JPH0797786B2 - 電話交換機の二重ジャンパ試験に用いる断線プラグ - Google Patents

電話交換機の二重ジャンパ試験に用いる断線プラグ

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JPH0797786B2
JPH0797786B2 JP63004980A JP498088A JPH0797786B2 JP H0797786 B2 JPH0797786 B2 JP H0797786B2 JP 63004980 A JP63004980 A JP 63004980A JP 498088 A JP498088 A JP 498088A JP H0797786 B2 JPH0797786 B2 JP H0797786B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、電話交換機の新設および端子増設に伴って行
なわれる配線盤の電話交換機の二重ジャンパ試験に用い
る断線プラグに関する。
(従来の技術) 電話交換機における二重ジャンパ検証試験は、電話交換
機を新設または端子増設した時、電話加入者の収容替え
を間違いなく円滑に行なうために、配線盤(MDF)にお
いて一時的に旧交換機と新交換機の両方に対して行なわ
れる二重ジャンパの接続の正常性を調べる試験である。
第5図は、このような二重ジャンパ検証試験のために旧
交換機100および新交換機101と電話機103との間を配線
盤105の第1のジャンパ107および第2のジャンパ109で
接続した状態を示している。なお、配線盤105と旧交換
機100および新交換機101との間には試験弾器(ARR)11
1,113が接続され、旧交換機100が動作中には旧交換機10
0用の試験弾器111を閉成し、電話機103は試験弾器111を
介して旧交換機100に接続されているが、この時、新交
換機101用の試験弾器113は断線プラグ117を挿入されて
開放している。そして、新交換機101がサービスインす
る時には、新交換機101用の試験弾器113に挿入されてい
た断線プラグ117が抜き取られて、試験弾器113が閉成
し、電話器103は試験弾器113を介して新交換器101に接
続され、これに対して旧交換器100用の試験弾器111は断
線プラグ115が挿入されて開放し、電話機103は旧交換機
100から切り離される。
第6図は、上述したように接続された二重ジャンパを検
証する従来の方法を説明する接続図であるが、この検証
方法は旧交換機100から新設した新交換機101に新たに電
話加入者103を収容する場合について説明している。旧
交換機100および新交換機101はそれぞれ試験トランク
(LTT)121,123を介して二重ジャンパ検証器120と接続
されている。従来の二重ジャンパ検証試験は、直流信号
を使用して行なっているので、検証試験を行なうに当っ
て、まず新交換機101から対象加入者に直流電流が供給
されないように新交換機101においてH&D処理(ソフ
トウェアの変更処理)を行なう。それから、新交換機10
1用の試験弾器113に挿入されていた断線プラグ117を抜
き取り、二重ジャンパ検証器120から直流試験信号Sdc
を出力する。この直流試験信号Sdcは、二重ジャンパ検
証器120から試験トランク121、旧交換機100、試験弾器1
11、配線盤105の第1のジャンパ107、第2のジャンパ10
9、試験弾器113、新交換機101および試験トランク123を
介して二重ジャンパ検証器120に戻るというループを通
って、二重ジャンパ検証器120で受信される。二重ジャ
ンパ検証器120は、このループを通った直流試験信号Sd
cを正常に受信したことにより二重ジャンパが正常に接
続されていることを確認する。
第7図は二重ジャンパ検証試験方法を旧交換機100から
既に稼動中の新交換機102の増設端子に電話加入者103を
収容替えする場合の説明図である。この場合には、オペ
レータによって手段で行なわれるが、旧交換機100およ
び新交換機102はそれぞれ試験トランク121および試験ト
ランク123を介して試験台(LTF)125,127に接続され
る。二重ジャンパ検証試験は、まず旧交換機100用の試
験台125からオペレータが電話機103に対する通話路の捕
捉を指示し、それから移動中の端子増設した新交換機10
2用の試験台127から同様にオペレータが電話機103に対
する通話路の捕捉を指示する。両通話路が捕捉される
と、新交換機102用の試験弾器113の断線プラグ117を抜
