JPH08101123A - ガス濃度検出方法及びその装置 - Google Patents
ガス濃度検出方法及びその装置Info
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- JPH08101123A JPH08101123A JP23545394A JP23545394A JPH08101123A JP H08101123 A JPH08101123 A JP H08101123A JP 23545394 A JP23545394 A JP 23545394A JP 23545394 A JP23545394 A JP 23545394A JP H08101123 A JPH08101123 A JP H08101123A
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Abstract
時変化を補償できるガス濃度検出方法及びその装置を提
供する。 【構成】 駆動電流及び温度に応じた波長及び強度のレ
ーザ光を発振するレーザを用い、駆動電流を変調するこ
とにより波長及び強度が変調されたレーザ光を発振さ
せ、かつ駆動電流を掃引することによりレーザ光の中心
波長を掃引させ、そのレーザ光を測定対象であるガス雰
囲気に通して透過光を受光し、この受光信号の特定成分
を位相敏感検波してガスの濃度を検出するガス濃度検出
方法において、上記レーザ光の一部をガス雰囲気に通さ
ず直接受光し、ガス雰囲気透過光の検波成分と直接光の
検波成分との差からガスの濃度を検出する。
Description
雰囲気中のガス濃度を検出するガス濃度検出方法及びそ
の装置に係り、特に、ドリフト性の背景雑音を除去し、
レーザの経時変化を補償できるガス濃度検出方法及びそ
の装置に関するものである。
吸収する性質を持っている。この現象を利用してガスの
有無を検出できることが知られており、この原理を応用
したセンシング技術が工業計測、公害監視などで広く用
いられている。また、このレーザ光を光ファイバで伝送
すれば遠隔監視も可能となる。
とした遠隔のガス検出装置は、半導体レーザの駆動電流
を所定の電流を中心として高周波で変調し、波長及び強
度の変調されたレーザ光を発振させる。さらに、電流及
び温度を制御して発振の中心波長がガス吸収線の中心に
なるようにする。発振の安定を得るため半導体レーザの
後方に出射するレーザ光をモニタ用として用いる。こう
して安定し、前方に出射されたレーザ光を光ファイバに
より未知濃度のガスを充填した測定用のガスセルに導
く。ガス雰囲気を透過させた透過光を別の光ファイバで
受光器に導き、レーザ光の2倍検波信号又は基本検波信
号よりガス濃度を検出する。これにより、ガス濃度が高
いS/N比で検出できる。
すると、ガス雰囲気の圧力により吸収線の形状が変化
し、それに伴いガスの定量測定に用いている2倍検波信
号も圧力に依存した値を持つ。そのため、炭坑やプラン
トなどの気圧変化の激しい場所でこのガス検出装置を用
いて濃度測定を行うと、別に圧力センサを設けて圧力監
視を行い、圧力補正を行わないと正確な濃度測定ができ
ない。
た波長及び強度のレーザ光を発振するレーザを用いて、
このレーザの駆動電流或いは温度を変化させて、波長及
び強度が変調されたレーザ光を発振させると共に、その
レーザ光の中心波長を掃引させ、そのレーザ光を測定対
象となるガス雰囲気に通した後の透過光の強度を検出
し、この検出信号の特定成分を位相敏感検波して、この
検出信号から上記雰囲気圧力下での特定ガス濃度を測定
する手法を提案した。
して得られる2倍位相敏感検波信号と基本波位相敏感検
波との比(以下、この比をガス信号という)との関係を
図4に示す。図4において横軸はレーザ光の中心波長を
示し、縦軸はガス信号を示す。検出ガスとしてアセチレ
ンガス、ガスの吸収波長として1.532μmとしたと
きの出力信号である。この信号からガス濃度を求める。
また、ガス吸収線近傍の両側に現れる2つの極値の波長
