JPH0761805B2 - テストストリップを分析ユニットに正しい位置で供給する装置 - Google Patents
テストストリップを分析ユニットに正しい位置で供給する装置Info
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- JPH0761805B2 JPH0761805B2 JP5022486A JP2248693A JPH0761805B2 JP H0761805 B2 JPH0761805 B2 JP H0761805B2 JP 5022486 A JP5022486 A JP 5022486A JP 2248693 A JP2248693 A JP 2248693A JP H0761805 B2 JPH0761805 B2 JP H0761805B2
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- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
- B65G47/02—Devices for feeding articles or materials to conveyors
- B65G47/04—Devices for feeding articles or materials to conveyors for feeding articles
- B65G47/12—Devices for feeding articles or materials to conveyors for feeding articles from disorderly-arranged article piles or from loose assemblages of articles
- B65G47/14—Devices for feeding articles or materials to conveyors for feeding articles from disorderly-arranged article piles or from loose assemblages of articles arranging or orientating the articles by mechanical or pneumatic means during feeding
- B65G47/1407—Devices for feeding articles or materials to conveyors for feeding articles from disorderly-arranged article piles or from loose assemblages of articles arranging or orientating the articles by mechanical or pneumatic means during feeding the articles being fed from a container, e.g. a bowl
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
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- Sheets, Magazines, And Separation Thereof (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はテストストリップを分析
ユニットに正しい位置で供給する装置に関する。前記テ
ストストリップは基層および少なくともひとつのテスト
領域を有する。前記基層は通常は剛性プラスチックフィ
ルムからなる。前記テスト領域は、前記基層の片側に固
定されており、基層の表面よりも高く形成されている。
テスト領域は、通常、試薬を含浸させたキャリアマトリ
ックス（通常、紙、布または多孔質プラスチック材料で
ある）からなる。
ユニットに正しい位置で供給する装置に関する。前記テ
ストストリップは基層および少なくともひとつのテスト
領域を有する。前記基層は通常は剛性プラスチックフィ
ルムからなる。前記テスト領域は、前記基層の片側に固
定されており、基層の表面よりも高く形成されている。
テスト領域は、通常、試薬を含浸させたキャリアマトリ
ックス（通常、紙、布または多孔質プラスチック材料で
ある）からなる。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】分析
を行うために、試薬流体（尿、血液、血清または他の体
液）をテスト領域に含浸させる必要がある。また、複合
テストストリップのばあいには、複数のテスト領域に含
浸させる必要がある。特定の反応時間が経過したあと、
評価機構において、テスト領域上の物理的に検出可能な
その分析に特定の変化が評価される。前記物理的に検出
可能な変化は、通常は色の変化であり、これは光度計に
より測定できる。しかし、特定の電気化学的テストにお
いては、他の分析原理も知られている。そこでは、物理
的に検出可能な変化は電流または電圧である。
を行うために、試薬流体（尿、血液、血清または他の体
液）をテスト領域に含浸させる必要がある。また、複合
テストストリップのばあいには、複数のテスト領域に含
浸させる必要がある。特定の反応時間が経過したあと、
評価機構において、テスト領域上の物理的に検出可能な
その分析に特定の変化が評価される。前記物理的に検出
可能な変化は、通常は色の変化であり、これは光度計に
より測定できる。しかし、特定の電気化学的テストにお
いては、他の分析原理も知られている。そこでは、物理
的に検出可能な変化は電流または電圧である。
【０００３】分析原理の詳細には関係なく、分析ユニッ
トのテストストリップが正しい位置で供給されることが
必須である。すなわち、少なくとも物理的に検出可能な
変化を評価する評価機構内においては、また、通常は試
料を供給する（好ましくは完全に自動で）試料供給機構
においても、テスト領域が特定の位置になければならな
い。
トのテストストリップが正しい位置で供給されることが
必須である。すなわち、少なくとも物理的に検出可能な
変化を評価する評価機構内においては、また、通常は試
料を供給する（好ましくは完全に自動で）試料供給機構
においても、テスト領域が特定の位置になければならな
い。
【０００４】このことを確実とするために、テストスト
リップは、多くのばあい、マガジン内にパックされてい
る。該マガジン内においては、すべてのテストストリッ
プが同一の位置に順序よく配置されている（ヨーロッパ
特許出願公開第0180792 号公報の第15図参照）。しか
し、このことは、テストストリップのパッキングにおい
てかなりコストが高くなる。ユニット内でのマガジンか
らの自動引出しに特有の問題が生じる。また、前記マガ
ジンパックに加え、手作業または半自動でのテストスト
リップ分析のための従来の管状パックをも保管しなけれ
ばならないので製造業者による保管が複雑になる。
リップは、多くのばあい、マガジン内にパックされてい
る。該マガジン内においては、すべてのテストストリッ
プが同一の位置に順序よく配置されている（ヨーロッパ
特許出願公開第0180792 号公報の第15図参照）。しか
し、このことは、テストストリップのパッキングにおい
てかなりコストが高くなる。ユニット内でのマガジンか
らの自動引出しに特有の問題が生じる。また、前記マガ
ジンパックに加え、手作業または半自動でのテストスト
リップ分析のための従来の管状パックをも保管しなけれ
ばならないので製造業者による保管が複雑になる。
【０００５】本発明は、通常の管状テストストリップパ
ックが使用されるばあいに使用されるテストストリップ
供給装置に関する。該管状テストストリップパックにお
いては、テストストリップパックが一方向に整列せしめ
られる（つまり、すべてのストリップの前端部または後
端部が管状パック内において同一端部に位置せしめられ
る）。しかし、テスト領域の表面は平行ではなく空間的
に異なった方向である、つまり、テストストリップの長
手方向軸周りの回転位置が一定でない。そのようなユニ
ットのばあいには、貯蔵コンテナが提供され、前記管状
パックからテストストリップが直接かかる貯蔵コンテナ
内に排出される。よって、そのときテストストリップ
は、少なくとも長手方向軸周りの回転位置については一
定ではない。
