JPH0743614B2 - 基準電圧発生回路 - Google Patents

基準電圧発生回路

Info

Publication number
JPH0743614B2
JPH0743614B2 JP17460889A JP17460889A JPH0743614B2 JP H0743614 B2 JPH0743614 B2 JP H0743614B2 JP 17460889 A JP17460889 A JP 17460889A JP 17460889 A JP17460889 A JP 17460889A JP H0743614 B2 JPH0743614 B2 JP H0743614B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reference voltage
output
circuit
voltage
generating circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP17460889A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0338707A (ja
Inventor
仁 安彦
賢二 白木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP17460889A priority Critical patent/JPH0743614B2/ja
Publication of JPH0338707A publication Critical patent/JPH0338707A/ja
Publication of JPH0743614B2 publication Critical patent/JPH0743614B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Of Voltage And Current In General (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路基板に搭載される基準電圧発生
回路に関する。
〔従来の技術〕 従来のこの種の回路は、第3図(a)に示すように、△
VT型基準電圧発生回路本体201と、製造過程での条件変
動による出力変動を補整する補整回路202とから構成さ
れる。更に詳しく説明すると、補整回路202は、△VT型
基準電圧発生回路本体201の出力を多数の抵抗1と抵抗
2とで分割する抵抗タップ203と、この抵抗タップ203の
の任意の分割点を選択するデコーダ回路204と、どの分
割点を選ぶかを記憶している記憶回路205とで構成さ
れ、選ばれた分割点が、△VT型基準電圧発生回路本体20
1の反転入力に接続される。ここで、抵抗タップ203の抵
抗1の抵抗値をR1、抵抗2の抵抗値をR2とする。又、こ
の補整回路202の出力207は、ボルテージフォロワーアン
プ206により、インピーダンス変換されて半導体集積回
路の基板の外に供給される。但し、このボルテージフォ
ロワーアンプ206は、低負荷の外部回路を駆動したり、
外部からのノイズで内部回路が変動するのを防ぐ為に設
けられる。
この従来技術の場合、半導体集積回路基板を最適デバイ
スになるように製造するが、△VT型基準電圧発生回路本
体201の出力、抵抗タップ203の抵抗の比精度、ボルテー
ジフォロワーアンプ206の入力オフセット電圧がふぞろ
いであり、さらに精度を向上させるには抵抗タップ203
の異なる3点を選んだ時の出力から最適な分割点を計算
して所望の精度内に入った基準電圧を得るようにしてい
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
前述の従来技術では、基準電圧の補整精度が悪いという
欠点がある。
その理由を以下に説明する。
第3図(a)の基準電圧発生回路では、不明な値は基準
電圧発生回路本体201の出力Va、抵抗タップ203の抵抗の
比精度M(但し、M=R2/R1)、ボルテージフォロワー
アンプ206の入力オフセット電圧Vbであるから、タップ
の位置をI1,I2,I3と3点変えた時の出力V1,V2,V3は次の
ようになる。
但し、Lは出力タップの取り出し位置。
これら3式で表わされ、この連立方程式を解くことによ
り、Va,Vb,Mが求められ、最適なタップの位置Iは、次
式で表わされる。
ここで、Voは所望の基準電圧値である。
しかし、この時V1乃至V3はは当然誤差を含むのでVa,Vb,
Mも計算誤差を持つ。
従って、基準電圧発生回路の出力であるノード207の電
圧はボルテージフォロワーアンプ206の入力オフセット
電圧Vbの計算誤差を見込んだ値になり、基準電圧の補整
精度が悪くなる。
第3図(b)は、第3図(a)において測定値に誤差が
含まれる場合の基準電圧発生回路本体201の出力207がど
のように変化するかを計算した結果が示されている。
第3図(b)から、従来技術では測定誤差が±1mVであ
る場合、出力207は±30mV程度変動し、測定誤差に対
し、非常に敏感であることがわかる。
本発明の目的は、前記欠点が解決され、測定誤差に対し
て出力変動を小さくした基準電圧発生回路を提供するこ
とにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の構成は、半導体集積回路基板上に、基準電圧発
生部と、この出力と入力とに接続され前記出力の電圧値
を調整する電圧調整部と、前記電圧調整部の出力を入力
とし前記基板の外部に基準電圧として出力するボルテー
ジフォロワーとを備えた基準電圧発生回路において、前
記電圧調整部の出力を、前記ボルテージフォロワーを介
さず直接に、前記基板の外部に取り出す切り替え手段を
設けたことを特徴とする。
〔実施例〕
次に、図面を参照しながら本発明を詳細に説明する。
第1図(a)は、本発明の一実施例の基準電圧発生回路
を示す回路図である。第1図(a)において、本実施例
の基準電圧発生回路は、△VT型基準電圧発生回路本体10