幅は、ガス吸収線のスペクトル幅に依存しており、吸収
線のスペクトル幅とガス雰囲気圧力の関係を予め把握し
ておけば、この値からガス雰囲気の圧力を得ることがで
きる。
光には、レーザと光ファイバとの結合の波長依存性、或
いはレーザの劣化が原因となって、微小の余剰歪成分が
あり、位相検波するとドリフトした形で現れる。同様の
変調条件により低濃度ガス検出すると、ガス信号成分が
ドリフト性背景雑音信号に埋もれてしまい、正確なガス
濃度を求めることができない。図5は、その一例であり
短波長側から長波長側にかけてドリフト成分が増加して
いるため、図4のような波形が得られない。
し、ドリフト性の背景雑音を除去し、レーザの経時変化
を補償できるガス濃度検出方法及びその装置を提供する
ことにある。
に本発明の方法は、駆動電流及び温度に応じた波長及び
強度のレーザ光を発振するレーザを用い、駆動電流を変
調することにより波長及び強度が変調されたレーザ光を
発振させ、かつ駆動電流を掃引することによりレーザ光
の中心波長を掃引させ、そのレーザ光を測定対象である
ガス雰囲気に通して透過光を受光し、この受光信号の特
定成分を位相敏感検波してガスの濃度を検出するガス濃
度検出方法において、上記レーザ光の一部をガス雰囲気
に通さず直接受光し、ガス雰囲気透過光の検波成分と直
接光の検波成分との差からガスの濃度を検出するもので
ある。
気に通して透過光を受光し、その最初の検波成分を初期
値として記憶しておき、爾後の既知濃度のガスの透過光
の検波成分を上記初期値と比較してレーザの経時変化の
補正量を求め、この補正量で上記測定対象ガス透過光の
検波成分を補正してもよい。
波長及び強度のレーザ光を発振するレーザと、駆動電流
を変調することにより波長及び強度が変調されたレーザ
光を発振させる変調回路と、駆動電流を掃引することに
よりレーザ光の中心波長を掃引させる掃引回路と、その
レーザ光を導く光ファイバと、光ファイバに挿入され測
定対象であるガス雰囲気を充填するガスセルと、ガスセ
ルの透過光を受光する受光器と、この受光信号の特定成
分を位相敏感検波してガスの濃度を検出する検波回路と
を備えたガス濃度検出装置において、上記レーザ光の一
部を分岐する分岐手段と、この分岐光をガス雰囲気に通
さず直接受光する受光器と、ガス雰囲気透過光の検波成
分と直接光の検波成分との差からガスの濃度を検出する
雑音除去回路とを備えたものである。
と、この分岐手段に接続され既知濃度のガス雰囲気を充
填する基準ガスセルと、基準ガスセルの透過光を受光す
る受光器と、この基準ガスセルの透過光の最初の検波成
分を初期値として記憶する記憶回路と、爾後の基準ガス
セルの透過光の検波成分を初期値と比較してレーザの経
時変化の補正量を求め、この補正量で上記測定対象ガス
透過光の検波成分を補正する補正回路とを備えてもよ
い。
一部が分岐され、この分岐光はガス雰囲気に通さず直接
受光器で受光される。レーザ光の中心波長を掃引したと
き、レーザと光ファイバとの結合の波長依存性に基づく
ドリフト成分が検波されることになる。一方、測定対象
であるガス雰囲気を透過させて受光したものには、ガス
信号にドリフト成分が重畳している。従って、ガス雰囲
気透過光の検波成分と直接光の検波成分との差からガス
信号のみが求まり、このガス信号からガスの濃度を検出
することができる。
のガスによる検出結果を比較することにより取り除くこ
とができる。即ち、分岐手段によってレーザ光の一部が
分岐され、この分岐光は基準ガスセルに導かれる。この
基準ガスセルの透過光の最初の検波成分を初期値として
記憶し、爾後の基準ガスセルの透過光の検波成分を初期
値と比較すればレーザの経時変化分が補正できる。
詳述する。
検出装置は、主に、レーザ部と、光学系と、レーザ駆動
回路1と、信号処理部20とから構成される。
せる分布帰還型半導体レーザ(DFB−LD)2と、D
FB−LD2を搭載してその温度を制御するためのペル
チェ素子3とから構成される。なお、DFB−LD2か
らのレーザ光を光分岐手段4にカップリングするための