ックが使用されるばあいに使用されるテストストリップ
供給装置に関する。該管状テストストリップパックにお
いては、テストストリップパックが一方向に整列せしめ
られる（つまり、すべてのストリップの前端部または後
端部が管状パック内において同一端部に位置せしめられ
る）。しかし、テスト領域の表面は平行ではなく空間的
に異なった方向である、つまり、テストストリップの長
手方向軸周りの回転位置が一定でない。そのようなユニ
ットのばあいには、貯蔵コンテナが提供され、前記管状
パックからテストストリップが直接かかる貯蔵コンテナ
内に排出される。よって、そのときテストストリップ
は、少なくとも長手方向軸周りの回転位置については一
定ではない。
【０００６】前述のようにして管状パックから送られて
きたテストストリップを分析ユニットに正しい位置で供
給するためには、テストストリップを分離してその長手
方向軸周りの回転位置を正しくする（通常は、テスト領
域を上に向ける）ことが必要である。この目的のため
に、テストストリップ分析装置には、いわゆる選別機と
呼ばれる分離および位置修正装置が設けられる。
きたテストストリップを分析ユニットに正しい位置で供
給するためには、テストストリップを分離してその長手
方向軸周りの回転位置を正しくする（通常は、テスト領
域を上に向ける）ことが必要である。この目的のため
に、テストストリップ分析装置には、いわゆる選別機と
呼ばれる分離および位置修正装置が設けられる。
【０００７】テストストリップのための選別機の開発に
おいて、テストストリップの特性に起因する特有の問題
が生じた。テストストリップは大変軽く、通常は完全に
平坦ではなく全体が非常に柔らかい。テスト領域が高く
なった構成、テスト領域の材料、および基層の鋭利な端
部のために、テストストリップが互いに容易にからみ合
う。さらに、テスト領域は機械的な接触に非常に敏感で
ある。
おいて、テストストリップの特性に起因する特有の問題
が生じた。テストストリップは大変軽く、通常は完全に
平坦ではなく全体が非常に柔らかい。テスト領域が高く
なった構成、テスト領域の材料、および基層の鋭利な端
部のために、テストストリップが互いに容易にからみ合
う。さらに、テスト領域は機械的な接触に非常に敏感で
ある。
【０００８】ヨーロッパ特許出願公開第0180792 号公
報、ヨーロッパ特許出願公開第0255077 号公報およびド
イツ特許出願公開第3807565 号公報には、各テストスト
リップが分離されたあとで狭いシャフト内を通って供給
される選別機が記載されている。そこでは、テストスト
リップの長手方向軸周りの回転位置は、１または２の位
置（たとえば、テスト領域が上を向くか、下を向く）だ
けが許容される。各テストストリップが前記２つの位置
のうちのどちらを向いているかは、電子光学的に検出さ
れる。テストストリップ移動経路のその先には回転機構
が配置されており、必要があればテストストリップを長
手方向軸の周りに180 °回転させる。電子光学的検出器
が“誤った位置”を表示したとき、前記回転機構が作動
する。一方、テストストリップの位置が正しいときには
回転機構は作動しない。回転機構を通過すると、すべて
のテストストリップはその長手方向軸周りの回転位置が
同一となる（テスト領域が上を向く）。そのあと、テス
トストリップは多様な手段により、分析ユニットの試料
供給機構へ、そして評価機構へと運ばれる。
報、ヨーロッパ特許出願公開第0255077 号公報およびド
イツ特許出願公開第3807565 号公報には、各テストスト
リップが分離されたあとで狭いシャフト内を通って供給
される選別機が記載されている。そこでは、テストスト
リップの長手方向軸周りの回転位置は、１または２の位
置（たとえば、テスト領域が上を向くか、下を向く）だ
けが許容される。各テストストリップが前記２つの位置
のうちのどちらを向いているかは、電子光学的に検出さ
れる。テストストリップ移動経路のその先には回転機構
が配置されており、必要があればテストストリップを長
手方向軸の周りに180 °回転させる。電子光学的検出器
が“誤った位置”を表示したとき、前記回転機構が作動
する。一方、テストストリップの位置が正しいときには
回転機構は作動しない。回転機構を通過すると、すべて
のテストストリップはその長手方向軸周りの回転位置が
同一となる（テスト領域が上を向く）。そのあと、テス
トストリップは多様な手段により、分析ユニットの試料
供給機構へ、そして評価機構へと運ばれる。
【０００９】以上の既に知られている原理においては、
狭いシャフト内への供給、電子光学的検出器および回転
機構の迅速で確実な作動が要求される。よって構造的に
高価になる。さらに、要求される信頼性がすべてのばあ
いに達成されるとは限らない。
狭いシャフト内への供給、電子光学的検出器および回転
機構の迅速で確実な作動が要求される。よって構造的に
高価になる。さらに、要求される信頼性がすべてのばあ
いに達成されるとは限らない。
【００１０】本発明の目的は、構造が簡単で、コストが
低く、信頼性の高い、テストストリップの正しい位置に
おける供給のための装置を提供することである。
低く、信頼性の高い、テストストリップの正しい位置に
おける供給のための装置を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明により、基層（１
０ａ）およびその片面に取り付けられその表面よりも高
く形成されている少なくともひとつのテスト領域（１０
ｂ）からなり、貯蔵コンテナ内にその長手方向軸周りの
回転位置については不均一に貯蔵されたテストストリッ
プ（１０）を、その長手方向軸周りのある決められた回
転位置において、個別に１個づつ分析ユニットに供給す
る、分離および位置修正装置（１）を備えた、テストス
トリップ（１０）を分析ユニットに正しい位置で供給す
る装置であって、前記分離および位置修正装置（１）
は、その長手方向軸周りの回転位置に関して、正しくな
いテストストリップ（１０）を正しい長手方向軸周りの
回転位置にさせるために、そのあいだに狭い間隙（３
５）が存在するように寸法設定および位置決めがされた
２つのロール（３１、３２）からなる位置修正機構（３
０）を有しており、前記ロール（３１、３２）は、間隙
（３５）のところにおいて第１のロール（３１）の表面
（３１ａ）が頂部から底部に向かって移動し、第２のロ
ール（３２）の表面（３２ａ）が底部から頂部に向かっ
て移動するように同一の方向に回転し、前記第１のロー
ル（３１）は、その表面（３１ａ）に、テストストリッ
プ（１０）のテスト領域のない部分（１０ｃ）と整合す
るように盛り上がった突出手段（３７）を有しており、
前記第２のロール（３２）は、その回転位置が正しくな
いテストストリップ（１０）をその長手方向軸の周りに
回転させるための、当該第２のロール（３２）の表面
（３２ａ）に沿って軸方向に平行に延びるドライブ手段
（３８）を有しており、かつ、突出手段（３７）のとこ
ろにおける間隙（３５）の幅（Ｂ２）が、テスト領域を
含むテストストリップ（１０）の厚さよりも小さくなる
ように構成されてなる装置が提供される。
０ａ）およびその片面に取り付けられその表面よりも高
く形成されている少なくともひとつのテスト領域（１０
ｂ）からなり、貯蔵コンテナ内にその長手方向軸周りの
回転位置については不均一に貯蔵されたテストストリッ
プ（１０）を、その長手方向軸周りのある決められた回
転位置において、個別に１個づつ分析ユニットに供給す
る、分離および位置修正装置（１）を備えた、テストス
トリップ（１０）を分析ユニットに正しい位置で供給す
る装置であって、前記分離および位置修正装置（１）
は、その長手方向軸周りの回転位置に関して、正しくな
いテストストリップ（１０）を正しい長手方向軸周りの
回転位置にさせるために、そのあいだに狭い間隙（３
５）が存在するように寸法設定および位置決めがされた
２つのロール（３１、３２）からなる位置修正機構（３
０）を有しており、前記ロール（３１、３２）は、間隙
（３５）のところにおいて第１のロール（３１）の表面
（３１ａ）が頂部から底部に向かって移動し、第２のロ
ール（３２）の表面（３２ａ）が底部から頂部に向かっ
て移動するように同一の方向に回転し、前記第１のロー
ル（３１）は、その表面（３１ａ）に、テストストリッ
プ（１０）のテスト領域のない部分（１０ｃ）と整合す
るように盛り上がった突出手段（３７）を有しており、