き取り、それから電話機103の加入者線のA,B線間を短絡
する。試験台125および127の両方のオペレータがA,B線
の短絡を確認して、二重ジャンパの接続の正常性を検証
する。
上述したように、稼動中の新交換機102への収容替えの
場合には、各試験台125,127からオペレータが手動で二
重ジャンパ検証試験を行なっていて、第6図の場合のよ
うに自動的に二重ジャンパ検証器で行なっていないが、
これは、電話機103を二重ジャンパで両交換機100,102に
二重に接続すると、両交換機から通話電流が供給され、
電話機103に対する発着信が不可能となるため、上述し
た第6図の場合のようにH&D処理により一方の交換機
からの通話電流の供給の阻止を行なう必要があるが、稼
動中の交換機に対してH&D処理を行なうことは不可能
だからである。
(発明が解決しようとする課題) 上述したように、従来の二重ジャンパ検証試験では、直
流試験信号を使用しているため、新設交換機または端子
増設交換機からの通話電流の供給を阻止する必要がある
ためにソフトウェアの変更処理(H&D処理)を行なわ
なければならないが、この変更処理は端子増設を行なっ
た稼動中の交換機に対しては不可能であるため、従来の
二重ジャンパ検証試験はこのような端子増設した稼動中
の交換機に対しては自動的に行なうことができず、オペ
レータがいちいち手動で行なう必要があり、煩雑で操作
性が悪く、時間がかかるとともに、また遠隔制御もでき
ない。
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的とす
るところは、可動中の交換機に対しても全く影響を与え
ること無く、試験を行なうことができる電話交換機の二
重ジャンパ試験に用いる断線プラグを提供することにあ
る。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 前記課題を解決するため、本発明の電話交換機の二重ジ
ャンパ試験に用いる断線プラグは、配線盤の第1のジャ
ンパを介して第1の電話交換機に接続されている加入者
回線を第2の電話交換機に接続替えするに当り前記加入
者回線と第2の電話交換機とを配線盤の第2のジャンパ
で接続した場合の前記第1および第2のジャンパからな
る二重ジャンパの接続の正常性を試験するために前記第
2の電話交換機の前記加入者回線に対する試験弾器に挿
入される電話交換機の二重ジャンパ試験に用いる断線プ
ラグであって、この断線プラグの端子を、対向して配置
される2枚の板状導体と、これら2枚の板状導体の間に
あって挟持される誘電体とで構成したことを要旨とす
る。
(作用) 本発明の電話交換機の二重ジャンパ試験に用いる断線プ
ラグは、容量を直列に有し、交流試験信号の通過を可能
とし、直流の通過を阻止すると共に、可動中の交換機に
対しても全く影響を与えること無く、試験を行なうこと
ができる。
(実施例) 以下、図面を用いて本発明の実施例を説明する 第1図は本発明の一実施例に係る電話交換機における二
重ジャンパ検証試験方法を実施する装置構成図である。
同図は、既設交換機1に試験弾器7および配線盤(MD
F)10の第1のジャンパ11を介して接続されている電話
機5を新設交換機3に収容替えするに当り、新設交換機
3に接続されている試験弾器8に容量型断線プラグ9を
挿入するとともに、この容量型断線プラグ9を挿入され
た試験弾器8と電話機5との間の配線盤10に第2のジャ
ンパ12を施し、この第1のジャンパ11および第2のジャ
ンパ12からなる二重ジャンパの接続の正当性を二重ジャ
ンパ検証試験機17によって自動的かつ遠隔制御で試験し
ようとするものである。この二重ジャンパ検証試験機17
は、試験トランク(LTT)13,15をそれぞれ介して既設交
換機1および新設交換機3に接続されている。また、二
重ジャンパ検証試験機17は、電話番号や二重ジャンパ検
証試験用の信号を入力するテンキー、該テンキーと兼用
しているTSTキー(試験開始キー)、SUBキー、MFキー、
DPキー、RETキー等からなるキーボード21および二重ジ
ャンパ検証試験の結果を表示する[GOOD],[REV],
[SC],[AD],[BD],[TST]等の試験結果表示用
ランプ19を有するとともに、また二重ジャンパ検証試験
器17には前記キーボード21および試験結果表示用ランプ
19と同じ構成のキーボード28および試験結果表示用ラン
プ26を有する別体の簡易型操作部23および試験結果を印
刷するプリンタ25が接続されている。
