JPH07287113A - フィルタ基板の付着残渣除去方法 - Google Patents

フィルタ基板の付着残渣除去方法

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JPH07287113A
JPH07287113A JP16025194A JP16025194A JPH07287113A JP H07287113 A JPH07287113 A JP H07287113A JP 16025194 A JP16025194 A JP 16025194A JP 16025194 A JP16025194 A JP 16025194A JP H07287113 A JPH07287113 A JP H07287113A
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JP
Japan
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filter substrate
light
shielding plate
pattern
plate
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Pending
Application number
JP16025194A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Terano
喜弘 寺野
Masayuki Nagaie
正之 長家
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Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】フィルタ基板上に付着残存する現像残渣を、フ
ィルタ基板を損傷させずに、能率的に除去することにあ
る。 【構成】露光・現像処理によりパターン形成されたフィ
ルタ基板1の正規なパターンpを覆うように紫外線遮光
用の遮光板2を基板1上に被覆する遮光板被覆工程と、
遮光板2を被覆した前記基板1を60〜230℃に加熱
する加熱工程と、加熱された基板1に数100〜数1
0,000ppm濃度のオゾンを接触させ且つ前記遮光
板2を介して紫外線を照射する紫外線・オゾン照射工程
とを含み、基板1に付着する現像等の残渣をアッシング
によって除去するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガラス等の透明フィル
タ基板上に、フォトレジストを用いて、パターン露光及
び現像処理等により所望形状の着色パターンを形成した
際に、現像処理によって除去されずにフィルタ基板上に
残存するパターン以外の現像残渣を除去するためのフィ
ルタ基板付着残渣除去方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の液晶表示装置等に使用されるカラ
ーフィルタは、一般的に、図 に示すように、ガラス基
板1上に、規則的な格子状、平行線状等の遮光性(若し
くは光吸収性)のブラックマトリクスパターンを設け、
該ブラックマトリクスパターンの間に、液晶セル(表示
画素)に相当するBlue,Green,Red各着色
パターンから構成されるフィルタ色パターンが設けら
れ、該ブラックマトリクスパターンと、フィルタ色パタ
ーンの上側には、適宜透明導電膜又は透明保護膜を介し
て透明導電膜が積層される。
【0003】上記ブラックマトリクスパターン、あるい
はフィルタ色パターン等のパターン形成においては、フ
ィルタ基板上に、ブラック、あるいはブルー,グリー
ン,レッドの各着色フォトレジストをそれぞれ各色毎に
全面的に塗布した後に、各色毎のパターン露光を行い、
パターン露光によって現像可溶となった部分を、現像液
(溶剤等)による現像処理によって除去して、各色の前
記パターンを形成している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記現像処理において
は、現像液にて除去すべき現像可溶となったフォトレジ
ストが、時として、完全には現像除去できずに、フィル
タ基板の端部上に、僅かに現像残渣として残存する場合
がある。
【0005】このようなフィルタ基板上に付着する現像
残渣は、フィルタ基板を、液晶表示装置等のカラー液晶
表示パネルとしてアッセンブルする際において、表示パ
ネル周囲の液晶の封入シール接着強度を低下させたり、
あるいは残渣が脱落して、液晶やパネル内に異物として
混入したりし易い。
【0006】そのため、従来、フィルタ基板上に付着す
る現像残渣は、適宜削り取り用具によって物理的に擦り
取ったり、削り取ったりしているが、手間が掛かり、ま
た、フィルタ基板を損傷する場合がある。
【0007】本発明は、フィルタ基板上に付着残存する
