JPH0778514B2 - プリント板試験装置 - Google Patents
プリント板試験装置Info
- Publication number
- JPH0778514B2 JPH0778514B2 JP63066179A JP6617988A JPH0778514B2 JP H0778514 B2 JPH0778514 B2 JP H0778514B2 JP 63066179 A JP63066179 A JP 63066179A JP 6617988 A JP6617988 A JP 6617988A JP H0778514 B2 JPH0778514 B2 JP H0778514B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- power supply
- circuit board
- current
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Description
【発明の詳細な説明】 ［概要］ 本発明は半導体集積回路を実装したプリント板のような
被試験体の電源関係回路についての試験装置に関し、 プリント板が過大電流による事故を起こすことなく、未
然に防止できるような試験装置を提供することを目的と
し、 プリント板の半導体素子がオン状態とならない程度の微
小電圧を当初にプリント板の電源供給端子に印加し、流
入電流を測定してプリント板電源部の対接地の短絡の有
無を試験するプリント板試験装置において、被試験プリ
ント板の電源端子へ電源を供給するためのプログラマブ
ル電源と、電圧測定器・電流測定器と、それらを制御す
る制御部とを具備し、該制御部は短絡チェック時は半導
体素子がオン状態とならない程度の微小電圧設定を行
い、通常の機能試験時には定格電圧を設定することによ
り、短絡チェックと通常試験を通して１台の電源を共用
することで構成する。
被試験体の電源関係回路についての試験装置に関し、 プリント板が過大電流による事故を起こすことなく、未
然に防止できるような試験装置を提供することを目的と
し、 プリント板の半導体素子がオン状態とならない程度の微
小電圧を当初にプリント板の電源供給端子に印加し、流
入電流を測定してプリント板電源部の対接地の短絡の有
無を試験するプリント板試験装置において、被試験プリ
ント板の電源端子へ電源を供給するためのプログラマブ
ル電源と、電圧測定器・電流測定器と、それらを制御す
る制御部とを具備し、該制御部は短絡チェック時は半導
体素子がオン状態とならない程度の微小電圧設定を行
い、通常の機能試験時には定格電圧を設定することによ
り、短絡チェックと通常試験を通して１台の電源を共用
することで構成する。
［産業上の利用分野］ 本発明は半導体集積回路を実装したプリント板のような
被試験体の電源回路関係についての試験装置に関する。
被試験体の電源回路関係についての試験装置に関する。
従来、プリント板を製造した後に動作試験を行うとき、
プリント板電源端子に直流動作電源を接続し、規定電圧
を印加すると、若しプリント板内動作電源の回路に短絡
故障があると、瞬間に大電流が流れ、プリント板回路・
電源部に大きな故障を与えた。そのため簡易な方法で過
電流による事故を未然に防ぐ技術を開発することが要望
された。
プリント板電源端子に直流動作電源を接続し、規定電圧
を印加すると、若しプリント板内動作電源の回路に短絡
故障があると、瞬間に大電流が流れ、プリント板回路・
電源部に大きな故障を与えた。そのため簡易な方法で過
電流による事故を未然に防ぐ技術を開発することが要望
された。
［従来の技術］ 半導体集積回路を実装したプリント板は製造した後、動
作試験を行うが、当初に導通テストを行う必要がある。
第５図は従来の試験装置を示すブロック図である。第５
図において、１は被試験体のプリント板、２は被試験体
を試験するテスタ、３はテスタ内のマイクロプロセッ
サ、４はテスタ内の直流電源回路、５はテスタ内のピン
エレクトロニクスを示す。第５図に示すようにプリント
板１に対し、直流電源回路４から半導体の動作上の規定
電圧をスイッチオンにより印加する。半導体素子が直流
的に動作した後に、ピンエレクトロニクス５の回路から
パルス信号などの動作信号を与えて、集積回路出力端子
における出力信号を取り出し、集積回路が正常な動作を
しているとき、予想される出力信号と実際の出力信号と
を比較して、集積回路の動作状況を判断する。
作試験を行うが、当初に導通テストを行う必要がある。
第５図は従来の試験装置を示すブロック図である。第５
図において、１は被試験体のプリント板、２は被試験体
を試験するテスタ、３はテスタ内のマイクロプロセッ
サ、４はテスタ内の直流電源回路、５はテスタ内のピン
エレクトロニクスを示す。第５図に示すようにプリント
板１に対し、直流電源回路４から半導体の動作上の規定
電圧をスイッチオンにより印加する。半導体素子が直流
的に動作した後に、ピンエレクトロニクス５の回路から
パルス信号などの動作信号を与えて、集積回路出力端子
における出力信号を取り出し、集積回路が正常な動作を
しているとき、予想される出力信号と実際の出力信号と
を比較して、集積回路の動作状況を判断する。
［発明が解決しようとする課題］ プリント板１に対し事前に何のチェックも行われずに直
流規定電圧をスイッチオンして与えると、プリント板１
において半田付け作業中のミス等で半田が配線間を短絡
するなど故障を起こしていることがあって、プリント板
１に大電流が流れ焼けることがある。或いは電源回路４
の方が大電流に耐え切れずに発熱して動作ストップする
などの障害が発生した。
流規定電圧をスイッチオンして与えると、プリント板１
において半田付け作業中のミス等で半田が配線間を短絡
するなど故障を起こしていることがあって、プリント板
１に大電流が流れ焼けることがある。或いは電源回路４
の方が大電流に耐え切れずに発熱して動作ストップする
などの障害が発生した。
本発明の目的は前述の欠点を改善し、プリント板が過大
電流による事故を起こさせることなく、未然に防止でき
るような試験装置を提供することにある。
電流による事故を起こさせることなく、未然に防止でき
るような試験装置を提供することにある。
［課題を解決するための手段］ 第１図は本発明の原理構成を示す図である。第１図にお
いて、１は被試験体のプリント基板、２はテスタを全体
的に示すもの、３は制御部としてのマイクロプロセッ
サ、４は直流電源回路、５はピンエレクトロニクス、６
はプログラマブル電源、７は電圧測定器、８は電流測定
器を示す。
いて、１は被試験体のプリント基板、２はテスタを全体
的に示すもの、３は制御部としてのマイクロプロセッ
サ、４は直流電源回路、５はピンエレクトロニクス、６
はプログラマブル電源、７は電圧測定器、８は電流測定
器を示す。
プリント板１の半導体素子がオン状態とならない程度の
微小電圧を当初にプリント板の電源供給端子に印加し、
流入電流を測定してプリント板１電源部の対接地の短絡
の有無を試験するプリント板試験装置において、本発明
は下記の構成としている。即ち、 被試験プリント板１の電源端子へ電源を供給するための
プログラマブル電源６と、電圧測定器７・電流測定器８
と、それらを制御する制御部３とを具備し、該制御部３
は短絡チェック時は半導体素子がオン状態とならない程
度の微小電圧設定を行い、通常の機能試験時には定格電
圧を設定することにより、短絡チェックと通常試験を通
して１台の電源を共用することで構成する。
微小電圧を当初にプリント板の電源供給端子に印加し、
流入電流を測定してプリント板１電源部の対接地の短絡
の有無を試験するプリント板試験装置において、本発明
は下記の構成としている。即ち、 被試験プリント板１の電源端子へ電源を供給するための
プログラマブル電源６と、電圧測定器７・電流測定器８
と、それらを制御する制御部３とを具備し、該制御部３
は短絡チェック時は半導体素子がオン状態とならない程
度の微小電圧設定を行い、通常の機能試験時には定格電
圧を設定することにより、短絡チェックと通常試験を通
して１台の電源を共用することで構成する。
［作用］ 半導体素子を搭載したプリント板の電圧印加端子に当初
は微小電圧を印加する。微小電圧の大きさは半導体素子
がオン状態とならない程度の値とする。その微小電圧に
対し流れる電流の大きさを測定すれば、予想電流は所謂
電流の大きさであるから、それ以上に大電流が流れると
きは、プリント板の電源回路が異常となっていると判断
し、電圧印加を中断する。
は微小電圧を印加する。微小電圧の大きさは半導体素子
がオン状態とならない程度の値とする。その微小電圧に
対し流れる電流の大きさを測定すれば、予想電流は所謂
電流の大きさであるから、それ以上に大電流が流れると
きは、プリント板の電源回路が異常となっていると判断
し、電圧印加を中断する。
正常のときは半導体集積回路の動作用電圧まで直流電源
の電圧を上昇させて、通常の機能試験へ移行する。
の電圧を上昇させて、通常の機能試験へ移行する。
［実施例］ 第２図Ａは正常回路に微小電圧を印加したときの電圧・
電流を示す図である。このとき回路はシリコントランジ
スタを集積した回路の場合とすると、0.6Vを印加して通
常はオン状態に切換わる。そのため0.3Vを印加したとき
は半導体集積回路がオンとはならず、暗電流が流れる程
度でオープン状態と見做して良い。電圧測定器・電流測
定器によりそれぞれの値を測定すれば、暗電流以外に短
絡などによる障害電流が流れているかどうかを判断でき
る。
電流を示す図である。このとき回路はシリコントランジ
スタを集積した回路の場合とすると、0.6Vを印加して通
常はオン状態に切換わる。そのため0.3Vを印加したとき
は半導体集積回路がオンとはならず、暗電流が流れる程
度でオープン状態と見做して良い。電圧測定器・電流測
定器によりそれぞれの値を測定すれば、暗電流以外に短
絡などによる障害電流が流れているかどうかを判断でき
る。
第２図Ｂは異常状態の場合であって、0.3Vの印加であっ
ても、電流Iaは異常に大きく、怪しいと判断できる。0.
3Vの印加では、異常かどうか判断できないときは、0.5
V,1Vのように変化させて見て、そのとき比例的に電流が
増大すれば、異常であると明瞭に判る。半導体集積回路
では、オン状態の後は二乗曲線のように上昇する筈であ
る。
ても、電流Iaは異常に大きく、怪しいと判断できる。0.
3Vの印加では、異常かどうか判断できないときは、0.5
V,1Vのように変化させて見て、そのとき比例的に電流が
増大すれば、異常であると明瞭に判る。半導体集積回路
では、オン状態の後は二乗曲線のように上昇する筈であ
る。
第３図は電源回路における電圧測定器・電流測定器とし
てディジタル式測定器の構成を示す図である。第３図に
おいて、３はマイクロプロセッサ、11はディジタル・ア
ナログ変換器、12はアナログ信号の増幅器、13はシャン
ト抵抗素子、14,15はアナログ・ディジタル変換器を示
す。第３図において、マイクロプロセッサ３では電圧印
加端子が0.3Vとなるように選定したディジタル値をD/A
変換器11に印加する。変換されたアナログ値を増幅器12
において増幅し、所定の直流振幅値を得る。シャント抵
抗13を経て電圧印加端子から図示しないプリント板に印
加する。そのときの電流値はシャント抵抗13の電圧降下
で求められるため、A/D変化器14で取り出し、マイクロ
プロセッサ３へ送る。また電圧値はA/D変換器15におい
て求められる。変換器14,15の出力はマイクロプロセッ
サ３に伝送され、当初の低電圧印加時の電流値を調べ判
定する。
てディジタル式測定器の構成を示す図である。第３図に
おいて、３はマイクロプロセッサ、11はディジタル・ア
ナログ変換器、12はアナログ信号の増幅器、13はシャン
ト抵抗素子、14,15はアナログ・ディジタル変換器を示
す。第３図において、マイクロプロセッサ３では電圧印
加端子が0.3Vとなるように選定したディジタル値をD/A
変換器11に印加する。変換されたアナログ値を増幅器12
において増幅し、所定の直流振幅値を得る。シャント抵
抗13を経て電圧印加端子から図示しないプリント板に印
加する。そのときの電流値はシャント抵抗13の電圧降下
で求められるため、A/D変化器14で取り出し、マイクロ
プロセッサ３へ送る。また電圧値はA/D変換器15におい
て求められる。変換器14,15の出力はマイクロプロセッ
サ３に伝送され、当初の低電圧印加時の電流値を調べ判
定する。
次にプリント板が複数の電源印加端子を具備している場
合において、各電源端子と接地間のみでなく、電源端子
間の短絡という障害の発生することがある。そのチェッ
クのため第４図に示すように直流電源回路４を構成して
試験を行う。第４図においてプログラマブル電源を61,6
2,63と具備し、マイクロプロセッサ３からの制御の図示
を省略している。電源63は−V3の電圧をプリント板へ与
え、電源61,62はそれぞれ＋V1,＋V2を与えるものとす
る。電圧測定器・電流測定器71〜73,81〜83と示すと
き、まず電源61に微小電圧を出力され、電源62,63は零
Ｖに設定する。次に電流測定器81により電源61からの電
流が規定以上流れるかどうかチェックする。このとき流
れていなければ、プリント板において＋V1の回路につい
て対接地間に異常がないと判断する。そして測定器72,7
3,82,83において零Ｖ、零Ａであることを確認する。こ
のため電源61と電源62,63間に短絡のないことが判る。
合において、各電源端子と接地間のみでなく、電源端子
間の短絡という障害の発生することがある。そのチェッ
クのため第４図に示すように直流電源回路４を構成して
試験を行う。第４図においてプログラマブル電源を61,6
2,63と具備し、マイクロプロセッサ３からの制御の図示
を省略している。電源63は−V3の電圧をプリント板へ与
え、電源61,62はそれぞれ＋V1,＋V2を与えるものとす
る。電圧測定器・電流測定器71〜73,81〜83と示すと
き、まず電源61に微小電圧を出力され、電源62,63は零
Ｖに設定する。次に電流測定器81により電源61からの電
流が規定以上流れるかどうかチェックする。このとき流
れていなければ、プリント板において＋V1の回路につい
て対接地間に異常がないと判断する。そして測定器72,7
3,82,83において零Ｖ、零Ａであることを確認する。こ
のため電源61と電源62,63間に短絡のないことが判る。
若し、電源62の電圧測定器72が0.3Vを示すとき、端子＋
V1とV2間の短絡がある。電源63の電流測定器83が零Ａで
ないとき端子＋V1−V3間に短絡のあることが判る。
V1とV2間の短絡がある。電源63の電流測定器83が零Ａで
ないとき端子＋V1−V3間に短絡のあることが判る。
そして念のため微小電圧の印加を電源62のみ、次に63の
みから行ってチェックを行う。
みから行ってチェックを行う。
［発明の効果］ このようにして本発明によると、プリント板の電圧印加
端子と接地間或いは印加端子相互間に短絡などの障害が
あるとき、回路の動作電圧を直接印加し大きな事故とな
ることを、未然に防止することができる。また大量に生
産されるプリント板について、中央処理装置の制御によ
り簡易、確実にチェックを進めることが出来て作業が効
率的にできる。更に前記プリント板に対する短絡試験と
通常の機能試験とを共通の電源装置により行うことが出
来る。
端子と接地間或いは印加端子相互間に短絡などの障害が
あるとき、回路の動作電圧を直接印加し大きな事故とな
ることを、未然に防止することができる。また大量に生
産されるプリント板について、中央処理装置の制御によ
り簡易、確実にチェックを進めることが出来て作業が効
率的にできる。更に前記プリント板に対する短絡試験と
通常の機能試験とを共通の電源装置により行うことが出
来る。
第１図は本発明の原理構成を示す図、 第２図は本発明の動作説明図、 第３図は電圧測定器などの構成を示す図、 第４図は複数の電源を有する場合の構成を示す図、 第５図は従来の試験装置の構成を示す図である。 １……プリント板 ２……テスタ ３……制御部（マイクロプロセッサ） ４……直流電源 ５……ピンエレクトロニクス ６……プログラマブル電源 ７……電圧測定器 ８……電流測定器
Claims (2)
- 【請求項１】プリント板（１）の半導体素子がオン状態
とならない程度の微小電圧を当初にプリント板の電源供
給端子に印加し、流入電流を測定してプリント板（１）
電源部の対接地の短絡の有無を試験するプリント板試験
装置において、 被試験プリント板（１）の電源端子へ電源を供給するた
めのプログラマブル電源（６）と、電圧測定器（７）・
電流測定器（８）と、それらを制御する制御部（３）と
を具備し、該制御部（３）は短絡チェック時は半導体素
子がオン状態とならない程度の微小電圧設定を行い、通
常の機能試験時には定格電圧を設定することにより、短
絡チェックと通常試験を通して１台の電源を共用するこ
とを特徴とするプリント板試験装置。 - 【請求項２】請求項第Ｉ項記載の試験装置において、被
試験プリント板の電圧印加端子対応に電源回路と電圧測
定器・電流測定器とを独立して複数組具備し、被試験プ
リント板に微小電圧を印加したとき、他の電源回路から
は電圧を印加せずに電圧電流を測定して、電圧印加端子
間の導通試験も行うことを特徴とするプリント板の試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63066179A JPH0778514B2 (ja) | 1988-03-19 | 1988-03-19 | プリント板試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63066179A JPH0778514B2 (ja) | 1988-03-19 | 1988-03-19 | プリント板試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01308975A JPH01308975A (ja) | 1989-12-13 |
| JPH0778514B2 true JPH0778514B2 (ja) | 1995-08-23 |
Family
ID=13308361
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63066179A Expired - Fee Related JPH0778514B2 (ja) | 1988-03-19 | 1988-03-19 | プリント板試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0778514B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03252566A (ja) * | 1990-03-01 | 1991-11-11 | Fujitsu Ltd | 電源間ショートの検出方法 |
| JP4814614B2 (ja) * | 2005-10-26 | 2011-11-16 | パナソニック株式会社 | 半導体集積回路及びその検査方法 |
| JP6314392B2 (ja) * | 2013-08-30 | 2018-04-25 | 富士通株式会社 | 測定装置および測定方法 |
| CN105203945A (zh) * | 2015-10-13 | 2015-12-30 | 中国船舶重工集团公司第七一二研究所 | —种快速测试电路板电源对地短路点的方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5743257Y2 (ja) * | 1972-08-14 | 1982-09-24 |
-
1988
- 1988-03-19 JP JP63066179A patent/JPH0778514B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01308975A (ja) | 1989-12-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4119060B2 (ja) | 試験装置 | |
| JPH0653299A (ja) | バーンイン装置 | |
| US8275569B2 (en) | Test apparatus and diagnosis method | |
| US4686627A (en) | Electrical test apparatus | |
| US6833722B2 (en) | Electronic circuit device with a short circuit switch using transistors and method of testing such a device | |
| JPH0778514B2 (ja) | プリント板試験装置 | |
| JP2000243795A (ja) | バーンインテスタにおける電源電流測定回路 | |
| JP3631275B2 (ja) | 半導体試験装置のピン試験回路 | |
| US5005008A (en) | Method and apparatus for providing thermodynamic protection of a driver circuit used in an in-circuit tester | |
| JPH11326441A (ja) | 半導体試験装置 | |
| JP4727641B2 (ja) | テスター装置 | |
| JP3331103B2 (ja) | Ｉｃテスタの電流測定装置 | |
| JP3436138B2 (ja) | 半導体試験装置用バイアス電源回路 | |
| JP2565866Y2 (ja) | Ｉｃテスタの並列接続デバイス電源 | |
| JPS63135881A (ja) | 電源回路 | |
| JPH01129432A (ja) | 集積回路 | |
| KR100798123B1 (ko) | 다수의 클램프 저항 소자를 구비하는 클램프 회로 | |
| JP2001242222A (ja) | テストボード試験装置、及びテストボード試験方法 | |
| JP2009065037A (ja) | 半導体集積回路とその検査装置 | |
| JP2860794B2 (ja) | Ｉｃテスターの電流監視装置 | |
| RU1478884C (ru) | Устройство для проверки аппаратуры релейной защиты и автоматики | |
| JPH0611471Y2 (ja) | 直流電圧・電流発生装置 | |
| JPH05870Y2 (ja) | ||
| JP2996989B2 (ja) | Ｉｃテスターのピン電流測定回路及びその基板 | |
| JP3669516B2 (ja) | 電源供給装置及び電源供給方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |