JPH0762805B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH0762805B2
JPH0762805B2 JP62038187A JP3818787A JPH0762805B2 JP H0762805 B2 JPH0762805 B2 JP H0762805B2 JP 62038187 A JP62038187 A JP 62038187A JP 3818787 A JP3818787 A JP 3818787A JP H0762805 B2 JPH0762805 B2 JP H0762805B2
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JP
Japan
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power supply
potential
side power
semiconductor device
low
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JP62038187A
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正雄 鈴木
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NEC Corp
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  • Control Of Voltage And Current In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関し、特に入力端子及び電源供給
端子におけるインダクタンスと入力配線容量とを有する
半導体装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体装置においては、入力端子及び電源端子に
おけるインダクタンスと入力配線容量により入力信号の
レベル遷移があったとき共振を開始して半導体装置の誤
動作を起す場合があった。
即ち、第2図に示すように、半導体基板1aと半導体基板
1aに搭載される内部回路2とを有する半導体装置の高電
位側電源電圧が供給される高電位側供電点Vc及び低電位
側電源電圧が供給される低電位側供電点VEにおけるイン
ダクタンス(ボンディングワイヤなど)をL11及びL21
し、入力端子Ti(1≦i≦n,n≧1の整数)におけるイ
ンダクタンスをL3iとし、入力端子Tiから内部回路2へ
の配線と高電位側配線との配線容量をC1i,低電位側配
線との配線容量をC2iとしたとき、第2図の半導体装置
の回路図の共振時の等価回路図は第3図のように示され
る。
第3図において、コイルL3のインダクタンスLPはL11とL
21の並列インダクタンス、コンデンサC1の容量はC11〜C
1i〜C1n及びC21〜C2i〜C2nのすべての並列容量、コイル
L4のインダクタンスLIはL31〜L3i〜L3nの並列インダク
タンスである。
ここで、それぞれのインダクタンス及び容量は式(1)
〜式(4)の関係にあるものとする。
L11=L21 …(1) L31=……=L3i=……=L3n …(2) C11=……=C1i=……=C1n …(3) C21=……=C2i=……=C2n …(4) 又、内部回路2の高電位側供電点VCと低電位側供電点VE
との間は内部回路2で決定される非常に低いインピーダ
ンスを有しているので交流的には短絡状態であるとす
る。
半導体装置の入力端子Tiは入力が遷移した後は固定レベ
ルとなる。又、高電位側供電点VC及び低電位側供電点VE
は電源端子TPに置きかえられ固定電位である。
いま、入力端子Tiの入力信号のレベルが急峻に遷移した
時に第3図に示す等価回路が直列共振を開始し、コイル
L3,L4に誘起される電圧とコンデンサC1に充電される電
圧とが逆位相で動くため、第3図に示される節点aとb
における電位は位相がπずれた共振波形が直流電圧に重
畳された値となる。
ここで、高電位側供電点VCと低電位側供電点VEの電源電
位は同相で動くため内部回路2の内部電位はすべて電源
電位と同相に動く。この結果、第2図に示す入力端子Ti
から見て半導体基板1の内部の節点Niの電位は高電位側
供電点VC及び低電位側供電点VEの電源電位と逆相で動く
ため、内部回路2で発生されるリファレンス電圧Vref
節点Niの電位とは逆相で動くことになり、第4図に示す
ように、リファレンス電圧Vrefと入力信号レベルVIN
交差して誤動作を発生する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の半導体装置は、入力信号レベルが急峻に
遷移したとき入力信号と電源回路の寄生インダクタンス
及び寄生容量により直列共振を発生し、入力信号側の電
位と内部回路との電位が逆相関係で動くので、内部回路
が誤動作を発生するという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の半導体装置は、半導体基板上に形成された内部
回路が、高電位側供電点を介して高電位側電源電位に、
低電位側供電点を介して低電位側電源電位にそれぞれ接
続される半導体装置において、第1の抵抗素子および第
1のコイル素子を並列接続した第1の制動素子、第2の
抵抗素子および第2のコイル素子を並列接続した第2の
制動素子とを備え、前記内部回路が、前記高電位側強電
点に接続された前記第1の制動素子を介して前記高位側
電源電位に、前記低電位側強電点に接続された前記第2
の制動素子を介して前記低位側電源電位にそれぞれ接続
される構成を特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の回路図である。
第1図に示す実施例と上述した第2図の従来の半導体装
置との相違点は、半導体基板1に対して高電位側供電点
VCと配線容量を含む内部回路2への高電位側電源入力端
との間にコイル素子(以下、単にコイルと称す)L1を挿
入しコイルL1に並列に抵抗素子(以下、単に抵抗と称
す)R1を接続し、コイルL1と抵抗R1で制動素子を構成し
たこと、及び低電位側供電点VEと配線容量を含む内部回
路2への低電位側電源入力端との間にもコイルL2と抵抗
R2を並列接続した制動素子を挿入したことである。
このように構成することにより、上述した従来の直列共
振によって発生する交流電流を制動し、内部回路2に供
給される直流電流はコイルL1,L2を介して電位降下を防
止している。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の半導体装置は、コイルと抵
抗とを並列接続した制動素子を電源回路に挿入すること
により、直列共振を制動しかつ回路動作に必要な直流電
流に対してほとんど影響をなくすことができるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は従来の半
導体装置の一例の回路図、第3図は第2図の半導体装置
の直列共振時の等価回路図、第4図は第2図の半導体装
置の直列共振時の動作を説明するための波形図である。 1,1a……半導体基板、2……内部回路、C1……コンデン
サ、L1,L2,L3,L4……コイル、R1,R2……抵抗。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体基板上に形成された内部回路が、高
    電位側供電点を介して高電位側電源電位に、低電位側供
    電点を介して低電位側電源電位にそれぞれ接続される半
    導体装置において、第1の抵抗素子および第1のコイル
    素子を並列接続した第1の制動素子と、第2の抵抗素子
    および第2のコイル素子を並列接続した第2の制動素子
    とを備え、前記内部回路が、前記高電位側強電点に接続
    された前記第1の制動素子を介して前記高位側電源電位
    に、前記低電位側強電点に接続された前記第2の制動素
    子を介して前記低位側電源電位にそれぞれ接続される構
    成を特徴とする半導体装置。
JP62038187A 1987-02-20 1987-02-20 半導体装置 Expired - Lifetime JPH0762805B2 (ja)

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JPS63204422A JPS63204422A (ja) 1988-08-24
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS621190A (ja) * 1986-06-07 1987-01-07 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置

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