JPH07285918A - ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体及びその製造方法 - Google Patents
ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体及びその製造方法Info
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- JPH07285918A JPH07285918A JP6102061A JP10206194A JPH07285918A JP H07285918 A JPH07285918 A JP H07285918A JP 6102061 A JP6102061 A JP 6102061A JP 10206194 A JP10206194 A JP 10206194A JP H07285918 A JPH07285918 A JP H07285918A
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- butoxycarbonylmethyl
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- acid
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07C—ACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
- C07C69/00—Esters of carboxylic acids; Esters of carbonic or haloformic acids
- C07C69/612—Esters of carboxylic acids having a carboxyl group bound to an acyclic carbon atom and having a six-membered aromatic ring in the acid moiety
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- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 露光部−未露光部の溶解コントラストを十分
に得ることのできる、光レジスト用溶解阻害剤として優
れた、新規な化合物を提供すること。 【構成】 下記化1で表されることを特徴とするジフェ
ノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステ
ル誘導体; 【化1】 但し、化1中のR1 は水素原子、tert−ブチル基、
tert−ブトキシカルボニル基、tert−ブトキシ
カルボニルメチル基、1−メチル−1−メトキシエチル
基、2−テトラヒドロフラニル基、2−テトラヒドロピ
ラニル基、メトキシメチル基、tert−ブチルジメチ
ルシリル基の中から選択されるいずれかの基を表す。
に得ることのできる、光レジスト用溶解阻害剤として優
れた、新規な化合物を提供すること。 【構成】 下記化1で表されることを特徴とするジフェ
ノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステ
ル誘導体; 【化1】 但し、化1中のR1 は水素原子、tert−ブチル基、
tert−ブトキシカルボニル基、tert−ブトキシ
カルボニルメチル基、1−メチル−1−メトキシエチル
基、2−テトラヒドロフラニル基、2−テトラヒドロピ
ラニル基、メトキシメチル基、tert−ブチルジメチ
ルシリル基の中から選択されるいずれかの基を表す。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は新規な溶解阻害剤及びそ
の製造方法に関し、特に、光レジストの溶解阻害剤とし
て用いた場合に優れた特性を示すジフェノール酸−te
rt−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体及びそ
の製造方法に関する。
の製造方法に関し、特に、光レジストの溶解阻害剤とし
て用いた場合に優れた特性を示すジフェノール酸−te
rt−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体及びそ
の製造方法に関する。
【0002】
【従来技術】従来、樹脂、溶解阻害剤及び酸発生剤から
なる3成分系の化学増幅型ポジ型レジスト材料において
は、レジスト膜のアルカリ現像液に対する溶解速度を溶
解阻害剤によって制御すること〔(高エネルギー線を照
射した部分の溶解速度)/(非照射部分の溶解速度)
(以下溶解速度比という)を大きくすること〕が、レジ
スト材料としての性能に特に大きな影響を及ぼすことが
知られている。即ち、紫外線等の高エネルギー線を照射
した場合のレジスト膜の部分が、アルカリ現像液に対し
て速やかに溶解するような物質(溶解阻害剤)をレジス
ト材料に添加した場合には、レジストパターンの形成効
率が極めて良好となる。
なる3成分系の化学増幅型ポジ型レジスト材料において
は、レジスト膜のアルカリ現像液に対する溶解速度を溶
解阻害剤によって制御すること〔(高エネルギー線を照
射した部分の溶解速度)/(非照射部分の溶解速度)
(以下溶解速度比という)を大きくすること〕が、レジ
スト材料としての性能に特に大きな影響を及ぼすことが
知られている。即ち、紫外線等の高エネルギー線を照射
した場合のレジスト膜の部分が、アルカリ現像液に対し
て速やかに溶解するような物質(溶解阻害剤)をレジス
ト材料に添加した場合には、レジストパターンの形成効
率が極めて良好となる。
【0003】このような溶解阻害剤は光レジストの性能
に大きな影響を与えるものであり、従来から知られてい
るものとしては、下記化4で表されるジブトキシカルボ
ニルビスフェノールA、下記化5で表されるジブトキシ
カルボニルビスフェノールF、下記化6で表される4−
t─ブトキシカルボニルビフェニル、下記化7で表され
るt─ブチルコレート、下記化8で表されるt─ブチル
デオキシコレート等が挙げられる。
に大きな影響を与えるものであり、従来から知られてい
るものとしては、下記化4で表されるジブトキシカルボ
ニルビスフェノールA、下記化5で表されるジブトキシ
カルボニルビスフェノールF、下記化6で表される4−
t─ブトキシカルボニルビフェニル、下記化7で表され
るt─ブチルコレート、下記化8で表されるt─ブチル
デオキシコレート等が挙げられる。
【0004】
【化4】
【化5】
【化6】
【化7】
【化8】
【0005】但し、化4、化5及び化6中、t−Bu又
はBu−tはターシャリーブチル基である。しかしなが
ら、これらの何れの溶解阻害剤もレジストの露光部−未
露光部の溶解コントラストが十分に得られないために、
十分な解像性や感度を得ることができず、また経時変化
によってレジストパターンの形状が変化するという欠点
があった。
はBu−tはターシャリーブチル基である。しかしなが
ら、これらの何れの溶解阻害剤もレジストの露光部−未
露光部の溶解コントラストが十分に得られないために、
十分な解像性や感度を得ることができず、また経時変化
によってレジストパターンの形状が変化するという欠点
があった。
【0006】例えば、ジブトキシカルボニルビスフェノ
ールA及びジブトキシカルボニルビスフェノールFの場
合には、樹脂に対し大きな溶解阻害効果を有し、紫外線
吸収率も小さい上安価であるという特徴を有しているも
のの、溶解速度比が小さい上樹脂に対する相溶性が低い
ので添加量が制限される。また、4─t─ブトキシカル
ボニルビフェニルの場合には、溶解速度比は比較的大き
いものの、紫外線吸収率が大きいためにレジスト膜に対
する光透過性を制御することができない。
ールA及びジブトキシカルボニルビスフェノールFの場
合には、樹脂に対し大きな溶解阻害効果を有し、紫外線
吸収率も小さい上安価であるという特徴を有しているも
のの、溶解速度比が小さい上樹脂に対する相溶性が低い
ので添加量が制限される。また、4─t─ブトキシカル
ボニルビフェニルの場合には、溶解速度比は比較的大き
いものの、紫外線吸収率が大きいためにレジスト膜に対
する光透過性を制御することができない。
【0007】更に、t─ブチルコレート及びt─ブチル
デオキシコレートの場合には、紫外線吸収率が小さい
上、ノボラック樹脂に対して用いた場合には相溶性が良
好であって溶解阻害剤として優れているものの、ポリ
(ヒドロキシスチレン)に対して用いた場合には、溶解
阻害効果が不十分であるために、非照射部分のレジスト
膜がアルカリ現像液に対して溶解するという膜減り現象
が生じる上、原料が天然物であるために供給が不安定で
ある。
デオキシコレートの場合には、紫外線吸収率が小さい
上、ノボラック樹脂に対して用いた場合には相溶性が良
好であって溶解阻害剤として優れているものの、ポリ
(ヒドロキシスチレン)に対して用いた場合には、溶解
阻害効果が不十分であるために、非照射部分のレジスト
膜がアルカリ現像液に対して溶解するという膜減り現象
が生じる上、原料が天然物であるために供給が不安定で
ある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明者等
は、光レジスト用の溶解阻害剤について鋭意検討した結
果、光レジスト用溶解阻害剤として優れた新規化合物を
見出し本発明に到達した。従って、本発明の目的は、露
光部−未露光部の溶解コントラストを十分なものとする
ことができる、光レジスト用溶解阻害剤として優れた新
規な化合物を提供することにある。
は、光レジスト用の溶解阻害剤について鋭意検討した結
果、光レジスト用溶解阻害剤として優れた新規化合物を
見出し本発明に到達した。従って、本発明の目的は、露
光部−未露光部の溶解コントラストを十分なものとする
ことができる、光レジスト用溶解阻害剤として優れた新
規な化合物を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の上記の目的は、
下記化9で表されることを特徴とするジフェノール酸−
tert−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体に
よって達成された。
下記化9で表されることを特徴とするジフェノール酸−
tert−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体に
よって達成された。
【化9】 但し、化9中のR1 は、水素原子、tert−ブチル
基、tert−ブトキシカルボニル基、tert−ブト
キシカルボニルメチル基、1−メチル−1−メトキシエ
チル基、2−テトラヒドロフラニル基、2−テトラヒド
ロピラニル基、メトキシメチル基、tert−ブチルジ
メチルシリル基の中から選択される何れかの基を表す。
基、tert−ブトキシカルボニル基、tert−ブト
キシカルボニルメチル基、1−メチル−1−メトキシエ
チル基、2−テトラヒドロフラニル基、2−テトラヒド
ロピラニル基、メトキシメチル基、tert−ブチルジ
メチルシリル基の中から選択される何れかの基を表す。
【0010】上記化9のジフェノール酸−tert−ブ
トキシカルボニルメチルエステル誘導体は、下記化10
で表されるジフェノール酸またはその誘導体と下記化1
1で表されるα−ハロゲン化酢酸を適当な塩基の存在下
で反応させることによって得ることができる。
トキシカルボニルメチルエステル誘導体は、下記化10
で表されるジフェノール酸またはその誘導体と下記化1
1で表されるα−ハロゲン化酢酸を適当な塩基の存在下
で反応させることによって得ることができる。
【化10】
【化11】 化11中のXは塩素原子、臭素原子又は沃素原子を表す
が、特に塩素原子又は臭素原子であることが好ましい。
が、特に塩素原子又は臭素原子であることが好ましい。
【0011】本発明の反応において用いられる塩基は、
特に限定されるものではないが、具体的には、炭酸水素
ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素カリウム、炭酸
カリウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、ナトリ
ウムメチラート、ナトリウムエチラート、カリウム−t
ert−ブチラート等のアルカリ金属塩類、又はトリエ
チルアミン、ジイソプロピルメチルアミン、ジメチルア
ニリン、ピリジン、4−N,N−ジメチルアミノピリジ
ン、4−(1−ピペリジノ)ピリジン等のアミン類等が
挙げられる。上記塩基の使用量は、原料であるジフェノ
ール酸またはその誘導体に対して1から10モル当量用
いることができるが、特に1から3モル当量用いること
が好ましい。
特に限定されるものではないが、具体的には、炭酸水素
ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素カリウム、炭酸
カリウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、ナトリ
ウムメチラート、ナトリウムエチラート、カリウム−t
ert−ブチラート等のアルカリ金属塩類、又はトリエ
チルアミン、ジイソプロピルメチルアミン、ジメチルア
ニリン、ピリジン、4−N,N−ジメチルアミノピリジ
ン、4−(1−ピペリジノ)ピリジン等のアミン類等が
挙げられる。上記塩基の使用量は、原料であるジフェノ
ール酸またはその誘導体に対して1から10モル当量用
いることができるが、特に1から3モル当量用いること
が好ましい。
【0012】本発明の反応において用いられる溶媒は特
に限定されるものではないが、具体的には、メタノー
ル、エタノール、プロパノール、2−メチルエタノー
ル、ブタノール、tert−ブチルアルコール等のアル
コール類、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン
類、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素
類、塩化メチレン、クロロホルム等のハロゲン化炭化水
素類、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチ
ルアセトアミド、ジメチルスルホキシド等の非プロトン
性極性溶媒等が挙げられる。これらの中でも特にアセト
ン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチル
アセトアミド、ジメチルスルホキシド等が好ましい。
に限定されるものではないが、具体的には、メタノー
ル、エタノール、プロパノール、2−メチルエタノー
ル、ブタノール、tert−ブチルアルコール等のアル
コール類、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン
類、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素
類、塩化メチレン、クロロホルム等のハロゲン化炭化水
素類、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチ
ルアセトアミド、ジメチルスルホキシド等の非プロトン
性極性溶媒等が挙げられる。これらの中でも特にアセト
ン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチル
アセトアミド、ジメチルスルホキシド等が好ましい。
【0013】本発明の反応は、室温から溶媒の沸点の範
囲で行うことができ、また、反応時間は反応条件によっ
て適宜設定すれば良いが、一般に、30分〜24時間程
度で終了する。本発明のジフェノール酸−tert−ブ
トキシカルボニルメチルエステル誘導体は、三成分型の
化学増幅型レジストの溶解阻害剤として、従来と同様に
使用することができ、これを用いることによって高解像
度のレジスト像を得ることができる。
囲で行うことができ、また、反応時間は反応条件によっ
て適宜設定すれば良いが、一般に、30分〜24時間程
度で終了する。本発明のジフェノール酸−tert−ブ
トキシカルボニルメチルエステル誘導体は、三成分型の
化学増幅型レジストの溶解阻害剤として、従来と同様に
使用することができ、これを用いることによって高解像
度のレジスト像を得ることができる。
【0014】
【発明の効果】本発明のジフェノール酸−tert−ブ
トキシカルボニルメチルエステル誘導体を化学増幅型レ
ジストの溶解阻害剤として使用した場合には、露光部−
未露光部間の溶解コントラストが十分であるので、解像
性のみならず感度も十分となる上、経時変化によってパ
ターンの形状が変化するということもない。
トキシカルボニルメチルエステル誘導体を化学増幅型レ
ジストの溶解阻害剤として使用した場合には、露光部−
未露光部間の溶解コントラストが十分であるので、解像
性のみならず感度も十分となる上、経時変化によってパ
ターンの形状が変化するということもない。
【実施例】以下、実施例に従って本発明を更に詳述する
が、本発明はこれによって限定されるものではない。
が、本発明はこれによって限定されるものではない。
【0015】実施例1.ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチル
エステルの合成 ジフェノール酸28.6gと水酸化ナトリウム4.2g
を、エタノール100mlと水20mlの混合液に50
℃で溶解した。これにブロモ酢酸−tert−ブチル2
1.8gを加え、50℃で8時間攪拌した。反応終了
後、減圧下で溶媒を溜去した。残渣をクロロホルム20
0gに溶解した後100gの水で洗浄し、有機層を無水
硫酸マグネシウムで乾燥し、次いで減圧して溶媒を除去
し、油状の粗生成物を得た。得られた粗生成物をシリカ
ゲルカラムクロマトグラフィーで分離すると、クロロホ
ルム−メタノール=99:1溶出部として、ジフェノー
ル酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステル2
5.5g(収率64%)が得られた。
エステルの合成 ジフェノール酸28.6gと水酸化ナトリウム4.2g
を、エタノール100mlと水20mlの混合液に50
℃で溶解した。これにブロモ酢酸−tert−ブチル2
1.8gを加え、50℃で8時間攪拌した。反応終了
後、減圧下で溶媒を溜去した。残渣をクロロホルム20
0gに溶解した後100gの水で洗浄し、有機層を無水
硫酸マグネシウムで乾燥し、次いで減圧して溶媒を除去
し、油状の粗生成物を得た。得られた粗生成物をシリカ
ゲルカラムクロマトグラフィーで分離すると、クロロホ
ルム−メタノール=99:1溶出部として、ジフェノー
ル酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステル2
5.5g(収率64%)が得られた。
【0016】この生成物の 1H−NMRスペクトルは下
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.46(9H,s) 1.55(3H,s) 2.2 (2H,dd) 2.42(2H,dd) 4.55(2H,s) 6.72(4H,d) 7.04(4H,d)
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.46(9H,s) 1.55(3H,s) 2.2 (2H,dd) 2.42(2H,dd) 4.55(2H,s) 6.72(4H,d) 7.04(4H,d)
【0017】実施例2.4,4’−ジ(4−tert−ブトキシカルボニルメト
キシフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボ
ニルメチルエステルの合成 ジフェノール酸28.6gをジメチルスルホキシド20
0gに溶解した後、無水炭酸カリウム50gとクロロ酢
酸−tert−ブチル50gを加え、60℃で4時間攪
拌した。反応終了後、水500gを加えて攪拌した後、
水層をデカンテーションにより除いた。
キシフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボ
ニルメチルエステルの合成 ジフェノール酸28.6gをジメチルスルホキシド20
0gに溶解した後、無水炭酸カリウム50gとクロロ酢
酸−tert−ブチル50gを加え、60℃で4時間攪
拌した。反応終了後、水500gを加えて攪拌した後、
水層をデカンテーションにより除いた。
【0018】残渣の油状物をクロロホルム150mlに
溶解した後、水100gで洗浄し、クロロホルム相を無
水硫酸マグネシウムで乾燥した後、溶媒を溜去した。得
られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー
で分離すると、クロロホルム溶出部として、4,4’−
ジ(4−tert−ブトキシカルボニルメトキシフェニ
ル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニルメチル
エステル49.6g(収率79%)が、純物質として得
られた。
溶解した後、水100gで洗浄し、クロロホルム相を無
水硫酸マグネシウムで乾燥した後、溶媒を溜去した。得
られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー
で分離すると、クロロホルム溶出部として、4,4’−
ジ(4−tert−ブトキシカルボニルメトキシフェニ
ル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニルメチル
エステル49.6g(収率79%)が、純物質として得
られた。
【0019】この生成物の 1H−NMRスペクトルは下
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.44(9H,s) 1.46(18H,s) 1.56(3H,s) 2.18(2H,dd) 2.4 (2H,dd) 4.43(2H,s) 4.47(4H,s) 6.78(4H,d) 7.05(4H,d)
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.44(9H,s) 1.46(18H,s) 1.56(3H,s) 2.18(2H,dd) 2.4 (2H,dd) 4.43(2H,s) 4.47(4H,s) 6.78(4H,d) 7.05(4H,d)
【0020】実施例3.4,4’−ジ(4−tert−ブトキシカルボニルオキ
シフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニ
ルメチルエステルの合成 実施例1で合成したジフェノール酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10gをピリジン50gに
溶解し、ジ−tert−ブチルジカーボネート13gを
加えた後40℃で2時間攪拌した。反応終了後、水20
0gを加えて攪拌した後、水層を除去した。
シフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニ
ルメチルエステルの合成 実施例1で合成したジフェノール酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10gをピリジン50gに
溶解し、ジ−tert−ブチルジカーボネート13gを
加えた後40℃で2時間攪拌した。反応終了後、水20
0gを加えて攪拌した後、水層を除去した。
【0021】残渣の油状物をクロロホルム50gに溶解
し、無水硫酸マグネシウムで乾燥した後、溶媒を溜去し
た。得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラ
フィーで分離すると、クロロホルム溶出部として、4,
4’−ジ(4−tert−ブトキシカルボニルオキシフ
ェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニルメ
チルエステルが10.5g(収率70%)得られた。
し、無水硫酸マグネシウムで乾燥した後、溶媒を溜去し
た。得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラ
フィーで分離すると、クロロホルム溶出部として、4,
4’−ジ(4−tert−ブトキシカルボニルオキシフ
ェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニルメ
チルエステルが10.5g(収率70%)得られた。
【0022】この生成物の 1H−NMRスペクトルは下
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.46(9H,s) 1.56(18H,s) 1.57(3H,s) 2.2 (2H,dd) 2.4 (2H,dd) 4.46(2H,s) 7.07(4H,d) 7.18(4H,d)
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.46(9H,s) 1.56(18H,s) 1.57(3H,s) 2.2 (2H,dd) 2.4 (2H,dd) 4.46(2H,s) 7.07(4H,d) 7.18(4H,d)
【0023】実施例4.4,4’−ジ〔4−(1−メチル−1−メトキシエトキ
シ)フェニル〕ペンタン酸−tert−ブトキシカルボ
ニルメチルエステルの合成 4,4’−ジ〔4−(1−メチル−1−メトキシエトキ
シ)フェニル〕ペンタン酸20g(46.5mmol)
の200mlアセトン溶液に、無水炭酸カリウム10g
とブロモ酢酸−tert−ブチル20g(102.5m
mol)を加え、8時間加熱還流した。放冷後アセトン
を減圧溜去し、残渣に各々200mlのクロロホルムと
水を加えた後、分液した。
シ)フェニル〕ペンタン酸−tert−ブトキシカルボ
ニルメチルエステルの合成 4,4’−ジ〔4−(1−メチル−1−メトキシエトキ
シ)フェニル〕ペンタン酸20g(46.5mmol)
の200mlアセトン溶液に、無水炭酸カリウム10g
とブロモ酢酸−tert−ブチル20g(102.5m
mol)を加え、8時間加熱還流した。放冷後アセトン
を減圧溜去し、残渣に各々200mlのクロロホルムと
水を加えた後、分液した。
【0024】有機層を更に水洗した後、無水硫酸マグネ
シウムで乾燥し、減圧下で溶媒を溜去することにより、
粗生成物が得られた。得られた粗生成物をシリカゲルカ
ラムクロマトグラフィーで分離すると、クロロホルムで
溶出する分画として、4,4’−ジ〔4−(1−メチル
−1−メトキシエトキシ)フェニル〕ペンタン酸−te
rt−ブトキシカルボニルメチルエステルが無色の油状
物として19.3g(収率71%)得られた。
シウムで乾燥し、減圧下で溶媒を溜去することにより、
粗生成物が得られた。得られた粗生成物をシリカゲルカ
ラムクロマトグラフィーで分離すると、クロロホルムで
溶出する分画として、4,4’−ジ〔4−(1−メチル
−1−メトキシエトキシ)フェニル〕ペンタン酸−te
rt−ブトキシカルボニルメチルエステルが無色の油状
物として19.3g(収率71%)得られた。
【0025】この生成物の 1H−NMRスペクトルは下
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.4 (9H,s) 1.53(3H,s) 1.57(12H,s) 2.18(2H,dd) 2.38(2H,dd) 3.35(6H,s) 4.45(2H,s) 6.77(4H,d) 7.02(4H,d)
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.4 (9H,s) 1.53(3H,s) 1.57(12H,s) 2.18(2H,dd) 2.38(2H,dd) 3.35(6H,s) 4.45(2H,s) 6.77(4H,d) 7.02(4H,d)
【0026】実施例5.4,4’−ジ(4−テトラヒドロフラン−2−イルオキ
シフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニ
ルメチルエステルの合成 実施例1で合成したジフェノール酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10gを塩化メチレン50
gに溶解した後、2,3−ジヒドロフランを5.3g及
びピリジニウム・パラ−トルエンスルホネート0.2g
を加え、室温で6時間攪拌した。反応終了後、飽和炭酸
ナトリウム水溶液50mlを加えて攪拌し、次いで有機
層を分離した。
シフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニ
ルメチルエステルの合成 実施例1で合成したジフェノール酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10gを塩化メチレン50
gに溶解した後、2,3−ジヒドロフランを5.3g及
びピリジニウム・パラ−トルエンスルホネート0.2g
を加え、室温で6時間攪拌した。反応終了後、飽和炭酸
ナトリウム水溶液50mlを加えて攪拌し、次いで有機
層を分離した。
【0027】得られた有機層を水洗し、無水硫酸マグネ
シウムで乾燥した後溶媒を減圧溜去して油状の残渣を
得、次いでこれをシリカゲルカラムクロマトグラフィー
で分離したところ、クロロホルム溶出物として、4,
4’−ジ(4−テトラヒドロフラン−2−イルオキシフ
ェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニルメ
チルエステルを9.7g(収率72%)得た。
シウムで乾燥した後溶媒を減圧溜去して油状の残渣を
得、次いでこれをシリカゲルカラムクロマトグラフィー
で分離したところ、クロロホルム溶出物として、4,
4’−ジ(4−テトラヒドロフラン−2−イルオキシフ
ェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニルメ
チルエステルを9.7g(収率72%)得た。
【0028】この生成物の 1H−NMRスペクトルは下
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.46(9H,s) 1.55(3H,s) 1.8〜2.3(10H,m) 2.42(2H,dd) 3.9〜4.1(4H,m) 4.45(2H,s) 5.79(2H,m) 6.93(4H,d) 7.13(4H,d)
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.46(9H,s) 1.55(3H,s) 1.8〜2.3(10H,m) 2.42(2H,dd) 3.9〜4.1(4H,m) 4.45(2H,s) 5.79(2H,m) 6.93(4H,d) 7.13(4H,d)
【0029】実施例6.4,4’−ジ(4−テトラヒドロピラン−2−イルオキ
シフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニ
ルメチルエステルの合成 実施例1で合成したジフェノール酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10gを塩化メチレン50
gに溶解した後、2,3−ジヒドロ−2H−ピラン6.
3g、ピリジニウム・パラ−トルエンスルホネート0.
2gを加え、室温で6時間攪拌した。反応終了後、飽和
炭酸ナトリウム水溶液50mlを加えて攪拌し、次いで
有機層を分離した。
シフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニ
ルメチルエステルの合成 実施例1で合成したジフェノール酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10gを塩化メチレン50
gに溶解した後、2,3−ジヒドロ−2H−ピラン6.
3g、ピリジニウム・パラ−トルエンスルホネート0.
2gを加え、室温で6時間攪拌した。反応終了後、飽和
炭酸ナトリウム水溶液50mlを加えて攪拌し、次いで
有機層を分離した。
【0030】得られた有機層を水洗し、無水硫酸マグネ
シウムで乾燥した後、溶媒を減圧溜去したところ、油状
の残渣が得られた。得られた残渣をシリカゲルカラムク
ロマトグラフィーで分離したところ、クロロホルム溶出
物として、4,4’−ジ(4−テトラヒドロピラン−2
−イルオキシフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10.5g(収率70%)
が得られた。
シウムで乾燥した後、溶媒を減圧溜去したところ、油状
の残渣が得られた。得られた残渣をシリカゲルカラムク
ロマトグラフィーで分離したところ、クロロホルム溶出
物として、4,4’−ジ(4−テトラヒドロピラン−2
−イルオキシフェニル)ペンタン酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10.5g(収率70%)
が得られた。
【0031】この生成物の 1H−NMRスペクトルは下
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.46(9H,s) 1.4〜2.1(12H,m) 1.55(3H,s) 2.2 (2H,dd) 2.42(2H,dd) 3.4〜4.0(4H,m) 5.4 (2H,m) 6.96(4H,d) 7.14(4H,m)
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 1.46(9H,s) 1.4〜2.1(12H,m) 1.55(3H,s) 2.2 (2H,dd) 2.42(2H,dd) 3.4〜4.0(4H,m) 5.4 (2H,m) 6.96(4H,d) 7.14(4H,m)
【0032】実施例7.4,4’−ジ(4−tert−ブチルジメチルシロキシ
フェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニル
メチルエステルの合成 実施例1で合成したジフェノール酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10gをテトラヒドロフラ
ン50mlに溶解し、トリエチルアミン5.6g及びイ
ミダゾール0.2gを加えた後、室温で攪拌しながら、
tert−ブチルジメチルシリルクロリド8.3gを5
0mlのテトラヒドロフランに溶解した溶液を、30分
間かけて滴下した。2時間還流し、放冷した後、クロロ
ホルム及び水を各100g加えて分液した。有機層を、
もう一度水洗した後、再度分液した。
フェニル)ペンタン酸−tert−ブトキシカルボニル
メチルエステルの合成 実施例1で合成したジフェノール酸−tert−ブトキ
シカルボニルメチルエステル10gをテトラヒドロフラ
ン50mlに溶解し、トリエチルアミン5.6g及びイ
ミダゾール0.2gを加えた後、室温で攪拌しながら、
tert−ブチルジメチルシリルクロリド8.3gを5
0mlのテトラヒドロフランに溶解した溶液を、30分
間かけて滴下した。2時間還流し、放冷した後、クロロ
ホルム及び水を各100g加えて分液した。有機層を、
もう一度水洗した後、再度分液した。
【0033】得られた有機層を、無水硫酸マグネシウム
で乾燥した後、溶媒を減圧溜去して油状の残渣を得た。
得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで
分離したところ、クロロホルムで溶出する分画として
4,4’−ジ(tert−ブチルジメチルシロキシフェ
ニル)ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニル
メチルエステル10.7g(収率68%)が得られた。
で乾燥した後、溶媒を減圧溜去して油状の残渣を得た。
得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで
分離したところ、クロロホルムで溶出する分画として
4,4’−ジ(tert−ブチルジメチルシロキシフェ
ニル)ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニル
メチルエステル10.7g(収率68%)が得られた。
【0034】この生成物の 1H−NMRスペクトルは下
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 0.24(12H,s) 0.88(18H,s) 1.44(9H,s) 1.5 (3H,s) 2.21(2H,dd) 2.42(2H,dd) 4.4 (2H,s) 6.87(4H,d) 7.14(4H,d)
記に示す通りである。1 H−NMR(CDCl3 、δ) 0.24(12H,s) 0.88(18H,s) 1.44(9H,s) 1.5 (3H,s) 2.21(2H,dd) 2.42(2H,dd) 4.4 (2H,s) 6.87(4H,d) 7.14(4H,d)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C07D 307/20 309/12 G03F 7/004 501 H05K 3/06 H
Claims (2)
- 【請求項1】 下記化1で表されることを特徴とするジ
フェノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエ
ステル誘導体; 【化1】 但し、化1中のR1 は、水素原子、tert−ブチル
基、tert−ブトキシカルボニル基、tert−ブト
キシカルボニルメチル基、1−メチル−1−メトキシエ
チル基、2−テトラヒドロフラニル基、2−テトラヒド
ロピラニル基、メトキシメチル基、tert−ブチルジ
メチルシリル基の中から選択されるいずれかの基を表
す。 - 【請求項2】 下記化2で表されるジフェノール酸また
はその誘導体と下記化3で表されるα−ハロゲン化酢酸
エステルを塩基の存在下で反応させることを特徴とす
る、ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニルメ
チルエステル誘導体の製造方法。 【化2】 【化3】 但し、化3中のXは、塩素原子、臭素原子又は沃素原子
を表す。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6102061A JPH07285918A (ja) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体及びその製造方法 |
KR1019950008826A KR950032069A (ko) | 1994-04-15 | 1995-04-14 | 디페놀릭애시드 t- 부톡시카르보닐메틸에스테르 유도체 및 그 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6102061A JPH07285918A (ja) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07285918A true JPH07285918A (ja) | 1995-10-31 |
Family
ID=14317259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6102061A Pending JPH07285918A (ja) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | ジフェノール酸−tert−ブトキシカルボニルメチルエステル誘導体及びその製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07285918A (ja) |
KR (1) | KR950032069A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7192687B2 (en) | 2003-09-05 | 2007-03-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Positive resist composition and method of forming resist pattern using same |
US7629105B2 (en) | 2003-09-18 | 2009-12-08 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Positive photoresist composition and method of forming resist pattern |
CN108084028A (zh) * | 2016-11-23 | 2018-05-29 | 中国科学院化学研究所 | 含双酚a骨架结构的分子玻璃光刻胶的制备方法 |
-
1994
- 1994-04-15 JP JP6102061A patent/JPH07285918A/ja active Pending
-
1995
- 1995-04-14 KR KR1019950008826A patent/KR950032069A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7192687B2 (en) | 2003-09-05 | 2007-03-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Positive resist composition and method of forming resist pattern using same |
US7629105B2 (en) | 2003-09-18 | 2009-12-08 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Positive photoresist composition and method of forming resist pattern |
CN108084028A (zh) * | 2016-11-23 | 2018-05-29 | 中国科学院化学研究所 | 含双酚a骨架结构的分子玻璃光刻胶的制备方法 |
CN108084028B (zh) * | 2016-11-23 | 2020-05-26 | 中国科学院化学研究所 | 含双酚a骨架结构的分子玻璃光刻胶的制备方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR950032069A (ko) | 1995-12-20 |
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