JPH07268525A - 高純度硬質アルミニウム箔及びその製造方法 - Google Patents
高純度硬質アルミニウム箔及びその製造方法Info
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- JPH07268525A JPH07268525A JP6179494A JP6179494A JPH07268525A JP H07268525 A JPH07268525 A JP H07268525A JP 6179494 A JP6179494 A JP 6179494A JP 6179494 A JP6179494 A JP 6179494A JP H07268525 A JPH07268525 A JP H07268525A
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- aluminum foil
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- rolling
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- aluminum
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Abstract
(57)【要約】
【目的】溶解減量が抑制され、高い静電容量を有する高
純度硬質アルミ箔を提供することを主な目的とする。 【構成】１．アルミニウム純度が９９．９０％以上であ
って、ビルビー層を実質的に含まないことを特徴とする
高純度硬質アルミニウム箔。２．アルミニウム圧延板を
ロール粗度０．２μｍ以下の圧延ロールを用いて冷間圧
延することを特徴とする高純度硬質アルミニウム箔の製
造方法。
純度硬質アルミ箔を提供することを主な目的とする。 【構成】１．アルミニウム純度が９９．９０％以上であ
って、ビルビー層を実質的に含まないことを特徴とする
高純度硬質アルミニウム箔。２．アルミニウム圧延板を
ロール粗度０．２μｍ以下の圧延ロールを用いて冷間圧
延することを特徴とする高純度硬質アルミニウム箔の製
造方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、高純度硬質アルミ箔及
びその製造方法に関する。
びその製造方法に関する。
【０００２】
【従来技術とその課題】高純度アルミ箔は、硬質と軟質
のものがあり、前者は中・低圧用アルミ電解コンデンサ
陽極として、後者は高圧用アルミ電解コンデンサ陽極と
してそれぞれ使用されている。
のものがあり、前者は中・低圧用アルミ電解コンデンサ
陽極として、後者は高圧用アルミ電解コンデンサ陽極と
してそれぞれ使用されている。
【０００３】ところで、これら高純度アルミ箔では、圧
延ロールによる圧延加工の際にＡｌ又はＡｌ酸化物の微
粉末がアルミ箔中に巻き込まれることによつて、箔表層
直下部にビルビー層といわれる不純物混在層（汚染領
域）が形成される。このビルビー層が存在する場合に
は、エッチング時における溶解減量が増大し、静電容量
の低下等を招くこととなる。
延ロールによる圧延加工の際にＡｌ又はＡｌ酸化物の微
粉末がアルミ箔中に巻き込まれることによつて、箔表層
直下部にビルビー層といわれる不純物混在層（汚染領
域）が形成される。このビルビー層が存在する場合に
は、エッチング時における溶解減量が増大し、静電容量
の低下等を招くこととなる。
【０００４】そのため、上記問題を回避するためには、
圧延した後、エッチングに先立って、王水、水酸化ナト
リウム等の溶液に浸漬することにより圧延箔のビルビー
層を除去しなければならない。従って、圧延工程の段階
でビルビー層の形成を抑制乃至防止することができれ
