JPH0792877B2 - 分析システム - Google Patents

分析システム

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JPH0792877B2
JPH0792877B2 JP56155357A JP15535781A JPH0792877B2 JP H0792877 B2 JPH0792877 B2 JP H0792877B2 JP 56155357 A JP56155357 A JP 56155357A JP 15535781 A JP15535781 A JP 15535781A JP H0792877 B2 JPH0792877 B2 JP H0792877B2
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data processing
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analysis
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達夫 佐藤
慎吾 滝本
至 上坂
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ガスクロマトグラフなどの分析装置と、それ
に使用するデータ処理装置とを結合して成る新規な分析
システムに関する。
従来のクロマトグラフ用データ処理装置は、クロマトグ
ラフからのアナログ信号を受信して、この信号をA/D変
換し、ピーク面積を求めた後定量計算を行うなどのデー
タ処理を行っている。又、更に高級なデータ処理装置で
は、上記データ処理を行うことができると同時にタイム
プログラム等によりカラムの切換えを行うなどクロマト
グラフの一部の制御を行うこともできるようになってい
る。
一般には、データ処理装置とクロマトグラフなどの分析
装置とは別個に製作されており、それぞれ単独でそれぞ
れ機能発揮するようになっている。
本発明は、このように一般には別々にされているデータ
処理装置と分析装置とを結合すれば、両者がそれぞれ持
つ機能を相互に利用することができるようになり、より
高性能な分析システムが得られることに着目して成され
たものである。
しかしながらデータ処理装置と分析装置とを単に結合し
て分析システムを作成した場合、下記のような問題が生
じる。
すなわち、現状の分析装置の場合、入力によりその装置
において固有のコード化された指示データが与えられる
ことで分析動作が行われる。よって、このような分析装
置にデータ処理装置からの入力により動作指令を行う場
合、上記のようなコード化された指示データを入力する
必要があり、したがって、データ処理装置のオペレータ
はそのコード内容に基づいて入力しなければならず、非
常に手間がかかることとなる。
一方、通常のデータ処理装置はベーシック言語等のプロ
グラム入力により操作されるようになっており、そのよ
うな観点において、言語表現による入力で分析装置が作
動されることでこの分析システム汎用性がより高められ
ると考えられる。
そこで、上記のようなデータ処理装置での入力の手間を
省略したり、分析システムの汎用性を向上するために
は、データ処理装置に言語/コード変換プログラムを持
たせ、データ処理装置において言語表現されたプログラ
ムを入力し、その入力内容をデータ処理装置において指
示データに変換して分析機器に送るようにすることが考
えられる。
しかしながら、上記のようにデータ処理装置に言語/コ
ード変換プログラムを持たせる構成とすると、分析装置
を新しいものに取り替える際等にはデータ処理装置側の
言語/コード変換プログラムも分析装置に対応するもの
に変更しなければならなくなり、これは実質的に困難と
なる。
本発明は上記の事情に鑑みて行ったもので、分析装置へ
の入力操作が簡単に行えて汎用性に優れ、しかも、分析
機器の取り替え使用が支障なく行える分析システムを提
供することを目的とする。
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明す
る。第1図は、本発明の実施例の構成を示すものであ
り、(1)は分析装置(例えばガス又は液体のクロマト
グラフ)、(2)はデータ処理装置、(11)は分析装置
側の伝送コントローラ、(21)はデータ処理装置側の伝
送コントローラ、(3)は(1)と(2)を結ぶケーブ
ル、(4)はCRT、(5)はカセットメモリである。分
析装置(1)とデータ処理装置(2)にはそれぞれ別個
のマイクロコンピュータが内蔵されており、それぞれ単
独でも動作するようになっている。
データ処理装置(2)は、ピーク面積の積分や定量計算
など一般的なデータ処理機能の他にBASIC言語用のイン
タプリタ(22)をフアームウエアとして持っており、BA
SIC言語によるプログラムを組むことにより装置の性能
を任意に拡張することができる。インタプリタ(22)
は、一般的なBASIC言語文以外に伝送命令を含むように
機能拡張された文も翻訳することができるようになって
いる。
一方、分析装置(2)側にはデータ処理装置(2)から
の高級言語表現よりなる実行文を動作実行のための指示
データに翻訳可能なインタプリタ(12)があり、これに
より両者の結合が可能となる。
例えば、分析装置(1)側にFLOWというパラメータがあ
ったとするとき、データ処理装置(2)側にはその分析
装置(1)のためにFLOWというパラメータキーを持って
いなくても、データ処理装置(2)側の図示しないキー
ボード(タイプライタキーのように英数文字や各種記号
のキーを持っている)からFLOW♯1=A*2(伝送命令
を含むように機能拡張された文:BASICプログラムに組み
込むことも可能)とキー入力すれば、データ処理装置
(2)側のインタプリタ(22)は♯の記号から外部装置
(この場合は分析装置(1))のための実行文(この場
合はパラメータFLOWの代入文)であると判断するので、
式の右辺を計算してその答えが2.5であれば、'FLOW=2.
5'の文字列が外部装置(分析装置(1))に送られる。
分析装置(1)のインタプリタ(12)はこれを翻訳し、
FLOWのパラメータの値として2.5が送られて来たことを
判断するのでFLOW2.5が設定される。
以上のようにして、データ処理装置(2)側から分析装
置(1)側のパラメータを簡単に設定することができ
る。このとき、分析装置(1)側からデータ処理装置
(2)側にデータを受けとった旨の返事を返すが、もし
分析装置(1)側のインタプリタ(12)の規格に合わな
い情報が送られたり、設定値に上下限値をオーバーして
いるなどのミスがあれば、エラー情報を返すので、デー
タ処理装置(2)側はエラー表示を行うことができる。
このようにデータ処理装置(2)側では、分析装置
(1)のパラメータの名称、形式、上下限値などの一切
の内容に関知する必要はないし、それらの限定内容につ
いてエラー判断する必要もない。又、FLOW♯1=A*2
は一般BASIC文と類似した形式であるので、パラメータF
LOWとの対応が容易であり、又操作も簡単である。同様
にデータ処理装置(2)側でPUMP♯1=1,PUMP♯1=0
と操作することにより、分析装置(1)側でPUMPという
操作キーをオンオフしたと同じ動作をさせることができ
る。このように、分析装置(1)側のキー操作をデータ
処理装置(2)側から自由に行うことができる。
さらに、別の例として分析装置(1)側にTEMPというパ
ラメータがあるとし、その限定された値に温度コントロ
ールしているとするとき、データ処理装置(2)側でA
=TEMP♯1*2とキー入力することにより、データ処理
装置(2)は外部変数の呼び出しであることを判断
し、'TEMP'の文字列を分析装置(1)側へ送ってパラメ
ータの値を要求し、分析装置(1)側は送られた文字を
翻訳してTEMPのパラメータの値をデータ処理装置(2)
側へ送り返し、それに(2)が乗算されてAという変数
に代入される。又、同様にデータ処理装置(2)側でB
=TEMP♯1Mとキー入力するとMの文字があるので、実測
値の要求と判断され、分析装置(1)側からは温度(TE
MP)の実測値が送られてきてBという変数にその値が代
入される。
このようにデータ処理装置(2)側に分析装置(1)側
の各種データを送ってもらうことができる。データ処理
装置(2)にはプリンタプロッタが内蔵されており、こ
れにより上記のA,Bの値を印字することができるし、又C
RT(4)に表示させることもできる。また、分析装置
(1)から送られてきたデータは、A,Bなどの名前のBAS
IC言語のユーザ変数に代入されているので、あとで自由
に処理できる。
以上のようなデータ処理装置2および分析装置1の動作
を、第8図〜第10図のフローチャートに従って更に詳細
に説明する。
第8図および第9図は、データ処理装置2のフローチャ
ートであり、第8図において、キーボードより文字列が
入力されると(ステップn1)、コマンドか代入文かを判
断し(ステップn2)、例えば、上述のFLOW1=A*2と
いった代入文であるとすると、右辺の式の計算が行われ
(ステップn3)、また、コマンドであるとすると、パラ
メータの式の計算が行われる(ステップn4)。
次に、コマンドまたは左辺の変数が伝送用拡張された言
語であることを示す♯の記号を含んでいるか否かを判断
し(ステップn5)、例えば、上述のFLOW♯1=A*2で
あれば、♯の記号を含んでいるので、右辺の計算値をコ
マンド文字列と共に分析装置1に送信する(ステップn
6)。例えば、上述のように、'FLOW=2,5'が送信され
る。また、♯の記号を含んでいないときには、内部コマ
ンドまたは代入文として実行する(ステップn7)。
上記のステップn6における翻訳動作が本発明の第1イン
タプリタに基づく動作である。
なお、上述のステップn3あるいはステップn4における式
の計算は、第9図に示されるように、式は終わりか否か
を判断し(ステップn8)、終わりでないときには、変
数、すなわち、右辺が♯の記号を含んでいるか否かを判
断し(ステップn9)、例えば、上述のFLOW1=A*2で
あるとすると、♯の記号を含んでいないので、内部変数
として計算が実行される。(ステップn10)。
また、例えば、上述のA=TEMP♯1*2であるとする
と、♯の記号を含んでいるので、変数名TEMPを分析装置
1へ送信し(ステップn11)、分析装置1から送られる
変数名に対応する測定値を受信して計算を実行する(ス
テップn12)。例えば、A=TEMP♯1*2であれば、2
が乗算される。
一方、分析装置1は、第10図のフローチャートに示され
るように、伝送ポートより文字列の入力があると(ステ
ップn1)、コマンドであるか否かを判断し(ステップn
2)、コマンドでないとき、例えば、TEMPの実測値の要
求であれば、実測値を、データ処理装置2に送信し(ス
テップn3)、また、コマンドであれば、それを実行して
終了文字をデータ処理装置2に送信する(ステップn
4)。
上記のステップn3及びステップn4における翻訳動作が本
発明の第2のインタプリタに基づく動作である。
第2図は、本発明の効果を示すための1実施例である。
第2図の参照符号2〜5は第1図の参照符号2〜5と同
一のものである。(1)は液体クロマトグラフ、(6)
は紫外吸光光度検出器で、液体クロマトグラフ(1)に
よりその液長が制御されるようになっている。この分析
システムのプログラムはBASIC言語により組まれ、カセ
ットメモリ(5)に入れられている。カセットメモリ
(5)のプログラムをデータ処理装置(2)にロード
し、プログラムを走らせると、先ずデータ処理装置
(2)から液体クロマトグラフ(1)にパラメータ類が
送られ液体クロマトグラフ(1)の分析条件等のパラメ
ータが自動的に設定される。次に、データ処理装置
(2)に入れられたBASICプログラムにより、液体クロ
マトグラフ(1)を介して紫外吸光光度検出器(6)の
波長を200nmから350nmまで1.5nm間隔でスキャンする。
このときの検出器(6)の出力(吸光度)はデータ処理
装置(2)に送られデータ処理装置(2)のメモリ内に
記憶される。このときのデータ(ベースライン)は第3
図(横軸を検出器波長,縦軸を振幅とするグラフ)のよ
うに大きく変動している。次に、液体クロマトグラフ
(1)に試料を注入し、データ処理装置(2)が成分ピ
ークの頂点を検出したとき、ポンプを止めてキャリヤの
流れを止める。そして、検出器(6)の波長を前述と同
様にスキャンする。このときのデータは、第4図(横軸
の検出器波長,縦軸を振幅とするグラフ)のように大幅
なベースライン変動の上に成分ピークが重畳しており、
真の吸光度曲線とは異なった非常に見にくいものであ
る。
データ処理装置(2)は第3図のベースラインを記憶し
ているから、第4図から第3図を差し引いてデータ処理
装置(2)側のプリンタプロッタに第5図のような真の
吸光度曲線を得ることができる。このように液体クロマ
トグラフ(1)単独では、ベースライン変動の大きい吸
光度曲線しか得ることができないが、データ処理装置
(2)と結合することにより、ベースラインを補正され
た真の吸光度曲線を得ることができる。又、液体クロマ
トグラフ(1)は、カセットメモリのようなものを持っ
ていないが、前述のようにデータ処理装置(2)側のカ
セットメモリ(5)に液体クロマトグラフ(1)の全分
析条件と分析のためのプログラム等を記憶させておき、
必要に応じてデータ処理装置(2)に入れて使用するこ
とができる。しかも、液体クロマトグラフ(1)はデー
タ処理装置(2)側のBASICプログラムにより自動的に
制御されることができる。又、液体クロマトグラフ
(1)にはCRT表示機能がないが、液体クロマトグラフ
(1)側のパラメータ,実測値などをデータ処理装置
(2)側のCRT(4)に任意に表示することができる。
このように、液体クロマトグラフ(1)はデータ処理装
置(2)の持つ機能を有効に利用することができる。
データ処理装置(2)は、第6図で示す本発明の他の拡
張実施例のように4台までの各種の分析装置(1),
(1),…と結合可能である。なお、第6図において第
1図と対応する部分には同一の参照符が付されている。
この場合、各分析装置相互の区別は、♯の後の番号で行
われる。例えば、前のFLOW♯1ha1番目の分析装置、FLOW
♯2は2番目の分析装置となる。
更に、第7図で示す本発明の更に他の拡張実施例のよう
に何台かのデータ処理装置(2),(2),…を別の1
台のデータ処理装置(2)′に結合して、データの整理
や、他のデータ処理装置の応援等に利用することができ
る。このように本発明の分析システムは、拡張性にも富
むものである。
なお、上述の拡張実施例では、BASIC言語を用いたが、
インタプリタ形式の高級言語であれば何であっても構わ
ない。
以上詳述したように、本発明によれば、分析装置に、デ
ータ処理装置からの高級言語表現よりなる実行文を動作
実行のための指示データに翻訳可能なインタプリタが備
えられているので、データ処理装置側から自然言語に近
いわかりやすい文字列等を入力することにより、分析装
置のパラメータの設定やキー操作、あるいは、パラメー
タの値や実側値を呼び出して印字や計算などを自由に行
えることになる。このことにより、ダイレクトオペレー
ション、例えば、オペレータが操作中に分析装置の値を
確認したくなったような場合に、即時に、しかも、簡単
に操作することができることが可能となり操作性が向上
