JPH0770987B2 - 出力バッファ回路 - Google Patents

出力バッファ回路

Info

Publication number
JPH0770987B2
JPH0770987B2 JP2022391A JP2239190A JPH0770987B2 JP H0770987 B2 JPH0770987 B2 JP H0770987B2 JP 2022391 A JP2022391 A JP 2022391A JP 2239190 A JP2239190 A JP 2239190A JP H0770987 B2 JPH0770987 B2 JP H0770987B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
potential
gate
mosfet
mos transistor
power supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2022391A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH03227116A (ja
Inventor
定男 吉川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP2022391A priority Critical patent/JPH0770987B2/ja
Publication of JPH03227116A publication Critical patent/JPH03227116A/ja
Publication of JPH0770987B2 publication Critical patent/JPH0770987B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は、メモリ等の半導体集積回路に内蔵され、内部
信号を外部に出力するための出力バッファ回路に関す
る。
(ロ)従来の技術 従来、メモリから読出されるデータは外部出力端子から
データバス等に送出される。このようなデータバスへの
データ出力回路には、通常インバータ構成の出力バッフ
ァ回路が採用される。
第3図は従来の出力バッファ回路の回路図である。Pチ
ャンネル型MOSFET(TP)とNチャンネル型MOSFET(TN
とが電源と接地との間に直列接続され、その接続点が出
力端子(1)に接続されている。両MOSFET(TP)(TN
のゲートには、直列接続された3段のインバータ(2)
(3)が夫々接続され、これらインバータ(2)(3)
にメモリセル(図示せず)から読出されたデータDataが
入力される。
このような出力バッファ回路に於いては、データDataが
「0」(低レベル)のときには、両MOSFET(TP)(TN
のゲート電圧が高レベルとなり、MOSFET(TP)がオフ、
MOSFET(TN)がオンして出力端子(1)が接地レベルと
なる。逆にデータDataが「1」(高レベル)のときには
MOSFET(TP)がオン、MOSFET(TN)がオフして出力端子
(1)が電源レベルとなる。
ところで、出力側に設けられている一対のMOSFET(TP
(TN)は、容量の大きな外部負荷に対応して駆動能力が
大きくなるようにトランジスタサイズが大きく設定され
る。通常のメモリでは、並列して設けられた複数の出力
バッファ回路が同時に動作する場合が多く、電源からMO
SFET(TP)を介して外部負荷に流れる電流IP及び外部負
荷からMOSFET(TN)を介して接地側に流れる電流INが問
題となる。即ち、複数の出力バッファ回路が同時に動作
して電流IP或いはINがいっせいに流れると、全体的に流
れる電流に依って電源電位の降下や接地電位の上昇が起
きる。なかでも電流INに依る接地電位の上昇が問題であ
り、内部回路、例えばメモリセルの誤動作の原因とな
る。
第4図は、出力データが変化するときにMOSFET(TN)に
流れる電流INの経時変化を示している。MOSFET(TP
(TN)が反転するとMOSFET(TN)には実線で示すように
最大値Imaxの電流INが流れる。この電流INは、外部負荷
を接地レベルまで放電するのに流れるものであり、MOSF
ET(TN)のオン抵抗値に依って最大値Imaxが決まる。MO
SFET(TN)のオン抵抗は、そのゲート電圧、即ちインバ
ータ(2)を駆動する電源電位VDDに起因する。電源電
位VDDに対する電流INの最大値Imaxの変化を第5図に示
す。最大値Imaxは電源電位VDDに従って大きくなってい
る。
そこで、MOSFET(TN)に流れる電流INの最大値Imaxを低
減させる方法として、MOSFET(TP)(TN)の駆動能力を
小さくすることがあげられる。MOSFET(TP)(TN)の駆
動能力を小さくすれば、動作速度が遅くなることから電
流INの変化が第4図に破線で示すように鈍くなり、最大
値I′maxは小さくなる。従って、電源電位VDDに対する
電流の変化が第5図に破線で示すように緩やかになる。
(ハ)発明が解決しようとする課題 しかしながら、MOSFET(TP)(TN)の駆動能力を低下さ
せた場合、電流の最大値Imaxのみが抑圧される訳ではな
く、全体的に電流が抑圧されて動作速度が遅くなる。従