8と、抵抗タップ109と、ボルテージフォロワーアンプ10
4と、トランジスタスイッチ102と、出力パッド105とを
含み、構成される。ここで、抵抗タップ109は、多数直
列接続された抵抗1と抵抗2と、必要数の抵抗を選択す
るためのスイッチ3とを備えている。これら抵抗1は、
帰還抵抗であり、抵抗値R1かまたはその整数倍(n×R
1)が選ばれ、これに基づいて、出力101が得られる。
電圧調整部を構成する抵抗タップ109、回路本体108の出
力と入力との間に、抵抗タップ109内の単数又は複数の
抵抗1とMOSトランジスタ3からなるスイッチ3との複
数の直列回路が接続される。直列接続された抵抗1と抵
抗2との共通接続点を出力101とし、アンプ104に入力さ
れる。アンプ104は、出力がそのまま反転入力に帰還さ
れたいわゆるボルテージフォロワーを構成する。このア
ンプ104の出力は、出力パッド105に接続され、ここから
図示されていない外部へ引き出される。スイッチ102
は、前記共通接続点の出力101と出力パッド105との間に
接続される。
基準電圧発生回路本体108の出力101は、CMOSトランジス
タスイッチ102を介して、外部回路駆動用ボルテージフ
ォロワーアンプ104の出力パッド105に接続される。ここ
でボルテージフォロワーアンプ104の出力は、トランジ
スタスイッチ102が導通状態の時ハイインピーダンス状
態になるように回路が構成されている。
出力補整の為に電圧を測定する際には、トランジスタス
イッチ102を導通状態にして、基準電圧値を直読する。
この場合、わからないのは、△VT型基準電圧発生回路本
体108の出力電圧Vcと、抵抗タップ109の抵抗1,2の比精
度M(但し、M=R2/R1)であるから、タップの位置I1,
I2と2点変えた時の出力V1,V2は次式で表わされる。
但し、Lは出力タップの取り出し位置。
最適なタップ位置Iは、次式で表わされる。
ここで、Voは所望の基準電圧値である。
第1図(b)において、第1図(a)の回路で、測定値
に誤差が含まれる場合の基準電圧発生回路の本体108の
出力101が、どのように変化するかを計算した結果が示
されている。
第1図(b)から、本実施例では、測定誤差±1mVある
場合出力101は±1mV程度しか変動せず、従来技術の第2
図(b)の場合と比べて、測定誤差に対して非常に鈍感
であることがわかる。
以上説明したように、本実施例は、基準電圧発生回路の
出力電圧を、外部回路駆動用バッファアンプを介さずに
前記半導体集積回路の外に直接取り出すための切り替え
手段を備えているから、インピーダンス変換用のボルテ
ージフォロワーアンプ104の入力オフセット電圧Vbの計
算誤差の影響をなくすることができる。
第2図は本発明の他の実施例の基準電圧発生回路を部分
的に示す回路図である。第3図において、本実施例の基
準電圧発生回路は、第1図(a)の回路のトランジスタ
スイッチ102の部分が異なるのみで、その他は第1図
(a)と同様である。
前記一実施例では、基準電圧を外部回路へバイパスする
トランジスタスイッチ102に、CMOS型を用いたが、本実
施例では第2図に示すように単チャネルのトランジスタ
スイッチ301をこの部分に用いている。
動作については前記一実施例と同様なので説明は省略す
る。
尚、本発明の特徴は、以上説明したように、基準電圧を
外部から直読できる切り替え手段を設けることにあるか
ら、前述の2つの実施例以外にも応用可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、測定誤差の影響を減少
し、基準電圧の補整精度を向上する効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例の基準電圧発生回路を
示す回路図、第1図(b)は第1図(a)の回路の動作
を示す特性図、第2図は本発明の他の実施例の基準電圧
発生回路を部分的に示す回路図、第3図(a)は従来の
基準電圧発生回路を示す回路図、第3図(b)は第3図
(a)の回路の動作を示す特性図である。 1,2……抵抗、3……スイッチ、101,207……基準電圧発
生回路の出力、102,301……トランジスタスイッチ、10
4,206……ボルテージフォロワーアンプ、105……出力パ
ッド、108,201……△VT型基準電圧発生回路本体、109,2
03……抵抗タップ、202……補整回路、204……デコーダ
回路、205……記憶回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体集積回路基板上に、基準電圧発生部
    と、この基準電圧発生部の出力と入力とに接続され前記
    出力の電圧値を調整する電圧調整部と、前記電圧調整部
    の出力を入力とし前記基板の外部に基準電圧として出力
    するボルテージフォロワーとを備えた基準電圧発生回路
    において、前記電圧調整部の出力を、前記ボルテージフ
    ォロワーを介さず直接に、前記基盤の外部に取り出す切
    り替え手段を設けたことを特徴とする基準電圧発生回
    路。
JP17460889A 1989-07-05 1989-07-05 基準電圧発生回路 Expired - Lifetime JPH0743614B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17460889A JPH0743614B2 (ja) 1989-07-05 1989-07-05 基準電圧発生回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17460889A JPH0743614B2 (ja) 1989-07-05 1989-07-05 基準電圧発生回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0338707A JPH0338707A (ja) 1991-02-19
JPH0743614B2 true JPH0743614B2 (ja) 1995-05-15

Family

ID=15981563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17460889A Expired - Lifetime JPH0743614B2 (ja) 1989-07-05 1989-07-05 基準電圧発生回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0743614B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4342517C1 (de) * 1993-12-09 1995-05-04 Krone Ag Anschlußeinheit für Telekommunikations- und Datenleitungen

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0338707A (ja) 1991-02-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3283911B2 (ja) 自動補償付ホールセンサ
US20090201067A1 (en) Reference voltage generating circuit, integrated circuit device, and signal processing apparatus
US4692689A (en) FET voltage reference circuit with threshold voltage compensation
EP1000364A1 (en) Low cost cmos tester with high channel density
US5365161A (en) Stabilized voltage supply
JP4842131B2 (ja) バイアス電流補償回路を有するタイミング発生器及び方法
EP0448328A2 (en) Digital-to-analog converter having a circuit for compensating for variation in output dependent on temperature change
CN113851077A (zh) 一种led显示屏恒流源驱动模组及恒流源增益控制方法
JPH0743614B2 (ja) 基準電圧発生回路
US7205799B2 (en) Input buffer having a stabilized operating point and an associated method
CN114489210B (zh) 电压产生器、电路、芯片及电子装置
US7040159B2 (en) Air meter
JP2012104948A (ja) 増幅回路
JPS59208472A (ja) インピ−ダンス変化測定回路
JP4163570B2 (ja) A/d変換器
JPS62150935A (ja) 基準電圧発生回路
JP3137154B2 (ja) 定電流回路内蔵ic
JP4510987B2 (ja) Da変換装置
JP2000286636A (ja) 電圧制御発振器
JPS6227627B2 (ja)
JP2994069B2 (ja) 電子ボリウム回路
JP3315060B2 (ja) 基準電圧発生回路
JPH07128085A (ja) 制御回路
JP2596125Y2 (ja) 演算増幅回路
JP2671343B2 (ja) 容量測定装置