次に、二重ジャンパ検証試験器17の構成を第2図
(a),(b),(c)を参照して説明する。
二重ジャンパ検証試験機17は、まず第2図(a)に示す
ように、例えばマイクロプロセッサ等からなるCPU31お
よび該CPU31にデータバス41、アドレスバス43を介して
接続され、二重ジャンパ検証試験用のプログラム等を記
憶している複数のROM39を有する。該CPU31はインバータ
33,34および水晶振動子35からなるクロック発生回路37
からのクロック信号によって動作し、前記ROM39に記憶
されている二重ジャンパ検証試験用のプログラムに従っ
て二重ジャンパ検証試験を実行する。また、CPU31はデ
ータバス41等を介してI/Oポート用周辺インタフェース
(PPi)45に接続されている。この周辺インタフェース4
5には、バッファアンプ49a〜49gをそれぞれ介して各種
リレー、すなわちONリレー51、UNリレー52、TSTリレー5
3、RLSリレー54、NUCリレー55、SENDリレー56、RECVリ
レー57が接続されている。
また、CPU31は、第2図(b)に示すように、データバ
ス41等を介して電話番号等の選択符号および試験信号等
を発生する信号発生用LSI47に接続されている該信号発
生用LSI47の出力端子A,B,Cは共通に接続されてから、可
変抵抗、コンデンサ、抵抗等を介して一方においては選
択符号増幅用トランジスタ61のベースに接続され、他方
においては試験信号送出用オペアンプ81の入力に接続さ
れている。
選択符号増幅用トランジスタ61のコレクタは、トランス
64に接続され、該トランス64の一端は2μFのコンデン
サ62およびONリレー51のメーク接点63を介してUNリレー
52の一方の切替接点65に接続され、トランス64の他端は
同様に2μFのコンデンサ62および他のブレーク接点を
介してUNリレー52の他方の切替接点66に接続されてい
る。UNリレー52の切替接点65,66のブレーク側は、それ
ぞれTSTリレー53の切替接点67,68のブレーク側を介して
前記既設交換機1用のA0,B0端子69,70に接続され、該既
設交換機1用のA0,B0端子69,70から前記試験トランク1
3、既設交換機1、試験弾器7および第1のジャンパ11
を介して電話機5に接続されている。また、UNリレー52
の切替接点65,66のメーク側は、それぞれ前記SENDリレ
ー56である試験信号送出側A,B線切替用SENDリレー56の
切替接点73のブレーク側およびメーク側に接続されてい
る。
更に、前記UNリレー52の切替接点65,66のメーク側は、
それぞれ前記新設交換機3用のA1,B1端子75,76に接続さ
れ、該新設交換機3用のA1,B1端子75,76から前記試験ト
ランク15、新設交換機3、試験弾器8、容量型断線プラ
グ9および第2のジャンパ12を介して電話機5に接続さ
れるとともに、前記RECVリレー57である試験信号受信側
A,B線切替用RECVリレー57の切替接点77のブレーク側お
よびメーク側に接続されている。
一方、前記試験信号送出用オペアンプ81の出力は、コン
デンサを介して出力トランス83の一次側に接続されてい
る。出力トランス83の二次側は試験信号検出用ブリッジ
85を介して入力トランス89の一次側に接続されている。
また、試験信号検出用ブリッジ85の一端は、コンデンサ
87を介して前記試験信号送出側A,B線切替用SENDリレー5
6の切替接点73に接続され、試験信号検出用ブリッジ85
の他端は、コンデンサ88を介して前記試験信号受信側A,
B線切替用RECVリレー57の切替接点77に接続されてい
る。
更に、前記入力トランス89の二次側は、試験信号受信用
オペアンプ91を介して試験結果入力用ポートC93に接続
され、該試験結果入力用ポートC93は第2図(a)に示
すように周辺インタフェース45の端子PC7に接続されて
いる。
また、本二重バャンパ検証試験器17は、第2図(c)に
示すように、前記CPU31によって制御されるインターフ
ェース95を有し、該インタフェース95の出力ポートPA0
〜PA7には複数のアンド回路およびバッファアンプを介
して前記試験結果表示用ランプ19、すなわちTSTランプ1
9a、REVランプ19b,ADランプ19c、BDランプ19d,SCランプ
19e、GOODランプ19fが接続されている。
試験結果表示用ランプ19を構成するTSTランプ19a、REV
ランプ19b、ADランプ19c、BDランプ19d、SCランプ19e、
GOODランプ19fは、それぞれインタフェース95の出力ポ