って、出力波形が鈍ると共に出力バッファ回路を備えた
メモリ等の応答が遅れるといった問題が生ずる。
また、電源電位VDDに対する電流INの最大値I′maxの変
化は、従来の最大値Imaxの変化に比して鈍くなるもの
の、電源電位VDDが上昇するに従って増加するため、電
源電位VDDがさらに高くなれば結果的に最大値I′maxは
大きくなってしまう。
そこで本発明は、動作速度の低下を伴うことなく、出力
側に流れる電流の最大値を有効に低減させることを目的
とする。
(ニ)課題を解決するための手段 本発明は上述の課題を解決するためになされたもので、
第1の特徴とするところは、電源と接地との間に一対の
MOSトランジスタが直列に接続され、各MOSトランジスタ
のゲートが直列接続された複数段のインバータの出力に
依り駆動されて上記一対のMOSトランジスタの接続点か
ら出力信号を得る出力バッファ回路に於いて、接地側の
上記MOSトランジスタのゲートを駆動するインバータ列
の最終段より偶数段のインバータの入力側と接地との間
にNチャンネル型の第1及び第2のMOSトランジスタが
直列に接続され、第1のMOSトランジスタのゲートに上
記出力信号が与えられると共に第2のMOSトランジスタ
のゲートに電源電位が与えられる第1の電位制御手段、
接地側の上記MOSトランジスタのゲートと接地との間に
Pチャンネル型の第3のMOSトランジスタとNチャンネ
ル型の第4のMOSトランジスタとが直列に接続され、第
3のMOSトランジスタのゲートに接地電位が与えられる
と共に第4のMOSトランジスタのゲートに上記第1及び
第2のMOSトランジスタの間の電位が与えられる第2の
電位制御手段、上記第1の電位制御手段と上記インバー
タとの間に直列に接続されゲートがそのドレインに接続
された適数個のPチャンネル型のMOSトランジスタ、を
備えたことにある。
そして、第2の特徴とするところは、電源側の上記MOS
トランジスタのゲートを駆動するインバータ列の最終段
より偶数段のインバータの入力側と電源との間にPチャ
ンネル型の第1及び第2のMOSトランジスタが直列に接
続され、第1のMOSトランジスタのゲートに上記出力信
号が与えられると共に第2のMOSトランジスタのゲート
に接地電位が与えられる第1の電位制御手段、電源側の
上記MOSトランジスタのゲートと電源との間にNチャン
ネル型の第3のMOSトランジスタとPチャンネル型の第
4のMOSトランジスタとが直列に接続され、第3のMOSト
ランジスタのゲートに電源電位が与えられると共に第4
のMOSトランジスタのゲートに上記第1及び第2のMOSト
ランジスタの間の電位が与えられる第2の電位制御手
段、上記第1の電位制御手段と上記インバータとの間に
直列に接続されゲートがそのドレインに接続された適数
個のNチャンネル型のMOSトランジスタ、を備えたこと
にある。
(ホ)作 用 本発明の第1の特徴に依れば、電源電位が一定の電位ま
で上昇すると第1の電位制御手段とインバータとの間の
Pチャンネル型のMOSトランジスタのオン抵抗値が下が
り、第4のMOSトランジスタのゲートに与える電位が高
くなって第4のMOSトランジスタのオン抵抗値が下が
り、出力側のNチャンネル型のMOSトランジスタのゲー
トの電位が引き下げられる。従って出力側のNチャンネ
ル型のMOSトランジスタのオン抵抗値が上がり、出力側
から接地側に流れる電流が抑圧される。
そして、第2の特徴に依れば、電源電位が一定の電位ま
で下がると第1の電位制御手段とインバータとの間のN
チャンネル型のMOSトランジスタのオン抵抗値が下が
り、第4のMOSトランジスタのゲートに与える電位が低
くなって第4のMOSトランジスタのオン抵抗値が下が
り、出力側のPチャンネル型のMOSトランジスタのゲー
トの電位が引き上げられる。従って出力側のPチャンネ
ル型のMOSトランジスタのオン抵抗値が上がり、電源側
から出力側に流れる電流が抑圧される。
(ヘ)実施例 本発明の実施例を図面に従って説明する。
第1図は本発明出力バッファ回路の回路図である。この
図に於いて、一対のMOSFET(TP)(TN)及びこれらのゲ
ートを駆動するインバータ(2)(3)は第4図と同一
であり、同一部分には、同一符号を付してある。
接地側のMOSFET(TN)のゲートを駆動するインバータ
(3)の出力側から2段目と3段目との間のA点には、
Pチャンネル型MOSFET(TP1)と2つのNチャンネル型M
OSFET(TN1)(TN2)とが接地との間に直列に接続されM
OSFET(TP1)のゲートがそのドレインに接続されてい
る。MOSFET(TN1)のゲートは、保護抵抗(4)を介し
て出力端子(1)に接続され、MOSFET(TN2)のゲート
には電源電位が与えられて第1の電位制御回路(11)を
構成している。また、インバータ(3)の出力側のB
点、即ちMOSFET(TN)のゲートにはPチャンネル型MOSF
ET(TP2)とNチャンネル型MOSFET(TN3)とが接地との
間に直列に接続されている。MOSFET(TP2)のゲートに
は接地電位が与えられ、MOSFET(TN3)のゲートには、
第1の電位制御回路(11)のMOSFET(TN1)及び(TN2
の間のC点の電位が与えられて、第2の電位制御回路
