JP3516038B2 - 磁気媒体読取り装置 - Google Patents

磁気媒体読取り装置

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JP3516038B2
JP3516038B2 JP21799193A JP21799193A JP3516038B2 JP 3516038 B2 JP3516038 B2 JP 3516038B2 JP 21799193 A JP21799193 A JP 21799193A JP 21799193 A JP21799193 A JP 21799193A JP 3516038 B2 JP3516038 B2 JP 3516038B2
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【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】この発明は、磁気カードなどの磁
気媒体に記録された磁気データを読取る磁気媒体読取り
装置に関する。 【0002】 【従来の技術】従来の磁気読取り装置は、例えば、F2
F記録方式の場合、記録の磁気データが所定の周波数で
磁束反転しているので、これを磁気ヘッドで読取ってそ
のアナログ信号を電位の変化で磁束反転位置を検知し
て、磁束間隔(周波数)を検知し、各磁束間隔を設定さ
れたサンプリングタイムで判定してデコードしている。
すなわち、従来の磁気媒体読取り装置は、該装置内に
上述のサンプリングタイムを発生するサンプリングタイ
ム発生手段と、デコード手段と、デコード結果の正当性
判定手段を備え、装置内部でデコード結果の判定までの
一連の処理を実行して、その判定結果と、判定が正しい
時はその読取りデータも付加して外部装置、例えばデー
タ処理部に伝送している。 【0003】しかし、磁気データが正しく読取れていな
い場合、上述のデータ処理部のような外部装置側では、
その判定結果のみしかわからないため、読取り不良の原
因の詳細な解析等を行うことが不可能であった。これ
は、読取り装置がわが磁束反転時間をCPUが処理でき
るデータに加工せず、磁気再生波形(アナログ信号)を
そのまま装置の固定サンプリングタイムを用いてデコー
ドしていたことに起因する。 【0004】さらに、従来の可変長デコード方式(サン
プリングタイムに読取りビットの直前のビットの磁束反
転時間を採用する方式)を採用した磁気媒体読取り装置
では、可変長デコードのサンプリングタイムを決定する
ための条件であるサンプリングビット数および係数を装
置固定としていた。 このようにした場合、磁気媒体の
搬送状態が大きく変動して、可変長デコード可能な範囲
を越えてしまうと、正しくデコードできずに誤りが発生
していた。この場合、サンプリング条件を変えて再デコ
ードすることができれば正しくデコードできる場合もあ
ると考えられる。 【0005】さらに、従来の固定長デコード方式(サン
プリングタイムを一定に設定する方式)を採用した磁気
媒体読取り装置では、読取るべき磁気媒体のトラック毎
に、磁気媒体の搬送速度と記録密度から算出した固定の
サンプリングタイムを定め、これをデコードに利用して
いる。 例えば、磁気カードではISOの第1トラック
・第3トラックの記録密度は210bpi(約0.12
1mm/ビット)、ISOの第2トラックの記録密度は7
5bpi(約0.339mm/ビット)であるため、搬送
速度が、例えば、300mm/sである場合には、再生ビッ
ト間隔(時間)が210bpiの時には約403μs、
75bpi時には約1129μsとなる。したがって、
サンプリングタイムは、この再生ビット時間にデコード
時のサンプリングポイントを決める係数(例えば0.7
5)を乗じたもので、210bpi時には302μs、
75bpi時には847μsとなる。この値をトラック
単位に準備したデコード手段に使用して再生した磁気デ
ータのデコードを行っている。 このようにした場合、
トラック単位にサンプリングタイムが固定されているこ
とから、対象とする記録密度以外の記録密度で記録され
た磁気媒体は、デコード不可能である。 【0006】このことから、1本のトラックを使用する
が記録密度を変えた複数種類の磁気媒体を利用するシス
テムや、1本のトラックに異なった密度でデータを分割
記録するように磁気媒体を扱うシステムには対応できな
い。 また、記録密度毎にトラックを準備する必要があ
ることから、磁気媒体・読取り装置ともコスト高となる
問題点を有する。 【0007】 【発明が解決しようとする課題】この発明の目的は、可
変長デコードのサンプリングタイムの決定条件を変えて
再デコードできるようにすることで、読取り性能の向上
を図ることができる磁気媒体読取り装置の提供である。 【0008】 【課題を解決するための手段】この発明は、磁気媒体に
記録された磁気データの帯磁を読取って、帯磁方向の反
転による磁束反転時間を計測する計測手段と、可変長デ
コード方式におけるサンプリングタイムを決定するため
に1ビット長に対応した磁束反転時間の平均値を計測す
るための計測対象のビット数と、上記ビット数から上記
磁束反転時間に基づいて算出した1ビット長に対応する
磁束反転平均時間と、該磁束反転平均時間に対して所定
の比率を得る係数と、上記磁束反転平均時間に上記係数
を乗じて決定する上記サンプリングタイムとを設定する
設定手段と、前記計測手段の磁束反転時間を上記設定手
段で設定されるサンプリングタイムでデコードするデコ
ード手段とを備えた磁気媒体読取り装置であることを特
徴とする。 【0009】 【作用】この発明は、設定手段で設定したビット数の磁
束反転平均時間に係数を与えて得た比率からサンプリン
グタイムを決定し、このサンプリングタイムで磁束反転
時間をデコードする。さらに、設定手段でサンプリング
タイム決定ビット数と係数との設定を変更することで、
再デコードすることができる。 【0010】 【発明の効果】この発明によれば、サンプリングタイム
の決定条件を変えて再デコードできることから、読取り
性能を高めることができる。 【0011】 【実施例】この発明の一実施例を以下図面に基づいて詳
述する。 図面は磁気カードの読取り装置を示し、図1
において、カード10は磁気記録の可能な磁気ストライ
プを有し、該カード10は、搬送ベルト11およびガイ
ドローラ12,12などで形成し、かつモータ13で駆
動制御される搬送ライン14で搬送され、該搬送ライン
14上にはカード10の到来を検知し例えば光電センサ
で構成されるカード位置検知器15と、カード10の磁
気ストライプに対応した位置に配置し磁気記録データを
読取る磁気ヘッド16を設けている。 【0012】図2は磁気カードの読取り装置の制御ブロ
ックを示し、例えば、該読取り装置が銀行業務の自動預
金支払い機や物品の自動販売機などの装置に組込まれる
装置であれば、そのような装置においてスレーブCPU
となるCPU17を備え、該CPU17にはバスを介し
てROM18、RAM19、磁束反転時間計測部20、
サンプリングクロック発生部21、搬送制御部22、カ
ード位置検知器15、伝送制御部23等を接続し、ま
た、磁束反転時間計測部20には前述の磁気ヘッド16
を接続し、さらに、搬送制御部22には前述のモータ1
3を接続し、さらにまた、伝送制御部23には回線を介
して外部制御部24を接続している。 【0013】前述のROM18にはカード10の読取り
装置の動作を制御するプログラム等を記憶し、RAM1
9にはカード10から読取ったデータやカード10に記
録するテータを一時記憶する。 【0014】磁束反転時間計測部20は、図3にも示す
ように、磁気ヘッド16で読取った読取り信号(イ)の
電位変化から磁束反転(ロ)を検出し、この反転間隔の
時間を計測する。この計測はサンプリングクロック発生
部21で発生されるサンプリングクロック(ハ)を磁束
反転の間計数し、さらにこの計数値にサンプリングクロ
ックの周期を乗じて求めた計測値(時間、μs)(ニ)
である。同時に磁束反転個数(ホ)も計数する。 な
お、この実施例におけるカード10の磁気記録は、F2
F記録方式を採用している。 【0015】搬送制御部22は前述の搬送ライン14の
モータ13を駆動制御し、カード位置検知器15はカー
ド10の到来を検知することで、カード10の読取りタ
イミングを設定するための信号となる。伝送制御部23
はこの磁気カード読取り装置とデータ処理装置などの外
部制御部24を接続して読取りデータの送受信を実行す
る。 【0016】前述のCPU17が読取りデータをデコー
ド処理のために、可変長デコード方式と固定長デコード
方式のプログラムをROM18に格納している。 ま
た、CPU17には、可変長デコード方式において、サ
ンプリングタイムを決定するためのビット数と、サンプ
リング係数とを設定する設定手段を持ち、この設定値
は、ROM18に置いて固定にしてもよく、またRAM
19に置いて外部装置により変更可能にしてもよい。 【0017】さらに、CPU17には、固定長デコード
方式において、当該読取り装置が取扱うべき記録密度の
種類分のサンプリングタイムをテーブルに持ち、このテ
ーブルは真のサンプリングタイムでなくとも、その値を
間接的に算出できる記録密度などの値でもよく、さら
に、このテーブルは、ROM18に置いて固定にしても
よく、またRAM19に置いて外部装置により変更可能
にしてもよい。 【0018】さらに、CPU17には、当該読取り装置
が取扱うべき読取りフォーマットの種類に対応するチェ
ック用データをテーブルに持ち、このテーブルは、RO
M18に置いて固定にしてもよく、またRAM19に置
いて外部装置により変更可能にしてもよい。 【0019】さらに、CPU17には、読取りデータの
ジッタ正否を判定するジッタ判定用の基準データを設定
する設定手段を持ち、この基準データは、ROM18に
置いて固定にしてもよく、またRAM19に置いて外部
装置により変更可能にしてもよい。 【0020】さらに、CPU17には、読取りデータの
記録密度を判定する複数個の記録密度判定用の基準デー
タを設定する設定手段を持ち、この基準データは、RO
M18に置いて固定にしてもよく、またRAM19に置
いて外部装置により変更可能にしてもよい。 【0021】次に、CPU17による可変長デコード処
理を図4のフローチートおよび図5のメモリマップを参
照して説明する。 【0022】まず、カード10に記録されたデータを読
取る。すなわち、読取り装置に対するカード10の挿入
が適宜のセンサで検出されると、搬送ライン14を駆動
するモータ13が駆動されて、カード10は内部に取込
まれ、カード位置検知器15でカード10が検知される
ことで、読取りタイミングが設定され、磁気ヘッド16
はカード10の磁気ストライプの磁束を読取り(図3を
参照)、この磁束から磁束反転時間計測部20は反転時
間を測定する。 【0023】すなわち、図3にも示すように、磁束反転
時間計測部20は、磁気ヘッド16で読取った読取り信
号(イ)の電位変化から磁束反転(ロ)を検出し、この
反転間隔の時間を計測する。この計測はサンプリングク
ロック発生部21で発生されるサンプリングクロック
(ハ)を磁束反転の間計数し、さらにこの計数値にサン
プリングクロックの周期を乗じて計測値(ニ)を求め
る。同時に磁束反転個数(ホ)も計数する。 そして、
これらの磁束反転時間および磁束反転個数のデータをR
AM19の所定のエリアに記憶し(ステップn1)、こ
のような読取り計測処理を磁気ストライプの全てが読取
られるまで繰返し実行する。 【0024】磁束の読取りが終了すると、可変長方式で
データをデコードを開始するために初期サンプリングタ
イムを決定する(ステップn2)。 可変長デコード方
式の場合はサンプリングタイムを順次更新していくた
め、初期サンプリングタイムが必要であって、この初期
サンプリングタイムは、1ビットの反転時間計測値を1
ビット長とし、判定する直前ビットから所定数前のビッ
トの平均時間計測値を1ビット長と定め、ビットの判定
が進むにしたがって、平均値の算出も更新してサンプリ
ングタイムを更新する(図5のサンプリングタイムの動
きを参照)。 【0025】そして、上述の平均値を取るための複数の
ビット数をサンプリングタイム決定のビット数として設
定し、通常は読取りデータの初期データの所定ビット数
分を取出し、この実施例では4ビットに設定している。
さらに、1ビット長の所定比率、例えば、75%のタ
イミングをサンプリングタイミングとして判定し、この
75%、すなわち、0.75をサンプリングタイム決定
の係数に設定している。 【0026】そして、上述のサンプリングタイム決定の
ビット数と、サンブリングタイム決定の係数はそれぞれ
複数種が予め設定されていて、これらからの選択決定は
デコード結果の良否によって行なわれる。 【0027】上述のようにして、初期サンプリングタイ
ムが決定すると、この決定に用いたビットのデコードを
実行するためにデータ位置にデコード対象ポインタを更
新し、上述のサンプリングタイム決定に利用したビット
数分、ビットの計数値を減算する(図5のデコード結果
の上部4ビットのプリアンブルを参照)(ステップn
3)。 すなわち、該ビット位置は通常プリアンブル部
であって、2値信号の「0」が記録されているが、これ
はカード10のデータではないため、読取りデータの磁
束反転個数の対象とはしない。 【0028】前述のように決定した初期サンプリングタ
イムで最初の読取りデータの最初のビットに対して磁束
反転時間をデコードする(ステップn4)。 【0029】すなわち、図5のビットaの位置では、初
期の磁束反転平均時間が399μsであって、係数が
0.75に決定されたとすると、サンプリングタイミン
グは 399×0.75=299.25 となる。そして、読取りデータの最初のビットaの磁束
反転時間計測値が373μsであって、 373>299.25 であるため、この最初のビットaのデコード結果は2値
信号の「0」となり、このビットaは磁束反転個数とし
ての計数対象となる。 【0030】また、図5のビットbの位置では、磁束反
転平均時間が400μsであって、係数が0.75であ
るため、サンプリングタイミングは 400×0.75=300 となり、このビットbの磁束反転時間計測値が210μ
sであって、 210<300 であるため、このビットbのデコード結果は2値信号の
「1」となり、この場合、磁気記録がF2F記録方式で
あるため、デコード結果が「1」であれば、次のビット
b+1の磁束反転時間計測値もサンプリングタイミング
300μs以下となるはずであり、この実施例でも磁束
反転時間計測値が215μsであって、この「1」と判
定したビットを前述の「0」のビット時間に対応させる
ため、ビットbとビットb+1との磁束反転時間計測値
を加算した値、すなわち、210+215=425μs
を「1」のビット時間と決定し、また、ビットb+1は
デコード後のビット数には入れないため1を減算するこ
とになる。 【0031】上述のようにして第1のビット位置を2値
信号の「0」か「1」かを判定し(ステップn5)、デ
ータが「1」であれば、デコード対象ポインタを2ビッ
ト更新し、すなわち、前述のビットbの位置であれば、
次のビットb+1が前述したようにデコード後のビット
数には入れないためこれをスキップしたビットb+2を
デコード対象ポインタとなし(ステップn6)、さら
に、デコード後のビット数を1ビット分減算し、すなわ
ち、前述のビットbの位置であれば、ビットb+1の分
を1ビット分減算し(ステップn7)、さらにまた、次
のビット位置の磁束反転時間計測値を含めて次のビット
時間となし、すなわち、前述のビット位置bの位置であ
れば、該位置のビットbの計測値210μsと、次のビ
ットb+1の計測値215μsとを加算した値、すなわ
ち、210+215=425μsをビットbとビットb
+1とのビット時間に決定する(ステップn8)。 【0032】また、前述のステップn5で、データが
「0」であると判定したときは、デコード対象ポインタ
を1ビット更新し、すなわち、前述のビットaの位置で
あれば、このビットaのみでビット数を計数することが
できるので、次のビットa+1をデコード対象ポインタ
となし(ステップn9)、当該磁束反転時間計測値を次
のビット時間となし、すなわち、前述のビット位置aの
位置であれば、該位置のビットaの計測値373μsを
ビット時間に決定する(ステップn10)。 【0033】次いで、今回のビット時間を含めて次のサ
ンプリングタイムを算出し、例えば、前述のビットaの
位置であれば、その3ビット前からの合計4ビット分の
平均値、すなわち、a−3=405μs、a−2=39
4μs、a−1=386μs、a=373μsの平均値
略390μsを次のサンプリングタイムの決定に用いる
(ステップn11)。 【0034】このような処理を実行して全てのビットに
対するデコード処理が終了し、磁束反転個数(ステップ
n1で計数処理)からの判定でそのデコードが終了した
ことが判定されると(ステップn12)終了する。 【0035】そして、これらのデコード処理の内、デコ
ード結果以外に、磁束反転時間計測値のデータと磁束反
転個数のデータ(ステップn1で処理)とを伝送制御部
23を介して外部制御部24に伝送すると、該外部制御
部24でも端末と同様のデコード処理をすることができ
る。 【0036】次に、CPU17による固定長デコード処
理を図6のフローチートおよび図7のメモリマップを参
照して説明する。 【0037】すなわち、カード10の磁気ストライプの
磁束を読取り、この磁束から磁束反転時間計測部20は
磁束反転時間を計測し磁束反転個数を計数する。これら
の処理は前述の図4で説明した可変長デコード処理のス
テップn1と同様であって、これらの磁束反転時間およ
び磁束反転個数のデータをRAM19の所定のエリアに
記憶し(ステップn21)、このような読取り計測処理
を磁気ストライプの全てが読取られるまで繰返し実行す
る。 【0038】次いでデコードを開始するために磁束反転
時間の先頭をデコード対象ポインタで指示し(ステップ
n22)、次に、設定されたサンプリングタイムで磁束
反転時間をデコードする(ステップn23)。 【0039】すなわち、上述のサンプリングタイムは予
め一定に設定されていて、この実施例では、サンプリン
グタイムを302μsに設定し、このタイムは記録密度
は210bpi(約0.121mm/ビット)、搬送速度
が300mm/sである場合の再生ビット間隔(時間)が約
403μsに対して、デコード時のサンプリングポイン
トを決める係数(例えば0.75)を乗じたものに対応
する。すなわち、記録密度210bpi時に対するサン
プリングタイムに対応する。 【0040】そして、上述の302μsのサンプリング
タイムでデコードを順次実行するステップn24〜n3
0の処理は、前述の図5で説明した可変長デコード処理
のステップn5〜n12と同様であるため、その詳細な
説明を省略する。 【0041】そして、デコード結果がNGであれば、サ
ンプリングタイム決定のビット数と、サンプリングタイ
ム決定の係数とを、それぞれ変更して再デコードするこ
とが、読取り精度を高めることができる。 【0042】さらに、これらのデコード処理の内、デコ
ード結果以外に、磁束反転時間計測値のデータと磁束反
転個数のデータ(ステップn21で処理)とを伝送制御
部23を介して外部制御部24に伝送すると、該外部制
御部24でも端末と同様のデコード処理をすることがで
きる。 【0043】次に、CPU17による複数のサンプリン
グタイムに対応した複数のチェックフォーマットを設定
している場合のデコード処理を図8のフローチートおよ
び図9、図10のメモリマップを参照して説明する。 【0044】この実施例では複数種のフォーマットの記
録密度を持つ複数のカード10のデコードが可能であっ
て、例えば、記録密度210bpiと75bpiについ
て説明する。 【0045】すなわち、カード10の磁気ストライプの
磁束を読取り、この磁束から磁束反転時間計測部20は
磁束反転時間を計測し磁束反転個数を計数する。これら
の処理は前述の図4で説明した可変長デコード処理のス
テップn1、および図6で説明した固定長デコード処理
のステップn21と同様であって、これらの磁束反転時
間および磁束反転個数のデータをRAM19の所定のエ
リアに記憶し(ステップn31)、このような読取り計
測処理を磁気ストライプの全てが読取られるまで繰返し
実行する。 【0046】次いで、サンプリングタイムの個数を設定
する(ステップn32)。すなわち、この実施例では複
数のサンプリングタイムをRAM19のテーブルに設定
しており、これらのサンプリングタイムはそれぞれ読取
フォーマットに対応している。例えば、前述したよう
に、フォーマットが記録密度210bpi時に対応させ
たサンプリングタイム302μs、およびフォーマット
が75bpi時に対応させたサンプリングタイム847
μsなどのように複数(この場合であれば、2個)に設
定している。 【0047】また、RAM19のテーブルには、前述例
の記録密度210bpiと75bpiに対応する各読取
りフォーマットのチェック用データ1および2を設定し
ており、これらのチェック用データ1および2は、デコ
ード後何れの記録密度のカードであるかをチェックする
のに利用する。 【0048】次いでサンプリングタイムのテーブルに設
定された先頭を指示して、これをサンプリングタイムと
してセットする(ステップn33,n34)。 【0049】例えば、サンプリングタイムに、フォーマ
ットが記録密度210bpi時である302μsがセッ
トされると、このサンプリングタイムで固定長デコード
を開始する。すなわち、この固定長デコードは磁束反転
個数分の磁束反転時間を上述のサンプリングタイム30
2μsで2値信号の1/0のデータにデコードすること
であって、図6、図7で説明した処理である(ステップ
n35)。 【0050】次いで、RAM19のデーブルから読取り
フォーマットのチェック用データ1を指示し、デコード
結果の読取りフォーマットをチェックする(ステップn
36,n37)。 すなわち、前述のサンプリングタイ
ムのセット(ステップn34)が記録密度210bpi
時に対応させたタイム302μsであるため、これに対
応した読取りフォーマットのチェック用データ1でチェ
ックを実行し、フォーマットの判定、すなわち、後述す
るデータの確立不確立の判定を行なう(ステップn3
8)。 【0051】この判定でフォーマットが確定すれば、す
なわち、記録密度210bpiであることが判定される
と、デコード処理を終了するが、フォーマットが確定し
ないときは、前述のステップn32で設定したチェック
回数より1回分を減算し(ステップn39)次のサンプ
リングタイム、この実施例では、フォーマットが記録密
度75bpi時に対応させたサンプリングタイム847
μsに設定して、ステップn34にリターンし、次のデ
コードを実行する。 図9、図10で示す磁束反転時間
計測データ例1および例2はそれぞれ記録密度210b
piと75bpiとに対応し、これら両タイプをそれぞ
れサンプリングタイム302μs、847μsでデコー
ドした状態を図10に示し、その結果、デコード結果に
示すようにデータとして確立している場合と、データを
確立していない場合とが明瞭に判定され、これをフォー
マットチェック用データで読取り、判定することにな
る。この実施例によれば、複数の記録密度のデコードに
対処することができる。 【0052】次に、CPU17によるジッタの判定処理
を図11のフローチートおよび図12のメモリマップを
参照して説明する。 このジッタ判定に当たってはRA
M19のテーブルに、基準ビット幅(例えば、403μ
s)、ビット幅上限(例えば、480μs)、ビット幅
下限(例えば、320μs)、範囲外ビット数許容限度
(例えば、5ビット)を設定している。 【0053】すなわち、図6、図7で説明した固定長デ
コード処理を実行し(図4、図5で説明した可変長デコ
ード処理でもよい)(ステップn41)、このデコード
後に磁束反転時間計測データに基づくビット時間の先頭
を指示し(ステップn42)該ビットからビット時間が
所定の時間範囲にあるかを判定する(ステップn43,
n44)。 【0054】すなわち、上述の所定範囲内とは、例え
ば、ビット幅上限を480μs、ビット幅下限を320
μsに設定して、これらの上下の幅内にビット時間が存
在するか否かを判定する。 【0055】例えば、図12のビットcの位置ではビッ
ト時間が310μsであって、ビット幅下限の320μ
sより以下であるため、該ビットcのジッタ判定はNG
である。また、図12のビットdの位置ではビット時間
が510μsであって、ビット幅上限を480μsより
以上であるため、該ビットdのジッタ判定もNGであ
る。したがって、このようなNGのビットに対しては範
囲外ビット数として計数する(ステップn45)。勿論
ジッタの判定がOKであれば次のビット時間を指定して
(ステップn47)、ステップn43にリターンする。 【0056】このようなジッタ判定処理が順次実行さ
れ、全ビットの判定が終了すると(ステップn46)前
述のステップn45で計数した範囲外ビット数が許容限
度内にあるか否かを判定し、例えば、上述の許容限度を
5ビットとするとNGのビットが≦5であるか否かを判
定し(ステップn48)、判定がよければジッタOKで
あり、判定が悪ければジッタエラーとなる。 【0057】このようにジッタ判定を実行することで、
装置の磁気媒体搬送性能・磁気媒体の記録特性など、装
置およびカード10の詳細解析が可能となり、磁気媒体
読取り不良時などの原因解析、対策評価などが効率よく
実行できる。 【0058】次に、CPU17による記録密度の判定処
理を図13のフローチートおよび図14のメモリマップ
を参照して説明する。 この記録密度の判定に当たって
はRAM19のテーブルに、記録密度判定用のデータと
して複数の記録密度のフォーマットに対応したデータを
設定している。例えば、記録密度210bpiに対応さ
せた記録密度例1の上限値(例えば、443μs)、同
じくその下限値(例えば、363μs)、記録密度75
bpiに対応させた記録密度例2の上限値(例えば、1
241μs)、同じくその下限値(例えば、1015μ
s)などを設定している。 【0059】すなわち、図4、図5で説明した可変長デ
コード処理を実行し(ステップn51)、デコード後ビ
ット時間とデコード後ビット数(図12を参照)とを求
める。 【0060】次に、デコード後ビット時間の総和をデコ
ード後ビット数で割って、平均記録密度を算出する(ス
テップn52)。次に記録密度判定テーブルに複数個設
定した記録密度判定用データの先頭の判定値を指示し
(ステップn53)、この判定値、例えば、記録密度例
1の上限値443μs、同じくその下限値363μsの
範囲内に存在するか否かを判定し(ステップn54,n
55)、この範囲内にあることが判定されると、記録密
度210bpiであることが判断できる。 【0061】また、前述の平均記録密度が上述の記録密
度例1の範囲から外れている場合は、記録密度判定テー
ブルに次の判定値、例えば、記録密度例2を指定して
(ステップn57)、ステップn54にリターンする。 【0062】このような記録密度の判定処理が順次実行
されて、記録密度判定テーブルに設定されて全ての判定
値の判定を実行することで(ステップn56)、何れの
記録密度かが判断される。 【0063】このように記録密度を判定することで、カ
ード10の記録密度を磁気媒体の判定条件のようにフォ
ーマット以外の判定材料に使用でき、さらに、記録フォ
ーマットが同一で、記録密度のみを磁気媒体の種類分け
に利用できるような、簡易なセキュリティの構築ができ
る。 【0064】なお、この発明の構成は、上述の実施例の
構成のみに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】 【図1】 磁気カードの読取り装置の概略構成図。 【図2】 磁気カードの読取り装置の制御回路ブロック
図。 【図3】 読取りの説明図。 【図4】 可変長デコード処理のフローチャート。 【図5】 可変長デコード処理時のメモリマップ。 【図6】 固定長デコード処理のフローチャート。 【図7】 固定長デコード処理時のメモリマップ。 【図8】 フォーマット判定処理のフローチャート。 【図9】 フォーマット判定処理時のメモリマップ。 【図10】 フォーマット判定処理時のメモリマップ。 【図11】 ジッタ判定処理のフローチャート。 【図12】 ジッタ判定処理時のメモリマップ。 【図13】 記録密度判定処理のフローチャート。 【図14】 記録密度判定処理時のメモリマップ。 【符号の説明】 16…磁気ヘッド 17…CPU 19…RAM 20…磁束反転時間計測部 23…伝送制御部 24…外部制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI G11B 20/18 572 G11B 20/18 572B 572H (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 20/10 G11B 20/14 G11B 20/18 G11B 5/02 G11B 5/09 G06K 7/08 H04L 25/00

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】磁気媒体に記録された磁気データの帯磁を
    読取って、帯磁方向の反転による磁束反転時間を計測す
    る計測手段と、 可変長デコード方式におけるサンプリングタイムを決定
    するために、1ビット長に対応した磁束反転時間の平均
    値を計測するための計測対象のビット数と、上記ビット
    数から上記磁束反転時間に基づいて算出した1ビット長
    に対応する磁束反転平均時間と、該磁束反転平均時間
    対して所定の比率を得る係数と、上記磁束反転平均時間
    に上記係数を乗じて決定する上記サンプリングタイムと
    を設定する設定手段と、 前記計測手段の磁束反転時間を上記設定手段で設定され
    るサンプリングタイムでデコードするデコード手段とを
    備えた磁気媒体読取り装置。
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