ば、品質面、生産性の面等において非常に有利となるこ
とは明らかである。
圧延した後、エッチングに先立って、王水、水酸化ナト
リウム等の溶液に浸漬することにより圧延箔のビルビー
層を除去しなければならない。従って、圧延工程の段階
でビルビー層の形成を抑制乃至防止することができれ
ば、品質面、生産性の面等において非常に有利となるこ
とは明らかである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、溶解減量が
抑制され、高い静電容量を有する高純度硬質アルミ箔を
提供することを主な目的とする。
抑制され、高い静電容量を有する高純度硬質アルミ箔を
提供することを主な目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記従来技
術の問題に鑑みて鋭意研究を重ねた結果、高純度硬質ア
ルミニウム箔が従来より極粗ロールで製造されているこ
とに着目し、不純物の析出が少ない圧延板等を、あえて
ロール粗度が一定値以下の圧延ロールを用いて冷間圧延
したところ、これにより得られる高純度硬質アルミニウ
ム箔において、ビルビー層の形成が抑制乃至防止される
ことを見出し、本発明を完成するに至った。
術の問題に鑑みて鋭意研究を重ねた結果、高純度硬質ア
ルミニウム箔が従来より極粗ロールで製造されているこ
とに着目し、不純物の析出が少ない圧延板等を、あえて
ロール粗度が一定値以下の圧延ロールを用いて冷間圧延
したところ、これにより得られる高純度硬質アルミニウ
ム箔において、ビルビー層の形成が抑制乃至防止される
ことを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００７】即ち、本発明は、下記の高純度硬質アルミ
箔及びその製造方法に係るものである。
箔及びその製造方法に係るものである。
【０００８】１．アルミニウム純度が９９．９０％以上
であって、ビルビー層を実質的に含まないことを特徴と
する高純度硬質アルミニウム箔。
であって、ビルビー層を実質的に含まないことを特徴と
する高純度硬質アルミニウム箔。
【０００９】２．アルミニウム圧延板をロール粗度０．
２μｍ以下の圧延ロールを用いて冷間圧延することを特
徴とする高純度硬質アルミニウム箔の製造方法。
２μｍ以下の圧延ロールを用いて冷間圧延することを特
徴とする高純度硬質アルミニウム箔の製造方法。
【００１０】以下、本発明について詳細に説明する。
【００１１】本発明の高純度硬質アルミニウム箔は、ア
ルミニウム純度が９９．９０％以上であって、ビルビー
層を実質的に含んでいないことに特徴を有する。アルミ
ニウム純度が９９．９０％を下回る場合には、不純物元
素による過溶解が箔面粗度による溶解抑制を維持できな
くなるので好ましくない。
ルミニウム純度が９９．９０％以上であって、ビルビー
層を実質的に含んでいないことに特徴を有する。アルミ
ニウム純度が９９．９０％を下回る場合には、不純物元
素による過溶解が箔面粗度による溶解抑制を維持できな
くなるので好ましくない。
【００１２】なお、箔面粗度は、圧延ロールのロール粗
度により異なるが、通常０．２μｍ以下程度である。
０．２μｍを超える場合にはビルビー層が形成され易く
なり、その結果エッチング時における溶解減量、静電容
量の低下が顕著となって好ましくない。但し、ビルビー
層を実質的に含んでいなければ０．２μｍを超えても差
支えない。
度により異なるが、通常０．２μｍ以下程度である。
０．２μｍを超える場合にはビルビー層が形成され易く
なり、その結果エッチング時における溶解減量、静電容
量の低下が顕著となって好ましくない。但し、ビルビー
層を実質的に含んでいなければ０．２μｍを超えても差
支えない。
【００１３】本発明の製造方法において、その冷間圧延
