JPH0766231A - 面実装型半導体装置の製造方法 - Google Patents
面実装型半導体装置の製造方法Info
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- JPH0766231A JPH0766231A JP5212502A JP21250293A JPH0766231A JP H0766231 A JPH0766231 A JP H0766231A JP 5212502 A JP5212502 A JP 5212502A JP 21250293 A JP21250293 A JP 21250293A JP H0766231 A JPH0766231 A JP H0766231A
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 面実装型半導体装置の製造方法において、ヘ
ッダー部裏面への薄バリ付着を防止し、薄バリ除去工程
を不要とする。 【構成】 ヘッダー部2を備えたリードフレーム1と、
前記ヘッダー部2に搭載される半導体素子4とを有し、
金型内に前記リードフレーム1を配置して前記ヘッダー
部2の裏面が外部へ露出するよう絶縁樹脂7にて封止さ
れてなる面実装型半導体装置の製造方法において、前記
半導体素子4をダイボンド,ワイヤボンドする第1の工
程と、前記リードフレーム1を金型内に配置し、樹脂封
止するとともに、前記ヘッダー部2の外周側面に前記金
型の突起部を隣接させ、溝部8を形成する第2の工程
と、を含んでなることを特徴とする。
ッダー部裏面への薄バリ付着を防止し、薄バリ除去工程
を不要とする。 【構成】 ヘッダー部2を備えたリードフレーム1と、
前記ヘッダー部2に搭載される半導体素子4とを有し、
金型内に前記リードフレーム1を配置して前記ヘッダー
部2の裏面が外部へ露出するよう絶縁樹脂7にて封止さ
れてなる面実装型半導体装置の製造方法において、前記
半導体素子4をダイボンド,ワイヤボンドする第1の工
程と、前記リードフレーム1を金型内に配置し、樹脂封
止するとともに、前記ヘッダー部2の外周側面に前記金
型の突起部を隣接させ、溝部8を形成する第2の工程
と、を含んでなることを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、面実装型半導体装置に
関するものであり、特に半導体素子の載置片裏面が外部
に露出され、外部基板との接続面となる面実装型半導体
装置に関する。
関するものであり、特に半導体素子の載置片裏面が外部
に露出され、外部基板との接続面となる面実装型半導体
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の面実装型半導体装置の製造方法に
ついて図7乃至図9に従って説明する。図7は、樹脂封
止前を示す図であり、同図(a)は平面図であり、同図
(b)は側面断面図である。図8は、樹脂封止後を示す
図であり、同図(a)は上面側からの透視図であり、同
図(b)は側面側からの透視図であり、同図(c)は裏
面側からの透視図である。図9は、タイバーカット,フ
ォーミング後を示す図であり、同図(a)は平面図であ
り、同図(b)は側面図であり、同図(c)は裏面図で
ある。
ついて図7乃至図9に従って説明する。図7は、樹脂封
止前を示す図であり、同図(a)は平面図であり、同図
(b)は側面断面図である。図8は、樹脂封止後を示す
図であり、同図(a)は上面側からの透視図であり、同
図(b)は側面側からの透視図であり、同図(c)は裏
面側からの透視図である。図9は、タイバーカット,フ
ォーミング後を示す図であり、同図(a)は平面図であ
り、同図(b)は側面図であり、同図(c)は裏面図で
ある。
【0003】まず、図7の如く、多連状に連なったリー
ドフレーム1のヘッダー部2上にハンダ3にて半導体素
子4を固着し、続いて該半導体素子4と前記リードフレ
ーム1の外部接続用端子5とをボンディングワイヤ6に
より電気的に接続する。
ドフレーム1のヘッダー部2上にハンダ3にて半導体素
子4を固着し、続いて該半導体素子4と前記リードフレ
ーム1の外部接続用端子5とをボンディングワイヤ6に
より電気的に接続する。
【0004】次に、図8の如く、前記半導体素子4とボ
ンディングワイヤ6とを被覆するとともに、前記ヘッダ
ー部2の裏面が露出するよう金型(図示せず)を用いて
絶縁樹脂7により封止する。
ンディングワイヤ6とを被覆するとともに、前記ヘッダ
ー部2の裏面が露出するよう金型(図示せず)を用いて
絶縁樹脂7により封止する。
【0005】その後、図9の如く、タイバーカット,フ
ォーミングを行い完成品となる。
ォーミングを行い完成品となる。
【0006】上述した従来の製造方法では、リードフレ
ーム1を絶縁樹脂7にて封止する際において、前記金型
とヘッダー部2の裏面とを密接させることにより、前記
