JP3446850B2 - 光ファイバ検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査装置Info
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- JP3446850B2 JP3446850B2 JP01572095A JP1572095A JP3446850B2 JP 3446850 B2 JP3446850 B2 JP 3446850B2 JP 01572095 A JP01572095 A JP 01572095A JP 1572095 A JP1572095 A JP 1572095A JP 3446850 B2 JP3446850 B2 JP 3446850B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光強度変調を利用した
光ファイバ検査装置（ＯＦＤＲ：Optical Frequency Do
main Reflectmeter）において、光が伝搬遅延する光フ
ァイバなどの光導波路あるいは駆動信号などを時間遅延
する遅延回路（ここでは、両者を遅延回路と呼ぶことも
ある）を利用して変調周波数の偏差を検出し、強度変調
周波数の直線掃引制御ができるようにした光ファイバ検
査装置に関するものである。
光ファイバ検査装置（ＯＦＤＲ：Optical Frequency Do
main Reflectmeter）において、光が伝搬遅延する光フ
ァイバなどの光導波路あるいは駆動信号などを時間遅延
する遅延回路（ここでは、両者を遅延回路と呼ぶことも
ある）を利用して変調周波数の偏差を検出し、強度変調
周波数の直線掃引制御ができるようにした光ファイバ検
査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＯＦＤＲは、周波数を変調した光を出力
して、光ファイバ内の障害点での反射光を検出し、検出
した信号の周波数情報から障害点を特定する光ファイバ
検査装置である。ＯＦＤＲには、光周波数を変調する方
法と光強度を周波数変調する方法がある。
して、光ファイバ内の障害点での反射光を検出し、検出
した信号の周波数情報から障害点を特定する光ファイバ
検査装置である。ＯＦＤＲには、光周波数を変調する方
法と光強度を周波数変調する方法がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、特に後者の
光強度を周波数変調するＯＦＤＲに関するものである
が、従来のＯＦＤＲでは光強度の変調周波数を直線掃引
することが困難であるという欠点があった。
光強度を周波数変調するＯＦＤＲに関するものである
が、従来のＯＦＤＲでは光強度の変調周波数を直線掃引
することが困難であるという欠点があった。
【０００４】本発明の目的は、遅延回路を設けて遅延回
路前後の光信号を得、これに基づいて単位時間あたりの
変調周波数の変化量を検出して変調周波数の直線掃引制
御ができるようにした光ファイバ検査装置を実現するこ
とにある。
路前後の光信号を得、これに基づいて単位時間あたりの
変調周波数の変化量を検出して変調周波数の直線掃引制
御ができるようにした光ファイバ検査装置を実現するこ
とにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、Ｅ／Ｏ変換器と、このＥ／Ｏ変換
器を駆動する駆動回路と、前記Ｅ／Ｏ変換器の光強度を
変調する変調信号を出力する変調信号発生器と、この変
調信号発生器の出力を分岐して前記Ｅ／Ｏ変換器および
その他の部分へ与える第１の分配器と、前記Ｅ／Ｏ変換
器の出力光を分岐する第1の分岐手段と、この第1の分岐
手段の一方の出力光を透過させて被検査対象の光ファイ
バに入射させると共にその光ファイバ中の障害点からの
反射光を前記第1の分岐手段からの入射方向とは異なる
方向へ反射する手段と、この手段の出力光を検出する第
1の光検出器と、この第1の光検出器の出力と前記第1の
分配器の出力とをミキシングする第１のミキサと、この
第１のミキサの出力を周波数解析して前記光ファイバ中
の障害点までの距離と障害点からの反射量を求めること
のできる周波数解析器と、既知の長さの光導波路を通っ
た前記第１の分岐手段の他方の出力光を第２の光検出器
で検出し、この第２の検出器の出力と前記第１の分配器
の出力とをミキシングして得た信号の周波数が一定とな
るように前記変調信号発生器を制御する信号を出力する
直線掃引制御手段を具備したことを特徴とする。
るために本発明では、Ｅ／Ｏ変換器と、このＥ／Ｏ変換
器を駆動する駆動回路と、前記Ｅ／Ｏ変換器の光強度を
変調する変調信号を出力する変調信号発生器と、この変
調信号発生器の出力を分岐して前記Ｅ／Ｏ変換器および
その他の部分へ与える第１の分配器と、前記Ｅ／Ｏ変換
器の出力光を分岐する第1の分岐手段と、この第1の分岐
手段の一方の出力光を透過させて被検査対象の光ファイ
バに入射させると共にその光ファイバ中の障害点からの
反射光を前記第1の分岐手段からの入射方向とは異なる
方向へ反射する手段と、この手段の出力光を検出する第
1の光検出器と、この第1の光検出器の出力と前記第1の
分配器の出力とをミキシングする第１のミキサと、この
第１のミキサの出力を周波数解析して前記光ファイバ中
の障害点までの距離と障害点からの反射量を求めること
のできる周波数解析器と、既知の長さの光導波路を通っ
た前記第１の分岐手段の他方の出力光を第２の光検出器
で検出し、この第２の検出器の出力と前記第１の分配器
の出力とをミキシングして得た信号の周波数が一定とな
るように前記変調信号発生器を制御する信号を出力する
直線掃引制御手段を具備したことを特徴とする。
【０００６】
【作用】Ｅ／Ｏ変換器の変調信号を光導波路を介して伝
搬遅延させ、この光導波路の前後の変調信号に基づいて
単位時間当たりの変調周波数の変化量を検出する。この
変化量が一定になるように変調信号を制御することによ
り、光強度の変調周波数の直線掃引制御が可能となる。
搬遅延させ、この光導波路の前後の変調信号に基づいて
単位時間当たりの変調周波数の変化量を検出する。この
変化量が一定になるように変調信号を制御することによ
り、光強度の変調周波数の直線掃引制御が可能となる。
【０００７】
【実施例】以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。
図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を示
す構成図である。図において、１は電気・光変換器（以
下Ｅ／Ｏ変換器という）、２はＥ／Ｏ変換器１を直流駆
動する駆動回路、３は直流信号と高周波信号とを合波す
る合波器、４は光アイソレータ、５と６は光を分岐する
ビームスプリッタ（なお、５を第1の分岐手段、６を第
２の分岐手段ともいう）、７は被検査対象の光ファイ
バ、８は光ファイバ７の障害点からの反射光を検出する
第１の光検出器、９はビームスプリッタ５の出力光を遅
延させるための既知の長さの光ファイバ（光導波路とも
いう）である。
図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を示
す構成図である。図において、１は電気・光変換器（以
下Ｅ／Ｏ変換器という）、２はＥ／Ｏ変換器１を直流駆
動する駆動回路、３は直流信号と高周波信号とを合波す
る合波器、４は光アイソレータ、５と６は光を分岐する
ビームスプリッタ（なお、５を第1の分岐手段、６を第
２の分岐手段ともいう）、７は被検査対象の光ファイ
バ、８は光ファイバ７の障害点からの反射光を検出する
第１の光検出器、９はビームスプリッタ５の出力光を遅
延させるための既知の長さの光ファイバ（光導波路とも
いう）である。
【０００８】１０は光ファイバ９の出力光を検出する第
2の光検出器、１１は第１のミキサ、１２は第２のミキ
サ、１３と１４は必要な低域周波数成分のみを透過させ
るロウ・パス・フィルタ、１５は１３の出力の周波数と
信号強度とを解析する周波数解析器、１６は既知の周波
数信号を出力する発振器、１７はロウ・パス・フィルタ
１４の出力と発振器１６の出力との周波数差あるいは位
相差を検出する位相比較器、１８は位相比較器１７の出
力に基づいて変調周波数を制御する信号を発生する制御
回路である。なお、ロウ・パス・フィルタ１４はあった
方が望ましいが、なくても動作上は問題ない。
2の光検出器、１１は第１のミキサ、１２は第２のミキ
サ、１３と１４は必要な低域周波数成分のみを透過させ
るロウ・パス・フィルタ、１５は１３の出力の周波数と
信号強度とを解析する周波数解析器、１６は既知の周波
数信号を出力する発振器、１７はロウ・パス・フィルタ