(12)が構成されている。従って、A点の電位の変動に
追従してMOSFET(TN3)のゲート(C点)の電位が変化
せしめられ、B点の電位が制御される。
一方、電源側のMOSFET(TP)のゲートを駆動するインバ
ータ(2)の出力側から2段目と3段目との間のD点に
は、Nチャンネル型MOSFET(TN4)と2つのPチャンネ
ル型MOSFET(TP3)(TP4)とが電源との間に直列に接続
され、MOSFET(TN4)のゲートがそのドレインに接続さ
れている。MOSFET(TP3)のゲートは、保護抵抗(4)
を介して出力端子に接続され、MOSFET(TP4)のゲート
には接地電位が与えられて第3の電位制御回路(13)を
構成している。そして、インバータ(2)の出力側のE
点、即ちMOSFET(TP)のゲートにはNチャンネル型MOSF
ET(TN5)とPチャンネル型MOSFET(TP5)とが電源との
間に直列に接続されている。MOSFET(TN5)のゲートに
は電源電位が与えられ、MOSFET(TP5)のゲートには、
第3の電位制御回路(13)のMOSFET(TP3)及び(TP4
の間のF点の電位が与えられて第4の電位制御回路(1
4)が構成されている。従って、第1及び第2の電源制
御回路(11)(12)と同様に、D点の電位の変動に追従
してMOSFET(TP5)のゲート(F点)の電位が変化せし
められ、E点の電位が制御される。
次に、回路の動作について説明する。
インバータ(2)(3)に入力されるデータDataが
「1」から「0」に反転するとき、MOSFET(TP)がオン
からオフ、MOSFET(TN)がオフからオンに反転する。MO
SFET(TN)がオンするときには、外部負荷から接地側に
電流INが流れる。このとき、C点の電位VCがMOSFET(T
N3)の閾値VN3より高くなるとMOSFET(TN3)がオンし、
B点の電位VBが引き下げられる。この電位VBは、出力側
のインバータ(3)を構成するPチャンネル型MOSFETと
MOSFET(TP2)(TN3)とに依り電源電圧が分圧された値
となり、夫々の動作のバランスに応じて変動する。従っ
て、MOSFET(TN)のゲート電位が引き下げられ、MOSFET
(TN)のオン抵抗が高くなり、電流INが抑圧される。
ここでMOSFET(TP2)は、MOSFET(TN3)がオンしたとき
の電位VBを補償するためのもので、MOSFET(TN3)より
相互コンダクタンスβが小さく設定され、オン状態が維
持される。ここで相互コンダクタンスβは、W/L(W:MOS
FETのチャンネル幅、L:MOSFETのチャンネル長)に比例
するMOSFET固有の定数で、オン抵抗値に関係する。
電位VCは、MOSFET(TP1)(TN1)(TN2)及び入力側の
インバータ(3)を構成するPチャンネル型MOSFETのバ
ランスに依って決まり、電源電位の変動に追従する。そ
こで、各MOSFET(TP1)(TN1)(TN2)の相互コンダク
タンスβの比を所定の値に設定することで、電源電位が
一定の電位V1以上になったときにMOSFET(TN3)がオン
するように構成できる。ここでは、MOSFET(TN1)とイ
ンバータ(3)との間にMOSFET(TP1)が単独で設けら
れているが、必要に応じて複数のPチャンネル型MOSFET
を直列に接続しても良い。また、このMOSFET(TP1)が
第1の電位制御回路(11)を構成するMOSFET(TN1)(T
N2)と異なるPチャンネル型であるため、製造のばらつ
き等に依ってMOSFET(TN1)(TN2)の相互コンダクタン
スβが大きくなり、MOSFET(TN2)のオン抵抗が高くな
ってもMOSFET(TP1)のオン抵抗が下がって電位VCを引
き上げる。このため、製造のばらつき等に依り各MOSFET
(TP1)(TN1)(TN2)が所望の素子特性を得られなか
った場合でも、電位制御回路(11)を確実に動作させる
ことができる。
従って、MOSFET(TN)を介して接地側に流れる電流I
Nは、第2図に示すように電源電位が電位V1以下では電
源電位の上昇に伴って増大するが、電位V1を超えると電
流INの増大が鈍くなる。
このような第1及び第2の電位制御回路(11)(12)
は、MOSFET(TN1)の作用に依って出力端子(1)の電
位がMOSFET(TN1)の閾値電圧VN1以上になったときのみ
に動作が限定される。即ち、MOSFET(TN)のゲート電位
の引き下げが必要になるのは、外部負荷側の電位が高い
場合であり、外部負荷側の電位が低下したときにもMOSF
ET(TN)のゲート電位を引き下げると動作速度を低下さ
せることになるため、外部負荷側の電位が低下したとき
には、第1及び第2の電位制御回路(11)(12)の動作
が停止される。
逆に入力データDataが「0」から「1」に反転すると
き、MOSFET(TP)はオフからオン、MOSFET(TN)はオン
からオフに反転し、電源側から外部負荷に電流IPが流れ
る。そこで、電源電位とF点の電位VFとの差がMOSFET
(TP5)の閾値VP5より大きい場合、MOSFET(TP5)がオ
ンしてE点の電位VEが引き上げられる。この電位VEは、
出力側のインバータ(2)のNチャンネル型MOSFETとMO
SFET(TN5)(TP5)とのバランスに応じて変動する。こ
