JP3235446B2

JP3235446B2 - 周波数可変光源および光ファイバ検査装置

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Publication number: JP3235446B2
Application number: JP02091596A
Authority: JP
Inventors: 守在原; 義彦立川; 誠小宮山; 泰幸鈴木
Original assignee: Yokogawa Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 1996-02-07
Filing date: 1996-02-07
Publication date: 2001-12-04
Anticipated expiration: 2016-02-07
Also published as: JPH09210621A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、周波数可変光源と
それを用いた光ファイバ検査装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光周波数または光強度変調周波数が可変
である周波数可変光源は、光ファイバ検査装置などに用
いられる光源として従来よりよく知られている。以下周
波数可変光源を用いた光ファイバ検査装置を例にとって
説明する。

【０００３】周波数を利用した光ファイバ検査装置（Ｏ
ＦＤＲ：Optical Frequency DomainReflectmeter）は、
周波数を変調した光を出力して、光ファイバ内の障害点
での反射光を検出し、検出した信号の周波数情報から障
害点を特定する光ファイバ検査装置であり、光周波数
（換言すれば波長）を変調する方式と光強度変調の周波
数を変調する方式がある。

【０００４】図４に光周波数変調方式によるＯＦＤＲの
一例を示す。ランプ波発生器３の出力は光周波数可変の
光源５に入力され光源５の出力の光周波数をランプ波変
調する。光源５から出力された光はアイソレータ６を透
過してビームスプリッタ８で２分岐される。ビームスプ
リッタ８を透過した光は被測定対象の光ファイバ１０に
入射し、光ファイバ１０中の障害点からの反射光は再び
ビームスプリッタ８に入る。ビームスプリッタ８で分岐
された他方の光は、ミラー９で反射されてビームスプリ
ッタ８で光ファイバ１０からの反射光と合波される。

【０００５】ここで、ミラー９とビームスプリッタ８と
被測定対象の光ファイバ１０とはマイケルソン干渉計１
１を構成している。合波された光は、光検出器１２に加
えられる。このとき、光源５の出力の光周波数が、単位
時間当たり一定の割合ａ（Δｆ／Δｔ）で周波数掃引さ
れていたとすれば、光検出器１２からの出力信号は、光
ファイバ１０の障害点からの反射強度に比例した信号強
度であると共に、光ファイバ端から障害点までの光の往
復時間ｔに比例した周波数ｆ（＝ａ・ｔ）の信号となる
（この場合、ファイバ１０中の光の伝搬以外の時間は無
視する）。

【０００６】光ファイバの屈折率ｎが既知であれば、光
の伝搬時間ｔは、距離をＬとして、ｔ＝２・Ｌ・ｎ／ｃただし、Ｌ：距離ｃ：真空中の光速で表わされる。よって、光検出器１２からの出力信号を
周波数解析器１３で周波数解析すれば、障害点での反射
強度と光ファイバ端から障害点までの距離とが測定でき
る。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、障害点
までの距離の確度と分解能とは光源５の出力の光周波数
の掃引傾きの確度に依存するが、光周波数変化の感度が
必ずしも一定でないため、この構成では光源の出力の光
周波数を一定の傾きで掃引することは難しいという欠点
がある。

【０００８】図５に光強度変調方式を利用したＯＦＤＲ
の一例を示す。ランプ波発生器３から出力された信号は
電圧制御発振器２９へ入力され、電圧制御発振器２９の
出力信号の周波数をランプ波掃引する。電圧制御発振器
２９からの出力信号は分配器３０で分配される。分配器
３０の出力信号の一方は、光強度可変の光源３２に入力
され、光源３２の出力の光強度を変調する。

【０００９】光源３２から出力された光は、アイソレー
タ６と光カプラ３７とを透過し、被測定対象の光ファイ
バ１０に入射する。光ファイバ１０中の障害点からの反
射光は光カプラ３７を透過し光検出器１２に入る。光検
出器１２で光電変換（Ｏ／Ｅ変換）された信号は分配器
３０の出力とミキサ３３でミキシングされる。ミキサ３
３の出力信号は周波数解析器１３に入力される。

【００１０】このとき、発振器からの出力信号が、単位
時間当たり一定の割合ａ（Δｆ／Δｔ）で周波数掃引さ
れていたとすれば、ミキサからの出力信号は、障害点か
らの反射強度に比例した信号強度で光ファイバ端から障
害点までの光の往復時間ｔに比例した周波数ｆ（＝ａ・
ｔ）の信号となる（この場合、ファイバ１０中の光の伝
搬以外の時間は無視する）。

【００１１】光ファイバ１０の屈折率ｎが既知であれ
ば、光の伝搬時間ｔは、図４の場合と同様に、ｔ＝２・Ｌ・ｎ／ｃで表される。そして上記と同様に、ミキサからの出力信
号を周波数解析器１３で周波数解析すれば、障害点での
反射強度と光ファイバ端から障害点までの距離とが測定
できる。

【００１２】しかしながら、障害点までの距離の確度と
分解能とは電圧制御発振器２９の出力信号の掃引傾きの
確度に依存するが、電圧制御発振器２９の出力信号周波
数の制御電圧感度は必ずしも一定ではないため、この構
成においてもやはり電圧制御発振器２９の出力信号周波
数を一定の傾きで掃引することは難しいという欠点があ
る。

【００１３】本発明の目的は、光強度変調周波数あるい
は光出力の光周波数を高精度に直線掃引することのでき
る周波数可変光源を実現しようとするものである。本発
明の他の目的は、上記のような周波数可変光源を使用し
て測定距離の精度と分解能とを向上し得る光ファイバ検
査装置を実現することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本願の周波数可変光源に係る一の発明では、光
周波数可変の光源と、この光源の出力の光周波数を変調
する変調信号を発生する変調信号発生手段を備えた周波
数可変光源において、前記光源の出力光を分岐する分岐
手段と、この分岐手段の一方の出力光を遅延させるため
の光導波路と、この光導波路の出力と前記分岐手段の他
方の出力光を合波する光合波器と、この光合波器の出力
を検出する光検出器と、既知の周波数信号を出力する発
振器と、前記光検出器の出力信号と前記発振器の出力信
号との周波数差または位相差を検出する位相検出器とで
構成され、前記光源の光周波数の直線掃引誤差を検出す
る直線掃引誤差検出手段と、この直線掃引誤差検出手段
の出力が零となるように制御信号を出力する制御回路を
備え、前記変調信号発生手段は、所定の電流を積分する
と共に前記制御回路の出力に応じた電流を積分する積分
器を有し、この積分器の出力信号が前記光源に与えられ
るように構成され、前記分岐手段より出力される出力光
の光周波数が直線掃引されるように構成したことを特徴
とする。

【００１５】上記発明では、直線掃引誤差検出手段で光
源の直線掃引誤差を求め、その誤差に応じた制御信号を
制御回路から出力して変調信号発生手段の積分器に加え
補正する。補正された積分器の出力で光源の出力の光周
波数を変調する。これにより、前記誤差が零になるよう
に制御され、周波数可変光源の出力の光周波数は高精度
に直線掃引される。

【００１６】また、本願の光ファイバ検査装置に係る一
の発明では、光周波数可変の光源と、この光源の出力の
光周波数を変調する変調信号を出力する変調信号発生手
段と、前記光源の出力光を参照用の光路と被測定対象へ
の光路とに分岐し参照用の光路の出力と被測定対象から
の反射光とを合成するマイケルソン干渉計と、前記光源
の出力の光周波数を変化させた時に得られる干渉信号を
検出する光検出器と、この光検出器の出力を周波数解析
する周波数解析器を備えた光周波数変調を利用した光フ
ァイバ検査装置において前記マイケルソン干渉計に入射
する前記光源の出力光を分岐する第１の光分配器と、こ
の第１の光分配器の一方の出力をさらに分岐する第２の
光分配器と、この第２の光分配器の出力を遅延させるた
めの光導波路と、この光導波路の出力と前記第２の光分
配器の出力を合波する光合波器と、この光合波器の出力
を検出する光検出器と、既知の周波数信号を出力する発
振器と、前記光検出器の出力信号と前記発振器の出力信
号との周波数差または位相差を検出する位相検出器とで
構成され、前記光源の光周波数の直線掃引誤差を検出す
る直線掃引誤差検出手段と、この直線掃引誤差検出手段
の出力が零となるように制御信号を出力する制御回路を
備え、前記変調信号発生手段は、所定の電流を積分する
と共に前記制御回路の出力に応じた電流を積分する積分
器と、この積分器の出力電圧により出力信号の周波数が
制御される電圧制御発振器を有し、この電圧制御発振器
の出力信号が前記光源に与えられるように構成され、前
記分岐手段より出力される出力光の光周波数が直線掃引
されるように構成したことを特徴とする。

【００１７】この発明では、上記周波数可変光源と同様
に、直線掃引誤差検出手段での検出誤差が零になるよう
に制御され、周波数可変光源の出力の光周波数が高精度
に直線掃引される。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく
説明する。なおここでは説明の重複を避けるため、周波
数可変光源単独での説明は避け、周波数可変光源を含む
光ファイバ検査装置について説明する。

【００１９】図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の
一実施例を示す構成図である。図１において、１は半導
体レーザ、２は半導体レーザ１を直流駆動する駆動回
路、３は半導体レーザ１の光周波数をランプ波変調する
ための変調信号を発生するランプ波発生器、４は駆動回
路２の出力とランプ波発生器３の出力を加算して半導体
レーザ１に出力する加算器である。５は半導体レーザ１
と駆動回路２と加算器４からなり、光周波数可変の光源
である。

【００２０】６はアイソレータ、７はアイソレータ６か
らの出力光を分岐する光分配器であり、ここでは光カプ
ラが使用される。８は光を分岐するビームスプリッタ、
９はミラー、１０は被測定対象の光ファイバである。ビ
ームスプリッタ８とミラー９と光ファイバ１０から成る
部分はマイケルソン干渉計１１である。１２は干渉光を
検出する光検出器、１３は光検出器１２の出力を周波数
解析する周波数解析器である。

【００２１】１４は光カプラ７の出力光を分岐する光カ
プラである。１５は光カプラ１４の出力光を遅延させる
ための光導波路であり、ここでは光ファイバが使用され
る。１６は光カプラ１４の出力光と光ファイバ１５の出
力光とを合波する光合波器であり、ここでは光カプラが
使用される。１７は光カプラ１６の出力光を検出する光
検出器、１８は既知の周波数信号を出力する発振器、１
９は光検出器１７の出力と発振器１８の出力との周波数
差または位相差を検出する位相検出器、２０は位相検出
器１９の出力が零となるように制御信号を出力する制御
回路である。

【００２２】制御回路２０において、２１、２２は抵
抗、２３はコンデンサ、２４は演算増幅器である。ラン
プ波発生器３としては積分器が使用される。２５，２６
は抵抗、２７はコンデンサ、２８は演算増幅器である。

【００２３】このような構成における動作を次に説明す
る。駆動回路２の出力とランプ波発生器３の出力信号と
は、加算器４で加算され半導体レーザ１に入力される。
このとき半導体レーザ１の出力の光周波数は、ランプ波
発生器３の出力信号によりランプ波変調される。半導体
レーザ１の出力光は、アイソレータ６と光カプラ７とを
透過してビームスプリッタ８に入力し分岐される。ビー
ムスプリッタ８を透過した光は被測定対象の光ファイバ
１０に入り、障害点からの反射光は再びビームスプリッ
タ８に入る。

【００２４】ビームスプリッタ８で分岐された光は、ミ
ラー９で反射されビームスプリッタ８により光ファイバ
１０からの反射光と合波される。合波された干渉光は、
光検出器１２で検出される。光検出器１２の出力信号
は、周波数解析器１３で周波数解析される。マイケルソ
ン干渉計を利用して光ファイバ１０の障害点までの距離
と反射光強度とを測定する原理は、従来例と同じであ
る。

【００２５】光カプラ７で分岐された光は光カプラ１４
でさらに分岐される。光カプラ１４で分岐された一方の
光は、既知の長さＬの光ファイバ１５に出力される。光
ファイバ１５からの出力光は光カプラ１６に入射し、光
カプラ１４で分岐された光と合波される。光カプラ１６
で合波された光は、光検出器１７で電気信号に変換され
る。このとき、光ファイバ１５で遅延された光と光カプ
ラ１４で分岐された他方の光の間には一定の時間差Ｔ＝
ｎ・Ｌ／ｃ（ｎ：光ファイバ１５の屈折率、ｃ：真空
中の光速）が生じる。

【００２６】光源５の出力の光周波数が傾きａ（Δｆ／
Δｔ）でランプ波変調されていたとすれば、遅延時間内
に変化した光周波数の差Ｆ＝ａ・Ｔ＝ａ・ｎ・Ｌ／ｃに
等しい周波数の信号が光検出器１７から出力される。光
周波数の変化の傾きが一定（直線掃引されている）なら
ば、光検出器１７より出力される信号の周波数は一定と
なる。

【００２７】光検出器１７から出力された信号は、位相
比較器１９において発振器１８より出力される既知の周
波数の信号と周波数または位相について比較される。こ
のとき、変調周波数の変化の傾きが一定でなければ、位
相比較器１９から誤差信号が出力される。この出力信号
は制御回路２０において適宜増幅され、ランプ波発生器
３に加えられる。なお、制御回路２０では高周波成分が
平滑化されるようになっている。

【００２８】ランプ波発生器３は、演算増幅器２８と抵
抗２５で成る積分器を備え、その一方の入力抵抗２５に
は所定の電圧（−Ｖ）が加えられ、他方の入力抵抗２６
には前記制御回路２０の出力信号（電圧信号）が加えら
れる。積分器では所定の電圧による一定の電流ｉ＝−Ｖ
／Ｒ₂₅（Ｒ₂₅は抵抗２５の抵抗値）の積分に加えて、制
御回路２０の出力Ｖ₂₀による電流ｉ₂₀＝Ｖ₂₀／Ｒ₂₆（Ｒ
₂₆は抵抗２６の抵抗値）を積分する。

【００２９】積分器の出力（積分電圧）は∫（ｉ−
ｉ₂₀）ｄｔ／Ｃ₂₇（Ｃ₂₇はコンデンサ２７の容量）であ
り、半導体レーザ１はこの積分電圧に応じた光周波数で
発振するレーザ光を出力する。

【００３０】このように制御回路２０の出力を積分器に
加えることにより、位相比較器１９の出力が零（すなわ
ち、光検出器１７から出力される信号の周波数が一定）
になるように閉ループ制御され、光源５の光周波数は高
精度に直線掃引される。

【００３１】図２は本発明の他の実施例である。図２に
おいて図１と同等部分には同一符号を付してある。２９
はランプ波発生器の出力電圧に応じた周波数で発振する
電圧制御発振器、３０は電圧制御発振器２９の出力を分
配する分配器である。３１は駆動回路２の出力と分配器
３０の出力とを合波して半導体レーザ１へ印加する合波
器、３２は半導体レーザ１と駆動回路２と合波器３１と
から構成される光強度可変の光源である。

【００３２】１４は光カプラ７からの出力光を透過させ
て光ファイバ１０に出力すると共に光ファイバ１０の障
害点からの反射光を光検出器１２へ入力する光カプラ、
３３は光検出器１２の出力と分配器３０の出力とをミキ
シングするミキサ、１３はミキサ３３の出力を周波数解
析する周波数解析器である。３４は光検出器１７の出力
と分配器３０の出力とをミキシングするミキサである。

【００３３】このような構成における動作を次に説明す
る。駆動回路２の出力は、合波器３１を通り半導体レー
ザ１を直流駆動する。半導体レーザ１からの出力光は、
光アイソレータ６と光カプラ７と光カプラ１４とを透過
し外部に出力される。電圧制御発振器２９の出力周波数
は、ランプ波発生器３の出力により割合ａ（Δｆ／Δ
ｔ）でランプ波変調される。電圧制御発振器２９の出力
は、分配器３０で分岐され、合波器３１を通り、半導体
レーザ１の出力光強度を変調する。

【００３４】光カプラ１４から外部に出力された光は、
被測定対象の光ファイバ１０に入射し、光ファイバ中の
障害点で反射されて光カプラ１４に戻り、光検出器１２
で検出される。光検出器１２の出力は、ミキサ３３で分
配器３０の出力とミキシングされる。ミキサ３３の出力
は、周波数解析器１３で周波数と信号強度を解析され
る。変調の傾きａが一定であれば、解析された周波数は
障害点までの距離に比例するため、周波数から距離が計
算でき、また信号強度から反射量が求められる。なお、
測定原理は従来例と同じである。

【００３５】光カプラ７で分岐された光は、既知の長さ
Ｌの光ファイバ１５を透過し、光検出器１７で検出され
る。光検出器１７の出力は、ミキサ３４で分配器３０の
出力とミキシングされる。光ファイバ１５で遅延された
光検出器１７の出力と分配器３０の出力との間には一定
の時間差Ｔ＝ｎ・Ｌ／ｃが生じるため、遅延時間内に
変化した変調周波数の差Ｆ＝ａ・Ｔ＝ａ・ｎ・Ｌ／ｃに
等しい周波数の信号がミキサ３４から出力される。

【００３６】変調周波数の変化の傾きが一定（直線掃引
されている）ならば、ミキサ３４より出力される信号の
周波数は一定となる。位相比較器１９においてミキサ３
４から出力された信号と発振器１８より出力される既知
の周波数の信号との周波数または位相の比較が行われ
る。このとき、変調周波数の変化の傾きが一定でない場
合には、位相比較器１９から誤差信号が出力される。

【００３７】制御回路２０、ランプ波発生器３、電圧制
御発振器２９の部分の動作は図１の動作と同じであり、
電圧制御発振器２９はランプ波発生器３の出力電圧に応
じた周波数で発振する信号を出力する。これにより、ラ
ンプ波の傾きすなわち光強度の変調周波数の変化の傾き
も同様に制御される。

【００３８】図３は本発明の更に他の実施例図であり、
図２における電圧制御発振器２９を電圧電流変換器３６
と電流制御発振器３５に置き換えたものである。

【００３９】なお、本願においては、図１ないし図３に
おいてマイケルソン干渉計１１、光検出器１２、周波数
解析器１３、ミキサ３３を除いた部分を周波数可変光源
とする。

【００４０】以上の本発明の説明は特定の好適な実施例
を示したに過ぎない。したがって本発明はその本質から
逸脱せずに多くの変更、変形をなし得ることは明らかで
ある。特許請求の範囲の欄の記載により定義される本発
明の範囲は、その範囲内の変更、変形をも包含するもの
とする。

【００４１】例えば、図１に示す光周波数可変光源にお
いて、光源が、半導体レーザと、電圧制御発振器とこの
電圧制御発振器の出力で駆動され、入力した前記半導体
レーザの出力光周波数を変調する位相変調器とで構成さ
れる場合なども包含する。また、光強度可変光源におい
て、光源が、半導体レーザと電圧制御発振器とこの電圧
制御発振器の出力で駆動され、入力した前記半導体レー
ザの出力光強度を変調する強度変調器とで構成される場
合なども包含する。さらに、半導体レーザに限らず、固
体レーザ、ガスレーザなどの各種レーザも適用できる。

【００４２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、遅
延回路を設けて単位時間あたりの変調周波数の変化量を
検出し、変調周波数の直線掃引制御を行う制御回路にお
いて、特に積分器の注入電流を制御する回路構成を用い
ることにより、直線掃引を高精度に行い、測定距離の高
精度化と高分解能化を容易に図り得る周波数可変光源お
よび光ファイバ検査装置を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成図

【図２】本発明の他の実施例を示す構成図

【図３】本発明の更に他の実施例を示す構成図

【図４】光周波数変調方式によるＯＦＤＲの従来例の一
例を示す構成図

【図５】光強度変調方式を利用したＯＦＤＲの従来例の
一例を示す構成図である。

【符号の説明】

１半導体レーザ２駆動回路３ランプ波発生器４加算器５光周波数可変の光源６光アイソレータ７，１４，１６，３７光カプラ８ビームスプリッタ９ミラー１０光ファイバ１１マイケルソン干渉計１２，１７光検出器１３周波数解析器１５光ファイバ１８発振器１９位相検波器２０制御回路２１，２２，２５，２６抵抗２３，２７コンデンサ２４，２８演算増幅器２９電圧制御発振器３０分配器３１合波器３２光強度可変の光源３３，３４ミキサ３５電流制御発振器３６電圧−電流変換器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者鈴木泰幸東京都武蔵野市中町２丁目９番32号横河電機株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光周波数可変の光源と、この光源の出力の
光周波数を変調する変調信号を発生する変調信号発生手
段を備えた周波数可変光源において、前記光源の出力光を分岐する分岐手段と、この分岐手段
の一方の出力光を遅延させるための光導波路と、この光
導波路の出力と前記分岐手段の他方の出力光を合波する
光合波器と、この光合波器の出力を検出する光検出器
と、既知の周波数信号を出力する発振器と、前記光検出
器の出力信号と前記発振器の出力信号との周波数差また
は位相差を検出する位相検出器とで構成され、前記光源
の光周波数の直線掃引誤差を検出する直線掃引誤差検出
手段と、この直線掃引誤差検出手段の出力が零となるように制御
信号を出力する制御回路を備え、前記変調信号発生手段は、所定の電流を積分すると共に
前記制御回路の出力に応じた電流を積分する積分器を有
し、この積分器の出力信号が前記光源に与えられるよう
に構成され、前記分岐手段より出力される出力光の光周波数が直線掃
引されるように構成したことを特徴とする周波数可変光
源。
【請求項２】光強度可変の光源と、この光源の光強度を
変調する変調信号を発生する変調信号発生手段を備えた
周波数可変光源において、前記光源の出力光を分岐する分岐手段と、この分岐手段
の一方の出力光を遅延させるための光導波路と、この光
導波路の出力光を検出する光検出器と、前記光源に与え
る前記変調信号発生手段の出力を途中で分岐する分配器
と、この分配器の出力と前記光検出器の出力とをミキシ
ングするミキサと、既知の周波数信号を出力する発振器
と、前記ミキサの出力と前記発振器の出力との周波数差
または位相差を検出する位相検出器とで構成され、前記
光源の光周波数の直線掃引誤差を検出する直線掃引誤差
検出手段と、この直線掃引誤差検出手段の出力が零となるように制御
信号を出力する制御回路を備え、前記変調信号発生手段は、所定の電流を積分すると共に
前記制御回路の出力に応じた電流を積分する積分器と、
この積分器の出力電圧により出力信号の周波数が制御さ
れる電圧制御発振器を有し、この電圧制御発振器の出力
信号が前記分配器に与えられるように構成され、前記電圧制御発振器の出力信号の周波数が直線掃引され
るようにしたことを特徴とする周波数可変光源。
【請求項３】前記変調信号発生手段を、所定の電流を積
分すると共に前記制御回路の出力に応じた電流を積分す
る積分器と、この積分器の出力電圧を電流に変換する電
圧−電流変換器と、この電圧−電流変換器の出力により
周波数が制御される電流制御発振器より構成し、前記電流制御発振器の出力信号の周波数が直線掃引され
るように構成したことを特徴とする請求項２記載の周波
数可変光源。
【請求項４】光周波数可変の光源と、この光源の出力の
光周波数を変調する変調信号を出力する変調信号発生手
段と、前記光源の出力光を参照用の光路と被測定対象へ
の光路とに分岐し参照用の光路の出力と被測定対象から
の反射光とを合成するマイケルソン干渉計と、前記光源
の出力の光周波数を変化させた時に得られる干渉信号を
検出する光検出器と、この光検出器の出力を周波数解析
する周波数解析器を備えた光周波数変調を利用した光フ
ァイバ検査装置において前記マイケルソン干渉計に入射
する前記光源の出力光を分岐する第１の光分配器と、こ
の第１の光分配器の一方の出力をさらに分岐する第２の
光分配器と、この第２の光分配器の出力を遅延させるた
めの光導波路と、この光導波路の出力と前記第２の光分
配器の出力を合波する光合波器と、この光合波器の出力
を検出する光検出器と、既知の周波数信号を出力する発
振器と、前記光検出器の出力信号と前記発振器の出力信
号との周波数差または位相差を検出する位相検出器とで
構成され、前記光源の光周波数の直線掃引誤差を検出す
る直線掃引誤差検出手段と、この直線掃引誤差検出手
段の出力が零となるように制御信号を出力する制御回路
を備え、前記変調信号発生手段は、所定の電流を積分すると共に
前記制御回路の出力に応じた電流を積分する積分器と、
この積分器の出力電圧により出力信号の周波数が制御さ
れる電圧制御発振器を有し、この電圧制御発振器の出力
信号が前記光源に与えられるように構成され、前記分岐手段より出力される出力光の光周波数が直線掃
引されるように構成したことを特徴とする光ファイバ検
査装置。
【請求項５】光強度可変の光源と、この光源の光強度を
変調する変調信号を出力する変調信号発生手段と、この
変調信号発生手段と前記光源の間に配置され変調信号発
生手段の出力を分岐する分配器と、前記光源の出力光を
透過させて被測定対象の光ファイバに出力し光ファイバ
中の障害点からの反射光を前記光源と別の枝へ透過させ
る第１の光分配器と、この第１の光分光器により前記別
の枝へ透過した光を検出する光検出器と、この光検出器
の出力と前記分配器の出力とをミキシングするミキサ
と、このミキサの出力を周波数解析する周波数解析器を
備えた光ファイバ検査装置において、前記光源と第１の光分配器との間に配置され前記光源の
出力光を分岐する第２の光分配器と、この第２の光分配
器の出力光を遅延させるための光導波路と、この光導波
路の出力光を検出する光検出器と、この光検出器の出力
と前記分配器の出力とをミキシングするミキサと、既知
の周波数信号を出力する発振器と、前記ミキサの出力と
前記発振器の出力との周波数差または位相差を検出する
位相検出器とで構成され、前記光源の光周波数の直線掃
引誤差を検出する直線掃引誤差検出手段と、この直線掃引誤差検出手段の出力が零となるように制御
信号を出力する制御回路を備え、前記変調信号発生手段は、所定の電流を積分すると共に
前記制御回路の出力に応じた電流を積分する積分器と、
この積分器の出力電圧により出力信号の周波数が制御さ
れる電圧制御発振器を備え、この電圧制御発振器の出力
信号が前記分配器に与えられるように構成され、前記電圧制御発振器の出力信号の周波数が直線掃引され
るように構成したことを特徴とする光ファイバ検査装
置。
【請求項６】前記変調信号発生手段は、所定の電流を積
分すると共に前記制御回路の出力に応じた電流を積分す
る積分器と、この積分器の出力電圧を電流に変換する電
圧−電流変換器と、この電圧−電流変換器の出力により
周波数が制御される電流制御発振器を備え、この電流制御発振器の出力信号の周波数が直線掃引され
るように構成したことを特徴とする請求項５記載の光フ
ァイバ検査装置。