される。
又、データ処理装置側に言語/コード変換プログラムを
備えないことで分析装置の取り替えも支障なくでき、そ
の結果、汎用性の高い高度な分析システムを得ることが
できるようになる。
さらに本発明によれば、データ処理装置におけるインタ
プリタを伝送命令を含むように機能拡張された実行文の
翻訳を可能としているので、これによりデータ処理装置
での入力を実行文の形態において簡単に入力することが
できるようになり、これにより、入力操作性がさらに向
上されるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すものであり、第
2図は本発明の効果の1例を示すための実施例の構成図
であり、第3図から第5図は第2図の効果を説明するた
めの図であり、第6図は本発明の他の実施例の構成を示
すものであり、第7図は本発明の更に他の実施例を示す
ものでり、第8図はデータ処理装置側の動作説明に供す
るフローチャートであり、第9図は同じくデータ処理装
置側の動作説明に供するフローチャートであり、第10図
は分析装置側の動作説明に供するフローチャートであ
る。 (1)…分析装置、(2),(2)′…データ処理装
置、(3)…ケーブル、(4)…CRT、(5)…カセッ
トメモリ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上坂 至 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 株式会社島津製作所三条工場内 (56)参考文献 特開 昭50−129050(JP,A) 特開 昭51−94850(JP,A) 特開 昭52−62043(JP,A)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】高級言語文よりなるプログラムに基づいて
    動作を行うデータ処理装置と、そのデータ処理装置に接
    続使用される分析装置とからなり、 前記データ処理装置に、高級言語表現よりなり、かつ、
    特殊記号を含むことで伝送命令を含むように機能拡張さ
    れた実行文を、高級言語表現よりなり特殊記号を含まな
    い実行文に翻訳可能な第1のインタプリタが備えられ、 前記分析装置に、前記第1のインタプリタの翻訳に基づ
    く前記データ処理装置からの高級言語表現よりなり特殊
    記号を含まない実行文を動作実行のための指示データに
    翻訳可能な第2のインタプリタが備えられてなることを
    特徴とする分析システム。
JP56155357A 1981-09-29 1981-09-29 分析システム Expired - Lifetime JPH0792877B2 (ja)

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JP56155357A JPH0792877B2 (ja) 1981-09-29 1981-09-29 分析システム

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JP56155357A JPH0792877B2 (ja) 1981-09-29 1981-09-29 分析システム

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JPS5856099A JPS5856099A (ja) 1983-04-02
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JP56155357A Expired - Lifetime JPH0792877B2 (ja) 1981-09-29 1981-09-29 分析システム

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JPH061263B2 (ja) * 1985-10-02 1994-01-05 株式会社日立製作所 クロマトグラフ分析システム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1507361A (en) * 1974-03-18 1978-04-12 Csepel Muevek Femmueve System for automatic examination of material characteristics
JPS5194850A (en) * 1975-02-18 1976-08-19 Fukusuno hishikensochioshikensuruhoho
JPS5262043A (en) * 1975-11-17 1977-05-23 Yokogawa Hokushin Electric Corp Automatic testing instrument

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JPS5856099A (ja) 1983-04-02

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