のため、MOSFET(TP)のゲート電位が引き上げられてMO
SFET(TP)のオン抵抗が高くなり、電流IPが抑圧され
る。
ここで、MOSFET(TN5)は、MOSFET(TP2)と同様に、MO
SFET(TP5)がオンしたときのE点の電位VBを補償する
もので、相互コンダクタンスβがMOSFET(TP5)より小
さく設定されている。
電位VFは、MOSFET(TN4)(TP3)(TP4)及び入力側の
インバータ(2)を構成するNチャンネル型MOSFETのバ
ランスで決まるもので、接地電位が変動すると、それに
追従して変動する。即ち、MOSFET(TN4)(TP3
(TP4)の相互コンダクタンスの比の設定で、電位VD
所定の値となったときに電源電位と電位VFとの差が閾値
VP5となるようにして第3及び第4の電位制御回路(1
3)(14)の動作点を決定する。ここでは、MOSFET
(TP3)とインバータ(2)との間にMOSFET(TN4)を単
独で設けているが、複数のNチャンネル型MOSFETを直列
に設けて第3及び第4の電位制御回路(13)(14)の動
作点を決定することもできる。
従って、第3及び第4の電位制御回路(13)(14)は、
第1及び第2の電位制御回路(11)(12)と同様に、MO
SFET(TN4)(TP3)(TP4)で決まる動作点を境にして
動作点までは電流IPが抑圧されず、動作点を超えると電
流IPが抑圧される。
また、第3及び第4の電位制御回路(13)(14)は、動
作速度の低下を防止するために、外部負荷側と電源側と
の電位差が小さくなったときに電流IPの抑圧動作を停止
する。
尚、本実施例に於いては、接地側のMOSFET(TN)のゲー
トを駆動するインバータ(3)側と電源側のMOSFET
(TP)のゲートを駆動するインバータ(2)側とに夫々
電位制御回路を設ける場合を例示したが、インバータ
(2)(3)の何れか一方の側のみに電位制御回路を設
けることも可能である。
(ト)発明の効果 本発明に依れば、外部負荷に流れる電流に依る接地電位
の上昇や電源電位の降下を防止することができ、内部回
路の誤動作を防止できると共に、電源電位の変動に対し
ても正常な動作が保証されるため、信頼性の向上が図れ
る。
また、製造時の各素子特性のばらつきに対しても、電位
制御回路を確実に動作させることができるために、各素
子特性の設定の自由度が増し、製造歩留りの向上が望め
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の出力バッファ回路の回路図、第2図は
第1図の特性図、第3図は従来の出力バッファ回路の回
路図、第4図及び第5図は第3図の特性図である。 (1)……出力端子、(2)(3)……インバータ、
(4)……保護抵抗、(11)〜(14)……電位制御回
路、(TP)(TP1)〜(TP5)……Pチャンネル型MOSFE
T、(TN)(TN1)〜(TN5)……Nチャンネル型MOSFE
T。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電源と接地との間に一対のMOSトランジス
    タが直列に接続され、各MOSトランジスタのゲートが直
    列接続された複数段のインバータの出力に依り駆動され
    て上記一対のMOSトランジスタの接続点から出力信号を
    得る出力バッファ回路に於いて、 接地側の上記MOSトランジスタのゲートを駆動するイン
    バータ列の最終段より偶数段のインバータの入力側と接
    地との間にNチャンネル型の第1及び第2のMOSトラン
    ジスタが直列に接続され、第1のMOSトランジスタのゲ
    ートに上記出力信号が与えられると共に第2のMOSトラ
    ンジスタのゲートに電源電位が与えられる第1の電位制
    御手段、 接地側の上記MOSトランジスタのゲートと接地との間に
    Pチャンネル型の第3のMOSトランジスタとNチャンネ
    ル型の第4のMOSトランジスタとが直列に接続され、第
    3のMOSトランジスタのゲートに接地電位が与えられる
    と共に第4のMOSトランジスタのゲートに上記第1及び
    第2のMOSトランジスタの間の電位が与えられる第2の
    電位制御手段、 上記第1の電位制御手段と上記インバータとの間に直列
    に接続されゲートがそのドレインに接続された適数個の
    Pチャンネル型のMOSトランジスタ、 を備えたことを特徴とする出力バッファ回路。
  2. 【請求項2】電源と接地との間に一対のMOSトランジス
    タが直列に接続され、各MOSトランジスタのゲートが直
    列接続された複数段のインバータの出力に依り駆動され
    て上記一対のMOSトランジスタの接続点から出力信号を
    得る出力バッファ回路に於いて、 電源側の上記MOSトランジスタのゲートを駆動するイン
    バータ列の最終段より偶数段のインバータの入力側と電
    源との間にPチャンネル型の第1及び第2のMOSトラン
    ジスタが直列に接続され、第1のMOSトランジスタのゲ
    ートに上記出力信号が与えられると共に第2のMOSトラ
    ンジスタのゲートに接地電位が与えられる第1の電位制
