JPH07287861A - 光ピックアップシステム - Google Patents
光ピックアップシステムInfo
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- JPH07287861A JPH07287861A JP7037255A JP3725595A JPH07287861A JP H07287861 A JPH07287861 A JP H07287861A JP 7037255 A JP7037255 A JP 7037255A JP 3725595 A JP3725595 A JP 3725595A JP H07287861 A JPH07287861 A JP H07287861A
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0943—Methods and circuits for performing mathematical operations on individual detector segment outputs
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1356—Double or multiple prisms, i.e. having two or more prisms in cooperation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 ２分割ホログラムを用いた１ビーム方式でデ
ィスク上に情報を記録したり読み出したりする光ピック
アップシステムを提供する。 【構成】 レーザビームのうち、Ｓ偏光されたビームは
全反射させ、且つＰ偏光ビームは一部は反射させ、一部
は透過させる偏光ビーム分割器７５と、偏光ビーム分割
器を透過したディスクから反射されたＰ偏光されたビー
ムを集束するコリメーターレンズ７６と、６分割された
領域に各々集束するビームの強度に応じてトラッキング
エラーと焦点エラーを検出する６分割光探知器７９と、
Ｐ偏光されたビームを回折させて６分割光検出器７９に
集束させるためのホログラム素子７８と、２分割された
領域に各々集束するビームの強度に応じてディスクに記
録された情報を検出する２分割光探知器８３と、偏光ビ
ーム分割器７５からのＰ波とＳ波成分の混合ビームから
Ｐ波とＳ波成分のビームを分離するウォラストンプリズ
ム８１と、を含んだ光ピックアップシステム。
ィスク上に情報を記録したり読み出したりする光ピック
アップシステムを提供する。 【構成】 レーザビームのうち、Ｓ偏光されたビームは
全反射させ、且つＰ偏光ビームは一部は反射させ、一部
は透過させる偏光ビーム分割器７５と、偏光ビーム分割
器を透過したディスクから反射されたＰ偏光されたビー
ムを集束するコリメーターレンズ７６と、６分割された
領域に各々集束するビームの強度に応じてトラッキング
エラーと焦点エラーを検出する６分割光探知器７９と、
Ｐ偏光されたビームを回折させて６分割光検出器７９に
集束させるためのホログラム素子７８と、２分割された
領域に各々集束するビームの強度に応じてディスクに記
録された情報を検出する２分割光探知器８３と、偏光ビ
ーム分割器７５からのＰ波とＳ波成分の混合ビームから
Ｐ波とＳ波成分のビームを分離するウォラストンプリズ
ム８１と、を含んだ光ピックアップシステム。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光磁気ディスクに情報を
記録したり、光ディスクから情報を読み出したりするた
めの光ピックアップシステムに係り、特に読取り速度を
向上させ且つ製造コストを減少させることのできる簡易
な構造の光ピックアップシステムに関する。
記録したり、光ディスクから情報を読み出したりするた
めの光ピックアップシステムに係り、特に読取り速度を
向上させ且つ製造コストを減少させることのできる簡易
な構造の光ピックアップシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】図１に、従来の光ピックアップシステム
の構成を示す。図１を参照すると、従来の光ピックアッ
プシステムは、ディスク７と、光源として用いられる半
導体レーザ１と、半導体レーザ１のレーザビームから一
つのメインビーム（main beam)と光ディスク７のトラッ
キングエラー（tracking error）検出用の二つのサブビ
ーム（sub beam）を作る回折格子２と、回折格子２を通
過した３ビームを平行ビームにするコリメーターレンズ
（collimator lens)３と、コリメーターレンズ３を通過
した平行ビーム又は光ディスク７から反射されたビーム
のうち、Ｓ偏光波は１００％反射させ、且つＰ偏光波は
一部は反射させ一部は透過させる偏光ビーム分割器（Ｐ
ＢＳ、polarizing beam splitter）４と、ＰＳＢ４を通
過したＰ偏光された３ビームＬ１〜Ｌ３をディスク７側
に反射させる反射ミラー５と、反射ミラー５により反射
されＰ偏光された３ビームＬ１〜Ｌ３をディスク７上に
集束させたりディスク７上から反射された各々Ｐ波及び
Ｓ波が混合された３ビームＬ１〜Ｌ３を平行ビームにす
る対物レンズ６と、ＰＢＳ４を通ってディスク７から入
射するＰ波及びＳ波が混合された平行ビームからＰ波、
Ｓ波及びＰ＋Ｓ波に分離して、入射した３ビームを５ビ
ームに分離する改良ウォラストンプリズム８と、ウォラ
ストン（Wollaston)プリズム８を通ってＰ波、Ｓ波及び
Ｐ＋Ｓ波に分離された５ビームを結像する結像レンズ９
と、凹レンズ１０及び８分割光探知器（photodetector)
１１とからなる。
の構成を示す。図１を参照すると、従来の光ピックアッ
プシステムは、ディスク７と、光源として用いられる半
導体レーザ１と、半導体レーザ１のレーザビームから一
つのメインビーム（main beam)と光ディスク７のトラッ
キングエラー（tracking error）検出用の二つのサブビ
ーム（sub beam）を作る回折格子２と、回折格子２を通
過した３ビームを平行ビームにするコリメーターレンズ
（collimator lens)３と、コリメーターレンズ３を通過
した平行ビーム又は光ディスク７から反射されたビーム
のうち、Ｓ偏光波は１００％反射させ、且つＰ偏光波は
一部は反射させ一部は透過させる偏光ビーム分割器（Ｐ
ＢＳ、polarizing beam splitter）４と、ＰＳＢ４を通
過したＰ偏光された３ビームＬ１〜Ｌ３をディスク７側
に反射させる反射ミラー５と、反射ミラー５により反射
されＰ偏光された３ビームＬ１〜Ｌ３をディスク７上に
集束させたりディスク７上から反射された各々Ｐ波及び
Ｓ波が混合された３ビームＬ１〜Ｌ３を平行ビームにす
る対物レンズ６と、ＰＢＳ４を通ってディスク７から入
射するＰ波及びＳ波が混合された平行ビームからＰ波、
Ｓ波及びＰ＋Ｓ波に分離して、入射した３ビームを５ビ
ームに分離する改良ウォラストンプリズム８と、ウォラ
ストン（Wollaston)プリズム８を通ってＰ波、Ｓ波及び
Ｐ＋Ｓ波に分離された５ビームを結像する結像レンズ９
と、凹レンズ１０及び８分割光探知器（photodetector)
１１とからなる。
【０００３】凹レンズ１０は、焦点エラー（focus erro
r)を検出するために結像レンズ９を通過したメインビー
ムに非点収差を発生させる円環形表面（toric surface)
を有する。８分割光探知器１１は図２のように構成され
ているが、８分割領域の中で中央の“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”
領域は凹レンズ１０から入射するメインビームから分離
されたＳ＋Ｐ波成分のビームが集束する領域で、“ａ，
ｂ，ｃ，ｄ”領域から検出された信号により焦点エラー
を検知する。“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”領域の上・下の
“ｅ”，“ｆ”領域はサブビームから各々分離されたＰ
波とＳ波成分のビームが集束する領域で、“ｅ”領域と
“ｆ”領域から検出された信号の差よりトラッキングエ
ラーを検知する。“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”領域の左右の
“ｉ”と“ｊ”領域はメインビームから分離されたＳ波
とＰ波成分のビームが集束する領域で、“ｉ”領域と
“ｊ”領域から検出された信号により光ディスク７の情
報の有無を判別する。
r)を検出するために結像レンズ９を通過したメインビー
ムに非点収差を発生させる円環形表面（toric surface)
を有する。８分割光探知器１１は図２のように構成され
ているが、８分割領域の中で中央の“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”
領域は凹レンズ１０から入射するメインビームから分離
されたＳ＋Ｐ波成分のビームが集束する領域で、“ａ，
ｂ，ｃ，ｄ”領域から検出された信号により焦点エラー
を検知する。“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”領域の上・下の
“ｅ”，“ｆ”領域はサブビームから各々分離されたＰ
波とＳ波成分のビームが集束する領域で、“ｅ”領域と
“ｆ”領域から検出された信号の差よりトラッキングエ
ラーを検知する。“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”領域の左右の
“ｉ”と“ｊ”領域はメインビームから分離されたＳ波
とＰ波成分のビームが集束する領域で、“ｉ”領域と
“ｊ”領域から検出された信号により光ディスク７の情
報の有無を判別する。
【０００４】従来の光ピックアップシステムにおいて、
半導体レーザ１から発散されるビームは回折格子２を通
って一つのメインビームＬ１と二つのサブビームＬ２，
Ｌ３にされ、回折格子２を通過した３ビームのうち、Ｓ
波は反射されてコリメーターレンズ３、ＰＢＳ４、反射
ミラー５及び対物レンズ６を通ってＰ波のみがディスク
７に進む。なお、ディスク７から反射される３ビーム
（Ｌ１〜Ｌ３）は各々Ｐ波とＳ波が混合されたビームと
して、ディスク７から反射された３ビームは対物レンズ
６、反射ミラー５とＰＢＳ４を通ってウォラストンプリ
ズム８に入射し、ウォラストンプリズム８を通って各々
Ｐ波とＳ波及びＰ＋Ｓ波に分離され、分離されたビーム
は凹レンズ１０を通って光探知器１１に印加されて集束
する。
半導体レーザ１から発散されるビームは回折格子２を通
って一つのメインビームＬ１と二つのサブビームＬ２，
Ｌ３にされ、回折格子２を通過した３ビームのうち、Ｓ
波は反射されてコリメーターレンズ３、ＰＢＳ４、反射
ミラー５及び対物レンズ６を通ってＰ波のみがディスク
７に進む。なお、ディスク７から反射される３ビーム
（Ｌ１〜Ｌ３）は各々Ｐ波とＳ波が混合されたビームと
して、ディスク７から反射された３ビームは対物レンズ
６、反射ミラー５とＰＢＳ４を通ってウォラストンプリ
ズム８に入射し、ウォラストンプリズム８を通って各々
Ｐ波とＳ波及びＰ＋Ｓ波に分離され、分離されたビーム
は凹レンズ１０を通って光探知器１１に印加されて集束
する。
【０００５】上述した光ピックアップシステムの動作
を、図２乃至図６を参照して以下のように詳細に説明す
る。
を、図２乃至図６を参照して以下のように詳細に説明す
る。
【０００６】光源である半導体レーザ１から発散される
レーザビームは、回折格子２を通って一つのメインビー
ム（main beam)Ｌ１と二つのサブビーム（sub beam）Ｌ
２〜Ｌ３に回折され、メインビームＬ１とサブビームＬ
２〜Ｌ３の３ビームはコリメーターレンズ３により平行
ビームとなってＰＢＳ４に入射する。ＰＢＳ４は、３ビ
ームＬ１〜Ｌ３に対してＳ波を１００％反射させ、Ｐ波
をそれぞれ５０％ずつ反射又は透過させる。従って、Ｐ
ＢＳ４を通ってＳ波は全て反射され且つＰ波は一部透過
するので、ＰＢＳ４を通ってＰ偏光された３ビームＬ１
〜Ｌ３のみが透過して反射ミラー５に入射する。反射ミ
ラー５は、入射した３ビームをディスク７側に反射さ
せ、反射されたビームは対物レンズ６を通って集束して
ディスク７上に集束する。
レーザビームは、回折格子２を通って一つのメインビー
ム（main beam)Ｌ１と二つのサブビーム（sub beam）Ｌ
２〜Ｌ３に回折され、メインビームＬ１とサブビームＬ
２〜Ｌ３の３ビームはコリメーターレンズ３により平行
ビームとなってＰＢＳ４に入射する。ＰＢＳ４は、３ビ
ームＬ１〜Ｌ３に対してＳ波を１００％反射させ、Ｐ波
をそれぞれ５０％ずつ反射又は透過させる。従って、Ｐ
ＢＳ４を通ってＳ波は全て反射され且つＰ波は一部透過
するので、ＰＢＳ４を通ってＰ偏光された３ビームＬ１
〜Ｌ３のみが透過して反射ミラー５に入射する。反射ミ
ラー５は、入射した３ビームをディスク７側に反射さ
せ、反射されたビームは対物レンズ６を通って集束して
ディスク７上に集束する。
【０００７】３ビームＬ１〜Ｌ３は、対物レンズ６によ
りディスク７上に図３に示されたように集束するが、３
ビームの中でメインビームＬ１は情報の読み出し及び焦
点エラーの検出に用いられ、二つのサブビームＬ２〜Ｌ
３はトラッキングエラーの検出に用いられる。３ビーム
はディスク７に記録された情報（ここで、記録された情
報はｐｉｔ情報又は磁化方向によるkerr rotation を意
味する）及びトラッキングエラーの検出に必要な情報を
もってディスク７上から反射される。
りディスク７上に図３に示されたように集束するが、３
ビームの中でメインビームＬ１は情報の読み出し及び焦
点エラーの検出に用いられ、二つのサブビームＬ２〜Ｌ
３はトラッキングエラーの検出に用いられる。３ビーム
はディスク７に記録された情報（ここで、記録された情
報はｐｉｔ情報又は磁化方向によるkerr rotation を意
味する）及びトラッキングエラーの検出に必要な情報を
もってディスク７上から反射される。
【０００８】この際、ディスク７上にはＰ偏光されたビ
ームのみが光ディスク７上に集束するが、ディスク７か
ら反射される平行ビームはディスク７上に情報が記録さ
れているか否かによって異なる。則ち、ディスク７上に
情報が記録されていない場合にはディスク７から反射さ
れる平行ビームにはＳ波成分は含まれずＰ波成分のみが
含まれているが、ディスク７上に情報が記録されている
場合にディスク７から反射される平行ビームはＳ波及び
Ｐ波成分が含まれている混合ビームである。対物レンズ
６を通ってディスク７から反射された平行ビームは、反
射ミラー６により反射されてＰＢＳ４に入射する。ＰＢ
Ｓ４は、入射された平行ビームに対してＳ波は全て反射
させ、且つＰ波のうち５０％は反射させ５０％は透過さ
せる。従って、ディスク７から反射された平行ビームの
うち、Ｓ波成分はＰＢＳ４を通って全て反射されてウォ
ラストンプリズム８に入射し、Ｐ波成分はＰＢＳ４を通
って５０％は透過し５０％は反射されてウォラスストン
プリズム８に入射する。
ームのみが光ディスク７上に集束するが、ディスク７か
ら反射される平行ビームはディスク７上に情報が記録さ
れているか否かによって異なる。則ち、ディスク７上に
情報が記録されていない場合にはディスク７から反射さ
れる平行ビームにはＳ波成分は含まれずＰ波成分のみが
含まれているが、ディスク７上に情報が記録されている
場合にディスク７から反射される平行ビームはＳ波及び
Ｐ波成分が含まれている混合ビームである。対物レンズ
６を通ってディスク７から反射された平行ビームは、反
射ミラー６により反射されてＰＢＳ４に入射する。ＰＢ
Ｓ４は、入射された平行ビームに対してＳ波は全て反射
させ、且つＰ波のうち５０％は反射させ５０％は透過さ
せる。従って、ディスク７から反射された平行ビームの
うち、Ｓ波成分はＰＢＳ４を通って全て反射されてウォ
ラストンプリズム８に入射し、Ｐ波成分はＰＢＳ４を通
って５０％は透過し５０％は反射されてウォラスストン
プリズム８に入射する。
【０００９】ウォラストンプリズム８は、図４に示すよ
うに、ＰＢＳ４を通って入射する平行ビームのうち、メ
インビームＬ１からＳ波、Ｐ波及びＰ＋Ｓ波を分離して
メインビームを３ビームに分離し、サブビームＬ２〜Ｌ
３から各々Ｐ波とＳ波を各々分離する。従って、ＰＢＳ
４から入射する平行ビームはウォラストンプリズム８を
通って５ビームに分離され、結像レンズ９を通って凹レ
ンズ１０に入射する。
うに、ＰＢＳ４を通って入射する平行ビームのうち、メ
インビームＬ１からＳ波、Ｐ波及びＰ＋Ｓ波を分離して
メインビームを３ビームに分離し、サブビームＬ２〜Ｌ
３から各々Ｐ波とＳ波を各々分離する。従って、ＰＢＳ
４から入射する平行ビームはウォラストンプリズム８を
通って５ビームに分離され、結像レンズ９を通って凹レ
ンズ１０に入射する。
【００１０】非点収差を発生させる円環形表面を有する
凹レンズ１０は、結像レンズ８から入射する５ビームら
の開き角度を増加させるとともに、焦点エラーを検出す
るためにメインビームに非点収差を発生させる。凹レン
ズ１０を通過した５ビームは図５に示すように８分割光
探知器１１に集束する。従って、図５の８分割光探知器
１１の各領域に集束する５ビームの形態によってトラッ
キングエラーと焦点エラーを検知し、ディスク７に記録
された情報を検知する。
凹レンズ１０は、結像レンズ８から入射する５ビームら
の開き角度を増加させるとともに、焦点エラーを検出す
るためにメインビームに非点収差を発生させる。凹レン
ズ１０を通過した５ビームは図５に示すように８分割光
探知器１１に集束する。従って、図５の８分割光探知器
１１の各領域に集束する５ビームの形態によってトラッ
キングエラーと焦点エラーを検知し、ディスク７に記録
された情報を検知する。
【００１１】先ず、サブビームによるトラッキングエラ
ーの検知方法は、下記の式（１）のように、３ビームの
検知方法により８分割光探知器１１の“ｅ”領域と
“ｆ”領域の信号差をトラッキングエラー信号（Tracki
ng Error Signal 、ＴＧＳ）として検知する。 ＴＥＳ＝Ｓｅ−Ｓｆ ………（１） ここで、ＳｅとＳｆは各々８分割光探知器の“ｅ”領域
と“ｆ”領域における信号とを示す。
ーの検知方法は、下記の式（１）のように、３ビームの
検知方法により８分割光探知器１１の“ｅ”領域と
“ｆ”領域の信号差をトラッキングエラー信号（Tracki
ng Error Signal 、ＴＧＳ）として検知する。 ＴＥＳ＝Ｓｅ−Ｓｆ ………（１） ここで、ＳｅとＳｆは各々８分割光探知器の“ｅ”領域
と“ｆ”領域における信号とを示す。
【００１２】図６に示すように、ディスク７と対物レン
ズ６との間隔が変化するにつれて、非点収差により８分
割光探知器１１の“ａ”，“ｂ”，“ｃ”及び“ｄ”領
域に集束するビームが変化するが、図６（ａ）は対物レ
ンズ６とディスク７との間隔が適切に保持されて焦点エ
ラーが生じなかった場合の領域“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”にお
けるビームの集束形態を示し、図６（ｂ）は対物レンズ
６とディスク７との間隔が遠くなって焦点エラーが生じ
た場合の、領域“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”におけるビームの集
束形態を示し、図６（ｃ）は対物レンズ６とディスク７
との間隔が近くなって焦点エラーが生じた場合の領域
“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”におけるビームの集束形態を示す。
ズ６との間隔が変化するにつれて、非点収差により８分
割光探知器１１の“ａ”，“ｂ”，“ｃ”及び“ｄ”領
域に集束するビームが変化するが、図６（ａ）は対物レ
ンズ６とディスク７との間隔が適切に保持されて焦点エ
ラーが生じなかった場合の領域“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”にお
けるビームの集束形態を示し、図６（ｂ）は対物レンズ
６とディスク７との間隔が遠くなって焦点エラーが生じ
た場合の、領域“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”におけるビームの集
束形態を示し、図６（ｃ）は対物レンズ６とディスク７
との間隔が近くなって焦点エラーが生じた場合の領域
“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”におけるビームの集束形態を示す。
【００１３】従って、焦点エラー信号ＦＥＳ（Focus Er
ror Signal）は、“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”領域におけるビー
ムの変化による信号差より焦点エラーを検知するが、こ
の焦点エラー信号ＦＥＳは下記の式（２）のように表現
される。 ＦＥＳ＝（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ） ………（２） ここで、Ｓａ，Ｓｃ，Ｓｂ，Ｓｄは、８分割光探知器１
１の“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”における信号を各々示す。前記
式（１）、（２）からも分かるように、トラッキングエ
ラーと焦点エラーが生じないと、トラッキングエラー信
号ＴＥＳは０となり、さらに焦点エラー信号ＦＥＳは０
となる。
ror Signal）は、“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”領域におけるビー
ムの変化による信号差より焦点エラーを検知するが、こ
の焦点エラー信号ＦＥＳは下記の式（２）のように表現
される。 ＦＥＳ＝（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ） ………（２） ここで、Ｓａ，Ｓｃ，Ｓｂ，Ｓｄは、８分割光探知器１
１の“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”における信号を各々示す。前記
式（１）、（２）からも分かるように、トラッキングエ
ラーと焦点エラーが生じないと、トラッキングエラー信
号ＴＥＳは０となり、さらに焦点エラー信号ＦＥＳは０
となる。
【００１４】ディスク７上に記録された情報は、メイン
ビームから分離されたＳ波成分とＰ波成分のビームによ
り８分割光探知器１１の“ｉ”と“ｊ”領域に集束した
ビームにより検知することができるが、光磁気信号（磁
化方向によるkerr rotation)を読み出す場合には下記の
式（３）のように“ｉ”と“ｊ”領域における信号Ｓ
ｉ，Ｓｊの差より情報を検知する。 光情報信号（光磁気信号）＝Ｓｉ−Ｓｊ ………（３）
ビームから分離されたＳ波成分とＰ波成分のビームによ
り８分割光探知器１１の“ｉ”と“ｊ”領域に集束した
ビームにより検知することができるが、光磁気信号（磁
化方向によるkerr rotation)を読み出す場合には下記の
式（３）のように“ｉ”と“ｊ”領域における信号Ｓ
ｉ，Ｓｊの差より情報を検知する。 光情報信号（光磁気信号）＝Ｓｉ−Ｓｊ ………（３）
【００１５】一方、ディスク７に記録された凸凹形状の
ｐｉｔ信号を読み出す場合には下記の式（４）のように
８分割光探知器１１の“ｉ”と“ｊ”領域の光量変化よ
り検知される。 光情報信号（ｐｉｔ信号）＝Ｓｉ＋Ｓｊ ………（４）
ｐｉｔ信号を読み出す場合には下記の式（４）のように
８分割光探知器１１の“ｉ”と“ｊ”領域の光量変化よ
り検知される。 光情報信号（ｐｉｔ信号）＝Ｓｉ＋Ｓｊ ………（４）
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光ピックアップシステムには次のような問題があった。
３ビームによりトラッキングエラーを検知するために
は、半導体レーザ１のレーザビームからサブビームを作
るための回折格子を使用しなければならない。なお、３
ビームにより焦点エラーを検出するために非点収差を使
用するが、非点収差を発生させるためには、製作が難し
く価格が高い円環形の凹レンズを使用する必要があっ
た。
光ピックアップシステムには次のような問題があった。
３ビームによりトラッキングエラーを検知するために
は、半導体レーザ１のレーザビームからサブビームを作
るための回折格子を使用しなければならない。なお、３
ビームにより焦点エラーを検出するために非点収差を使
用するが、非点収差を発生させるためには、製作が難し
く価格が高い円環形の凹レンズを使用する必要があっ
た。
【００１７】それだけではなく、焦点エラー検出用のＰ
波とＳ波が混合されたビームをディスクから反射された
メインビームから分離するために、製作が難しいウォラ
ストンプリズムを使用していた。なお、半導体レーザか
ら発散されるビームの一部をディスクに入射させたり、
あるいは光ディスクから反射されたビームの一部をウォ
ラストンプリズムに入射させるために、製作が難しい５
角形のＰＢＳを使用していた。
波とＳ波が混合されたビームをディスクから反射された
メインビームから分離するために、製作が難しいウォラ
ストンプリズムを使用していた。なお、半導体レーザか
ら発散されるビームの一部をディスクに入射させたり、
あるいは光ディスクから反射されたビームの一部をウォ
ラストンプリズムに入射させるために、製作が難しい５
角形のＰＢＳを使用していた。
【００１８】従って、従来の光ピックアップシステムで
は、光磁気ディスク上に記録された情報を読み出すため
に用いられる光学部品の数が多く、製作が難しくて高価
の部品を使用していたために、光ピックアップシステム
の構造が複雑であるばかりではなく、製造コストが高い
という問題があった。さらに、光学部品の数の増加によ
り光ピックアップシステム自体の重さが増加し、ディス
ク上に記録された情報を読み出すためのアクセスタイム
が増加して情報の読取り速度が低下するという問題があ
った。
は、光磁気ディスク上に記録された情報を読み出すため
に用いられる光学部品の数が多く、製作が難しくて高価
の部品を使用していたために、光ピックアップシステム
の構造が複雑であるばかりではなく、製造コストが高い
という問題があった。さらに、光学部品の数の増加によ
り光ピックアップシステム自体の重さが増加し、ディス
ク上に記録された情報を読み出すためのアクセスタイム
が増加して情報の読取り速度が低下するという問題があ
った。
【００１９】本発明の目的は、２分割ホログラムを用い
た１ビーム方式で、ディスク上に情報を記録したり読み
出したりする光ピックアップシステムを提供することに
ある。
た１ビーム方式で、ディスク上に情報を記録したり読み
出したりする光ピックアップシステムを提供することに
ある。
【００２０】本発明の他の目的は、光学部品の数を減ら
してディスク上に記録された情報の読み取り速度を向上
させることのできる光ピックアップシステムを提供する
ことにある。
してディスク上に記録された情報の読み取り速度を向上
させることのできる光ピックアップシステムを提供する
ことにある。
【００２１】本発明の別の目的は、製造コストを減少さ
せることのできる簡易な構造の光ピックアップシステム
を提供することにある。
せることのできる簡易な構造の光ピックアップシステム
を提供することにある。
【００２２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明によるディスクから情報を読み出したりディ
スクに情報を記録したりすることのできる光ピックアッ
プシステムは、光源として用いられる半導体レーザと、
半導体レーザからのレーザビームのうち、Ｓ偏光された
ビームは全反射させ、且つＰ偏光ビームは一部は反射さ
せ一部は通過させ、そしてディスクから反射されたビー
ムのうち、Ｓ偏光されたビームは全反射させ、且つＰ偏
光されたビームは一部は反射させ一部は透過させる偏光
ビーム分割器と、半導体レーザと偏光ビーム分割器との
間に位置し、半導体レーザから発散されるレーザビーム
を平行ビームとして偏光ビーム分割器に入射させたり偏
光ビーム分割器を透過したディスクから反射されたＰ偏
光されたビームを集束するコリメーターレンズと、偏光
ビーム分割器とディスクとの間に位置し、偏光ビーム分
割器を透過したビームをディスク側に反射させ、且つデ
ィスクから反射されたビームは偏光ビーム分割器の方に
反射させる反射ミラーと、反射ミラーとディスクとの間
に位置し、反射ミラーにより反射されたビームをディス
ク上に集束させたり、ディスクから反射されたビームを
平行ビームにして反射ミラーに入射させる対物レンズ
と、６分割された領域に各々集束するビームの強度に応
じてトラッキングエラーと焦点エラーを検出する６分割
光探知器と、半導体レーザとコリメーターレンズとの間
に位置し、半導体レーザからのレーザビームを回折させ
てコリメーターレンズに入射させたり、偏光ビーム分割
器を透過したＰ偏光されたビームを回折させて６分割光
検出器に集束させるためのホログラム素子と、２分割さ
れた領域に各々集束するビームの強度に応じてディスク
に記録された情報を検出する２分割光探知器と、偏光ビ
ーム分割器と２分割光探知器との間に位置し、偏光ビー
ム分割器からのＰ波とＳ波成分の混合ビームからＰ波と
Ｓ波成分のビームを分離するウォラストンプリズムと、
ウォラストンプリズムから分離されたＰ波とＳ波を２分
割光探知器の２分割された領域に各々集束させる集束レ
ンズとを備えている。
め、本発明によるディスクから情報を読み出したりディ
スクに情報を記録したりすることのできる光ピックアッ
プシステムは、光源として用いられる半導体レーザと、
半導体レーザからのレーザビームのうち、Ｓ偏光された
ビームは全反射させ、且つＰ偏光ビームは一部は反射さ
せ一部は通過させ、そしてディスクから反射されたビー
ムのうち、Ｓ偏光されたビームは全反射させ、且つＰ偏
光されたビームは一部は反射させ一部は透過させる偏光
ビーム分割器と、半導体レーザと偏光ビーム分割器との
間に位置し、半導体レーザから発散されるレーザビーム
を平行ビームとして偏光ビーム分割器に入射させたり偏
光ビーム分割器を透過したディスクから反射されたＰ偏
光されたビームを集束するコリメーターレンズと、偏光
ビーム分割器とディスクとの間に位置し、偏光ビーム分
割器を透過したビームをディスク側に反射させ、且つデ
ィスクから反射されたビームは偏光ビーム分割器の方に
反射させる反射ミラーと、反射ミラーとディスクとの間
に位置し、反射ミラーにより反射されたビームをディス
ク上に集束させたり、ディスクから反射されたビームを
平行ビームにして反射ミラーに入射させる対物レンズ
と、６分割された領域に各々集束するビームの強度に応
じてトラッキングエラーと焦点エラーを検出する６分割
光探知器と、半導体レーザとコリメーターレンズとの間
に位置し、半導体レーザからのレーザビームを回折させ
てコリメーターレンズに入射させたり、偏光ビーム分割
器を透過したＰ偏光されたビームを回折させて６分割光
検出器に集束させるためのホログラム素子と、２分割さ
れた領域に各々集束するビームの強度に応じてディスク
に記録された情報を検出する２分割光探知器と、偏光ビ
ーム分割器と２分割光探知器との間に位置し、偏光ビー
ム分割器からのＰ波とＳ波成分の混合ビームからＰ波と
Ｓ波成分のビームを分離するウォラストンプリズムと、
ウォラストンプリズムから分離されたＰ波とＳ波を２分
割光探知器の２分割された領域に各々集束させる集束レ
ンズとを備えている。
【００２３】
【実施例】図７は、本発明の一実施例による光ピックア
ップシステムの構成を示し、図７（ａ）はディスクの原
点からｘ−ｚ方向における構成、図７（ｂ）はディスク
の原点からｘ−ｙ方向における構成をそれぞれ示してい
る。ここで、ｘ−ｚまたはｘ−ｙ方向はディスクの中心
を原点としたものである。
ップシステムの構成を示し、図７（ａ）はディスクの原
点からｘ−ｚ方向における構成、図７（ｂ）はディスク
の原点からｘ−ｙ方向における構成をそれぞれ示してい
る。ここで、ｘ−ｚまたはｘ−ｙ方向はディスクの中心
を原点としたものである。
【００２４】図７を参照すると、本発明の一実施例によ
る光ピックアップシステムは、ディスク７１、対物レン
ズ７２、アクチュエータ７３、反射ミラー７４、偏光ビ
ーム分割器７５、コリメーターレンズ７６、光源として
用いられる半導体レーザ７７と２分割ホログラム素子７
８及び５分割光探知器７９で構成されたホログラムレー
ザ装置８０、ウォラストンプリズム８１、集束レンズ８
２及び２分割光探知器８３を備えている。
る光ピックアップシステムは、ディスク７１、対物レン
ズ７２、アクチュエータ７３、反射ミラー７４、偏光ビ
ーム分割器７５、コリメーターレンズ７６、光源として
用いられる半導体レーザ７７と２分割ホログラム素子７
８及び５分割光探知器７９で構成されたホログラムレー
ザ装置８０、ウォラストンプリズム８１、集束レンズ８
２及び２分割光探知器８３を備えている。
【００２５】コリメーターレンズ７６は、ホログラムレ
ーザ装置８０の前に位置して、２分割ホログラム素子７
８により回折された半導体レーザ７７のレーザビームを
平行ビームとしたり、平行ビーム分割器７５を透過した
Ｐ偏光ビームを２分割ホログラム素子７８に入射させた
りする役割を果たす。
ーザ装置８０の前に位置して、２分割ホログラム素子７
８により回折された半導体レーザ７７のレーザビームを
平行ビームとしたり、平行ビーム分割器７５を透過した
Ｐ偏光ビームを２分割ホログラム素子７８に入射させた
りする役割を果たす。
【００２６】偏光ビーム分割器７５は、ｙ−ｚ方向では
反射ミラー７４とコリメーターレンズ７６との間に位置
し、コリメーターレンズ７６を通過した平行ビームのう
ち、Ｓ波成分のビームは反射ミラー７４で全反射させ、
且つＰ偏光されたビームは一部は反射ミラー７４で反射
させ一部は通過させる役割を果すとともに、光ディスク
７１から反射された平行ビームのうち、Ｓ偏光されたビ
ームは１００％全反射させ、且つＰ偏光されたビームは
一部は反射させ一部は通過させて反射ミラー７４に入射
させる役割を果たす。なお、偏光ビーム分割器７５は、
ｘ−ｙ方向では反射ミラー７４とウォラストンプリズム
８１との間に位置し、反射ミラー７４を通ってディスク
７１から入射した平行ビームのうち、Ｓ偏光されたビー
ムはウォラストンプリズム８１により１００％全反射さ
せ、且つＰ偏光されたビームの一部（５０％）は通過さ
せ一部（５０％）はウォラストンプリズム８１で反射さ
せる。
反射ミラー７４とコリメーターレンズ７６との間に位置
し、コリメーターレンズ７６を通過した平行ビームのう
ち、Ｓ波成分のビームは反射ミラー７４で全反射させ、
且つＰ偏光されたビームは一部は反射ミラー７４で反射
させ一部は通過させる役割を果すとともに、光ディスク
７１から反射された平行ビームのうち、Ｓ偏光されたビ
ームは１００％全反射させ、且つＰ偏光されたビームは
一部は反射させ一部は通過させて反射ミラー７４に入射
させる役割を果たす。なお、偏光ビーム分割器７５は、
ｘ−ｙ方向では反射ミラー７４とウォラストンプリズム
８１との間に位置し、反射ミラー７４を通ってディスク
７１から入射した平行ビームのうち、Ｓ偏光されたビー
ムはウォラストンプリズム８１により１００％全反射さ
せ、且つＰ偏光されたビームの一部（５０％）は通過さ
せ一部（５０％）はウォラストンプリズム８１で反射さ
せる。
【００２７】反射ミラー７４は、偏光ビーム分割器７５
と対物レンズ７２との間に位置し、偏光ビーム分割器７
４を通過したＰ偏光されたビームを対物レンズ７２を通
ってディスク７１側に反射させ、対物レンズ７３を通っ
てディスク７１から反射されたビームを偏光ビーム分割
器７５に反射させる役割を果たす。ここで、反射ミラー
７４からディスク７１側に反射されるビームはＰ波成分
のみを含むビームであり、ディスク７１から偏光ビーム
分割器７５側に反射されるビームはＰ波とともにディス
ク７１上の情報の有無によってＳ波を含む混合ビームで
ある。
と対物レンズ７２との間に位置し、偏光ビーム分割器７
４を通過したＰ偏光されたビームを対物レンズ７２を通
ってディスク７１側に反射させ、対物レンズ７３を通っ
てディスク７１から反射されたビームを偏光ビーム分割
器７５に反射させる役割を果たす。ここで、反射ミラー
７４からディスク７１側に反射されるビームはＰ波成分
のみを含むビームであり、ディスク７１から偏光ビーム
分割器７５側に反射されるビームはＰ波とともにディス
ク７１上の情報の有無によってＳ波を含む混合ビームで
ある。
【００２８】対物レンズ７２は反射ミラー７４とディス
ク７１との間に位置し、反射ミラー７４を通って反射さ
れた平行ビームをディスク７１上に集束させ、ディスク
７１から反射されたビームを平行ビームとして反射ミラ
ー７４に入射させる役割を果たす。
ク７１との間に位置し、反射ミラー７４を通って反射さ
れた平行ビームをディスク７１上に集束させ、ディスク
７１から反射されたビームを平行ビームとして反射ミラ
ー７４に入射させる役割を果たす。
【００２９】ウォラストンプリズム８１は、偏光ビーム
分割器７５と集束レンズ８２との間に位置し、偏光ビー
ム分割器７５から入射するＳ波とＰ波とが混合されたビ
ームからＰ波成分のビームとＳ波成分のビームに分離し
て集束レンズ８２に入射させる役割を果たす。ここで、
Ｐ波成分のビームとＳ波成分のビームは一定の角度を保
持しながら分離される。従来は、改良ウォラストンプリ
ズムを用いてＳ波とＰ波及びＳ＋Ｐ波を分離したが、本
発明では通常のウォラストンプリズムを用いてＳ波とＰ
波のみを分離するようにする。
分割器７５と集束レンズ８２との間に位置し、偏光ビー
ム分割器７５から入射するＳ波とＰ波とが混合されたビ
ームからＰ波成分のビームとＳ波成分のビームに分離し
て集束レンズ８２に入射させる役割を果たす。ここで、
Ｐ波成分のビームとＳ波成分のビームは一定の角度を保
持しながら分離される。従来は、改良ウォラストンプリ
ズムを用いてＳ波とＰ波及びＳ＋Ｐ波を分離したが、本
発明では通常のウォラストンプリズムを用いてＳ波とＰ
波のみを分離するようにする。
【００３０】集束レンズ８２は、ウォラストンプリズム
８１と２分割光探知器８３との間に位置し、ウォラスト
ンプリズム８１から分離されたＰ波成分のビームとＳ波
成分のビームを２分割光探知器８３上に集束させる役割
を果たす。集束レンズ８２の後に位置した２分割光探知
器８３には、集束レンズ８２を通ってウォラストンプリ
ズム８１から入射するＳ波成分のビームとＰ波成分のビ
ームが集束し、２分割光探知器８３上に集束したビーム
を検知してディスクに記録された情報を検知する。
８１と２分割光探知器８３との間に位置し、ウォラスト
ンプリズム８１から分離されたＰ波成分のビームとＳ波
成分のビームを２分割光探知器８３上に集束させる役割
を果たす。集束レンズ８２の後に位置した２分割光探知
器８３には、集束レンズ８２を通ってウォラストンプリ
ズム８１から入射するＳ波成分のビームとＰ波成分のビ
ームが集束し、２分割光探知器８３上に集束したビーム
を検知してディスクに記録された情報を検知する。
【００３１】ホログラムレーザ装置（hologram laser u
nit)８０は、光源として用いられる半導体レーザ７７と
２分割ホログラム素子７８及び６分割光探知器７９から
なり、コリメーターレンズ７６の後に位置する。半導体
レーザ７７から発散するビームが前記偏光ビーム分割器
７５に入射するとＰ偏光されるように、半導体レーザ１
は活性層がｘｙ平面に平行になるように構成される。２
分割ホログラム素子７８は、半導体レーザ７７から発散
されるビームを回折させてコリメーターレンズ７６に入
射させたり、コリメーターレンズ７６を通って集束した
ディスク７１からのＰ偏光されたビームを回折させて非
点収差を発生させる役割を果たす。６分割光探知器７９
は、２分割ホログラム素子７８により回折されたビーム
が集束するところであり、６分割光探知器７９により集
束したビームによりエラー信号を検出する。
nit)８０は、光源として用いられる半導体レーザ７７と
２分割ホログラム素子７８及び６分割光探知器７９から
なり、コリメーターレンズ７６の後に位置する。半導体
レーザ７７から発散するビームが前記偏光ビーム分割器
７５に入射するとＰ偏光されるように、半導体レーザ１
は活性層がｘｙ平面に平行になるように構成される。２
分割ホログラム素子７８は、半導体レーザ７７から発散
されるビームを回折させてコリメーターレンズ７６に入
射させたり、コリメーターレンズ７６を通って集束した
ディスク７１からのＰ偏光されたビームを回折させて非
点収差を発生させる役割を果たす。６分割光探知器７９
は、２分割ホログラム素子７８により回折されたビーム
が集束するところであり、６分割光探知器７９により集
束したビームによりエラー信号を検出する。
【００３２】図８は、本発明の光ピックアップシステム
を構成するホログラムモジュールの構成図であり、図９
はホログラムによる非点収差を説明するための図であ
る。
を構成するホログラムモジュールの構成図であり、図９
はホログラムによる非点収差を説明するための図であ
る。
【００３３】２分割ホログラム素子７８は、二つの半円
形のホログラムＨ１，Ｈ２で構成され、二つのホログラ
ムＨ１，Ｈ２の参照光の位置はレーザダイオードの発光
点とする。なお、ホログラムＨ１，Ｈ２の物体光の位置
は、図９のようにｙとｚ方向の各々の集束点Ｆ１，Ｆ２
とし、二つの集束点Ｆ１とＦ２との間に円形とビームが
形成される位置Ｑ１にホログラムＨ１によるビームが集
束し、位置Ｑ２にホログラムＨ２によるビームが集束す
るようにする。
形のホログラムＨ１，Ｈ２で構成され、二つのホログラ
ムＨ１，Ｈ２の参照光の位置はレーザダイオードの発光
点とする。なお、ホログラムＨ１，Ｈ２の物体光の位置
は、図９のようにｙとｚ方向の各々の集束点Ｆ１，Ｆ２
とし、二つの集束点Ｆ１とＦ２との間に円形とビームが
形成される位置Ｑ１にホログラムＨ１によるビームが集
束し、位置Ｑ２にホログラムＨ２によるビームが集束す
るようにする。
【００３４】従って、図１１に示されたように、二つの
集束点Ｆ１とＦ２との間に、ビームが形成される位置で
あるＱ１とＱ２に６分割された光探知器７９を位置させ
ると、図１０に示されたように２分割ホログラム素子７
８のホログラムＨ１，Ｈ２の回折により６分割光探知器
７９上にビームが集束する。この際、ホログラムＨ１，
Ｈ２により６分割光探知器７９上に集束するビームは、
図８乃至図１０に示すように距離ｄだけ離れて集束する
ようにする。ホログラムＨ１，Ｈ２により集束するビー
ム間の距離ｄは、図１１に示すように６分割光探知器７
９のＰＤ１，ＰＤ２，ＰＤ６の領域とＰＤ３，ＰＤ４，
ＰＤ５の領域を分ける分割線の線幅ｄと同様になるよう
にする。前記の６分割光探知器７９は図１１のように正
方形の大きさを対角線の方向に４等分、ｚ方向に２等分
して６分割された領域にする。
集束点Ｆ１とＦ２との間に、ビームが形成される位置で
あるＱ１とＱ２に６分割された光探知器７９を位置させ
ると、図１０に示されたように２分割ホログラム素子７
８のホログラムＨ１，Ｈ２の回折により６分割光探知器
７９上にビームが集束する。この際、ホログラムＨ１，
Ｈ２により６分割光探知器７９上に集束するビームは、
図８乃至図１０に示すように距離ｄだけ離れて集束する
ようにする。ホログラムＨ１，Ｈ２により集束するビー
ム間の距離ｄは、図１１に示すように６分割光探知器７
９のＰＤ１，ＰＤ２，ＰＤ６の領域とＰＤ３，ＰＤ４，
ＰＤ５の領域を分ける分割線の線幅ｄと同様になるよう
にする。前記の６分割光探知器７９は図１１のように正
方形の大きさを対角線の方向に４等分、ｚ方向に２等分
して６分割された領域にする。
【００３５】本発明の光ピックアップシステムには二つ
の光探知器が用いられるが、６分割光探知器７９は焦点
エラー及びトラッキングエラーを検知するのに用いられ
るもので、ＰＤ１〜ＰＤ６領域に集束したビームにより
焦点エラー及びトラッキングエラーを検知する。２分割
光探知器８３は、ディスク７１上に記録された情報の有
無を検知するのに用いられるもので、ＰＤ７とＰＤ８領
域に集束したビームによりディスク７１上の情報を検知
する。
の光探知器が用いられるが、６分割光探知器７９は焦点
エラー及びトラッキングエラーを検知するのに用いられ
るもので、ＰＤ１〜ＰＤ６領域に集束したビームにより
焦点エラー及びトラッキングエラーを検知する。２分割
光探知器８３は、ディスク７１上に記録された情報の有
無を検知するのに用いられるもので、ＰＤ７とＰＤ８領
域に集束したビームによりディスク７１上の情報を検知
する。
【００３６】上述したような構成を有する本発明の実施
例による光ピックアップシステムの動作を、図８乃至図
１２を参照して説明する。
例による光ピックアップシステムの動作を、図８乃至図
１２を参照して説明する。
【００３７】半導体レーザ７７から発散するレーザビー
ムは、２分割ホログラム素子７８を通過すると、０次、
＋１次、−１次回折ビームが発生する。ただし、０次回
折ビームのみがホログラム素子７８を通過してコリメー
ターレンズ７６に入射する。コリメーターレンズ７６に
入射した０次回折ビームは、平行ビームとなって偏光ビ
ーム分割器７５に入射し、偏光ビーム分割器７５は入射
する偏光ビームのうち、Ｐ波成分のビームのみを５０％
透過させて反射ミラー７４に入射させる。反射ミラー７
４は、入射するＰ波成分のビームを反射させてビームの
進行方向をディスク７１側に変える。反射ミラー７４を
通って反射されたビームは、対物レンズ７２によりディ
スク７１上に集束する。ディスク７１上に集束したビー
ムは、ディスク７１上から反射されて対物レンズ７２を
通って平行ビームとなる。この際、ディスク７１から反
射されるビームは、Ｐ波とＳ波が混合されたビームであ
る。
ムは、２分割ホログラム素子７８を通過すると、０次、
＋１次、−１次回折ビームが発生する。ただし、０次回
折ビームのみがホログラム素子７８を通過してコリメー
ターレンズ７６に入射する。コリメーターレンズ７６に
入射した０次回折ビームは、平行ビームとなって偏光ビ
ーム分割器７５に入射し、偏光ビーム分割器７５は入射
する偏光ビームのうち、Ｐ波成分のビームのみを５０％
透過させて反射ミラー７４に入射させる。反射ミラー７
４は、入射するＰ波成分のビームを反射させてビームの
進行方向をディスク７１側に変える。反射ミラー７４を
通って反射されたビームは、対物レンズ７２によりディ
スク７１上に集束する。ディスク７１上に集束したビー
ムは、ディスク７１上から反射されて対物レンズ７２を
通って平行ビームとなる。この際、ディスク７１から反
射されるビームは、Ｐ波とＳ波が混合されたビームであ
る。
【００３８】対物レンズ７２を通過した平行ビームは、
反射ミラー７４により反射されて偏光ビーム分割器７５
に入射する。もし、ディスク７１に情報が記録されてあ
れば、偏光ビーム分割器７５に入射する平行ビームにＰ
波成分とともにＳ波成分が含まれており、ディスクに情
報が含まれていなければ、Ｓ波成分が含まれていないの
で平行ビームははＰ波のみが存在することになる。
反射ミラー７４により反射されて偏光ビーム分割器７５
に入射する。もし、ディスク７１に情報が記録されてあ
れば、偏光ビーム分割器７５に入射する平行ビームにＰ
波成分とともにＳ波成分が含まれており、ディスクに情
報が含まれていなければ、Ｓ波成分が含まれていないの
で平行ビームははＰ波のみが存在することになる。
【００３９】偏光ビーム分割器７５に入射する平行ビー
ムのうち、Ｓ波成分のビームは偏光ビーム分割器７５を
通って１００％全反射されてウォラストンプリズム８１
に入射する。なお、偏光ビーム分割器７５に入射する平
行ビームのうち、Ｐ波成分のビームは５０％は透過して
コリメーターレンズ７６に入射し、５０％は反射されて
ウォラストンプリズム８１に入射する。ウォラストンプ
リズム８１には１００％反射されたＳ波成分と５０％反
射されたＰ波成分とが混合された混合ビームが入射し、
ウォラストンプリズム８１は入射した混合ビームから図
１２のように互いに一定の角度を保持するＰ波成分のビ
ームとＳ波成分のビームとに分離される。本発明では、
Ｓ＋Ｐ波が混合されたビームを用いて焦点エラーを検出
するのではないため、従来のように改良ウォラストンプ
リズムによるＰ＋Ｓ波の分離が要求されない。従って、
本発明では通常のウォラストンプリズム８１を使用して
互いに一定の角度を保持するＰ波とＳ波のみを分離する
ことになる。
ムのうち、Ｓ波成分のビームは偏光ビーム分割器７５を
通って１００％全反射されてウォラストンプリズム８１
に入射する。なお、偏光ビーム分割器７５に入射する平
行ビームのうち、Ｐ波成分のビームは５０％は透過して
コリメーターレンズ７６に入射し、５０％は反射されて
ウォラストンプリズム８１に入射する。ウォラストンプ
リズム８１には１００％反射されたＳ波成分と５０％反
射されたＰ波成分とが混合された混合ビームが入射し、
ウォラストンプリズム８１は入射した混合ビームから図
１２のように互いに一定の角度を保持するＰ波成分のビ
ームとＳ波成分のビームとに分離される。本発明では、
Ｓ＋Ｐ波が混合されたビームを用いて焦点エラーを検出
するのではないため、従来のように改良ウォラストンプ
リズムによるＰ＋Ｓ波の分離が要求されない。従って、
本発明では通常のウォラストンプリズム８１を使用して
互いに一定の角度を保持するＰ波とＳ波のみを分離する
ことになる。
【００４０】ウォラストンプリズムにより分離されたビ
ームは、集束レンズ８２により２分割光探知器８３上に
集束する。２分割光探知器８３上に集束したビームによ
りディスク７１上に記録された情報を読み取るが、ディ
スク７１上に記録された情報が光磁気信号である場合
（磁化方向によるkerr rotation)には、２分割光探知器
１２の２分割された領域（ＰＤ７，ＰＤ８）の信号の差
より検知する。これを式で表わすと、下記の式（５）の
ようになる。 光情報信号（光磁気信号）＝Ｓ７−Ｓ８ ………（５） ここで、Ｓ７とＳ８は２分割光探知器８３のＰＤ７とＰ
Ｄ８領域における電気的な信号を示す。ディスク７１に
記録された凸凹形状の光情報信号（ｐｉｔ信号）の場合
には、下記の式（６）のように光量変化により検知され
る。 光情報信号（ｐｉｔ信号）＝Ｓ７＋Ｓ８ ………（６） トラッキングエラーと焦点エラーの補正動作について説
明する。
ームは、集束レンズ８２により２分割光探知器８３上に
集束する。２分割光探知器８３上に集束したビームによ
りディスク７１上に記録された情報を読み取るが、ディ
スク７１上に記録された情報が光磁気信号である場合
（磁化方向によるkerr rotation)には、２分割光探知器
１２の２分割された領域（ＰＤ７，ＰＤ８）の信号の差
より検知する。これを式で表わすと、下記の式（５）の
ようになる。 光情報信号（光磁気信号）＝Ｓ７−Ｓ８ ………（５） ここで、Ｓ７とＳ８は２分割光探知器８３のＰＤ７とＰ
Ｄ８領域における電気的な信号を示す。ディスク７１に
記録された凸凹形状の光情報信号（ｐｉｔ信号）の場合
には、下記の式（６）のように光量変化により検知され
る。 光情報信号（ｐｉｔ信号）＝Ｓ７＋Ｓ８ ………（６） トラッキングエラーと焦点エラーの補正動作について説
明する。
【００４１】まず、焦点エラー補正に対して説明する
と、偏光ビーム分割器７５を透過した５０％のＰ波成分
のビームはコリメーターレンズ７６及びホログラム素子
７８を通って集束及び回折されて焦点エラーとトラッキ
ングエラーを検知するのに用いられる。これをより詳し
く説明すると、偏光ビーム分割器７５を透過したＰ波成
分のビームはコリメーターレンズ７６により半導体レー
ザ７７の発光面上に集束し、集束するビームが半導体レ
ーザ７７と対物レンズ７６との間に位置するホログラム
素子７８に入射すると、ホログラム素子７８に入射する
ビームはホログラム素子７８の二つのホログラムＨ１，
Ｈ２の参照光の役割を果たす。
と、偏光ビーム分割器７５を透過した５０％のＰ波成分
のビームはコリメーターレンズ７６及びホログラム素子
７８を通って集束及び回折されて焦点エラーとトラッキ
ングエラーを検知するのに用いられる。これをより詳し
く説明すると、偏光ビーム分割器７５を透過したＰ波成
分のビームはコリメーターレンズ７６により半導体レー
ザ７７の発光面上に集束し、集束するビームが半導体レ
ーザ７７と対物レンズ７６との間に位置するホログラム
素子７８に入射すると、ホログラム素子７８に入射する
ビームはホログラム素子７８の二つのホログラムＨ１，
Ｈ２の参照光の役割を果たす。
【００４２】従って、図９のようにホログラムＨ１，Ｈ
２の物体光の位置であるｙとｚ方向の集束点Ｆ１とＦ２
に集束するビームが再生される。よって、二つの集束点
Ｆ１とＦ２との間で円形とビームが形成されるＱ１とＱ
２の位置に６分割光探知器７９を設けると、再生される
ビームは前記の図８乃至図１０で説明したように６分割
光探知器７９により感知されることにより、焦点エラー
とトラッキングエラーの検知に必要な信号を発生する。
則ち、ホログラム素子７８の二つのホログラムＨ１，Ｈ
２に、上述のようにコリメーターレンズ７６によりビー
ムが集束すると、集束ビームはホログラムＨ１により６
分割光探知器７９の−Ｙ方向の位置Ｑ１に回折及び集束
するとともに、ホログラムＨ２により６分割光探知器７
９の＋Ｙ方向の位置Ｑ２に回折及び集束する。
２の物体光の位置であるｙとｚ方向の集束点Ｆ１とＦ２
に集束するビームが再生される。よって、二つの集束点
Ｆ１とＦ２との間で円形とビームが形成されるＱ１とＱ
２の位置に６分割光探知器７９を設けると、再生される
ビームは前記の図８乃至図１０で説明したように６分割
光探知器７９により感知されることにより、焦点エラー
とトラッキングエラーの検知に必要な信号を発生する。
則ち、ホログラム素子７８の二つのホログラムＨ１，Ｈ
２に、上述のようにコリメーターレンズ７６によりビー
ムが集束すると、集束ビームはホログラムＨ１により６
分割光探知器７９の−Ｙ方向の位置Ｑ１に回折及び集束
するとともに、ホログラムＨ２により６分割光探知器７
９の＋Ｙ方向の位置Ｑ２に回折及び集束する。
【００４３】ホログラムＨ１，Ｈ２により、６分割光探
知器７９には図１１のようにビームが集束するが、焦点
エラーのない場合には図１１（ａ）のように６分割光探
知器７９上にビームが円形に形成されて、領域ＰＤ１、
領域ＰＤ４、領域ＰＤ２＋ＰＤ３及び領域ＰＤ５＋ＰＤ
６に各々入射する光量はすべて同一になる。ディスク７
１と対物レンズ７２が近くなると、図１１（ｂ）のよう
にビームがｚ方向に集束してｙ方向に長いビームに変わ
る。従って、領域ＰＤ１又は領域ＰＤ４に入射する光量
は領域ＰＤ２＋ＰＤ３又は領域ＰＤ５＋ＰＤ６に入射す
る光量より大きくなり、これに反して、図１１（ｃ）の
ようにディスク７１と対物レンズ７２との間隔が遠くな
ればビームはｙ方向に集束してｚ方向に長いビームに変
わって領域（ＰＤ２＋ＰＤ３）又は領域（ＰＤ５＋ＰＤ
６）に入射する光量が領域（ＰＤ１）又は領域（ＰＤ
４）に入射する光量より大きくなる。
知器７９には図１１のようにビームが集束するが、焦点
エラーのない場合には図１１（ａ）のように６分割光探
知器７９上にビームが円形に形成されて、領域ＰＤ１、
領域ＰＤ４、領域ＰＤ２＋ＰＤ３及び領域ＰＤ５＋ＰＤ
６に各々入射する光量はすべて同一になる。ディスク７
１と対物レンズ７２が近くなると、図１１（ｂ）のよう
にビームがｚ方向に集束してｙ方向に長いビームに変わ
る。従って、領域ＰＤ１又は領域ＰＤ４に入射する光量
は領域ＰＤ２＋ＰＤ３又は領域ＰＤ５＋ＰＤ６に入射す
る光量より大きくなり、これに反して、図１１（ｃ）の
ようにディスク７１と対物レンズ７２との間隔が遠くな
ればビームはｙ方向に集束してｚ方向に長いビームに変
わって領域（ＰＤ２＋ＰＤ３）又は領域（ＰＤ５＋ＰＤ
６）に入射する光量が領域（ＰＤ１）又は領域（ＰＤ
４）に入射する光量より大きくなる。
【００４４】焦点エラー信号（ＦＥＳ）は、下記の式
（７）により得られる。 ＦＥＳ＝（Ｓ１＋Ｓ４）−（Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ５＋Ｓ６） ………（７） ここで、Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４，Ｓ５，Ｓ６は、６分
割光探知器７９のＰＤ１，ＰＤ２，ＰＤ３，ＰＤ４，Ｐ
Ｄ５，ＰＤ６領域における信号を各々示す。
（７）により得られる。 ＦＥＳ＝（Ｓ１＋Ｓ４）−（Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ５＋Ｓ６） ………（７） ここで、Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４，Ｓ５，Ｓ６は、６分
割光探知器７９のＰＤ１，ＰＤ２，ＰＤ３，ＰＤ４，Ｐ
Ｄ５，ＰＤ６領域における信号を各々示す。
【００４５】焦点エラーが生じない場合には、図１１
（ａ）のように６分割光探知器７９の領域ＰＤ１又はＰ
Ｄ４に入射する光量と領域ＰＤ２＋ＰＤ３又はＰＤ５＋
ＰＤ６に入射する光量とが同一なので、上記式（７）に
おいてＦＥＳ＝０となる。ディスク７１と対物レンズ７
２との間隔が近い場合には、図１１（ｂ）のように６分
割光探知器７９の領域ＰＤ１又はＰＤ４に入射する光量
が領域ＰＤ２＋ＰＤ３又はＰＤ５＋ＰＤ６に入射する光
量より大きくなるので、ディスク７１と対物レンズ７２
との間隔が近い場合には焦点エラーＦＥＳ＞０となる。
ディスク７１と対物レンズ７２との間隔が遠い場合に
は、図１１（ｃ）のように領域ＰＤ２＋ＰＤ３又はＰＤ
５＋ＰＤ６に入射する光量が領域ＰＤ１又はＰＤ４に入
射する光量より大きくなるので、ディスク７１と対物レ
ンズ７２との間隔が遠い場合には焦点エラーＦＥＳ＜０
となる。このようにディスク７１と対物レンズ７２との
間隔が不適であって焦点エラーが生じる場合には焦点エ
ラー信号ＦＥＳに応じてアクチュエータ７３を用いて対
物レンズ７２を上下に動かすことにより、焦点エラーを
補正することができる。
（ａ）のように６分割光探知器７９の領域ＰＤ１又はＰ
Ｄ４に入射する光量と領域ＰＤ２＋ＰＤ３又はＰＤ５＋
ＰＤ６に入射する光量とが同一なので、上記式（７）に
おいてＦＥＳ＝０となる。ディスク７１と対物レンズ７
２との間隔が近い場合には、図１１（ｂ）のように６分
割光探知器７９の領域ＰＤ１又はＰＤ４に入射する光量
が領域ＰＤ２＋ＰＤ３又はＰＤ５＋ＰＤ６に入射する光
量より大きくなるので、ディスク７１と対物レンズ７２
との間隔が近い場合には焦点エラーＦＥＳ＞０となる。
ディスク７１と対物レンズ７２との間隔が遠い場合に
は、図１１（ｃ）のように領域ＰＤ２＋ＰＤ３又はＰＤ
５＋ＰＤ６に入射する光量が領域ＰＤ１又はＰＤ４に入
射する光量より大きくなるので、ディスク７１と対物レ
ンズ７２との間隔が遠い場合には焦点エラーＦＥＳ＜０
となる。このようにディスク７１と対物レンズ７２との
間隔が不適であって焦点エラーが生じる場合には焦点エ
ラー信号ＦＥＳに応じてアクチュエータ７３を用いて対
物レンズ７２を上下に動かすことにより、焦点エラーを
補正することができる。
【００４６】次に、本発明によるトラッキングエラー補
正について説明する。トラッキングエラー信号は、下記
の式（８）により得られる。 ＴＥＳ＝（Ｓ１＋Ｓ２＋Ｓ６）−（Ｓ３＋Ｓ４＋Ｓ５） ………（８）
正について説明する。トラッキングエラー信号は、下記
の式（８）により得られる。 ＴＥＳ＝（Ｓ１＋Ｓ２＋Ｓ６）−（Ｓ３＋Ｓ４＋Ｓ５） ………（８）
【００４７】２分割ホログラム素子の境界線がディスク
トラックの接線方向と同じので、ディスクに集束するビ
ームがトラックの内側（ディスクの中心側）に偏ってい
ると、ディスクの内側に位置しているホログラムＨ１が
ディスクの外側に位置したホログラムＨ２よりもっと多
くの光量を受けることになり、結局、領域ＰＤ１＋ＰＤ
２＋ＰＤ６が受けるビームの強さが領域ＰＤ３＋ＰＤ４
＋ＰＤ５が受けるビームの強さより大きくなる。従っ
て、前記の式（８）から集束ビームがトラックの内側に
偏っている場合には、トラックエラー信号ＴＥＳ＞０と
なる。これに反して、ディスク７１に集束するビームが
トラックの外側に偏っていると、ビームがトラックの内
側に偏っている場合とは反対の現象が生じて領域ＰＤ１
＋ＰＤ２＋ＰＤ６が受けるビームの強さが領域ＰＤ３＋
ＰＤ４＋ＰＤ５が受けるビームの強さより小さくなるの
で、トラックエラー信号ＴＥＳ＜０となる。従って、ト
ラックエラーが生じる場合にはアクチュエータ７３を用
いて対物レンズ７２を左右に動かすことにより、トラッ
キングエラーを補正する。このように本発明の光ピック
アップシステムはトラッキングエラー及び焦点エラーを
補正し、ディスクに記録された情報を正確に読み出すこ
とができる。
トラックの接線方向と同じので、ディスクに集束するビ
ームがトラックの内側（ディスクの中心側）に偏ってい
ると、ディスクの内側に位置しているホログラムＨ１が
ディスクの外側に位置したホログラムＨ２よりもっと多
くの光量を受けることになり、結局、領域ＰＤ１＋ＰＤ
２＋ＰＤ６が受けるビームの強さが領域ＰＤ３＋ＰＤ４
＋ＰＤ５が受けるビームの強さより大きくなる。従っ
て、前記の式（８）から集束ビームがトラックの内側に
偏っている場合には、トラックエラー信号ＴＥＳ＞０と
なる。これに反して、ディスク７１に集束するビームが
トラックの外側に偏っていると、ビームがトラックの内
側に偏っている場合とは反対の現象が生じて領域ＰＤ１
＋ＰＤ２＋ＰＤ６が受けるビームの強さが領域ＰＤ３＋
ＰＤ４＋ＰＤ５が受けるビームの強さより小さくなるの
で、トラックエラー信号ＴＥＳ＜０となる。従って、ト
ラックエラーが生じる場合にはアクチュエータ７３を用
いて対物レンズ７２を左右に動かすことにより、トラッ
キングエラーを補正する。このように本発明の光ピック
アップシステムはトラッキングエラー及び焦点エラーを
補正し、ディスクに記録された情報を正確に読み出すこ
とができる。
【００４８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ピック
アップシステムによれば、２分割ホログラムを使用して
非点収差及びプッシュプル（push-pull)方法を混用した
１ビーム方式で信号を検知することにより、従来の光ピ
ックアップシステムで用いる３ビーム用回折格子を使用
しなくても焦点及びトラッキングエラー信号を正確に検
出することができ、ディスク上に記録された光磁気信号
または光情報（ｐｉｔ）信号を正確に検出することがで
きるという利点がある。さらに、回折格子又は門レンズ
を使用しないため光学部品の数を減らすことができるば
かりでなく、従来のものより製作の容易な偏光ビーム分
割器とウォラストンプリズムとを使用することにより、
光ピックアップシステムの構造を単純化できるばかりで
なく、製造コストを低減することができる。
アップシステムによれば、２分割ホログラムを使用して
非点収差及びプッシュプル（push-pull)方法を混用した
１ビーム方式で信号を検知することにより、従来の光ピ
ックアップシステムで用いる３ビーム用回折格子を使用
しなくても焦点及びトラッキングエラー信号を正確に検
出することができ、ディスク上に記録された光磁気信号
または光情報（ｐｉｔ）信号を正確に検出することがで
きるという利点がある。さらに、回折格子又は門レンズ
を使用しないため光学部品の数を減らすことができるば
かりでなく、従来のものより製作の容易な偏光ビーム分
割器とウォラストンプリズムとを使用することにより、
光ピックアップシステムの構造を単純化できるばかりで
なく、製造コストを低減することができる。
【図１】従来の光ピックアップシステムの構成を示した
説明図。
説明図。
【図２】図１の光ピックアップシステムを構成する８分
割光探知器の構造を示した説明図。
割光探知器の構造を示した説明図。
【図３】図１の光ピックアップシステムにおいて、ディ
スク上における３ビームの集束形態を示した説明図。
スク上における３ビームの集束形態を示した説明図。
【図４】図１の改良ウォラストンプリズムを通過したメ
インビームからのＳ波とＰ波の分離を示した説明図。
インビームからのＳ波とＰ波の分離を示した説明図。
【図５】図１の８分割光探知器上における５ビームの集
束形態を示した説明図。
束形態を示した説明図。
【図６】図１の光ピックアップシステムにおいて、ディ
スクと対物レンズとの間隔の変化がもたらす光探知器上
におけるビームの集束形態図であって、（ａ）は焦点エ
ラーが生じない場合のビームの集束図、（ｂ）及び
（ｃ）は焦点エラーが生じた場合のビームの集束図。
スクと対物レンズとの間隔の変化がもたらす光探知器上
におけるビームの集束形態図であって、（ａ）は焦点エ
ラーが生じない場合のビームの集束図、（ｂ）及び
（ｃ）は焦点エラーが生じた場合のビームの集束図。
【図７】本発明の一実施例による光ピックアップシステ
ムの構成を示した説明図。
ムの構成を示した説明図。
【図８】本発明の一実施例による光ピックアップシステ
ムで用いられるホログラムレーザ装置の構成を示した説
明図。
ムで用いられるホログラムレーザ装置の構成を示した説
明図。
【図９】本発明の一実施例による光ピックアップシステ
ムにおいて、ホログラムによる非点収差の発生を示した
説明図。
ムにおいて、ホログラムによる非点収差の発生を示した
説明図。
【図１０】本発明の一実施例による光ピックアップシス
テムにおいて、ホログラムによるレーザビームの回折を
示した説明図。
テムにおいて、ホログラムによるレーザビームの回折を
示した説明図。
【図１１】本発明の一実施例による光ピックアップシス
テムにおいて、対物レンズとディスクとの間隔の変化が
もたらす６分割光探知器上におけるレーザビームの集束
形態図であって、（ａ）は焦点エラーが生じない場合の
ビーム集束を示した説明図、（ｂ）はディスクと対物レ
ンズとの間隔が近い場合のビーム集束を示した説明図、
（ｃ）はディスクと対物レンズとの間隔が遠い場合のビ
ーム集束を示した説明図。
テムにおいて、対物レンズとディスクとの間隔の変化が
もたらす６分割光探知器上におけるレーザビームの集束
形態図であって、（ａ）は焦点エラーが生じない場合の
ビーム集束を示した説明図、（ｂ）はディスクと対物レ
ンズとの間隔が近い場合のビーム集束を示した説明図、
（ｃ）はディスクと対物レンズとの間隔が遠い場合のビ
ーム集束を示した説明図。
【図１２】本発明の一実施例による光ピックアップシス
テムにおいて、一般的なウォラストンプリズムによるＳ
波とＰ波の分離を示した説明図。
テムにおいて、一般的なウォラストンプリズムによるＳ
波とＰ波の分離を示した説明図。
７１ ディスク ７２ 対物レンズ ７３ アクチュエータ ７４ 反射ミラー ７５ 偏光ビーム分割器 ７６ コリメーターレンズ ７７ 半導体レーザ ７８ ２分割ホログラム素子 ７９ ６分割光探知器 ８０ ホログラムレーザ装置 ８１ ウォラストンプリズム ８２ 集束レンズ ８３ ２分割光探知器
Claims (11)
- 【請求項１】ディスクから情報を読み出したりディスク
に情報を記録したりすることの出来る光ピックアップシ
ステムにおいて、 光源として用いられる半導体レーザと、 前記半導体レーザからのレーザビームのうち、Ｓ偏光さ
れたビームは全反射させ、且つＰ偏光ビームの一部は反
射させ一部は通過させ、そしてディスクから反射された
ビームのうち、Ｓ偏光されたビームは全反射させ、且つ
Ｐ偏光されたビームの一部は反射させ一部は透過させる
偏光ビーム分割器と、 前記半導体レーザと前記偏光ビーム分割器との間に位置
し、前記半導体レーザから発散されるレーザビームを平
行ビームとして前記偏光ビーム分割器に入射させたり前
記偏光ビーム分割器を透過したディスクから反射された
Ｐ偏光されたビームを集束するコリメーターレンズと、 前記偏光ビーム分割器とディスクとの間に位置し、前記
偏光ビーム分割器を透過したビームをディスク側に反射
させ、且つディスクから反射されたビームは前記偏光ビ
ーム分割器の方に反射させる反射ミラーと、 前記反射ミラーとディスクとの間に位置し、前記反射ミ
ラーにより反射されたビームをディスク上に集束させ、
ディスクから反射されたビームを平行ビームにして前記
反射ミラーに入射させる対物レンズと、 ６分割された領域に各々集束するビームの強度に応じて
トラッキングエラーと焦点エラーとを検出する６分割光
探知器と、 前記半導体レーザと前記コリメーターレンズとの間に位
置し、前記半導体レーザからのレーザビームを回折させ
て前記コリメーターレンズに入射させ、前記偏光ビーム
分割器を透過したＰ偏光されたビームを回折させて前記
６分割光検出器に集束させるホログラム素子と、 ２分割された領域に各々集束するビームの強度に応じて
ディスクに記録された情報を検出する２分割光探知器
と、 前記偏光ビーム分割器と前記２分割光探知器との間に位
置し、前記偏光ビーム分割器からのＰ波とＳ波成分の混
合ビームからＰ波とＳ波成分のビームを分離するウォラ
ストンプリズムと、 前記ウォラストンプリズムから分離されたＰ波とＳ波を
前記２分割光探知器の２分割された領域に各々集束させ
る集束レンズと、を含むことを特徴とする光ピックアッ
プシステム。 - 【請求項２】焦点エラー信号又はトラッキングエラー信
号を補正するために、前記対物レンズを上・下、又は左
・右に移動させるためのアクチュエータをさらに含むこ
とを特徴とする請求項１記載の光ピックアップシステ
ム。 - 【請求項３】ディスク面をｘｙ平面とし、前記ディスク
の上部の垂直方向をｚ軸とする場合、前記半導体レーザ
から発散するビームが前記偏光ビーム分割器に入射する
とき、偏光がＰ偏光となるように前記半導体レーザの活
性層がｘｙ平面に平行することを特徴とする請求項１記
載の光ピックアップシステム。 - 【請求項４】前記ウォラストンプリズムからのＰ波とＳ
波成分のビームは一定の角度を保持して分離されること
を特徴とする請求項１記載の光ピックアップシステム。 - 【請求項５】前記ホログラム素子は二つの半円形のホロ
グラムで構成されることを特徴とする請求項１記載の光
ピックアップシステム。 - 【請求項６】ディスク面をｘｙ平面とし、前記ディスク
の上部の垂直方向をｚ軸とする場合、二つのホログラム
の参照光の位置は前記半導体レーザの発光点であり、物
体光の位置はｙとｚ方向における集束点であることを特
徴とする請求項５記載の光ピックアップシステム。 - 【請求項７】二つのホログラムによる集束ビームはｙと
ｚ方向における集束点の間で円形に集束することを特徴
とする請求項６記載の光ピックアップシステム。 - 【請求項８】二つのホログラムにより集束するビームは
前記６分割光探知器上で一定の距離を置いて集束するこ
とを特徴とする請求項７記載の光ピックアップシステ
ム。 - 【請求項９】二つの集束点の間で二つのホログラムによ
って円形とビームが集束する位置に前記６分割光探知器
が位置することを特徴とする請求項８記載の光ピックア
ップシステム。 - 【請求項１０】前記６分割光探知器は正方形であり、正
方形の大きさが二つの対角線方向に４等分され、二つの
対角線が合う点を中心としてｚ軸で２等分され６分割さ
れたことを特徴とする請求項９記載の光ピックアップシ
ステム。 - 【請求項１１】前記６分割光探知器はｚ軸で２分すると
き、二つのホログラムにより集束する二つのビーム間の
距離の１／２に当たる距離だけ前記中心から離れて分割
されることを特徴とする請求項１０記載の光ピックアッ
プシステム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940003608A KR970000645B1 (ko) | 1994-02-26 | 1994-02-26 | 광픽업 시스템 |
| KR1994-3608 | 1994-02-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07287861A true JPH07287861A (ja) | 1995-10-31 |
Family
ID=19377900
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7037255A Pending JPH07287861A (ja) | 1994-02-26 | 1995-02-24 | 光ピックアップシステム |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5568457A (ja) |
| EP (1) | EP0669613A1 (ja) |
| JP (1) | JPH07287861A (ja) |
| KR (1) | KR970000645B1 (ja) |
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|---|---|---|---|---|
| JP2748905B2 (ja) * | 1995-09-29 | 1998-05-13 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド装置 |
| JP2000311377A (ja) * | 1999-04-28 | 2000-11-07 | Sharp Corp | 光ピックアップ装置 |
| JP2002056561A (ja) * | 2000-08-10 | 2002-02-22 | Mitsumi Electric Co Ltd | 光学ピックアップ装置 |
| EP1553570B1 (en) * | 2002-10-10 | 2008-10-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head and optical disk unit |
| WO2007018561A1 (en) * | 2005-07-29 | 2007-02-15 | Mike Joulakian | Water purification arrangement |
| US20090245068A1 (en) * | 2008-03-31 | 2009-10-01 | Panasonic Corporation | Optical pickup device and optical disc drive |
| KR102044864B1 (ko) * | 2012-12-13 | 2019-12-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 레이저 패터닝 검사장치 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05282723A (ja) * | 1992-03-31 | 1993-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気ヘッド装置 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4905216A (en) * | 1986-12-04 | 1990-02-27 | Pencom International Corporation | Method for constructing an optical head by varying a hologram pattern |
| NL8802988A (nl) * | 1988-12-05 | 1990-07-02 | Philips Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak. |
| EP0390445A3 (en) * | 1989-03-27 | 1992-01-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pickup head |
| US5050153A (en) * | 1989-06-06 | 1991-09-17 | Wai-Hon Lee | Semiconductor laser optical head assembly |
| JP2902415B2 (ja) * | 1989-09-14 | 1999-06-07 | シャープ株式会社 | 光学ヘッド |
| US5446719A (en) * | 1992-02-05 | 1995-08-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical information reproducing apparatus |
| EP0576072B1 (en) * | 1992-06-23 | 1997-12-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Polarization-sensitive beam splitter, method of manufacturing such a beam splitter and magneto-optical scanning device including such a beam splitter |
| KR950013702B1 (ko) * | 1993-07-15 | 1995-11-13 | 엘지전자주식회사 | 광자기 디스크의 광픽업 장치 |
-
1994
- 1994-02-26 KR KR1019940003608A patent/KR970000645B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-02-23 EP EP95301180A patent/EP0669613A1/en not_active Withdrawn
- 1995-02-24 US US08/393,838 patent/US5568457A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-02-24 JP JP7037255A patent/JPH07287861A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05282723A (ja) * | 1992-03-31 | 1993-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気ヘッド装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0669613A1 (en) | 1995-08-30 |
| US5568457A (en) | 1996-10-22 |
| KR950025650A (ko) | 1995-09-18 |
| KR970000645B1 (ko) | 1997-01-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970715 |