ヘッダー部2が露出するよう樹脂封止されている。すな
わち、密接することで、前記金型とヘッダー部2との間
に前記絶縁樹脂7が潜入することを防止している。
ーム1を絶縁樹脂7にて封止する際において、前記金型
とヘッダー部2の裏面とを密接させることにより、前記
ヘッダー部2が露出するよう樹脂封止されている。すな
わち、密接することで、前記金型とヘッダー部2との間
に前記絶縁樹脂7が潜入することを防止している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記樹脂封
止する際において、前記金型とヘッダー部2との間に隙
間が生じていると、絶縁樹脂7が前記隙間に流れ込み、
前記ヘッダー部2の裏面側表面に薄バリとなって固ま
る。
止する際において、前記金型とヘッダー部2との間に隙
間が生じていると、絶縁樹脂7が前記隙間に流れ込み、
前記ヘッダー部2の裏面側表面に薄バリとなって固ま
る。
【0008】面実装型半導体装置において、前記ヘッダ
ー部2裏面は通常外部基板等にハンダ付けされて使用さ
れる為、前記薄バリが前記ヘッダー部2裏面に固着して
いるとハンダ付けが良好になされないので、前記面実装
型半導体装置を製造するにあたり前記薄バリを取り除く
工程か必要である。
ー部2裏面は通常外部基板等にハンダ付けされて使用さ
れる為、前記薄バリが前記ヘッダー部2裏面に固着して
いるとハンダ付けが良好になされないので、前記面実装
型半導体装置を製造するにあたり前記薄バリを取り除く
工程か必要である。
【0009】本発明は、上記問題点を解決することを目
的とするものである。
的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の面実装型半導体
装置の製造方法は、ヘッダー部を備えたリードフレーム
と、前記ヘッダー部に搭載される半導体素子とを有し、
金型内に前記リードフレームを配置して前記ヘッダー部
の裏面が外部へ露出するよう樹脂封止されてなる面実装
型半導体装置り製造方法において、前記半導体素子をダ
イボンド,ワイヤボンドする第1の工程と、前記リード
フレームを金型内に配置し、樹脂封止するとともに、前
記ヘッダー部の外周側面に前記金型の突起部を隣接さ
せ、溝部を形成する第2の工程と、を含んでなることを
特徴とするものである。
装置の製造方法は、ヘッダー部を備えたリードフレーム
と、前記ヘッダー部に搭載される半導体素子とを有し、
金型内に前記リードフレームを配置して前記ヘッダー部
の裏面が外部へ露出するよう樹脂封止されてなる面実装
型半導体装置り製造方法において、前記半導体素子をダ
イボンド,ワイヤボンドする第1の工程と、前記リード
フレームを金型内に配置し、樹脂封止するとともに、前
記ヘッダー部の外周側面に前記金型の突起部を隣接さ
せ、溝部を形成する第2の工程と、を含んでなることを
特徴とするものである。
【0011】さらに、請求項1記載の面実装型半導体装
置において、前記ヘッダー部は、外周側面上部にひさし
部が設けられ、前記第2の工程は、前記金型の突起部を
前記ひさし部裏面に当接させ、前記ひさし部の先端を樹
脂封止する工程を含んでなることを特徴とするものであ
る。
置において、前記ヘッダー部は、外周側面上部にひさし
部が設けられ、前記第2の工程は、前記金型の突起部を
前記ひさし部裏面に当接させ、前記ひさし部の先端を樹
脂封止する工程を含んでなることを特徴とするものであ
る。
【0012】
【作用】上記構成によれば、本発明の面実装型半導体装
置の製造方法は、樹脂封止の際に、ヘッダー部の外周側
面に金型の突起部を隣接させ、溝部を形成する構成を有
するため、従来のように薄バリが発生した場合でも、前
記薄バリは金型の突起部とヘッダー部との間に形成され
る。このため、前記薄バリは溝部内において発生するた
め、前記ヘッダー部裏面に薄バリが付着することを防止
できる。従って、薄バリ除去工程が不要となる。
置の製造方法は、樹脂封止の際に、ヘッダー部の外周側
面に金型の突起部を隣接させ、溝部を形成する構成を有
するため、従来のように薄バリが発生した場合でも、前
記薄バリは金型の突起部とヘッダー部との間に形成され
る。このため、前記薄バリは溝部内において発生するた
め、前記ヘッダー部裏面に薄バリが付着することを防止
できる。従って、薄バリ除去工程が不要となる。
【0013】さらに、前記ヘッダー部の外周側面上部に
ひさし部を設け、該ひさし部の先端を前記封止樹脂にて
封止することにより、前記薄バリは金型の突起部とひさ
し部との間に形成され、上記同様溝部内において発生す
るため、薄バリ除去工程が不要となるとともに、前記ヘ
ッダー部の固定・保持を向上することができる。
ひさし部を設け、該ひさし部の先端を前記封止樹脂にて
封止することにより、前記薄バリは金型の突起部とひさ
し部との間に形成され、上記同様溝部内において発生す
るため、薄バリ除去工程が不要となるとともに、前記ヘ
