JPH07508222A - 帯板圧延における平面度制御 - Google Patents

帯板圧延における平面度制御

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JPH07508222A
JPH07508222A JP6502247A JP50224794A JPH07508222A JP H07508222 A JPH07508222 A JP H07508222A JP 6502247 A JP6502247 A JP 6502247A JP 50224794 A JP50224794 A JP 50224794A JP H07508222 A JPH07508222 A JP H07508222A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 帯板圧延における平面度制御 技術分野 圧延製品の平面度はとりわけ圧延機の作業ロールによって決まり、したかって平 面度はスクリュー、ベンディングシリンダー、シフト装置等を含むロールのさま ざまな制御部材の設定の影響を受ける。本発明は平面度について所望の精度か得 られるように平面度に影響を及はす必要のある制御部材の制御装置への入力信号 を評価する方法および装置に関する。
背景技術、問題点 圧延機に含まれる制御部材はさまざまな方法で帯板の平面度に影響を及ぼす。圧 延機のスクリューは帯板の全幅にわたるロールギャップの設定や調整もしくは意 図的な角度調整に使用される。通常ベンディングシリンダーは6−high圧延 機における作業ロールの曲げおよび中間ロールの曲げに使用される。
通常、ロールの軸方向シフトのためのいわゆるシフト装置も含まれている。
圧延製品の所望の平面度を達成する条件は帯板を横断する実際の平面度すなわち 平面度曲線に対して多少なりとも連続的なアクセスを有することである。平面度 曲線か周知であれは、圧延機に対して閉ループ平面度制御を行うことかできる。
従来の方法では、得られた平面度曲線か所望の平面度と比較される。次にこうし て生じる平面度誤差かさまざまなモデルに従って制御部材に影響を及はして平面 度誤差を最小限に抑えるのに使用される。したがって、平面度制御にはいくつか の実行装置か含まれ、それは最善の結果を提供する制御部材によるさまざまな動 作の大きさを判断する評価プロセスが比較的高価になることを息味する。
このような応用においてよく使用され、圧延帯板の平面度曲線をめるのに非常に 適した測定装置はAsea Brown Bover i AB社か開発した“ STRESSOMETER”であり、それは60年代の中頃から市販されており 多数のパンツレノ1−や他の出版物に記載されている。この測定装置は帯板の全 幅にわたっておよそ50の測定点を有する測定ロールとして設計されており、大 概の場合デフレクタ−ロールを使用することなくミルスタンドと巻き上げロール 間に配置することかできる。測定は磁気弾性原理に基づいた力l−ランスジュー サを使用して行われ、主として測定ロールに沿った帯板の応力分布か得られる。
材料の座屈応力よりも大きい場合には、帯板に張力の影響か無く自由にされると シー1−は座屈する。応力分布は帯板の圧延方向における平面度曲線である。測 定原理の詳細説明はとりオつけIRON AND 5TEEL ENGINEE RS1991年4月、第34−37頁のΔ、G、CarlstedtおよびO, Keijserの論文“冷間圧延機における現代的な平面度測定および制御方法 ”に記載されている。この論文には、平面度曲線を得るのに必要な信号処理か比 較的広範にわたるため、およそ50m5の間隔て更新されることか開示されてい る。
帯板を圧延するばあい、ロールギャップをチェックして正しいロールギャップと することが大事でありそれは作業ロールに沿った小さな変動により帯板の全幅に わたる厚さの減少か変動して平面度曲線か劣化するためである。
したかって、平面度制御の仕事は全圧延動作中に既存の曲線を一定に維持するこ とである。
とりわけ前記IRON AND 5TEEL ENGINEERの論文から明ら かなように、ベンディングシリンダーを使用して、作業ロールの形状を修正して 帯板の平面度に影響を及ぼすようにすることを含む技術かしばしは使用される。
