JPH07260625A - 光ファイバ検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査装置Info
- Publication number
- JPH07260625A JPH07260625A JP6052096A JP5209694A JPH07260625A JP H07260625 A JPH07260625 A JP H07260625A JP 6052096 A JP6052096 A JP 6052096A JP 5209694 A JP5209694 A JP 5209694A JP H07260625 A JPH07260625 A JP H07260625A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- output
- optical fiber
- signal
- photodetector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】測定距離が延長され、長さ分解能が向上した光
ファイバ検査装置を実現すること。 【構成】可変波長光源と、干渉計と、この干渉計から出
力された光を受光して電気信号として出力する光検出器
と、この光検出器から出力された信号のうち設定された
周波数成分より高い周波数の信号を濾過するハイパスフ
ィルタと、ミキサと、このミキサから出力された信号の
うち設定された周波数成分より低い周波数の信号を濾過
するローパスフィルタとから構成される周波数変換手段
と、この周波数変換手段からの出力もしくは前記光検出
器の出力を選択して出力するための切り換え手段と、こ
の切り換え手段を介した前記光検出器から得られる信号
および周波数変換手段から得られる信号を周波数解析す
る手段と、各々の解析結果を演算し合成する手段と、を
設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置である。
ファイバ検査装置を実現すること。 【構成】可変波長光源と、干渉計と、この干渉計から出
力された光を受光して電気信号として出力する光検出器
と、この光検出器から出力された信号のうち設定された
周波数成分より高い周波数の信号を濾過するハイパスフ
ィルタと、ミキサと、このミキサから出力された信号の
うち設定された周波数成分より低い周波数の信号を濾過
するローパスフィルタとから構成される周波数変換手段
と、この周波数変換手段からの出力もしくは前記光検出
器の出力を選択して出力するための切り換え手段と、こ
の切り換え手段を介した前記光検出器から得られる信号
および周波数変換手段から得られる信号を周波数解析す
る手段と、各々の解析結果を演算し合成する手段と、を
設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ検査装置に
関し、特に測定可能距離および長さ分解能を改善した光
ファイバ検査装置に関するものである。
関し、特に測定可能距離および長さ分解能を改善した光
ファイバ検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、信頼性が高く、経済的な光通信シ
ステムを実現するためには、高信頼で経済的な光ファイ
バ線路を構築することが重要であり、そのために光ファ
イバ線路の特性を、高信頼な試験器を用いて短時間で遠
距離まで測定、試験する必要があった。
ステムを実現するためには、高信頼で経済的な光ファイ
バ線路を構築することが重要であり、そのために光ファ
イバ線路の特性を、高信頼な試験器を用いて短時間で遠
距離まで測定、試験する必要があった。
【０００３】光ファイバ検査装置（以下、「ＯＦＤＲ
（ Optical Frequency Domain Reflectmeter）」と
称する）は、被試験光ファイバに光信号を送出し、この
光信号による光ファイバの反射光とこの光信号の干渉信
号の周波数解析を行うことで、光ファイバの長さあるい
は光ファイバ中の欠陥の位置等の測定を行い、この結果
をＣＲＴ等に表示する装置である。
（ Optical Frequency Domain Reflectmeter）」と
称する）は、被試験光ファイバに光信号を送出し、この
光信号による光ファイバの反射光とこの光信号の干渉信
号の周波数解析を行うことで、光ファイバの長さあるい
は光ファイバ中の欠陥の位置等の測定を行い、この結果
をＣＲＴ等に表示する装置である。
【０００４】このような光干渉技術を用いる従来のＯＦ
ＤＲについて、図９を用いて説明する。図９において、
１は光信号の周波数を掃引して出力する可変波長光源、
２は可変波長光源１からの出射光をローカル光ａおよび