コネクタ及び集光レンズ、或いは集光レンズからの戻り
光をカットする光アイソレータから成る光学部品は図面
上では省略した。また、これらの光学部品の端面には無
反射コーティング処理が施され、DFB−LD2への戻
り光は極めて小さくなっている。
イバ5a,5b,5cと、検出対象ガスセル6と、基準
ガスセル7と、復路用光ファイバ5d,5eと、受光器
8a,8b,8cとから構成される。光分岐手段4は、
DFB−LD2からのレーザ光を往路用光ファイバ5
a,5b,5cに分岐するものである。
知濃度の種々のガス(メタン、アセチレン等)が充填さ
れる容器であり、検出対象とする位置に容易に設置する
ことができるようになっている。検出対象ガスセル6の
一側には往路用光ファイバ5cが接続され、その反対側
には復路用光ファイバ5eが接続されており、DFB−
LD2からのレーザ光の一部が測定対象ガス雰囲気を透
過し、復路用光ファイバ5eの一端の受光器8cに受光
されるようになっている。
が充填される容器であり、ガスの注入、排出が容易にで
き、圧力も任意に設定できるようになっている。基準ガ
スセル7の一側には往路用光ファイバ5bが接続され、
その反対側には復路用光ファイバ5dが接続されてお
り、DFB−LD2からのレーザ光の一部が基準ガス雰
囲気を透過して復路用光ファイバ5dの一端の受光器8
bに受光されるようになっている。
に接続されており、DFB−LD2からのレーザ光の一
部がそのまま受光器8aに受光されるようになってい
る。なお、光ファイバ5a〜5eの端面は斜めカット無
反射コーティング等により干渉系がないように処理され
ている。
号を出力する発振器10と、この周波数ωの正弦波信号
から周波数2ωの2倍波信号を生成する倍周器11と、
バイアス電流を付加するためのバイアス電流電源12
と、バイアス電流の掃引の仕方を決定する掃引器13
と、ペルチェ素子用電源9とから構成される。レーザ駆
動回路1は、発振器10からの正弦波信号がバイアス電
流電源12からのバイアス電流に重畳されてDFB−L
D2を駆動するようになっている。バイアス電流電源1
2の出力側には発振器10の出力による影響を防ぐため
のインダクタンスLが設けられ、発振器10の出力側に
は直流分をカットするためのコンデンサCが設けられて
いる。
数ωの正弦波信号に同期して受光器8a,8bの出力の
位相敏感検波を行うロックインアンプ(ω)14と、同
じく受光器8cの出力の位相敏感検波を行う検出用ロッ
クインアンプ(ω)16と、倍周器11からの周波数2
ωの2倍波信号に同期して受光器8a,8bの出力の位
相敏感検波を行うロックインアンプ(2ω)15と、同
じく受光器8cの出力の位相敏感検波を行う検出用ロッ
クインアンプ(2ω)17と、これらのロックインアン
プの出力比を記録及び演算処理するアナライジングレコ
ーダ18及び解析処理装置19とから構成される。
中心波長をガス吸収線上に掃引するため以下の方法をと
る。
子用電源9により制御されるペルチェ素子3により一定
に固定する。
引器13により三角波となるように直線的に増減して掃
引する。
10による正弦波でありバイアス電流に重畳させる。
示されない無反射コーティング処理が施された光学部品
により光分岐手段4に導かれ、分岐される。
ァイバ5cを介して検出対象ガスセル6に入り、未知濃
度のガスを透過し、復路用光ファイバ5eを介して受光
器8cに受光される。また、分岐されたレーザ光の一部
は、往路用光ファイバ5aを介してそのまま受光器8a
に受光される。
れた信号を、発振器10からの周波数ωの正弦波信号に
同期した信号としてロックインアンプ(ω)14で位相
敏感検波し、基本波位相敏感検波信号とする。また、倍
周器11からの周波数2ωの2倍波信号に同期した信号
としてロックインアンプ(2ω)15で位相敏感検波
し、2倍波位相敏感検波信号とする。これらの検波信号
をアナライジングレコーダ18に記録する。
振器10からの周波数ωの正弦波信号に同期した信号と
