JPH0761004B2 - クロック発生回路 - Google Patents

クロック発生回路

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JPH0761004B2
JPH0761004B2 JP62277105A JP27710587A JPH0761004B2 JP H0761004 B2 JPH0761004 B2 JP H0761004B2 JP 62277105 A JP62277105 A JP 62277105A JP 27710587 A JP27710587 A JP 27710587A JP H0761004 B2 JPH0761004 B2 JP H0761004B2
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clock
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隆 西部
章太郎 横山
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    • GPHYSICS
    • G04HOROLOGY
    • G04FTIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F10/00Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
    • G04F10/04Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means by counting pulses or half-cycles of an ac

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、複数の事象の生起時間、特に最も早く生起し
た事象を基準として、その時点から他の事象が生起する
までの時間の測定に用いるクロックを発生させるクロッ
ク発生回路に関する。
[従来技術] 複数の事象の生起時間を同時に測定しようとする場合、
例えば出力が応答時間であるようなセンサを複数個並べ
てセンサアレイとして使用しているときに、各センサの
応答時間を同時に計測しようとする場合、従来技術とし
て各事象毎に基本周波数を用いて計時するタイマ回路を
複数個並置する構成が考えられる。
[発明が解決しようとする問題点] しかし、このようにタイマ回路を複数個並置する構成に
は、膨大な量のハードウェアを必要とするという問題が
生じる。特に、事象の生起時間の範囲が広く、最小の応
答時間と最大の応答時間とが何桁も違うような場合、最
小の応答時間を基にしてクロック周波数を決め、その周
波数のままで最大の応答時間までも測定できるようにす
ると、タイマ回路が不必要に大きいものになってしま
う。
特に、上述の例のように、センサアレイの出力を量子化
するといった応用では、各センサ出力の応答時間を厳密
に計時する必要は無く、センサアレイとして意味のある
データがとれれば良いと言う場合も多い。さらに、これ
らの計測結果を用いてデータ処理を行おうとする場合、
意味のないものはやたらと桁数が多いと、後段のデータ
処理でもその意味のない桁数分の処理だけ余計に手間ば
かりかかって有効な結果はあまり得られないということ
になってしまう。
そこで、本発明は、複数の事象の生起時間を計時する場
合に用い、少ないハードウェアでより有効なデータが得
られるクロック発生回路を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明は、複数の事
象(E1〜Em)の生起信号を入力し、その論理和の生起信
号を出力する第1のゲート回路(1)と、基本クロック
(φ)を1/Nに分周する分周器(3)と、前記複数の事
象と共にリセットされ、クロック入力端子に入力される
パルスを計数する第1のカウンタ(4)と、該第1のカ
ンウンタの計数値に対応するデータがプログラムデータ
入力端子に入力され、この入力データを初期値としてク
ロック入力端子に入力されるパルスを計数してその計数
値が前記第1のカウンタの計数値に達したときに桁上げ
信号を発生する第2のカウンタ(5)と、前記第1のゲ
ート回路の出力に基づいて、前記リセットから当該第1
のゲート回路の出力発生までの間は、前記分周器の分周
出力を前記第1のカウンタのクロック入力端子に入力
し、当該第1のゲート回路の出力発生後にはその入力を
禁止する第2のゲート回路(2)と、前記第1のゲート
回路の出力に基づいて、当該第1のゲート回路の出力発
生後に、前記基本クロックを前記第2のカウンタのクロ
ック入力端子に入力し、前記リセットから当該第1のゲ
ート回路の出力発生までの間は、その入力を禁止する第
3のゲート回路(8)と、前記第1のゲート回路の出力
に基づいて、当該第1のゲート回路の出力発生時点およ
び前記桁上げ信号が発生される毎に、前記プログラムデ
ータ入力端子に入力されているデータを前記第2のカウ
ンタに初期値としてセットさせる第4のゲート回路
(6)とを備え、前記桁上げ信号を前記複数の事象の生
起時間を測定するためのクロック(CL)として発生する
ことを特徴とする。
[作 用] 本発明では、全事象中最も早く生起した事象の生起時間
を測定し、その1/Nの時間を1周期とするクロックを作
成して、このクロックをカウントすることにより他の事
象が生起するまでの時間を測定する。その結果、生起時
間がどのように変化しても、それに見合った、常に過不
足のない精度で生起時間の測定を行うことができる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照にして詳細に説明す
る。
第1図に本発明の一実施例を示す。
ここで、E1,E2,…,Emはその生起時間を測定すべきm個
の事象であり、本例では、ある事象が生起する前は論理
値“0"を出力し、その事象が生起してからは“1"という
論理値を出力するものとする。すなわち、図示しない手
段によりリセットがかかってから、事象E1,E2,…,Em
“1"となるまでの時間を測定することになる。
これら事象E1,E2,…,Emをオアゲート1に供給する。こ
のオアゲート1のオア出力をオアゲート2に供給する。
このオアゲート2には基本クロックφを1/N分周する分
周器3からの1/N分周出力をも供給する。オアゲート2
のオア出力をnビットのアップカウンタ4のクロック入
力端子Cに供給し、その反転計数出力端子0,1,…,
をプラグラマブルカウンタ5のデータ入力端子D0,D
1,…,Dnに接続する。オアゲート1のオア出力をインバ
ータ7で反転した出力のプログラマブルカウンタ5の桁
上げ端子5Bからの桁上げ出力とをオアゲート6を介して
プログラム端子5Aに供給する。さらに、オアゲート1の
オア出力と基本クロックφとをアンドゲート8に供給
し、そのアンド出力をプログラマブルカウンタ5のクロ
ック入力端子Cに供給する。
ここで、事象E1,E2,…,Emはオアゲート1の入力として
接続されており、オアゲート1の出力は事象E1,E2,…,E
mのうち最も早く生起するもの(以後Efirstとよぶ)と
同じタイミングで“1"出力を生じる。
オアゲート1のオア出力はオアゲート2に接続されてい
る。1/N分周器3には基本クロックφが入力されてお
り、その分周出力はφの周波数を1/Nに分周したものと
なる。そして、この分周出力もオアゲート2に接続され
ているので、オアゲート2は、Efirstが生起するまでの
間、1/N分周器3の出力をアップカンウンタ4に伝達す
る。
なお、アップカウンタ4は、図示されない手段により事
象E1,E2,…,Emと同時にリセットされるものとする。
さらに、Efirstが生起した以降は、アップカウンタ4に
は、Efirstが生起するに至るまでの時間を、φを1/N分
周した出力クロックでカウントした結果が残ることにな
る。
さらに、このカウンタ4からのEfirstの生起時間に関す
る測定結果Q0,Q1,…,Qnの反転出力0,1,…,
プログラマブルカウンタ5のプログラムデータ入力端子
D0,D1,…,Dnに接続されている。プログラマブルカウン
タ5は、そのプログラム端子5Aへの入力が“1"となった
時に端子D0,D1,…,Dnへ供給されているEfirstの生起時
間についての入力をカウント初期値としてプログラムさ
れる。このカウンタ5のプログラム端子5Aへはオアゲー
ト6の出力が接続されており、そのオアゲート6へは、
カウンタ5の桁上げ端子5Bからの桁上げ信号およびオア
ゲート1の出力をインバータ7によって反転して得た信
号が入力されている。
この接続により、Efirstが生起するまでは、プログラマ
ブルカウンタ5のプログラム端子5Aへの入力が“1"なの
で、カンウンタ5にはアップカウンタ4の出力がプロ
グラムされ続ける。Efirstが生起した時点でカウンタ5
のプログラム端子5Aへの入力が“0"となるので、カウン
タ4のカウント結果をSとすると、カウンタ5にはSの
1の補数が初期値としてセットされていることになる。
また、Efirstが生起した時点で、オアゲート1の出力が
“1"となるので、アンドゲート8は基本クロックφをカ
ウンタ5の端子Cへクロック入力として供給するように
なる。
その結果、カウンタ5はアップカウントを続け、桁あふ
れを出した時点(2n+1までカウントした時点)で、桁上
げ信号を“1"にする。その桁上げ信号はそのままオアゲ
ート6を介してカウンタ5のプログラム端子5Aに供給さ
れるので、カウンタ5には、再び、Sの1の補数がプロ
グラムされる。
すなわち、カウンタ5は初期値としてのSの1の補数
(=2n+1−S−1)からカウント2n+1までカウントする
ということをくりかえすので、カウンタ5の桁上げ出力
は、そのEfirst生起中に入力される基本クロックφが略
々1/S分周されたクロックとなる。
Efirstの生起時間はN×S×(クロックφの周期)であ
るから、カウンタ5の桁上げ信号はEfirstの生起時間の
1/Nを1周期とするクロックとなる。しかして、この桁
上げ信号をクロックCLとして発生し、例えば第2図に示
すような測定回路を用いて、このクロックCLをカウンタ
9のクロック入力端子Cに入力して計数し、各事象E1
Em生起時点で、その計数値を各事象E1〜Em対応して設け
たラッチ回路L1〜Lmによりそれぞれラッチすることによ
り、Efirstが生起してから他の事象が生起するまでの時
間(Efirstの生起時点を基準とした時間)を測定するこ
とができる。このクロックCLの周期はEfirstの生起時間
(リセットから生起までの時間)に応じて変わるので、
Efirstの生起時間がどんなに変化しても、それに見合っ
た精度で時間測定できることになる。
なお、第1図で、カウンタ5をダウンカウンタとし、ア
ップカウンタ4の出力Q0,Q1,…,Qnをカウンタ5のD0,
D1,…,Dnに入力しても、カウント方向が異なるのみで同
様の処理を実現できる。
[効 果] 以上から明らかなように、本発明によれば、複数事象の
うち最も早く生起する事象の生起時間を測定し、その生
起時間をもとに他の事象が生起するまでの時間測定に用
いるクロックを形成することにより、生起時間がどのよ
うに変化しても、それに見合った、常に過不足のない精
度で生起時間の測定を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、 第2図は本発明実施例の測定回路を示すブロック図であ
る。 1,2,6……オアゲート、 3……1/N分周器、 4……アップカウンタ、 5……プラグラマブルカウンタ、 7……インバータ、 8……アンドゲート。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の事象(E1〜Em)の生起信号を入力
    し、その論理和の生起信号を出力する第1のゲート回路
    (1)と、基本クロック(φ)を1/Nに分周する分周器
    (3)と、前記複数の事象と共にリセットされ、クロッ
    ク入力端子に入力されるパルスを計数する第1のカウン
    タ(4)と、該第1のカンウンタの計数値に対応するデ
    ータがプログラムデータ入力端子に入力され、この入力
    データを初期値としてクロック入力端子に入力されるパ
    ルスを計数してその計数値が前記第1のカウンタの計数
    値に達したときに桁上げ信号を発生する第2のカウンタ
    (5)と、前記第1のゲート回路の出力に基づいて、前
    記リセットから当該第1のゲート回路の出力発生までの
    間は、前記分周器の分周出力を前記第1のカウンタのク
    ロック入力端子に入力し、当該第1のゲート回路の出力
    発生後にはその入力を禁止する第2のゲート回路(2)
    と、前記第1のゲート回路の出力に基づいて、当該第1
    のゲート回路の出力発生後に、前記基本クロックを前記
    第2のカウンタのクロック入力端子に入力し、前記リセ
    ットから当該第1のゲート回路の出力発生までの間は、
    その入力を禁止する第3のゲート回路(8)と、前記第
    1のゲート回路の出力に基づいて、当該第1のゲート回
    路の出力発生時点および前記桁上げ信号が発生される毎
    に、前記プログラムデータ入力端子に入力されているデ
    ータを前記第2のカウンタに初期値としてセットさせる
    第4のゲート回路(6)とを備え、前記桁上げ信号を前
    記複数の事象の生起時間を測定するためのクロック(C
    L)として発生することを特徴とするクロック発生回
    路。
JP62277105A 1987-10-31 1987-10-31 クロック発生回路 Expired - Fee Related JPH0761004B2 (ja)

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JPH01119118A (ja) 1989-05-11
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DE3836811A1 (de) 1989-05-11

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