JP3453745B2 - 光ファイバ検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査装置Info
- Publication number
- JP3453745B2 JP3453745B2 JP01571995A JP1571995A JP3453745B2 JP 3453745 B2 JP3453745 B2 JP 3453745B2 JP 01571995 A JP01571995 A JP 01571995A JP 1571995 A JP1571995 A JP 1571995A JP 3453745 B2 JP3453745 B2 JP 3453745B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- signal
- mixer
- analyzed
- optical fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバなどの検査
装置に関するものである。
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバ検査装置には、よく知られて
いるＯＴＤＲ（Optical Time DomainReflectmeter）の
他に、ＯＦＤＲ（Optical Frequency Domain Reflectme
ter）がある。図６にファイバ形干渉計によるＯＦＤＲ
のブロック図を示す。
いるＯＴＤＲ（Optical Time DomainReflectmeter）の
他に、ＯＦＤＲ（Optical Frequency Domain Reflectme
ter）がある。図６にファイバ形干渉計によるＯＦＤＲ
のブロック図を示す。
【０００３】図６において、電気・光変換器（以下Ｅ／
Ｏ変換器という）３から発せられる光（例えばレーザ
光）は、分配器２を介して与えられるスイープ発振器１
の出力により駆動され、出力光の周波数が掃引されるよ
うに制御されている。この出力光は光カプラ４を経て被
測定対象の光ファイバ（以下ＤＵＴ（Device Under Tes
t ）５に入り、ＤＵＴ５中の障害点（例えば、破断面）
等で反射する。その反射光は光カプラ４を経て光・電気
変換器（Ｏ／Ｅ変換器）６に入り、電気信号に変換さ
れ、ミキサ７に入る。
Ｏ変換器という）３から発せられる光（例えばレーザ
光）は、分配器２を介して与えられるスイープ発振器１
の出力により駆動され、出力光の周波数が掃引されるよ
うに制御されている。この出力光は光カプラ４を経て被
測定対象の光ファイバ（以下ＤＵＴ（Device Under Tes
t ）５に入り、ＤＵＴ５中の障害点（例えば、破断面）
等で反射する。その反射光は光カプラ４を経て光・電気
変換器（Ｏ／Ｅ変換器）６に入り、電気信号に変換さ
れ、ミキサ７に入る。
【０００４】ミキサ７にはまた先のスイープ発振器１の
出力が分配器２を経由して入力されており、２つの入力
信号の差周波数の信号を出力する。この信号は周波数ア
ナライザ８に入力され、その差周波数が解析される。
出力が分配器２を経由して入力されており、２つの入力
信号の差周波数の信号を出力する。この信号は周波数ア
ナライザ８に入力され、その差周波数が解析される。
【０００５】ここでスイープ発振器１を、単位時間（Δ
ｔ）当たりΔｆの周波数変化となるようにリニアに掃引
する。ミキサ７の２つの入力周波数差は遅れ時間差に比
例する。遅れ時間差はＤＵＴ５内の障害点までの距離に
比例することから、周波数解析を行うことにより、障害
点までの距離を知ることができ、また信号の大きさから
障害点での反射量すなわち障害点の大きさを知ることが
できる。
ｔ）当たりΔｆの周波数変化となるようにリニアに掃引
する。ミキサ７の２つの入力周波数差は遅れ時間差に比
例する。遅れ時間差はＤＵＴ５内の障害点までの距離に
比例することから、周波数解析を行うことにより、障害
点までの距離を知ることができ、また信号の大きさから
障害点での反射量すなわち障害点の大きさを知ることが
できる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近距離
にある障害点からの反射光による信号は、ミキサ７の出
力では低周波となり、次のような問題があった。 １／ｆノイズ等低周波成分にはノイズが多く含まれ、
強度の小さい低周波信号を解析するのは困難である。 周波数アナライザとして、一般的なスペクトラムアナ
ライザは低周波信号を解析し難い。 また、遠距離にある障害点からの反射光による信号（周
波数アナライザの被測定信号）は高周波となりすぎて測
定困難になる場合がある。
にある障害点からの反射光による信号は、ミキサ７の出
力では低周波となり、次のような問題があった。 １／ｆノイズ等低周波成分にはノイズが多く含まれ、
強度の小さい低周波信号を解析するのは困難である。 周波数アナライザとして、一般的なスペクトラムアナ
ライザは低周波信号を解析し難い。 また、遠距離にある障害点からの反射光による信号（周
波数アナライザの被測定信号）は高周波となりすぎて測
定困難になる場合がある。
【０００７】本発明の目的は、解析信号であるミキサの
出力を周波数シフトさせることにより上記問題点を解決
し、近距離または遠距離にある障害点を検出することの
できる光ファイバ検査装置を提供することにある。
出力を周波数シフトさせることにより上記問題点を解決
し、近距離または遠距離にある障害点を検出することの