ッダー部の固定・保持を向上することができる。
【0014】
【実施例】本発明の一実施例を示す面実装型半導体装置
の製造方法について、図1乃至図3に従って説明する。
図1は、樹脂封止前を示す図であり、同図(a)は平面
図であり、同図(b)は側面断面図である。図2は、樹
脂封止後を示す図であり、同図(a)は上面側からの透
視図であり、同図(b)は側面側からの透視図であり、
同図(c)は裏面側からの透視図である。図3は、タイ
バーカット,フォーミング後を示す図であり、同図
(a)は平面図であり、同図(b)は側面図であり、同
図(c)は裏面図であり、同図(d)は同図(a)のA
−A′断面図であり、同図(e)は同図(a)のB−
B′断面図である。
の製造方法について、図1乃至図3に従って説明する。
図1は、樹脂封止前を示す図であり、同図(a)は平面
図であり、同図(b)は側面断面図である。図2は、樹
脂封止後を示す図であり、同図(a)は上面側からの透
視図であり、同図(b)は側面側からの透視図であり、
同図(c)は裏面側からの透視図である。図3は、タイ
バーカット,フォーミング後を示す図であり、同図
(a)は平面図であり、同図(b)は側面図であり、同
図(c)は裏面図であり、同図(d)は同図(a)のA
−A′断面図であり、同図(e)は同図(a)のB−
B′断面図である。
【0015】まず、図1の如く、外周側面上部にひさし
部11を設けたヘッダー部2と外部接続用端子5とを備
え、多連状に連なった銅材等からなるリードフレーム1
を有し、前記ヘッダー部2上にハンダ3にて半導体素子
4を固着し、続いて該半導体素子4と前記外部接続用端
子5とをボンディングワイヤ6により電気的に接続す
る。
部11を設けたヘッダー部2と外部接続用端子5とを備
え、多連状に連なった銅材等からなるリードフレーム1
を有し、前記ヘッダー部2上にハンダ3にて半導体素子
4を固着し、続いて該半導体素子4と前記外部接続用端
子5とをボンディングワイヤ6により電気的に接続す
る。
【0016】次に、図2の如く、前記半導体素子4とボ
ンディングワイヤ6とを被覆するとともに、前記ヘッダ
ー部2の裏面が露出するよう金型(図示せず)を用いて
絶縁樹脂7により封止する。
ンディングワイヤ6とを被覆するとともに、前記ヘッダ
ー部2の裏面が露出するよう金型(図示せず)を用いて
絶縁樹脂7により封止する。
【0017】この樹脂封止の際に、図2(c)に示すよ
うに、前記ヘッダー部2の外周側面と絶縁樹脂7との間
に溝部8を形成するよう封止する。これは、前記金型に
前記ヘッダー部2の外周側面と隣接し、且つ、前記ひさ
し部11に当接する突起部を設け、該突起部にて前記溝
部8を形成するものである。
うに、前記ヘッダー部2の外周側面と絶縁樹脂7との間
に溝部8を形成するよう封止する。これは、前記金型に
前記ヘッダー部2の外周側面と隣接し、且つ、前記ひさ
し部11に当接する突起部を設け、該突起部にて前記溝
部8を形成するものである。
【0018】ここで、さらに前記ひさし部11の先端が
絶縁樹脂7にて覆われるよう樹脂封止を行うことによ
り、前記ヘッダー部2の固定・保持を向上することがで
きる。その後、図3の如くタイバーカット,フォーミン
グを行い完成品となる。
絶縁樹脂7にて覆われるよう樹脂封止を行うことによ
り、前記ヘッダー部2の固定・保持を向上することがで
きる。その後、図3の如くタイバーカット,フォーミン
グを行い完成品となる。
【0019】尚、前記ヘッダー部2の固定・保持は若干
劣るが溝部8の幅を図4に示すように、ひさし部11の
先端までとしても良い。
劣るが溝部8の幅を図4に示すように、ひさし部11の
先端までとしても良い。
【0020】このように、上記製造方法によれば、樹脂
封止の際に、金型の突起部を、ヘッダー部2の外周側面
に隣接、且つ、ひさし部11に当接させ、溝部8を形成
する構成を有するので、前記ヘッダー部2の裏面にまで
薄バリが及ぶことを封止できる。すなわち、薄バリが発
生した場合には、金型の突起部とひさし部11との間に
形成され、前記薄バリは溝部8内において発生するた
め、前記ヘッダー部2裏面に薄バリが付着することがな
い。従って薄バリ除去工程が不要となり、コストダウン
が図れる。
封止の際に、金型の突起部を、ヘッダー部2の外周側面
に隣接、且つ、ひさし部11に当接させ、溝部8を形成
する構成を有するので、前記ヘッダー部2の裏面にまで
薄バリが及ぶことを封止できる。すなわち、薄バリが発
生した場合には、金型の突起部とひさし部11との間に
形成され、前記薄バリは溝部8内において発生するた
め、前記ヘッダー部2裏面に薄バリが付着することがな
い。従って薄バリ除去工程が不要となり、コストダウン
が図れる。
【0021】さらに、樹脂封止する際に、ひさし部11
の先端に絶縁樹脂にて覆うことにより、ヘッダー部2の
固定・保持を向上することができる。
の先端に絶縁樹脂にて覆うことにより、ヘッダー部2の
固定・保持を向上することができる。
【0022】上記実施例では、ヘッダー部2の外周側面
上部にひさし部11が設けられた構成であるが、該ひさ
し部11を不要としても良い。
上部にひさし部11が設けられた構成であるが、該ひさ
し部11を不要としても良い。
【0023】その場合には、樹脂封止の際に、ヘッダー
部2の外周側面に金型の突起部を隣接させ、絶縁樹脂7
にて封止する。尚、前記突起部にて溝部8が形成される
ことは勿論である。
部2の外周側面に金型の突起部を隣接させ、絶縁樹脂7
にて封止する。尚、前記突起部にて溝部8が形成される
ことは勿論である。
【0024】このように、前記ひさし部11を不要とし
た場合には、ヘッダー部2の外周側面に金型の突起部を
隣接させ、溝部8を形成する構成を有するので、前記ヘ
ッダー部2裏面にまで薄バリが及ぶことを防止できる。
すなわち、薄バリが発生した場合には、金型の突起部と
ヘッダー部2との間に形成され、前記薄バリは溝部8内
において発生するため、前記ヘッダー部2裏面に薄バリ
が付着することがない。従って、薄バリ除去工程が不要
となり、コストダウンが図れる。
た場合には、ヘッダー部2の外周側面に金型の突起部を
隣接させ、溝部8を形成する構成を有するので、前記ヘ
ッダー部2裏面にまで薄バリが及ぶことを防止できる。
すなわち、薄バリが発生した場合には、金型の突起部と
ヘッダー部2との間に形成され、前記薄バリは溝部8内
において発生するため、前記ヘッダー部2裏面に薄バリ
が付着することがない。従って、薄バリ除去工程が不要
となり、コストダウンが図れる。
【0025】上述した実施例において、図5(a)の如
く、前記ヘッダー部2裏面を外部基板9上のパターン1
0にハンダ付けされる場合には、図5(b)のように、
前記溝部8にて前記ヘッダー部2の外周側面にハンダ3
が這い上がるため、ハンダ付け強度が上がり信頼性向上
となる。
く、前記ヘッダー部2裏面を外部基板9上のパターン1
0にハンダ付けされる場合には、図5(b)のように、
前記溝部8にて前記ヘッダー部2の外周側面にハンダ3
が這い上がるため、ハンダ付け強度が上がり信頼性向上
となる。
【0026】さらに、実施例において、図6の如く、ヘ
ッダー部2裏面に溝12を設けることにより、前記ヘッ
ダー部2裏面を外部基板9上のパターン10にハンダ付
けする場合に生じる気泡を前記溝12にて逃がし、前記
ヘッダー部2裏面の濡れ性を良くし、信頼性を向上させ
ることができる。尚、図6(a)は平面図であり、同図
(b)は側面図であり、同図(c)は裏面図であり、同
図(d)は同図(a)のD−D′断面図であり、同図
(e)は同図(a)のE−E′断面図である。
ッダー部2裏面に溝12を設けることにより、前記ヘッ
ダー部2裏面を外部基板9上のパターン10にハンダ付
けする場合に生じる気泡を前記溝12にて逃がし、前記
ヘッダー部2裏面の濡れ性を良くし、信頼性を向上させ
ることができる。尚、図6(a)は平面図であり、同図
(b)は側面図であり、同図(c)は裏面図であり、同
図(d)は同図(a)のD−D′断面図であり、同図
(e)は同図(a)のE−E′断面図である。
【0027】
【考案の効果】以上のように、本発明の請求項1記載の
面実装型半導体装置の製造方法によれば、薄バリが金型
の突起部とヘッダー部との間、すなわち、溝部内におい
て発生するため、前記ヘッダー部裏面に薄バリが付着す
ることがない。従って、薄バリ除去工程が不要となり、
コストダウンが図れる。
面実装型半導体装置の製造方法によれば、薄バリが金型
の突起部とヘッダー部との間、すなわち、溝部内におい
て発生するため、前記ヘッダー部裏面に薄バリが付着す
ることがない。従って、薄バリ除去工程が不要となり、
コストダウンが図れる。
【0028】また、請求項2記載の面実装型半導体装置
の製造方法によれば、薄バリが金型の突起部とひさし部
との間、すなわち、溝部内において発生するため、上記
同様ヘッダー部裏面に薄バリが付着することがなく、薄
バリ除去工程が不要となり、コストダウンが図れる。さ
らに、前記ひさし部の先端を樹脂にて封止しているた
め、前記ヘッダー部の固定・保持が向上される。
の製造方法によれば、薄バリが金型の突起部とひさし部
との間、すなわち、溝部内において発生するため、上記
同様ヘッダー部裏面に薄バリが付着することがなく、薄
バリ除去工程が不要となり、コストダウンが図れる。さ
らに、前記ひさし部の先端を樹脂にて封止しているた
め、前記ヘッダー部の固定・保持が向上される。
【図1】本発明の製造工程を説明するための図であり、
リードフレームの樹脂封止前を示す図である。
リードフレームの樹脂封止前を示す図である。
【図2】同じく、リードフレームの樹脂封止後を示す図
である。
である。
【図3】同じく、タイバーカット,フォーミング後を示
す図である。
す図である。
【図4】他の溝部の構成を示す横断面図である。
【図5】外部基板にハンダ付けした場合の図であり、図
(a)は断面図であり、図(b)は図(a)のC部拡大
図である。
(a)は断面図であり、図(b)は図(a)のC部拡大
図である。
【図6】ヘッダー部裏面に溝を設けた場合の構成図であ
る。
る。
【図7】従来の製造工程を説明するための図であり、リ
ードフレームの樹脂封止前を示す図である。
ードフレームの樹脂封止前を示す図である。
【図8】同じく、リードフレームの樹脂封止後を示す図
である。
である。
【図9】同じく、タイバーカット,フォーミング後を示
す図である。
す図である。
1 リードフレーム 2 ヘッダー部 3 ハンダ 4 半導体素子 5 外部接続用端子 6 ボンディングワイヤ 7 絶縁樹脂 8 溝部 11 ひさし部
Claims (2)
- 【請求項1】 ヘッダー部を備えたリードフレームと、
前記ヘッダー部に搭載される半導体素子とを有し、金型
内に前記リードフレームを配置して前記ヘッダー部の裏
面が外部へ露出するよう樹脂封止されてなる面実装型半
導体装置の製造方法において、 前記半導体素子をダイボンド,ワイヤボンドする第1の
工程と、 前記リードフレームを金型内に配置し、樹脂封止すると
ともに、前記ヘッダー部の外周側面に前記金型の突起部
を隣接させ、溝部を形成する第2の工程と、 を含んでなることを特徴とする面実装型半導体装置の製
造方法。 - 【請求項2】 前記ヘッダー部は、外周側面上部にひさ
し部が設けられ、前記第2の工程は、前記金型の突起部
を前記ひさし部裏面に当接させ、前記ひさし部の先端を
樹脂封止する工程を含んでなることを特徴とする請求項
1記載の面実装型半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5212502A JP2934372B2 (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 面実装型半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5212502A JP2934372B2 (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 面実装型半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0766231A true JPH0766231A (ja) | 1995-03-10 |
JP2934372B2 JP2934372B2 (ja) | 1999-08-16 |
Family
ID=16623731
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5212502A Expired - Fee Related JP2934372B2 (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 面実装型半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2934372B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2779868A1 (fr) * | 1998-06-10 | 1999-12-17 | Sgs Thomson Microelectronics | Boitier de puissance a montage en surface |
WO2021220357A1 (ja) * | 2020-04-27 | 2021-11-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
-
1993
- 1993-08-27 JP JP5212502A patent/JP2934372B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2779868A1 (fr) * | 1998-06-10 | 1999-12-17 | Sgs Thomson Microelectronics | Boitier de puissance a montage en surface |
WO2021220357A1 (ja) * | 2020-04-27 | 2021-11-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
JPWO2021220357A1 (ja) * | 2020-04-27 | 2021-11-04 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2934372B2 (ja) | 1999-08-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |