JPH04340729A - Die bonder - Google Patents

Die bonder

Info

Publication number
JPH04340729A
JPH04340729A JP3112808A JP11280891A JPH04340729A JP H04340729 A JPH04340729 A JP H04340729A JP 3112808 A JP3112808 A JP 3112808A JP 11280891 A JP11280891 A JP 11280891A JP H04340729 A JPH04340729 A JP H04340729A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tape
semiconductor chip
die bonder
spherical
chuck
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP3112808A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigeru Saito
茂 齋藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyushu Fujitsu Electronics Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Kyushu Fujitsu Electronics Ltd
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyushu Fujitsu Electronics Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Kyushu Fujitsu Electronics Ltd
Priority to JP3112808A priority Critical patent/JPH04340729A/en
Publication of JPH04340729A publication Critical patent/JPH04340729A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68318Auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support
    • H01L2221/68322Auxiliary support including means facilitating the selective separation of some of a plurality of devices from the auxiliary support

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a die bonder provided with a chip peeling mechanism capable of easily preventing the generation of cracks due to contact with an adjacent semiconductor chip when a chip is peeled from a tape, regarding the improvement of a semiconductor chip peeling mechanism of a die bonder. CONSTITUTION:In a die bonder which vacuum-sucks a plurality of semiconductor chips 9 stuck on a tape 8 surface whose peripheral parts are retained using a collet chuck, and conveys the chips 9, a spherical chuck 4 is provided, which is made to abut against the tape 8 rear, stretches the tape, and widens the interval between semiconductor chips 9.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、ダイスボンダの半導体
チップ剥離機構の改良に関するものである。近年の半導
体チップを半導体パッケージに実装するダイスボンダに
おいては、半導体基板をテープに貼付して分割した半導
体チップをこのテープから剥離する際に、このテープを
貫通する突き上げピンにより半導体チップを突き上げる
方式を採用しているが、この突き上げの際に隣接する半
導体チップとの接触に起因する欠けが生じるという障害
が発生している。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in a semiconductor chip peeling mechanism of a die bonder. In recent years, die bonders that mount semiconductor chips into semiconductor packages use a method in which a semiconductor substrate is attached to a tape and when the divided semiconductor chips are peeled off from the tape, the semiconductor chips are pushed up using push-up pins that pass through the tape. However, during this push-up, a problem arises in that chips occur due to contact with adjacent semiconductor chips.

【0002】以上のような状況から貼付されているテー
プから半導体チップを剥離する際に発生する、隣接する
半導体チップとの接触に起因する欠けを防止することが
可能なダイスボンダが要望されている。
Under the above circumstances, there is a need for a die bonder that can prevent chipping caused by contact with an adjacent semiconductor chip that occurs when a semiconductor chip is peeled off from the attached tape.

【0003】0003

【従来の技術】従来のダイスボンダの半導体チップ剥離
機構について図6により説明する。図6は従来のダイス
ボンダの半導体チップ剥離機構の半導体チップを吸着す
る場合を示す図である。図に示すように半導体チップ9
を貼付したテープ8の周辺部を貼付したリング7を、下
部でXYステージ36に固定されているリング設置部3
3に固定し、カメラ32により半導体チップ9の位置を
監視しながら、このXYステージ36によりコレットチ
ャック31に吸着して搬送すべき半導体チップ9をコレ
ットチャック31の真下に移動させる。
2. Description of the Related Art A semiconductor chip peeling mechanism of a conventional die bonder will be explained with reference to FIG. FIG. 6 is a diagram showing a case where a semiconductor chip is attracted by a semiconductor chip peeling mechanism of a conventional die bonder. Semiconductor chip 9 as shown in the figure
The ring 7 to which the peripheral part of the tape 8 to which the
3, and while the position of the semiconductor chip 9 is monitored by the camera 32, the semiconductor chip 9 to be attracted to the collet chuck 31 and conveyed is moved to the position directly below the collet chuck 31 using the XY stage 36.