してロックインアンプ(ω)16で位相敏感検波し、基
本波位相敏感検波信号とする。また、倍周器11からの
周波数2ωの2倍波信号に同期した信号としてロックイ
ンアンプ(2ω)17で位相敏感検波し、2倍波位相敏
感検波信号とする。これらの検波信号をアナライジング
レコーダ18に記録する。
クインアンプ(2ω)15,17で位相敏感検波された
2倍波位相敏感検波信号には雑音が重畳している。これ
は、光源のレーザ光にレーザと光ファイバとの結合の波
長依存性などが原因となり微小の余剰歪成分が存在し、
これを位相検波するとドリフトした雑音として現れるこ
とによる。
の強度はそれぞれ異なるので、受光される信号強度も異
なる。従って、単純に両2倍波位相敏感検波信号の差か
らガス信号成分のみを抽出することはできない。そこ
で、同時に記録した基本波位相敏感検波信号を用いる。
即ち、信号処理部20では、両2倍波位相敏感検波信号
を各々の基本波位相敏感検波信号で割り算することによ
り規格化する。規格化することにより、受光される信号
強度の違いによる影響が除去される。
(2ω)15で位相敏感検波された2倍波位相敏感検波
信号と、ロックインアンプ(ω)14で位相敏感検波さ
れた基本波位相敏感検波信号との比がドリフト雑音成分
であり、受光器8cで検出されロックインアンプ(2
ω)17で位相敏感検波された2倍波位相敏感検波信号
と、ロックインアンプ(ω)16で位相敏感検波された
基本波位相敏感検波信号との比がガス信号成分+ドリフ
ト雑音成分であるから、これらの差をとることによりガ
ス信号成分が得られる。
られ、波高値の両側に現れる極値或いは半幅値から圧力
を求めることができる。このとき、ドリフト雑音は除去
されており、正確な圧力、圧力補正した正確な濃度を求
めることができる。
分を測定し、補正する方法を説明する。
分岐手段4で分岐され、往路用光ファイバ5bを介して
基準ガスセル7に入り、基準ガスを透過し、復路用光フ
ァイバ5dを介して受光器8bに受光される。
れた信号を、発振器10からの周波数ωの正弦波信号に
同期した信号としてロックインアンプ(ω)14で位相
敏感検波し、基本波位相敏感検波信号とする。また、倍
周器11からの周波数2ωの2倍波信号に同期した信号
としてロックインアンプ(2ω)15で位相敏感検波
し、2倍波位相敏感検波信号とする。これらの検波信号
をアナライジングレコーダ18に記録する。さらに、信
号処理部20で2倍波位相敏感検波信号と基本波位相敏
感検波信号との比が計算され、記録される。
ず最初に基準ガスセル7内に特定の既知濃度のガスを充
填して、上記測定を行い基準ガス信号の初期値を記録し
ておく。その後、ある期間毎に、上記既知濃度のガスを
充填して測定を行い、その結果を記録しておく。
信号の初期値及び最新の測定値を用い、レーザの経時変
化の補正量を求める。測定した未知濃度のガス信号をこ
の補正量で補正する。
の濃度のメタンを測定した結果を図2、図3に示す。図
2には、得られたドリフト雑音成分とガス信号成分+ド
リフト雑音成分とが示されている。図3には、これらの
差分により抽出したガス信号成分が示されている。この
抽出されたガス信号の波高値からガス濃度を求めること
ができ、波高値の両側の極値からガス圧力を求めること
ができる。
をOFケーブルの接続箇所に取り付けることにより、接
続箇所におけるガス濃度検出を行うことができる。これ
によりOFケーブルの遠隔監視が可能となる。
が、特定波長のレーザ光を吸収する性質を持つガス分子
であれば多成分ガスの測定も可能であり、レーザ部や光
学系を複数設けたり切換えたりして複数のガス成分の濃
度測定が可能である。
る。
ず直接受光することによりドリフト性の背景雑音のみを
検出できるので、この背景雑音を除去したガス濃度検出
が可能となる。
と時間経過後の測定値とを比較することによりレーザ等
の経時変化が検出できるので、この経時変化を除去した
ガス濃度検出が可能となる。
成図である。
を含む)の周波数分布図である。
布図である。
波数分布図である。
ある。
Claims (4)
- 【請求項1】 駆動電流及び温度に応じた波長及び強度
のレーザ光を発振するレーザを用い、駆動電流を変調す
ることにより波長及び強度が変調されたレーザ光を発振
させ、かつ駆動電流を掃引することによりレーザ光の中
心波長を掃引させ、そのレーザ光を測定対象であるガス
雰囲気に通して透過光を受光し、この受光信号の特定成
分を位相敏感検波してガスの濃度を検出するガス濃度検
出方法において、上記レーザ光の一部をガス雰囲気に通
さず直接受光し、ガス雰囲気透過光の検波成分と直接光
の検波成分との差からガスの濃度を検出することを特徴
とするガス濃度検出方法。 - 【請求項2】 上記レーザ光の一部を既知濃度のガス雰
囲気に通して透過光を受光し、その最初の検波成分を初
期値として記憶しておき、爾後の既知濃度のガスの透過
光の検波成分を上記初期値と比較してレーザの経時変化
の補正量を求め、この補正量で上記測定対象ガス透過光
の検波成分を補正することを特徴とする請求項1記載の
ガス濃度検出方法。 - 【請求項3】 駆動電流及び温度に応じた波長及び強度
のレーザ光を発振するレーザと、駆動電流を変調するこ
とにより波長及び強度が変調されたレーザ光を発振させ
る変調回路と、駆動電流を掃引することによりレーザ光
の中心波長を掃引させる掃引回路と、そのレーザ光を導
く光ファイバと、光ファイバに挿入され測定対象である
ガス雰囲気を充填するガスセルと、ガスセルの透過光を
受光する受光器と、この受光信号の特定成分を位相敏感
検波してガスの濃度を検出する検波回路とを備えたガス
濃度検出装置において、上記レーザ光の一部を分岐する
分岐手段と、この分岐光をガス雰囲気に通さず直接受光
する受光器と、ガス雰囲気透過光の検波成分と直接光の
検波成分との差からガスの濃度を検出する雑音除去回路
とを備えたことを特徴とするガス濃度検出装置。 - 【請求項4】 上記レーザ光の一部を分岐する分岐手段
と、この分岐手段に接続され既知濃度のガス雰囲気を充
填する基準ガスセルと、基準ガスセルの透過光を受光す
る受光器と、この基準ガスセルの透過光の最初の検波成
分を初期値として記憶する記憶回路と、爾後の基準ガス
セルの透過光の検波成分を初期値と比較してレーザの経
時変化の補正量を求め、この補正量で上記測定対象ガス
透過光の検波成分を補正する補正回路とを備えたことを
特徴とする請求項3記載のガス濃度検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23545394A JP3114959B2 (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | ガス濃度検出方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23545394A JP3114959B2 (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | ガス濃度検出方法及びその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08101123A true JPH08101123A (ja) | 1996-04-16 |
JP3114959B2 JP3114959B2 (ja) | 2000-12-04 |
Family
ID=16986333
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23545394A Expired - Lifetime JP3114959B2 (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | ガス濃度検出方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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