できる光ファイバ検査装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、スイープ発振器とこの出力信号に
より強度変調されるＥ／Ｏ変換器を備え、前記スイープ
発振器の出力信号によりこのＥ／Ｏ変換器の出力光の強
度変調周波数をリニアに掃引し、このＥ／Ｏ変換器の出
力光を光カプラを介して被測定対象に入射し、被測定対
象内で反射して戻ってきた光をＯ／Ｅ変換器により電気
信号に変換し、この電気信号と前記スイープ発振器の出
力信号とをミキサでミキシングして差周波数の信号を
得、この差周波数信号を周波数アナライザで解析するこ
とにより被測定対象内の反射点までの距離と反射量を検
出するように構成した光ファイバ検査装置であって、前
記周波数アナライザによる被解析信号の周波数を測定可
能な周波数域に周波数シフトするための手段を具備した
ことを特徴とする。
るために本発明では、スイープ発振器とこの出力信号に
より強度変調されるＥ／Ｏ変換器を備え、前記スイープ
発振器の出力信号によりこのＥ／Ｏ変換器の出力光の強
度変調周波数をリニアに掃引し、このＥ／Ｏ変換器の出
力光を光カプラを介して被測定対象に入射し、被測定対
象内で反射して戻ってきた光をＯ／Ｅ変換器により電気
信号に変換し、この電気信号と前記スイープ発振器の出
力信号とをミキサでミキシングして差周波数の信号を
得、この差周波数信号を周波数アナライザで解析するこ
とにより被測定対象内の反射点までの距離と反射量を検
出するように構成した光ファイバ検査装置であって、前
記周波数アナライザによる被解析信号の周波数を測定可
能な周波数域に周波数シフトするための手段を具備した
ことを特徴とする。
【０００９】
【作用】このような構成により、次のような周波数シフ
トが可能である。ＤＵＴ入力端に光ファイバを接続する
ことにより、被測定対象からの反射光の戻り時間を長く
して、周波数アナライザによる被解析信号の周波数を高
周波側に周波数シフトする。あるいはＯ／Ｅ変換器出力
にアナログデレイ素子を接続して信号を遅延し、同様に
周波数アナライザによる被解析信号の周波数を高周波側
に周波数シフトする。あるいはまたミキサの出力を発振
器より出力される所定の周波数の信号とミキシングして
周波数の加算を行い、同様に周波数アナライザによる被
解析信号の周波数を高周波側に周波数シフトする。周波
数アナライザによる被解析信号の周波数を低周波側に周
波数シフトする場合は、スイープ発振器の出力信号をア
ナログデレイ素子により遅延してミキサに入力する。あ
るいは第２のミキサを用意し、第１のミキサの出力と所
定の周波数信号を発生する発振器の出力との周波数の差
の信号を得て周波数アナライザに与える。
トが可能である。ＤＵＴ入力端に光ファイバを接続する
ことにより、被測定対象からの反射光の戻り時間を長く
して、周波数アナライザによる被解析信号の周波数を高
周波側に周波数シフトする。あるいはＯ／Ｅ変換器出力
にアナログデレイ素子を接続して信号を遅延し、同様に
周波数アナライザによる被解析信号の周波数を高周波側
に周波数シフトする。あるいはまたミキサの出力を発振
器より出力される所定の周波数の信号とミキシングして
周波数の加算を行い、同様に周波数アナライザによる被
解析信号の周波数を高周波側に周波数シフトする。周波
数アナライザによる被解析信号の周波数を低周波側に周
波数シフトする場合は、スイープ発振器の出力信号をア
ナログデレイ素子により遅延してミキサに入力する。あ
るいは第２のミキサを用意し、第１のミキサの出力と所
定の周波数信号を発生する発振器の出力との周波数の差
の信号を得て周波数アナライザに与える。
【００１０】
【実施例】以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。
図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を示
す構成図である。なお、図６と同等部分には同一符号を
付してある。本発明は周波数アナライザによる被解析信
号の周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするた
めの手段を有することを特徴とするものである。
図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を示
す構成図である。なお、図６と同等部分には同一符号を
付してある。本発明は周波数アナライザによる被解析信
号の周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするた
めの手段を有することを特徴とするものである。
【００１１】図１においては、その手段が光カプラ４と
ＤＵＴ５の間に接続した光ファイバ９である。ここで、
スイープ発振器１は１ＧＨｚ／ｓｅｃの割合（掃引レー
ト）で掃引するものとする。ＤＵＴ５が屈折率ｎ＝１．
５の光ファイバである場合、ファイバ内を１ｍ光が往復
する時間ｔは、 ｔ＝２×ｎ／Ｃ≒１×１０-8（ｓｅｃ） となる。
ＤＵＴ５の間に接続した光ファイバ９である。ここで、
スイープ発振器１は１ＧＨｚ／ｓｅｃの割合（掃引レー
ト）で掃引するものとする。ＤＵＴ５が屈折率ｎ＝１．
５の光ファイバである場合、ファイバ内を１ｍ光が往復
する時間ｔは、 ｔ＝２×ｎ／Ｃ≒１×１０-8（ｓｅｃ） となる。
【００１２】スイープ発振器１の掃引レートから、この
時間ｔにより１０Ｈｚの周波数差が生じる。したがっ
