置が同じパ
ルス幅になることがなく、縦線のモアレ発生を極力防止
することができる。

【００６０】また、奇数ラインの走査のとき例えばｂ5
ブロックにおいては基準クロック１３個で１ドットを構
成する出力を１回行い、次に基準クロック１２個で１ド
ットを構成する出力を２回行い、以降この出力制御を繰
り返すことになるが、このときレーザダイオード２１ａ
に通電する電流値は中央から６５mmの位置での基準電流
値Ｉ65に対して、Ｉn ＝Ｉ65＋Ｉ65・ｋ・（１４−Ｔn
）／１４の関係で変化する。例えば最初の基準クロッ
ク１３個で１ドットを構成する出力のときには、Ｉ65＋
Ｉ65・ｋ・（１４−１３）／１４となり、また次の基準
クロック１２個で１ドットを構成する出力のときには、
Ｉ65＋Ｉ65・ｋ・（１４−１２）／１４となり、電流値
は基準値に対して図１０の(e) に示すように変化する。

【００６１】また、偶数ラインの走査のときも同様に電
流値が制御され、図１０の(f) に示すように変化する。

【００６２】このように走査位置に応じて各画素毎にレ
ーザダイオード２１ａに通電する電流値、すなわちレー
ザ発光量が制御され、各画素間で略同一の露光強度にな
るように制御される。従って露光むらのない品質の高い
印字ができる。

【００６３】しかもラッチ回路４４がラッチしたｆθ誤
差補正用パルス幅データを、プログラマブルカウンタ４
５に出力すると共にレーザダイオードドライバー４６に
電流補正用データｄ1 として出力し、レーザダイオード
ドライバー４６は、この電流補正用データｄ1 に基づい
て電流値制御回路４６ｂを制御し、かつプログラマブル
カウンタ４５からの画像データｄ2 に基づいて電流スイ
ッチ回路４６ａを制御しているので、ｆθ誤差補正用パ
ルス幅データを画素クロック幅の制御と電流値の制御の
両方に共通に使用でき、画素クロック幅の制御系と電流
値の制御系とを個々に独立して設けるものに比べて回路
構成が簡単でコスト的にも安価となる。

【００６４】

【発明の効果】以上、本発明によれば、電気的にｆθ誤
差補正及び各ドットの露光量補正を行うものにおいて、
全体の回路構成を簡単にできるとともにコスト低下を図
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す筐体を省いた状態の平
面図。

【図２】図１のＡ−Ａ線に沿った断面図。

【図３】同実施例における感光面での走査範囲を示す
図。

【図４】同実施例における走査スピードの変化と最大位
置誤差との関係を示す図。

【図５】同実施例における走査位置と分割ブロック及び
最大位置誤差の関係を示す図。

【図６】同実施例における走査位置と露光強度の関係を
示す図。

【図７】同実施例におけるレーザダイオードの発光特性
を示す図。

【図８】同実施例の制御回路構成を示すブロック図。

【図９】図８のレーザダイオードドライバーの回路構成
を示す図。

【図１０】同実施例の１走査における画素クロック幅の
変化及びレーザダイオード電流値変化を部分的に示す
図。

【図１１】従来例を示す斜視図。

【図１２】同従来例における走査位置に対するレーザ制
御信号の周期を示す図。

【図１３】同従来例の回路ブロック図。

【符号の説明】

２１…半導体レーザ発振器 ２１ａ…レーザダイオード ２６…直角プリズム ４１…ラインカウンタ ４２…アドレスカウンタ ４３…メモリ ４５…プログラマブルカウンタ ４６…レーザダイオードドライバー ４６ａ…電流スイッチ回路 ４６ｂ…電流値制御回路

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録情報に基づいてレーザダイオードを
   オン、オフ制御し、そのレーザダイオードから出射する
   レーザ光を偏向走査し、結像面にレーザ光を集光してド
   ット単位で情報を記録する光走査装置において、レーザ
   光の１走査中における走査速度の変化により発生するｆ
   θ誤差を補正するために、１走査における各ドットに対
   応する駆動パルス幅を決めるデータを記憶した記憶手段
   と、１走査毎に前記記憶手段からデータを読出し、その
   データに対応する駆動パルス幅に基づいてレーザ光をオ
   ン、オフ制御するオン、オフ制御手段と、１走査毎に前
   記記憶手段から読出されるデータが決める駆動パルス幅
   の大きさに対して反比例するように前記レーザダイオー
   ドに通電する電流値を制御する電流値制御手段を設けた
   ことを特徴とする光走査装置。
2. 【請求項２】 電流値制御手段は、予め設定した基準電
   流値をＩ_s 、基準電流値における駆動パルス幅をＴ_s 、
   ｎ画素目の駆動パルス幅をＴ_n としたとき、ｎ画素目の
   電流値Ｉ_n を、 Ｉ_n ＝Ｉ_s ＋Ｉ_s ・ｋ・（Ｔ_s −Ｔ_n ）／Ｔ_s （但し、ｋは比例定数） の関係に制御することを特徴とする請求項１記載の光走
   査装置。