JPH0757413A - 磁気ディスク - Google Patents
磁気ディスクInfo
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- JPH0757413A JPH0757413A JP22523593A JP22523593A JPH0757413A JP H0757413 A JPH0757413 A JP H0757413A JP 22523593 A JP22523593 A JP 22523593A JP 22523593 A JP22523593 A JP 22523593A JP H0757413 A JPH0757413 A JP H0757413A
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- magnetic layer
- magnetic
- disk
- magnetic disk
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学的なトラッキングサ−ボが行える磁気デ
ィスクを下記の構成にして、磁性層の厚さを薄くしても
光学的なトラッキングサ−ボが良好に行えるようにし、
トラック密度を高密度化して、記憶容量を格段に向上さ
せる。 【構成】 基体上に磁性粉末を含む磁性層を設け、磁性
層の表面に情報信号の記録が行われるトラックに沿って
入射光を乱反射する凹所群を所定の間隔で多数設けた磁
気ディスクにおいて、記録波長が２μｍ以下、磁性層の
厚さが 0.5μｍ以下で、凹所群内における凹所群のディ
スク半径方向の幅を一辺とする正方形領域内に存在する
凹所の深さの平均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmin との
比Ｄmax ／Ｄmin が 1.5以下であるか、凹所群にスポッ
ト径をディスク半径方向の凹所群の幅程度に絞った波長
８８０ｎｍ程度のレ−ザ光を照射したときに検出される
反射光の光量の最大値Ｐmax と最小値Ｐmin との比Ｐma
x ／Ｐmin が 1.5以下である磁気ディスク。
ィスクを下記の構成にして、磁性層の厚さを薄くしても
光学的なトラッキングサ−ボが良好に行えるようにし、
トラック密度を高密度化して、記憶容量を格段に向上さ
せる。 【構成】 基体上に磁性粉末を含む磁性層を設け、磁性
層の表面に情報信号の記録が行われるトラックに沿って
入射光を乱反射する凹所群を所定の間隔で多数設けた磁
気ディスクにおいて、記録波長が２μｍ以下、磁性層の
厚さが 0.5μｍ以下で、凹所群内における凹所群のディ
スク半径方向の幅を一辺とする正方形領域内に存在する
凹所の深さの平均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmin との
比Ｄmax ／Ｄmin が 1.5以下であるか、凹所群にスポッ
ト径をディスク半径方向の凹所群の幅程度に絞った波長
８８０ｎｍ程度のレ−ザ光を照射したときに検出される
反射光の光量の最大値Ｐmax と最小値Ｐmin との比Ｐma
x ／Ｐmin が 1.5以下である磁気ディスク。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は磁気ディスクに関し、
さらに詳しくは、光学的なトラッキングサ−ボが良好に
行える高トラック密度で高記憶容量の磁気ディスクに関
する。
さらに詳しくは、光学的なトラッキングサ−ボが良好に
行える高トラック密度で高記憶容量の磁気ディスクに関
する。
【０００２】
【従来の技術】近年、ポリエステルフィルムなどの基体
上に磁性粉末を含む磁性層を形成した後、円盤状に打ち
抜いてつくられる磁気ディスクにおいては、磁性層の表
面に情報信号の記録が行われるトラックに沿って入射光
を乱反射する凹所群を所定の間隔で多数設け、光学的な
トラッキングサ−ボが行えるようにして、トラック密度
を向上させることが行われており、フォ−マット容量２
１ＭＢを達成するなど大容量化が図られている。
上に磁性粉末を含む磁性層を形成した後、円盤状に打ち
抜いてつくられる磁気ディスクにおいては、磁性層の表
面に情報信号の記録が行われるトラックに沿って入射光
を乱反射する凹所群を所定の間隔で多数設け、光学的な
トラッキングサ−ボが行えるようにして、トラック密度
を向上させることが行われており、フォ−マット容量２
１ＭＢを達成するなど大容量化が図られている。
【０００３】しかしながら、フォ−マット容量２１ＭＢ
では、未だ大容量化が充分でなく、さらに高記録密度化
が要求されており、たとえば、フォ−マット容量４０Ｍ
Ｂを達成するため、記録波長を短くし、磁性層の厚さを
薄くすることが試みられている。
では、未だ大容量化が充分でなく、さらに高記録密度化
が要求されており、たとえば、フォ−マット容量４０Ｍ
Ｂを達成するため、記録波長を短くし、磁性層の厚さを
薄くすることが試みられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、フォ−マッ
ト容量４０ＭＢを達成するため、記録波長を２μｍ以下
にし、また磁性層の厚さを 0.5μｍ以下にすると、磁性
層の表面にスタンパを用いた高圧プレス装置であるスタ
ンピング装置により凹所群を形成する際、スタンパと磁
性層間の接触力の不均一により、磁性層の塑性変形が不
充分となり、凹所群の形状が不均一となって、光学的な
トラッキングサ−ボが良好に行えないという難点があ
る。
ト容量４０ＭＢを達成するため、記録波長を２μｍ以下
にし、また磁性層の厚さを 0.5μｍ以下にすると、磁性
層の表面にスタンパを用いた高圧プレス装置であるスタ
ンピング装置により凹所群を形成する際、スタンパと磁
性層間の接触力の不均一により、磁性層の塑性変形が不
充分となり、凹所群の形状が不均一となって、光学的な
トラッキングサ−ボが良好に行えないという難点があ
る。
【０００５】特に、スタンピング装置におけるスタンパ
と磁性層間の接触力は、図３に示すように、磁気ディス
クの半径方向において外周へ向かうにつれて大きくな
り、スタンパの総荷重が違っても同じで、トラック領域
の外周側１／３の領域で急激に大きくなる傾向があり、
外周側の凹所群と内周側の凹所群の形状に大きな違いが
生じる結果、内周側のトラックで必要なサ−ボ信号出力
が得られない。
と磁性層間の接触力は、図３に示すように、磁気ディス
クの半径方向において外周へ向かうにつれて大きくな
り、スタンパの総荷重が違っても同じで、トラック領域
の外周側１／３の領域で急激に大きくなる傾向があり、
外周側の凹所群と内周側の凹所群の形状に大きな違いが
生じる結果、内周側のトラックで必要なサ−ボ信号出力
が得られない。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明はかかる問題を
克服するため種々検討を行った結果なされたもので、磁
性層の表面に情報信号の記録が行われるトラックに沿っ
て入射光を乱反射する凹所群を所定の間隔で多数設けた
磁気ディスクにおいて、記録波長が２μｍ以下で、磁性
層の厚さを 0.5μｍ以下とし、かつ凹所群のディスク半
径方向の幅を一辺とする正方形領域内に存在する凹所の
深さの平均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmin との比Ｄma
x ／Ｄmin を 1.5以下にすることによって、凹所群の形
状を均一にし、たとえ記録波長を短くし、磁性層の厚さ
を薄くしても光学的なトラッキングサ−ボが良好に行え
るようにしたものである。
克服するため種々検討を行った結果なされたもので、磁
性層の表面に情報信号の記録が行われるトラックに沿っ
て入射光を乱反射する凹所群を所定の間隔で多数設けた
磁気ディスクにおいて、記録波長が２μｍ以下で、磁性
層の厚さを 0.5μｍ以下とし、かつ凹所群のディスク半
径方向の幅を一辺とする正方形領域内に存在する凹所の
深さの平均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmin との比Ｄma
x ／Ｄmin を 1.5以下にすることによって、凹所群の形
状を均一にし、たとえ記録波長を短くし、磁性層の厚さ
を薄くしても光学的なトラッキングサ−ボが良好に行え
るようにしたものである。
【０００７】また、記録波長が２μｍ以下で、磁性層の
厚さを 0.5μｍ以下とし、かつ凹所群にスポット径をデ
ィスク半径方向の凹所群の幅程度に絞った波長８８０ｎ
ｍ程度のレ−ザ光を照射したときに検出される反射光の
光量の最大値Ｐmax と最小値Ｐmin との比Ｐmax ／Ｐmi
n を 1.5以下にすることによって、凹所群の形状を均一
にし、たとえ記録波長を短くし、磁性層の厚さを薄くし
ても光学的なトラッキングサ−ボが良好に行えるように
したものである。
厚さを 0.5μｍ以下とし、かつ凹所群にスポット径をデ
ィスク半径方向の凹所群の幅程度に絞った波長８８０ｎ
ｍ程度のレ−ザ光を照射したときに検出される反射光の
光量の最大値Ｐmax と最小値Ｐmin との比Ｐmax ／Ｐmi
n を 1.5以下にすることによって、凹所群の形状を均一
にし、たとえ記録波長を短くし、磁性層の厚さを薄くし
ても光学的なトラッキングサ−ボが良好に行えるように
したものである。
【０００８】以下、この発明の磁気ディスクの一例を示
す図面を参照しながら説明する。図１および図２におい
て、１は磁気ディスクで、磁性層２の表面に多数の凹所
群３が、情報信号の記録が行われるトラックに沿って所
定の間隔で設けられている。そして、磁性層２の表面は
鏡面化処理されていて光が入射されると整反射し、無数
の凹所４で構成された凹所群３に光が入射されると乱反
射されて、光学的なトラッキングサ−ボが行われる。
す図面を参照しながら説明する。図１および図２におい
て、１は磁気ディスクで、磁性層２の表面に多数の凹所
群３が、情報信号の記録が行われるトラックに沿って所
定の間隔で設けられている。そして、磁性層２の表面は
鏡面化処理されていて光が入射されると整反射し、無数
の凹所４で構成された凹所群３に光が入射されると乱反
射されて、光学的なトラッキングサ−ボが行われる。
【０００９】ここで、磁気ディスク１は、大容量化する
ため記録波長が２μｍ以下であることが好ましく、この
記録波長２μｍ以下で充分なオ−バ−ライト特性を確保
するため、磁性層２の厚さは0.5 μｍ以下にするのが好
ましい。たとえば、フォ−マット容量４０ＭＢを達成す
るためには、記録波長を約 1.8μｍ程度まで短くする必
要があり、記録波長 1.8μｍで充分なオ−バ−ライト特
性を確保するためには、磁性層２の厚さを 0.4μｍ程度
にする必要がある。
ため記録波長が２μｍ以下であることが好ましく、この
記録波長２μｍ以下で充分なオ−バ−ライト特性を確保
するため、磁性層２の厚さは0.5 μｍ以下にするのが好
ましい。たとえば、フォ−マット容量４０ＭＢを達成す
るためには、記録波長を約 1.8μｍ程度まで短くする必
要があり、記録波長 1.8μｍで充分なオ−バ−ライト特
性を確保するためには、磁性層２の厚さを 0.4μｍ程度
にする必要がある。
【００１０】ところが、磁性層２の厚さを 0.5μｍ以下
にすると、スタンピング装置により凹所群３を磁性層表
面に形成する際、磁性層２の厚さが薄い分磁性層２中の
空孔が少なくなる。このため、磁性層２の変形を磁性層
２中の空孔でもって吸収することができず、磁性層２の
塑性変形も不充分となり、凹所群３の形状が不均一とな
って、必要なサ−ボ信号出力が得られず、特に、内周側
のトラックで必要なサ−ボ信号出力が得られない。
にすると、スタンピング装置により凹所群３を磁性層表
面に形成する際、磁性層２の厚さが薄い分磁性層２中の
空孔が少なくなる。このため、磁性層２の変形を磁性層
２中の空孔でもって吸収することができず、磁性層２の
塑性変形も不充分となり、凹所群３の形状が不均一とな
って、必要なサ−ボ信号出力が得られず、特に、内周側
のトラックで必要なサ−ボ信号出力が得られない。
【００１１】このため、磁性層２の表面に情報信号の記
録が行われるトラックに沿って設けられた凹所群３は、
この凹所群３内における凹所群３のディスク半径方向の
幅を一辺とする正方形領域内に存在する凹所の深さの平
均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmin との比Ｄmax ／Ｄmi
n が 1.5以下であることが好ましく、このような凹所群
３が設けられると、記録波長が２μｍ以下で、磁性層２
の厚さを 0.5μｍ以下にしても、光学的なトラッキング
サ−ボが良好に行え、高記録密度化ができて、全トラッ
クで必要なサ−ボ信号出力が得られる。
録が行われるトラックに沿って設けられた凹所群３は、
この凹所群３内における凹所群３のディスク半径方向の
幅を一辺とする正方形領域内に存在する凹所の深さの平
均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmin との比Ｄmax ／Ｄmi
n が 1.5以下であることが好ましく、このような凹所群
３が設けられると、記録波長が２μｍ以下で、磁性層２
の厚さを 0.5μｍ以下にしても、光学的なトラッキング
サ−ボが良好に行え、高記録密度化ができて、全トラッ
クで必要なサ−ボ信号出力が得られる。
【００１２】また、凹所群にスポット径をディスク半径
方向の凹所群の幅程度に絞った波長８８０ｎｍ程度のレ
−ザ光を照射したときに検出される反射光の光量の最大
値Ｐmax と最小値Ｐmin との比Ｐmax ／Ｐmin が 1.5以
下であることが好ましく、このような凹所群３が設けら
れると、記録波長が２μｍ以下で、磁性層２の厚さを0.
5μｍ以下にしても、光学的なトラッキングサ−ボが良
好に行え、高記録密度化ができて、全トラックで必要な
サ−ボ信号出力が得られる。
方向の凹所群の幅程度に絞った波長８８０ｎｍ程度のレ
−ザ光を照射したときに検出される反射光の光量の最大
値Ｐmax と最小値Ｐmin との比Ｐmax ／Ｐmin が 1.5以
下であることが好ましく、このような凹所群３が設けら
れると、記録波長が２μｍ以下で、磁性層２の厚さを0.
5μｍ以下にしても、光学的なトラッキングサ−ボが良
好に行え、高記録密度化ができて、全トラックで必要な
サ−ボ信号出力が得られる。
【００１３】これに対し、Ｄmax ／Ｄmin やＰmax ／Ｐ
min が 1.5より大きくては、凹所群３の形状が不均一と
なって必要なサ−ボ信号出力が得られず、また、磁性層
２の厚さが 0.5μｍより厚ければ、スタンパにより磁性
層２内の空孔のつぶれと磁性層２の塑性変形によって形
成される凹所が、良好に形成され、サ−ボ信号出力の低
下が問題になることもない。
min が 1.5より大きくては、凹所群３の形状が不均一と
なって必要なサ−ボ信号出力が得られず、また、磁性層
２の厚さが 0.5μｍより厚ければ、スタンパにより磁性
層２内の空孔のつぶれと磁性層２の塑性変形によって形
成される凹所が、良好に形成され、サ−ボ信号出力の低
下が問題になることもない。
【００１４】このような、凹所群３内における凹所群３
のディスク半径方向の幅を一辺とする正方形領域内に存
在する凹所の深さの平均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmi
n との比Ｄmax ／Ｄmin が 1.5以下である凹所群３、お
よび凹所群にスポット径をディスク半径方向の凹所群の
幅程度に絞った波長８８０ｎｍ程度のレ−ザ光を照射し
たときに検出される反射光の光量の最大値Ｐmax と最小
値Ｐmin との比Ｐmax／Ｐmin が 1.5以下である凹所群
３は、スタンピング装置におけるスタンパの複数の微小
な凸部を、磁気ディスク１の半径方向において外周へ向
かうほど小さくし、このスタンパを磁気ディスク１の磁
性層２に接触させて、所定の温度で荷重を一定時間加え
た後に除去するなどの方法で形成される。
のディスク半径方向の幅を一辺とする正方形領域内に存
在する凹所の深さの平均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmi
n との比Ｄmax ／Ｄmin が 1.5以下である凹所群３、お
よび凹所群にスポット径をディスク半径方向の凹所群の
幅程度に絞った波長８８０ｎｍ程度のレ−ザ光を照射し
たときに検出される反射光の光量の最大値Ｐmax と最小
値Ｐmin との比Ｐmax／Ｐmin が 1.5以下である凹所群
３は、スタンピング装置におけるスタンパの複数の微小
な凸部を、磁気ディスク１の半径方向において外周へ向
かうほど小さくし、このスタンパを磁気ディスク１の磁
性層２に接触させて、所定の温度で荷重を一定時間加え
た後に除去するなどの方法で形成される。
【００１５】この発明の磁気ディスク１を製造するに
は、ポリエステルフィルムなどの基体上に、磁性粉末、
結合剤樹脂、有機溶剤およびその他の必要成分からなる
磁性塗料を塗布、乾燥して磁性層２を形成した後、これ
を円盤状に打ち抜き、次いで、磁性層２の表面に磁気デ
ィスク１の半径方向において外周へ向かうほど小さくし
たスタンパを備えたスタンピング装置を用いて、情報信
号の記録が行われるトラックに沿って前記のＤmax ／Ｄ
min が 1.5以下およびＰmax ／Ｐmin が 1.5以下の凹所
群３を所定の間隔で多数設けて製造される。
は、ポリエステルフィルムなどの基体上に、磁性粉末、
結合剤樹脂、有機溶剤およびその他の必要成分からなる
磁性塗料を塗布、乾燥して磁性層２を形成した後、これ
を円盤状に打ち抜き、次いで、磁性層２の表面に磁気デ
ィスク１の半径方向において外周へ向かうほど小さくし
たスタンパを備えたスタンピング装置を用いて、情報信
号の記録が行われるトラックに沿って前記のＤmax ／Ｄ
min が 1.5以下およびＰmax ／Ｐmin が 1.5以下の凹所
群３を所定の間隔で多数設けて製造される。
【００１６】磁性層に使用される磁性粉末としては、γ
−Ｆｅ2 Ｏ3 粉末、Ｆｅ3 Ｏ4 粉末、Ｃｏ含有γ−Ｆｅ
2 Ｏ3 粉末、Ｃｏ含有Ｆｅ3 Ｏ4 粉末、ＣｒＯ2 粉末、
Ｆｅ粉末、ＦｅにＡｌ，Ｃｒ，Ｍｎ，Ｓｉ，Ｚｎなどの
元素を含有させたＦｅを主体とする粉末、Ｃｏ粉末、Ｆ
ｅ−Ｎｉ粉末、バリウムフェライト粉末など、一般に磁
気記録媒体に使用される磁性粉末が広く包含される。
−Ｆｅ2 Ｏ3 粉末、Ｆｅ3 Ｏ4 粉末、Ｃｏ含有γ−Ｆｅ
2 Ｏ3 粉末、Ｃｏ含有Ｆｅ3 Ｏ4 粉末、ＣｒＯ2 粉末、
Ｆｅ粉末、ＦｅにＡｌ，Ｃｒ，Ｍｎ，Ｓｉ，Ｚｎなどの
元素を含有させたＦｅを主体とする粉末、Ｃｏ粉末、Ｆ
ｅ−Ｎｉ粉末、バリウムフェライト粉末など、一般に磁
気記録媒体に使用される磁性粉末が広く包含される。
【００１７】また、結合剤樹脂としては、塩化ビニル−
酢酸ビニル系共重合体、繊維素系樹脂、ポリビニルブチ
ラ−ル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリエステル系樹
脂、イソシアネ−ト化合物、放射線硬化型樹脂など、一
般に磁気記録媒体の結合剤樹脂として使用されるものが
広く用いられる。
酢酸ビニル系共重合体、繊維素系樹脂、ポリビニルブチ
ラ−ル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリエステル系樹
脂、イソシアネ−ト化合物、放射線硬化型樹脂など、一
般に磁気記録媒体の結合剤樹脂として使用されるものが
広く用いられる。
【００１８】有機溶剤としては、メチルイソブチルケト
ン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸エチ
ル、トルエンなど、一般に使用される有機溶剤がそれぞ
れ単独で、あるいは２種以上混合して使用される。
ン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸エチ
ル、トルエンなど、一般に使用される有機溶剤がそれぞ
れ単独で、あるいは２種以上混合して使用される。
【００１９】なお、磁性塗料中には、通常、使用されて
いる各種添加剤、たとえば、分散剤、研磨剤、潤滑剤、
帯電防止剤などを任意に添加使用してもよい。
いる各種添加剤、たとえば、分散剤、研磨剤、潤滑剤、
帯電防止剤などを任意に添加使用してもよい。
【００２０】
【実施例】次ぎに、この発明の実施例について説明す
る。 実施例１〜４，比較例１〜５ バリウムフェライト磁性粉末（保磁力７３０エルステッド） １００重量部 ＶＡＧＨ（U.C.C 社製；塩化ビニル−酢酸ビニル−ビニル １５ 〃 アルコ−ル共重合体） ＵＲ８３１０（日本ポリウレタン工業社製；ウレタン樹脂） １０ 〃 コロネ−トＬ（日本ポリウレタン工業社製；三官能性低分 １０ 〃 子量イソシアネ−ト化合物） ＨＳ−５００（旭カ−ボン社製；カ−ボンブラック） １０ 〃 ベンガラ ５ 〃 α−アルミナ ５ 〃 ミリスチン酸 ５ 〃 ステアリン酸亜鉛 ２ 〃 ステアリン酸−ｎ−ブチル ５ 〃 シクロヘキサノン １１７ 〃 トルエン １１７ 〃 この組成物を混合分散して磁性塗料を調製し、この磁性
塗料を厚さ６２μｍの多数のポリエステルフィルムの両
面に、厚さを種々に変えて塗布、乾燥し、カレンダ処理
を施して磁性層を形成した。
る。 実施例１〜４，比較例１〜５ バリウムフェライト磁性粉末（保磁力７３０エルステッド） １００重量部 ＶＡＧＨ（U.C.C 社製；塩化ビニル−酢酸ビニル−ビニル １５ 〃 アルコ−ル共重合体） ＵＲ８３１０（日本ポリウレタン工業社製；ウレタン樹脂） １０ 〃 コロネ−トＬ（日本ポリウレタン工業社製；三官能性低分 １０ 〃 子量イソシアネ−ト化合物） ＨＳ−５００（旭カ−ボン社製；カ−ボンブラック） １０ 〃 ベンガラ ５ 〃 α−アルミナ ５ 〃 ミリスチン酸 ５ 〃 ステアリン酸亜鉛 ２ 〃 ステアリン酸−ｎ−ブチル ５ 〃 シクロヘキサノン １１７ 〃 トルエン １１７ 〃 この組成物を混合分散して磁性塗料を調製し、この磁性
塗料を厚さ６２μｍの多数のポリエステルフィルムの両
面に、厚さを種々に変えて塗布、乾燥し、カレンダ処理
を施して磁性層を形成した。
【００２１】次いで、これらを円盤状に打ち抜いた後、
下記表１に示すように、トラック最内周の位置における
凸部の高さをａとし、トラック最外周の位置における凸
部の高さｂとして、両者の間の高さを図３に示す接触力
の変化曲線と同様に変化させたスタンパを備えたスタン
ピング装置を用い、磁性層の表面に情報信号の記録が行
われるトラックに沿って所定の間隔で凹所群を多数形成
して、実施例１〜４および比較例１〜５の磁気ディスク
をつくった。
下記表１に示すように、トラック最内周の位置における
凸部の高さをａとし、トラック最外周の位置における凸
部の高さｂとして、両者の間の高さを図３に示す接触力
の変化曲線と同様に変化させたスタンパを備えたスタン
ピング装置を用い、磁性層の表面に情報信号の記録が行
われるトラックに沿って所定の間隔で凹所群を多数形成
して、実施例１〜４および比較例１〜５の磁気ディスク
をつくった。
【００２２】
【表１】
【００２３】各実施例および比較例で得られた磁気ディ
スクについて、凹所群のディスク半径方向の幅を一辺と
する正方形領域内に存在する凹所の深さの平均値の最大
値Ｄmax と最小値Ｄmin とを、走査型原子間力顕微鏡Ａ
ＦＭ（東洋テクニカ社製）で測定し、Ｄmax ／Ｄmin の
比率を求めた。
スクについて、凹所群のディスク半径方向の幅を一辺と
する正方形領域内に存在する凹所の深さの平均値の最大
値Ｄmax と最小値Ｄmin とを、走査型原子間力顕微鏡Ａ
ＦＭ（東洋テクニカ社製）で測定し、Ｄmax ／Ｄmin の
比率を求めた。
【００２４】また、凹所群にスポット径をディスク半径
方向の凹所群の幅程度に絞った波長８８０ｎｍ程度のレ
−ザ光を照射したときに検出される反射光の光量の最大
値Ｐmax と最小値Ｐmin とを、パワ−メ−タ（Ａｄｖａ
ｎｔｅｓｔ社製）で測定し、Ｐmax ／Ｐmin の比率を求
めた。
方向の凹所群の幅程度に絞った波長８８０ｎｍ程度のレ
−ザ光を照射したときに検出される反射光の光量の最大
値Ｐmax と最小値Ｐmin とを、パワ−メ−タ（Ａｄｖａ
ｎｔｅｓｔ社製）で測定し、Ｐmax ／Ｐmin の比率を求
めた。
【００２５】さらに、各実施例および比較例で得られた
磁気ディスクについて、光学測定器Ｏｐｔｏｏｌｓ（Ｉ
ｎｓｉｔｅ社製）を用いてサ−ボ出力を測定し、磁気デ
ィスク全面において優れた出力が得られる場合を
（◎）、磁気ディスク全面で充分な出力が得られる場合
を（○）磁気ディスクのごく一部で充分な出力が得られ
ない場合を（△）、磁気ディスクのごく一部でしか充分
な出力が得られない場合を（×）として評価した。下記
表２はその結果である。
磁気ディスクについて、光学測定器Ｏｐｔｏｏｌｓ（Ｉ
ｎｓｉｔｅ社製）を用いてサ−ボ出力を測定し、磁気デ
ィスク全面において優れた出力が得られる場合を
（◎）、磁気ディスク全面で充分な出力が得られる場合
を（○）磁気ディスクのごく一部で充分な出力が得られ
ない場合を（△）、磁気ディスクのごく一部でしか充分
な出力が得られない場合を（×）として評価した。下記
表２はその結果である。
【００２６】
【表２】
【００２７】
【発明の効果】上記表２から明らかなように、この発明
で得られた磁気ディスク（実施例１ないし４）は、比較
例１ないし５で得られた磁気ディスクに比し、サ−ボ出
力が高く、このことからこの発明によって得られる磁気
ディスクは、光学的なトラッキングサ−ボを良好に行う
ことができ、トラック密度を高密度化して、記憶容量を
格段に向上させることができる。
で得られた磁気ディスク（実施例１ないし４）は、比較
例１ないし５で得られた磁気ディスクに比し、サ−ボ出
力が高く、このことからこの発明によって得られる磁気
ディスクは、光学的なトラッキングサ−ボを良好に行う
ことができ、トラック密度を高密度化して、記憶容量を
格段に向上させることができる。
【図１】この発明の磁気ディスクの一例を示す平面図で
ある。
ある。
【図２】図１に示す磁気ディスクの一部拡大断面斜視図
である。
である。
【図３】磁気ディスクにおける中心からの距離と、スタ
ンピング装置に備えたスタンパの磁性層との接触力との
関係図である。
ンピング装置に備えたスタンパの磁性層との接触力との
関係図である。
１ 磁気ディスク ２ 磁性層 ３ 凹所群 ４ 凹所
Claims (2)
- 【請求項１】 基体上に磁性粉末を含む磁性層を設け、
磁性層の表面に情報信号の記録が行われるトラックに沿
って入射光を乱反射する凹所群を所定の間隔で多数設け
た磁気ディスクにおいて、記録波長が２μｍ以下、磁性
層の厚さが 0.5μｍ以下で、凹所群内における凹所群の
ディスク半径方向の幅を一辺とする正方形領域内に存在
する凹所の深さの平均値の最大値Ｄmax と最小値Ｄmin
との比Ｄmax ／Ｄmin が 1.5以下であることを特徴とす
る磁気ディスク - 【請求項２】 基体上に磁性粉末を含む磁性層を設け、
磁性層の表面に情報信号の記録が行われるトラックに沿
って入射光を乱反射する凹所群を所定の間隔で多数設け
た磁気ディスクにおいて、記録波長が２μｍ以下、磁性
層の厚さが 0.5μｍ以下で、凹所群にスポット径をディ
スク半径方向の凹所群の幅程度に絞った波長８８０ｎｍ
程度のレ−ザ光を照射したときに検出される反射光の光
量の最大値Ｐmax と最小値Ｐmin との比Ｐmax ／Ｐmin
が 1.5以下であることを特徴とする磁気ディスク
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22523593A JPH0757413A (ja) | 1993-08-18 | 1993-08-18 | 磁気ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22523593A JPH0757413A (ja) | 1993-08-18 | 1993-08-18 | 磁気ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0757413A true JPH0757413A (ja) | 1995-03-03 |
Family
ID=16826116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22523593A Withdrawn JPH0757413A (ja) | 1993-08-18 | 1993-08-18 | 磁気ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0757413A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100405679C (zh) * | 2000-03-14 | 2008-07-23 | 夏普公司 | 半导体激光器以及引线接合方法 |
-
1993
- 1993-08-18 JP JP22523593A patent/JPH0757413A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100405679C (zh) * | 2000-03-14 | 2008-07-23 | 夏普公司 | 半导体激光器以及引线接合方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001031 |