JPH0745980Y2 - Circuit board - Google Patents

Circuit board

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JPH0745980Y2
JPH0745980Y2 JP1989077487U JP7748789U JPH0745980Y2 JP H0745980 Y2 JPH0745980 Y2 JP H0745980Y2 JP 1989077487 U JP1989077487 U JP 1989077487U JP 7748789 U JP7748789 U JP 7748789U JP H0745980 Y2 JPH0745980 Y2 JP H0745980Y2
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JP
Japan
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hole
electrode land
component
circuit board
insulating glass
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忠彦 山田
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は実装密度を向上させた混成集積回路用回路基板
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] The present invention relates to a circuit board for a hybrid integrated circuit with improved packaging density.

[従来の技術] 近年、混成集積回路基板の高密度実装のために、チップ
部品等の部品電極ランドとスルーホール電極ランドとが
増々近接して設けられるようになってきた。そのよう
に、スルーホール接続部の近傍にチップ部品等を実装す
る際、溶融した半田がスルーホール入口部にまで達し、
時にスルーホールに入ることがあり、スルーホール部分
の電極導電体が例えばAgまたはAg-Pd等の場合、半田中
にそのAg成分が拡散溶解するいわゆる「Ag食われ」現象
により導通不良等の欠陥を生じる可能性があった。
[Prior Art] In recent years, component electrode lands such as chip components and through-hole electrode lands have come to be provided closer to each other for high-density mounting of a hybrid integrated circuit board. In this way, when mounting a chip component etc. near the through hole connection part, the molten solder reaches the through hole entrance part,
Sometimes it goes into the through-hole, and when the electrode conductor in the through-hole part is Ag or Ag-Pd, for example, defects such as poor conduction due to the so-called "Ag erosion" phenomenon that the Ag component diffuses and dissolves in the solder Could occur.

このため、従来の回路基板では部品電極ランドとスルー
ホール電極ランドとの間に一定の距離を設け、スルーホ
ール電極ランド上をガラス絶縁層で完全に被覆してい
た。
Therefore, in the conventional circuit board, a certain distance is provided between the component electrode land and the through-hole electrode land, and the through-hole electrode land is completely covered with the glass insulating layer.

すなわち、スルーホール接続部を有する従来の混成集積
回路基板の構造は第4図(同図(a)は上面図、同図
(b)は断面図である)に示すように、絶縁性基板1上
に設けられている部品電極ランド4及び4′は導体が露
出した状態となっているがそれらから一定の距離を置い
て設けられているスルーホール2の部分の電極ランド
(スルーホール電極ランド)3はガラス絶縁層5により
完全に被覆されている。これは、部品電極ランド4及び
4′上にそれぞれクリーム半田6を印刷し、チップ部品
7を搭載した後、リフロー加熱処理してチップ部品を接
続固定するときに、溶融半田がスルーホール2に流入し
てスルーホール電極ランドに接触することがないように
するためである。
That is, the structure of the conventional hybrid integrated circuit board having the through-hole connection portion is as shown in FIG. 4 (FIG. 4A is a top view and FIG. 4B is a sectional view). The component electrode lands 4 and 4'provided above have conductors exposed, but the electrode lands at the through holes 2 provided at a certain distance from them (through hole electrode lands). 3 is completely covered by the glass insulating layer 5. This is because when the solder paste 6 is printed on the component electrode lands 4 and 4 ', respectively, and the chip component 7 is mounted on the component electrode land, the molten solder flows into the through hole 2 when the chip component is connected and fixed by reflow heat treatment. This is to prevent contact with the through-hole electrode land.

[考案が解決しようとする課題] 最近のプリント配線基板における部品実装密度の高水準
化は部品の小型化と相まって益々強く要求されてきてい
るが、スルーホール接続部を有する回路基板を用いてス
ルーホールの近傍に部品を実装する場合にはAg食われや
部品ランド間の半田ショートの可能性があるため、スル
ーホール接続部を有する従来の回路基板の構造では高密
度化が図れないという課題があった。
[Problems to be solved by the invention] Higher component mounting densities in recent printed wiring boards have been more and more strongly demanded together with the miniaturization of components. When components are mounted near the holes, there is a possibility of Ag erosion and solder shorts between component lands, so the conventional circuit board structure with through-hole connections cannot achieve high density. there were.

本考案は、上記のような実装部品の高密度化を阻害する
要因を排除して実装密度を向上させることのできる回路
基板を提供するものである。
The present invention provides a circuit board that can improve the mounting density by eliminating the factors that hinder the high density of the mounted components as described above.

