JPH07283249A - Chip push-up unit of die bonding device - Google Patents
Chip push-up unit of die bonding deviceInfo
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- JPH07283249A JPH07283249A JP8918794A JP8918794A JPH07283249A JP H07283249 A JPH07283249 A JP H07283249A JP 8918794 A JP8918794 A JP 8918794A JP 8918794 A JP8918794 A JP 8918794A JP H07283249 A JPH07283249 A JP H07283249A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、粘着シートに貼着さ
れた半導体チップを粘着シートの裏側から突上げて、半
導体チップを剥離させるダイボンディング装置のチップ
突上げユニットに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip push-up unit of a die bonding apparatus which pushes up a semiconductor chip attached to an adhesive sheet from the back side of the adhesive sheet to separate the semiconductor chip.
【0002】[0002]
【従来の技術】粘着シートに貼着されたウエハは、ダイ
シングされて多数の半導体チップが形成される。この半
導体チップは、ダイボンディング装置を用いて粘着シー
トからピックアップされ、リードフレームのアイランド
部にボンディングされる。このボンディング工程におい
て、ダイボンディング装置に備えられたチップ突上げユ
ニットが、突上げピンを用いて半導体チップを粘着シー
トの裏側から突上げて、半導体チップを粘着シートから
剥離させ、ピックアップの容易化が図られている(第1
従来例)。2. Description of the Related Art A wafer attached to an adhesive sheet is diced to form a large number of semiconductor chips. This semiconductor chip is picked up from the adhesive sheet using a die bonding apparatus and bonded to the island portion of the lead frame. In this bonding process, the chip push-up unit provided in the die bonding device pushes up the semiconductor chip from the back side of the adhesive sheet by using the push-up pin and separates the semiconductor chip from the adhesive sheet, facilitating pickup. Illustrated (first
Conventional example).
【0003】また、特公平5-36943 号公報記載の発明の
ように、多数の半導体チップが貼着された粘着シート
を、多数の溝が形成された真空プレートの吸着面に吸着
させ、溝内に吸着シートを吸引して、半導体チップと粘
着シートとの粘着面積を減少させ、半導体チップをピッ
クアップさせ易くしたものもある(第2従来例)。Further, as in the invention described in Japanese Patent Publication No. 5-36943, a pressure-sensitive adhesive sheet to which a large number of semiconductor chips are adhered is adsorbed on a suction surface of a vacuum plate in which a large number of grooves are formed, There is also one in which the suction sheet is sucked to reduce the adhesive area between the semiconductor chip and the adhesive sheet to facilitate the pickup of the semiconductor chip (second conventional example).
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述の第1
従来例では、半導体チップの寸法が変更されると、突上
げピンの本数や形状を変更して、突上げピンによる剥離
が効率的に実施出来るようにしなければならず、突上げ
作業が煩雑になる。However, the above-mentioned first problem
In the conventional example, when the size of the semiconductor chip is changed, it is necessary to change the number and shape of the push-up pins so that the peeling by the push-up pins can be efficiently performed, which makes the push-up work complicated. Become.
【0005】また、上記第2従来例では、粘着シートを
吸着する真空プレートの吸着面がウェハよりも大きく形
成されているため、小さなウェハに変更された場合に
は、真空プレートの吸着面が、粘着シートの外周に固着
されたウェハリング位置まで来てしまう。このため、例
えば特公平2-24379 号公報に例示されるように、ウエハ
リングを押し下げることで粘着シートを引伸し、隣接す
る半導体チップ間に隙間を形成しようとしても、ウエハ
リングが真空プレートに衝突し、粘着シートを引伸すこ
とができなくなる。したがって、この場合にもウェハの
寸法に応じて真空プレートを変更する必要がある。Further, in the second conventional example, since the suction surface of the vacuum plate for sucking the adhesive sheet is formed larger than the wafer, when the wafer is changed to a smaller wafer, the suction surface of the vacuum plate becomes It will come to the wafer ring position fixed to the outer periphery of the adhesive sheet. Therefore, as illustrated in Japanese Patent Publication No. 2-24379, for example, even if an adhesive sheet is stretched by pushing down the wafer ring to form a gap between adjacent semiconductor chips, the wafer ring collides with the vacuum plate. , The adhesive sheet cannot be stretched. Therefore, also in this case, it is necessary to change the vacuum plate according to the size of the wafer.
【0006】この発明は、上述の事情を考慮してなされ
たものであり、半導体チップやウェハの寸法に関わら
ず、半導体チップを迅速、かつ安定して突上げることが
できるダイボンディング装置のチップ突上げユニットを
提供することを目的とする。The present invention has been made in consideration of the above-mentioned circumstances, and a chip protrusion of a die bonding apparatus capable of quickly and stably pushing up a semiconductor chip regardless of the dimensions of the semiconductor chip or wafer. The purpose is to provide a lifting unit.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、粘着シートに貼着されウェハから分割された多数個
の半導体チップを上記粘着シートの裏面側から突上げ
て、ピックアップ部材による上記半導体チップのピック
アップを容易化するダイボンディング装置のチップ突上
げユニットにおいて、上記粘着シートの裏面側にこの裏
面に対向し、かつ上記ウェハ径より小さな寸法に設定さ
れた吸着面を備えた吸着胴が配置され、上記吸着面に多
数の凹凸が形成されるとともに、上記吸着胴には上記吸
着面に開口する流路が形成され、この流路が負圧供給源
又は大気に選択的に連続され、また、上記吸着胴と上記
粘着シートとは、粘着シート面に沿う方向で相対移動さ
れるようにしたものである。According to a first aspect of the present invention, a large number of semiconductor chips attached to an adhesive sheet and divided from a wafer are pushed up from the back surface side of the adhesive sheet, and a pickup member is used. In a chip push-up unit of a die bonding apparatus that facilitates pickup of a semiconductor chip, a suction cylinder having a suction surface facing the back surface of the adhesive sheet and having a size smaller than the wafer diameter is provided. Arranged, a large number of irregularities are formed on the adsorption surface, a channel that opens to the adsorption surface is formed in the adsorption cylinder, this channel is selectively continuous to the negative pressure source or the atmosphere, Further, the suction cylinder and the pressure sensitive adhesive sheet are configured to be relatively moved in a direction along the surface of the pressure sensitive adhesive sheet.
【0008】また、請求項3に記載の発明は、粘着シー
トに貼着されウェハから分割された多数個の半導体チッ
プを上記粘着シートの裏面側から突上げて、ピックアッ
プ部材による上記半導体チップのピックアップを容易化
するダイボンディング装置のチップ突上げユニットにお
いて、上記粘着シートの裏面側にこの裏面に対向し、か
つ上記ウェハ径より小さな寸法に設定された吸着面を備
えた吸着胴が配置され、上記吸着面に多数の凹凸が形成
されるとともに、上記吸着胴には上記吸着面に開口する
流路が形成され、この流路が負圧供給源又は高圧供給源
に選択的に接続され、また、上記吸着胴と上記粘着シー
トとは、粘着シート面に沿う方向で相対移動されるよう
にしたものである。According to a third aspect of the present invention, a large number of semiconductor chips attached to an adhesive sheet and divided from a wafer are pushed up from the back side of the adhesive sheet, and the semiconductor chip is picked up by a pickup member. In a chip pushing-up unit of a die bonding apparatus for facilitating the above, on the back surface side of the pressure-sensitive adhesive sheet, a suction cylinder having a suction surface facing the back surface and having a size smaller than the wafer diameter is arranged. A large number of irregularities are formed on the suction surface, a flow path that opens to the suction surface is formed in the suction cylinder, and this flow path is selectively connected to a negative pressure supply source or a high pressure supply source, and The suction cylinder and the pressure-sensitive adhesive sheet are configured to be relatively moved in a direction along the pressure-sensitive adhesive sheet surface.
【0009】[0009]
【作用】従って、請求項1または3に記載の発明に係る
ダイボンディング装置のチップ突上げユニットによれ
ば、吸着胴の吸着面上方に、ウェハを貼着した粘着シー
トを配置した状態で、吸着胴の流路を負圧供給源に接続
すると、粘着シートは凹凸の吸着面に吸着され、この吸
着面の凹部に対応した粘着シートが半導体チップから剥
離して、この半導体チップが吸着面の凸部に突上げられ
た状態となる。この結果、この半導体チップをピックア
ップ部材によって容易にピックアップすることができ
る。尚本発明書において「突上げ」とは、突上げピンを
用いた従来の積極的な「突上げ」の意味に加え、粘着シ
ートが凹凸の吸着面に吸着され、吸着面の凹部に対応し
た粘着シートが半導体チップから剥離して、半導体チッ
プが吸着面の凸部に突上げられた状態も含む意味で用い
るものとする。Therefore, according to the chip pushing-up unit of the die bonding apparatus according to the present invention as defined in claim 1 or 3, the suction is performed with the adhesive sheet having the wafer adhered thereon being arranged above the suction surface of the suction cylinder. When the flow path of the body is connected to the negative pressure source, the adhesive sheet is adsorbed on the uneven suction surface, the adhesive sheet corresponding to the concave portion of this suction surface is peeled off from the semiconductor chip, and this semiconductor chip is convex on the suction surface. It will be in a state of being pushed up to the department. As a result, this semiconductor chip can be easily picked up by the pickup member. In addition, in the present specification, "push-up" means not only the conventional positive push-up using a push-up pin, but also the pressure-sensitive adhesive sheet is adsorbed on the uneven suction surface and corresponds to the concave portion of the suction surface. It is used in the sense that the pressure-sensitive adhesive sheet is peeled off from the semiconductor chip and the semiconductor chip is pushed up by the convex portion of the suction surface.
【0010】また、吸着胴の吸着面は、用いられるウエ
ハ径より小さな寸法に設定されたので、半導体チップや
ウェハの大きさに変更があっても吸着胴を変更する必要
がなく、半導体チップの突上げ及びピックアップを迅
速、かつ安定して実施できる。Further, since the suction surface of the suction cylinder is set to a size smaller than the diameter of the wafer to be used, it is not necessary to change the suction cylinder even if the size of the semiconductor chip or the wafer is changed. Pushing up and picking up can be performed quickly and stably.
【0011】[0011]
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて説
明する。図1(A)は、この発明に係るボンディング装
置のチップ突上げユニットの一実施例を示す構成図であ
り、図1(B)は、図1(A)の吸着胴とウェハとの関
係を示すウェハの平面図である。図2は、図1(B)の
部分拡大平面図である。図3は、図1(A)のチップ突
上げユニットにおけるシート吸着工程を示す構成図であ
る。図4は、図1(A)のチップ突上げユニットにおけ
るシート浮上工程を示す構成図である。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 (A) is a configuration diagram showing an embodiment of a chip push-up unit of a bonding apparatus according to the present invention, and FIG. 1 (B) shows the relationship between the suction cylinder and the wafer of FIG. 1 (A). It is a top view of the wafer shown. FIG. 2 is a partially enlarged plan view of FIG. FIG. 3 is a configuration diagram showing a sheet suction process in the chip push-up unit of FIG. FIG. 4 is a configuration diagram showing a sheet floating process in the chip push-up unit of FIG. 1 (A).
【0012】先ず、図1(A)及び(B)に示すよう
に、ウェハ11は粘着シート12に貼着され、この粘着
シート12がウェハリング13に固着保持される。ウェ
ハ11は、シート引伸し装置(図示せず、但し、なくて
も良い)及びチップ突上げユニット10に搬入される前
段階でダイシングされて、多数個の半導体チップ14に
分割される。First, as shown in FIGS. 1A and 1B, the wafer 11 is attached to an adhesive sheet 12, and the adhesive sheet 12 is fixedly held by a wafer ring 13. The wafer 11 is diced before it is loaded into the sheet stretching device (not shown), and the chip push-up unit 10, and is divided into a large number of semiconductor chips 14.
【0013】上記シート引伸し装置は粘着シート12を
引伸して、隣接する半導体チップ14間に適切な隙間1
5を形成し、ピックアップ部材としての吸着ノズル16
を用いて各半導体チップ14をピックアップさせ易くす
るものである。また、上記チップ突上げユニット10
は、半導体チップ14が貼着された粘着シート12を、
その裏面側から突上げて、この突上げられた半導体チッ
プ14を粘着シート12から剥離させ、吸着ノズル16
による上記半導体チップ14のピックアップを容易化す
るものである。The sheet stretching device stretches the pressure-sensitive adhesive sheet 12 so that an appropriate gap 1 is formed between the adjacent semiconductor chips 14.
5 to form a suction nozzle 16 as a pickup member.
Is used to facilitate picking up each semiconductor chip 14. In addition, the chip push-up unit 10
Is the adhesive sheet 12 to which the semiconductor chip 14 is attached,
The semiconductor chip 14 pushed up from the back side is peeled off from the adhesive sheet 12, and the suction nozzle 16
To facilitate the pickup of the semiconductor chip 14.
【0014】ダイボンディング装置は、上記シート引伸
し装置及びチップ突上げユニット10の他に、上記吸着
ノズル16を備えたチップ移送ユニット(図示せず)を
有してなる。このチップ移送ユニットの吸着ノズル16
がピックアップした半導体チップ14を、直接あるいは
必要に応じて位置決めポジションを経由し、図示しない
リードフレームのアイランド部まで移送し、このアイラ
ンド部にボンディングする。The die bonding apparatus has a chip transfer unit (not shown) having the suction nozzle 16 in addition to the sheet stretching device and the chip push-up unit 10. The suction nozzle 16 of this chip transfer unit
The semiconductor chip 14 picked up by (1) is transferred to the island portion of the lead frame (not shown) directly or via a positioning position as required, and is bonded to this island portion.
【0015】さて、図1(A)に示すように、チップ突
上げユニット10は、吸着面18を備えた吸着胴17
と、この吸着胴17の流路19に接続されたエア・バキ
ューム回路20とを有して構成される。Now, as shown in FIG. 1A, the chip push-up unit 10 has a suction cylinder 17 having a suction surface 18.
And an air / vacuum circuit 20 connected to the flow path 19 of the suction cylinder 17.
【0016】吸着胴17の吸着面18は、多数の凸部2
1及び凹部22がほぼ格子状に交互に形成されたもので
あり、上記流路19はこの吸着面18に開口して構成さ
れる。尚、凸部21及び凹部22は、吸着面18にラン
ダムに配置形成されていても良い。また、吸着面18の
面積は、用いられるウエハ11の径より小さく、少なく
とも1個の半導体チップ14と同等の大きさに設定され
るもので、図2に示す例では、任意の1個の半導体チッ
プ14aの周囲に隣接した8個の半導体チップ14b,
14c,14d,14e,14f,14g,14h及び
14iをほぼ囲む大きさに設定される。The suction surface 18 of the suction cylinder 17 has a large number of protrusions 2.
1 and the concave portions 22 are alternately formed in a substantially lattice shape, and the flow path 19 is formed by opening to the suction surface 18. The convex portions 21 and the concave portions 22 may be randomly arranged and formed on the suction surface 18. Further, the area of the suction surface 18 is smaller than the diameter of the wafer 11 used and is set to a size equivalent to that of at least one semiconductor chip 14. In the example shown in FIG. Eight semiconductor chips 14b adjacent to the periphery of the chip 14a,
The size is set to substantially surround 14c, 14d, 14e, 14f, 14g, 14h and 14i.
【0017】また、エア・バキューム回路20は、経路
23が第1電磁弁24を介して負圧供給源としての真空
ポンプ25に接続され、経路26が第2電磁弁27を介
して高圧供給源としての圧縮機28に接続されて構成さ
れる。In the air / vacuum circuit 20, a path 23 is connected via a first electromagnetic valve 24 to a vacuum pump 25 as a negative pressure supply source, and a path 26 is connected via a second electromagnetic valve 27 to a high pressure supply source. Is connected to the compressor 28 as shown in FIG.
【0018】経路23の一端は、吸着胴17の流路19
に接続され、経路26の一端は第1電磁弁24に接続さ
れる。第1電磁弁24をオン作動することにより、経路
23が真空ポンプ25に接続されて、この真空ポンプ2
5により吸着胴17の流路19が負圧に設定される(図
3)。また、第1電磁弁24をオフ作動させ、かつ第2
電磁弁27をオン作動させることにより、経路23及び
経路26が圧縮機28に接続されて、吸着胴17の流路
19内に高圧の空気が供給される(図4)。第1電磁弁
24及び第2電磁弁27を共にオフ作動させた時には、
経路23及び26を介して、吸着胴17の流路19は大
気に開放される(図1(A))。One end of the path 23 is connected to the flow path 19 of the suction cylinder 17.
And one end of the path 26 is connected to the first solenoid valve 24. By turning on the first electromagnetic valve 24, the path 23 is connected to the vacuum pump 25, and the vacuum pump 2
5, the flow path 19 of the suction cylinder 17 is set to a negative pressure (FIG. 3). In addition, the first solenoid valve 24 is turned off, and
By turning on the solenoid valve 27, the paths 23 and 26 are connected to the compressor 28, and high-pressure air is supplied into the flow path 19 of the adsorption cylinder 17 (FIG. 4). When both the first solenoid valve 24 and the second solenoid valve 27 are turned off,
The flow path 19 of the suction cylinder 17 is opened to the atmosphere via the paths 23 and 26 (FIG. 1 (A)).
【0019】次に作用を説明する。ウェハ11がダイシ
ングされて多数の半導体チップ14が貼着された粘着シ
ート12を、必要に応じてシート引伸し装置に設置して
引伸し、半導体チップ14間に適切な隙間15を形成す
る。Next, the operation will be described. The adhesive sheet 12 to which the wafer 11 is diced and a large number of semiconductor chips 14 are attached is installed in a sheet stretching apparatus and stretched as needed to form appropriate gaps 15 between the semiconductor chips 14.
【0020】その後、粘着シート12をXY方向に移動
させることで、最初にピックアップする半導体チップ1
4を吸着胴17の吸着面18のほぼ中心に位置付けると
ともに、図3に示すように、チップ突上げユニット10
のエア・バキューム回路20における第1電磁弁24を
オン作動させ、第2電磁弁27をオフ作動させて、真空
ポンプ25にて吸着胴17の流路19内を負圧に設定す
る。すると、吸着胴17の吸着面18と粘着シート12
との間が負圧になって、この粘着シート12が吸着面1
8に吸着される。この吸着状態では、粘着シート12が
吸着面18の凸部21及び凹部22に吸着するので、粘
着シート12の凹部22に対応した部分が半導体チップ
14から剥離し、この半導体チップ14が吸着面18の
凸部21により突上げられた状態となる。この状態で、
チップ移送ユニットの吸着ノズル16を用いて半導体チ
ップ14をピックアップし、リードフレームにボンディ
ングする。After that, the adhesive sheet 12 is moved in the XY directions to pick up the semiconductor chip 1 first.
4 is positioned almost at the center of the suction surface 18 of the suction cylinder 17, and as shown in FIG.
The first solenoid valve 24 in the air / vacuum circuit 20 is turned on and the second solenoid valve 27 is turned off, and the vacuum pump 25 sets the negative pressure in the flow passage 19 of the suction cylinder 17. Then, the suction surface 18 of the suction cylinder 17 and the adhesive sheet 12
A negative pressure is generated between the pressure sensitive adhesive sheet 12 and the suction surface 1
Adsorbed on 8. In this suction state, the pressure-sensitive adhesive sheet 12 is sucked by the convex portions 21 and the concave portions 22 of the suction surface 18, so that the portion corresponding to the concave portion 22 of the pressure-sensitive adhesive sheet 12 is peeled off from the semiconductor chip 14, and the semiconductor chip 14 is sucked by the suction surface 18. It is in a state of being pushed up by the convex portion 21 of. In this state,
The semiconductor chip 14 is picked up using the suction nozzle 16 of the chip transfer unit and bonded to the lead frame.
【0021】半導体チップ14のピックアップ後、図4
に示すように、第1電磁弁24をオフ作動させ、かつ第
2電磁弁27をオン作動させて、圧縮機28から吸着胴
17の流路19へ高圧空気を供給し、粘着シート12を
吸着胴17の吸着面18上方に浮上させる。この浮上
後、図1(A)に示すように、第2電磁弁27もオフ作
動させて、吸着胴17の流路19を大気に開放させ、粘
着シート12を図1(A)の左右方向に移動させて、次
の半導体チップ14を吸着胴17の吸着面18における
中心位置に位置づける。その後、再び第1電磁弁24を
オン作動させ、第2電磁弁27をオフ作動させて、上述
の如く、粘着シート12を吸着胴17の吸着面18に吸
着させる。After picking up the semiconductor chip 14, FIG.
As shown in, the first solenoid valve 24 is turned off and the second solenoid valve 27 is turned on to supply high pressure air from the compressor 28 to the flow passage 19 of the suction cylinder 17 to suck the adhesive sheet 12. Float above the suction surface 18 of the body 17. After this floating, as shown in FIG. 1 (A), the second electromagnetic valve 27 is also turned off to open the flow path 19 of the suction cylinder 17 to the atmosphere, and the adhesive sheet 12 is moved in the left-right direction of FIG. 1 (A). Then, the next semiconductor chip 14 is positioned at the center position on the suction surface 18 of the suction cylinder 17. After that, the first electromagnetic valve 24 is turned on again and the second electromagnetic valve 27 is turned off again, so that the adhesive sheet 12 is adsorbed to the adsorption surface 18 of the adsorption drum 17 as described above.
【0022】上記実施例によれば、吸着胴17の吸着面
18上方に、ウェハ11を貼着した粘着シート12を配
置した状態で、第1電磁弁24をオン作動させ、かつ第
2電磁弁27をオフ作動させて、吸着胴17の流路19
を真空ポンプ25に接続すると、粘着シート12は吸着
面18に吸着され、この吸着面18の凹部22に対応し
た粘着シート12が半導体チップ14から剥離して、こ
の半導体チップ14が吸着面18の凸部21に突上げら
れた状態となる。この結果、この半導体チップ14を吸
着ノズル16によって容易にピックアップすることがで
きる。According to the above embodiment, the first solenoid valve 24 is turned on and the second solenoid valve is turned on with the adhesive sheet 12 to which the wafer 11 is attached being arranged above the suction surface 18 of the suction cylinder 17. 27 is turned off, and the flow path 19 of the suction cylinder 17 is turned on.
Is connected to the vacuum pump 25, the adhesive sheet 12 is adsorbed to the adsorption surface 18, the adhesive sheet 12 corresponding to the concave portion 22 of the adsorption surface 18 is peeled from the semiconductor chip 14, and the semiconductor chip 14 is attached to the adsorption surface 18. The projection 21 is pushed up. As a result, the semiconductor chip 14 can be easily picked up by the suction nozzle 16.
【0023】また、吸着胴17の吸着面18は、1個の
半導体チップ14aの周囲に隣接した8個の半導体チッ
プ14b〜iをほぼ囲む寸法に設定されたので、半導体
チップ14の大きさに変更があっても、従来の様に突上
げピンの本数を変更する必要がなく、また、ウェハ11
の大きさに変更があっても、吸着胴17がウェハリング
13に干渉することがない。このため、半導体チップ1
4やウェハ11の寸法に変更があっても吸着胴17を変
更する必要がなく、半導体チップ14の安定した突上げ
及びピックアップを迅速に実施できる。Since the suction surface 18 of the suction cylinder 17 is set to have a size that substantially surrounds the eight semiconductor chips 14b to 14i adjacent to the periphery of one semiconductor chip 14a, the size of the semiconductor chip 14 is the same. Even if there is a change, it is not necessary to change the number of push-up pins as in the conventional case.
The suction cylinder 17 does not interfere with the wafer ring 13 even if the size is changed. Therefore, the semiconductor chip 1
4 and the size of the wafer 11 do not need to be changed, and the semiconductor chip 14 can be pushed up and picked up quickly and stably.
【0024】更に、吸着胴17には流路19が形成され
ただけであり、従来のような突上げピン駆動機構が不要
となることから、チップ突上げユニット10を簡単に構
成でき、小型化及びコストダウンを図ることができる。Further, since only the flow path 19 is formed in the suction cylinder 17, the push-up pin driving mechanism as in the conventional case is not required, so that the chip push-up unit 10 can be easily constructed and miniaturized. Also, the cost can be reduced.
【0025】また粘着シート12を吸着胴17に対して
相対移動させるに先立ち、吸着胴17の吸着面18から
吹き出す高圧空気によりこの粘着シート12が浮上状態
とされることから、半導体チップ突上げ時の粘着シート
12と吸着面18との密着状態が完全に解かれ、その後
相対移動が円滑に行なえる。Prior to moving the pressure-sensitive adhesive sheet 12 relative to the suction cylinder 17, the high-pressure air blown from the suction surface 18 of the suction cylinder 17 causes the pressure-sensitive adhesive sheet 12 to float, so that when the semiconductor chip is pushed up. The contact state between the adhesive sheet 12 and the suction surface 18 is completely released, and then the relative movement can be smoothly performed.
【0026】尚上記実施例では、半導体チップ14のピ
ックアップ後、粘着シート12を左右に移動させるに先
立ち、先ず吸着胴17の流路19を圧縮機28と接続
し、その後に大気に開放されるようにしたが、移動中、
或いは移動を開始してから所定の期間、流路19と圧縮
機28との接続状態を維持するようにしても良い。更に
は、例えば粘着シート12に付与された張力が大で、吸
着胴17の流路19を圧縮機28と接続することなく大
気に開放するだけで密着状態が解けるような場合には、
圧縮機28を特別に設けることなく、流路19と真空ポ
ンプ25との接続状態から、大気に開放される状態に直
接切換えてから移動させるようにしても良い。In the above embodiment, after picking up the semiconductor chip 14, the flow path 19 of the suction cylinder 17 is first connected to the compressor 28 before moving the adhesive sheet 12 to the left and right, and then opened to the atmosphere. However, while moving,
Alternatively, the connection between the flow path 19 and the compressor 28 may be maintained for a predetermined period after the movement is started. Furthermore, for example, when the tension applied to the pressure-sensitive adhesive sheet 12 is large and the flow path 19 of the suction cylinder 17 is not connected to the compressor 28 but only opened to the atmosphere, the close contact state can be released.
The compressor 28 may be moved after the connection state of the flow path 19 and the vacuum pump 25 is directly switched to the state of being opened to the atmosphere without specially providing the compressor 28.
【0027】また、上記実施例では、吸着胴17に対し
て粘着シート12を移動させるようにしたが、吸着胴1
7の方を移動させるようにしても良い。In the above embodiment, the adhesive sheet 12 is moved with respect to the suction cylinder 17, but the suction cylinder 1
You may make it move 7.
【0028】更に上記実施例では、吸着胴17の吸着面
18の寸法が図2に示される大きさに設定されたため、
ピックアップする半導体チップ14を1個突上げる毎
に、粘着シート12と吸着胴17とを相対移動させるよ
うにしたが、吸着面18の寸法が複数個の半導体チップ
14を包囲する大きさに設定されていれば、その複数個
をピックアップする毎に両者を相対移動させるようにし
ても良い。Further, in the above embodiment, the size of the suction surface 18 of the suction cylinder 17 is set to the size shown in FIG.
Each time one semiconductor chip 14 to be picked up is pushed up, the pressure-sensitive adhesive sheet 12 and the suction cylinder 17 are moved relative to each other. However, the size of the suction surface 18 is set so as to surround a plurality of semiconductor chips 14. If so, they may be moved relative to each other each time a plurality of them are picked up.
【0029】[0029]
【発明の効果】以上の様に、この発明に係るダイボンデ
ィング装置のチップ突上げユニットによれば、半導体チ
ップやウェハの寸法に関わらず、半導体チップを迅速、
かつ安定して突上げることができる。As described above, according to the chip pushing-up unit of the die bonding apparatus according to the present invention, the semiconductor chip can be quickly moved regardless of the size of the semiconductor chip or the wafer.
And it is possible to push up stably.
【図1】図1(A)は、この発明に係るボンディング装
置のチップ突上げユニットの一実施例を示す構成図であ
り、図1(B)は、図1(A)の吸着胴とウェハとの関
係を示す、ウェハの平面図である。1A is a configuration diagram showing an embodiment of a chip push-up unit of a bonding apparatus according to the present invention, and FIG. 1B is a suction cylinder and a wafer of FIG. 1A. It is a top view of a wafer which shows the relationship with.
【図2】図2は、図1(B)の部分拡大平面図である。FIG. 2 is a partially enlarged plan view of FIG. 1 (B).
【図3】図3は、図1(A)のチップ突上げユニットに
おけるシート吸着工程を示す構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram showing a sheet suction process in the chip push-up unit of FIG. 1 (A).
【図4】図4は、図1(A)のチップ突上げユニットに
おけるシート浮上工程を示す構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram showing a sheet floating process in the chip push-up unit of FIG. 1 (A).
10 チップ突上げユニット 11 ウエハ 12 粘着シート 14 半導体チップ 16 吸着ノズル 17 吸着胴 18 吸着面 19 流路 20 エア・バキューム回路 21 吸着面の凸部 22 吸着面の凹部 24 第1電磁弁 25 真空ポンプ 27 第2電磁弁 28 圧縮機 10 Chip Push-up Unit 11 Wafer 12 Adhesive Sheet 14 Semiconductor Chip 16 Adsorption Nozzle 17 Adsorption Cylinder 18 Adsorption Surface 19 Flow Path 20 Air / Vacuum Circuit 21 Convex Surface of Adsorption Surface 22 Recessed Surface of Adsorption 24 First Solenoid Valve 25 Vacuum Pump 27 Second solenoid valve 28 Compressor
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/68 E 21/301 Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location H01L 21/68 E 21/301
Claims (4)
れた多数個の半導体チップを上記粘着シートの裏面側か
ら突上げて、ピックアップ部材による上記半導体チップ
のピックアップを容易化するダイボンディング装置のチ
ップ突上げユニットにおいて、上記粘着シートの裏面側
にこの裏面に対向し、かつ上記ウェハ径より小さな寸法
に設定された吸着面を備えた吸着胴が配置され、上記吸
着面に多数の凹凸が形成されるとともに、上記吸着胴に
は上記吸着面に開口する流路が形成され、この流路が負
圧供給源又は大気に選択的に連続され、また、上記吸着
胴と上記粘着シートとは、粘着シート面に沿う方向で相
対移動されることを特徴とするダイボンディング装置の
チップ突上げユニット。1. A chip of a die bonding apparatus for facilitating pickup of the semiconductor chip by a pickup member by pushing up a large number of semiconductor chips attached to an adhesive sheet and divided from a wafer from the back surface side of the adhesive sheet. In the push-up unit, on the back surface side of the pressure-sensitive adhesive sheet, a suction cylinder having a suction surface facing the back surface and having a size smaller than the wafer diameter is arranged, and a large number of irregularities are formed on the suction surface. At the same time, a channel opening to the adsorption surface is formed in the adsorption cylinder, the channel is selectively connected to the negative pressure source or the atmosphere, and the adsorption cylinder and the adhesive sheet are adhesive. A chip push-up unit for a die bonding apparatus, which is relatively moved in a direction along a sheet surface.
供給源と接続され、吸着胴と粘着シートの相対移動時に
は、流路が大気と接続されることを特徴とする請求項1
に記載のダイボンディング装置のチップ突上げユニッ
ト。2. The flow path is connected to a negative pressure supply source when the semiconductor chip is projected, and the flow path is connected to the atmosphere when the suction cylinder and the adhesive sheet are relatively moved.
The chip push-up unit of the die bonding apparatus described in.
れた多数個の半導体チップを上記粘着シートの裏面側か
ら突上げて、ピックアップ部材による上記半導体チップ
のピックアップを容易化するダイボンディング装置のチ
ップ突上げユニットにおいて、上記粘着シートの裏面側
にこの裏面に対向し、かつ上記ウェハ径より小さな寸法
に設定された吸着面を備えた吸着胴が配置され、上記吸
着面に多数の凹凸が形成されるとともに、上記吸着胴に
は上記吸着面に開口する流路が形成され、この流路が負
圧供給源又は高圧供給源に選択的に接続され、また、上
記吸着胴と上記粘着シートとは、粘着シート面に沿う方
向で相対移動されることを特徴とするダイボンディング
装置のチップ突上げユニット。3. A chip of a die-bonding device for facilitating pickup of the semiconductor chip by a pickup member by pushing up a large number of semiconductor chips attached to an adhesive sheet and divided from a wafer from the back surface side of the adhesive sheet. In the push-up unit, on the back surface side of the pressure-sensitive adhesive sheet, a suction cylinder having a suction surface facing the back surface and having a size smaller than the wafer diameter is arranged, and a large number of irregularities are formed on the suction surface. At the same time, the suction cylinder is formed with a flow path opening to the suction surface, and this flow path is selectively connected to a negative pressure supply source or a high pressure supply source, and the suction cylinder and the adhesive sheet are , A chip push-up unit of a die bonding apparatus, which is relatively moved in a direction along the surface of the adhesive sheet.
圧供給源と接続され、吸着胴と粘着シートの相対移動時
には、流路が高圧供給源と接続されることを特徴とする
請求項3に記載のダイボンディング装置のチップ突上げ
ユニット。4. The flow path is connected to a negative pressure supply source when the semiconductor chip is pushed up, and the flow path is connected to a high pressure supply source when the suction cylinder and the adhesive sheet are moved relative to each other. The chip push-up unit of the die bonding apparatus according to item 3.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8918794A JP3377127B2 (en) | 1994-04-05 | 1994-04-05 | Die bonding equipment |
Applications Claiming Priority (1)
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JP8918794A JP3377127B2 (en) | 1994-04-05 | 1994-04-05 | Die bonding equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07283249A true JPH07283249A (en) | 1995-10-27 |
JP3377127B2 JP3377127B2 (en) | 2003-02-17 |
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ID=13963732
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7163875B2 (en) | 2000-04-04 | 2007-01-16 | Synova S.A. | Method of cutting an object and of further processing the cut material, and carrier for holding the object and the cut material |
JP2014011416A (en) * | 2012-07-03 | 2014-01-20 | Panasonic Corp | Pickup device and method for semiconductor chip |
-
1994
- 1994-04-05 JP JP8918794A patent/JP3377127B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7163875B2 (en) | 2000-04-04 | 2007-01-16 | Synova S.A. | Method of cutting an object and of further processing the cut material, and carrier for holding the object and the cut material |
JP2014011416A (en) * | 2012-07-03 | 2014-01-20 | Panasonic Corp | Pickup device and method for semiconductor chip |
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