１４の出力と発振器１６の出力との周波数差あるいは位
相差を検出する位相比較器、１８は位相比較器１７の出
力に基づいて変調周波数を制御する信号を発生する制御
回路である。なお、ロウ・パス・フィルタ１４はあった
方が望ましいが、なくても動作上は問題ない。
【０００９】１９は変調信号を出力する変調信号発生
器、２０は制御回路１８の出力と変調信号発生器１９の
出力とを加算する加算器、２１は加算器２０の出力に応
じて出力の発振周波数が変化する電圧制御発振器、２２
は電圧制御発振器２１の出力を分岐する第1の分配器で
ある。なお、電圧制御発振器２１の機能を第1の分配器
２２に含めてしまっても構わない。
器、２０は制御回路１８の出力と変調信号発生器１９の
出力とを加算する加算器、２１は加算器２０の出力に応
じて出力の発振周波数が変化する電圧制御発振器、２２
は電圧制御発振器２１の出力を分岐する第1の分配器で
ある。なお、電圧制御発振器２１の機能を第1の分配器
２２に含めてしまっても構わない。
【００１０】このような構成における動作を次に説明す
る。駆動回路２の出力により、Ｅ／Ｏ変換器１を駆動す
る。Ｅ／Ｏ変換器１から出力した光は、光アイソレータ
４とビームスプリッタ５，６を透過し外部に出力する。
電圧制御発振器２１の出力周波数は、変調信号発生器１
９の出力によりランプ波変調される。電圧制御発振器２
１の出力は、分配器２２で３つに分岐され、合波器３と
ミキサ１１，１２に入力される。
る。駆動回路２の出力により、Ｅ／Ｏ変換器１を駆動す
る。Ｅ／Ｏ変換器１から出力した光は、光アイソレータ
４とビームスプリッタ５，６を透過し外部に出力する。
電圧制御発振器２１の出力周波数は、変調信号発生器１
９の出力によりランプ波変調される。電圧制御発振器２
１の出力は、分配器２２で３つに分岐され、合波器３と
ミキサ１１，１２に入力される。
【００１１】分配器２２の出力、すなわち電圧制御発振
器２１の出力が合波器３に加わると、Ｅ／Ｏ変換器１の
出力光強度の変調周波数は図２に示すようにランプ波変
調ａ（Δｆ／Δｔ） される。外部に出力された光は被
検査対象の光ファイバ７に入射し、光ファイバ中の障害
点で反射されてビームスプリッタ６に戻り、光検出器８
で検出される。光検出器８の出力は、ミキサ１１で分配
器２２の出力とミキシングされる。
器２１の出力が合波器３に加わると、Ｅ／Ｏ変換器１の
出力光強度の変調周波数は図２に示すようにランプ波変
調ａ（Δｆ／Δｔ） される。外部に出力された光は被
検査対象の光ファイバ７に入射し、光ファイバ中の障害
点で反射されてビームスプリッタ６に戻り、光検出器８
で検出される。光検出器８の出力は、ミキサ１１で分配
器２２の出力とミキシングされる。
【００１２】光ファイバ７の障害点までの距離がＬのと
き、分配器２２の出力と光検出器８の出力との間には、 Δｔ＝２・ｎ・Ｌ／ｃ0 ｎ ：光ファイバ７の屈折率 ｃ0 ：真空中の光速 の時間差がある。よって、ミキサ１１の出力には、時間
差Δｔの間に変化した周波数 Δｆ＝ａ・Δｔ＝２・ａ・ｎ・Ｌ／ｃ0 の信号が含まれる。
き、分配器２２の出力と光検出器８の出力との間には、 Δｔ＝２・ｎ・Ｌ／ｃ0 ｎ ：光ファイバ７の屈折率 ｃ0 ：真空中の光速 の時間差がある。よって、ミキサ１１の出力には、時間
差Δｔの間に変化した周波数 Δｆ＝ａ・Δｔ＝２・ａ・ｎ・Ｌ／ｃ0 の信号が含まれる。
【００１３】ミキサ１１の出力は、ロウ・パス・フィル
タ１３で不要な周波数成分を取り除き、周波数解析器１
５で周波数と信号強度が解析される。変調の傾きａが一
定であれば、解析された周波数は障害点までの距離Ｌに
比例するため、周波数から距離Ｌが計算でき、信号強度
から反射量が求められる。
タ１３で不要な周波数成分を取り除き、周波数解析器１
５で周波数と信号強度が解析される。変調の傾きａが一
定であれば、解析された周波数は障害点までの距離Ｌに
比例するため、周波数から距離Ｌが計算でき、信号強度
から反射量が求められる。
【００１４】ビームスプリッタ５で分岐された光は、既
知の長さＬc の光ファイバ９を透過して伝搬遅延し、光
検出器１０で検出される。光検出器１０の出力は、ミキ
サ１２で分配器２２の出力とミキシングされる。光ファ
イバ９で伝搬遅延され光検出器１０で検出された信号と
分配器２２の出力信号との間には一定の時間差ｔ＝ｎ・
Ｌc ／ｃ0 が生じるため、伝搬遅延時間内に変化した変
調周波数の差、すなわち変調周波数の変化の傾き（単位
時間あたりの変調周波数変化量）と光ファイバ９による
伝搬遅延時間との積 ｆ＝ａ・ｔ＝ａ・ｎ・Ｌc ／ｃ0 に等しい周波数の信号がミキサ１２から出力される（図
２)。
知の長さＬc の光ファイバ９を透過して伝搬遅延し、光
検出器１０で検出される。光検出器１０の出力は、ミキ
サ１２で分配器２２の出力とミキシングされる。光ファ
イバ９で伝搬遅延され光検出器１０で検出された信号と
分配器２２の出力信号との間には一定の時間差ｔ＝ｎ・
Ｌc ／ｃ0 が生じるため、伝搬遅延時間内に変化した変
調周波数の差、すなわち変調周波数の変化の傾き（単位
時間あたりの変調周波数変化量）と光ファイバ９による
伝搬遅延時間との積 ｆ＝ａ・ｔ＝ａ・ｎ・Ｌc ／ｃ0 に等しい周波数の信号がミキサ１２から出力される（図
２)。
【００１５】ミキサ１２の出力は、ロウ・パス・フィル
タ１４で不要な周波数成分が取り除かれる。変調周波数
の変化の傾きが一定（直線掃引されている）ならば、ロ
ウ・パス・フィルタ１４より出力される信号の周波数は
一定となる。ロウ・パス・フィルタ１４から出力された
信号は、発振器１６より出力される既知の周波数の信号
と位相比較器１７で周波数と位相が比較される。制御回
路１８は、位相比較器１７の出力によりミキサ１２から
出力される信号の周波数が一定となるように制御信号を
出力する。制御回路１８より出力された制御信号は、加
算器２０で信号発生器１９の出力と加算され、電圧制御
発振器２１に入る。
タ１４で不要な周波数成分が取り除かれる。変調周波数
の変化の傾きが一定（直線掃引されている）ならば、ロ
ウ・パス・フィルタ１４より出力される信号の周波数は
一定となる。ロウ・パス・フィルタ１４から出力された
信号は、発振器１６より出力される既知の周波数の信号
と位相比較器１７で周波数と位相が比較される。制御回
路１８は、位相比較器１７の出力によりミキサ１２から
出力される信号の周波数が一定となるように制御信号を
出力する。制御回路１８より出力された制御信号は、加
算器２０で信号発生器１９の出力と加算され、電圧制御
発振器２１に入る。
【００１６】このように、制御回路１８の制御によりミ
キサ１２から出力される信号の周波数が一定となり、変
調周波数の直線掃引が実現できる。
キサ１２から出力される信号の周波数が一定となり、変
調周波数の直線掃引が実現できる。
【００１７】なお、本発明では、遅延回路を設け単位時
間当たりの光強度の変調周波数の変化量を検出し、変調
周波数の直線掃引制御を行う部分を直線掃引制御手段と
いう。この直線掃引制御手段は上記実施例に限定される
ものではなく、各種の構成が許される。例えば図３に示
すように、位相比較器１７の出力を記憶装置２３に記憶
し、そのデータを制御回路１８に入力するようにしても
よい。この場合は、記憶装置２３に記憶したデータに基
づいて制御回路１８は変調周波数の直線掃引制御を繰り
返し行う。なお、この場合の変調信号発生器１９からは
ランプ波変調された周波数の信号が出力される。以下の
実施例においても同じである。
間当たりの光強度の変調周波数の変化量を検出し、変調
周波数の直線掃引制御を行う部分を直線掃引制御手段と
いう。この直線掃引制御手段は上記実施例に限定される
ものではなく、各種の構成が許される。例えば図３に示
すように、位相比較器１７の出力を記憶装置２３に記憶
し、そのデータを制御回路１８に入力するようにしても
よい。この場合は、記憶装置２３に記憶したデータに基
づいて制御回路１８は変調周波数の直線掃引制御を繰り
返し行う。なお、この場合の変調信号発生器１９からは
ランプ波変調された周波数の信号が出力される。以下の
実施例においても同じである。
【００１８】また、図４は、分配器２２の出力を変調器
２４に与え、Ｅ／Ｏ変換器１の出力の光強度の変調周波
数を制御するようにした構成例であり、同様に光強度の
変調周波数の直線掃引制御が可能である。
２４に与え、Ｅ／Ｏ変換器１の出力の光強度の変調周波
数を制御するようにした構成例であり、同様に光強度の
変調周波数の直線掃引制御が可能である。
【００１９】図５は、光信号の遅れを利用するのではな
く、駆動信号の遅れを利用して光強度の変調周波数の直
線掃引制御を行うもので、分配器２２の出力を更に分配
器２５に入力し、分配された一方を遅延回路２６を通
し、他方の分配された信号とミキサ１２でミキシング
し、位相比較器１７に入力する場合の構成例である。な
お、実施例では分配器２２と２５を別個に設けたが、多
出力の分配器を用いれば、分配器は１つで足りる。
く、駆動信号の遅れを利用して光強度の変調周波数の直
線掃引制御を行うもので、分配器２２の出力を更に分配
器２５に入力し、分配された一方を遅延回路２６を通
し、他方の分配された信号とミキサ１２でミキシング
し、位相比較器１７に入力する場合の構成例である。な
お、実施例では分配器２２と２５を別個に設けたが、多
出力の分配器を用いれば、分配器は１つで足りる。
【００２０】図６は、図５において、位相比較器１７の
出力を記憶装置２３に記憶するようにした構成例であ
る。
出力を記憶装置２３に記憶するようにした構成例であ
る。
【００２１】図７は、図５において分配器２２の出力
を、Ｅ／Ｏ変換器１の出力を変調する変調器２４に入力
し、光強度の変調周波数の直線掃引制御を行う場合の構
成例である。
を、Ｅ／Ｏ変換器１の出力を変調する変調器２４に入力
し、光強度の変調周波数の直線掃引制御を行う場合の構
成例である。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、遅
延回路を設けて変調信号を伝搬遅延させ、この遅延回路
の前後の変調信号に基づいて単位時間あたりの変調周波
数変化量を検出し、その変調周波数変化量を一定に制御
することができるので、光強度の変調周波数の直線掃引
が可能となり、障害点までの距離分解能と距離確度を容
易に向上させるという効果がある。
延回路を設けて変調信号を伝搬遅延させ、この遅延回路
の前後の変調信号に基づいて単位時間あたりの変調周波
数変化量を検出し、その変調周波数変化量を一定に制御
することができるので、光強度の変調周波数の直線掃引
が可能となり、障害点までの距離分解能と距離確度を容
易に向上させるという効果がある。
【図１】本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成図
示す構成図
【図２】動作を説明するための図
【図３】本発明の他の実施例を示す構成図
【図４】本発明の更に他の実施例を示す構成図
【図５】本発明の更に他の実施例を示す構成図
【図６】本発明の更に他の実施例を示す構成図
【図７】本発明の更に他の実施例を示す構成図である。
１ Ｅ／Ｏ変換器
２ 駆動回路
３ 合波器
４ 光アイソレータ
５，６ ビームスプリッタ
７ 光ファイバ
８ 光検出器
９ 光ファイバ
１０ 光検出器
１１，１２ ミキサ
１３，１４ ロウ・パス・フィルタ
１５ 周波数解析器
１６ 発振器
１７ 位相比較器
１８ 制御回路
１９ 変調信号発生器
２０ 加算器
２１ 電圧制御発振器
２２，２５ 分配器
２３ 記憶装置
２４ 変調器
２６ 遅延回路
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭61−103361（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−54586（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−270841（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−53590（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−206935（ＪＰ，Ａ)
米国特許5062703（ＵＳ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01M 11/00 - 11/02
G01J 1/00
G01J 9/00 - 9/04
G01J 11/00
G01B 9/02
G01B 11/00
G01K 11/12
G02B 6/00
G02F 1/01 - 2/02
H01S 3/00
H01S 5/06
H04B 3/46
H04B 10/08
H04B 17/00 - 17/02
Claims (7)
- 【請求項１】Ｅ／Ｏ変換器と、 このＥ／Ｏ変換器を駆動する駆動回路と、 前記Ｅ／Ｏ変換器の光強度を変調する変調信号を出力す
る変調信号発生器と、 この変調信号発生器の出力を分岐して前記Ｅ／Ｏ変換器
およびその他の部分へ与える第１の分配器と、 前記Ｅ／Ｏ変換器の出力光を分岐する第1の分岐手段
と、 この第1の分岐手段の一方の出力光を透過させて被検査
対象の光ファイバに入射させると共にその光ファイバ中
の障害点からの反射光を前記第1の分岐手段からの入射
方向とは異なる方向へ反射する手段と、 この手段の出力光を検出する第1の光検出器と、 この第1の光検出器の出力と前記第1の分配器の出力とを
ミキシングする第１のミキサと、 この第１のミキサの出力を周波数解析して前記光ファイ
バ中の障害点までの距離と障害点からの反射量を求める
ことのできる周波数解析器と、 既知の長さの光導波路を通った前記第１の分岐手段の他
方の出力光を第２の光検出器で検出し、この第２の検出
器の出力と前記第１の分配器の出力とをミキシングして
得た信号の周波数が一定となるように前記変調信号発生
器を制御する信号を出力する直線掃引制御手段を具備し
たことを特徴とする光ファイバ検査装置。 - 【請求項２】前記直線掃引制御手段は、前記第1の分岐
手段の他方の出力光を通す前記既知の長さの光導波路
と、この既知の長さの光導波路の出力光を検出する第2
の光検出器と、この第2の光検出器の出力と前記第1の分
配器の出力とをミキシングする第2のミキサと、既知の
周波数信号を出力する発振器と、前記第2のミキサの出
力と前記発振器の出力との周波数差または位相差を検出
する位相比較器と、この位相比較器の出力に基づいて前
記第２のミキサの出力信号の周波数が一定となるように
前記変調信号発生器を制御する信号を出力する制御回路
より構成されたことを特徴とする請求項１記載の光ファ
イバ検査装置。 - 【請求項３】前記直線掃引制御手段は、前記第1の分岐
手段の他方の出力光を通す前記既知の長さの光導波路
と、この既知の長さの光導波路の出力光を検出する第2
の光検出器と、この第2の光検出器の出力と前記第1の分
配器の出力とをミキシングする第2のミキサと、既知の
周波数信号を出力する発振器と、前記第2のミキサの出
力と前記発振器の出力との周波数差または位相差を検出
する位相比較器と、この位相比較器の出力を記憶する記
憶装置と、この記憶装置のデータに基づいて前記変調周
波数が直線掃引されるように前記変調信号発生器の出力
を補正する信号を出力する制御回路より構成されたこと
を特徴とする請求項１記載の光ファイバ検査装置。 - 【請求項４】前記第１の分配器から与えられる出力に基
いて前記Ｅ／Ｏ変換器からの出力光を強度変調する変調
器が前記Ｅ／Ｏ変換器と前記第1の分岐手段との間に接
続され、 前記直線掃引制御手段は、前記変調信号発生器の出力を
分岐する第1の分配器と、前記第１の分岐手段の他方の
出力光を通す前記既知の長さの光導波路と、この既知の
長さの光導波路の出力光を検出する第２の光検出器と、
この第2の光検出器の出力と前記分配器の出力とをミキ
シングする第2のミキサと、既知の周波数信号を出力す
る発振器と、前記第2のミキサの出力と前記発振器の出
力との周波数差または位相差を検出する位相比較器と、
この位相比較器の出力に基づいて前記第２のミキサの出
力信号の周波数が一定となるように前記変調信号発生器
を制御する信号を出力する制御回路より構成されたこと
を特徴とする請求項１記載の光ファイバ検査装置。 - 【請求項５】前記直線掃引制御手段は、前記第1の分配
器からの１つの分岐出力をさらに分岐する第2の分配器
と、この第２の分配器の一方の出力を遅延する遅延回路
と、この遅延回路の出力と第２の分配器の他方の出力を
ミキシングする第２のミキサと、既知の周波数信号を出
力する発振器と、前記第２のミキサの出力と前記発振器
の出力との周波数差または位相差を検出する位相比較器
と、この位相比較器の出力に基づいて前記第２のミキサ
の出力信号の周波数が一定となるように前記変調信号発
生器を制御する信号を出力する制御回路より構成された
ことを特徴とする請求項１記載の光ファイバ検査装置。 - 【請求項６】前記直線掃引制御手段は、前記第1の分配
器からの１つの分岐出力をさらに分岐する第2の分配器
と、この第２の分配器の一方の出力を遅延する遅延回路
と、この遅延回路の出力と第２の分配器の他方の出力を
ミキシングする第２のミキサと、既知の周波数信号を出
力する発振器と、前記第２のミキサの出力と前記発振器
の出力との周波数差または位相差を検出する位相比較器
と、この位相比較器の出力を記憶する記憶装置と、この
記憶装置のデータに基づいて前記変調周波数が直線掃引
されるように前記変調信号発生器の出力を補正する信号
を出力する制御回路より構成されたことを特徴とする請
求項１記載の光ファイバ検査装置。 - 【請求項７】前記第１の分配器から与えられる出力に基
いて前記Ｅ／Ｏ変換器からの出力光を強度変調する変調
器が前記Ｅ／Ｏ変換器と前記第1の分岐手段との間に接
続され、 前記直線掃引制御手段は、前記第1の分配器からの１つ
の分岐出力をさらに分岐する第2の分配器と、この第２
の分配器の一方の出力を遅延する遅延回路と、この遅延
回路の出力と第２の分配器の他方の出力をミキシングす
る第２のミキサと、既知の周波数信号を出力する発振器
と、前記第２のミキサの出力と前記発振器の出力との周
波数差または位相差を検出する位相比較器と、この位相
比較器の出力に基づいて前記第２のミキサの出力信号の
周波数が一定となるように前記変調信号発生器を制御す
る信号を出力する制御回路より構成されたことを特徴と
する請求項１記載の光ファイバ検査装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01572095A JP3446850B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ検査装置 |
| US08/727,377 US5844235A (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical frequency domain reflectometer for use as an optical fiber testing device |
| DE0754939T DE754939T1 (de) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Messvorrichtung für optische fasern |
| DE69632000T DE69632000T2 (de) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Messvorrichtung für optische fasern |
| EP96901143A EP0754939B1 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical fibre detecting device |
| PCT/JP1996/000170 WO1996024038A1 (fr) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Dispositif de detection a fibres optiques |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01572095A JP3446850B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08210945A JPH08210945A (ja) | 1996-08-20 |
| JP3446850B2 true JP3446850B2 (ja) | 2003-09-16 |
Family
ID=11896605
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01572095A Expired - Fee Related JP3446850B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3446850B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110514413B (zh) * | 2018-05-22 | 2021-02-23 | 北京润光泰力科技发展有限公司 | 一种光纤围栏断纤快速检测系统 |
-
1995
- 1995-02-02 JP JP01572095A patent/JP3446850B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08210945A (ja) | 1996-08-20 |
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