現像残渣を、フィルタ基板を損傷させずに、能率的に除
去することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、露光・現像処
理によりパターン形成されたフィルタ基板1の正規なパ
ターンpを覆うように、紫外線遮光用の遮光板2をフィ
ルタ基板1上に被覆する遮光板被覆工程と、遮光板2を
被覆したフィルタ基板1を60〜230℃に加熱する加
熱工程と、加熱されたフィルタ基板1に、数100〜数
10,000ppm濃度のオゾンを接触させ且つ前記遮
光板2を介して紫外線を照射する紫外線・オゾン照射工
程とを含み、上記工程によりフィルタ基板1に付着する
現像等の残渣をアッシングして除去することを特徴とす
るフィルタ基板付着残渣除去方法である。
【0009】
【実施例】本発明方法を、図1の工程図に従って説明す
る。まず紫外線遮光板被覆工程にて、先に露光・現像処
理によりパターン形成して得られたカラーフィルタにお
けるフィルタ基板1の正規なパターンp上に、紫外線遮
光用の遮光板2を被覆する。前記カラーフィルタは、フ
ィルタ基板1上に、ブルー、グリーン、レッド、及びブ
ラック等の各着色フォトレジストを用いて、露光・現像
処理等により、1色毎に所望形状パターンのフィルタ色
パターン、ブラックマトリクスパターン等の正規なパタ
ーンpを形成したものであり、正規なパターンp以外の
フィルタ基板1の端部等に、現像処理によって現像除去
しきれなかった残渣が付着している。
【0010】次に、加熱工程にて、紫外線遮光用の遮光
板2を被覆したフィルタ基板1を、60℃〜230℃に
加熱する。なお、加熱源には、赤外線(近赤外線、遠赤
外線)ランプ、ヒーター、熱風等を使用し、加熱温度
は、高い程効果的であるが、フィルタ基板1に変形や歪
みを生じない程度が適当であり、60℃〜120℃、あ
るいは60℃〜100℃程度、又は、好ましくは130
℃〜200℃、150℃〜230℃程度が望ましい。な
お本発明においては、上記温度範囲内であれば、上限値
及び下限値は適宜に変更が可能である。
【0011】次に、紫外線・オゾン照射工程にて、加熱
した状態の前記フィルタ基板1に、例えば200ppm
〜20,000ppm以上の数100〜数10,000
ppm濃度のオゾンO3 を接触させながら、遮光板2を
介して、露光量5〜12mW/cm2 の紫外線を照射す
る。これによって、フィルタ基板1の端部等に付着して
いる現像等によって除去しきれなかった残渣、異物等が
強力に酸化作用を受けてアッシングされ、除去される。
なお、除去効率は、オゾン照射濃度、及び紫外線露光量
が高い程大であり、例えば、200ppm〜500pp
m、500ppm〜1,000ppm、1,000pp
m〜5,000ppm、5,000ppm〜10,00
0ppm、10,000ppm〜50,000ppm、
50,000ppm以上に設定されるが、紫外線・オゾ
ン照射工程は、環境における安全性(人体の安全に対す
る環境基準0.1ppm以下)を配慮して、外気中にオ
ゾンが漏れ出ないように、外気と遮断されたチャンバー
内にて行なうことが適当である。
【0012】図2(a)は、紫外線遮光板被覆工程を説
明する概要平面図であり、ガラス製又はプラスチック製
のフィルタ基板1には、所望形状の正規なパターンp
(フィルタ色パターン、ブラックマトリクスパターン
等)が形成されており、該正規なパターンpを完全に被
覆するようにして、紫外線遮光板2を被覆する。
【0013】図2(b)は、図2(a)の部分拡大側断
面図であり、フィルタ基板1上面には、正規なパターン
pとして、ブルー(B)、グリーン(G)、レッド
(R)の三色の各カラーフィルタ色パターン3が形成さ
れている。そのブルー(B)、グリーン(G)、レッド
(R)の各パターン3間に、ブラックマトリクスパター
ン4が形成されている。
【0014】図2(b)に示すように、上記正規なパタ
ーンp上に、重ね合わせるようにして、遮光板2を被覆
する。遮光板2の厚さは、特に限定しないが、0.1m
m〜0.2mm程度で十分であり、それ以上の厚さであ
ってもよい。また遮光板2の材質としは、加熱に耐える
ことと、オゾンガスによる強力な酸化反応に耐えるため
に、ステンレス板若しくはチタン板等の耐オゾン性のあ
るものが適当である。
【0015】また、該遮光板2として、図2(b)に示
すように、二層などの多層構成にすることができ、例え
ば、表面(上面)にステンレス板等の耐熱性と耐オゾン
性のある遮光性の基板2aを設け、正規なパターンpと
接する裏面(下面)に、フィルタパターンの擦過、損傷
を防ぐための保護膜として、フッ素樹脂などの樹脂製の
処理膜2bを重ね合わせるか、若しくは接合、ライニン
グしたものでもよい。
【0016】また、本発明においては、その他に上記遮
光板2として、同図2(b)を用いて説明すれば、紫外
線透過性等の光透過性のガラス製の基板2a面に、全面
的若しくは部分的に又はパターン状に、耐アッシング性
のあるクロム膜、アルミニウム膜、ニッケル膜などの遮
光性金属膜(金属蒸着膜、金属薄板エッチング膜等)に
よる処理膜2b(遮光膜)を施したものを使用すること
ができる。また、上記遮光板2として、ガラス製の基板
2a面に、前記フィルタ基板1の全ての正規パターンp
を被覆するような該正規パターンpに対応する形状パタ
ーン(あるいはその正規パターンpの外形に沿う外形状
パターン)の遮光膜2bを、蒸着方式、パターンエッチ
ング方式、パターン露光・現像処理(フォトリソグラフ
ィ方式)等によりパターン形成したものを使用すること
ができる。
【0017】上記遮光板2の形成に使用するガラス基板
としては、例えば、ソーダガラス、好ましくは石英ガラ
ス等を使用することができる。上記ガラス基板面に形成
される遮光膜、若しくは遮光性パターンは、少なくと
も、フィルタ基板1の正規なパターンpを完全に被覆す
る大きさ、あるいはそれ以上の大きさに形成されている
ものである。
【0018】また、上記ガラス製の遮光板2に、フィル
タ基板1の正規のパターンpに対応して遮光膜をパター
ン形成する際には、遮光板2に使用するガラス基板の熱
膨張率や厚さと、正規パターンpの形成されたフィルタ
基板1の熱膨張率や厚さとの互いの相違を考慮して、フ
ィルタ基板1の正規のパターンpのピッチに対して所定
のピッチ補正をして遮光膜をパターン形成することが適
当である。例えば、500mmスパンの石英ガラス基板
を用いて、遮光膜をパターン形成する場合は、同スパン
内の遮光膜を最大100μm小さくしてパターン形成す
る。
【0019】図2(b)に示すように、正規のパターン
pの周辺等のフィルタ基板1面の端部等には、現像処理
にて除去しきれなかった現像残渣5が付着している。こ
の現像残渣5に対して、60℃乃至230℃の温度(例
えば、60℃〜120℃、あるいは60℃〜100℃程
度、又は、好ましくは130℃〜200℃、150℃〜
230℃程度)でオゾンと紫外線とを照射することによ
って、残渣5を強力に酸化し、アッシングして、除去す
るものである。なお、紫外線ランプと、遮光板2との離
間距離は、ランプ特性(紫外線の拡散)に対応して設定
でき、例えば、5〜20mm程度が適当である。
【0020】図3は、本発明方法を実施する場合に使用
する装置の概要側断面図であり、Aは加熱部、Bは紫外
線・オゾン照射処理部、Cは冷却部である。
【0021】現像処理後の遮光板2を被覆したフィルタ
基板1(カラーフィルタ)を、搬送ロール等の搬送コン
ベア手段Dにて 赤外線(近赤外線、遠赤外線)ラン
プ、ヒーター、加熱エアーブロア装置等の加熱源(図示
せず)を配置した加熱部Aに導入し、60℃乃至230
℃程度(例えば、60℃〜120℃、あるいは60℃〜
100℃程度、又は、好ましくは130℃〜200℃、
150℃〜230℃程度)に加熱する。
【0022】加熱された状態のフィルタ基板1を、搬送
コンベア手段Dにて、次の紫外線・オゾン照射処理部B
に導入する。該処理部Bは、処理チャンバー11と、該
チャンバー11内に、紫外線照射手段12(光波長のピ
ークが185〜254nmの範囲にある高出力低圧水銀
灯、又は超高圧水銀灯、又はメタルハライドランプ)
と、オゾン供給手段により数100〜数10,000p
pm濃度のオゾンをチャンバー11内に供給するオゾン
供給ノズル13を備える。
【0023】紫外線・オゾン照射処理部Bでは、導入さ
れたフィルタ基板1に対して、該フィルタ基板1の正規
なパターンpを、遮光板2によって保護しながら、露光
量5〜12mW/cm2 の紫外線(180nm〜400
nm)を照射し、且つ数100〜数10,000ppm
濃度のオゾンO3 を接触させて、フィルタ基板1に付着
している現像残渣や、その他の異物(塵埃あるいはフィ
ルタ製造中の付着物)を、強力に酸化処理することによ
りアッシングして除去する。
【0024】現像残渣等を除去した後は、搬送コンベア
手段Dにて、冷却エアーブロア装置等の冷却装置を配置
した冷却部Cに導入して、常温まで降温させて搬出し、
残渣除去操作を終了する。
【0025】
【作用】本発明方法は、露光・現像処理によりパターン
形成されたフィルタ基板1の正規なパターンp上に、紫
外線遮光用の遮光板2を被覆し、60〜230℃の加熱
状態にあるフィルタ基板1に、数100〜数10,00
0ppm濃度のオゾンを接触させ且つ前記遮光板2を介
して露光量5〜12mW/cm2 の紫外線を照射するの
で、正規のパターンp(必要とするパターン)には、オ
ゾンは接触するものの、遮光板2によって紫外線は照射
されず、そのため、正規のパターンp(必要とするパタ
ーン)領域は、オゾンと紫外線とによる相乗作用による
強力な酸化現象を回避できる。
【0026】上記遮光板2によって被覆されていないフ
ィルタ基板1の端部等に付着する加熱された残渣部分
は、オゾンと紫外線とが照射されて、強力に酸化されて
アッシング処理でき、フィルタ基板1を損傷せずに、残
渣を容易に剥離除去することができる。
【0027】また、上記フィルタ基板1にパターン形成
された各フィルタ色パターン3や、ブラックマトリクス
パターン4などによる正規なパターンp(あるいはその
外形パターン)に対応した形状パターンの遮光膜2b
を、透明な基板2aに施した遮光板2を用い、該遮光板
2のパターン状の遮光膜2bを、フィルタ基板1のパタ
ーンp上に整合被覆して処理することにより、パターン
状の遮光膜2bによって被覆されていないフィルタ基板
1上のパターンp以外の基板端部等に付着する残渣部分
だけでなく、パターンpに近接する領域の基板上に付着
する残渣部分は、加熱及びオゾンと紫外線との照射によ
って、強力に酸化されてアッシング処理され、フィルタ
基板1を損傷せずに、パターンpを除外した領域のフィ
ルタ基板1全体に付着する残渣を容易に剥離除去するこ
とができる。
【0028】
【発明の効果】本発明方法は、露光によって現像液にて
現像可溶となったフォトレジストが、現像除去できず
に、フィルタ基板の端部等に僅かに残渣として残存する
場合において、手作業によって、残渣を擦り取ったり削
り取ったりせずに、能率的に除去することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明方法の工程図である。
【図2】(a)本発明方法における紫外線遮光板の被覆
工程を説明する概略平面図であり、(b)は本発明方法
における紫外線遮光板の被覆工程を説明する概略部分拡
大側断面図である。
【図3】本発明方法を実施例する場合に使用する装置を
説明する概略側面図である。
【符号の説明】
1…フィルタ基板 2…遮光板 2a…基板 2b…処
理膜 3…フィルタ色パターン 4…ブラックマトリクスパターン 5…付着残渣 11…処理チャンバー 12…紫外線照射手段 13…
オゾン供給ノズル p…正規なパターン A…加熱部 B…紫外線・オゾン
照射処理部 C…冷却部 D…搬送コンベア手段

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】露光・現像処理によりパターン形成された
    フィルタ基板1の正規なパターンpを覆うように、紫外
    線遮光用の遮光板2をフィルタ基板1上に被覆する遮光
    板被覆工程と、遮光板2を被覆したフィルタ基板1を6
    0〜230℃に加熱する加熱工程と、加熱されたフィル
    タ基板1に、数100〜数10,000ppm濃度のオ
    ゾンを接触させ且つ前記遮光板2を介して紫外線を照射
    する紫外線・オゾン照射工程とを含み、上記工程により
    フィルタ基板1に付着する現像等の残渣をアッシングし
    て除去することを特徴とするフィルタ基板付着残渣除去
    方法。
  2. 【請求項2】前記加熱工程において、フィルタ基板1を
    130℃〜200℃、又は150℃〜230℃に加熱す
    る請求項1記載のフィルタ基板付着残渣除去方法。
  3. 【請求項3】前記紫外線・オゾン照射工程において照射
    する紫外線は、露光量が5〜12mW/cm2 、波長の
    ピークが180〜254nmの範囲である請求項1記載
    のフィルタ基板付着残渣除去方法。
  4. 【請求項4】前記遮光板2が、鋼板、ステンレス板、チ
    タン板等の金属製の基板を用いたものである請求項1記
    載のフィルタ基板付着残渣除去方法。
  5. 【請求項5】前記遮光板2が、鋼板、ステンレス板、チ
    タン板等の金属製の基板面に、正規パターンpの擦過、
    損傷を保護するためのフッ素樹脂等による処理膜を施し
    たものである請求項4記載のフィルタ基板付着残渣除去
    方法。
  6. 【請求項6】前記遮光板2が、紫外線透過性の透明ガラ
    ス製の基板面に、金属膜による遮光性の処理膜を施した
    ものである請求項1記載のフィルタ基板付着残渣除去方
    法。
  7. 【請求項7】前記遮光性の処理膜が、前記正規パターン
    pに対応してパターン状に施されている請求項6記載の
    フィルタ基板付着残渣除去方法。
JP16025194A 1994-02-28 1994-07-12 フィルタ基板の付着残渣除去方法 Pending JPH07287113A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104167381A (zh) * 2014-07-11 2014-11-26 湖南红太阳光电科技有限公司 一种连续式真空紫外光臭氧表面清洗与氧化改性设备及其使用方法

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