    御手段、 電源側の上記MOSトランジスタのゲートと電源との間に
    Nチャンネル型の第3のMOSトランジスタとPチャンネ
    ル型の第4のMOSトランジスタとが直列に接続され、第
    3のMOSトランジスタのゲートに電源電位が与えられる
    と共に第4のMOSトランジスタのゲートに上記第1及び
    第2のMOSトランジスタの間の電位が与えられる第2の
    電位制御手段、 上記第1の電位制御手段と上記インバータとの間に直列
    に接続されゲートがそのドレインに接続された適数個の
    Nチャンネル型のMOSトランジスタ、 を備えたことを特徴とする出力バッファ回路。
JP2022391A 1990-01-31 1990-01-31 出力バッファ回路 Expired - Fee Related JPH0770987B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022391A JPH0770987B2 (ja) 1990-01-31 1990-01-31 出力バッファ回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022391A JPH0770987B2 (ja) 1990-01-31 1990-01-31 出力バッファ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03227116A JPH03227116A (ja) 1991-10-08
JPH0770987B2 true JPH0770987B2 (ja) 1995-07-31

Family

ID=12081360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022391A Expired - Fee Related JPH0770987B2 (ja) 1990-01-31 1990-01-31 出力バッファ回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0770987B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5017807A (en) * 1990-07-05 1991-05-21 At&T Bell Laboratories Output buffer having capacitive drive shunt for reduced noise

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03227116A (ja) 1991-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930000970B1 (ko) 반도체 집적회로의 출력회로
KR930003926B1 (ko) 반도체집적회로
JPH0720060B2 (ja) 出力回路装置
JPH0529995B2 (ja)
US5801550A (en) Output circuit device preventing overshoot and undershoot
JPH04330822A (ja) Cmos出力バッファ回路
JPH0221721A (ja) 出力バッファ回路
US6483340B2 (en) High integration-capable output buffer circuit unaffected by manufacturing process fluctuations or changes in use
US5126603A (en) Circuit utilizes N-channel mos transistors having reduced area dimension for effectively detecting output current of a H-bridge circuit
JPH0514167A (ja) 出力ドライバ回路
JPH06197000A (ja) Cmos3ステートバッファ回路およびその制御方法
JPH0770987B2 (ja) 出力バッファ回路
JP2001044820A (ja) レベルシフタ回路
JP3299071B2 (ja) 出力バッファ回路
JP3190191B2 (ja) 出力バッファ回路
JPH0783249B2 (ja) 出力バッファ回路
KR100224766B1 (ko) 병렬 액티브 드라이버
KR950002725B1 (ko) 3상태 출력버퍼
JPH0353715A (ja) 出力バッファ回路
JPH043512A (ja) 半導体装置
JP3485314B2 (ja) 放電制御回路
JP3038891B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH06104732A (ja) Icの出力回路
JP3071034B2 (ja) 出力バッファ回路
JPH0634676A (ja) 電源電圧検知回路および該回路を有する半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees