JPH07507262A - 単一セシウムチタニルヒ酸塩タイプ結晶,及びそれらの製造 - Google Patents

単一セシウムチタニルヒ酸塩タイプ結晶,及びそれらの製造

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JPH07507262A JP6500562A JP50056294A JPH07507262A JP H07507262 A JPH07507262 A JP H07507262A JP 6500562 A JP6500562 A JP 6500562A JP 50056294 A JP50056294 A JP 50056294A JP H07507262 A JPH07507262 A JP H07507262A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 単−セシウムチタニルヒ酸塩タイプ結晶、及びそれらの製造発明の分野 本発明は、セシウムチタニルヒ酸塩及び類似物の単−結晶に、そしてそれらの製 造に、そして更に特別にはセシウムが必要に応じて号11の一価カチオンによっ て置き換えられて良いセシウムチタニルヒ酸塩の比較的大きな結晶に、そしてフ ラックス成長手順を使用してのそれらの製造に関する。
発明の背景 KT i OP 04及びその同族体の結晶は、それらの非線形光学特性のため に高度に有用であると考えられる。米国特許第3,949.323号は、非線形 光学及び電子光学応用における欠陥のない結晶の使用を教示しティる。加えて、 Sil’ vestrovaら(“Piezoelectric、elasti c、and dielctric pr。
perties of RbTi0PO,”、Sov、Phys、Crys t a ] logr、35.140〜141 (1990))It、これらの結晶 はピエゾ電気応用において有用であるに違いなL)と報告した。
KTiOPO,、KT i OA s 04、Rb T IOP O4及びRb Ti0ASO4の大きな介在物を含まない単一結晶の成長は、Chenら、“C hs from Tungstate and Mo1ybdateFluxe s”、J、of Crystal、110.697〜703(1991)によっ て成功裏に示されたけれども、CsTi0AsO。
の大きな(例えば、約5x5x5mm’以上の)単一結晶の成長は、類似のフラ ックス成長手順を使用しては不成功であった。それにもかかわらず、その顕著に より低いイオン伝導性及びそのNd:YAGレーザーの1.3μmラインを効果 的に周波数二倍化する能力のために、CsTi OA s O4は多くのデバイ ス応用のためにKTiOPO4を凌いで好ましくあり続ける。従って、CsTi 0AsO,の大きな単一結晶の成長のために適切な方法は興味あるものである。
KT 1OPO4及びその同族体の結晶は、1100℃〜1150℃の温度で合 わずに溶融することが知られている。米国特許第4. 231゜838号及び第 4.746,396号中に開示されたフラックス方法は、これらの温度未満、典 型的には850℃〜960℃でこのような結晶を成長させるために一般に使用さ れる。水熱方法もまた、結晶KTiOPO4の製造のために一般に使用される。
米国特許第4.305,778号及び第3.949,323号並びにその他は、 これらの方法によるKTiOPOn結晶の製造を教示している。
斜方晶系Pna2+組成物CsTi0ASO4は、まずProtas及び共同研 究者によって(“5tructure Cr1stalline de CsT i0(AsO4)”、Acta Cryst、、C45,1123〜1125. (1989))報告された。約数百ミクロンctric transition  and melting temparatures of new com pounds:CsTiOAs1a and Cs、xMxTiOP、−yAs 、O,、where Mis K or Rb、” J、Phys、:Cond ens、Matter、1.5509〜5513 (1989)を参照せよ)け れども、約5x5x5mm’よりも大きなCsTi0AsO4の大きな単一結晶 の成長は報告されていない。これは、約960℃での斜方晶系構造の立方晶系の Csが乏しい構造への分解を結果としてもたらすCsTi0As04のこれまで 未報告の構造的不安定性によると信じられる。これは、最高フラックス成長温度 を約960℃よりも高(ないように限定する。
上で述べた水熱結晶成長方法もまた、それらが一般に立方晶系構造を有するCs が乏しい化合物の結晶化を結果としてもたらすので、効果的でないと考えられる 。
発明の要約 本発明は、Cs、−mMxTio、As04の単一斜方晶系結晶[ここで、Mは Na、KSRb、TI及びこれらの混合物から成る群から選ばれ、Xはθ〜0. 4であり、各々の軸に沿った結晶の寸法は少なくとも約2mmであり、そして3 つの軸に沿った寸法の積は少なくとも約15mm 3である〕を製造するための 7ラツクス方法であって、該斜方晶系結晶の分解温度よりも高くない温度で該結 晶並びに、Cs及びAsの酸化物を含んで成るフラックスを形成するための成分 を含む均一な溶融物を製造するステップ(ここで該溶融物中の全Cs+Mに対す るMのモル分率は0〜約0.2の範囲内である)、該結晶のための種晶を溶融物 中5mm’の結晶を与えるように制御される。本発明はこの方法の結晶生成物を 含む。本発明は、Cs 1−xNLT i OA s O<の単一結晶[ここで 、MはNa、に、Rb、TI及びこれらの混合物から成る群から選ばれ、XはO 〜0.4であり、そして結晶は少なくとも約5x5x5mm”である]を与える 。
従って、本発明は、CsTi0ASOaタイプの単一結晶の製造のための方法及 び、セシウムのもっと小さな一価イオンによる部分的置換によるCsTi0As O4の斜方晶系Pna2+構造を安定化する方法ばかりでなく、また有用な電子 光学非線形光学及びピエゾ電気デバイスを製造するために適切な大きな(例えば 、5 x 5 x 5 mm”) Cs 1−、MmTiOAs04mTi式中 、MはNa%に、Rb及び/又はTIであり、モしてXは約0.4までである] を与える。
図面の簡単な説明 図1は、その中で斜方晶系Pna2.CsTi0AsO,結晶を成長させること ができる好ましいそして更に好ましい範囲を図示するCs、0−TiO2As5 es三元図である。
図2は、CS iOT i OHA S z05三元系において生成されるセシ ウムチタニルヒ酸塩(CTA)及びその他の固体組成物の分布を示す(領域Gは ガラス状組成物であると考えられる)。
発明の詳細な説明 本発明は、フラックス手順を使用して成長された大きな単一結晶のたi 0A  s O,に関しては約960℃で、モしてCsが部分的にNa5K。
Rb及び/又はT1によって置換されたセシウムチタニルヒ酸塩に関しては幾ら かもっと高い温度で起きることが見い出された。
Cs 20 T i (h−A S zOs三元系における溶融物−組成の有利 な範囲(図1参照)及び結晶成長温度の有利な範囲(600°C〜850℃)が 、本発明に従って開発されたが、この内部では、斜方晶系CsTi0AsO4相 は、大きな(例えば、少なくとも約5 X 5 X 5mm”の)単一結晶を普 通のやり方で結晶化させることができるほど安定である。本発明は、更にまた、 大きなCsイオンをより小さなNa5K、Rb及び/又はTIイオンによって部 分的に置換することによって斜方晶系Pna2、構造を安定化させる実施態様を 提供する。例えば、Cs 6.5SIVII+、6sT i OA s O4[ 式中、MはNa、に、Rh及び/又はTIである]に対応する約5%の置換は、 分解温度を上げるのに、そして望ましい光学及びピエゾ電気特性を犠牲にするこ となく大きな単一結晶の成長をもっとずっと容易にするのに効果的である。
本発明において述べられた方法によって製造されたCsTi0As04結晶は、 Pn a 2+空間基を有するKTiOPO,の斜方晶系構造を有し、そして非 線形光学、電子光学及びピエゾ電気応用のために特に適切である。
実用的なデバイスにおける使用のための十分な品質及びサイズ(各々の軸に沿っ て少なくとも約2mmであり、そして3つの軸に沿った寸法発明の方法は、Cs Ti0AsO4結晶並びに、Cs及びAsの酸化物並びに/又はその他のフラッ クス改質剤例えばフッ化セシウムを含んで成るフラックスを形成するための成分 を含む均一な溶融物を製造するステップ、CsTi0AsOsの種晶を溶融物中 に導入するステップ、種の上の制御された結晶化を行うステップ、並びに結晶性 組成物の結晶化が完了するまでこの方法を継続するステップを含む、慣用のフラ ックス方法ステップを用いる。
制御された結晶化は、遅い冷却方法か又は傾斜移送方法のどちらかによって行っ て良い。遅い冷却方法においては、CsTi0AsO4を生成することができる 均一な溶融物を、種の存在下で10℃/時間よりも大きくない速度でゆっくりと 冷却する。溶融物は、温度が結晶化が完了するまで連続的に減少する時に実質的 に等温条件で維持される。傾斜移送方法においては、過剰量の結晶性Cs T  i OA s Oa栄養剤を溶融物の底に置くが、この底は種が存在する溶融物 の上部よりも熱く保持される。温度傾斜の存在下では、フラックスが底で栄養剤 を溶解し、そして種の表面上でそれを放出するが、これが結晶成長を導く。多数 の種のそして強制対流の使用は、これらの方法の両方において共通である。以下 の実施例1及び2は遅い冷却方法を使用した製造方法を例示し、一方以下の実施 例3は傾斜移送方法を使用した製造方法を例示する。
斜方晶系CsTi0AsO<結晶を製造するためのCs、0−TiO。
−A s 、0.三元系における本発明の方法と一致する溶融物組成は、図1解 温度(約960℃)と同じくらい高くても良いけれども、Cs、0−TiO,− As、os三元系におけるルチル(即ち、T iO2)結晶の生成の可能性(図 2参照)のために、最高種付は温度は好ましくは約850℃よりも高くない。し かしながら、適切なフラックス改質剤と一緒ならば、最高種付は温度を960℃ に増しても良いことが予期される。本発明の方法の種付は温度(即ち、CsTi 0AsO4の種晶が溶融物中に懸濁される時の溶融物の温度)は、特に多角形A BCDEFA内の溶融物組成に関しては好ましくは6006C〜約850℃の範 囲内であり、そして特に多角形IJKLMI内の溶融物組成に関しては更に好ま しくは700℃〜820℃である。
適切なフラックスは、Cs@As40+s、CS 5A S ao+o及びCs 、As、0□を含む。Cs、As30.。が好ましいフラックスである。
本発明の方法は、溶融物中に種晶を懸濁させる間に溶融物中の適切な熱的条件の 維持を必要とする任意の装置中で実施することができる。本発明において述べら れた遅い冷却方法の実施のために適切な装置は、米国特許第4.761,202 号中にそしてChengら、“Crys tal Growth of KTi OPO41somorphs from Tungsjate and Mo1 ybdate Fluxes”、J of Crystal、110.697〜 703(1991)によって述べられている。同様に、Elwellら、 “T op 5eeded 5olution Growth of SodiumN iobate”、J、of Crystal Growth、23本発明は、更 にまた、M(ここで、Mは、Na5K、Rb及び/又はT1である)によるCs Ti0AsO<の部分的Cs置換を提供する。
この置換は、分解温度、そしてかくして最高種付は温度を上げることによって斜 方晶系pna2+構造を安定化する。本発明によれば、Mは、約0.2までの、 式; Q=モル分率M=溶融物中のMのモル/(溶融物中のMのモル+溶融物中のCs のモル) によって計算されるモル分率、Q%で溶融物に添加されて良い。好ましくは、C sTi0AsO,の特徴と実質的に類似の特徴を有する結晶を与えるためには( 即ち、Xが0.1以下である場合)、モル分率Qは約0.05以下である。生成 物結晶における所望の特徴を維持しながら等軸結晶成長特性を改善しそして分解 温度を増すためのQに関する好ましい範囲は約0.01〜領 05である。表1 は、M(ここで、MはK又はRbである)によるCsの置換に起因する分解温度 の増加を要約する。
分解温度はCs、−xMxTIOAsO<結晶の単一結晶の示差熱分析によって 測定され、そしてXによって表されるCs置換の程度は高周波誘導結合プラズマ 原子発光分光法によって測定された。最高種付は温度を増すことに加えて、部分 的Cs置換は顕著に改善された結晶構造をもたらし、これは一層等軸的な寸法を 結果としてもたらす。以下の実施例4と比較例Aとの比較は、結晶が自発的核形 成を使用して製造される時でさえ、部分的に置換によるこの結晶構造改質を示す 。