試験光ｂとに分岐するビームスプリッタ、３は分岐した
ローカル光ａを反射するためのミラー、４は試験光ｂを
屈折するためのレンズである。ここで、ビームスプリッ
タ２，ミラー３，レンズ４はマイケルソン干渉計５０を
構成する。
ＤＲについて、図９を用いて説明する。図９において、
１は光信号の周波数を掃引して出力する可変波長光源、
２は可変波長光源１からの出射光をローカル光ａおよび
試験光ｂとに分岐するビームスプリッタ、３は分岐した
ローカル光ａを反射するためのミラー、４は試験光ｂを
屈折するためのレンズである。ここで、ビームスプリッ
タ２，ミラー３，レンズ４はマイケルソン干渉計５０を
構成する。
【０００５】５はレンズ４を介し試験光ｂを入射する被
試験対象である光ファイバ、６はミラー３および光ファ
イバ５からの各々の反射光が再びビームスプリッタ２に
入力され合波された結果生じた干渉光を電気信号として
出力する光検出器である。
試験対象である光ファイバ、６はミラー３および光ファ
イバ５からの各々の反射光が再びビームスプリッタ２に
入力され合波された結果生じた干渉光を電気信号として
出力する光検出器である。
【０００６】７は光検出器から得られたアナログの電気
信号をデジタル変換するためのＡＤ変換器、８はＡＤ変
換器７から得られたデータを周波数解析をするためのＦ
ＦＴ回路、９は可変波長光源１で出射光の周波数の制御
および周波数解析の動作の制御を行う制御手段である。
信号をデジタル変換するためのＡＤ変換器、８はＡＤ変
換器７から得られたデータを周波数解析をするためのＦ
ＦＴ回路、９は可変波長光源１で出射光の周波数の制御
および周波数解析の動作の制御を行う制御手段である。
【０００７】この図９の構成に示す従来例の光ファイバ
検査装置の動作を説明する。可変波長光源１により出力
光の波長を掃引し、ミラー３で反射されたローカル光ａ
と光ファイバ５の反射点で反射された試験光ｂを干渉さ
せる。この干渉光は光検出器６で検出され、ＡＤ変換器
７でデジタル変換され、変換されたデジタルデータを用
いてＦＦＴ回路８により周波数解析される。
検査装置の動作を説明する。可変波長光源１により出力
光の波長を掃引し、ミラー３で反射されたローカル光ａ
と光ファイバ５の反射点で反射された試験光ｂを干渉さ
せる。この干渉光は光検出器６で検出され、ＡＤ変換器
７でデジタル変換され、変換されたデジタルデータを用
いてＦＦＴ回路８により周波数解析される。
【０００８】前記、波長の掃引速度が光周波数換算で一
定の場合、ミラー３の反射光及び光ファイバ５の反射点
からの反射光の干渉光は、ある周波数で干渉強度のピー
クを持つ。この周波数はビームスプリッタ２・ミラー３
間とビームスプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との
距離の差に比例する。
定の場合、ミラー３の反射光及び光ファイバ５の反射点
からの反射光の干渉光は、ある周波数で干渉強度のピー
クを持つ。この周波数はビームスプリッタ２・ミラー３
間とビームスプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との
距離の差に比例する。
【０００９】即ち、波長の掃引速度が既知であれば、信
号処理手段７において周波数解析をすることにより前記
ビームスプリッタ２と光ファイバ５内の反射点の距離を
求めることができる。
号処理手段７において周波数解析をすることにより前記
ビームスプリッタ２と光ファイバ５内の反射点の距離を
求めることができる。
【００１０】例えば、光検出器６で検出された干渉光の
周波数を”ｆｍ”、ビームスプリッタ２・ミラー３間と
ビームスプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との距離
の差を”Ｌ”、干渉じまの数を“Ｎ”、光ファイバ５の
媒質の屈折率を”ｎ”、真空中の光速”ｃ0 ”、可変波
長光源１の出力光の周波数を”ｆ”とすれば、周波数”
ｆｍ”は、単位時間あたりの干渉じまの移動数であらわ
され ｆｍ＝ｄＮ／ｄｔ ＝（2・ｎ・Ｌ／ｃ0）・ｄｆ／ｄｔ (1) となる。
周波数を”ｆｍ”、ビームスプリッタ２・ミラー３間と
ビームスプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との距離
の差を”Ｌ”、干渉じまの数を“Ｎ”、光ファイバ５の
媒質の屈折率を”ｎ”、真空中の光速”ｃ0 ”、可変波
長光源１の出力光の周波数を”ｆ”とすれば、周波数”
ｆｍ”は、単位時間あたりの干渉じまの移動数であらわ
され ｆｍ＝ｄＮ／ｄｔ ＝（2・ｎ・Ｌ／ｃ0）・ｄｆ／ｄｔ (1) となる。
【００１１】式(1) を距離差”Ｌ”に関して変形すれ
ば、 Ｌ＝ｆｍ／{(2・ｎ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ} (2) となる。
ば、 Ｌ＝ｆｍ／{(2・ｎ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ} (2) となる。
【００１２】式(2) において、屈折率”ｎ”及び真空中
の光速”ｃ0 ”は定数であり、波長の掃引が光周波数換
算で一定であるので”ｄｆ／ｄｔ”も一定となる。従っ
て、光検出器６で検出された周波数”ｆｍ”から距離
差”Ｌ”を特定することが可能となる。
の光速”ｃ0 ”は定数であり、波長の掃引が光周波数換
算で一定であるので”ｄｆ／ｄｔ”も一定となる。従っ
て、光検出器６で検出された周波数”ｆｍ”から距離
差”Ｌ”を特定することが可能となる。
【００１３】また、ビームスプリッタ２・ミラー３間の
距離は既知であるため、この既知の距離に距離差”Ｌ”
を加算することでビームスプリッタ２・光ファイバ５の
反射点間との距離を求めることが可能となる。
距離は既知であるため、この既知の距離に距離差”Ｌ”
を加算することでビームスプリッタ２・光ファイバ５の
反射点間との距離を求めることが可能となる。
【００１４】このような、干渉光を解析することで、ビ
ームスプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との距離を
求めるような光ファイバ検査装置にあっては、式(2) に
示す如く検出される干渉信号の周波数ｆｍと距離差Ｌが
比例関係にあることから、光周波数ｆｍの帯域が広くな
ればなるほど、測定できる距離差”Ｌ”は長くなり、ま
たｆｍを検出する分解能が高ければ高いほど測定できる
距離差”Ｌ”の長さ分解能は高くなるという事実があ
る。
ームスプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との距離を
求めるような光ファイバ検査装置にあっては、式(2) に
示す如く検出される干渉信号の周波数ｆｍと距離差Ｌが
比例関係にあることから、光周波数ｆｍの帯域が広くな
ればなるほど、測定できる距離差”Ｌ”は長くなり、ま
たｆｍを検出する分解能が高ければ高いほど測定できる
距離差”Ｌ”の長さ分解能は高くなるという事実があ
る。
【００１５】一方、この周波数ｆｍは、光検出器６の出
力をＡＤ変換器７でデジタル変換し、これにより得たデ
ータをＦＦＴ回路８で周波数解析することで求められる
ため、ＦＦＴにより解析される周波数の帯域を広げよう
とすればＡ／Ｄ変換器７のサンプリング周波数を高くす
る必要があり、またより高い分解能での周波数を求める
ためには、より多くのデータをサンプリングする必要が
ある。
力をＡＤ変換器７でデジタル変換し、これにより得たデ
ータをＦＦＴ回路８で周波数解析することで求められる
ため、ＦＦＴにより解析される周波数の帯域を広げよう
とすればＡ／Ｄ変換器７のサンプリング周波数を高くす
る必要があり、またより高い分解能での周波数を求める
ためには、より多くのデータをサンプリングする必要が
ある。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】このため、従来の構成
の光ファイバ検査装置を用いて光ファイバの測定距離を
延ばし、また、長さ分解能を向上させるためには、高速
で動作を行うＡＤ変換器を用いる必要が、また、多数の
データをサンプリングしこれらの多数のデータを用いて
周波数解析を行う必要が生じ、コストが高く、信号処理
に時間がかかるという問題が発生する。本発明は、この
ような問題を解決し、高速のＡＤ変換器を用いることな
くまた短い処理時間で光ファイバの測定距離を延ばし長
さ分解能を向上することが可能な光ファイバ検査装置を
実現することを目標とする。
の光ファイバ検査装置を用いて光ファイバの測定距離を
延ばし、また、長さ分解能を向上させるためには、高速
で動作を行うＡＤ変換器を用いる必要が、また、多数の
データをサンプリングしこれらの多数のデータを用いて
周波数解析を行う必要が生じ、コストが高く、信号処理
に時間がかかるという問題が発生する。本発明は、この
ような問題を解決し、高速のＡＤ変換器を用いることな
くまた短い処理時間で光ファイバの測定距離を延ばし長
さ分解能を向上することが可能な光ファイバ検査装置を
実現することを目標とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明は、光の干渉を用
いて検査対象である光ファイバの反射点の位置および前
記反射点からの反射量を求める光ファイバ検査装置にお
いて、出力光周波数が掃引可能な可変波長光源と、この
可変波長光源の出力光をミラーおよび前記光ファイバに
入射し、前記ミラーおよび前記光ファイバからの反射光
を干渉させる干渉計と、この干渉計から出力された光を
受光して電気信号として出力する光検出器と、この光検
出器から出力された信号のうち設定された周波数成分よ
り高い周波数の信号を濾過するハイパスフィルタと、こ
のハイパスフィルタからの出力に設定された周波数の信
号を合成するためのミキサと、このミキサから出力され
た信号のうち設定された周波数成分より低い周波数の信
号を濾過するローパスフィルタとから構成される周波数
変換手段と、この周波数変換手段からの出力もしくは前
記光検出器の出力を選択して出力するための切り換え手
段と、この切り換え手段を介して前記光検出器から得ら
れる信号および周波数変換手段から得られる信号を周波
数解析する周波数解析手段と、この周波数解析手段から
得られる解析結果を演算し合成する演算処理手段と、を
設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置である。
いて検査対象である光ファイバの反射点の位置および前
記反射点からの反射量を求める光ファイバ検査装置にお
いて、出力光周波数が掃引可能な可変波長光源と、この
可変波長光源の出力光をミラーおよび前記光ファイバに
入射し、前記ミラーおよび前記光ファイバからの反射光
を干渉させる干渉計と、この干渉計から出力された光を
受光して電気信号として出力する光検出器と、この光検
出器から出力された信号のうち設定された周波数成分よ
り高い周波数の信号を濾過するハイパスフィルタと、こ
のハイパスフィルタからの出力に設定された周波数の信
号を合成するためのミキサと、このミキサから出力され
た信号のうち設定された周波数成分より低い周波数の信
号を濾過するローパスフィルタとから構成される周波数
変換手段と、この周波数変換手段からの出力もしくは前
記光検出器の出力を選択して出力するための切り換え手
段と、この切り換え手段を介して前記光検出器から得ら
れる信号および周波数変換手段から得られる信号を周波
数解析する周波数解析手段と、この周波数解析手段から
得られる解析結果を演算し合成する演算処理手段と、を
設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置である。
【００１８】
【作用】干渉光を周波数変換しＡＤ変換し周波数解析を
行ったデータと、周波数変換を行わずにＡＤ変換し周波
数解析を行ったデータを重ね合わせる信号処理を行うこ
とで、干渉信号を広帯域に渡って周波数解析をすること
が可能となり、測定可能な距離が長くなり長さ分解能が
向上する。
行ったデータと、周波数変換を行わずにＡＤ変換し周波
数解析を行ったデータを重ね合わせる信号処理を行うこ
とで、干渉信号を広帯域に渡って周波数解析をすること
が可能となり、測定可能な距離が長くなり長さ分解能が
向上する。
【００１９】
【実施例】以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。
図１は本発明にかかる光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。図１において１〜９は図９
と同一内容のものであるので図９と同一符号を付し、そ
れらの再説明は省略する。
図１は本発明にかかる光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。図１において１〜９は図９
と同一内容のものであるので図９と同一符号を付し、そ
れらの再説明は省略する。
【００２０】図１において、１０は光検出器６の出力を
直接、ＡＤ変換器７に出力するか、それとも後述する一
連のフィルタを介して出力するかを選択するスイッチで
ある。１１は光検出器６からの出力の低い周波数成分を
遮断するハイパスフィルタ（以下「ＨＰＦ」という）、
１２はＨＰＦ１１から得られる信号に設定された電気信
号を重畳するためのミキサ、１３はミキサ１２からの出
力の低い周波数成分を遮断するローパスフィルタ（以下
「ＬＰＦ」という）である。
直接、ＡＤ変換器７に出力するか、それとも後述する一
連のフィルタを介して出力するかを選択するスイッチで
ある。１１は光検出器６からの出力の低い周波数成分を
遮断するハイパスフィルタ（以下「ＨＰＦ」という）、
１２はＨＰＦ１１から得られる信号に設定された電気信
号を重畳するためのミキサ、１３はミキサ１２からの出
力の低い周波数成分を遮断するローパスフィルタ（以下
「ＬＰＦ」という）である。
【００２１】また、１４はミキサ１２でＨＰＦ１１の出
力に重畳する信号を出力する発振器、１５はＦＦＴ回路
８から得られたデータを合成し、このＦＦＴデータを原
理的には式(2) を用いて、光ファイバ内の反射点からの
距離差を距離および反射量に換算する信号処理手段であ
る。
力に重畳する信号を出力する発振器、１５はＦＦＴ回路
８から得られたデータを合成し、このＦＦＴデータを原
理的には式(2) を用いて、光ファイバ内の反射点からの
距離差を距離および反射量に換算する信号処理手段であ
る。
【００２２】図１に示す本発明の構成の光ファイバ検査
装置の動作を説明する。このとき場合として、ＡＤ変換
器７のサンプリング周波数をｆs とすると、１/２ｆs＝
ｆwとなる周波数ｆw がこの光ファイバ検査装置の解析
周波数帯域の限界の周波数となる。
装置の動作を説明する。このとき場合として、ＡＤ変換
器７のサンプリング周波数をｆs とすると、１/２ｆs＝
ｆwとなる周波数ｆw がこの光ファイバ検査装置の解析
周波数帯域の限界の周波数となる。
【００２３】光ファイバ５内に２点の反射点を有すると
すれば、各々の反射点の距離に比例し周波数ｆ1 ，ｆ2
が光検出器６で検出され、これは図２に表される。この
場合、ｆ2＝ｆw＋Δｆとし、０＜ｆ1＜ｆw＜ｆ2＜２ｆw
という関係があるとすれば、従来のＯＦＤＲでは、ｆ2
を測定できないことになる。
すれば、各々の反射点の距離に比例し周波数ｆ1 ，ｆ2
が光検出器６で検出され、これは図２に表される。この
場合、ｆ2＝ｆw＋Δｆとし、０＜ｆ1＜ｆw＜ｆ2＜２ｆw
という関係があるとすれば、従来のＯＦＤＲでは、ｆ2
を測定できないことになる。
【００２４】まず、スイッチ１０を光検出器６の出力が
直接ＡＤ変換器７に入力するように切り替えた状態で
は、マイケルソン干渉計５０から出力された干渉光は、
式（１）に示される様に光ファイバ５内の反射点距離に
比例した周波数の干渉信号として光検出器６で検出され
る。
直接ＡＤ変換器７に入力するように切り替えた状態で
は、マイケルソン干渉計５０から出力された干渉光は、
式（１）に示される様に光ファイバ５内の反射点距離に
比例した周波数の干渉信号として光検出器６で検出され
る。
【００２５】光検出器６の出力は、ＡＤ変換器７でデジ
タルデータに変換され、制御回路９からの制御によっ
て、可変波長光源１における波長掃引と同期して動作す
るＦＦＴ回路８で周波数解析される。このＦＦＴ回路８
での解析結果は信号処理手段で距離と反射量に換算され
る。
タルデータに変換され、制御回路９からの制御によっ
て、可変波長光源１における波長掃引と同期して動作す
るＦＦＴ回路８で周波数解析される。このＦＦＴ回路８
での解析結果は信号処理手段で距離と反射量に換算され
る。
【００２６】従って、スイッチ１０が光検出器６の出力
がＡＤ変換器７に直接入力される状態にある場合には、
図３に示すように、光検出器６で出力された周波数ｆ1
，周波数ｆw＋Δｆ のうち、周波数ｆ1 のみが光検出
器６の出力のＦＦＴ解析結果として出力される。
がＡＤ変換器７に直接入力される状態にある場合には、
図３に示すように、光検出器６で出力された周波数ｆ1
，周波数ｆw＋Δｆ のうち、周波数ｆ1 のみが光検出
器６の出力のＦＦＴ解析結果として出力される。
【００２７】なお、光検出器６で検出された信号をサン
プリングして周波数解析が行われたデータは、信号処理
回路１５に一旦保持される。またこの実施例ではＨＦＰ
１１，ミキサ１２，ＬＰＦ１３，発振器１４からなる周
波数変換手段は、１個設けてある構成になっているが、
複数設けた構成としてもよい。
プリングして周波数解析が行われたデータは、信号処理
回路１５に一旦保持される。またこの実施例ではＨＦＰ
１１，ミキサ１２，ＬＰＦ１３，発振器１４からなる周
波数変換手段は、１個設けてある構成になっているが、
複数設けた構成としてもよい。
【００２８】次に、スイッチ１０を光検出器６の出力を
ＨＰＦ１１等を介して、ＡＤ変換器７に入力するように
切り替える。この場合も前述の場合と同様に、光ファイ
バ５内に２点の反射点を有するとすれば、図２に表すよ
うに、各々の反射点からの距離に比例した周波数ｆ1 と
周波数ｆw＋Δｆ が異なる反射量で光検出器６において
検出されるものとする。
ＨＰＦ１１等を介して、ＡＤ変換器７に入力するように
切り替える。この場合も前述の場合と同様に、光ファイ
バ５内に２点の反射点を有するとすれば、図２に表すよ
うに、各々の反射点からの距離に比例した周波数ｆ1 と
周波数ｆw＋Δｆ が異なる反射量で光検出器６において
検出されるものとする。
【００２９】また、ＨＰＦ１１は周波数ｆw より高い周
波数の信号を通過させるものとし、発振器１４では周波
数ｆw を出力するものとし、ＬＰＦ１３では、周波数ｆ
w より低い周波数の信号を通過させるものとする。
波数の信号を通過させるものとし、発振器１４では周波
数ｆw を出力するものとし、ＬＰＦ１３では、周波数ｆ
w より低い周波数の信号を通過させるものとする。
【００３０】この場合、光検出器６から出力される干渉
信号の周波数成分は、前述の場合と同様に図２で表され
るように光ファイバ５内の２点の反射点とビームスプリ
ッタ２間の距離に比例した周波数ｆ1 と周波数ｆw＋Δ
ｆ である。
信号の周波数成分は、前述の場合と同様に図２で表され
るように光ファイバ５内の２点の反射点とビームスプリ
ッタ２間の距離に比例した周波数ｆ1 と周波数ｆw＋Δ
ｆ である。
【００３１】ＨＰＦ１１は、光検出器６から入力された
干渉信号の周波数成分のうち、周波数ｆwより低い周波
数成分は遮断するから、図４に示すように、ＨＦＰ１１
の出力成分は周波数ｆw＋Δｆとなる。
干渉信号の周波数成分のうち、周波数ｆwより低い周波
数成分は遮断するから、図４に示すように、ＨＦＰ１１
の出力成分は周波数ｆw＋Δｆとなる。
【００３２】発振器１４からは周波数ｆw の信号を出力
するので、ミキサ１４では周波数ｆw＋Δｆと周波数ｆw
をミキシングする。このため、ミキサ１４の出力信号
には、図５に示すように、周波数Δｆ，周波数ｆw ，周
波数ｆw＋Δｆ，周波数２ｆw＋Δｆの周波数成分が含ま
れる。
するので、ミキサ１４では周波数ｆw＋Δｆと周波数ｆw
をミキシングする。このため、ミキサ１４の出力信号
には、図５に示すように、周波数Δｆ，周波数ｆw ，周
波数ｆw＋Δｆ，周波数２ｆw＋Δｆの周波数成分が含ま
れる。
【００３３】このミキサ１４の出力のうちＬＰＦ１３で
は、周波数ｆw より高い周波数成分は遮断するから、図
６に示す如くＬＦＰ１３から出力される信号の出力の成
分は周波数Δｆとなる。
は、周波数ｆw より高い周波数成分は遮断するから、図
６に示す如くＬＦＰ１３から出力される信号の出力の成
分は周波数Δｆとなる。
【００３４】また、この周波数ΔｆはＡＤ変換器７のサ
ンプリング周波数ｆs の１／２の周波数よりも低い周波
数なのでＬＦＰ１３の出力を周波数解析した結果は、図
７のように示される。この周波数Δｆというデータも信
号処理手段１５によって保持される。
ンプリング周波数ｆs の１／２の周波数よりも低い周波
数なのでＬＦＰ１３の出力を周波数解析した結果は、図
７のように示される。この周波数Δｆというデータも信
号処理手段１５によって保持される。
【００３５】各々のスイッチ１０の切り替えの状態で得
られたＦＦＴ解析データである図３と図７に示すデータ
をミキサ１３で周波数ｆw を考慮した上で信号処理手段
１５において合成し、図８に示すような周波数成分（周
波数ｆ1 ，周波数ｆw＋Δｆ）を求めることが可能であ
る。
られたＦＦＴ解析データである図３と図７に示すデータ
をミキサ１３で周波数ｆw を考慮した上で信号処理手段
１５において合成し、図８に示すような周波数成分（周
波数ｆ1 ，周波数ｆw＋Δｆ）を求めることが可能であ
る。
【００３６】このため、従来であれば周波数解析結果と
して周波数ｆw までのデータしか得ることができなかっ
たが周波数２ｆw までのデータを得ることが可能とな
り、式(2) より測定可能な距離が倍になる。
して周波数ｆw までのデータしか得ることができなかっ
たが周波数２ｆw までのデータを得ることが可能とな
り、式(2) より測定可能な距離が倍になる。
【００３７】また、従来の掃引に対し、このような動作
はフィルタを介するものと介さないものと併せ２倍のサ
ンプリングデータを得るのと同様であり、ＦＦＴ解析の
ためのデータが倍になるので求められる周波数分解能が
倍になり長さ分解能が向上する。
はフィルタを介するものと介さないものと併せ２倍のサ
ンプリングデータを得るのと同様であり、ＦＦＴ解析の
ためのデータが倍になるので求められる周波数分解能が
倍になり長さ分解能が向上する。
【００３８】
【発明の効果】このように、光信号を検出したものを直
接ＡＤ解析したデータと、周波数シフトさせて解析した
データを複数合成することで距離が長く、長さ分解能の
向上した光ファイバ検査装置を実現することが可能とな
る。
接ＡＤ解析したデータと、周波数シフトさせて解析した
データを複数合成することで距離が長く、長さ分解能の
向上した光ファイバ検査装置を実現することが可能とな
る。
【図１】本発明の一実施例の構成図である。
【図２】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図３】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図４】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図５】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図６】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図７】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図８】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図９】従来例の構成図である。
１ 可変波長光源 ２ ビームスプリッタ ３ ミラー ４ レンズ ５ 光ファイバ ６ 光検出器 ７ ＡＤ変換器 ８ ＦＦＴ回路 ９ 制御手段 １０ スイッチ １１ ＨＰＦ １２ ミキサ １３ ＬＰＦ １４ 発振器 １５ 信号処理手段 ５０ マイケルソン干渉計
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 泰幸 東京都武蔵野市中町２丁目９番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 在原 守 東京都武蔵野市中町２丁目９番32号 横河 電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】光の干渉を用いて検査対象である光ファイ
バの反射点の位置および前記反射点からの反射量を求め
る光ファイバ検査装置において、 出力光周波数が掃引可能な可変波長光源と、 この可変波長光源の出力光をミラーおよび前記光ファイ
バに入射し、前記ミラーおよび前記光ファイバからの反
射光を干渉させる干渉計と、 この干渉計から出力された光を受光して電気信号として
出力する光検出器と、 この光検出器から出力された信号のうち設定された周波
数成分より高い周波数の信号を濾過するハイパスフィル
タと、このハイパスフィルタからの出力に設定された周
波数の信号を合成するためのミキサと、このミキサから
出力された信号のうち設定された周波数成分より低い周
波数の信号を濾過するローパスフィルタとから構成され
る周波数変換手段と、 この周波数変換手段からの出力もしくは前記光検出器の
出力を選択して出力するための切り換え手段と、 この切り換え手段を介して前記光検出器から得られる信
号および周波数変換手段から得られる信号を周波数解析
する周波数解析手段と、 この周波数解析手段から得られる解析結果を演算し合成
する演算処理手段と、 を設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6052096A JPH07260625A (ja) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | 光ファイバ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6052096A JPH07260625A (ja) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | 光ファイバ検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07260625A true JPH07260625A (ja) | 1995-10-13 |
Family
ID=12905323
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6052096A Pending JPH07260625A (ja) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | 光ファイバ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07260625A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006267107A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Kwangju Inst Of Science & Technol | 多重モード光ファイバのモード間遅延時間差測定装置 |
| JP2011007806A (ja) * | 2004-12-14 | 2011-01-13 | Luna Innovations Inc | 干渉測定法における時間変化する位相の補償法 |
| CN102759440A (zh) * | 2011-04-27 | 2012-10-31 | 华晶科技股份有限公司 | 解像力测试装置及其方法 |
| JP6447986B1 (ja) * | 2018-09-10 | 2019-01-09 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
-
1994
- 1994-03-23 JP JP6052096A patent/JPH07260625A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011007806A (ja) * | 2004-12-14 | 2011-01-13 | Luna Innovations Inc | 干渉測定法における時間変化する位相の補償法 |
| JP2006267107A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Kwangju Inst Of Science & Technol | 多重モード光ファイバのモード間遅延時間差測定装置 |
| CN102759440A (zh) * | 2011-04-27 | 2012-10-31 | 华晶科技股份有限公司 | 解像力测试装置及其方法 |
| JP6447986B1 (ja) * | 2018-09-10 | 2019-01-09 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| JP2020041898A (ja) * | 2018-09-10 | 2020-03-19 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0578400B1 (en) | Optical low coherence reflectometer with delay sequence | |
| CN107515017B (zh) | 一种光波移频调制的光频域反射计 | |
| JPWO2003005002A1 (ja) | 伝搬測定装置及び伝搬測定方法 | |
| JP2016161512A (ja) | 光ファイバ振動測定方法及びシステム | |
| US6687006B2 (en) | Heterodyne based optical spectrum analysis with reduced data acquisition requirement | |
| JP4769668B2 (ja) | 光リフレクトメトリ測定方法および装置 | |
| JPH07260625A (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
| US20090208202A1 (en) | Method and device for complex analysis of optical spectrums | |
| JP2007057251A (ja) | 光干渉計型位相検出装置 | |
| JP2002148144A (ja) | マルチポート光学装置の光学特性を測定するシステム及び方法 | |
| CN115900787A (zh) | 光谱域反射仪的实现方法及系统 | |
| JP3223942B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
| JP3465434B2 (ja) | レーザードップラー速度計 | |
| JPH11287859A (ja) | レーザ距離計 | |
| JPH08101232A (ja) | 電圧測定装置 | |
| JP4916347B2 (ja) | 光ヘテロダイン型ｏｆｄｒ装置 | |
| JP3453745B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
| JP4678236B2 (ja) | 光学特性測定装置 | |
| JP3692510B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
| JPH04225134A (ja) | 光部品反射点測定方法および装置 | |
| JP2664255B2 (ja) | 光スペクトラム分析装置 | |
| JPH02102425A (ja) | 光スペクトラムアナライザ用光干渉計 | |
| JP2012117886A (ja) | 光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置 | |
| JP3799339B2 (ja) | レーザードップラー速度計 | |
| JPH0961294A (ja) | 光ファイバ検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20040223 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040330 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040831 |