前記第２のロール（３２）は、その回転位置が正しくな
いテストストリップ（１０）をその長手方向軸の周りに
回転させるための、当該第２のロール（３２）の表面
（３２ａ）に沿って軸方向に平行に延びるドライブ手段
（３８）を有しており、かつ、突出手段（３７）のとこ
ろにおける間隙（３５）の幅（Ｂ２）が、テスト領域を
含むテストストリップ（１０）の厚さよりも小さくなる
ように構成されてなる装置が提供される。
【００１２】前記テストストリップ（10）が基層（10
ａ）に一列に固定された複数のテスト領域（10ｂ）を有
する複合テストストリップであって、前記第１のロール
（31）が少なくとも３つの突出手段（37）を有してお
り、その中の少なくともひとつ（37ｂ、37ｃ）が隣接す
る２つのテスト領域（10ｂ）のあいだを通るように構成
されることが好ましい。
ａ）に一列に固定された複数のテスト領域（10ｂ）を有
する複合テストストリップであって、前記第１のロール
（31）が少なくとも３つの突出手段（37）を有してお
り、その中の少なくともひとつ（37ｂ、37ｃ）が隣接す
る２つのテスト領域（10ｂ）のあいだを通るように構成
されることが好ましい。
【００１３】前記突出手段（37）が弾性ゴム材料製の定
形リング（43）からなり、前記第１のロール（31）に形
成された対応する溝（44）内に配置されることが好まし
い。
形リング（43）からなり、前記第１のロール（31）に形
成された対応する溝（44）内に配置されることが好まし
い。
【００１４】前記第２のロール（32）のドライブ手段
（38）が軸方向に平行な溝（40）として形成されてな
り、第２のロール（32）のその他の表面（32ａ）は平滑
であるように構成されることが好ましい。
（38）が軸方向に平行な溝（40）として形成されてな
り、第２のロール（32）のその他の表面（32ａ）は平滑
であるように構成されることが好ましい。
【００１５】前記位置修正機構（30）が、長手方向位置
ガイド（45）を有しており、長手方向位置ガイド（45）
によって、テスト領域のない部分（10ｃ）が第１のロー
ル（31）の突出手段（37）と整合するようにテストスト
リップ（10）が長手方向にガイドされるように構成され
ることが好ましい。
ガイド（45）を有しており、長手方向位置ガイド（45）
によって、テスト領域のない部分（10ｃ）が第１のロー
ル（31）の突出手段（37）と整合するようにテストスト
リップ（10）が長手方向にガイドされるように構成され
ることが好ましい。
【００１６】本発明の装置は、回転式ドラム（４）を有
する分離機構（２）を含むことが好ましく、ドラム
（４）の壁部にはその軸に平行なスロット（５）が形成
されており、カムキャッチャ（６）がドラム（４）内に
おいてスロット（５）の上方に設けられており、テスト
ストリップ（10）がスロット（５）に個別に案内されて
ドラム（４）から排出されるように構成されることが好
ましい。
する分離機構（２）を含むことが好ましく、ドラム
（４）の壁部にはその軸に平行なスロット（５）が形成
されており、カムキャッチャ（６）がドラム（４）内に
おいてスロット（５）の上方に設けられており、テスト
ストリップ（10）がスロット（５）に個別に案内されて
ドラム（４）から排出されるように構成されることが好
ましい。
【００１７】前記分離および位置修正装置（１）が、そ
れぞれがひとつのテストストリップ（10）を収容する軸
方向に平行なレシーバー（14、15）が形成された回転式
ロール（13）と、つながったテストストリップ（10）を
分離するストリッパー（22）とからなる分離機構（２）
を含むことが好ましい。
れぞれがひとつのテストストリップ（10）を収容する軸
方向に平行なレシーバー（14、15）が形成された回転式
ロール（13）と、つながったテストストリップ（10）を
分離するストリッパー（22）とからなる分離機構（２）
を含むことが好ましい。
【００１８】前記回転式ロール（13）のレシーバー（1
4、15）近傍が平坦面とされており、ロール（13）に対
してほぼ接線方向に延びる傾斜表面（12ａ）によってテ
ストストリップ（10）がロール（13）に供給され、表面
（12ａ）とロール（13）とのあいだの最小距離がテスト
領域（10ｂ）を含むテストストリップ（10）の厚さより
も小さくなるように構成されることが好ましい。
4、15）近傍が平坦面とされており、ロール（13）に対
してほぼ接線方向に延びる傾斜表面（12ａ）によってテ
ストストリップ（10）がロール（13）に供給され、表面
（12ａ）とロール（13）とのあいだの最小距離がテスト
領域（10ｂ）を含むテストストリップ（10）の厚さより
も小さくなるように構成されることが好ましい。
【００１９】前記ストリッパー（22）が、回転式ロール
（13）の軸に対して半径方向に案内される分離要素（2
3）を有しており、分離要素（23）がロール（13）の表
面（13ａ）上を這ってレシーバー（14、15）内のテスト
ストリップ（10）とつながっているテストストリップを
分離するように構成されることが好ましい。
（13）の軸に対して半径方向に案内される分離要素（2
3）を有しており、分離要素（23）がロール（13）の表
面（13ａ）上を這ってレシーバー（14、15）内のテスト
ストリップ（10）とつながっているテストストリップを
分離するように構成されることが好ましい。
【００２０】本発明の装置は、分離機構が２つのサブ機
構（２ａ、２ｂ）を有することが好ましく、そのうちの
一方が前記回転式ドラム（４）からなるものであり、他
方が前記回転式ロール（13）とストリッパー（22）とか
らなるものであることが好ましい。
構（２ａ、２ｂ）を有することが好ましく、そのうちの
一方が前記回転式ドラム（４）からなるものであり、他
方が前記回転式ロール（13）とストリッパー（22）とか
らなるものであることが好ましい。
【００２１】前述の目的は本発明の分離および位置修正
装置によって達成される。該装置は、そのあいだに狭い
間隙ができるように寸法設定および位置決めがされた２
つのロールを有する位置修正機構を有する。該２つのロ
ールはある速度で同一の方向に回転し、前記間隙部にお
いて、第１のロールの表面が頂部から底部に向かって移
動し、第２のロールの表面が底部から頂部に向かって移
動する。第１のロールはその周表面に盛り上がったウェ
ブなどの突出手段を有する。該ウェブはテストストリッ
プのテスト領域のない部分と整合するように構成されて
いる。第２のロールはその軸に平行に延びるドライブ手
段を有する。ドライブ手段は、テストストリップの長手
方向軸周りの回転位置が正しくないときは当該テストス
トリップを回転せしめてその回転位置を正しくするもの
である。前記間隙の幅は前記ウェブのところにおいて
は、テスト領域を含むテストストリップの厚さよりも小
さい。
装置によって達成される。該装置は、そのあいだに狭い
間隙ができるように寸法設定および位置決めがされた２
つのロールを有する位置修正機構を有する。該２つのロ
ールはある速度で同一の方向に回転し、前記間隙部にお
いて、第１のロールの表面が頂部から底部に向かって移
動し、第２のロールの表面が底部から頂部に向かって移
動する。第１のロールはその周表面に盛り上がったウェ
ブなどの突出手段を有する。該ウェブはテストストリッ
プのテスト領域のない部分と整合するように構成されて
いる。第２のロールはその軸に平行に延びるドライブ手
段を有する。ドライブ手段は、テストストリップの長手
方向軸周りの回転位置が正しくないときは当該テストス
トリップを回転せしめてその回転位置を正しくするもの
である。前記間隙の幅は前記ウェブのところにおいて
は、テスト領域を含むテストストリップの厚さよりも小
さい。
【００２２】テストストリップは位置修正機構に正確に
供給される必要はない。前記間隙に対してほぼ平行な状
態で前記ロール間の漏斗状のスペース内に落下すれば充
分である。もし、テストストリップの長手方向軸周りの
回転位置が反転され、第１のロールの盛り上がったウェ
ブがテスト領域間のスペースと係合すれば、テストスト
リップは“正しい位置”となってロールのあいだを通過
して落下する。長手方向軸周りの回転位置に関して“誤
った位置”で到達したテストストリップはロール間の間
隙を通過することができない。そのようなテストストリ
ップは、その長手方向端部が第２のロールのドライブ手
段に保持されて回転せしめられる。そして、正しい位置
となりロール間の間隙を通過して運ばれうる。
供給される必要はない。前記間隙に対してほぼ平行な状
態で前記ロール間の漏斗状のスペース内に落下すれば充
分である。もし、テストストリップの長手方向軸周りの
回転位置が反転され、第１のロールの盛り上がったウェ
ブがテスト領域間のスペースと係合すれば、テストスト
リップは“正しい位置”となってロールのあいだを通過
して落下する。長手方向軸周りの回転位置に関して“誤
った位置”で到達したテストストリップはロール間の間
隙を通過することができない。そのようなテストストリ
ップは、その長手方向端部が第２のロールのドライブ手
段に保持されて回転せしめられる。そして、正しい位置
となりロール間の間隙を通過して運ばれうる。
【００２３】
【作用】本発明によれば、テストストリップの回転（ま
たは回転させない）は、もっぱら極めて簡単な機械的手
段によって行われる。狭い運搬路への正確な供給も電気
的な供給手段も必要ない。テストストリップを回転させ
る機構は安価で構造がしっかりしているだけでなく、簡
単かつ高い信頼性で作動する。２つのロールが同一方向
に、好ましくは同一速度で、回転するだけでよいからで
ある。
たは回転させない）は、もっぱら極めて簡単な機械的手
段によって行われる。狭い運搬路への正確な供給も電気
的な供給手段も必要ない。テストストリップを回転させ
る機構は安価で構造がしっかりしているだけでなく、簡
単かつ高い信頼性で作動する。２つのロールが同一方向
に、好ましくは同一速度で、回転するだけでよいからで
ある。
【００２４】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照しつつ以下に説
明する。
明する。
【００２５】図１は、テストストリップを分離して位置
を修正する装置１を示している。この装置は、分離機構
２および位置を修正する機構30を有する。分離機構２は
２つのサブ機構２ａおよび２ｂからなる。
を修正する装置１を示している。この装置は、分離機構
２および位置を修正する機構30を有する。分離機構２は
２つのサブ機構２ａおよび２ｂからなる。
【００２６】第１のサブ機構２ａでは、ドラム４が回転
せしめられる。ドラム４の壁部には軸方向に延びるスロ
ット５が形成されており、その幅はテストストリップ10
の幅よりもわずかに広い。ドラム４内をテストストリッ
プ10で満たすために、シール可能な開口（図示せず）が
ドラム４の前部側面に設けられている。ドラム４の内側
には、その脚部６ａをドラム４の内壁４ａと平行に延ば
してスロット５上に位置するカムキャッチャ６が固定さ
れており、回転方向前面に開口するスペース７が形成さ
れている。カムキャッチャ６の脚部６ａはスロット５を
越えて回転方向に延びており、スペース７の高さはテス
トストリップ10の厚さにほぼ等しい。スペース７の回転
方向における後端部は、回転方向に見て、スロット５の
後縁部と面一であるストップ壁８により形成される。
せしめられる。ドラム４の壁部には軸方向に延びるスロ
ット５が形成されており、その幅はテストストリップ10
の幅よりもわずかに広い。ドラム４内をテストストリッ
プ10で満たすために、シール可能な開口（図示せず）が
ドラム４の前部側面に設けられている。ドラム４の内側
には、その脚部６ａをドラム４の内壁４ａと平行に延ば
してスロット５上に位置するカムキャッチャ６が固定さ
れており、回転方向前面に開口するスペース７が形成さ
れている。カムキャッチャ６の脚部６ａはスロット５を
越えて回転方向に延びており、スペース７の高さはテス
トストリップ10の厚さにほぼ等しい。スペース７の回転
方向における後端部は、回転方向に見て、スロット５の
後縁部と面一であるストップ壁８により形成される。
【００２７】ドラム４はテストストリップ10で満たされ
ている。テストストリップ10は長手方向軸周りの回転位
置が異なる以外はすべてが同等に配置されている。ドラ
ム４が矢印９で示される回転方向に回転すると、各回転
毎にテストストリップ10がひとつスペース７内に導入さ
れる。ドラム４に対するテストストリップ10の相対的な
移動は、カムキャッチャ６のストップ壁８により止めら
れる。重力によって、テストストリップ10は下方に落下
し、スロット５を通ってドラムの外に出る。スペース７
の高さはテストストリップ10の厚さにほぼ等しく、スロ
ット５の幅はテストストリップ10の幅にほぼ等しいの
で、１回につきただひとつのテストストリップ10だけが
スロット５を通過することができる。
ている。テストストリップ10は長手方向軸周りの回転位
置が異なる以外はすべてが同等に配置されている。ドラ
ム４が矢印９で示される回転方向に回転すると、各回転
毎にテストストリップ10がひとつスペース７内に導入さ
れる。ドラム４に対するテストストリップ10の相対的な
移動は、カムキャッチャ６のストップ壁８により止めら
れる。重力によって、テストストリップ10は下方に落下
し、スロット５を通ってドラムの外に出る。スペース７
の高さはテストストリップ10の厚さにほぼ等しく、スロ
ット５の幅はテストストリップ10の幅にほぼ等しいの
で、１回につきただひとつのテストストリップ10だけが
スロット５を通過することができる。
【００２８】テストストリップ10がその特定の特性のた
めに極めて容易に互いにからみつくばあいにおいても確
実な分離を保証するために、分離機構２において、第１
のサブ機構２ａの直後に第２のサブ機構２ｂが提供され
ている。
めに極めて容易に互いにからみつくばあいにおいても確
実な分離を保証するために、分離機構２において、第１
のサブ機構２ａの直後に第２のサブ機構２ｂが提供され
ている。
【００２９】第２のサブ機構２ｂは、２つの傾斜表面12
ａ、12ｂからなる漏斗状の構成12を含む。ロール13が構
成12の中央に配置されており、傾斜表面12ａ、12ｂのそ
れぞれがロール13に対して接線状に延びている。ロール
13には、長方形断面を有する溝状の２つのレシーバー1
4、15が形成されている。各レシーバーにはただひとつ
のテストストリップ10の端部がはまる。このとき、テス
トストリップ10の長手方向軸とロール13の軸とが平行と
なる。レシーバー14、15の深さは、テストストリップ10
の幅に一致している。レシーバー14、15の領域におい
て、ロール13にはそれぞれ、その長手方向軸に平行な平
坦面16、17が形成されている。レシーバー14、15はそれ
ぞれ、平坦面16、17により形成されるロール13の回転方
向（矢印18で示される）後端部16ａ、16ｂ付近に形成さ
れている。ロール13の軸の左側の傾斜表面12ａは、ロー
ル13の軸方向全体に渡って狭い間隙19を形成して延びて
いる。間隙19の幅はテストストリップ10のテスト領域を
含んだ厚さよりも小さく、よって、テストストリップ10
はロール13と傾斜表面12ａのあいだを通過することがで
きない。
ａ、12ｂからなる漏斗状の構成12を含む。ロール13が構
成12の中央に配置されており、傾斜表面12ａ、12ｂのそ
れぞれがロール13に対して接線状に延びている。ロール
13には、長方形断面を有する溝状の２つのレシーバー1
4、15が形成されている。各レシーバーにはただひとつ
のテストストリップ10の端部がはまる。このとき、テス
トストリップ10の長手方向軸とロール13の軸とが平行と
なる。レシーバー14、15の深さは、テストストリップ10
の幅に一致している。レシーバー14、15の領域におい
て、ロール13にはそれぞれ、その長手方向軸に平行な平
坦面16、17が形成されている。レシーバー14、15はそれ
ぞれ、平坦面16、17により形成されるロール13の回転方
向（矢印18で示される）後端部16ａ、16ｂ付近に形成さ
れている。ロール13の軸の左側の傾斜表面12ａは、ロー
ル13の軸方向全体に渡って狭い間隙19を形成して延びて
いる。間隙19の幅はテストストリップ10のテスト領域を
含んだ厚さよりも小さく、よって、テストストリップ10
はロール13と傾斜表面12ａのあいだを通過することがで
きない。
【００３０】第１のサブ機構２ａから落下したテストス
トリップ10は、傾斜表面12ａとロール13のあいだの収集
ホッパー20内に入る。収集ホッパー20が、ロール13の側
方であって、その側面13ａが傾斜面の底部から頂部に向
かって移動する側に設けられることが重要である。テス
トストリップ10の落下移動が、収集ホッパー20によって
抑制される。平坦面16、17のうちのひとつが間隙19のと
ころにくると、間隙19のサイズが増加してテストストリ
ップ10はさらに下方に滑り、レシーバー14、15のうちの
ひとつに受け止められる。
トリップ10は、傾斜表面12ａとロール13のあいだの収集
ホッパー20内に入る。収集ホッパー20が、ロール13の側
方であって、その側面13ａが傾斜面の底部から頂部に向
かって移動する側に設けられることが重要である。テス
トストリップ10の落下移動が、収集ホッパー20によって
抑制される。平坦面16、17のうちのひとつが間隙19のと
ころにくると、間隙19のサイズが増加してテストストリ
ップ10はさらに下方に滑り、レシーバー14、15のうちの
ひとつに受け止められる。
【００３１】ロール13の上方には、ストリッパー22が配
置されている。分離要素23が、ロール13の軸に向かって
半径方向に移動可能となるように、垂直ガイド24内に支
持されている。分離要素23は、ロールの全長に渡って規
則的に配置される円形状のピンなどである。分離要素23
は、スプリング25により初期付勢されており、ロール13
に対して矢印26方向に押圧されており、ロール13の表面
13ａ上を這う（分離要素はロール13の周方向には移動し
ないが、ロール13の回転により相対的にその表面を這っ
ている状態となる）。レシーバー14、15のうちのひとつ
が、図示されているように、分離要素23の下方を通過す
るとき、レシーバー14内のテストストリップ10に付着し
ている余分なテストストリップのすべてが、はぎ取られ
て収集ホッパー20内に落下する。
置されている。分離要素23が、ロール13の軸に向かって
半径方向に移動可能となるように、垂直ガイド24内に支
持されている。分離要素23は、ロールの全長に渡って規
則的に配置される円形状のピンなどである。分離要素23
は、スプリング25により初期付勢されており、ロール13
に対して矢印26方向に押圧されており、ロール13の表面
13ａ上を這う（分離要素はロール13の周方向には移動し
ないが、ロール13の回転により相対的にその表面を這っ
ている状態となる）。レシーバー14、15のうちのひとつ
が、図示されているように、分離要素23の下方を通過す
るとき、レシーバー14内のテストストリップ10に付着し
ている余分なテストストリップのすべてが、はぎ取られ
て収集ホッパー20内に落下する。
【００３２】右側の傾斜表面12ｂ（そこでは、ロール13
の表面13ａが傾斜面の頂部から底部に向かって移動す
る）は、テストストリップがレシーバー14、15から早期
に落下することを防止する。底部のレシーバー15が図示
されているようなほぼ垂直となる位置に達したときにの
み、テストストリップは第２のサブ機構２ｂから下方に
落下して、矢印28に示すように位置修正機構30に入る。
の表面13ａが傾斜面の頂部から底部に向かって移動す
る）は、テストストリップがレシーバー14、15から早期
に落下することを防止する。底部のレシーバー15が図示
されているようなほぼ垂直となる位置に達したときにの
み、テストストリップは第２のサブ機構２ｂから下方に
落下して、矢印28に示すように位置修正機構30に入る。
【００３３】位置修正機構30は、分離および位置修正装
置の第２の機構を形成する。機構30は、同一方向（33、
34）に回転する２つの円筒状ロール31および32からな
る。ロール31および32の軸は互いに平行である。軸の間
隔およびロール31、32の直径は、ロール31と32のあいだ
に細い間隙35が形成されるよう互いに調整されている。
置の第２の機構を形成する。機構30は、同一方向（33、
34）に回転する２つの円筒状ロール31および32からな
る。ロール31および32の軸は互いに平行である。軸の間
隔およびロール31、32の直径は、ロール31と32のあいだ
に細い間隙35が形成されるよう互いに調整されている。
【００３４】第１のロール31は、その周囲にウェブ37な
どの突出手段を有する。第２のロール32は、軸方向に平
行に延びるドライブ手段38を有する。ドライブ手段は、
テストストリップの長手方向軸周りの回転位置が正しく
ないときは当該テストストリップを回転せしめてその回
転位置を正しくするものである。ドライブ手段38は三角
形の断面形状の溝40として形成されている。テストスト
リップ10は、最初に、ロール間に存在するスペース41に
到達する。スペース41は、その底端部が間隙35内に拡が
る漏斗状のスペースである。ロール31、32の下方には、
傾斜部42が配置されている。位置修正機構30を通過した
テストストリップ10は、傾斜部42上を下方にスライドし
て矢印48の方向に移動し、分析ユニット（図示せず）に
供給される。
どの突出手段を有する。第２のロール32は、軸方向に平
行に延びるドライブ手段38を有する。ドライブ手段は、
テストストリップの長手方向軸周りの回転位置が正しく
ないときは当該テストストリップを回転せしめてその回
転位置を正しくするものである。ドライブ手段38は三角
形の断面形状の溝40として形成されている。テストスト
リップ10は、最初に、ロール間に存在するスペース41に
到達する。スペース41は、その底端部が間隙35内に拡が
る漏斗状のスペースである。ロール31、32の下方には、
傾斜部42が配置されている。位置修正機構30を通過した
テストストリップ10は、傾斜部42上を下方にスライドし
て矢印48の方向に移動し、分析ユニット（図示せず）に
供給される。
【００３５】位置修正機構30の詳細を図２〜５に示す。
【００３６】間隙35内のテストストリップ10の長手方向
に関して間隔が一定となるように、ウェブ37などの突出
手段が第１のロール31の表面31ａの周囲に配置されてい
る。つまり、ウェブ37は円筒表面31ａからの突出物であ
る。該突出物は、ロール31の軸31ｂに直行する平面内に
ある直線を軸31ｂの周りに回転させることにより生成さ
れるものである。図示されたような円筒状ロールに代え
て、円錐状のロールが使用されるばあいには、この前記
突出物は接着されるべきである。このようなことは原理
的には可能であるが、好ましくない。
に関して間隔が一定となるように、ウェブ37などの突出
手段が第１のロール31の表面31ａの周囲に配置されてい
る。つまり、ウェブ37は円筒表面31ａからの突出物であ
る。該突出物は、ロール31の軸31ｂに直行する平面内に
ある直線を軸31ｂの周りに回転させることにより生成さ
れるものである。図示されたような円筒状ロールに代え
て、円錐状のロールが使用されるばあいには、この前記
突出物は接着されるべきである。このようなことは原理
的には可能であるが、好ましくない。
【００３７】ウェブを形成するために弾性ゴム材料から
なるたとえばＯリングなどのリング43を使用すれば、組
立ておよび製造がきわめて簡単な構成がえられる。リン
グ43は表面31ａの周囲に形成された対応する溝44内には
まる。
なるたとえばＯリングなどのリング43を使用すれば、組
立ておよび製造がきわめて簡単な構成がえられる。リン
グ43は表面31ａの周囲に形成された対応する溝44内には
まる。
【００３８】軸方向において、テストストリップ10のテ
スト領域のない部分10ｃと整合するようにウェブ37がロ
ール31に取り付けられている。図示された好ましい例に
おいては、テストストリップ10は基層10ａに一列に固定
された複数のテスト領域10ｂからなる複合テストストリ
ップである。この例においては、ロール31は少なくとも
３つのウェブを有し、そのうちの少なくともひとつ（た
とえば、図２に示されたウェブ37ｂ、37ｃ）が隣接する
２つのテスト領域のあいだを走っている。
スト領域のない部分10ｃと整合するようにウェブ37がロ
ール31に取り付けられている。図示された好ましい例に
おいては、テストストリップ10は基層10ａに一列に固定
された複数のテスト領域10ｂからなる複合テストストリ
ップである。この例においては、ロール31は少なくとも
３つのウェブを有し、そのうちの少なくともひとつ（た
とえば、図２に示されたウェブ37ｂ、37ｃ）が隣接する
２つのテスト領域のあいだを走っている。
【００３９】長手方向の位置に関して、テストストリッ
プ10はそのテスト領域のない部分がウェブ37ａ、37ｂ、
37ｃおよび37ｄと整合するように供給されることが重要
である。このことは原則として、手作業またはハンドリ
ング機構（ロボット機構）により達成される。図１に示
す具体例に従い、位置修正機構30の前に分離機構２が行
われ、そこからテストストリップ10が自由落下して漏斗
状スペース41に入るばあいには、長手方向位置ガイド45
が提供されることが好都合である。図示された例におい
ては、ガイド45は漏斗と類似した構成であり、傾斜した
２つのガイド表面46、47がロール31、32の両端部に、テ
ストストリップ10がその長手軸方向に関して正しい位置
に案内されるように配置されている。
プ10はそのテスト領域のない部分がウェブ37ａ、37ｂ、
37ｃおよび37ｄと整合するように供給されることが重要
である。このことは原則として、手作業またはハンドリ
ング機構（ロボット機構）により達成される。図１に示
す具体例に従い、位置修正機構30の前に分離機構２が行
われ、そこからテストストリップ10が自由落下して漏斗
状スペース41に入るばあいには、長手方向位置ガイド45
が提供されることが好都合である。図示された例におい
ては、ガイド45は漏斗と類似した構成であり、傾斜した
２つのガイド表面46、47がロール31、32の両端部に、テ
ストストリップ10がその長手軸方向に関して正しい位置
に案内されるように配置されている。
【００４０】間隙35、ウェブ37およびドライブ手段38の
寸法設定は、位置修正機構の機能のために重要である。
それは、以下の説明に基づく実験により決定される。
寸法設定は、位置修正機構の機能のために重要である。
それは、以下の説明に基づく実験により決定される。
【００４１】長手方向軸周りの回転位置が図２に示され
るような“正しい位置”にあって間隙35に入るテストス
トリップ10が、間隙35全体にわたってその長手方向軸に
対して垂直に運ばれるように、間隙35の幅Ｂ１は、テス
ト領域10ｂのところでは、テスト領域を含むテストスト
リップ10の厚さよりも大きくなければならない。しか
し、すべてのばあいにおいて、ウェブ37のところにおい
て間隙35の幅Ｂ２は、テスト領域を含むテストストリッ
プ10の厚さよりも小さくなければならない。よって、図
示された好ましい例のばあいのようにロール31のウェブ
37以外のところが滑らかな円筒状表面31ａであるとき
は、ウェブ37が表面31ａから突出する高さは、テスト領
域10ｂの厚さよりもわずかに大きくなければならない。
また、テスト領域の厚さが一定でないばあいには、最も
厚いテスト領域の厚さよりも大きくなければならない。
るような“正しい位置”にあって間隙35に入るテストス
トリップ10が、間隙35全体にわたってその長手方向軸に
対して垂直に運ばれるように、間隙35の幅Ｂ１は、テス
ト領域10ｂのところでは、テスト領域を含むテストスト
リップ10の厚さよりも大きくなければならない。しか
し、すべてのばあいにおいて、ウェブ37のところにおい
て間隙35の幅Ｂ２は、テスト領域を含むテストストリッ
プ10の厚さよりも小さくなければならない。よって、図
示された好ましい例のばあいのようにロール31のウェブ
37以外のところが滑らかな円筒状表面31ａであるとき
は、ウェブ37が表面31ａから突出する高さは、テスト領
域10ｂの厚さよりもわずかに大きくなければならない。
また、テスト領域の厚さが一定でないばあいには、最も
厚いテスト領域の厚さよりも大きくなければならない。
【００４２】前述のように、ロール31、32は同一の方向
に回転する。ウェブ37を有するロール31は、その表面31
ａが間隙35において頂部から底部に移動するように回転
する。一方、ロール32の表面32ａは間隙35において底部
から頂部に移動する。ロールのこのような回転および前
述の寸法設定により、長手方向軸周りの回転位置に関し
てその基層が第１のロール31に向けられ、テスト領域10
ｂが第２のロール32に向いている（長手方向軸周りの回
転位置が正しくない位置にある）テストストリップ10が
間隙35を通過して運ばれることはない。図５に示されて
いるように、第２のロール32のドライブ手段38のうちの
ひとつが、そのようなテストストリップ10を再び間隙35
の外側へ案内する。さらに、ドライブ手段38はテストス
トリップ10がその長手方向軸周りの方向の衝撃を同時に
受けるように形成されている。これによって、テストス
トリップ10は矢印49で示されるように回転して、テスト
領域10ｂがロール31の方を向き基層10ａがロール32の方
を向く“正しい位置”に位置する。
に回転する。ウェブ37を有するロール31は、その表面31
ａが間隙35において頂部から底部に移動するように回転
する。一方、ロール32の表面32ａは間隙35において底部
から頂部に移動する。ロールのこのような回転および前
述の寸法設定により、長手方向軸周りの回転位置に関し
てその基層が第１のロール31に向けられ、テスト領域10
ｂが第２のロール32に向いている（長手方向軸周りの回
転位置が正しくない位置にある）テストストリップ10が
間隙35を通過して運ばれることはない。図５に示されて
いるように、第２のロール32のドライブ手段38のうちの
ひとつが、そのようなテストストリップ10を再び間隙35
の外側へ案内する。さらに、ドライブ手段38はテストス
トリップ10がその長手方向軸周りの方向の衝撃を同時に
受けるように形成されている。これによって、テストス
トリップ10は矢印49で示されるように回転して、テスト
領域10ｂがロール31の方を向き基層10ａがロール32の方
を向く“正しい位置”に位置する。
【００４３】前記正しくない位置から正しい位置への長
手方向軸周りの回転をサポートするため、テストストリ
ップ10が溝40のひとつに入る瞬間に同時にロール31のウ
ェブ37に対向して横たわることが好ましい。溝40の断面
形状がほぼ三角形ならばさらに有利である。開口角は比
較的大きい角度（つまり、少なくともほぼ70°）である
べきである。２つのロール31、32の反対向きの移動が長
手方向軸周りの回転をさらに助ける。よって、溝40の深
さはたとえば、溝40の最も深いところとウェブ37とのあ
いだの距離（溝40とロール31とが最も離れたところ）が
テストストリップ10の幅よりもいくぶん小さくなるよう
に計算されるべきである。前述のように、ウェブ37が弾
性ゴム材料からなるものであれば、とりわけ有利であ
る。
手方向軸周りの回転をサポートするため、テストストリ
ップ10が溝40のひとつに入る瞬間に同時にロール31のウ
ェブ37に対向して横たわることが好ましい。溝40の断面
形状がほぼ三角形ならばさらに有利である。開口角は比
較的大きい角度（つまり、少なくともほぼ70°）である
べきである。２つのロール31、32の反対向きの移動が長
手方向軸周りの回転をさらに助ける。よって、溝40の深
さはたとえば、溝40の最も深いところとウェブ37とのあ
いだの距離（溝40とロール31とが最も離れたところ）が
テストストリップ10の幅よりもいくぶん小さくなるよう
に計算されるべきである。前述のように、ウェブ37が弾
性ゴム材料からなるものであれば、とりわけ有利であ
る。
【００４４】テストストリップ10が正しい位置に配置さ
れるとすぐに、間隙35を通過して運ばれ、傾斜部42によ
り分析ユニットに供給するための用意がされる。テスト
ストリップ10が、図４に示されるように、正しい位置で
供給されてきたばあいには、回転せしめられることなく
間隙35を通過して運ばれるだろう。ロール31のウェブ以
外の表面は必ずしも平滑である必要はなく、“正しい位
置”にあるテストストリップが間隙35を通過しうるよう
な構成であれば凹部や開口などが形成されていてもよ
い。
れるとすぐに、間隙35を通過して運ばれ、傾斜部42によ
り分析ユニットに供給するための用意がされる。テスト
ストリップ10が、図４に示されるように、正しい位置で
供給されてきたばあいには、回転せしめられることなく
間隙35を通過して運ばれるだろう。ロール31のウェブ以
外の表面は必ずしも平滑である必要はなく、“正しい位
置”にあるテストストリップが間隙35を通過しうるよう
な構成であれば凹部や開口などが形成されていてもよ
い。
【００４５】
【発明の効果】本発明によれば構造が簡単でかつ高い信
頼性でテストストリップを分析ユニットに供給できる装
置が提供される。
頼性でテストストリップを分析ユニットに供給できる装
置が提供される。
【図１】本発明の分離および位置修正装置の非常に簡略
化した側面図である。
化した側面図である。
【図２】図１に示された位置修正機構部の平面図であ
る。
る。
【図３】位置修正機構の図２におけるIII −III 線に沿
う断面図である。
う断面図である。
【図４】図１に示された位置修正機構部の機能を説明す
る説明図である。
る説明図である。
【図５】図１に示された位置修正機構部の機能を説明す
る説明図である。
る説明図である。
１ 分離および位置修正装置 ２ 分離機構 10 テストストリップ 10ａ 基層 10ｂ テスト領域 10ｃ テスト領域のない部分 30 位置修正機構 31 第１のロール 32 第２のロール 35 間隙 37 突出手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ホルスト メンツレル ドイツ連邦共和国、8139 ベルンリート、 バーンフォーフシュトラッセ 75 (72)発明者 シュテファン ザットラー ドイツ連邦共和国、8123 パイッセンベル グ、ハンス−ベックレル−シュトラッセ 13 (56)参考文献 特公 昭62−36926（ＪＰ，Ｂ２)
Claims (1)
- 【請求項１】 基層（１０ａ）およびその片面に取り付
けられその表面よりも高く形成されている少なくともひ
とつのテスト領域（１０ｂ）からなり、貯蔵コンテナ内
にその長手方向軸周りの回転位置については不均一に貯
蔵されたテストストリップ（１０）を、その長手方向軸
周りのある決められた回転位置において、個別に１個づ
つ分析ユニットに供給する、分離および位置修正装置
（１）を備えた、テストストリップ（１０）を分析ユニ
ットに正しい位置で供給する装置であって、 前記分離および位置修正装置（１）は、その長手方向軸
周りの回転位置に関して、正しくないテストストリップ
（１０）を正しい長手方向軸周りの回転位置にさせるた
めに、そのあいだに狭い間隙（３５）が存在するように
寸法設定および位置決めがされた２つのロール（３１、
３２）からなる位置修正機構（３０）を有しており、 前記ロール（３１、３２）は、間隙（３５）のところに
おいて第１のロール（３１）の表面（３１ａ）が頂部か
ら底部に向かって移動し、第２のロール（３２）の表面
（３２ａ）が底部から頂部に向かって移動するように同
一の方向に回転し、 前記第１のロール（３１）は、その表面（３１ａ）に、
テストストリップ（１０）のテスト領域のない部分（１
０ｃ）と整合するように盛り上がった突出手段（３７）
を有しており、 前記第２のロール（３２）は、その回転位置が正しくな
いテストストリップ（１０）をその長手方向軸の周りに
回転させるための、当該第２のロール（３２）の表面
（３２ａ）に沿って軸方向に平行に延びるドライブ手段
（３８）を有しており、かつ、 突出手段（３７）のところにおける間隙（３５）の幅
（Ｂ２）が、テスト領域を含むテストストリップ（１
０）の厚さよりも小さくなるように構成されてなること
を特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4204245.3 | 1992-02-13 | ||
| DE4204245A DE4204245A1 (de) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | Vorrichtung zum lagerichtigen zufuehren von teststreifen zu einer analyseeinrichtung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05270639A JPH05270639A (ja) | 1993-10-19 |
| JPH0761805B2 true JPH0761805B2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=6451595
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5022486A Expired - Lifetime JPH0761805B2 (ja) | 1992-02-13 | 1993-02-10 | テストストリップを分析ユニットに正しい位置で供給する装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5298425A (ja) |
| EP (1) | EP0555711B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0761805B2 (ja) |
| AT (1) | ATE151884T1 (ja) |
| DE (2) | DE4204245A1 (ja) |
| ES (1) | ES2101141T3 (ja) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2954436B2 (ja) * | 1992-11-11 | 1999-09-27 | 株式会社日立製作所 | 試験片供給装置およびそれを用いた分析装置 |
| JP3246058B2 (ja) * | 1993-04-13 | 2002-01-15 | 株式会社日立製作所 | 試験片供給装置 |
| JP3368985B2 (ja) * | 1994-05-10 | 2003-01-20 | バイエルコーポレーション | 自動供給装置 |
| JP3331255B2 (ja) * | 1994-05-10 | 2002-10-07 | バイエルコーポレーション | 自動分析装置の試験片反転機構 |
| JP3331253B2 (ja) * | 1994-05-10 | 2002-10-07 | バイエルコーポレーション | 自動分析装置の試験片取出装置 |
| JP3331256B2 (ja) * | 1994-05-10 | 2002-10-07 | バイエルコーポレーション | 試験片表裏判別手段 |
| JP3036353B2 (ja) * | 1994-05-11 | 2000-04-24 | 株式会社日立製作所 | 試験片供給装置 |
| US5697409A (en) * | 1996-02-21 | 1997-12-16 | Biomerieux Vitek, Inc. | Diluting and pipetting stations for sample testing machine |
| US5856194A (en) | 1996-09-19 | 1999-01-05 | Abbott Laboratories | Method for determination of item of interest in a sample |
| US5795784A (en) | 1996-09-19 | 1998-08-18 | Abbott Laboratories | Method of performing a process for determining an item of interest in a sample |
| DE19715031A1 (de) * | 1997-04-11 | 1998-10-15 | Boehringer Mannheim Gmbh | Magazin zur Bevorratung von Testelementen |
| CA2462855C (en) * | 2001-10-10 | 2011-09-13 | Tecra International Pty Ltd | System and apparatus for use in detecting microorganisms |
| JP4660687B2 (ja) * | 2003-10-22 | 2011-03-30 | アークレイ株式会社 | 試験片供給装置 |
| AU2005202624A1 (en) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Lifescan Scotland Limited | Resealable vial and dispensing mechanism for test sensor |
| US8388906B2 (en) * | 2006-03-13 | 2013-03-05 | Nipro Diagnostics, Inc. | Apparatus for dispensing test strips |
| US11559810B2 (en) | 2006-03-13 | 2023-01-24 | Trividia Health, Inc. | Method and apparatus for coding diagnostic meters |