轟1 K又はRbイオンによるCsイオンの部分的置換に際しての分解温度の増加 結 晶 分解温度 ℃ CsTi0AsO< 960 Cs、、に、zTiOAs04 1005Cs、aK、、Ti0AsO,なしく 1025で溶融する)CS、 v□Rb、 23T i OAs o4 101 5CS 、 s4Rb、 aaT i OA S Oa なしく1042で溶融 する)本発明の実施にとって必須ではないけれども、CsTi0As04の構造 的安定性を制御する、下に横たわるメカニズムの理解は、本発明の実施を照らす (illucidate)のを助ける。約960℃で、CsTi0As04は、 反応: CsTi0AsO4−Csu−aa+TiAs0(s−a++δCs20(↑) (ここで、0.1<δ<0.15) によって立方晶系のCs欠乏化合物例えばCsa、、、Ti (ASO4,11 )(図2参照)に分解する。酸化物が逃げることができない密封された容器中で は、この反応は可逆的である。この分解を説明するために、“脅された(thr eatened)構造”モデルを使用することができる。
KTiOPO4の結晶構造は、橋かけする(T l0XO4)基(ここで、この 枠組みは、カチオン例えi−f、 Rb、TI及びCsによって充填されている 通路を含む。この構造モデルは、KT 1OP04結晶における観察されたイオ ン性伝導を説明する際に、Bierleinら、 “Fabrication  and characterization 。
f optical waveguides in KTiOPO<−Appl 、Phys、、Letters、50.1216〜1218 (1987)によ って成功裏に使用された。
CsTi0As04結晶に関しては、(Ti0AsO4)枠組みは多かれ少なか れ堅く、その結果通路は枠組みが崩壊する前に最大サイズまでのカチオンを収容 することができるに過ぎず、そこで、KからRbへとモしてCsへと行くことに よってカチオン半径が増すにつれて、Pna21構造の安定性はますます“脅さ れる”ようになり、これはTi及びAsに対して少ないCsを含む立方晶系構造 に有利な高温でのPna21のCs T i OA s Oa構造の崩壊(即ち 、分解)を導く。しかしながら、より大きいCsイオンの幾らかをより小さいI (又はRbイオンによって置換することによって、(T i OA s 04) 枠組みはより少なく脅されるようになり、これは上で述べたPna2+構造の安 定性になる。
Cs 、−xMxTiOAsO,結晶の単一結晶を製造する方法は、上で述べた 単一結晶のCsTi0AsO4の製造のために用いられるのと本質的に類似のフ ラックス方法ステップを用いる。本発明と一致する溶融物組成は、Cs 1−  x M x T iOA s O4結晶並びにCs及びAsの酸化物から成るフ ラックスを形成するための成分を含む。加えて、溶融物は、所望の量のセシウム 置換を与えるために十分なM(即ち、Na、に、Rbるので、溶融物中のMのモ ル分率(即ち、Q)は結晶中で望まれるモル分率、Xの典型的には約半分である 。かくして、Qは通常は約0. 2までの範囲で良いけれども、Qは一層典型的 には0.01〜0.05の範囲である。Mは好ましくはRb又はKである。
一般に、溶融温度の上限は結晶の分解温度、T4であり、これは960℃からX につれてそしてそれ故溶融物中で一般的に使用されるMのモル分率につれて(即 ち、Qにつれて)増加する。分解温度、そしてかくして結晶式Csl−11M! T 1OAs04の斜方晶系結晶を成長させるために使用可能な最高溶融温度の ための適切な式は960’C+R,x℃Tあり、式中R1はM置換による分解の 増加の係数であり、そしてXは述べた結晶式によって規定される結晶中のMのモ ル分率である。一般に、R1は大ざっばに約200である。Rヨのもっと正確な 値は、特定のM置換物と関連して決定することができる。例えば、MがNaであ る場合には、R1はもっと正確には約180(即ち、180±40)と特徴付け られて良く、MがKである場合には、R,はもっと正確には約190(即ち、1 90±40)と特徴付けられて良<、MがRbである場合には、R,はもっと正 確には約210(即ち、180±40)と特徴付けられて良く、そして、MがT Iである場合には、R,はもっと正確には約215(即ち、215±40)と特 徴付けられて良い。R1のもつと正確な値はまた混合物に関して実験的に決定す ることもできるが、200のR1の使用はまたこれらの実施態様に関しては満足 と考えられる。
れを達成するための特に適切なやり方は、溶融物がその中に含まれているるつぼ を回転を周期的に逆転させる配慮をして回転させることである。
成長する結晶表面近くでのMの蓄積を防止するために、種晶もまた回転させるこ とがまた好ましい。種晶は典型的には1分あたり2〜200回転・(rpm)そ して好ましくは10〜1100rpで回転され、一方るつぼは典型的には5〜6 0rpmそして好ましくは10〜30rpmで回転される。更に、傾斜移送方法 は遅い冷却方法゛を凌いで好ましいことが認識される。何故ならば、傾斜移送方 法は成長する結晶を通してのより゛良い組成の均一性を与えるからである(例え ば、Arendら、 “On the 5olution Growth of  SingleC−rystals of 5olid 5olutions” 、J、Of Crystal Growth、74.321〜325 (198 6)参・照)。単一区分された成長の使用もまた好ましい。
これらの製造の手順は、非線形光学、電子光学及びピエゾ電気応用のために有用 であるセシウムチタニルヒ酸塩タイプの単一結晶を与える。
以下の非限定的実施例は本発明の実施を更に例示する。
実施例1 0.6291モルのCsTi0AsO410,55モルの(CS o、*5Na o、o4)sAsso+oから成る溶融された溶液を、407.9gのC52C O,,6,29gのNa1CC)s、209.9gのA s 、O5及び50゜ 3gのTiO2を250m1の白金るつぼ中で約105o℃で24時間反応させ ることによって作る。次にこの溶液をトップ仕込み炉中に移しそして約950℃ で1日間均一化した。次にこの溶融物を約830’C(こ種晶を溶融物中に導入 した。次にこのシステムを5〜40rpmの結晶回転速度で1〜2℃z日の平均 速度で約790’Cに冷却した。次にこの結晶を溶融物から引き出しそして20 ℃/時間で室温にアニールしてCsTi0As04の11x20x30mm3( 約14.7g)の結晶を生成させた。数個の3x3x4の結晶をデバイス製造の ためにこの結晶か0.5863モルのCsTi0Aso410.3216モルの Cs、AS、O,、から成る溶融された溶液を、409.8gのCs、CO3, 215,2gのAs2os及び46.8gのT i O,を250m1の白金る つぼ中で約1050℃で24時間反応させることによって作った。次にこの溶液 をトップ仕込み炉中に移しそして約920℃で1日間均一化した。
次にこの溶融物を約835℃に冷却し、そして結晶引き押し及び回転機構の助け によって10x6x1mm3の種晶を溶融物中に導入した。次にこのシステムを 5〜40rpmの結晶回転速度で1〜2°C/日の平均速度で約810℃に冷却 した。次にこの結晶を溶融物から引き出しそして20℃/時間で室温にアニール してCsTi0AsO,の10x22x32mm’(約15.2g)の結晶を生 成させた。
仕込み物に添加した。次にこの溶液を2ゾーンヒーターを備えたトップ底で沈殿 した。約3xlx1mm3(約0.15g)の種晶を溶融物中に沈めた。次に溶 融物における約3℃の温度傾斜を、底ゾーンを周囲から加熱し一方トツブゾーン を冷却することによって設定した。種を溶解することを回避するために、平均溶 融物温度を825℃で維持するように注意を払わねばならない。4日の成長期間 の間、520rpmの結晶回転速度を使用した。溶融物から引き出すと、結晶を 約り0℃/時間で室温にアニールした。生成した結晶は良く形成された形態を示 しそして10x8x14mm”(約2.1g)と測定された。
実施例4 0.2245モルのCSo、*+Ko、ooTiOASO410,1423モル の(CS o、5sKo、os) sA S io+oの溶融された溶液を、1 46.72gのCs、Co、、3.23gのに、CO,,74,87gのA s  、0.及び17.94gのT i Ozを100m1の白金るつぼ中で約10 00℃で24時間反応させることによって作った。次にこの溶液をまず10℃/ 時間で900℃にそして次に1〜b 発的核形成からの結晶成長を誘導した。次に溶融されたフラックスをこの温度で 注ぎ出し、そしてるつぼ及びその内容物を6O−100IC/時間で室温にアニ ールした。次にるつぼ内容物を熱水中でエツチングし残留フラックスを除去して 約9゜5 gノc S o、e+Ko、owT i OA S O<結晶を生成 させたが、この結晶は、比較例Aの結晶と比較して、物質例えばKTiOPO4 の成長において典型的に見い出される形態と類似の、(好ましい)より等軸的な 形態を有していた。結晶の寸法は、典型的に0.1875モルのCs T i  OA s 04/ 0. 15モルのCs3As30、oの溶融された溶液を、 151. 5 g(1)Cs zcOx、72. 4g+7)As2O3及び1 4.4gのTiO2を100mlの白金るつぼ中で約1゜00℃で24時間反応 させることによって作った。次にこの溶液をまず10℃/時間で900℃にそし て次に1〜bして、自発的核形成からの結晶成長を誘導した。次に溶融されたフ ラックスをこの温度で注ぎ出し、そしてるつぼ及びその内容物を60〜bングし 残留フラックスを除去して約8gの長いプリズムに似たCsTi0ASO4の結 晶を生成させた。結晶学的なaxbxc軸に沿つて10mmx1mmx2mmま での寸法の結晶が得られた。
実施例は本発明の特定の実施態様を説明する役割を果たす。その他の実施態様は 、明細書又は明細書中に開示された本発明の実施の考慮から当業者には明らかに なるであろう。更にまた、本発明は本明細書中に説明された特定の調製物及び実 施例に限定されず、本発明は以下の請求の範囲の範囲内に入る本発明のこのよう な改変された形を含むことが理解FIG、1 FIG、2

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.CS1−xMxTiOAsO4の単一斜方晶系結晶[ここで、MはNa、K 、Rb、Ti及びこれらの混合物から成る群から選ばれ、xは0〜0.4であり 、各々の軸に沿った結晶の寸法は少なくとも約2mmであり、そして3つの軸に 沿った寸法の積は少なくとも約15mm3である]を製造するためのフラックス 方法であって、該斜方晶系結晶の分解温度よりも高くない温度で該結晶並びに、 Cs及びAsの酸化物を含んで成るフラックスを形成するための成分を含む均一 な溶融物を製造するステップ(ここで溶融物中の全Cs+Mに対するMのモル分 率は0〜約0.2の範囲内である)、該単一結晶のための種晶を溶融物中に導入 するステップ、種晶の上の制御された結晶化を活性化するステップ、並びに単一 結晶の形成が完了するまで結晶化を継続するステップを含んで成るフラックス方 法。
  2. 2.CsTiOAsO4の単一結晶が図1の多角形ABCDEFA内の溶融物組 成から製造され、そして種付け温度が600℃〜約850℃の範囲内にある、請 求の範囲1記載のフラックス方法。
  3. 3.CsTiOAsO4の単一結晶が図1の多角形IJKLMI内の溶融物組成 から製造され、そして種付け温度が700℃〜820℃の範囲内にある、請求の 範囲1記載のフラックス方法。
  4. 4.xが0.02〜0.1の範囲にあり、そして溶融物中のMの該モル分率が0 .01〜0.05の範囲にある、請求の範囲1記載の方法。
  5. 5.MがK又はRbである、請求の範囲4記載の方法。
  6. 6.結晶化が少なくとも約5×5×5mm3の結晶を与えるように制御される、 請求の範囲1記載の方法。
  7. 7.請求の範囲1記載の方法の生成物である、Cs1−xMxTiOAsO4[ 式中、MはNa、K、Rb、Ti及びこれらの混合物から成る群がら選ばれ、そ してXは0〜0.4である]の単一斜方晶系結晶。
  8. 8.CsTiOAsO4の結晶でありそして少なくとも5×5×5mm3である 、請求の範囲7記載の単一斜方晶系結晶。
  9. 9.CS1−xMxTiOAsO4の単一結晶であって[ここで、MはNa、K 、Rb、Tiびこれらの混合物から成る群から選ばれ、そしてxは0〜0.4で あり、そして結晶が少なくとも約5×5×5mm3である]の単一結晶。
  10. 10.Xが0.02〜0.1であり、そしてMがK又はRbである、請求の範囲 9記載の単一結晶。
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