ートPA0,2,4,6,7からそれぞれ出力される信号ON,TST,T
H,SEND,RECVによって駆動されるが、二重ジャンパ検証
試験の判定結果であるGOOD、REV、SC,AD,BD,NGに対応し
て出力される各駆動信号に基づいて次表のような組合せ
で点灯する。
次に第3図(a),(b),(c),を参照して容量型
断線プラグ9について説明する。容量型断線プラグ9
は、交換機からの通話用に供給される直流電流を阻止
し、前記二重ジャンパ検証試験器17から出力される交流
試験信号を通過し得るように直列に容量を有しているも
のである。
第3図(a)はコンデンサを外付けで設けたA,B線の1
回路用の容量型断線プラグ9を示している。すなわち、
この容量型断線プラグ9はA,B線の各々に直列に1μF
のコンデンサ201,203を接続し、このコンデンサによっ
て通話用の直流供給電流を阻止し、交流試験信号のみを
通過し得るようにしている。
また、第3図(b)は容量に内蔵している容量型断線プ
ラグ209を示している。すなわち、この容量型断線プラ
グ209は、例えばセラミック等からなる薄い絶縁体205を
断線プラグ本体を構成する板状導体としての金属207で
挟むように構成して絶縁プラグそのものを容量として形
成したものであり、この容量型断線プラグ209もA,B線の
1回路用に構成されている。なお、このとき対向する2
枚の金属207間の絶縁体205の種類と厚さを適宜変更する
ことにより任意の容量のコンデンサを形成できる。
第3図(c)は8回路用の容量型断線プラグ219を示し
ている。
なお、既設交換機に接続された電話機に着信があった場
合、呼出信号として16Hzの交流が供給されるが、本容量
型断線プラグ9,209,219に使用されている容量の値は1
μFであるので、低い周波数の交流に対しては十分高い
インピーダンスとなって該交流の通過を阻止している。
このように本容量型断線プラグは通話電流のような直流
電流を遮断するとともに、新設交換機に回り込む16Hzの
呼出信号のような不要な交流信号を遮断し、本実施例で
使用する例えば1700Hzの交流試験信号のみを通過させる
のである。
次に作用を第4図のフローを参照して説明する。
まず、第1図において、既設交換機1の試験トランク13
と電話機5との間の通話路を接続するために、二重ジャ
ンパ検証試験器17のキーボード21を操作して、試験開始
信号および電話機5の電話番号を入力する。CPU31はROM
39のプログラムに従ってこれらの信号を受信し、周辺イ
ンタフェース45を介してONリレー51を動作させるととも
に、選択符号および試験信号発生用LSI47を制御して選
択符号を送出させる。この選択符号は選択符号増幅用ト
ランジスタ61で増幅され、トランス64、コンデンサ62,6
2、ONリレー51のメーク接点63、UNリレー52の切替接点6
5,66およびTSTリレー53の切替接点67,68を介して既設交
換機1用のA0,B0端子69,70から既設交換機1に送出さ
れ、既設交換機1の試験トランク13と電話機5との間の
通話路が確立される。
次に新設交換機3の試験トランク15と電話機5との間の
通話路を接続するために、まずCPU31は周辺インタフェ
ース45を介してUNリレー52を動作させ、該UNリレー52の
UNリレー52の切替接点65,66を動作させる。この結果、
選択符号増幅用トランジスタ61の出力側はトランス64、
コンデンサ62,62、ONリレー51のメーク接点63、動作し
たUNリレー52の切替接点65,66を介して新設交換機3用
のA1,B1端子75,76に接続される。従って、この状態で選
択符号および試験信号発生用LSI47から電話機5の選択
符号が送出されると、この選択符号は選択符号増幅用ト
ランジスタ61で増幅されてから新設交換機3用のA1,B1
端子75,76を介して新設交換機3に送出され、これによ
り新設交換機3の試験トランク15と電話機5との間の通
話路が確立される。
以上のように、既設交換機1の試験トランク13と電話機
5との間の通話路および新設交換機3の試験トランク15
と電話機5との間の通話路が確立された後、次にCPU31
の制御により周辺インタフェース45を介してTSTリレー5
3を動作させるとともに、選択符号および試験信号発生
用LSI47から1.7KHzの交流試験信号を発生させる(第4
図のステップ310,320)。
選択符号および試験信号発生用LSI47から出力される交
流試験信号は、試験信号送出用オペアンプ81により増幅
され、出力トランス83、試験信号検出用プリッジ85、コ
ンデンサ87、試験信号送出側A,B線切替用SENDリレー56
の切替接点73、動作したTSTリレー53の一方の切替接点6
7および既設交換機1用のA0端子69から既設交換機1の
試験トランク13に送出され、更に該試験トランク13から
既設交換機1の通話路、試験弾器7、配線盤10の第1の
ジャンパ11、第2のジャンパ12、試験弾器8、容量型断
線プラグ9、新設交換機3の通話路、試験トランク15を
介して新設交換機3用のA1端子75に伝達され、また更に
この新設交換機3用のA1端子75から試験信号受信側A,B
線切替用RECVリレー57の切替接点77、コンデンサ88を介
して試験信号検出用ブリッジ85に戻ってくる。
すなわち、選択符号および試験信号発生用SLI47からの
交流試験信号は既切交換機1、配線盤10の第1のジャン
パ11、第2のジャンパ12、容量型断線プラグ9、新設交
換機3を介して、試験信号検出用プリッジ85に戻ってく
るようになっているが、この場合、配線盤10の第1のジ
ャンパ11および第2のジャンパ12からなる二重ジャンパ
が正常な場合には、試験信号検出用ブリッジ85のコンデ
ンサ87,88に接続された端子が交流的に結合された状態
となるため、試験信号検出用ブリッジ85の平衡がくず
れ、これにより試験信号検出用ブリッジ85に接続されて
いる入力トランス89に検出電流が流れる。この検出電流
は、試験信号受信用オペアンプ91で増幅され、試験結果
入力用ポートC93を介して周辺インタフェース45に供給
される。CPU31はこの試験結果の入力用ポートC93への検
出電流の供給により既設交換機1用のA0端子69と新設交
換機3用のA1端子75との間がオン、すなわち二重ジャン
パが正常に接続されていることを判定する(ステップ33
0)。
A0端子69とA1端子75との間のジャンパが正常てあること
を判定すると、次にCPU31は周辺インタフェース45を介
して試験信号受信側A,B線切替用RECリレー57を動作さ
せ、その切替接点77を切り替え、既設交換機1用のA0
子69と新設交換機3用のB1端子76との間が結合されてい
ないかどうかを同様の経路に交流試験信号を送出して判
定する(ステップ340,350)。
既設交換機1用のA0端子69と新設交換機3用のB1端子76
との間が不正に結合されてなく、オフの場合には、CPU3
1は試験信号送出側A,B線切替用SENDリレー56を動作させ
て、その切替接点73を切り替え(ステップ360)、既切
交換機1用のB0端子70と新設交換機3用のB1端子76との
間のジャンパが正常であるか否かを判定する(ステップ
370)。既設交換機1用のB0端子70と新設交換機3用のB
1端子76との間のジャンパが正常に接続されている場合
には、二重ジャンパは正常に接続されているものである
ので、CPU31はインタフェース95を介して試験結果表示
用ランプ19のGOODランプ19fを点灯させるとともに、プ
リンタ25によって「GOOD」を印字させる(ステップ38
0)。
以上の説明は二重ジャンパが正常に接続されている場合
の動作であるが、ステップ350の判定で、既設交換機1
用のA0端子69と新設交換機3用のB1端子76とが不正に接
続、すなわち短絡されていることわかった場合には、CP
U31はインタフェース95を介してSCランプ19eを点灯する
(ステップ390)。
また、ステップ370の判定で、既設交換機1用のB0端子7
0と新設交換機3用のB1端子76との間が正常に接続され
ていないことかがわかった場合には、BDランプ19dが点
灯する(ステップ400)。
更に、ステップ330の判定で、既設交換機1用のA0端子6
9と新設交換機3用のA1端子75との間が正常に接続され
ていないことがわかった場合には、試験信号受信側A,B
線切替用RECVリレー57を駆動して、その切替接点77を切
り替え(ステップ410)、既設交換機1用のA0端子69と
新設交換機3用のB1端子76との間が不正に接続されてい
ないか否かを判定する(ステップ420)。既設交換機1
用のA0端子69と新設交換機3用のB1端子76との間が接続
されている場合には、次に試験信号受信側A,B線切替用R
ECVリレー57の切替接点77および試験信号送出側A,B線切
替用SENDリレー56切替接点73を切り替え(ステップ43
0)、既設交換機1用のB0端子70と新設交換機3用のA1
端子75との間が不正に接続されているか否かを判定する