で使用できるアルミニウム板は、従来より高純度硬質ア
ルミ箔の原材料として用いられているものをそのまま適
用できる。また、純度も特に制限されず、通常９９．９
０〜９９．９９％程度のものを用い、また本発明の効果
に悪影響を及ぼさない範囲内であればＣｕ、Ｆｅ、Ｓ
ｉ、Ｍｎ、Ｍｇ、Ｃｒ、Ｚｎ、Ｔｉ、Ｖ、Ｇａ、Ｂ、Ｎ
ｉ、Ｂｉ等の不純物が含まれていても良い。上記アルミ
ニウム板は、例えば、純度９９．９０〜９９．９９％程
度のアルミニウムに約４８０〜６８０℃・３〜４８時間
程度の均熱化処理を施した後、熱間圧延により厚さ２〜
１０ｍｍとされた熱延板を好適に用いることができる。
で使用できるアルミニウム板は、従来より高純度硬質ア
ルミ箔の原材料として用いられているものをそのまま適
用できる。また、純度も特に制限されず、通常９９．９
０〜９９．９９％程度のものを用い、また本発明の効果
に悪影響を及ぼさない範囲内であればＣｕ、Ｆｅ、Ｓ
ｉ、Ｍｎ、Ｍｇ、Ｃｒ、Ｚｎ、Ｔｉ、Ｖ、Ｇａ、Ｂ、Ｎ
ｉ、Ｂｉ等の不純物が含まれていても良い。上記アルミ
ニウム板は、例えば、純度９９．９０〜９９．９９％程
度のアルミニウムに約４８０〜６８０℃・３〜４８時間
程度の均熱化処理を施した後、熱間圧延により厚さ２〜
１０ｍｍとされた熱延板を好適に用いることができる。
【００１４】次いで、上記のアルミニウム板の冷間圧延
を行う。冷間圧延は、圧延ロールを用いて行われるが、
本発明では鏡面ロール等のロール粗度の小さい圧延ロー
ルを用いる。ロール粗度（Ｒａ）は、高純度硬質アルミ
箔に付与する所望の特性、原料アルミニウム板の純度等
よって異なるが、通常０．２μｍ程度以下、好ましくは
０．１５μｍ以下、より好ましくは０．１０μｍとす
る。ロール粗度が０．２μｍを超える場合は、ビルビー
層の形成が顕著となるので好ましくない。なお、ロール
粗度の下限値は、アルミニウム純度、所望の特性等によ
って適宜設定すれば良い。
を行う。冷間圧延は、圧延ロールを用いて行われるが、
本発明では鏡面ロール等のロール粗度の小さい圧延ロー
ルを用いる。ロール粗度（Ｒａ）は、高純度硬質アルミ
箔に付与する所望の特性、原料アルミニウム板の純度等
よって異なるが、通常０．２μｍ程度以下、好ましくは
０．１５μｍ以下、より好ましくは０．１０μｍとす
る。ロール粗度が０．２μｍを超える場合は、ビルビー
層の形成が顕著となるので好ましくない。なお、ロール
粗度の下限値は、アルミニウム純度、所望の特性等によ
って適宜設定すれば良い。
【００１５】また、上記の冷間圧延を行った後、さらに
付加的に圧延処理する場合においては、最終冷間圧延の
みをロール粗度０．２μｍを上回る圧延ロールを用いて
冷間圧延することも可能である。この結果、このロール
による転写により、得られるアルミニウム箔の箔面粗度
は０．２μｍを超えることとなるが、上記の冷間処理が
施されている限り、ビルビー層の形成は抑制される。す
なわち、後記実施例３で示すように、ビルビー層の形成
が抑制されていれば、最終的に得られるアルミニウム箔
の箔面粗度、表面形状等は問われない。
付加的に圧延処理する場合においては、最終冷間圧延の
みをロール粗度０．２μｍを上回る圧延ロールを用いて
冷間圧延することも可能である。この結果、このロール
による転写により、得られるアルミニウム箔の箔面粗度
は０．２μｍを超えることとなるが、上記の冷間処理が
施されている限り、ビルビー層の形成は抑制される。す
なわち、後記実施例３で示すように、ビルビー層の形成
が抑制されていれば、最終的に得られるアルミニウム箔
の箔面粗度、表面形状等は問われない。
【００１６】なお、冷間圧延後に、必要に応じてビルビ
ー層除去処理を行っても良い。処理方法は、従来の高純
度軟質アルミニウム箔等におけるビルビー層除去処理と
同様にすれば良く、例えば王水、１〜５％程度の水酸化
ナトリウム水溶液に浸漬することにより行うことができ
る。
ー層除去処理を行っても良い。処理方法は、従来の高純
度軟質アルミニウム箔等におけるビルビー層除去処理と
同様にすれば良く、例えば王水、１〜５％程度の水酸化
ナトリウム水溶液に浸漬することにより行うことができ
る。
【００１７】冷間圧延後、アルミ箔の交流エッチングを
行う。エッチング方法は常法に従えば良く、例えば電解
液として１５％塩酸−１．５％リン酸混合溶液（３２８
Ｋ）を用い、周波数６０Ｈｚの正弦交流で０．５Ａ／cm
2 ×２４０ｓとして行うことができる。
行う。エッチング方法は常法に従えば良く、例えば電解
液として１５％塩酸−１．５％リン酸混合溶液（３２８
Ｋ）を用い、周波数６０Ｈｚの正弦交流で０．５Ａ／cm
2 ×２４０ｓとして行うことができる。
【００１８】
【発明の効果】本発明の製造方法によれば、特定の圧延
板をロール粗度が一定値以下のロールにより製造するの
で、実質的にビルビー層を含まない高純度硬質アルミニ
ウム箔を得ることができる。従って、従来のようにビル
ビー層を除去処理する工程を不要とすることができる。
板をロール粗度が一定値以下のロールにより製造するの
で、実質的にビルビー層を含まない高純度硬質アルミニ
ウム箔を得ることができる。従って、従来のようにビル
ビー層を除去処理する工程を不要とすることができる。
【００１９】また、このようにして得られた本発明高純
度硬質アルミニウム箔は、ビルビー層が存在していても
極めて薄いので、エッチング時における溶解減量を抑え
ることができ、高い静電容量を維持することができる。
従って、本発明高純度硬質アルミニウム箔は、特に中低
圧用電解コンデンサー等に有用である。
度硬質アルミニウム箔は、ビルビー層が存在していても
極めて薄いので、エッチング時における溶解減量を抑え
ることができ、高い静電容量を維持することができる。
従って、本発明高純度硬質アルミニウム箔は、特に中低
圧用電解コンデンサー等に有用である。
【００２０】
【実施例】以下に実施例および比較例を示し、本発明の
特徴とするところをより一層明確にする。
特徴とするところをより一層明確にする。
【００２１】実施例１ ロール粗度の変化による溶解減量及び静電容量の相違を
調べた。なお、最終圧延に用いたロールのロール粗度が
転写されるアルミニウム箔の箔面粗度Ｒａ（平均値）
は、アルミニウム箔の圧延方向に垂直な方向に粗度計を
掃引して測定した。また、静電容量は、３３３Ｋの５％
アジピン酸アンモニウム水溶液中で５０Ｖ化成した後、
ＬＣＲメーターにより測定した。
調べた。なお、最終圧延に用いたロールのロール粗度が
転写されるアルミニウム箔の箔面粗度Ｒａ（平均値）
は、アルミニウム箔の圧延方向に垂直な方向に粗度計を
掃引して測定した。また、静電容量は、３３３Ｋの５％
アジピン酸アンモニウム水溶液中で５０Ｖ化成した後、
ＬＣＲメーターにより測定した。
【００２２】最初に、９９．９８％アルミニウム（Ｆｅ
＝３４ｐｐｍ、Ｓｉ＝４１ｐｐｍ、Ｃｕ＝９ｐｐｍ）に
８７３Ｋ×１０時間の均熱化処理を施した後、熱間圧延
を行い、６ｍｍｔの熱延板を得た。これを出発材とし、
冷間圧延工程においてロール粗度を３種類試料１（Ｒａ
＝0.08μｍ）、試料２（同0.18μｍ）及び試料３（同0.
52μｍ）のロールを用いて箔を製作した。また、これら
ロールで圧延潤滑油を用いたもの（試料４（同0.08μ
ｍ）、試料５（同0.18μｍ）及び試料６（同0.52μ
ｍ））も作製した。
＝３４ｐｐｍ、Ｓｉ＝４１ｐｐｍ、Ｃｕ＝９ｐｐｍ）に
８７３Ｋ×１０時間の均熱化処理を施した後、熱間圧延
を行い、６ｍｍｔの熱延板を得た。これを出発材とし、
冷間圧延工程においてロール粗度を３種類試料１（Ｒａ
＝0.08μｍ）、試料２（同0.18μｍ）及び試料３（同0.
52μｍ）のロールを用いて箔を製作した。また、これら
ロールで圧延潤滑油を用いたもの（試料４（同0.08μ
ｍ）、試料５（同0.18μｍ）及び試料６（同0.52μ
ｍ））も作製した。
【００２３】次いで、電解液として３２８Ｋの１５％塩
酸−１．５％リン酸混合水溶液を用い、周波数６０Ｈｚ
の正弦交流で０．５Ａ／cm2 ×２４０ｓ及び０．５Ａ／
cm2×２７０ｓの条件で、これらの試料の交流エッチン
グを行った。その結果を表１に、また２４０ｓでの結果
を図１及び図２に示す。
酸−１．５％リン酸混合水溶液を用い、周波数６０Ｈｚ
の正弦交流で０．５Ａ／cm2 ×２４０ｓ及び０．５Ａ／
cm2×２７０ｓの条件で、これらの試料の交流エッチン
グを行った。その結果を表１に、また２４０ｓでの結果
を図１及び図２に示す。
【００２４】
【表１】
【００２５】この結果より、箔面粗度が大きい試料３及
び６では、溶解減量がいずれも大きいことがわかる。こ
れに対し、試料１、２、４及び５のように箔面粗度が小
さくなるに従って溶解減量が抑制され、エッチングに対
して安定した性能を示すことがわかる。一方、静電容量
は、２４０ｓでは箔面粗度の大小にほとんど影響されな
い。即ち、溶解減量が小さく、かつ、静電容量が一定し
ている。さらに２７０ｓの結果からもわかるように、試
料１、２、４及び５では、溶解減量をさらに大きくすれ
ば静電容量を高められることがわかる。
び６では、溶解減量がいずれも大きいことがわかる。こ
れに対し、試料１、２、４及び５のように箔面粗度が小
さくなるに従って溶解減量が抑制され、エッチングに対
して安定した性能を示すことがわかる。一方、静電容量
は、２４０ｓでは箔面粗度の大小にほとんど影響されな
い。即ち、溶解減量が小さく、かつ、静電容量が一定し
ている。さらに２７０ｓの結果からもわかるように、試
料１、２、４及び５では、溶解減量をさらに大きくすれ
ば静電容量を高められることがわかる。
【００２６】他方、同一の粗度のロール間では、溶解減
量等は潤滑油の有無の影響を受けない。従って、潤滑油
を用いて圧延しても、本発明の効果が十分得られること
がわかる。
量等は潤滑油の有無の影響を受けない。従って、潤滑油
を用いて圧延しても、本発明の効果が十分得られること
がわかる。
【００２７】実施例２ 上記試料１及び４について、圧延集合組織による影響を
調べた。
調べた。
【００２８】ロール粗度と溶解減量との関係を考察する
ために各試料の圧延集合組織をＯＤＦにより解析した。
その結果を図３及び図４に示す。
ために各試料の圧延集合組織をＯＤＦにより解析した。
その結果を図３及び図４に示す。
【００２９】圧延集合組織は、従来報告されているよう
に潤滑油有りと無しとでは大きく異なり、潤滑油無しの
場合には表面せん断集合組織の発達が著しい。粗度が粗
い場合もせん断集合組織が形成され易くなるが、潤滑油
有りのものは潤滑油無しのものと比べて顕著ではない。
に潤滑油有りと無しとでは大きく異なり、潤滑油無しの
場合には表面せん断集合組織の発達が著しい。粗度が粗
い場合もせん断集合組織が形成され易くなるが、潤滑油
有りのものは潤滑油無しのものと比べて顕著ではない。
【００３０】図３及び４の結果より、材料の集合組織
は、交流エッチング特性に影響を及ぼさず、従って溶解
減量又は静電容量の差異が生じる原因となっていないこ
とがわかる。
は、交流エッチング特性に影響を及ぼさず、従って溶解
減量又は静電容量の差異が生じる原因となっていないこ
とがわかる。
【００３１】実施例３ 表面形状の影響について調べた。
【００３２】箔の凹凸そのものが溶解減量に影響を及ぼ
す可能性を確認するため、潤滑油有りの９０μｍの材料
を用い、付加的に１パスのみそれぞれ異なるロール粗度
で圧延した材料を作製した。その結果を図５に示す。
す可能性を確認するため、潤滑油有りの９０μｍの材料
を用い、付加的に１パスのみそれぞれ異なるロール粗度
で圧延した材料を作製した。その結果を図５に示す。
【００３３】図５より、付加的に１パスを加え、粗度を
変えても溶解減量はほとんど変化しないことから、表面
形状そのものも溶解減量と無関係であることがわかる。
変えても溶解減量はほとんど変化しないことから、表面
形状そのものも溶解減量と無関係であることがわかる。
【００３４】実施例４ 表面層除去の影響について調べた。
【００３５】箔の最表層にはアルミニウム微粉末及び圧
延油、また表面直下部には酸化物が混在する汚染領域
（ビルビー層）が存在する。この部分を５％水酸化ナト
リウム水溶液を用いて除去し、溶解減量を測定した。そ
の結果を図６に示す。
延油、また表面直下部には酸化物が混在する汚染領域
（ビルビー層）が存在する。この部分を５％水酸化ナト
リウム水溶液を用いて除去し、溶解減量を測定した。そ
の結果を図６に示す。
【００３６】片面を１μｍ以上除去すると全体に溶解減
量は減少し、しかも溶解減量差も消滅した。従って、粗
度の粗いロールで圧延した材料の表層部には腐食に対し
て不安定な介在物が多く含まれるために溶解減量が多く
なったものと考えられる。
量は減少し、しかも溶解減量差も消滅した。従って、粗
度の粗いロールで圧延した材料の表層部には腐食に対し
て不安定な介在物が多く含まれるために溶解減量が多く
なったものと考えられる。
【図１】冷間圧延条件と溶解減量との関係を示す図であ
る。
る。
【図２】冷間圧延条件と静電容量との関係を示す図であ
る。
る。
【図３】潤滑油有りの状態で作製した材料（Ｒａ＝０．
０８）のＯＤＦチャート図である。
０８）のＯＤＦチャート図である。
【図４】潤滑油無しの状態で作製した材料（Ｒａ＝０．
０８）のＯＤＦチャート図である。
０８）のＯＤＦチャート図である。
【図５】付加圧延による溶解減量の変化を示す図であ
る。
る。
【図６】表面除去による溶解減量の変化を示す図であ
る。
る。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成６年４月２８日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００２
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００２】
【従来技術とその課題】高純度アルミ箔は、硬質と軟質
のものがあり、前者は中・低圧用アルミ電解コンデンサ
陽極用及び陰極用として、後者はそれに加えて高圧用ア
ルミ電解コンデンサ陽極用としてそれぞれ使用されてい
る。
のものがあり、前者は中・低圧用アルミ電解コンデンサ
陽極用及び陰極用として、後者はそれに加えて高圧用ア
ルミ電解コンデンサ陽極用としてそれぞれ使用されてい
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｇ 9/055 (72)発明者 藤川 睦子 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 足高 善也 大阪府大阪市中央区久太郎町三丁目６番８ 号 東洋アルミニウム株式会社内 (72)発明者 清水 遵 大阪府大阪市中央区久太郎町三丁目６番８ 号 東洋アルミニウム株式会社内
Claims (5)
- 【請求項１】アルミニウム純度が９９．９０％以上であ
って、ビルビー層を実質的に含まないことを特徴とする
高純度硬質アルミニウム箔。 - 【請求項２】箔面粗度が０．２μｍ以下である請求項１
記載の高純度硬質アルミニウム箔。 - 【請求項３】アルミニウム圧延板をロール粗度０．２μ
ｍ以下の圧延ロールを用いて冷間圧延することを特徴と
する高純度硬質アルミニウム箔の製造方法。 - 【請求項４】最終冷間圧延のみをロール粗度０．２μｍ
を上回る圧延ロールを用いて冷間圧延する請求項３記載
の高純度硬質アルミニウム箔の製造方法。 - 【請求項５】アルミニウム圧延板が、熱間圧延板である
請求項３又は４に記載の高純度硬質アルミニウム箔の製
造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6179494A JPH07268525A (ja) | 1994-03-30 | 1994-03-30 | 高純度硬質アルミニウム箔及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6179494A JPH07268525A (ja) | 1994-03-30 | 1994-03-30 | 高純度硬質アルミニウム箔及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07268525A true JPH07268525A (ja) | 1995-10-17 |
Family
ID=13181370
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6179494A Pending JPH07268525A (ja) | 1994-03-30 | 1994-03-30 | 高純度硬質アルミニウム箔及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07268525A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007227904A (ja) * | 2006-01-24 | 2007-09-06 | Sachiko Ono | エッチング用アルミニウム基材及びそれを用いた電解コンデンサ用アルミニウム電極材 |
| WO2011004777A1 (ja) * | 2009-07-07 | 2011-01-13 | 東洋アルミニウム株式会社 | アルミニウム貫通箔 |
-
1994
- 1994-03-30 JP JP6179494A patent/JPH07268525A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007227904A (ja) * | 2006-01-24 | 2007-09-06 | Sachiko Ono | エッチング用アルミニウム基材及びそれを用いた電解コンデンサ用アルミニウム電極材 |
| WO2011004777A1 (ja) * | 2009-07-07 | 2011-01-13 | 東洋アルミニウム株式会社 | アルミニウム貫通箔 |
| JP5539985B2 (ja) * | 2009-07-07 | 2014-07-02 | 東洋アルミニウム株式会社 | アルミニウム貫通箔 |
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