| US8388905B2 (en) * | 2006-03-13 | 2013-03-05 | Nipro Diagnostics, Inc. | Method and apparatus for coding diagnostic meters |
| US8940246B2 (en) | 2006-03-13 | 2015-01-27 | Nipro Diagnostics, Inc. | Method and apparatus for coding diagnostic meters |
| GB0624392D0 (en) * | 2006-12-06 | 2007-01-17 | Hughes Thomas F | Device and method for orientating a plurality of cassettes for laboratory samples |
| US8147755B2 (en) * | 2008-11-26 | 2012-04-03 | Roche Diagnostics Operations, Inc. | Drum type container for analytical elements |
| IT1401405B1 (it) * | 2010-07-30 | 2013-07-26 | Ct Pack Srl | Macchina per il confezionamento di articoli in contenitori. |
| US8535618B1 (en) | 2010-09-08 | 2013-09-17 | Robert L. Werner | Test strip dispenser |
| US9387991B2 (en) * | 2014-10-10 | 2016-07-12 | Asm Technology Singapore Pte Ltd | Apparatus and method for arranging integrated circuit receiving tubes |
| CN105738610B (zh) * | 2016-01-28 | 2018-06-08 | 上海金标生物科技有限公司 | 一种卡盒组件自动传输装置及卡盒组件定向输送方法 |
| CN109433636B (zh) * | 2018-12-17 | 2023-11-10 | 东华链条兴化有限公司 | 一种链板正反面认面装置 |
| DE202019005144U1 (de) | 2019-12-14 | 2020-06-17 | Jörg Diers | Teststreifenvereinzelner |
| CN112083157B (zh) * | 2020-09-25 | 2023-09-01 | 珠海丽珠试剂股份有限公司 | 一种荧光免疫分析仪及其自主校正方法与试剂卡插装槽座 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE944056C (de) * | 1952-04-22 | 1956-06-07 | Hesser Ag Maschf | Einrichtung zum Auflegen bzw. Einlegen von Dosenoeffnern u. dgl., insbesondere fuer Verpackungsmaschinen fuer Konserven |
| US2965263A (en) * | 1955-07-30 | 1960-12-20 | Ebauches Sa | Charging device |
| US2843254A (en) * | 1957-07-29 | 1958-07-15 | Diamond Gardner Corp | Sorting and orienting |
| US3035681A (en) * | 1960-04-27 | 1962-05-22 | Western Electric Co | Set screw orienter |
| US3139172A (en) * | 1962-07-23 | 1964-06-30 | Filper Corp | Pear orienting machine |
| US4465176A (en) * | 1982-08-12 | 1984-08-14 | Amp Incorporated | Apparatus for orienting articles |
| US4876204A (en) * | 1984-10-11 | 1989-10-24 | Kabushiki Kaisha Kyoto Daiichi Kagaku | Method and apparatus of automatic continuous analysis using analytical implement |
| DE3625705A1 (de) * | 1986-07-30 | 1988-02-11 | Hoechst Ag | Vorrichtung zum automatischen zufuehren von teststreifen in eine analysenapparatur |
| DE3625704A1 (de) * | 1986-07-30 | 1988-02-11 | Hoechst Ag | Vorrichtung zum feststellen der lage der testfelder eines teststreifens und wenden desselben |
| DE3625697A1 (de) * | 1986-07-30 | 1988-02-11 | Hoechst Ag | Vorrichtung zum vereinzeln von teststreifen |
| DE3807565A1 (de) * | 1988-03-08 | 1989-09-21 | Boehringer Mannheim Gmbh | Vorrichtung zur ueberfuehrung von teststreifen zu einer untersuchungseinrichtung |
-
1992
- 1992-02-13 DE DE4204245A patent/DE4204245A1/de not_active Withdrawn
-
1993
- 1993-01-30 EP EP93101472A patent/EP0555711B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-01-30 AT AT93101472T patent/ATE151884T1/de not_active IP Right Cessation
- 1993-01-30 DE DE59306145T patent/DE59306145D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-01-30 ES ES93101472T patent/ES2101141T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1993-02-09 US US08/015,373 patent/US5298425A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-02-10 JP JP5022486A patent/JPH0761805B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE59306145D1 (de) | 1997-05-22 |
| ATE151884T1 (de) | 1997-05-15 |
| US5298425A (en) | 1994-03-29 |
| DE4204245A1 (de) | 1993-08-19 |
| JPH05270639A (ja) | 1993-10-19 |
| ES2101141T3 (es) | 1997-07-01 |
| EP0555711A1 (de) | 1993-08-18 |
| EP0555711B1 (de) | 1997-04-16 |
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