JPH0743431A - 試料ｉｃのデバイスピンの信号名表示方法 - Google Patents
試料ｉｃのデバイスピンの信号名表示方法Info
- Publication number
- JPH0743431A JPH0743431A JP5208756A JP20875693A JPH0743431A JP H0743431 A JPH0743431 A JP H0743431A JP 5208756 A JP5208756 A JP 5208756A JP 20875693 A JP20875693 A JP 20875693A JP H0743431 A JPH0743431 A JP H0743431A
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- JP
- Japan
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- pin
- tester
- file
- test program
- test
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- Pending
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣ試験装置において、従来のテストプログ
ラムの言語の互換性を保持しつつ、試験時の信号データ
をデバイスピンのイメージとして信号名で表示する。 【構成】 ＩＣ試験装置のテストヘッド上のテスタピン
と試料ＩＣのデバイスピン毎の信号名の関係をピンリス
トファイル２に書き込み、テストプログラムソースファ
イル１をコンパイル手段１Ａでコンパイルする事によ
り、テストプログラム実行ファイル３は、ピンリストフ
ァイル２内のデータを含んだ実行イメージとして作成さ
れ、表示ソフトウェア６は、制御プロセッサ１１のテス
トプログラム実行ファイル１内のピンリストファイル２
のデータを読みだし、データ処理プロセッサ１２の共有
メモリ１５にインストールし、インストールされたピン
リストの情報から、試料のデバイスピンをテスタのピン
番号ではなく信号名で表示する。
ラムの言語の互換性を保持しつつ、試験時の信号データ
をデバイスピンのイメージとして信号名で表示する。 【構成】 ＩＣ試験装置のテストヘッド上のテスタピン
と試料ＩＣのデバイスピン毎の信号名の関係をピンリス
トファイル２に書き込み、テストプログラムソースファ
イル１をコンパイル手段１Ａでコンパイルする事によ
り、テストプログラム実行ファイル３は、ピンリストフ
ァイル２内のデータを含んだ実行イメージとして作成さ
れ、表示ソフトウェア６は、制御プロセッサ１１のテス
トプログラム実行ファイル１内のピンリストファイル２
のデータを読みだし、データ処理プロセッサ１２の共有
メモリ１５にインストールし、インストールされたピン
リストの情報から、試料のデバイスピンをテスタのピン
番号ではなく信号名で表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＩＣ試験装置におい
て、テストプログラムを用いて試料を測定する場合の信
号名表示方法についてのものである。
て、テストプログラムを用いて試料を測定する場合の信
号名表示方法についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣ試験装置において、一般に試料ＩＣ
はテストヘッドに装着され、試料ＩＣのデバイスピンに
対し、テストヘッド上のテスタピンから必要な試験信号
を供給され試験される。この場合、試料ＩＣのデバイス
ピンとＩＣ試験装置側のテストヘッド上のテスタピンの
関係は必ずしも１対１ではなく、テストプログラムによ
り、必要な信号がテスタピンを通してデバイスピンに送
られるよう制御されている。
はテストヘッドに装着され、試料ＩＣのデバイスピンに
対し、テストヘッド上のテスタピンから必要な試験信号
を供給され試験される。この場合、試料ＩＣのデバイス
ピンとＩＣ試験装置側のテストヘッド上のテスタピンの
関係は必ずしも１対１ではなく、テストプログラムによ
り、必要な信号がテスタピンを通してデバイスピンに送
られるよう制御されている。
【０００３】次に、従来技術によるデバイスピンとテス
タピンの関係を図６を参照して説明する。図６のアは試
料ＩＣのデバイスピンとテスタピンの接続状態を示して
おり、図６のイはテストプログラム内における信号デー
タの表示例を示している。図６アの５・６・７はＩＣ試
験装置側のテストヘッド上のテスタピンであり、図６イ
で試験時に表示される信号データは、ＩＣ試験装置側の
テスタピンを基準に表示されている。
タピンの関係を図６を参照して説明する。図６のアは試
料ＩＣのデバイスピンとテスタピンの接続状態を示して
おり、図６のイはテストプログラム内における信号デー
タの表示例を示している。図６アの５・６・７はＩＣ試
験装置側のテストヘッド上のテスタピンであり、図６イ
で試験時に表示される信号データは、ＩＣ試験装置側の
テスタピンを基準に表示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来技術による信号デ
ータの表示方法では、テストプログラムの言語体系が試
料ＩＣのデバイスピンではなくＩＣ試験装置のテスタピ
ンを基準にしているため、例えば、テストヘッド上のテ
スタピン５が試料ＩＣのデバイスピン９であることを知
るためには、デバイスピンとテスタピンの対照表の参照
が必要であり、テストプログラムからだけでは、デバイ
スピンの判別は困難であった。
ータの表示方法では、テストプログラムの言語体系が試
料ＩＣのデバイスピンではなくＩＣ試験装置のテスタピ
ンを基準にしているため、例えば、テストヘッド上のテ
スタピン５が試料ＩＣのデバイスピン９であることを知
るためには、デバイスピンとテスタピンの対照表の参照
が必要であり、テストプログラムからだけでは、デバイ
スピンの判別は困難であった。
【０００５】しかし、従来のＩＣ試験装置で使用されて
いるテストプログラムは既に相当数作成されているた
め、従来のテストプログラムをそのまま使用し、言語体
系を変えずに、試験者にテスタピンを意識させない環境
を提供し、テストプログラムデバッグ時またはデバイス
を評価・解析するとき、試料ＩＣのデバイスピンとＩＣ
試験装置のテスタピンの関係をデバイスピンのイメージ
で表示させる必要がある。この発明は、ＩＣ試験装置に
おいて、従来のテストプログラムの言語の互換性を保持
しつつ、試験時の信号データをデバイスピンのイメージ
として信号名で表示することを目的とする。
いるテストプログラムは既に相当数作成されているた
め、従来のテストプログラムをそのまま使用し、言語体
系を変えずに、試験者にテスタピンを意識させない環境
を提供し、テストプログラムデバッグ時またはデバイス
を評価・解析するとき、試料ＩＣのデバイスピンとＩＣ
試験装置のテスタピンの関係をデバイスピンのイメージ
で表示させる必要がある。この発明は、ＩＣ試験装置に
おいて、従来のテストプログラムの言語の互換性を保持
しつつ、試験時の信号データをデバイスピンのイメージ
として信号名で表示することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この発明では、ＩＣ試験装置のテストヘッド上のテ
スタピンと試料ＩＣのデバイスピン毎の信号名の関係を
ピンリストファイル２に書き込み、テストプログラムソ
ースファイル１をコンパイル手段１Ａでコンパイルする
事により、テストプログラム実行ファイル３は、ピンリ
ストファイル２内のデータを含んだ実行イメージとして
作成され、表示ソフトウェア６は、制御プロセッサ１１
のテストプログラム実行ファイル１内のピンリストファ
イル２のデータを読みだし、データ処理プロセッサ１２
の共有メモリ１５にインストールし、インストールされ
たピンリストの情報から、試料のデバイスピンをテスタ
のピン番号ではなく信号名で表示する。
に、この発明では、ＩＣ試験装置のテストヘッド上のテ
スタピンと試料ＩＣのデバイスピン毎の信号名の関係を
ピンリストファイル２に書き込み、テストプログラムソ
ースファイル１をコンパイル手段１Ａでコンパイルする
事により、テストプログラム実行ファイル３は、ピンリ
ストファイル２内のデータを含んだ実行イメージとして
作成され、表示ソフトウェア６は、制御プロセッサ１１
のテストプログラム実行ファイル１内のピンリストファ
イル２のデータを読みだし、データ処理プロセッサ１２
の共有メモリ１５にインストールし、インストールされ
たピンリストの情報から、試料のデバイスピンをテスタ
のピン番号ではなく信号名で表示する。
【０００７】
【作用】一般に、ＩＣ試験装置は２つのプロセッサを搭
載し、一方をテストプログラム制御用、他の一方をデー
タの処理用と使い分けている。次に、メモリおよびそれ
ぞれのプロセッサの構成を図２に示す。図２の１１は制
御プロセッサ、１２はデータ処理プロセッサ、６は表示
ソフトウェア、２はテストプログラム実行ファイル１の
ピンリストファイル、１５は共有メモリである。共有メ
モリ１５は、表示ソフトウェア６のプロセスが共有でき
るメモリエリアである。このデータを参照する場合は、
メモリをダイレクトアクセスできる。すなわち、一度デ
ータがインストールされれば、信号名表示はテスタピン
での表示と同等の速度で実行することができる。
載し、一方をテストプログラム制御用、他の一方をデー
タの処理用と使い分けている。次に、メモリおよびそれ
ぞれのプロセッサの構成を図２に示す。図２の１１は制
御プロセッサ、１２はデータ処理プロセッサ、６は表示
ソフトウェア、２はテストプログラム実行ファイル１の
ピンリストファイル、１５は共有メモリである。共有メ
モリ１５は、表示ソフトウェア６のプロセスが共有でき
るメモリエリアである。このデータを参照する場合は、
メモリをダイレクトアクセスできる。すなわち、一度デ
ータがインストールされれば、信号名表示はテスタピン
での表示と同等の速度で実行することができる。
【０００８】図２で、表示ソフトウェア６は、制御プロ
セッサ１１にダウンロードされているテストプログラム
実行ファイル１内のピンリストファイル２のデータを読
みだし、共有メモリ１５に書き込む。
セッサ１１にダウンロードされているテストプログラム
実行ファイル１内のピンリストファイル２のデータを読
みだし、共有メモリ１５に書き込む。
【０００９】次に、この発明による信号名表示方法を図
１を参照して説明する。図１はデバイスピンに対応した
信号名の表示を行うための構成とその動作を合わせて図
示したものであり、図１の１はテストプログラムソース
ファイル、２はピンリストファイル、３はテストプログ
ラム実行ファイル、５は共有メモリ、６はデータ解析や
デバッグ等で用いられる表示ソフトウェアである。ピン
リストファイル２はＩＣ試験装置のテストヘッド上のテ
スタピンと試料ＩＣのデバイスピン毎の信号名の関係が
書き込まれている。
１を参照して説明する。図１はデバイスピンに対応した
信号名の表示を行うための構成とその動作を合わせて図
示したものであり、図１の１はテストプログラムソース
ファイル、２はピンリストファイル、３はテストプログ
ラム実行ファイル、５は共有メモリ、６はデータ解析や
デバッグ等で用いられる表示ソフトウェアである。ピン
リストファイル２はＩＣ試験装置のテストヘッド上のテ
スタピンと試料ＩＣのデバイスピン毎の信号名の関係が
書き込まれている。
【００１０】次に図１を参照して動作を説明する。図１
で、テストプログラム実行ファイル３はテストプログラ
ムソースファイル１をコンパイル手段１Ａでコンパイル
する事により、ピンリストファイル２内のデータを含ん
だ実行イメージとして作成される。ピンリストファイル
２のデータは、データ処理プロセッサ１２の共有メモリ
１５にインストールされる。図１の３Ａは実行されてい
るテストプログラムのピンリストファイル２の内容を、
実行ソフトウェアが表示前にインストールする場合であ
り、図１の４はピンリストファイルがコンパイル手段１
Ａによってテストプログラムに組み込まれていないと
き、コマンドにより試験者が直接ピンリストファイル２
の内容をインストールする場合である。
で、テストプログラム実行ファイル３はテストプログラ
ムソースファイル１をコンパイル手段１Ａでコンパイル
する事により、ピンリストファイル２内のデータを含ん
だ実行イメージとして作成される。ピンリストファイル
２のデータは、データ処理プロセッサ１２の共有メモリ
１５にインストールされる。図１の３Ａは実行されてい
るテストプログラムのピンリストファイル２の内容を、
実行ソフトウェアが表示前にインストールする場合であ
り、図１の４はピンリストファイルがコンパイル手段１
Ａによってテストプログラムに組み込まれていないと
き、コマンドにより試験者が直接ピンリストファイル２
の内容をインストールする場合である。
【００１１】表示ソフトウェア６は、インストールされ
たピンリストの情報から、試料のデバイスピンをテスタ
のピン番号ではなく信号名で表示する。
たピンリストの情報から、試料のデバイスピンをテスタ
のピン番号ではなく信号名で表示する。
【００１２】
【実施例】次に、この発明によるピンリストファイル２
の構成フォーマットの例を図３に示す。図３のアは記述
のフォーマットであり、３１は信号名、３２はテスタピ
ン番号、３３はデバイスピン番号である。図３のイはピ
ンリストファイルの一例である。図３に示すように、ピ
ンリストは信号名の割当機能とテストプログラム内のピ
ン番号の変換機能を備えている。
の構成フォーマットの例を図３に示す。図３のアは記述
のフォーマットであり、３１は信号名、３２はテスタピ
ン番号、３３はデバイスピン番号である。図３のイはピ
ンリストファイルの一例である。図３に示すように、ピ
ンリストは信号名の割当機能とテストプログラム内のピ
ン番号の変換機能を備えている。
【００１３】図１で、コンパイル時にテストプログラム
ソースファイル１に記述されたピンの情報は、図３アの
ピンリスト記述フォーマットのデバイスピン番号３３と
見なされ、テスタピン番号３２に変換されて実行ファイ
ルが作成される。変換機能を使用しない場合は、テスタ
ピン番号３２とデバイスピン番号３３は同一ピンを指定
しておく。また、コンパイルにより作成されたテストプ
ログラムの実行ファイルには、信号名とピンの関係を示
すピンリスト情報が付加される。
ソースファイル１に記述されたピンの情報は、図３アの
ピンリスト記述フォーマットのデバイスピン番号３３と
見なされ、テスタピン番号３２に変換されて実行ファイ
ルが作成される。変換機能を使用しない場合は、テスタ
ピン番号３２とデバイスピン番号３３は同一ピンを指定
しておく。また、コンパイルにより作成されたテストプ
ログラムの実行ファイルには、信号名とピンの関係を示
すピンリスト情報が付加される。
【００１４】次に、ピンリスト情報を含んだテストプロ
グラムを実行した場合の制御ソフトウェアの動作フロー
チャートを図４に示す。図４のステップ４２でピンリス
ト付きのプログラムであるかどうかをチェックする。そ
の結果により表示ソフトウェアが参照することのできる
共通エリアに対してフラグによる情報制御を実施する。
グラムを実行した場合の制御ソフトウェアの動作フロー
チャートを図４に示す。図４のステップ４２でピンリス
ト付きのプログラムであるかどうかをチェックする。そ
の結果により表示ソフトウェアが参照することのできる
共通エリアに対してフラグによる情報制御を実施する。
【００１５】フラグの状態は、クリアされている場合と
ピンリスト情報がないテストプログラムが最初に実行さ
れている場合とピンリスト情報があるテストプログラム
が最初に実行されている場合の３通りがあり、ステップ
４３・４４でそれぞれの場合にフラグをオンする。
ピンリスト情報がないテストプログラムが最初に実行さ
れている場合とピンリスト情報があるテストプログラム
が最初に実行されている場合の３通りがあり、ステップ
４３・４４でそれぞれの場合にフラグをオンする。
【００１６】次にステップ４５で、通常のテストプログ
ラム処理が実行されるが、ここではピンリスト情報はメ
モリへインストールしない。これは、表示ソフトウェア
６を使用しない場合は試験が量産的に行われていると考
えられ、その実行速度の負荷を軽減するためである。
ラム処理が実行されるが、ここではピンリスト情報はメ
モリへインストールしない。これは、表示ソフトウェア
６を使用しない場合は試験が量産的に行われていると考
えられ、その実行速度の負荷を軽減するためである。
【００１７】図４のステップ４１は前回実行のプログラ
ム名を検索し、これと現在のプログラムが一致した場
合、すなわち２回目以降の実行であるときは４２・４３
・４４の処理は行わない。図４の各処理は、テストプロ
グラム実行の最初の段階で実行される。
ム名を検索し、これと現在のプログラムが一致した場
合、すなわち２回目以降の実行であるときは４２・４３
・４４の処理は行わない。図４の各処理は、テストプロ
グラム実行の最初の段階で実行される。
【００１８】次に、フラグによる試験データの表示ソフ
トウェア６の動作を図５を参照して説明する。図５のス
テップ５１はフラグがセットされているかクリヤされて
いるかどうかをチェックする。これは、同じピンリスト
情報を何度もリードし、メモリ上にインストールするの
を防ぐためのものである。ステップ５２で、フラグがピ
ンリスト付きプログラムが実行された直後であるかどう
かをチェックする。
トウェア６の動作を図５を参照して説明する。図５のス
テップ５１はフラグがセットされているかクリヤされて
いるかどうかをチェックする。これは、同じピンリスト
情報を何度もリードし、メモリ上にインストールするの
を防ぐためのものである。ステップ５２で、フラグがピ
ンリスト付きプログラムが実行された直後であるかどう
かをチェックする。
【００１９】そうである場合は、ステップ５３でメモリ
上のテストプログラム内に組み込まれたピンリスト部を
リードする。ピンリストなしの従来のテストプログラム
を実行している場合は、ステップ５４でインストールさ
れているピンリスト情報を消去する。その後、ステップ
５５で制御用フラグをクリアし、データの表示を実行す
る。
上のテストプログラム内に組み込まれたピンリスト部を
リードする。ピンリストなしの従来のテストプログラム
を実行している場合は、ステップ５４でインストールさ
れているピンリスト情報を消去する。その後、ステップ
５５で制御用フラグをクリアし、データの表示を実行す
る。
【００２０】ピンリスト情報を含まないテストプログラ
ムに対しては、図３に示すように、ピンリストファイル
を試験者が提供されているコマンドで直接インストール
することもできる。この場合、インストールされるメモ
リ上の構成は、図２で説明された共有イメージと同等の
ため、表示ソフトウェアは図２と同様に信号名で表示す
る。
ムに対しては、図３に示すように、ピンリストファイル
を試験者が提供されているコマンドで直接インストール
することもできる。この場合、インストールされるメモ
リ上の構成は、図２で説明された共有イメージと同等の
ため、表示ソフトウェアは図２と同様に信号名で表示す
る。
【００２１】
【発明の効果】この発明によれば、ＩＣ試験装置におい
て、テストプログラムを変更することなく、試験時の信
号データをデバイスピンのイメージとして信号名で表示
できる。
て、テストプログラムを変更することなく、試験時の信
号データをデバイスピンのイメージとして信号名で表示
できる。
【図１】この発明による信号名表示方法の説明図であ
る。
る。
【図２】メモリおよびそれぞれのプロセッサの構成図で
ある。
ある。
【図３】この発明によるピンリストファイルの構成フォ
ーマットの例である。
ーマットの例である。
【図４】ピンリスト情報を含んだテストプログラムを実
行した場合の制御ソフトウェアの動作フローチャートで
ある。
行した場合の制御ソフトウェアの動作フローチャートで
ある。
【図５】フラグによる試験データの表示ソフトウェアの
動作を説明するフローチャートである。
動作を説明するフローチャートである。
【図６】従来技術によるデバイスピンとテスタピンの関
係を説明する図である。
係を説明する図である。
１ テストプログラムソースファイル ２ ピンリストファイル ３ テストプログラム実行ファイル ６ 表示プログラム １１ 制御プロセッサ １２ データ処理プロセッサ １５ 共有イメージ １６ 出力機器
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣ試験装置のテストヘッド上のテスタ
ピンと試料ＩＣのデバイスピンごとの信号名の関係をピ
ンリストファイル(2) に書き込み、 テストプログラムソースファイル(1) をコンパイル手段
(1A)でコンパイルする事により、テストプログラム実行
ファイル(3) はピンリストファイル(2) 内のデータを含
んだ実行イメージとして作成し、 表示ソフトウェア(6) は、制御プロセッサ(11)のテスト
プログラム内のピンリストファイル(2) のデータを読み
だし、データ処理プロセッサ(12)の共有メモリ(15)にイ
ンストールし、 表示ソフトウェア(6) は、インストールされたピンリス
トの情報から、試料のデバイスピンを信号名で表示する
ことを特徴とする試料ＩＣのデバイスピンの信号名表示
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5208756A JPH0743431A (ja) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | 試料ｉｃのデバイスピンの信号名表示方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5208756A JPH0743431A (ja) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | 試料ｉｃのデバイスピンの信号名表示方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0743431A true JPH0743431A (ja) | 1995-02-14 |
Family
ID=16561566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5208756A Pending JPH0743431A (ja) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | 試料ｉｃのデバイスピンの信号名表示方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743431A (ja) |
-
1993
- 1993-07-30 JP JP5208756A patent/JPH0743431A/ja active Pending
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