て、周波数アナライザ８で差周波数を解析することによ
り１０Ｈｚ当たり１ｍで障害点の位置を検出することが
できる。ここで、ＤＵＴ５が接続される端面からの反射
光による信号（換言すれば、周波数アナライザ８の被測
定信号）を０Ｈｚとする。ＤＵＴ５が１ｍの光ファイバ
であれば、ファイバの開放端からの反射光による信号は
１０Ｈｚとなる。
時間ｔにより１０Ｈｚの周波数差が生じる。したがっ
て、周波数アナライザ８で差周波数を解析することによ
り１０Ｈｚ当たり１ｍで障害点の位置を検出することが
できる。ここで、ＤＵＴ５が接続される端面からの反射
光による信号（換言すれば、周波数アナライザ８の被測
定信号）を０Ｈｚとする。ＤＵＴ５が１ｍの光ファイバ
であれば、ファイバの開放端からの反射光による信号は
１０Ｈｚとなる。
【００１３】追加の光ファイバ９として例えば１０ｍの
ものを用意すると、周波数アナライザ８での被解析周波
数は１００Ｈｚ分高周波側にシフトしたものとなる。つ
まり、光ファイバ９が１０ｍで、ＤＵＴ５が１ｍの光フ
ァイバであれば、ＤＵＴ５の開放端からの反射光による
信号（周波数アナライザの被測定信号）は１１０Ｈｚと
なる。
ものを用意すると、周波数アナライザ８での被解析周波
数は１００Ｈｚ分高周波側にシフトしたものとなる。つ
まり、光ファイバ９が１０ｍで、ＤＵＴ５が１ｍの光フ
ァイバであれば、ＤＵＴ５の開放端からの反射光による
信号（周波数アナライザの被測定信号）は１１０Ｈｚと
なる。
【００１４】図２は本発明の他の実施例図であり、周波
数アナライザによる被解析信号の周波数を測定可能な周
波数域に周波数シフトするための手段として、Ｏ／Ｅ変
換器６とミキサ７の間に接続されたアナログデレイ素子
１０を用いた例である。アナログデレイ素子１０として
例えば１００ｎｓｅｃのものを用いると、被解析周波数
は１００Ｈｚ分高周波側にシフトする（スイープ発振器
１が１ＧＨｚ／ｓｅｃの掃引レートであるから、１００
ｎｓｅｃの遅れは１００Ｈｚとなる）。ＤＵＴ５が１ｍ
の光ファイバである場合には、光ファイバの開放端から
の反射光による信号（周波数アナライザの被測定信号）
は１１０Ｈｚとなる。
数アナライザによる被解析信号の周波数を測定可能な周
波数域に周波数シフトするための手段として、Ｏ／Ｅ変
換器６とミキサ７の間に接続されたアナログデレイ素子
１０を用いた例である。アナログデレイ素子１０として
例えば１００ｎｓｅｃのものを用いると、被解析周波数
は１００Ｈｚ分高周波側にシフトする（スイープ発振器
１が１ＧＨｚ／ｓｅｃの掃引レートであるから、１００
ｎｓｅｃの遅れは１００Ｈｚとなる）。ＤＵＴ５が１ｍ
の光ファイバである場合には、光ファイバの開放端から
の反射光による信号（周波数アナライザの被測定信号）
は１１０Ｈｚとなる。
【００１５】図３は本発明の更に他の実施例図であり、
周波数アナライザによる被解析信号の周波数を測定可能
な周波数域に周波数シフトするための手段として、第２
のミキサ１１と発振器１２を用いた例である。ミキサ１
１を第１のミキサ７と周波数アナライザ８の間に接続
し、ミキサ１１で第１のミキサ７の出力と発振器１２の
出力をミキシングする。発振器１２の出力周波数を例え
ば１００Ｈｚとし、ミキサ１１でミキサ７の出力周波数
に加算することにより、被解析周波数を１００Ｈｚ分高
周波側にシフトすることができる。ＤＵＴ５を１ｍの光
ファイバとすると、光ファイバの開放端からの反射光に
よる信号（周波数アナライザの被測定信号）は１１０Ｈ
ｚとなる。
周波数アナライザによる被解析信号の周波数を測定可能
な周波数域に周波数シフトするための手段として、第２
のミキサ１１と発振器１２を用いた例である。ミキサ１
１を第１のミキサ７と周波数アナライザ８の間に接続
し、ミキサ１１で第１のミキサ７の出力と発振器１２の
出力をミキシングする。発振器１２の出力周波数を例え
ば１００Ｈｚとし、ミキサ１１でミキサ７の出力周波数
に加算することにより、被解析周波数を１００Ｈｚ分高
周波側にシフトすることができる。ＤＵＴ５を１ｍの光
ファイバとすると、光ファイバの開放端からの反射光に
よる信号（周波数アナライザの被測定信号）は１１０Ｈ
ｚとなる。
【００１６】次に、ＤＵＴ５が例えば１０Ｋｍと長く、
遠距離にある障害点を検出する場合に適用される構成に
ついて説明する。図４は周波数アナライザによる被解析
信号の周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトする
ための手段として、アナログデレイ素子１３を用いた例
である。これにより周波数アナライザ８による被解析信
号の周波数を低周波側にシフトさせることができる。ア
ナログデレイ素子１３として例えば５０μｓｅｃのもの
を用いると、被解析周波数は５０ＫＨｚ分低周波側にシ
フトする。ＤＵＴ５を１０Ｋｍの光ファイバとすると、
光ファイバ開放端からの反射光による信号（周波数アナ
ライザの被測定信号）は５０ＫＨｚとなる。
遠距離にある障害点を検出する場合に適用される構成に
ついて説明する。図４は周波数アナライザによる被解析
信号の周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトする
ための手段として、アナログデレイ素子１３を用いた例
である。これにより周波数アナライザ８による被解析信
号の周波数を低周波側にシフトさせることができる。ア
ナログデレイ素子１３として例えば５０μｓｅｃのもの
を用いると、被解析周波数は５０ＫＨｚ分低周波側にシ
フトする。ＤＵＴ５を１０Ｋｍの光ファイバとすると、
光ファイバ開放端からの反射光による信号（周波数アナ
ライザの被測定信号）は５０ＫＨｚとなる。
【００１７】図５は周波数アナライザによる被解析信号
の周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするため
の手段として、第１のミキサ７と周波数アナライザ８の
間に第２のミキサ１４と発振器１５を設けた例である。
発振器１５として例えば５０ＫＨｚを用意し、ミキサ１
４による差周波数を利用すると、被解析周波数は５０Ｋ
Ｈｚ分低周波シフトする。ＤＵＴ５を１０Ｋｍの光ファ
イバとすると、光ファイバ開放端からの反射光による信
号（周波数アナライザの被測定信号）は５０ＫＨｚとな
る。
の周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするため
の手段として、第１のミキサ７と周波数アナライザ８の
間に第２のミキサ１４と発振器１５を設けた例である。
発振器１５として例えば５０ＫＨｚを用意し、ミキサ１
４による差周波数を利用すると、被解析周波数は５０Ｋ
Ｈｚ分低周波シフトする。ＤＵＴ５を１０Ｋｍの光ファ
イバとすると、光ファイバ開放端からの反射光による信
号（周波数アナライザの被測定信号）は５０ＫＨｚとな
る。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
ファイバや、アナログデレイ素子、第２のミキサと発振
器を用いて、解析信号を高周波側または低周波側にシフ
トさせることができ、高周波側にシフトさせた場合は近
距離にある障害点を検出でき、低周波側にシフトさせた
場合は遠距離にある障害点を検出することができる。
ファイバや、アナログデレイ素子、第２のミキサと発振
器を用いて、解析信号を高周波側または低周波側にシフ
トさせることができ、高周波側にシフトさせた場合は近
距離にある障害点を検出でき、低周波側にシフトさせた
場合は遠距離にある障害点を検出することができる。
【図１】本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成図
示す構成図
【図２】本発明の他の実施例を示す構成図
【図３】本発明の更に他の実施例を示す構成図
【図４】本発明の更に他の実施例を示す構成図
【図５】本発明の更に他の実施例を示す構成図
【図６】従来の光ファイバ検査装置の一例を示す構成図
である。
である。
１ スイープ発振器
２ 分配器
３ Ｅ／Ｏ
４ 光カプラ
５ ＤＵＴ
６ Ｏ／Ｅ
７，１１ ミキサ
８ 周波数アナライザ
９ 光ファイバ
１０，１３ アナログデレイ素子
１２，１５ 発振器
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平６−66517（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−220579（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−219947（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−201225（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−54586（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−270841（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−5068（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−74710（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−53590（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−275782（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−248434（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−175333（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−122538（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−6724（ＪＰ，Ａ)
特開 昭57−118136（ＪＰ，Ａ)
特開 昭53−47701（ＪＰ，Ａ)
米国特許5062703（ＵＳ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01M 11/00 - 11/02
G01J 1/00
G01J 9/00 - 9/04
G01J 11/00
G01B 9/02
G01B 11/00
G01K 11/12
G02B 6/00
G02F 1/01 - 2/02
H01S 3/00
H01S 5/06
H04B 3/46
H04B 10/08
H04B 17/00 - 17/02
Claims (6)
- 【請求項１】スイープ発振器とこの出力信号により強度
変調されるＥ／Ｏ変換器を備え、前記スイープ発振器の
出力信号によりこのＥ／Ｏ変換器の出力光の強度変調周
波数をリニアに掃引し、このＥ／Ｏ変換器の出力光を光
カプラを介して被測定対象に入射し、被測定対象内で反
射して戻ってきた光をＯ／Ｅ変換器により電気信号に変
換し、この電気信号と前記スイープ発振器の出力信号と
をミキサでミキシングして差周波数の信号を得、この差
周波数信号を周波数アナライザで解析することにより被
測定対象内の反射点までの距離と反射量を検出するよう
に構成した光ファイバ検査装置であって、 前記周波数アナライザによる被解析信号の周波数を測定
可能な周波数域に周波数シフトするための手段を具備し
たことを特徴とする光ファイバ検査装置。 - 【請求項２】前記周波数アナライザによる被解析信号の
周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするための
手段が、前記光カプラと被測定対象の間に接続された光
ファイバであり、前記周波数アナライザによる被解析信
号の周波数を高周波側にシフトするように構成したこと
を特徴とする請求項１記載の光ファイバ検査装置。 - 【請求項３】前記周波数アナライザによる被解析信号の
周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするための
手段が、前記Ｏ／Ｅ変換器と前記ミキサの間に接続され
たアナログデレイ素子であり、前記周波数アナライザに
よる被解析信号の周波数を高周波側にシフトするように
構成したことを特徴とする請求項１記載の光ファイバ検
査装置。 - 【請求項４】前記周波数アナライザによる被解析信号の
周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするための
手段が、前記ミキサと前記周波数アナライザの間に接続
された第２のミキサとこのミキサに加える信号を発生す
る発振器から成り、前記周波数アナライザによる被解析
信号の周波数を高周波側にシフトするように構成したこ
とを特徴とする請求項１記載の光ファイバ検査装置。 - 【請求項５】前記周波数アナライザによる被解析信号の
周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするための
手段が、前記スイープ発振器の出力信号を遅延させて前
記ミキサに与えるアナログデレイ素子であり、前記周波
数アナライザによる被解析信号の周波数を低周波側にシ
フトするように構成したことを特徴とする請求項１記載
の光ファイバ検査装置。 - 【請求項６】前記周波数アナライザによる被解析信号の
周波数を測定可能な周波数域に周波数シフトするための
手段が、前記ミキサと前記周波数アナライザの間に接続
された第２のミキサとこのミキサに加える信号を発生す
る発振器から成り、前記第２のミキサにおいて２つの入
力の差周波数の信号を得、前記周波数アナライザによる
被解析信号の周波数を低周波側にシフトするように構成
したことを特徴とする請求項１記載の光ファイバ検査装
置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01571995A JP3453745B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ検査装置 |
| DE69632000T DE69632000T2 (de) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Messvorrichtung für optische fasern |
| DE0754939T DE754939T1 (de) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Messvorrichtung für optische fasern |
| PCT/JP1996/000170 WO1996024038A1 (fr) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Dispositif de detection a fibres optiques |
| EP96901143A EP0754939B1 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical fibre detecting device |
| US08/727,377 US5844235A (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical frequency domain reflectometer for use as an optical fiber testing device |
| US09/039,944 US6008487A (en) | 1995-02-02 | 1998-03-16 | Optical-fiber inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01571995A JP3453745B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08210944A JPH08210944A (ja) | 1996-08-20 |
| JP3453745B2 true JP3453745B2 (ja) | 2003-10-06 |
Family
ID=11896577
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01571995A Expired - Fee Related JP3453745B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3453745B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3453746B2 (ja) * | 1995-02-09 | 2003-10-06 | 横河電機株式会社 | 光ファイバ検査装置 |
| WO2010022787A1 (en) * | 2008-08-29 | 2010-03-04 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Fibre monitoring in optical networks |
| TW201315170A (zh) * | 2011-09-27 | 2013-04-01 | Chunghwa Telecom Co Ltd | 光頻域反射式光纖網路測試方法 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5347701A (en) * | 1976-10-13 | 1978-04-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical sweep signal generator |
| JPS57118136A (en) * | 1981-01-14 | 1982-07-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Fault searching method by optical fiber |
| US5062703A (en) * | 1988-01-21 | 1991-11-05 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for measuring the length of, or distances to discontinuities in, an optical transmission medium |
| AU624601B2 (en) * | 1988-01-21 | 1992-06-18 | Genentech Inc. | Amplification and detection of nucleic acid sequences |
| FR2640379B1 (fr) * | 1988-12-14 | 1994-07-01 | Centre Nat Rech Scient | Procede d'analyse de composants d'optique guidee, fibres optiques ou reseaux de guides optiques par reflectometrie temporelle et reflectometre dans le domaine temporel |
| JP2626099B2 (ja) * | 1989-09-26 | 1997-07-02 | 横河電機株式会社 | 光伝送線路測定器 |
| JP2907350B2 (ja) * | 1991-02-04 | 1999-06-21 | 日本電信電話株式会社 | 光線路の遠隔試験装置 |
| JPH05275782A (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-22 | Nec Corp | アナログ用光送信装置 |
| DE4244605A1 (de) * | 1992-05-27 | 1993-12-02 | Hewlett Packard Co | Optisches Niederkohärenzreflektometer von verbesserter Empfindlichkeit mit optischer Dämpfung |
| US5268738A (en) * | 1992-06-30 | 1993-12-07 | Hewlett-Packard Company | Extended distance range optical low-coherence reflectometer |
| JPH0653590A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-02-25 | Hitachi Ltd | 光ｆｓｋ周波数変位量安定化方式 |
| JP3282135B2 (ja) * | 1993-06-17 | 2002-05-13 | 日本電信電話株式会社 | 光周波数領域反射測定装置 |
| JPH07270841A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Ando Electric Co Ltd | 掃引光周波数発生装置 |
| JPH0854586A (ja) * | 1994-08-10 | 1996-02-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光周波数掃引光源 |
| JPH08201225A (ja) * | 1995-01-27 | 1996-08-09 | Yokogawa Electric Corp | 光周波数可変光源 |
| JP3453746B2 (ja) * | 1995-02-09 | 2003-10-06 | 横河電機株式会社 | 光ファイバ検査装置 |
| JPH08220579A (ja) * | 1995-02-10 | 1996-08-30 | Yokogawa Electric Corp | 強度変調周波数可変光源 |
-
1995
- 1995-02-02 JP JP01571995A patent/JP3453745B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08210944A (ja) | 1996-08-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2976603B1 (en) | Brillouin optical distributed sensing device and method with improved tolerance to sensor failure | |
| JP3335205B2 (ja) | 光学システムの較正方法 | |
| EP0578400B1 (en) | Optical low coherence reflectometer with delay sequence | |
| US6057919A (en) | Apparatus and method for measuring characteristics of optical pulses | |
| Healey | Instrumentation principles for optical time domain reflectometry | |
| JPH026724A (ja) | 光学伝送媒体を試験する方法及び装置 | |
| Tsuji et al. | Coherent optical frequency domain reflectometry for a long single-mode optical fiber using a coherent lightwave source and an external phase modulator | |
| JPS6235051B2 (ja) | ||
| JP2001356070A (ja) | 光ファイバ歪測定装置 | |
| Tsuji et al. | Coherent optical frequency domain reflectometry using phase-decorrelated reflected and reference lightwaves | |
| JP3453745B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
| von der Weid et al. | Mid-range coherent optical frequency domain reflectometry with a DFB laser diode coupled to an external cavity | |
| Takada et al. | High sensitivity and submillimeter resolution optical time-domain reflectometry based on low-coherence interference | |
| CN110375960A (zh) | 一种基于超连续谱光源otdr的装置及方法 | |
| CN115839762A (zh) | 基于ofdr原理的双脉冲长距离分布式振动检测装置及检测方法 | |
| US6266145B1 (en) | Apparatus for measurement of an optical pulse shape | |
| US6211950B1 (en) | Optical pulse reflectometer | |
| Sakairi et al. | Prototype double-pulse BOTDR for measuring distributed strain with 20-cm spatial resolution | |
| JP3453746B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
| JP3334480B2 (ja) | 光ファイバ伝送特性測定装置および測定方法 | |
| JPH09133585A (ja) | 光パルス列測定方法 | |
| JP3244106B2 (ja) | 光反射測定方法 | |
| JP2002509612A (ja) | 波長測定システム | |
| JP3231117B2 (ja) | 光ファイバの非線形屈折率の計測法 | |
| JP3446850B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080725 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090725 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100725 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110725 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |