JPH0757399A - 磁気媒体読取り装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） データ処理部のような外部装置でもデータエラーの詳細
な解析が可能であり、読取り性能の向上を図り、誤りな
く正当性の判断ができ、読取り装置側でのデータエラー
に対して詳細な解析ができる。 【構成】読取り装置側の計測手段で計測した磁束反転時
間と、計数手段で計数した磁束反転個数とのデータを伝
送手段を介して外部装置に伝送し、設定手段でサンプリ
ングタイム決定ビット数と係数との設定を変更すること
で、再デコードさせ、複数個のサンプリングタイムのそ
れぞれを使用してデコードした結果が、複数のフォーマ
ットの何れにが合致するかをフォーマット判定手段で判
定して、複数の記録密度のデコードに対処し、ジッタ判
定用の基準データで読取りデータのジッタ正否を判定
し、読取りデータの平均記録密度を複数個の記録密度基
準データの何れの記録密度であるかを比較して、読取り
データの記録密度を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、磁気カードなどの磁
気媒体に記録された磁気データを読取る磁気媒体読取り
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の磁気読取り装置は、例えば、Ｆ２
Ｆ記録方式の場合、記録の磁気データが所定の周波数で
磁束反転しているので、これを磁気ヘッドで読取ってそ
のアナログ信号を電位の変化で磁束反転位置を検知し
て、磁束間隔（周波数）を検知し、各磁束間隔を設定さ
れたサンプリングタイムで判定してデコードしている。
すなわち、従来の磁気媒体読取り装置は、該装置内に上
述のサンプリングタイムを発生するサンプリングタイム
発生手段と、デコード手段と、デコード結果の正当性判
定手段を備え、装置内部でデコード結果の判定までの一
連の処理を実行して、その判定結果と、判定が正しい時
はその読取りデータも付加して外部装置、例えばデータ
処理部に伝送している。

【０００３】しかし、磁気データが正しく読取れていな
い場合、上述のデータ処理部のような外部装置側では、
その判定結果のみしかわからないため、読取り不良の原
因の詳細な解析等を行うことが不可能であった。これ
は、読取り装置がわが磁束反転時間をＣＰＵが処理でき
るデータに加工せず、磁気再生波形（アナログ信号）を
そのまま装置の固定サンプリングタイムを用いてデコー
ドしていたことに起因する。

【０００４】さらに、従来の可変長デコード方式（サン
プリングタイムに読取りビットの直前のビットの磁束反
転時間を採用する方式）を採用した磁気媒体読取り装置
では、可変長デコードのサンプリングタイムを決定する
ための条件であるサンプリングビット数および係数を装
置固定としていた。このようにした場合、磁気媒体の搬
送状態が大きく変動して、可変長デコード可能な範囲を
越えてしまうと、正しくデコードできずに誤りが発生し
ていた。この場合、サンプリング条件を変えて再デコー
ドすることができれば正しくデコードできる場合もある
と考えられる。

【０００５】さらに、従来の固定長デコード方式（サン
プリングタイムを一定に設定する方式）を採用した磁気
媒体読取り装置では、読取るべき磁気媒体のトラック毎
に、磁気媒体の搬送速度と記録密度から算出した固定の
サンプリングタイムを定め、これをデコードに利用して
いる。例えば、磁気カードではＩＳＯの第１トラック・
第３トラックの記録密度は２１０ｂｐｉ（約０．１２１
mm／ビット）、ＩＳＯの第２トラックの記録密度は７５
ｂｐｉ（約０．３３９mm／ビット）であるため、搬送速
度が、例えば、３００mm/sである場合には、再生ビット
間隔（時間）が２１０ｂｐｉの時には約４０３μｓ、７
５ｂｐｉ時には約１１２９μｓとなる。したがって、サ
ンプリングタイムは、この再生ビット時間にデコード時
のサンプリングポイントを決める係数（例えば０．７
５）を乗じたもので、２１０ｂｐｉ時には３０２μｓ、
７５ｂｐｉ時には８４７μｓとなる。この値をトラック
単位に準備したデコード手段に使用して再生した磁気デ
ータのデコードを行っている。このようにした場合、ト
ラック単位にサンプリングタイムが固定されていること
から、対象とする記録密度以外の記録密度で記録された
磁気媒体は、デコード不可能である。

【０００６】このことから、１本のトラックを使用する
が記録密度を変えた複数種類の磁気媒体を利用するシス
テムや、１本のトラックに異なった密度でデータを分割
記録するように磁気媒体を扱うシステムには対応できな
い。また、記録密度毎にトラックを準備する必要がある
ことから、磁気媒体・読取り装置ともコスト高となる問
題点を有する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】この発明の請求項１記
載の発明の目的は、データ処理部のような外部装置でも
データエラーの詳細な解析が可能な磁気媒体読取り装置
の提供である。

【０００８】この発明の請求項２記載の発明の目的は、
可変長デコードのサンプリングタイムの決定条件を変え
て再デコードできるようにすることで、読取り性能の向
上を図ることができる磁気媒体読取り装置の提供であ
る。

【０００９】この発明の請求項３記載の発明の目的は、
記録密度に対応して複数種類のチェック用データを持た
せることで、記録密度および記録フォーマットの異なる
磁気媒体についても、誤りなく正当性の判断ができる磁
気媒体読取り装置の提供である。

【００１０】この発明の請求項４および５に記載の発明
の目的は、読取り装置側でのデータエラーに対して詳細
な解析ができる磁気媒体読取り装置の提供である。

【００１１】

【課題を解決するための手段】この発明の請求項１記載
の発明は、磁気媒体に記録された磁気データの帯磁を読
取って、帯磁方向の反転による磁束反転時間を計測する
計測手段と、上記帯磁方向の反転による磁束反転個数を
計数する計数手段と、上記計測手段の磁束反転時間と、
計数手段の磁束反転個数とを外部装置に伝送する伝送手
段とを備えた磁気媒体読取り装置であることを特徴とす
る。

【００１２】この発明の請求項２記載の発明は、磁気媒
体に記録された磁気データの帯磁を読取って、帯磁方向
の反転による磁束反転時間を計測する計測手段と、可変
長デコード方式におけるサンプリングタイム決定ビット
数と係数とを設定する設定手段と、前記計測手段の磁束
反転時間を上記設定手段の設定値でデコードを実行する
デコード手段とを備えた磁気媒体読取り装置であること
を特徴とする。

【００１３】この発明の請求項３記載の発明は、磁気媒
体に記録された磁気データの帯磁を読取って、帯磁方向
の反転による磁束反転時間を計測する計測手段と、固定
長デコード方式におけるサンプリングタイムを複数個設
定したサンプリングタイム設定手段と、各サンプリング
タイムに対応したチェックフォーマットを設定したチェ
ックフォーマット設定手段と、前記複数個のサンプリン
グタイムのそれぞれを使用して、デコードを実行するデ
コード手段と、前記各サンプリングタイムでデコードし
た結果が、何れのチェックフォーマットに合致するかを
判定するフォーマット判定手段とを備えた磁気媒体読取
り装置であることを特徴とする。

【００１４】この発明の請求項４記載の発明は、前記請
求項２または３記載の発明の構成に併せて、ジッタ判定
用の基準データを設定するジッタ基準値設定手段と、計
測した磁束反転時間と上記基準データとに基づいて磁気
読取りデータのジッタ正否を判定するジッタ判定手段と
を備えた磁気媒体読取り装置であることを特徴とする。

【００１５】この発明の請求項５記載の発明は、前記請
求項２または３記載の発明の構成に併せて、記録密度判
定用の複数個の基準データを設定する記録密度基準値設
定手段と、測定した磁束反転時間の平均記録密度を算出
する平均記録密度算出手段と、算出した平均記録密度と
複数個の記録密度基準データとに基づいて、何れの記録
密度であるかを判定する記録密度判定手段とを備えた磁
気媒体読取り装置であることを特徴とする。

【００１６】

【作用】この発明の請求項１記載の発明は、計測手段で
計測した磁束反転時間と、計数手段で計数した磁束反転
個数とのデータを伝送手段を介して外部装置に伝送する
ことで、外部装置側のＣＰＵでデータエラーを詳細に解
析することができる。

【００１７】この発明の請求項２記載の発明は、設定手
段でサンプリングタイム決定ビット数と係数との設定を
変更することで、再デコードすることができる。

【００１８】この発明の請求項３記載の発明は、複数個
のサンプリングタイムのそれぞれを使用してデコードし
た結果が、複数のフォーマットの何れに合致するかをフ
ォーマット判定手段で判定して、複数の記録密度のデコ
ードに対処する。

【００１９】この発明の請求項４記載の発明は、ジッタ
判定用の基準データで読取りデータのジッタ正否を判定
する。

【００２０】この発明の請求項５記載の発明は、読取り
データの平均記録密度を複数個の記録密度基準データの
何れの記録密度であるかを比較して、読取りデータの記
録密度を判定する。

【００２１】

【発明の効果】この発明の請求項１記載の発明によれ
ば、外部装置側で磁束反転時間と、磁束反転個数とのデ
ータを得ることは、磁気媒体の基本データを把握するこ
とができることから、外部装置側できめ細かなデータ解
析ができる。すなわち、サンプリングタイムを任意に設
定した読取りデータのデコードと、データチェックが可
能となり、さらに、磁束反転時間、磁束反転個数のデー
タを利用した読取り装置側の性能解析、磁気媒体側の特
性解析などが実現できる。

【００２２】この発明の請求項２記載の発明によれば、
サンプリングタイムの決定条件を変えて再デコードでき
ることから、読取り性能を高めることができる。

【００２３】この発明の請求項３記載の発明によれば、
磁気媒体の記録密度をトラック単位に固定せず、複数の
記録密度をデコードすることができることから、次の効
果が期待できる。

【００２４】その１、１本のトラックを使用し、記録密
度を変えた複数種類の記録媒体を準備し、この何れもが
利用可能であるようなシステムの構築ができる。

【００２５】その２、１本のトラックに異なった記録密
度でデータを分割記録するような記録媒体を取扱うシス
テムの構築ができる。

【００２６】その３、記録密度毎にトラックを準備しな
くても、複数の記録密度の磁気媒体が扱えることから、
磁気媒体・読取り装置共にコストの低減化が図り得る。

【００２７】その４、現状の１記録密度／１トラックの
場合でも、複数のトラックから１トラックずつを選択で
きる手段を設けることで、デコード手段は１個のみで対
応できることになり、コスト低減の効果が得られる。

【００２８】この発明の請求項４記載の発明によれば、
読取りデータのジッタ正否が判定できることから、装置
の磁気媒体搬送性能・磁気媒体の記録特性など、装置お
よび磁気媒体の詳細解析が可能となり、磁気媒体読取り
不良時などの原因解析、対策評価などが効率よく実行で
きる。

【００２９】この発明の請求項５記載の発明よれば、読
取りデータの記録密度が判定できることから、磁気媒体
の記録密度を磁気媒体の判定条件のようにフォーマット
以外の判定材料に使用でき、さらに、記録フォーマット
が同一で、記録密度のみを磁気媒体の種類分けに利用で
きるような、簡易なセキュリティの構築ができる。

【００３０】

【実施例】この発明の一実施例を以下図面に基づいて詳
述する。図面は磁気カードの読取り装置を示し、図１に
おいて、カード１０は磁気記録の可能な磁気ストライプ
を有し、該カード１０は、搬送ベルト１１およびガイド
ローラ１２，１２などで形成し、かつモータ１３で駆動
制御される搬送ライン１４で搬送され、該搬送ライン１
４上にはカード１０の到来を検知し例えば光電センサで
構成されるカード位置検知器１５と、カード１０の磁気
ストライプに対応した位置に配置し磁気記録データを読
取る磁気ヘッド１６を設けている。

【００３１】図２は磁気カードの読取り装置の制御ブロ
ックを示し、例えば、該読取り装置が銀行業務の自動預
金支払い機や物品の自動販売機などの装置に組込まれる
装置であれば、そのような装置においてスレーブＣＰＵ
となるＣＰＵ１７を備え、該ＣＰＵ１７にはバスを介し
てＲＯＭ１８、ＲＡＭ１９、磁束反転時間計測部２０、
サンプリングクロック発生部２１、搬送制御部２２、カ
ード位置検知器１５、伝送制御部２３等を接続し、ま
た、磁束反転時間計測部２０には前述の磁気ヘッド１６
を接続し、さらに、搬送制御部２２には前述のモータ１
３を接続し、さらにまた、伝送制御部２３には回線を介
して外部制御部２４を接続している。

【００３２】前述のＲＯＭ１８にはカード１０の読取り
装置の動作を制御するプログラム等を記憶し、ＲＡＭ１
９にはカード１０から読取ったデータやカード１０に記
録するテータを一時記憶する。

【００３３】磁束反転時間計測部２０は、図３にも示す
ように、磁気ヘッド１６で読取った読取り信号（イ）の
電位変化から磁束反転（ロ）を検出し、この反転間隔の
時間を計測する。この計測はサンプリングクロック発生
部２１で発生されるサンプリングクロック（ハ）を磁束
反転の間計数し、さらにこの計数値にサンプリングクロ
ックの周期を乗じて求めた計測値（時間、μｓ）（ニ）
である。同時に磁束反転個数（ホ）も計数する。なお、
この実施例におけるカード１０の磁気記録は、Ｆ２Ｆ記
録方式を採用している。

【００３４】搬送制御部２２は前述の搬送ライン１４の
モータ１３を駆動制御し、カード位置検知器１５はカー
ド１０の到来を検知することで、カード１０の読取りタ
イミングを設定するための信号となる。伝送制御部２３
はこの磁気カード読取り装置とデータ処理装置などの外
部制御部２４を接続して読取りデータの送受信を実行す
る。

【００３５】前述のＣＰＵ１７が読取りデータをデコー
ド処理のために、可変長デコード方式と固定長デコード
方式のプログラムをＲＯＭ１８に格納している。また、
ＣＰＵ１７には、可変長デコード方式において、サンプ
リングタイムを決定するためのビット数と、サンプリン
グ係数とを設定する設定手段を持ち、この設定値は、Ｒ
ＯＭ１８に置いて固定にしてもよく、またＲＡＭ１９に
置いて外部装置により変更可能にしてもよい。

【００３６】さらに、ＣＰＵ１７には、固定長デコード
方式において、当該読取り装置が取扱うべき記録密度の
種類分のサンプリングタイムをテーブルに持ち、このテ
ーブルは真のサンプリングタイムでなくとも、その値を
間接的に算出できる記録密度などの値でもよく、さら
に、このテーブルは、ＲＯＭ１８に置いて固定にしても
よく、またＲＡＭ１９に置いて外部装置により変更可能
にしてもよい。

【００３７】さらに、ＣＰＵ１７には、当該読取り装置
が取扱うべき読取りフォーマットの種類に対応するチェ
ック用データをテーブルに持ち、このテーブルは、ＲＯ
Ｍ１８に置いて固定にしてもよく、またＲＡＭ１９に置
いて外部装置により変更可能にしてもよい。

【００３８】さらに、ＣＰＵ１７には、読取りデータの
ジッタ正否を判定するジッタ判定用の基準データを設定
する設定手段を持ち、この基準データは、ＲＯＭ１８に
置いて固定にしてもよく、またＲＡＭ１９に置いて外部
装置により変更可能にしてもよい。

【００３９】さらに、ＣＰＵ１７には、読取りデータの
記録密度を判定する複数個の記録密度判定用の基準デー
タを設定する設定手段を持ち、この基準データは、ＲＯ
Ｍ１８に置いて固定にしてもよく、またＲＡＭ１９に置
いて外部装置により変更可能にしてもよい。

【００４０】次に、ＣＰＵ１７による可変長デコード処
理を図４のフローチートおよび図５のメモリマップを参
照して説明する。

【００４１】まず、カード１０に記録されたデータを読
取る。すなわち、読取り装置に対するカード１０の挿入
が適宜のセンサで検出されると、搬送ライン１４を駆動
するモータ１３が駆動されて、カード１０は内部に取込
まれ、カード位置検知器１５でカード１０が検知される
ことで、読取りタイミングが設定され、磁気ヘッド１６
はカード１０の磁気ストライプの磁束を読取り（図３を
参照）、この磁束から磁束反転時間計測部２０は反転時
間を測定する。

【００４２】すなわち、図３にも示すように、磁束反転
時間計測部２０は、磁気ヘッド１６で読取った読取り信
号（イ）の電位変化から磁束反転（ロ）を検出し、この
反転間隔の時間を計測する。この計測はサンプリングク
ロック発生部２１で発生されるサンプリングクロック
（ハ）を磁束反転の間計数し、さらにこの計数値にサン
プリングクロックの周期を乗じて計測値（ニ）を求め
る。同時に磁束反転個数（ホ）も計数する。そして、こ
れらの磁束反転時間および磁束反転個数のデータをＲＡ
Ｍ１９の所定のエリアに記憶し（ステップｎ１）、この
ような読取り計測処理を磁気ストライプの全てが読取ら
れるまで繰返し実行する。

【００４３】磁束の読取りが終了すると、可変長方式で
データをデコードを開始するために初期サンプリングタ
イムを決定する（ステップｎ２）。可変長デコード方式
の場合はサンプリングタイムを順次更新していくため、
初期サンプリングタイムが必要であって、この初期サン
プリングタイムは、１ビットの反転時間計測値を１ビッ
ト長とし、判定する直前ビットから所定数前のビットの
平均時間計測値を１ビット長と定め、ビットの判定が進
むにしたがって、平均値の算出も更新してサンプリング
タイムを更新する（図５のサンプリングタイムの動きを
参照）。

【００４４】そして、上述の平均値を取るための複数の
ビット数をサンプリングタイム決定のビット数として設
定し、通常は読取りデータの初期データの所定ビット数
分を取出し、この実施例では４ビットに設定している。
さらに、１ビット長の所定比率、例えば、７５％のタイ
ミングをサンプリングタイミングとして判定し、この７
５％、すなわち、０．７５をサンプリングタイム決定の
係数に設定している。

【００４５】そして、上述のサンプリングタイム決定の
ビット数と、サンブリングタイム決定の係数はそれぞれ
複数種が予め設定されていて、これらからの選択決定は
デコード結果の良否によって行なわれる。

【００４６】上述のようにして、初期サンプリングタイ
ムが決定すると、この決定に用いたビットのデコードを
実行するためにデータ位置にデコード対象ポインタを更
新し、上述のサンプリングタイム決定に利用したビット
数分、ビットの計数値を減算する（図５のデコード結果
の上部４ビットのプリアンブルを参照）（ステップｎ
３）。すなわち、該ビット位置は通常プリアンブル部で
あって、２値信号の「０」が記録されているが、これは
カード１０のデータではないため、読取りデータの磁束
反転個数の対象とはしない。

【００４７】前述のように決定した初期サンプリングタ
イムで最初の読取りデータの最初のビットに対して磁束
反転時間をデコードする（ステップｎ４）。

【００４８】すなわち、図５のビットａの位置では、初
期のサンプリングタイムが３９９μｓであって、係数が
０．７５に決定されたとすると、サンプリングタイミン
グは ３９９×０．７５＝２９９．２５ となる。そして、読取りデータの最初のビットａの磁束
反転時間計測値が３７３μｓであって、 ３７３＞２９９．２５ であるため、この最初のビットａのデコード結果は２値
信号の「０」となり、このビットａは磁束反転個数とし
ての計数対象となる。

【００４９】また、図５のビットｂの位置では、サンプ
リングタイムが４００μｓであって、係数が０．７５で
あるため、サンプリングタイミングは ４００×０．７５＝３００ となり、このビットｂの磁束反転時間計測値が２１０μ
ｓであって、 ２１０＜３００ であるため、このビットｂのデコード結果は２値信号の
「１」となり、この場合、磁気記録がＦ２Ｆ記録方式で
あるため、デコード結果が「１」であれば、次のビット
ｂ＋１の磁束反転時間計測値もサンプリングタイミング
３００μｓ以下となるはずであり、この実施例でも磁束
反転時間計測値が２１５μｓであって、この「１」と判
定したビットを前述の「０」のビット時間に対応させる
ため、ビットｂとビットｂ＋１との磁束反転時間計測値
を加算した値、すなわち、２１０＋２１５＝４２５μｓ
を「１」のビット時間と決定し、また、ビットｂ＋１は
デコード後のビット数には入れないため１を減算するこ
とになる。

【００５０】上述のようにして第１のビット位置を２値
信号の「０」か「１」かを判定し（ステップｎ５）、デ
ータが「１」であれば、デコード対象ポインタを２ビッ
ト更新し、すなわち、前述のビットｂの位置であれば、
次のビットｂ＋１が前述したようにデコード後のビット
数には入れないためこれをスキップしたビットｂ＋２を
デコード対象ポインタとなし（ステップｎ６）、さら
に、デコード後のビット数を１ビット分減算し、すなわ
ち、前述のビットｂの位置であれば、ビットｂ＋１の分
を１ビット分減算し（ステップｎ７）、さらにまた、次
のビット位置の磁束反転時間計測値を含めて次のビット
時間となし、すなわち、前述のビット位置ｂの位置であ
れば、該位置のビットｂの計測値２１０μｓと、次のビ
ットｂ＋１の計測値２１５μｓとを加算した値、すなわ
ち、２１０＋２１５＝４２５μｓをビットｂとビットｂ
＋１とのビット時間に決定する（ステップｎ８）。

【００５１】また、前述のステップｎ５で、データが
「０」であると判定したときは、デコード対象ポインタ
を１ビット更新し、すなわち、前述のビットａの位置で
あれば、このビットａのみでビット数を計数することが
できるので、次のビットａ＋１をデコード対象ポインタ
となし（ステップｎ９）、当該磁束反転時間計測値を次
のビット時間となし、すなわち、前述のビット位置ａの
位置であれば、該位置のビットａの計測値３７３μｓを
ビット時間に決定する（ステップｎ１０）。

【００５２】次いで、今回のビット時間を含めて次のサ
ンプリングタイムを算出し、例えば、前述のビットａの
位置であれば、その３ビット前からの合計４ビット分の
平均値、すなわち、ａ−３＝４０５μｓ、ａ−２＝３９
４μｓ、ａ−１＝３８６μｓ、ａ＝３７３μｓの平均値
略３９０μｓを次のサンプリングタイムに決定する（ス
テップｎ１１）。

【００５３】このような処理を実行して全てのビットに
対するデコード処理が終了し、磁束反転個数（ステップ
ｎ１で計数処理）からの判定でそのデコードが終了した
ことが判定されると（ステップｎ１２）終了する。

【００５４】そして、これらのデコード処理の内、デコ
ード結果以外に、磁束反転時間計測値のデータと磁束反
転個数のデータ（ステップｎ１で処理）とを伝送制御部
２３を介して外部制御部２４に伝送すると、該外部制御
部２４でも端末と同様のデコード処理をすることができ
る。

【００５５】次に、ＣＰＵ１７による固定長デコード処
理を図６のフローチートおよび図７のメモリマップを参
照して説明する。

【００５６】すなわち、カード１０の磁気ストライプの
磁束を読取り、この磁束から磁束反転時間計測部２０は
磁束反転時間を計測し磁束反転個数を計数する。これら
の処理は前述の図４で説明した可変長デコード処理のス
テップｎ１と同様であって、これらの磁束反転時間およ
び磁束反転個数のデータをＲＡＭ１９の所定のエリアに
記憶し（ステップｎ２１）、このような読取り計測処理
を磁気ストライプの全てが読取られるまで繰返し実行す
る。

【００５７】次いでデコードを開始するために磁束反転
時間の先頭をデコード対象ポインタで指示し（ステップ
ｎ２２）、次に、設定されたサンプリングタイムで磁束
反転時間をデコードする（ステップｎ２３）。

【００５８】すなわち、上述のサンプリングタイムは予
め一定に設定されていて、この実施例では、サンプリン
グタイムを３０２μｓに設定し、このタイムは記録密度
は２１０ｂｐｉ（約０．１２１mm／ビット）、搬送速度
が３００mm/sである場合の再生ビット間隔（時間）が約
４０３μｓに対して、デコード時のサンプリングポイン
トを決める係数（例えば０．７５）を乗じたものに対応
する。すなわち、記録密度２１０ｂｐｉ時に対するサン
プリングタイムに対応する。

【００５９】そして、上述の３０２μｓのサンプリング
タイムでデコードを順次実行するステップｎ２４〜ｎ３
０の処理は、前述の図５で説明した可変長デコード処理
のステップｎ５〜ｎ１２と同様であるため、その詳細な
説明を省略する。

【００６０】そして、デコード結果がＮＧであれば、サ
ンプリングタイム決定のビット数と、サンプリングタイ
ム決定の係数とを、それぞれ変更して再デコードするこ
とが、読取り精度を高めることができる。

【００６１】さらに、これらのデコード処理の内、デコ
ード結果以外に、磁束反転時間計測値のデータと磁束反
転個数のデータ（ステップｎ２１で処理）とを伝送制御
部２３を介して外部制御部２４に伝送すると、該外部制
御部２４でも端末と同様のデコード処理をすることがで
きる。

【００６２】次に、ＣＰＵ１７による複数のサンプリン
グタイムに対応した複数のチェックフォーマットを設定
している場合のデコード処理を図８のフローチートおよ
び図９、図１０のメモリマップを参照して説明する。

【００６３】この実施例では複数種のフォーマットの記
録密度を持つ複数のカード１０のデコードが可能であっ
て、例えば、記録密度２１０ｂｐｉと７５ｂｐｉについ
て説明する。

【００６４】すなわち、カード１０の磁気ストライプの
磁束を読取り、この磁束から磁束反転時間計測部２０は
磁束反転時間を計測し磁束反転個数を計数する。これら
の処理は前述の図４で説明した可変長デコード処理のス
テップｎ１、および図６で説明した固定長デコード処理
のステップｎ２１と同様であって、これらの磁束反転時
間および磁束反転個数のデータをＲＡＭ１９の所定のエ
リアに記憶し（ステップｎ３１）、このような読取り計
測処理を磁気ストライプの全てが読取られるまで繰返し
実行する。

【００６５】次いで、サンプリングタイムの個数を設定
する（ステップｎ３２）。すなわち、この実施例では複
数のサンプリングタイムをＲＡＭ１９のテーブルに設定
しており、これらのサンプリングタイムはそれぞれ読取
フォーマットに対応している。例えば、前述したよう
に、フォーマットが記録密度２１０ｂｐｉ時に対応させ
たサンプリングタイム３０２μｓ、およびフォーマット
が７５ｂｐｉ時に対応させたサンプリングタイム８４７
μｓなどのように複数（この場合であれば、２個）に設
定している。

【００６６】また、ＲＡＭ１９のテーブルには、前述例
の記録密度２１０ｂｐｉと７５ｂｐｉに対応する各読取
りフォーマットのチェック用データ１および２を設定し
ており、これらのチェック用データ１および２は、デコ
ード後何れの記録密度のカードであるかをチェックする
のに利用する。

【００６７】次いでサンプリングタイムのテーブルに設
定された先頭を指示して、これをサンプリングタイムと
してセットする（ステップｎ３３，ｎ３４）。

【００６８】例えば、サンプリングタイムに、フォーマ
ットが記録密度２１０ｂｐｉ時である３０２μｓがセッ
トされると、このサンプリングタイムで固定長デコード
を開始する。すなわち、この固定長デコードは磁束反転
個数分の磁束反転時間を上述のサンプリングタイム３０
２μｓで２値信号の１／０のデータにデコードすること
であって、図６、図７で説明した処理である（ステップ
ｎ３５）。

【００６９】次いで、ＲＡＭ１９のデーブルから読取り
フォーマットのチェック用データ１を指示し、デコード
結果の読取りフォーマットをチェックする（ステップｎ
３６，ｎ３７）。すなわち、前述のサンプリングタイム
のセット（ステップｎ３４）が記録密度２１０ｂｐｉ時
に対応させたタイム３０２μｓであるため、これに対応
した読取りフォーマットのチェック用データ１でチェッ
クを実行し、フォーマットの判定を行なう（ステップｎ
３８）。

【００７０】この判定でフォーマットが確定すれば、す
なわち、記録密度２１０ｂｐｉであることが判定される
と、デコード処理を終了するが、フォーマットが確定し
ないときは、前述のステップｎ３２で設定したチェック
回数より１回分を減算し（ステップｎ３９）次のサンプ
リングタイム、この実施例では、フォーマットが記録密
度７５ｂｐｉ時に対応させたサンプリングタイム８４７
μｓに設定して、ステップｎ３４にリターンし、次のデ
コードを実行する。 図９、図１０で示す磁束反転時間
計測データ例１および例２はそれぞれ記録密度２１０ｂ
ｐｉと７５ｂｐｉとに対応し、これら両タイプをそれぞ
れサンプリングタイム３０２μｓ、８４７μｓでデコー
ドした状態を図１０に示し、その結果、デコード結果に
示すようにデータとして確立している場合と、データを
確立していない場合とが明瞭に判定され、これをフォー
マットチェック用データで読取り、判定することにな
る。この実施例によれば、複数の記録密度のデコードに
対処することができる。

【００７１】次に、ＣＰＵ１７によるジッタの判定処理
を図１１のフローチートおよび図１２のメモリマップを
参照して説明する。このジッタ判定に当たってはＲＡＭ
１９のテーブルに、基準ビット幅（例えば、４０３μ
ｓ）、ビット幅上限（例えば、４８０μｓ）、ビット幅
下限（例えば、３２０μｓ）、範囲外ビット数許容限度
（例えば、５ビット）を設定している。

【００７２】すなわち、図６、図７で説明した固定長デ
コード処理を実行し（図４、図５で説明した可変長デコ
ード処理でもよい）（ステップｎ４１）、このデコード
後に磁束反転時間計測データに基づくビット時間の先頭
を指示し（ステップｎ４２）該ビットからビット時間が
所定の時間範囲にあるかを判定する（ステップｎ４３，
ｎ４４）。

【００７３】すなわち、上述の所定範囲内とは、例え
ば、ビット幅上限を４８０μｓ、ビット幅下限を３２０
μｓに設定して、これらの上下の幅内にビット時間が存
在するか否かを判定する。

【００７４】例えば、図１２のビットｃの位置ではビッ
ト時間が３１０μｓであって、ビット幅下限の３２０μ
ｓより以下であるため、該ビットｃのジッタ判定はＮＧ
である。また、図１２のビットｄの位置ではビット時間
が５１０μｓであって、ビット幅上限を４８０μｓより
以上であるため、該ビットｄのジッタ判定もＮＧであ
る。したがって、このようなＮＧのビットに対しては範
囲外ビット数として計数する（ステップｎ４５）。勿論
ジッタの判定がＯＫであれば次のビット時間を指定して
（ステップｎ４７）、ステップｎ４３にリターンする。

【００７５】このようなジッタ判定処理が順次実行さ
れ、全ビットの判定が終了すると（ステップｎ４６）前
述のステップｎ４５で計数した範囲外ビット数が許容限
度内にあるか否かを判定し、例えば、上述の許容限度を
５ビットとするとＮＧのビットが≦５であるか否かを判
定し（ステップｎ４８）、判定がよければジッタＯＫで
あり、判定が悪ければジッタエラーとなる。

【００７６】このようにジッタ判定を実行することで、
装置の磁気媒体搬送性能・磁気媒体の記録特性など、装
置およびカード１０の詳細解析が可能となり、磁気媒体
読取り不良時などの原因解析、対策評価などが効率よく
実行できる。

【００７７】次に、ＣＰＵ１７による記録密度の判定処
理を図１３のフローチートおよび図１４のメモリマップ
を参照して説明する。この記録密度の判定に当たっては
ＲＡＭ１９のテーブルに、記録密度判定用のデータとし
て複数の記録密度のフォーマットに対応したデータを設
定している。例えば、記録密度２１０ｂｐｉに対応させ
た記録密度例１の上限値（例えば、４４３μｓ）、同じ
くその下限値（例えば、３６３μｓ）、記録密度７５ｂ
ｐｉに対応させた記録密度例２の上限値（例えば、１２
４１μｓ）、同じくその下限値（例えば、１０１５μ
ｓ）などを設定している。

【００７８】すなわち、図４、図５で説明した可変長デ
コード処理を実行し（ステップｎ５１）、デコード後ビ
ット時間とデコード後ビット数（図１２を参照）とを求
める。

【００７９】次に、デコード後ビット時間の総和をデコ
ード後ビット数で割って、平均記録密度を算出する（ス
テップｎ５２）。次に記録密度判定テーブルに複数個設
定した記録密度判定用データの先頭の判定値を指示し
（ステップｎ５３）、この判定値、例えば、記録密度例
１の上限値４４３μｓ、同じくその下限値３６３μｓの
範囲内に存在するか否かを判定し（ステップｎ５４，ｎ
５５）、この範囲内にあることが判定されると、記録密
度２１０ｂｐｉであることが判断できる。

【００８０】また、前述の平均記録密度が上述の記録密
度例１の範囲から外れている場合は、記録密度判定テー
ブルに次の判定値、例えば、記録密度例２を指定して
（ステップｎ５７）、ステップｎ５４にリターンする。

【００８１】このような記録密度の判定処理が順次実行
されて、記録密度判定テーブルに設定されて全ての判定
値の判定を実行することで（ステップｎ５６）、何れの
記録密度かが判断される。

【００８２】このように記録密度を判定することで、カ
ード１０の記録密度を磁気媒体の判定条件のようにフォ
ーマット以外の判定材料に使用でき、さらに、記録フォ
ーマットが同一で、記録密度のみを磁気媒体の種類分け
に利用できるような、簡易なセキュリティの構築ができ
る。

【００８３】なお、この発明の構成は、上述の実施例の
構成のみに限定されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】磁気カードの読取り装置の概略構成図。

【図２】磁気カードの読取り装置の制御回路ブロック
図。

【図３】読取りの説明図。

【図４】可変長デコード処理のフローチャート。

【図５】可変長デコード処理時のメモリマップ。

【図６】固定長デコード処理のフローチャート。

【図７】固定長デコード処理時のメモリマップ。

【図８】フォーマット判定処理のフローチャート。

【図９】フォーマット判定処理時のメモリマップ。

【図１０】フォーマット判定処理時のメモリマップ。

【図１１】ジッタ判定処理のフローチャート。

【図１２】ジッタ判定処理時のメモリマップ。

【図１３】記録密度判定処理のフローチャート。

【図１４】記録密度判定処理時のメモリマップ。

【符号の説明】

１６…磁気ヘッド １７…ＣＰＵ １９…ＲＡＭ ２０…磁束反転時間計測部 ２３…伝送制御部 ２４…外部制御部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｂ 9074−5Ｄ Ｈ 9074−5Ｄ

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気媒体に記録された磁気データの帯磁を
   読取って、帯磁方向の反転による磁束反転時間を計測す
   る計測手段と、上記帯磁方向の反転による磁束反転個数
   を計数する計数手段と、上記計測手段の磁束反転時間
   と、計数手段の磁束反転個数とを外部装置に伝送する伝
   送手段とを備えた磁気媒体読取り装置。
2. 【請求項２】磁気媒体に記録された磁気データの帯磁を
   読取って、帯磁方向の反転による磁束反転時間を計測す
   る計測手段と、可変長デコード方式におけるサンプリン
   グタイム決定ビット数と係数とを設定する設定手段と、
   前記計測手段の磁束反転時間を上記設定手段の設定値で
   デコードを実行するデコード手段とを備えた磁気媒体読
   取り装置。
3. 【請求項３】磁気媒体に記録された磁気データの帯磁を
   読取って、帯磁方向の反転による磁束反転時間を計測す
   る計測手段と、固定長デコード方式におけるサンプリン
   グタイムを複数個設定したサンプリングタイム設定手段
   と、各サンプリングタイムに対応したチェックフォーマ
   ットを設定したチェックフォーマット設定手段と、前記
   複数個のサンプリングタイムのそれぞれを使用して、デ
   コードを実行するデコード手段と、前記各サンプリング
   タイムでデコードした結果が、何れのチェックフォーマ
   ットに合致するかを判定するフォーマット判定手段とを
   備えた磁気媒体読取り装置。
4. 【請求項４】ジッタ判定用の基準データを設定するジッ
   タ基準値設定手段と、計測した磁束反転時間と上記基準
   データとに基づいて磁気読取りデータのジッタ正否を判
   定するジッタ判定手段とを備えた請求項２または３記載
   の磁気媒体読取り装置。
5. 【請求項５】記録密度判定用の複数個の基準データを設
   定する記録密度基準値設定手段と、測定した磁束反転時
   間の平均記録密度を算出する平均記録密度算出手段と、
   算出した平均記録密度と複数個の記録密度基準データと
   に基づいて、何れの記録密度であるかを判定する記録密
   度判定手段とを備えた請求項２または３記載の磁気媒体
   読取り装置。