しかしなから、平面度曲線に影響を及はずのに使用できる制御可能性か他にもい くつかあることかお判りと思われる。いくつかの制御部材を起動させることかで きる平面度制御の概念も前記論文に記載さイ]ている。
この概念には収集された測定データを処理して最小二乗法によりさまさまな制御 部材の制御装置および調整器の制御信号を得るたけてなく制御部材を起動させる ための評価計画を含むモデルか含まれている。そこに示された例では、平面度制 御には作業ロールのスキュー、軸シフ1〜、およびヘンディングが含まれている か一般的にはさらに別の制御可能性を含みつる。
原則として、最小二乗法では平面度誤差か更新されるたびに、すなわち実際の平 面度曲線と所望の平面度曲線の比較か行われるたびに、平面度誤差をできるたけ 小さくするのに必要な制御装置による動作の組み合わせおよび程度をめる可能性 か伴う。しかしなから、この方法ではさまざまな制御部材か起動される時に帯板 の全幅にわたって生じる応力分布は周知であることか前提とされる。応力分布は 測定ロールを使用して計算もしくは測定される。
そこに示された例と同様に、例えば応力分布φ8のスキュー、応力分布φ。
のベンディング、および応力分布φ、の軸シフト、の3つの制御部材がある場合 、最小二乗法により次式で示されるさまざまな制御部材による動作を更新された 各平面度誤差に対して示すことができ、f”+=cs ’φg十Cs’φ、+c ’、・φF(1)ここに、C3+CBおよびCFは制御部材の制御装置および調 整器の入力信号であり、これらの13号はロールギヤノブへ変換される。これら の81算には非常に大きなコンピュータ容量か必要なことは明らかである。
一般的な形式の近似問題にはいくつかの測定データf (XI )たたしl−1 ,2,、、、、m、を使用してf(x+)を出来るたけ良く近似する最小二乗法 により単純関数f9を見つけることか含まれている。最小二乗法の詳細について はストックホルムのLyber tryck社出版のPPohl、G Er1k ssonおよびG Dahlquist によるLMrobok i Nume riska Metoder(“Textbook of Numerical  Methods”)で使用されている指示に基づいている。ここでは単純関数 f0は次式に従った予選定量数 φ00..φ、の線形組み合わせと仮定し、f ’ n =c + φ1 +c 2 φ2−ト ・ ・ ・ ・ +ca φ、 (2)最小二乗法のタスクはf (x+)と19間の偏差の平方和を最小限に抑えるようなClIC2・・・C9 をめることである。
最小二乗法の行列式は下記の行列を形成することを意味する。
A’A−c=A’ ・f (3) 本発明および評価方法はベクトルCか次式に従って明確に解かれることを意味し ている。
c−(AlA)−1・AT −f=B−f (4)一般的には、入行列内の全関 数φ1.φ700.φ、が予め選定すなわち決定される。したがって、転置行列 AT1行列A’A、反転行列(A” A)−’および行列B= (A” A)− ’・八〇をめることかできる。測定データf、、f、、、、Lヘアクセスできる ため、CIを評価するすなわちC++Ci、、。C,の現在値をめるのは比較的 単純な行列乗算となる。
3つの制御部材を含む場合のスキュー、ベンディング、およびシフティング動作 に対応する前記関数φ8.φ8およびφ、は予めめることかできる。
これらの関数は所定幅の帯板の圧延中に変化することはない。行列Aはこれらの φ関数しか含んでいないため、へ行列したかって前記したことから8行列を圧延 開始する前にめることかできる。8行列は制御部材と同数のベクトルを存する行 列からなっている。
圧延操作中に、最小二乗法により各φ1関数に対するC1値の評価か行われる。
C4値はB= (A” A)−’の乗算によりめられる。へ〇行列は1行列すな わち得られた平面度誤差値を有し、制御部材の制御装置および調整器への入力信 号を表し、これらの入力信号はロールギャップへ変換される。このようにして、 C1値は各制御部材の制御誤差を構成する。この方法はコンピュータ容量の要求 か著しく低減され同時に得られる各平面度曲線間の制御1誤差を容易に計算でき ることを意味する。
所望および測定平面度の比較器および従来の制御における制御部材の形で含まれ る実行装置の制御装置および調整器の他に、帯板の平面度制御プラントは本発明 による評価装置を含んでいる。評価装置は前記方程式かプログラムされ周知の応 力分布だけてなく実際および所望平面度の差を入力信号として有するコンピュー タにより構成さ第1る。評価装置の出力信号はさまざまな制御装置および調整器 の制御誤差すなわち入力信号により構成される。
実施例 本発明による装置の実施例は添付図から明らかなように帯板の平面度制御の一体 部を構成する。実施例における平面度制御用制御部材はスキュー、ベンディング およびシフティングである。圧延工程の最終製品は圧延帯板でありその平面度は 例えばSTRESSOMETERl等の適切な方法でめられる請求められた平面 度は加算器もしくは比較器2により所望の平面度基準と比較される。得られた平 面度誤差、f、、f、、、、、f、は評価装置3へ送られ前記した方程式に従っ て制御誤差CI+CBおよびCFすなわちスキュー、ベンディングおよびシフテ ィングの制御動作かめられる。
圧延開始前に、評価装置には4に従って帯板幅すの関数として特性を正規化した スキューの応力分布φ、および5および6に従ったベンディングφ。
およびシフティングφ、の対応する応力分布に関する情報か与えられている。
問題とする圧延機すなわち含まれる制御部材に対する応力分布は、前記したよう にさまざまな帯幅b、材料、等について算出もしくは直接測定することができる 。
これは問題とする行列Aが下記の形を有することを意味し、本発明の要約によれ ば、8行列は制御装置と同数のベクトルすなわちこの場合3つのベクトルにより 構成される。これらかスキューに対するv3ベクトル、ヘンディングに対するT llベクトルおよびシフティングに対する■、ベクトルである場合には、添付図 の実施例に対する8行列は次式で示され、したかって、 スキューの制御誤差すなわち入力信号C8は通常の方法で次のようにめられる。
C8=Ws1− L +Ws、−f、 十−・−+11g−・f−ヘンディング に対する対応する人力信号は次式で示され、C8−下、11 ・fl十事、2  ・f2+・・・+T−・f。
シフティングに対する入力信号は次式で示される。
C,=WF、−f、十事F2 ・f2+・・・+T−・f。
制御誤差Csはスキュー制御装置および調整器7へ送られスクリュー制副アクチ ュエータ8を介してロールか設定される。制御誤差C11はヘンデインク制御ア クチュエータ10を介してロールのヘンディング制御装置および調整器9へ送ら れる。制御誤差C4はシフティンク部材I2を介してロールのシフティング制御 装置および調整器llへ送られる。次に制御部材か圧延工程13に影響を及はし て所望の平面度曲線か得られかつ維持されるようにされる。
スキュー、ヘンディングおよびシフティング設定値の設定時間は使用する制御部 材によって異なる。スクリュー設定の代表的な設定時間は例えば50m5であり 、スキューおよびシフティングの対応する時間はおよそ100m5である。これ は新しい各測定値に対して緩速部HのC値を評価する必要かないことを意味する 。したがって、本発明による8行列を使用すればf−ベクトルによる現在■−ベ クトルの行列乗算だけを必要に応じて独立に行うことかできるため、必要なコン ピュータ容量をさらに低減することができる。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.圧延機における帯板の平面度制御中に協同する作業ロール用制御部材(8, 10,12)の制御装置および調整器(7,9,11)への、ロールギャップへ 変換された、入力信号C=C1,C2...Cnの評価方法であって、各制御部 材が起動される時に帯板の全幅にわたって生じる応力分布φ1,φ2...φn が周知であり、かつ帯板の全幅にわたる平面度誤差を示すデータf(X1)=f 1,f2...fmが周知であり、該方法は次の関数を想定し、f*n=C1φ 1+C2φ2+・・・・+Cnφn(2)そこからf(X1)とf*の偏差の二 乗が最小限に抑えられるように入力信号が決定され、それは下記の行列を形成し て行われ、▲数式、化学式、表等があります▲ A=m・nであり、 ここに、m=測定点数=A内の行数 n=基底関数φ1,...φnの数=Aの列数▲数式、化学式、表等があります ▲ かつ ▲数式、化学式、表等があります▲ また入力信号は次式に従って求められ、C=(ATA)−1・AT・f=B・f ここにATはAの転置行列であり、行列B=(ATA)−1・AT は圧延を開始する前に求められることを特徴とする、入力信号評価方法。
  2. 2.第1項記載の圧延機における帯板の平面度制御中に協同する作業ロール用制 御部材(8,10,12)の制御装置および調整器(7,9,11)への、ロー ルギャップへ変換された、入力信号cの評価方法であって、該方法は現在の制御 部材の設定時間に応じて各測定ごとに更新する必要のあるc−入力信号だけが求 められることを特徴とする、入力信号評価方法。
  3. 3.第1項記載の圧延機における帯板の平面度制御中に協同する作業ロール用制 御部材(8,10,12)の制御装置および調整器(7,9,11)への、ロー ルギャップへ変換された、入力信号cの評価方法であって、関与する制御部材は 周知の応力分布φSのスキュー部材、周知の応力分布φmのベンディング部材、 および周知の応力分布φFのシフティング部材を含み帯板の全幅にわたる平面度 誤差を示すデータf(X1)=f1,f2...f■が周知であり、該方法は次 式で示す関数か仮定され、▲数式、化学式、表等があります▲(1)ここに、C S,CBおよびCF、は各制御装置の入力信号であり、これらの入力信号はf( X1)とf*間の偏差の二乗が最小限に抑えられるように決定され、それは下記 の行列を形成して行われ、▲数式、化学式、表等があります▲ ▲数式、化学式、表等があります▲ かつ ▲数式、化学式、表等があります▲ また B=(ATA)−1・AT であり、ここにB行列は次式に従ってスキューのΨS−ベクトル、ベンディング のΨB−ベクトル、およびシフティングのΨF−ベクトルとして表すことができ 、 ▲数式、化学式、表等があります▲ 入力信号は次式に従って求められ、 ▲数式、化学式、表等があります▲ したがって、スキューに対する入力信号c3は次式により求められ、c3=Ψ3 1・f1+Ψ32・f2+・・・+Ψ3m・fmべンディングに対する入力信号 は次式で求められ、cB=ΨB1・f1+ΨB2・f2+・・・+ΨBm・fm シフティングに対する入力信号は次式で求められる、cF=ΨF1・f1+ΨF 2・f2+・・・+ΨFm・fmことを特徴とする入力信号評価方法。
  4. 4.圧延機における帯板の平面度制御中に協同する作業ロール用制御部材(8, 10,12)の制御装置および調整器(7,9,11)への、ロールギャップへ 変換された、入力信号c=c1,c2...Cnを評価する第11項記載の方法 を実施する装置てあって、各制御部材の作動時に帯板の全幅にわたって生じる応 力分布φ1,φ2...φnが周知であり、かつ帯板の全幅にわたる平面度誤差 を示すデータf(X1)=f1,f2...fmが周知であり、該装置は入力信 号として配置された応力分布φ1,φ2...φmおよび平面度誤差データf( X1)=f1,f2...fmを有しかつ下記の行列を形成できるようにされて おり、▲数式、化学式、表等があります▲ A=m・nであり、 ここに、m=測定点数=A内の行数 n=基底関数φ1,...φnの数=Aの列数B=(ATA)−1・AT かつ ▲数式、化学式、表等があります▲ であり、行列を有する装置は下記の入力信号c=(ATA)−1・AT・f=B ・fを形成するようにされていることを特徴とする、入力信号評価装置。
  5. 5.圧延機における帯板の平面度制御中に協同する作業ロール用制御部材(8, 10,12)の制御装置および調整器(7,9,11)への、ロールギャップへ 変換された、入力信号cを評価する第3項記載の装置であって、関与する制御部 材は周知の応力分布φSのスキュー部材、周知の応力分布φBのベンディングす る部材、および周知の応力分布φFのシフティングする部材を含み帯板の全幅に わたる平面度誤差を示すデータf(X1)=f1,f2...fmが周知であり 、該装置は入力信号として配置された応力分布φS,φBおよびφFおよび平面 度誤差データf(X1)=f1,f2...Fmを有しかつ下記の行列を形成す るようにされており、▲数式、化学式、表等があります▲ ▲数式、化学式、表等があります▲ さらに、 B=(ATA)−1・AT であり、このような行列を有する装置は下記の入力信号cS c=cB=(ATA)−1・AT・f=B・fCF を形成するようにされていることを特徴とする、入力信号評価装置。
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