【0004】テープ8との接触面が平面のピックアップ
テーブル34にこのテープ8を接触させてこの接触面に
真空によって吸着し、ピックアップテーブル34に設け
た貫通孔34a を通る突き上げピン35でこのテープ
8を突き破ってこの貼付されている半導体チップ9を突
き上げ、上部のコレットチャック31で半導体チップ9
を真空吸着して搬送している。
The tape 8 is brought into contact with a pick-up table 34 whose contact surface with the tape 8 is flat, and the tape 8 is adsorbed by vacuum to this contact surface. Push up the attached semiconductor chip 9 through the upper collet chuck 31.
are transported by vacuum suction.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】以上説明した従来のダ
イスボンダにおいては、図6に示すように半導体チップ
9を貼付したテープ8を表面が平面のピックアップテー
ブル34の表面に真空で吸着し、突き上げピン35で突
き上げてコレットチャック31で真空吸着しているが、
半導体チップ9の間隔が非常に狭いので、この突き上げ
ピン35の先端の高さが同一平面上にない場合には半導
体チップ9が傾斜し、突き上げの際に隣接する半導体チ
ップ9と接触して欠けが発生するという問題点があった
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional die bonder described above, as shown in FIG. 6, the tape 8 to which the semiconductor chip 9 is attached is vacuum-adsorbed onto the surface of the pickup table 34, which has a flat surface, and the push-up pins 35 and vacuum suction with collet chuck 31,
Since the spacing between the semiconductor chips 9 is very narrow, if the heights of the tips of the push-up pins 35 are not on the same plane, the semiconductor chips 9 will tilt and come into contact with adjacent semiconductor chips 9 during push-up, resulting in chipping. There was a problem in that this occurred.

【0006】本発明は以上のような状況から、テープか
ら半導体チップを剥離する場合に隣接する半導体チップ
と接触して欠けが発生するのを容易に防止することが可
能となるチップ剥離機構を備えたダイスボンダの提供を
目的としたものである。
In view of the above-mentioned circumstances, the present invention provides a chip peeling mechanism that can easily prevent chips from coming into contact with adjacent semiconductor chips when peeling a semiconductor chip from a tape. The purpose of this product is to provide a die bonder.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明のダイスボンダは
、周辺部が支持されたテープ表面に貼付した複数の半導
体チップをコレットチャックで真空吸着して搬送するダ
イスボンダにおいて、前記テープ裏面より押し付けるこ
とによりこのテープを伸長させてこの半導体チップ同士
の間隔を拡げるための球面状の球面チャックを具備する
ように構成する。
[Means for Solving the Problems] The die bonder of the present invention is a die bonder that transports a plurality of semiconductor chips attached to the surface of a tape whose peripheral portions are supported by vacuum suction using a collet chuck, by pressing the chips from the back surface of the tape. The device is configured to include a spherical chuck for stretching the tape and increasing the distance between the semiconductor chips.

【0008】[0008]

【作用】即ち本発明においては、図1に示すようにリン
グ7に周辺部を貼付したテープ8表面に貼付した半導体
チップ9をコレットチャック1で真空吸着して搬送する
場合に、球面チャック4をこのテープ8裏面より押し付
けることにより、このテープ8を伸長させてこの半導体
チップ9同士の間隔を拡げると同時に半導体チップ9の
周辺部をテープ8から剥離し、この状態でこのテープ8
を球面チャック4の表面に真空により吸着し、周囲がこ
のテープ8から剥離した半導体チップ9を上部のコレッ
トチャック1により真空吸着することが可能となる。
[Operation] That is, in the present invention, when the semiconductor chip 9 attached to the surface of the tape 8 whose peripheral part is attached to the ring 7 is vacuum-chucking and conveyed by the collet chuck 1 as shown in FIG. By pressing the tape 8 from the back side, the tape 8 is stretched to increase the distance between the semiconductor chips 9, and at the same time, the peripheral part of the semiconductor chip 9 is peeled off from the tape 8, and in this state, the tape 8 is
is vacuum-adsorbed onto the surface of the spherical chuck 4, and the semiconductor chip 9 whose periphery has been peeled off from the tape 8 can be vacuum-adsorbed by the upper collet chuck 1.

【0009】[0009]

【実施例】以下図2〜図3により本発明の第1の実施例
について、図4〜図5により本発明の第2の実施例につ
いて詳細に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. 2 and 3, and a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 4 and 5.

【0010】図2は本発明による第1の実施例のダイス
ボンダの半導体チップ剥離機構の中心部の半導体チップ
を吸着する場合を示す図、図3は本発明による第1の実
施例のダイスボンダの半導体チップ剥離機構の端部の半
導体チップを吸着する場合を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a semiconductor chip peeling mechanism of a first embodiment of the present invention in which a semiconductor chip at the center of the semiconductor chip peeling mechanism is sucked, and FIG. FIG. 6 is a diagram showing a case where a semiconductor chip at an end of a chip peeling mechanism is sucked.

【0011】第1の実施例においては図2に示すように
、溝幅 0.2μm で切断された10mm×10mm
の半導体チップ9を貼付したテープ8の周辺部を貼付し
たリング7を、下部でXYステージ16に固定されてい
るリング設置部13に固定し、カメラ12により半導体
チップ9の位置を監視しながら、このXYステージ16
によりコレットチャック11に真空吸着して搬送すべき
半導体チップ9をコレットチャック11の真下に移動さ
せる。
In the first embodiment, as shown in FIG. 2, a groove of 10 mm x 10 mm is cut with a groove width of 0.2 μm.
The ring 7 to which the peripheral part of the tape 8 with the semiconductor chip 9 attached is fixed to the ring installation part 13 fixed to the XY stage 16 at the bottom, and while monitoring the position of the semiconductor chip 9 with the camera 12, This XY stage 16
The semiconductor chip 9 to be conveyed by vacuum suction to the collet chuck 11 is moved directly below the collet chuck 11.

【0012】そして表面の曲率半径が 130mmのピ
ックアップテーブル14をこのテープ8に押し付けるこ
とにより、図2に示すようにこのテープ8を伸長させて
この半導体チップ9の間隔を拡げると同時に半導体チッ
プ9の周辺部をテープ8から剥離し、テープ8を真空吸
着する。
By pressing a pickup table 14 whose surface has a radius of curvature of 130 mm against this tape 8, as shown in FIG. The peripheral portion is peeled off from the tape 8, and the tape 8 is vacuum-adsorbed.

【0013】この状態でピックアップテーブル14に設
けた貫通孔14aを通る突き上げピン15でこのテープ
8を突き破って半導体チップ9を突き上げ、上部のコレ
ットチャック11で半導体チップ9を真空吸着して搬送
する。
In this state, a push-up pin 15 passing through a through hole 14a provided in the pickup table 14 pierces this tape 8 and pushes up the semiconductor chip 9, and the collet chuck 11 on the upper part vacuum-chucks the semiconductor chip 9 and transports it.

【0014】図2は半導体チップ9がテープ8の中心部
にある場合を示しているが、半導体チップ9がテープ8
の端部に貼付されている場合は、図3に示すようにリン
グ設置部13をXYステージ16により移動し、図2の
場合と同様にして半導体チップ9をコレットチャック1
1に真空吸着させて搬送する。
FIG. 2 shows a case where the semiconductor chip 9 is located at the center of the tape 8, but the semiconductor chip 9 is located at the center of the tape 8.
If the semiconductor chip 9 is attached to the end of the collet chuck 1, move the ring installation part 13 using the XY stage 16 as shown in FIG.
1 and transported by vacuum suction.

【0015】図4は本発明による第2の実施例のダイス
ボンダの半導体チップ剥離機構の中心部の半導体チップ
を吸着する場合を示す図、図5は本発明による第2の実
施例のダイスボンダの半導体チップ剥離機構の端部の半
導体チップを吸着する場合を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a semiconductor chip peeling mechanism of a second embodiment of the present invention in which a semiconductor chip at the center of the semiconductor chip peeling mechanism is sucked, and FIG. FIG. 6 is a diagram showing a case where a semiconductor chip at an end of a chip peeling mechanism is sucked.

【0016】第2の実施例においては図4に示すように
、半導体チップ9を貼付したテープ8の周辺部を貼付し
たリング7を、球面チャック24の周辺に設けた溝24
a と噛合している突起23a を内側に設けたリング
設置部23に固定する。
In the second embodiment, as shown in FIG. 4, a ring 7 to which a peripheral portion of a tape 8 to which a semiconductor chip 9 is pasted is attached to a groove 24 provided around a spherical chuck 24.
The protrusion 23a that engages with the ring a is fixed to the ring installation part 23 provided inside.

【0017】この球面チャック24の表面の曲率半径は
 100mmであり、XYステージ26の上に設けた、
この球面チャック24の表面の曲率半径と同じ曲率半径
に沿ってXYの二方向に揺動可能な球面ステージ25の
上に設けられている。
The radius of curvature of the surface of this spherical chuck 24 is 100 mm, and it is mounted on an XY stage 26.
It is provided on a spherical stage 25 that can swing in two directions, X and Y, along the same radius of curvature as the radius of curvature of the surface of this spherical chuck 24 .

【0018】カメラ22により半導体チップ9の位置を
監視しながら、このXYステージ26によりテープ8に
貼付された中心部の半導体チップ9をコレットチャック
21の真下に移動させる。
While monitoring the position of the semiconductor chip 9 with the camera 22, the central semiconductor chip 9 stuck to the tape 8 is moved by the XY stage 26 to just below the collet chuck 21.

【0019】そして球面チャック24を上昇させてこの
テープ8に押し付けることにより、図4に示すようにこ
のテープ8を伸長させてこの半導体チップ9の間隔を拡
げると同時に半導体チップ9の周辺部をテープ8から剥
離し、テープ8を吸着する。
By raising the spherical chuck 24 and pressing it against the tape 8, the tape 8 is stretched as shown in FIG. 8 and adsorbs the tape 8.

【0020】この状態で半導体チップ9を上部のコレッ
トチャック21に接近させ、コレットチャック21で半
導体チップ9を真空吸着して搬送する。図4は半導体チ
ップ9がテープ8の中心部にある場合を示しているが、
半導体チップ9がテープ8の端部に貼付されている場合
は、図5に示すように球面ステージ25を用いて球面チ
ャック24を移動し、半導体チップ9をコレットチャッ
ク21の真下に移動させて半導体チップ9を上部のコレ
ットチャック21に接近させ、コレットチャック21で
半導体チップ9を吸着して搬送する。
In this state, the semiconductor chip 9 is brought close to the upper collet chuck 21, and the semiconductor chip 9 is vacuum-adsorbed by the collet chuck 21 and transported. Although FIG. 4 shows the case where the semiconductor chip 9 is located at the center of the tape 8,
When the semiconductor chip 9 is attached to the end of the tape 8, the spherical chuck 24 is moved using the spherical stage 25 as shown in FIG. The chip 9 is brought close to the upper collet chuck 21, and the semiconductor chip 9 is attracted and conveyed by the collet chuck 21.

【0021】このようにテープ8にピックアップテーブ
ル14或いは球面チャック24を押し付けてテープ8を
伸張するので、テープ8に貼付されている半導体チップ
9の間隔を拡げると同時に半導体チップ9の周辺部をテ
ープ8から剥離することが可能となり、半導体チップ9
をコレットチャックに吸着させる際に隣接する半導体チ
ップ9と接触して欠けが生じるのを防止することが可能
となる。
In this way, since the tape 8 is stretched by pressing the pick-up table 14 or the spherical chuck 24 against the tape 8, the distance between the semiconductor chips 9 attached to the tape 8 is increased, and at the same time, the periphery of the semiconductor chips 9 is The semiconductor chip 9 can be peeled off from the semiconductor chip 9.
It is possible to prevent chipping from occurring due to contact with the adjacent semiconductor chip 9 when the semiconductor chip 9 is attracted to the collet chuck.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば簡単な構造の変更により、テープに貼付されて
いる半導体チップの間隔を拡げると同時に半導体チップ
9の周辺部をテープ8から剥離することができるので、
コレットチャックで半導体チップを吸着する場合に欠け
が生じるのを防止することが可能となる利点があり、著
しい経済的及び、信頼性向上の効果が期待できるダイス
ボンダの提供が可能である。
As is clear from the above description, according to the present invention, by simply changing the structure, the distance between the semiconductor chips attached to the tape can be increased, and at the same time, the peripheral part of the semiconductor chip 9 can be separated from the tape 8. Since it can be peeled off,
It is possible to provide a die bonder which has the advantage of being able to prevent chipping from occurring when a semiconductor chip is picked up by a collet chuck, and which can be expected to have significant economic and reliability effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】  本発明の原理を説明する図、[Figure 1] Diagram explaining the principle of the present invention,

【図2】  
本発明による第1の実施例のダイスボンダの半導体チッ
プ剥離機構の中心部の半導体チップを吸着する場合を示
す図、
[Figure 2]
A diagram showing a case where a semiconductor chip at the center of the semiconductor chip peeling mechanism of the die bonder according to the first embodiment of the present invention is sucked;

【図3】  本発明による第1の実施例のダイスボンダ
の半導体チップ剥離機構の端部の半導体チップを吸着す
る場合を示す図、
FIG. 3 is a diagram showing a case where a semiconductor chip at the end of the semiconductor chip peeling mechanism of the die bonder of the first embodiment of the present invention is sucked;

【図4】  本発明による第2の実施例のダイスボンダ
の半導体チップ剥離機構の中心部の半導体チップを吸着
する場合を示す図、
FIG. 4 is a diagram showing a case where a semiconductor chip at the center of the semiconductor chip peeling mechanism of the die bonder according to the second embodiment of the present invention is attracted;

【図5】  本発明による第2の実施例のダイスボンダ
の半導体チップ剥離機構の端部の半導体チップを吸着す
る場合を示す図、
FIG. 5 is a diagram showing a case where a semiconductor chip at an end of a semiconductor chip peeling mechanism of a die bonder according to a second embodiment of the present invention is sucked;

【図6】  従来のダイスボンダの半導体チップ剥離機
構の半導体チップを吸着する場合を示す図、
[Fig. 6] A diagram showing a case where a semiconductor chip is adsorbed by a semiconductor chip peeling mechanism of a conventional die bonder.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,11,21はコレットチャック、 3,13,23はリング設置部 23aは突起、 4,24は球面チャック、 24aは溝、 7はリング、 8はテープ、 9は半導体チップ、 12,22はカメラ、 14はピックアップテーブル、 14aは貫通孔、 15は突き上げピン、 16,26はXYステージ 25は球面ステージ、 1, 11, 21 are collet chucks, 3, 13, 23 are ring installation parts 23a is a protrusion; 4, 24 are spherical chucks, 24a is a groove; 7 is a ring, 8 is tape, 9 is a semiconductor chip, 12 and 22 are cameras, 14 is a pickup table, 14a is a through hole; 15 is a push-up pin, 16 and 26 are XY stages 25 is a spherical stage,

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  周辺部が支持されたテープ(8) 表
面に貼付した複数の半導体チップ(9) をコレットチ
ャック(1) で真空吸着して搬送するダイスボンダに
おいて、前記テープ(8) 裏面より押し付けることに
より該テープ(8) を伸長させて前記半導体チップ(
9) 同士の間隔を拡げるための球面状の球面チャック
(4) を具備することを特徴とするダイスボンダ。
[Claim 1] In a die bonder that transports a plurality of semiconductor chips (9) attached to the surface of a tape (8) whose peripheral portion is supported by vacuum suction using a collet chuck (1), the tape (8) is pressed from the back side. By stretching the tape (8), the semiconductor chip (
9) A die bonder characterized in that it is equipped with a spherical chuck (4) for increasing the distance between the dice.
【請求項2】  請求項1記載のダイスボンダにおいて
、前記球面チャック(4) は、前記テープ(8) 裏
面より押し付けることにより、該テープ(8) を伸長
させる球面状のピックアップテーブル(14)と、該ピ
ックアップテーブル(14)に設けた貫通孔(14a)
 を通り、前記テープ(8) を突き破って前記半導体
チップ(9) を突き上げる突き上げピン(15)とを
具備し、XYステージ(16)により移動可能であるこ
とを特徴とするダイスボンダ。
2. The die bonder according to claim 1, wherein the spherical chuck (4) includes a spherical pickup table (14) that stretches the tape (8) by pressing it from the back side of the tape (8); A through hole (14a) provided in the pickup table (14)
A die bonder comprising a push-up pin (15) that passes through the tape (8) and pushes up the semiconductor chip (9), and is movable by an XY stage (16).
【請求項3】  請求項1記載のダイスボンダにおいて
、前記球面チャック(24)を搭載する球面ステージ(
25)と、該球面ステージ(25)を搭載するXYステ
ージ(26)とを具備し、該球面チャック(24)は該
XYステージ(26)により該球面ステージ(25)上
にて移動可能であることを特徴とするダイスボンダ。
3. The die bonder according to claim 1, wherein the spherical stage (24) is mounted with the spherical chuck (24).
25) and an XY stage (26) on which the spherical stage (25) is mounted, and the spherical chuck (24) is movable on the spherical stage (25) by the XY stage (26). A dice bonder characterized by:
JP3112808A 1991-05-17 1991-05-17 Die bonder Withdrawn JPH04340729A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3112808A JPH04340729A (en) 1991-05-17 1991-05-17 Die bonder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3112808A JPH04340729A (en) 1991-05-17 1991-05-17 Die bonder

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04340729A true JPH04340729A (en) 1992-11-27

Family

ID=14596051

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3112808A Withdrawn JPH04340729A (en) 1991-05-17 1991-05-17 Die bonder

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04340729A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009020245A2 (en) * 2007-08-07 2009-02-12 Panasonic Corporation Method of segmenting semiconductor wafer
JP2018207068A (en) * 2017-06-09 2018-12-27 株式会社ディスコ Pickup method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009020245A2 (en) * 2007-08-07 2009-02-12 Panasonic Corporation Method of segmenting semiconductor wafer
WO2009020245A3 (en) * 2007-08-07 2009-03-26 Panasonic Corp Method of segmenting semiconductor wafer
US8110481B2 (en) 2007-08-07 2012-02-07 Panasonic Corporation Method of segmenting semiconductor wafer
JP2018207068A (en) * 2017-06-09 2018-12-27 株式会社ディスコ Pickup method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100506109B1 (en) Separation mechanism for adhesive tape, separation apparatus for adhesive tape, separation method for adhesive tape, pickup apparatus for semiconductor chip, pickup method for semiconductor chip, manufacturing method for semiconductor apparatus, and manufacturing apparatus for semiconductor apparatus
KR100766512B1 (en) Method and device of peeling semiconductor device
US7465142B2 (en) Method and apparatus for picking up a semiconductor chip, method and apparatus for removing a semiconductor chip from a dicing tape, and a method of forming a perforated dicing tape
US6767803B2 (en) Method for peeling protective sheet
US20120145332A1 (en) System for separating a diced semiconductor die from a die attach tape
JPH09167779A (en) Semiconductor production machine
JPH09181150A (en) Pickup equipment of semiconductor chip and pickup method using the same
JP2003234396A (en) Chip pickup apparatus, manufacturing method of the same, and semiconductor manufacturing apparatus
JPH04340729A (en) Die bonder
JPH05208390A (en) Suction nozzle
JP2002353296A (en) Equipment for peeling wafer protective tape and wafer mounting equipment
KR20050095101A (en) Apparatus of picking up thin chips in die attach process
JPH0376139A (en) Upward pushing movement of semiconductor element
JPH0266957A (en) Pickup device of semiconductor element
JPH08203962A (en) Chip positioning equipment, chip stage, and inner lead bonding equipment and method
JPH1092907A (en) Semiconductor chip pickup unit and method therefor
JP3208580B2 (en) Die bonding method and semiconductor device manufacturing method
JPH11135574A (en) Collet for ultrasonic bonding and bonding method
JP2000091403A (en) Die pick-up method, semiconductor manufacturing device using the same, and manufacture of semiconductor device
JPH05243375A (en) Die picking-up method and collet
JP2606890B2 (en) Semiconductor chip pickup method
JPH04354352A (en) Die pickup device
JP2005150214A (en) Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor manufacturing equipment used therefor
KR20090036949A (en) Adhesive tape used attaching of semiconductor chip
KR20090026611A (en) Equipment for pick up of semiconductor chip and method for pick up of semiconductor chip using the same

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19980806