JPH07325217A - 偏光分離素子 - Google Patents

偏光分離素子

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JPH07325217A
JPH07325217A JP14114794A JP14114794A JPH07325217A JP H07325217 A JPH07325217 A JP H07325217A JP 14114794 A JP14114794 A JP 14114794A JP 14114794 A JP14114794 A JP 14114794A JP H07325217 A JPH07325217 A JP H07325217A
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JP
Japan
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polydiacetylene
material layer
birefringent material
alignment film
refractive index
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JP14114794A
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English (en)
Inventor
Tadashi Takeda
正 武田
Yoshio Hayashi
善雄 林
Hideo Takezoe
秀男 竹添
Ken Ishikawa
謙 石川
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Nidec Sankyo Corp
Original Assignee
Nidec Sankyo Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 偏光分離素子の特性の均一化及びコンパクト
化を図ると共に、その耐環境性を高める。 【構成】 表面に凹凸状の周期格子が形成された基板1
と、この基板1の凹凸部1a,1bの少なくとも凸部1
a上に形成されたポリジアセチレン配向膜からなる複屈
折材料層2と、を具備し、凹部と凸部の間の常光の位相
差と異常光の位相差のうち何れか一方がπの偶数倍、と
なるように、複屈折材料層2の厚み及び基板1の凹部深
さを設定してなるもの。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、偏光分離素子に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば光磁気ディスク等の各種光
学装置にあっては、偏光方向によって回折効率を異なら
しめる偏光分離素子が備えられている。この偏光分離素
子に関しては種々の提案がなされており、例えば特開昭
63−262602号公報等に記載されている。
【0003】この特開昭63−262602号公報記載
の偏光分離素子は、光学的等方性基板の主面に凹凸状の
周期格子を形成し、該周期格子の表面を、主屈折率の一
方が上記等方性基板の屈折率と等しい屈折率を有する液
晶で覆うというものであり、例えば常光に対する屈折率
が上記等方性基板のそれと一致し、異常光に対する屈折
率が上記等方性基板のそれと異なる液晶を用いれば、該
偏光分離素子は、常光に対しては回折格子としての機能
を果たさないが、異常光に対しては回折格子としての機
能を果たすといったものである。
【0004】また、上記液晶に代えて、ニオブ酸リチウ
ム結晶を用いるものも知られている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記偏
光分離素子にあっては、以下の問題がある。すなわち、
特開昭63−262602号公報記載の偏光分離素子に
あっては、液晶の屈折率の温度係数が大きく、環境に対
する性能が不安定になるといった問題がある。
【0006】また、ニオブ酸リチウム結晶を用いた偏光
分離素子にあっては、等方性基板上に単結晶を形成する
ので、その製造が容易ではないといった問題がある。
【0007】さらにまた、従来の一般的な偏光分離素子
にあっては、等方性基板上に形成される複屈折材料の複
屈折が小さいので、膜厚が比較的厚くなり、コンパクト
にできないといった問題や、結晶性が低いので、特性が
不均一になるといった問題もある。
【0008】そこで本発明は、耐環境性が高く、しかも
均一な特性を有し、その上コンパクト化がなされる偏光
分離素子を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の偏光分離素子
は、上記目的を達成するために、光学的等方性基板上に
ポリジアセチレン配向膜からなる複屈折材料層を形成す
ると共に、表面に凹凸状の周期格子を形成し、該凹部
に、複屈折材料の常光屈折率または異常光屈折率の何れ
か一方に等しい屈折率の物質を充填してなる。
【0010】請求項2の偏光分離素子は、上記目的を達
成するために、光学的等方性基板上にポリジアセチレン
配向膜からなる複屈折材料層を形成すると共に、この複
屈折材料層に凹凸状の周期格子を形成し、前記凹部と凸
部の間の常光の位相差と異常光の位相差のうち何れか一
方がπの偶数倍、となるように、前記複屈折材料層の凹
凸部の厚みを設定してなる。
【0011】請求項3の偏光分離素子は、上記目的を達
成するために、表面に凹凸状の周期格子が形成された光
学的等方性基板と、この光学的等方性基板の前記凹凸部
の少なくとも凸部上に形成されたポリジアセチレン配向
膜からなる複屈折材料層と、を具備し、前記凹部と凸部
の間の常光の位相差と異常光の位相差のうち何れか一方
がπの偶数倍、となるように、前記複屈折材料層の厚み
及び前記基板の凹部深さを設定してなる。
【0012】請求項4の偏光分離素子は、上記目的を達
成するために、等方性基板上にポリジアセチレン配向膜
からなる複屈折材料層を形成すると共に、該複屈折材料
層に、周期格子状に屈折率差を与えてなる。
【0013】請求項5の偏光分離素子は、上記目的を達
成するために、等方性基板上にポリジアセチレン配向膜
からなる複屈折材料層を形成すると共に、該複屈折材料
層に、周期格子状に体積差を与えてなる。
【0014】請求項6の偏光分離素子は、上記目的を達
成するために、光学的等方性基板上にポリジアセチレン
配向膜からなる複屈折材料層を形成すると共に、表面に
凹凸状の周期格子を形成し、該凹部に、光学的等方性物
質を充填してなる偏光分離素子であって、該光学的等方
性物質の屈折率(nc)と、該複屈折材料の常光屈折率
(no)、異常光屈折率(ne)との間に、以下の式に
示す関係があることを特徴とする。 nc=no+m(no−ne);(m=±1,±2,±
3…)=ne+l(no−ne);(l=±1,±2,
±3…)
【0015】請求項7の偏光分離素子は、上記目的を達
成するために、請求項1乃至6に加えて、等方性基板と
複屈折材料層との間に、ポリジアセチレン配向膜に配向
性を与えるためのフィルム層を含んでなる。
【0016】請求項8の偏光分離素子は、上記目的を達
成するために、請求項1乃至7に加えて、表裏面の少な
くとも一方の面に、反射防止膜を具備した。
【0017】請求項9の偏光分離素子は、上記目的を達
成するために、請求項1乃至8に加えて、複屈折材料層
であるポリジアセチレン配向膜に配向性を与えるために
等方性基板に代えて、異方性結晶基板を用いてなる。
【0018】
【作用】このような請求項1乃至9における偏光分離素
子によれば、ポリジアセチレン膜は、その特性として屈
折率の温度変化が小さいので、偏光分離素子の耐環境性
を高めるよう働く。また、その特性として結晶性が高い
ので、偏光分離素子の特性を均一化するよう働く。さら
にまた、その特性として複屈折が大きいので、膜厚を薄
くするよう働く。
【0019】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明の一実施例を示す偏光分離素子の斜
視図、図2は図1の偏光分離素子の縦断面図である。
【0020】図1、図2において、符号1は、例えばガ
ラス材よりなる等方性基板を示しており、このガラス基
板1表面には凹凸による周期的な格子が形成されてい
る。このガラス基板1表面の凸部1a上には、下記の化
1に示される化学式のポリジアセチレン薄膜2が形成さ
れており、このポリジアセチレン薄膜2は主面X−Y面
内で配向がなされている。
【化1】
【0021】ここで、ガラス基板1の凸部の厚さをt、
ガラス基板1の凹部1bの溝深さをd1、ポリジアセチ
レン薄膜(配向膜)2の厚さをd2、ガラス基板1の屈
折率をns、ポリジアセチレン薄膜2の常光に対する屈
折率をno、ポリジアセチレン薄膜2の異常光に対する
屈折率をne、ガラス基板1の凹凸部及びポリジアセチ
レン薄膜2により形成される溝内の屈折率をnc、光の
波長をλとし、k=2π/λとすると、ポリジアセチレ
ン薄膜2が形成された偏光分離素子を通過する(図2に
おけるAの領域を通過する)常光の位相は、 {ns・t+no・d2}k …1式 ポリジアセチレン薄膜2が形成されていない偏光分離素
子を通過する(図2におけるBの領域を通過する)常光
の位相は、 {ns(t−d1)+nc(d1+d2)}k …2式 従って、常光の位相差OPD(o)は、1式−2式よ
り、 OPD(o)={(ns−nc)d1+(no−nc)d2}k …3式
【0022】一方、Aの領域を通過する異常光の位相
は、 {ns・t+ne・d2}k …4式 Bの領域を通過する異常光の位相は、上記2式と同じ、
従って、異常光の位相差OPD(e)は、4式−2式よ
り、 OPD(e)={(ns−nc)d1+(ne−nc)d2}k …5式 因みに、ガラス基板1の凹凸部及びポリジアセチレン薄
膜2により形成される溝内には空気が充填されていると
考えて、nc=1となる。
【0023】ここで、異常光が回折しないようにするた
めには、上記3式と5式のうち5式がπの偶数倍となる
ようにすれば良い。すなわち、 OPD(e)={(ns−nc)d1+(ne−nc)d2}k =2pπ、(p=0,±1,±2…) …6式 また、常光が回折しないようにするためには、上記3式
と5式のうち3式がπの偶数倍となるようにすれば良
い。すなわち、 OPD(o)={(ns−nc)d1+(no−nc)d2}k =2pπ、(p=0,±1,±2…) …7式
【0024】ところで、これら2条件下では、d1及び
d2の設定によっては、常光・異常光のうち回折させる
光の中にも、回折しない光量が存在する場合がある。本
発明の偏光分離素子は、例えば光ディスク装置のピック
アップの中に用いることができるが、このような用途に
あっては、常光・異常光のうち一方は全て回折させ、他
方は全く回折しないようにすることが望ましい。このよ
うな目的のためには、6式に加えて、 OPD(o)={(ns−nc)d1+(no−nc)d2}k =(2q+1)π、(q=0,±1,±2…) …8式 或は、7式に加えて、 OPD(e)={(ns−nc)d1+(ne−nc)d2}k =(2q+1)π、(q=0,±1,±2…) …9式 とすれば良い。この時、ポリジアセチレン配向膜2の厚
さd2を決めるためには、(6−8)式及び(7−9)
式より、 [OPD(o)−OPD(e)]=(no−ne)d2・k =(2j+1)π、(j=0,±1,±2) …10式 が成り立つように、d2を決めれば良い。因に、d2=
π(2j+1)/[k・|no−ne|]となり、d2
はポリジアセチレン配向膜2のnoとneの差に依存し
ていることがわかる。すなわち、d2 を小さくするに
は、no−neの絶対値が大きい方が良いことになる。
【0025】また、6式または7式を満足するように、
ポリジアセチレン配向膜2の膜厚d2、ガラス基板1の
溝深さd1を設定すれば、上記偏光分離素子は回折格子
として機能し、常光または異常光の何れか一方のみを回
折させないようにすることができる。
【0026】このように、本実施例においては、表面に
凹凸状の周期格子が形成されたガラス基板1と、このガ
ラス基板1の凸部1a上に形成され、該ガラス基板1の
主面の面内方向に配向されたポリジアセチレン配向膜2
と、を具備し、凹部1bと凸部1aの間の常光の位相差
と異常光の位相差のうち何れか一方がπの偶数倍、とな
るように、ポリジアセチレン配向膜の厚みd2及び基板
1の凹部深さd1を設定するようにしたので、上述のよ
うに、偏光分離素子として機能させることができるよう
になっている。ここで、ポリジアセチレン配向膜2は、
その特性として屈折率の温度変化が小さいので、偏光分
離素子の耐環境性を高めることが可能となっている。ま
た、その特性として結晶性が高いので、偏光分離素子の
特性を均一化することが可能となっている。さらにま
た、その特性として複屈折が大きいので、膜厚を薄くで
きるようになっており、偏光分離素子をコンパクト化す
ることが可能となっている。
【0027】次に、このように構成された偏光分離素子
の第1の製造方法について、以下説明する。先ず、第1
工程において、所定厚tのガラス基板1上に、100Å
前後のジアセチレンのモノマー膜を、例えば真空蒸着法
により形成し、その後このジアセチレンのモノマー膜を
空気中で紫外線重合し、該ジアセチレンのモノマー膜を
ポリマー化する。
【0028】次いで、第2工程において、このポリマー
化されたジアセチレン膜、すなわちポリジアセチレン膜
を、例えばシリコン布等により一方向にラビング処理す
る(擦る)。すると、このラビング処理した方向に配向
ができる。
【0029】次いで、第3工程において、このラビング
処理されたポリジアセチレン膜上に、上記第1工程と同
様な方法により、ポリジアセチレン膜が所定厚d2とな
るまでポリジアセチレン膜を重ねて形成する、すなわち
ジアセチレンのモノマー膜を重ねて形成しその後このジ
アセチレンのモノマー膜を空気中で紫外線重合して該ジ
アセチレンのモノマー膜をポリマー化する。このように
して形成されたポリジアセチレン膜の配向方向は、第2
工程におけるラビング処理を行った方向となる。
【0030】次いで、第4工程において、上記ポリジア
セチレン膜上に凹凸格子を形成するためのレジストを塗
布し、露光、現像処理を行った後に、ガラス基板1の凹
部1bの溝深さが所定値d1となるまでエッチング処理
を行う。この第4工程の一連の処理は半導体の製造プロ
セスに採用されている公知の簡易な方法である。このよ
うな処理を施すと、図1、図2に示されるような偏光分
離素子が得られることになる。
【0031】このように、上記製造方法によれば、ポリ
マー化されたポリジアセチレン膜を一方向にラビング処
理するだけで、面内配向ができるようになっていると共
に、ポリジアセチレン膜の成膜及び凹凸格子の形成が簡
易となっているので、図1、図2に示される偏光分離素
子を容易に製造することが可能となっている。
【0032】因に、上記偏光分離素子の製造方法の他の
各例を以下に示す。第2の製造方法は、第1工程におい
て、等方性基板1上にジアセチレンモノマー膜を蒸着し
た後、ポリマー化し、第2工程において、ポリジアセチ
レン膜を一方向にラビング配向させ、第3工程におい
て、ラビング処理されたポリジアセチレン膜上に、ジア
セチレンモノマー膜を所定膜厚となるまで蒸着した後、
ポリマー化し、第4工程において、このポリジアセチレ
ン膜に、ポリジアセチレンの吸収波長に相当する波長を
持った光源からの光を用いて、これにより、ポリジアセ
チレン膜の屈折率を周期的に変化させ、偏光分離素子を
得る。なお、周期的な屈折率差を与える方法としては、
別に、可干渉性光源からの光を用いた2光束干渉法によ
る干渉縞にて変化させる方法を用いても良い。
【0033】また、第3の製造方法は、第1工程におい
て、等方性基板1上にジアセチレンモノマー膜を蒸着し
た後、ポリマー化し、第2工程において、ポリジアセチ
レン膜を一方向にラビング配向させ、第3工程におい
て、ラビング処理されたポリジアセチレン膜上に、ジア
セチレンモノマー膜を所定膜厚となるまで蒸着した後、
ポリマー化し、第4工程において、このポリジアセチレ
ン膜に、ポリジアセチレンの吸収波長に相当する波長を
持った光源からの光を用いて、これにより、ポリジアセ
チレン膜の体積(膜厚)を周期的に変化させ、偏光分離
素子を得る。なお、周期的な体積変化を与える方法とし
ては、別に、可干渉性光源からの光を用いた2光束干渉
法による干渉縞にて変化させる方法を用いても良い。
【0034】また、第4の製造方法は、第1工程におい
て、等方性基板1上にジアセチレンモノマー膜を蒸着し
た後、ポリマー化し、第2工程において、ポリジアセチ
レン膜を一方向にラビング配向させ、第3工程におい
て、ラビング処理されたポリジアセチレン膜上に、ジア
セチレンモノマー膜を所定膜厚となるまで蒸着した後、
ポリマー化し、第4工程において、このポリジアセチレ
ン膜に、ポリジアセチレンの吸収波長に相当する波長を
持った光源からの光を用いて、これにより、ポリジアセ
チレン膜の可溶性を周期的に変化させ、第5工程におい
て、周期的に可溶性が変化しているポリジアセチレン膜
を、適当な溶媒により、より可溶な部分を取り除き、偏
光分離素子を得る。
【0035】また、第5の製造方法としては、上記第1
乃至第4の製造方法における等方性基板1に代えて、例
えばサファイア等の異方性単結晶基板(複屈折基板も含
む)を用いることにより、蒸着工程においてジアセチレ
ン膜を、基板の結晶軸方向に自発的に配向させ、ラビン
グ処理工程を省いて、偏光分離素子を得る。
【0036】また、第6の製造方法としては、上記第1
乃至第4の製造方法における等方性基板1上に、ジアセ
チレンとは異なる、例えばフィルム層を成膜し、ジアセ
チレンモノマーの蒸着工程において、ジアセチレン膜
を、フィルム層の配向方向に自発的に配向させ、ラビン
グ処理工程を省いて、偏光分離素子を得る。
【0037】以上の各製造方法によっても、偏光分離素
子を容易に製造することができる。
【0038】図3は本発明の第2実施例を示す偏光分離
素子の縦断面図である。この第2実施例の偏光分離素子
が第1実施例のそれと違う点は、ガラス基板1における
所定深さd1を有する凹部1b上に、厚さd3のポリジ
アセチレン配向膜12を新たに形成した点である。因
に、本実施例及び後述の実施例の偏光分離素子の製造方
法は、上記各方法を適宜採用できる。
【0039】ここで、図3におけるAの領域を通過する
常光の位相は、 {ns・t+no・d2}k …1式と同じ 図3におけるBの領域を通過する常光の位相は、 {ns(t−d1)+no・d3+nc(d1+d2−d3)}k…11式 従って、常光の位相差OPD(o)は、1式−11式よ
り、 OPD(o) ={(d2−d3)no+ns・d1−nc(d1+d2−d3)}k …12式
【0040】一方、Aの領域を通過する異常光の位相
は、 {ns・t+ne・d2}k …4式と同じ Bの領域を通過する異常光の位相は、 {ns(t−d1)+ne・d3+nc(d1+d2−d3)}k…13式 従って、異常光の位相差OPD(e)は、4式−13式
より、 OPD(e) ={(d2−d3)ne+ns・d1−nc(d1+d2−d3)}k …14式 因みに、nc=1。
【0041】ここで、異常光が回折しないようにするた
めには、上記12式と14式のうち14式がπの偶数倍
となるようにすれば良い。すなわち、 OPD(e) ={(d2−d3)ne+ns・d1−nc(d1+d2−d3)}k =2pπ、(p=0,±1,±2…) …15式 また、常光が回折しないようにするためには、上記12
式と14式のうち12式がπの偶数倍となるようにすれ
ば良い。すなわち、 OPD(o) ={(d2−d3)no+ns・d1−nc(d1+d2−d3)}k =2pπ、(p=0,±1,±2…) …16式
【0042】ところで、これら2条件下では、d1及び
d2並びにd3の設定によっては、常光・異常光のうち
回折させる光の中にも、回折しない光量が存在する場合
がある。本発明の偏光分離素子は、例えば光ディスク装
置のピックアップの中に用いることができるが、このよ
うな用途にあっては、常光・異常光のうち一方は全て回
折させ、他方は全く回折しないようにすることが望まし
い。このような目的のためには、15式に加えて、 OPD(o) ={(d2−d3)no+ns・d1−nc(d1+d2−d3)}k =(2q+1)π、(q=0,±1,±2…) …17式 或は、16式に加えて、 OPD(e) ={(d2−d3)ne+ns・d1−nc(d1+d2−d3)}k =(2q+1)π、(q=0,±1,±2…) …18式 とすれば良い。この時、ポリジアセチレン配向膜2,1
2の厚さd2,d3を決めるためには、(15−17)
式及び(16−18)式より、 [OPD(o)−OPD(e)]=(no−ne)・(d2−d3)k =(2j+1)π、(j=0,±1,±2) …19式 が成り立つように、d2、d3を決めれば良い。
【0043】15式または16式を満足するように、ポ
リジアセチレン配向膜膜2,12の膜厚d2,d3、ガ
ラス基板1の溝深さd1を設定すれば、上記偏光分離素
子は回折格子として機能し、常光または異常光の何れか
一方のみを回折させないようにすることができる。な
お、d2=d3とすると、19式が0となってしまうの
で、この条件は除外される。
【0044】このように構成しても、第1実施例と同様
な効果を得ることができるというのはいうまでもない。
また、凹部、凸部それぞれの複屈折材料が異なっていて
も良い。この場合もこれまでと同様に計算できる。
【0045】図4は本発明の第3実施例を示す偏光分離
素子の縦断面図である。この第3実施例の偏光分離素子
が第1実施例のそれと違う点は、平坦なガラス基板1上
に、凹凸状のポリジアセチレン配向膜2,22を形成し
た点である。
【0046】この凹状のポリジアセチレン配向膜22及
び凸状のポリジアセチレン配向膜2は、第1実施例の第
1の製造方法における第4工程において、ポリジアセチ
レン膜上に凹部を形成する際に、該ガラス基板1上にポ
リジアセチレン膜22が所定厚d3残るように、エッチ
ング処理を行い、凹部には等方性のncの媒質を充填
し、得ることができる。
【0047】この第3実施例にあっても、上記第1、第
2実施例と同様の要領で計算を行うと、 OPD(o)=(d2−d3)・(no−nc)・k …20式 OPD(e)=(d2−d3)・(ne−nc)・k …21式 となる。因みに、nc=1。
【0048】従って、常光を回折させないためには、 OPD(o)=(d2−d3)・(no−ne)・k =2qπ、(q=0,1,2…) …22式 また、異常光を回折させないためには、 OPD(e)=(d2−d3)・(ne−nc)・k =2qπ、(q=0,1,2…) …23式
【0049】22式または23式を満足するように、ポ
リジアセチレン配向膜2の膜厚d2、ポリジアセチレン
配向膜22の膜厚d3及びncを設定すれば、偏光分離
素子として、常光または異常光の何れか一方のみを回折
させないようにすることができる。
【0050】このように構成しても、先の第1、第2実
施例と同様な効果を得ることができるというのはいうま
でもない。なお、図4における偏光分離素子のポリジア
セチレン配向膜22の厚みd3を0にするように構成す
ることも可能である。また、ncは空気でなくとも等方
性材料であれば良い。
【0051】図5は本発明の第4実施例を示す偏光分離
素子の縦断面図である。同図において、符号11は光学
的等方性基板を示しており、この基板11表面には、上
記ポリジアセチレン配向膜32が形成されている。この
ポリジアセチレン配向膜には凹凸による周期的な格子が
形成されており、該ポリジアセチレン配向膜32の凹部
の底面は基板11表面に達するまで掘下げられている。
このポリジアセチレン配向膜32の凹部、すなわちポリ
ジアセチレン配向膜32の凸部側面と基板11表面によ
り囲まれる領域には、上記ポリジアセチレン配向膜32
の異常光に対する屈折率neに等しい屈折率ncの物質
13が充填されている。
【0052】従って、異常光に対しては屈折率差がない
ために回折光を生じないが、常光に対しては屈折率差が
生じ、位相格子として作用し回折光を生じる。
【0053】このように構成しても偏光分離素子として
機能し、且つポリジアセチレン配向膜32は、その特性
として屈折率の温度変化が小さいので、偏光分離素子の
耐環境性を高めることが可能となっている。また、その
特性として結晶性が高いので、偏光分離素子の特性を均
一化することが可能となっている。さらにまた、その特
性として複屈折が大きいので、膜厚を薄くできるように
なっており、偏光分離素子をコンパクト化することが可
能となっている。
【0054】図6は本発明の第5実施例を示す偏光分離
素子の縦断面図である。この第5実施例の偏光分離素子
が第4実施例のそれと違う点は、ポリジアセチレン配向
膜32の凹部の底面を基板11表面に達するまで掘下げ
ずに所定厚残し、この残された部分32aの表面及び両
隣のポリジアセチレン配向膜32の凸部側面により囲ま
れる領域に、上記第4実施例と同様な物質13を充填し
た点である。
【0055】このように構成しても、第4実施例と同様
な作用・効果を奏するというのはいうまでもない。
【0056】なお、第4、第5実施例においては、ポリ
ジアセチレン配向膜32の凹部に、該ポリジアセチレン
配向膜32の異常光に対する屈折率neに等しい屈折率
ncの物質13を充填するようにしているが、常光に対
する屈折率noに等しい屈折率の物質を充填するように
しても良い。この場合には、異常光に対しては屈折率差
が生じ位相格子として作用し回折光を生じるが、常光に
対しては屈折率差がないために回折光を生じない。
【0057】因に、図2に示されるように、表面に凹凸
状の周期格子が形成された光学的等方性基板1と、この
光学的等方性基板1の凸部上に形成されたポリジアセチ
レン配向膜2と、を具備し、光学的等方性基板1の凹凸
部及びポリジアセチレン配向膜2により形成される溝内
に、ポリジアセチレン配向膜の常光屈折率または異常光
屈折率の何れか一方に等しい屈折率の物質を充填するよ
うにした偏光分離素子にあっても、前述の10式及び8
式または9式を満足するように、ポリジアセチレン配向
膜2の厚み及び基板1の凹部1b深さを設定すれば、上
記第4、第5実施例と同様に、常光または異常光の何れ
か一方のみを回折させることができるというのはいうま
でもない。
【0058】図7は本発明の第6実施例を示す偏光分離
素子の縦断面図である。同図において、符号1は、例え
ばガラス材よりなる光学的等方性基板を示しており、こ
のガラス基板1表面には、ポリジアセチレン配向膜2が
形成されている。このポリジアセチレン配向膜2には凹
凸による周期的な格子が形成されており、該ポリジアセ
チレン配向膜2の凹部の底面はガラス基板1表面に達す
るまで掘下げられている。ポリジアセチレン配向膜2の
凹部、すなわちポリジアセチレン配向膜2の凸部側面と
ガラス基板1表面により囲まれる領域には、充填物質
(但し、常光屈折率noまたは異常光屈折率neに略等
しい屈折率を有する物質を除く)40が充填されてお
り、該充填物質40の屈折率(nc)と、該ポリジアセ
チレン配向膜2の常光屈折率(no)、異常光屈折率
(ne)との間に、以下の式に示す関係が成り立ってい
る。 nc=no+m(no−ne);(m=±1,±2,±
3…)=ne+l(no−ne);(l=±1,±2,
±3…)
【0059】ここで、ガラス基板1の厚さをt、ポリジ
アセチレン配向膜2の厚さをd2、ガラス基板1の屈折
率をns、ポリジアセチレン配向膜2の常光に対する屈
折率をno、ポリジアセチレン配向膜2の異常光に対す
る屈折率をne、充填物質40の屈折率をnc、光の波
長をλ、k=λ/2π、とすると、Aの領域を通過する
常光の位相は、 {ns・t+no・d2}・k …24式 Bの領域を通過する常光の位相は、 {ns・t+nc・d2}・k …25式 従って、常光のA,Bの位相差OPD(o)は、24式
−25式より、 OPD(o)=(no−nc)・d2・k …26式
【0060】一方、Aの領域を通過する異常光の位相
は、 {ns・t+ne・d2}・k …27式 Bの領域を通過する異常光の位相は、上記25式と同
じ、従って、異常光のA,Bの位相差OPD(e)は、
27式−25式より、 OPD(e)=(ne−nc)・d2・k …28式
【0061】ここで、nc=no+m(no−ne)、
(但しmは整数)並びに、nc=ne+l(no−n
e)、(但しlは整数)となっている。さて、ここで、
常光の位相差は、 OPD(o)=−m(no−ne)・d2・k 異常光の位相差は、OPD(e)=−l(no−ne)
・d2・k、となり、どちらかのみ回折させないために
は、 OPD(o)=−m(no−ne)・d2・k=2p
π、(p=±1,±2,±3…) 或は、 OPD(e)=−l(no−ne)・d2・k=2p
π、(p=±1,±2,±3…) となるように、d2を決めれば良い。また、この実施例
にあっても、常光・異常光のうち一方は回折させず、他
方は全て回折させるようにすることが望ましく、この場
合には、さらにOPD(o)とOPD(e)との差がπ
の奇数倍であるという条件が加わり、 OPD(o)−OPD(e)=(l−m)(no−n
e)・d2・k=(2i+1)π、(i=0,±1,±
2…) となる。ここで、ncの2つの式の差をとると、no−
ne+(m−l)(no−ne)=0よりl−m=1で
あるから、d2=π(2i+1)/[k・|no−ne
|]=(λ/2)(2i+1)/|no−ne|と決ま
る。
【0062】このように、第6実施例においては、光学
的等方性基板としてのガラス基板1上にポリジアセチレ
ン配向膜2を形成すると共に、表面に凹凸状の周期格子
を形成し、該凹部に、充填物質(但し、常光屈折率no
または異常光屈折率neに略等しい屈折率を有する物質
を除く)40を充填し、該充填物質40の屈折率(n
c)と、該ポリジアセチレン配向膜2の常光屈折率(n
o)、異常光屈折率(ne)との間に、以下の式に示す
関係が成り立つようにしたので、 nc=no+m(no−ne);(m=±1,±2,±
3…)=ne+l(no−ne);(l=±1,±2,
±3…) 上述のように、偏光分離素子として機能させることがで
きるようになっており、且つポリジアセチレン配向膜2
は、その特性として屈折率の温度変化が小さいので、偏
光分離素子の耐環境性を高めることが可能となってい
る。また、その特性として結晶性が高いので、偏光分離
素子の特性を均一化することが可能となっている。さら
にまた、その特性として複屈折が大きいので、膜厚を薄
くできるようになっており、偏光分離素子をコンパクト
化することが可能となっている。
【0063】図8は本発明の第7実施例を示す偏光分離
素子の縦断面図である。この第7実施例の偏光分離素子
が第6実施例のそれと違う点は、ポリジアセチレン配向
膜2の凹部の底面をガラス基板1表面に達するまで掘下
げずに所定厚残し、この残された部分22の表面及び両
隣のポリジアセチレン配向膜2の凸部側面により囲まれ
る領域に、上記第6実施例と同様な充填物質40を充填
した点である。
【0064】このように構成しても、第6実施例と同様
にして計算を行うと、OPD(o)またはOPD(e)
の何れか一方をπの偶数倍とすることができ、常光また
は異常光の何れか一方は回折せず、他方は回折すること
になり、第6実施例と同様な作用・効果を奏することに
なる。
【0065】因に、図2に示されるように、表面に凹凸
状の周期格子が形成された光学的等方性基板1と、この
光学的等方性基板1の凸部上に形成されたポリジアセチ
レン配向膜2と、を具備し、光学的等方性基板1の凹凸
部及びポリジアセチレン配向膜2により形成される溝内
に、充填物質(但し、常光屈折率noまたは異常光屈折
率neに略等しい屈折率を有する物質を除く)40を充
填し、該充填物質40の屈折率(nc)と、該ポリジア
セチレン配向膜2の常光屈折率(no)、異常光屈折率
(ne)との間に、以下の式に示す関係が成り立つよう
にした偏光分離素子にあっても、 nc=no+m(no−ne);(m=±1,±2,±
3…)=ne+l(no−ne);(l=±1,±2,
±3…) 前述の10式及び8式または9式を満足するように、ポ
リジアセチレン配向膜2の厚み及び基板1の凹部1b深
さを設定すれば、先の実施例と同様な作用・効果を奏す
る。
【0066】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、例えば、上記各実施例で説明
した偏光分離素子の表裏面の少なくとも一方の面に反射
防止膜を設け、回折効率の向上を図るようにしても良
い。
【0067】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の偏光分離素
子によれば、基板上に形成されるポリジアセチレン膜
は、その特性として屈折率の温度変化が小さいので、偏
光分離素子の耐環境性を高めることが可能となる。ま
た、その特性として結晶性が高いので、偏光分離素子の
特性を均一化することが可能となる。さらにまた、その
特性として複屈折が大きいので、膜厚を薄くでき、偏光
分離素子をコンパクト化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示す偏光分離素子の斜視
図である。
【図2】図1の偏光分離素子の縦断面図である。
【図3】本発明の第2実施例を示す偏光分離素子の縦断
面図である。
【図4】本発明の第3実施例を示す偏光分離素子の縦断
面図である。
【図5】本発明の第4実施例を示す偏光分離素子の縦断
面図である。
【図6】本発明の第5実施例を示す偏光分離素子の縦断
面図である。
【図7】本発明の第6実施例を示す偏光分離素子の縦断
面図である。
【図8】本発明の第7実施例を示す偏光分離素子の縦断
面図である。
【符号の説明】
1,11 基板 2,12,22,32,32a ポリジアセチレン配向
膜 13,40 充填物質
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石川 謙 東京都目黒区大岡山2−12−1 東京工業 大学 工学部 有機材料工学科

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学的等方性基板上にポリジアセチレン
    配向膜からなる複屈折材料層を形成すると共に、 表面に凹凸状の周期格子を形成し、 該凹部に、複屈折材料の常光屈折率または異常光屈折率
    の何れか一方に等しい屈折率の物質を充填してなる偏光
    分離素子。
  2. 【請求項2】 光学的等方性基板上にポリジアセチレン
    配向膜からなる複屈折材料層を形成すると共に、 この複屈折材料層に凹凸状の周期格子を形成し、 前記凹部と凸部の間の常光の位相差と異常光の位相差の
    うち何れか一方がπの偶数倍、となるように、 前記複屈折材料層の凹凸部の厚みを設定してなる偏光分
    離素子。
  3. 【請求項3】 表面に凹凸状の周期格子が形成された光
    学的等方性基板と、 この光学的等方性基板の前記凹凸部の少なくとも凸部上
    に形成されたポリジアセチレン配向膜からなる複屈折材
    料層と、を具備し、 前記凹部と凸部の間の常光の位相差と異常光の位相差の
    うち何れか一方がπの偶数倍、となるように、 前記複屈折材料層の厚み及び前記基板の凹部深さを設定
    してなる偏光分離素子。
  4. 【請求項4】 等方性基板上にポリジアセチレン配向膜
    からなる複屈折材料層を形成すると共に、 該複屈折材料層に、周期格子状に屈折率差を与えてなる
    偏光分離素子。
  5. 【請求項5】 等方性基板上にポリジアセチレン配向膜
    からなる複屈折材料層を形成すると共に、 該複屈折材料層に、周期格子状に体積差を与えてなる偏
    光分離素子。
  6. 【請求項6】 光学的等方性基板上にポリジアセチレン
    配向膜からなる複屈折材料層を形成すると共に、 表面に凹凸状の周期格子を形成し、 該凹部に、光学的等方性物質を充填してなる偏光分離素
    子であって、 該光学的等方性物質の屈折率(nc)と、該複屈折材料
    の常光屈折率(no)、異常光屈折率(ne)との間
    に、以下の式に示す関係があることを特徴とする偏光分
    離素子。 nc=no+m(no−ne);(m=±1,±2,±
    3…)=ne+l(no−ne);(l=±1,±2,
    ±3…)
  7. 【請求項7】 請求項1乃至6記載の偏光分離素子にお
    いて、 等方性基板と複屈折材料層との間に、ポリジアセチレン
    配向膜に配向性を与えるためのフィルム層を含んでなる
    偏光分離素子。
  8. 【請求項8】 請求項1乃至7記載の偏光分離素子にお
    いて、 表裏面の少なくとも一方の面に、反射防止膜を具備した
    偏光分離素子。
  9. 【請求項9】 請求項1乃至8記載の偏光分離素子にお
    いて、 複屈折材料層であるポリジアセチレン配向膜に配向性を
    与えるために等方性基板に代えて、異方性結晶基板を用
    いてなる偏光分離素子。
JP14114794A 1994-04-14 1994-05-31 偏光分離素子 Pending JPH07325217A (ja)

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CNB2003101142124A CN1250987C (zh) 1994-04-14 1995-04-14 偏振光束分束器及使用偏振光束分束器的光探头
CNB951039660A CN1134677C (zh) 1994-04-14 1995-04-14 偏振光束分束器及使用偏振光束分束器的光探头
US08/421,904 US5739952A (en) 1994-04-14 1995-04-14 Polarizing beam splitter and optical head assembly

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5793733A (en) * 1996-02-27 1998-08-11 Sankyo Seiki Mfg. Co., Ltd. Polarizing beam splitter and method for manufacturing same
JP2005534981A (ja) * 2002-08-01 2005-11-17 ナノオプト コーポレーション 精密位相遅れ装置およびそれを製造する方法

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