(ステップ440)。既設交換機1用のB0端子70と新設交
換機3用のA1端子75との間が接続されている場合には、
REVランプ19bが点灯する(ステップ450)。既設交換機
1用のB0端子70と新設交換機3用のA1端子75との間が接
続されていない場合には、「NG」としてTSTランプ19aが
点灯する(ステップ460)。
ステップ420の判定で、既設交換機1用のA0端子69と新
設交換機3用のB1端子76との間が接続されているか否か
判定した結果、接続されていない場合には、試験信号送
出側A,B線切替用SENDリレー56の切替接点73を切り替え
(ステップ470)、既設交換機1用のB0端子70と新設交
換機3用のB1端子76との間が接続されているか否かを判
定する(ステップ480)。既設交換機1用のB0端子70と
新設交換機3用のB1端子76との間が接続されている場合
には、ADランプ19cを点灯し、接続されていない場合に
は、「NG」としてTSTランプ19aを点灯する(ステップ50
0)。
以上の処理で、既設交換機1用のA0,B0端子と新設交換
機3用のA1,B1端子との間の二重ジャンパのチェックを
終了すると、連続試験の場合には、次の電話番号を送出
し、次の電話機に対する二重ジャンパを同様に試験する
というように連続的に繰返す。なお、接続しようとする
電話機が通話中の場合には、「BUSY(話中)」をプリン
タ25で印字し、最後の試験のあとに再度試験を行なう。
また、個別試験の場合には、再試験要求のキー入力があ
る場合をのぞいて試験を終了し、キー入力待ち状態にな
る。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、断線プラグを試
験弾器に挿入し、一方の交換機を介して所定の交流試験
信号を供給し、該交流試験信号を二重ジャンパ、容量型
断線プラグおよび他方の電話交換機を介して受信し、該
受信結果に基づいて二重ジャンパの接続の正常性を試験
する際に、断線プラグを抜き差しすることなく、断線プ
ラグによって交換機からの通話直流電流を遮断すること
ができ、稼働中の交換機に対しても二重ジャンパ検証試
験を自動的かつ遠隔制御で行なうことができ、操作性を
大幅に向上することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る電話交換機における二
重ジャンパ検証試験方法を実施する装置構成図、第2図
(a),(b),(c)は第1図の装置に使用される二
重ジャンパ検証試験器の回路構成図、第3図は第1図の
装置に使用される容量型断線プラグの構成図、第4図は
第1図の装置による電話交換機における二重ジャンパ検
証試験方法の作用を示すフローチャート、第5図乃至第
7図は従来の電話交換機における二重ジャンパ検証試験
方法の説明図である。 1……既設K交換機、3……新設交換機 5……電話機、7,8……試験弾器 9,209,219……容量型断線プラグ 10……配線盤、11……第1のバャンパ 12……第2のジャンパ 17……二重ジャンパ検証試験器 201,203……コンデンサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鬼形 明 東京都千代田区内幸町1丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭55−112064(JP,A) 特開 昭57−72456(JP,A) 特開 昭61−292869(JP,A) 特開 昭54−47408(JP,A) 実開 昭56−132885(JP,U)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】配線盤の第1のジャンパを介して第1の電
    話交換機に接続されている加入者回線を第2の電話交換
    機に接続替えするに当り前記加入者回線と第2の電話交
    換機とを配線盤の第2のジャンパで接続した場合の前記
    第1および第2のジャンパからなる二重ジャンパの接続
    の正常性を試験するために前記第2の電話交換機の前記
    加入者回線に対する試験弾器に挿入される電話交換機の
    二重ジャンパ試験に用いる断線プラグであって、 この断線プラグの端子を、対向して配置される2枚の板
    状導体と、これら2枚の板状導体の間にあって挟持され
    る誘電体とで構成したことを特徴とする断線プラグ。
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