[課題を解決するための手段及び作用] そこで本考案は、内壁面に導体層が形成された少なくと
も1つのスルーホール、該スルーホールを中央部に持つ
露出した導体からなるスルーホール電極ランド、及びこ
れに隣接する部品電極ランドを有してなる混成集積回路
用回路基板であって、スルーホールの穴部内壁はこれに
内接する絶縁性ガラスの中空円柱が形成されるように絶
縁性ガラス層で被覆されており、該ガラス中空円柱はそ
の両末端部がラッパ状に開いていて基板の両表面にスル
ーホールの開口部を内周円とし、それより大きい同心円
を外周円とする薄い絶縁性ガラス層の環状体を形成して
おり、該環状体は前記スルーホール電極ランドの中央部
を横切ってスルーホール電極ランド上に塗布された帯状
の絶縁性ガラス層によってスルーホール電極ランド周囲
の絶縁層と連接されており、前記スルーホール電極ラン
ドのガラス被覆されていない部分が前記隣接部分電極ラ
ンドと共同して、スルーホールの真上もしくはスルーホ
ールに接近した位置にチップ部品を搭載するための部品
電極ランドとして使用できる構造となっていることを特
徴とする回路基板を提供するものである。
[Means and Actions for Solving the Problem] Therefore, the present invention provides at least one through hole having a conductor layer formed on the inner wall surface, a through hole electrode land having an exposed conductor having the through hole at the center, and A circuit board for a hybrid integrated circuit having a component electrode land adjacent to it, wherein the inner wall of the hole of the through hole is an insulating glass layer so that a hollow cylinder of insulating glass inscribed therein is formed. The glass hollow cylinder is covered with a thin insulating glass whose both end portions are open like a trumpet, and the openings of the through holes are the inner circumference circles on both surfaces of the substrate, and the larger concentric circles are the outer circumference circles. Forming an annular body of layers, the annular body passing through the central portion of the through-hole electrode land and being passed through by a strip-shaped insulating glass layer coated on the through-hole electrode land. The chip is connected to the insulating layer around the hole electrode land, and the portion of the through hole electrode land which is not covered with glass cooperates with the adjacent partial electrode land to directly above the through hole or at a position close to the through hole. A circuit board having a structure that can be used as a component electrode land for mounting a component.

本考案の混成集積回路基板では、スルーホール電極ラン
ドの中央部にスルーホールがあり、基板表面にあるスル
ーホールの末端部はスルーホールの穴径より10〜20%程
大きい径を持つ同心円を外周としスルーホールの開孔円
を内周とするドーナツ状のガラス絶縁層パターンで被覆
されていて、スルーホール電極ランドはこのドーナツ環
とスルーホール電極ランド周囲のガラス絶縁層とを連結
する帯状のガラス絶縁層で左右に分割された形となって
いるが、上記絶縁層で被覆されないで露出しているスル
ーホール電極ランドをスルーホールの真上もしくは極め
てスルーホールに近接した位置にチップ部品を搭載する
ための部品電極ランドとして使用することができるの
で、スルーホール電極のAg食われや部品電極ランド間の
ショート不良を招く恐れのない高密度の混成集積回路が
得られるのである。以下実施例により本考案をさらに説
明する。
In the hybrid integrated circuit board of the present invention, there is a through hole in the center of the through hole electrode land, and the end of the through hole on the surface of the board is surrounded by a concentric circle having a diameter 10 to 20% larger than the diameter of the through hole. And is covered with a donut-shaped glass insulating layer pattern having an inner circumference of the through-hole opening circle, and the through-hole electrode land connects the donut ring with the glass insulating layer around the through-hole electrode land. Although it is divided into left and right by the insulating layer, the through-hole electrode land that is exposed without being covered by the insulating layer is mounted on the chip component directly above the through-hole or very close to the through-hole. Since it can be used as a component electrode land for electrical components, it may cause Ag erosion of the through-hole electrode or short circuit between component electrode lands. Without a high density hybrid integrated circuits than can be obtained. The present invention will be further described with reference to the following examples.

[実施例] 第1図ないし第3図は本考案の混成集積回路構造を説明
するものでそれぞれ(a)は回路基板の上面図、(b)
はその断面図である。これら図面を参照して上記構造を
説明する。
[Embodiment] FIGS. 1 to 3 illustrate a hybrid integrated circuit structure according to the present invention. FIG. 1A is a top view of a circuit board, and FIG.
Is a sectional view thereof. The structure will be described with reference to these drawings.

先ず絶縁性基板1上に、スルーホール2を中央部に有す
る露出導体領域であるスルーホール電極ランド3及びそ
れとは別の部品電極ランド4をスクリーン印刷により形
成する。次いで、スルーホール2の内壁面とその延長部
分に図示の如くガラス絶縁層(ホウケイ酸ガラス)5を
スクリーン印刷する(以上第1図参照)。
First, on the insulating substrate 1, a through-hole electrode land 3 which is an exposed conductor region having a through-hole 2 in the center and a component electrode land 4 which is different from the through-hole electrode land 3 are formed by screen printing. Next, a glass insulating layer (borosilicate glass) 5 is screen-printed on the inner wall surface of the through hole 2 and its extended portion as shown in the figure (see FIG. 1 above).

次に、クリーム半田6を部品電極ランド4及びスルーホ
ール電極ランド3の絶縁層5′によって被覆されていな
い領域の一部(図では左半分)にスクリーン印刷する
(第2図参照)。
Next, the cream solder 6 is screen-printed on a part (the left half in the figure) of the region of the component electrode land 4 and the through-hole electrode land 3 which is not covered by the insulating layer 5 '(see FIG. 2).

次に、チップ部品7を載せた後、リフロー加熱処理によ
り半田付けする(第3図参照)。
Next, after the chip component 7 is placed, it is soldered by reflow heat treatment (see FIG. 3).

上記の方法でスルーホールの真上にも、チップ部品を実
装した高密度の混成集積回路をつくることができる。
By the method described above, a high-density hybrid integrated circuit having chip components mounted directly above the through hole can be formed.

[考案の効果] 以上説明したように、本考案の混成集積回路用基板を用
いることにより、実装密度が高くかつスルーホール電極
導体のAg食われや部品電極ランド間のショートの発生の
可能性が低い混成集積回路をつくることができる。
[Effects of the Invention] As described above, by using the hybrid integrated circuit substrate of the present invention, the packaging density is high, the Ag of the through-hole electrode conductor may be eaten, and the short circuit between the component electrode lands may occur. Low hybrid integrated circuits can be made.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図ないし第3図は本考案の混成集積回路構造を説明
するもので、それぞれ図(a)は回路基板の上面図、図
(b)はその断面図である。第4図は従来の混成集積回
路構造を示し、図(a)は上面図、図(b)はその断面
図である。 符号の説明 1……絶縁性基板 2……スルーホール 3……スルーホール電極ランド 4、4′……部品電極ランド 5、5′……ガラス絶縁層 6……クリーム半田 7……チップ部品
1 to 3 are explanatory views of a hybrid integrated circuit structure of the present invention. FIG. 1A is a top view of a circuit board and FIG. 3B is a sectional view thereof. FIG. 4 shows a conventional hybrid integrated circuit structure. FIG. 4 (a) is a top view and FIG. 4 (b) is a sectional view thereof. Explanation of symbols 1 ... Insulating substrate 2 ... Through hole 3 ... Through hole Electrode land 4, 4 '... Component electrode land 5, 5' ... Glass insulating layer 6 ... Cream solder 7 ... Chip component

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】内壁面に導体層が形成された少なくとも1
つのスルーホール、該スルーホールを中央部に持つ露出
した導体からなるスルーホール電極ランド、およびこれ
に隣接する部品電極ランドを有してなる混成集積回路用
回路基板であって、スルーホール導体が形成された穴部
内壁はこれに内接する絶縁性ガラスの中空円柱が形成さ
れるように絶縁性ガラス層で被覆されており、該ガラス
中空円柱はその両末端部がラッパ状に開いていて基板の
両表面にスルーホールの開口部を内周円とし、それより
大きい同心円を外周円とする薄い絶縁性ガラス層の環状
体を形成しており、該環状体は前記スルーホール電極ラ
ンドの中央部を横切ってスルーホール電極ランド上に塗
布された帯状の絶縁性ガラス層によってスルーホール電
極ランド周囲の絶縁層と連接されており、前記スルーホ
ール電極ランドのガラス被覆されていない部分が前記隣
接部品電極ランドと共同して、スルーホールの真上もし
くはスルーホールに接近した位置にチップ部品を搭載す
るための部品電極ランドとして使用できる構造となって
いることを特徴とする回路基板。
1. At least one conductor layer is formed on an inner wall surface.
A circuit board for a hybrid integrated circuit having one through hole, a through hole electrode land made of an exposed conductor having the through hole in a central portion, and a component electrode land adjacent to the through hole, wherein a through hole conductor is formed. The inner wall of the hole is covered with an insulating glass layer so that a hollow cylinder of insulating glass inscribed therein is formed. An annular body of a thin insulating glass layer is formed on both surfaces of which the opening of the through hole is an inner circle and a larger concentric circle is an outer circle, and the annular body forms a central portion of the through hole electrode land. It is connected to the insulating layer around the through-hole electrode land by a strip-shaped insulating glass layer applied across the through-hole electrode land, The portion not covered with lath has a structure that can be used as a component electrode land for mounting a chip component directly above the through hole or close to the through hole in cooperation with the adjacent component electrode land. Characteristic circuit board.
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