JPH07253342A - 検出系の異常処理装置 - Google Patents

検出系の異常処理装置

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JPH07253342A
JPH07253342A JP4458794A JP4458794A JPH07253342A JP H07253342 A JPH07253342 A JP H07253342A JP 4458794 A JP4458794 A JP 4458794A JP 4458794 A JP4458794 A JP 4458794A JP H07253342 A JPH07253342 A JP H07253342A
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JP
Japan
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circuit
signal
detector
measurement
abnormality
Prior art date
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JP4458794A
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English (en)
Inventor
Michio Fukuda
通夫 福田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP4458794A priority Critical patent/JPH07253342A/ja
Publication of JPH07253342A publication Critical patent/JPH07253342A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】同一測定点に設けられた2個以上の検出器から
の計測信号を平滑化し、検出器に異常が発生しても他方
の検出器からの計測信号にバンプレスに切替えて出力さ
せることにある。 【構成】同一測定点に設けられた2個の検出器によりそ
れぞれ検出された測定信号が各別に入力され、現在と過
去の測定信号の移動平均処理を行う移動平均回路11,12
と、これら各移動平均回路で平均処理されたそれぞれの
測定信号を平均化処理する算術平均回路17と、各移動平
均回路11,12 と算術平均回路17との間に設けられ、一方
の検出器の異常時に該検出器からの異常信号を切離して
他方の検出器からの計測信号に切替える切替器15,16
と、各検出器からの計測信号に基づいて正常であるか、
検出器の異常が判別されると算術平均回路17より出力さ
れる算術平均値に変化率制限を加える変化率制限回路19
とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検出対象の同一測定
点に複数個の検出器を設けた検出系の異常処理装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えばボイラの温度制御を行う場
合、同一測定点に2個以上の検出器を設け、通常はその
一方の検出器により検出された計測信号を制御変数とし
て出力し、この検出器に異常が発生すると他方の検出器
により検出された計測信号に切換えて出力するようにし
ている。
【0003】図3は2個の検出器を備えた検出系からの
計測信号の何ずれかを制御変数として出力する検出系の
異常処理装置における信号選択回路を示したものであ
る。図3において、t1はボイラの同一測定点の第1の
検出器により検出された計測信号(アナログ信号)AI
1が入力される第1の入力端子、t2は同じく第2の検
出器により検出された計測信号(アナログ信号)AI2
が入力される第2の入力端子で、これら第1の入力端子
t1および第2の入力端子t2に入力された計測信号の
うち、通常は切替器1により第2の入力端子t2に入力
された計測信号AI2を選択して出力され、また第2の
検出器に異常が発生すると切替器1の切替えにより第1
の入力端子t1に入力された計測信号AI1を選択して
出力される。
【0004】また、図4は検出器の異常の有無を判定す
る検出系の異常処理装置における判定処理回路を示すブ
ロック図である。図4において、2は第1の検出器又は
第2の検出器により検出された計測信号AI1又はAI
2が入力され、この計測信号が第1の設定値(5.1
V)より大きいとき検出器に異常があると判定してロジ
ック“0”を出力する大判定回路、3は第1の検出器又
は第2の検出器により検出された計測信号AI1又はA
I2が入力され、この計測信号が第2の設定値(0.7
V)より小さいとき検出器に異常があると判定してロジ
ック“0”を出力する小判定回路で、これら大判定回路
2及び小判定回路3の出力信号は論理和回路4及び否定
回路5を通して図3に示す切替器1の切替え信号として
出力される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の検出系の異常処理装置においては、検出器の異常が
図4に示す判定処理回路により判定されると、図3に示
す信号選択回路の切替器1を単純に切替えて第1の検出
器又は第2の検出器により検出された計測信号AI1又
はAI2を選択出力するようにしているため、検出器異
常時の信号切替えがバンプレスにならない。従って、こ
のような急変した計測信号が信号選択回路より制御変数
として制御演算装置に入力されると、制御演算にも支障
を与えるという問題があった。
【0006】本発明は上記のような問題を解消するため
なされたもので、同一測定点に設けられた2個以上の検
出器からの計測信号を平滑化し、検出器に異常が発生し
ても他方の検出器からの計測信号にバンプレスに切替え
て出力させることができる検出系の異常処理装置を提供
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、次のような手段により検出系の異常処理装
置を構成したものである。請求項1に対応する発明は、
同一測定点に設けられた複数個の検出器によりそれぞれ
検出された測定信号が各別に入力され、現在と過去の測
定信号の移動平均処理を行う移動平均回路と、これら各
移動平均回路で平均処理された測定信号がそれぞれ入力
され、これらの測定信号を平均化処理する算術平均回路
と、前記各移動平均回路と前記算術平均回路との間に設
けられ、何ずれかの検出器の異常時に該検出器からの異
常信号を切離して他の正常な検出器からの計測信号に切
替える切替器と、前記各検出器からの計測信号に基づい
て正常であるか、異常であるかを判別する論理回路と、
この論理回路により検出器の異常が判別されると前記算
術平均回路より出力される算術平均値に変化率制限を加
える変化率制限回路とを備えたものである。
【0008】請求項2に対応する発明は、同一測定点に
設けられた少なくとも2個の検出器によりそれぞれ検出
された測定信号がそれぞれ入力され、これら測定信号の
差分を演算する減算回路と、この減算回路により求めら
れた測定信号の差分の絶対値を演算する絶対値回路と、
この絶対値回路で求められた絶対値が設定値を越えてい
るかどうかを判別する比較回路と、前記各検出器からの
計測信号が一定時間に大幅に変化しているか否かをそれ
ぞれ検知する変化率大検知回路と、前記比較回路の判定
結果と前記各変化率大検知回路の検知結果の論理積によ
り前記各検出器の測定信号が異常かどうかを判別する論
理回路とを備えたものである。
【0009】
【作用】請求項1に対応する発明による検出系の異常処
理装置にあっては、同一測定点に設けられた複数個の検
出器からの計測信号をそれぞれ移動平均回路で過去と現
在のデータを平均し、さらに算術平均回路により算術平
均し、検出器に異常が発生した場合には切替器により正
常な検出器からの計測信号にバンプレスに切替えて出力
させるようにしたので、急変した計測信号がそのまま出
力されるようなことがなくなるので、制御演算に何等支
障を与えることがなくなる。
【0010】また、請求項2に対応する発明による検出
系の異常処理装置にあっては、検出器の異常の有無の判
定は少なくとも2個の検出器の測定信号の差分を減算回
路により求め、絶対値回路によりその差分の絶対値を求
めて比較回路により設定値と比較し、差分の絶対値が設
定値を越えていること、各変化率大検知回路により測定
信号が一定時間に大幅に変化していることを条件に異常
判定信号を出力するようにしているので、検出器がダウ
ンする直前に異常が検知でき、また異常判定信号を警報
器に入力するようにしておけば、予測警報を行うことも
できる。
【0011】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。図1は本発明による検出系の異常処理装置におけ
る信号選択回路の構成例を示すブロック図である。図1
において、11は第1の入力端子t1を介して第1の検
出器により検出された計測信号(アナログ信号)AI1
が入力される第1の移動平均回路、12は第2の入力端
子t2を介して第1の検出器と同一測定点の第2の検出
器により検出された計測信号(アナログ信号)AI2が
入力される第2の移動平均回路で、これら第1及び第2
の移動平均回路11,12は測定信号AI1,AI2を
記憶するメモリを備え、現在のデータとメモリに記憶さ
れている過去のデータとの平均を行うものである。
【0012】第1の移動平均回路11には後述する判定
処理回路より出力される第1の検出器の異常判定信号A
I1Dが否定回路13を介して入力され、第2の移動平
均回路12には後述する判定処理回路より出力される第
2の検出器の異常判定信号AI2Dが否定回路14を介
して入力される。
【0013】また、15,16は第1の移動平均回路1
1及び第2の移動平均回路12によりそれぞれ移動平均
された測定信号を切替える切替器で、これらの切替器1
5,16は測定信号が異常であればその異常信号を切離
すものである。
【0014】また、17は第1の移動平均回路11およ
び第2の移動平均回路12により移動平均された測定信
号がそれぞれ入力され、これらの測定信号を算術的に平
均化する算術平均回路で、この算術平均回路17は通常
2つの信号の平均であるが、片系の異常時には正常系の
みの平均となる。
【0015】さらに、19は後述する判定処理回路より
出力される第1の検出器に対応する異常信号又は第2の
検出器に対応する異常信号が論理輪回路18を介して入
力される変化率制限回路で、この変化率制限回路19は
測定信号の異常時に変化率制限をかけるものである。
【0016】一方、図2は検出器の異常の有無を判定す
る検出系の異常処理装置における判定処理回路を示すブ
ロック図である。図2において、20は第1および第2
の検出器からの測定信号AI1およびAI2がそれぞれ
入力され、これらの測定信号AI1およびAI2の差分
を演算する減算回路、21はこの減算回路20で求めら
れた差分の絶対値を求める絶対値回路、22は絶対値回
路21で求められた絶対値と設定器23に設定された設
定値とを比較する比較回路で、これら減算回路20、絶
対値回路21および比較回路22は測定信号AI1およ
びAI2の差が設定異常になったかどうかを判別するも
のである。
【0017】また、24はメモリ26に蓄えられている
データをもとに第1の検出器の測定信号AI1の変化率
が一定以上になったかどうか、つまり一定時間に大幅に
変化したかどうかを検知する変化率大検知回路、25は
メモリ27に蓄えられているデータをもとに第2の検出
器の測定信号AI2の変化率が一定以上になったかどう
か、つまり一定時間に大幅に変化したかどうかを検知す
る変化率大検知回路である。
【0018】さらに、28は比較回路22の判別結果と
変化率大検知回路24の検知結果の論理積をとる論理積
回路、29は同じく比較回路22の判別結果と変化率大
検知回路25の検知結果の論理積をとる論理積回路であ
る。
【0019】次に上記のように構成された検出系の異常
処理装置の作用について述べる。いま、同一測定点に設
けられた第1の検出器および第2の検出器が共に正常で
あれば、図1に示す信号選択回路において、移動平均回
路11は第1の検出器から入力される現在の計測信号と
メモリに記憶されている1個以上の過去の計測信号の移
動平均処理を行ない、移動平均回路12は第2の検出器
から入力される現在の計測信号とメモリに記憶されてい
る1個以上の過去の計測信号の移動平均処理を行なって
いる。この場合、過去の測定信号の数は、測定信号の種
類(温度、圧力、流量、成分等)によって選択する。
【0020】このように移動平均回路11,12で移動
平均処理された測定信号は切替器15,16によりそれ
ぞれ対応する測定信号が選択されて算術平均回路17に
与えられる。この算術平均回路17では、これらの測定
信号間のバラツキを補正し、これを制御変数PVとして
変化率制限回路19を通して出力する。
【0021】一方、このとき検出器の異常の有無を判定
する判定処理回路において、第1および第2の検出器は
共に正常なので、減算回路20で求められるそれぞれの
測定信号AI1,AI2の差分は小さく、絶対値回路2
1で求められる差分の絶対値も小さい。したがって、こ
の絶対値は設定値を越えることはないので、比較回路2
2より出力される信号はロジック“0”である。
【0022】また、変化率大検知回路24,25におい
て、測定信号AI1,AI2が一定時間内に大幅に変化
することはないので、その出力信号はそれぞれロジック
“0”である。
【0023】したがって、論理積回路28,29の論理
積条件は満たされないので、その出力信号はロジック
“0”であり、異常判定信号AI1D,AI2Dは出力
されない。
【0024】以上は第1の検出器および第2の検出器の
測定信号の差分が小さく、かつ一定時間内に大幅に変化
しない場合であるが、一時的に測定信号の差分だけが大
きくなったり、測定信号の変化率だけが一定値以上にな
っても論理積回路28,29の論理積条件は満たされな
いので、異常判定信号AI1D,AI2Dが出力される
ようなことはない。
【0025】このような状態にあるとき例えば第1の検
出器に異常が発生すると、減算回路20で求められる第
1の検出器および第2の検出器の測定信号の差分が大き
くなるので、絶対値回路21で求められる絶対値も大き
くなる。したがって、比較回路22ではこの絶対値が設
定値を越えていることを判定するので、その出力信号は
ロジック“1”となる。
【0026】また、このとき変化率大検知回路24では
第1の検出器の測定信号が一定時間に大幅に変化したこ
とを検知するので、その出力信号はロジック“1”とな
る。したがって、論理積回路28は論理積条件が満たさ
れるので、異常判定信号AI1Dが出力される。
【0027】このように判定処理回路より異常判定信号
AI1Dが出力されると、図1に示す信号選択回路にお
いて、切替器16が第2の検出器側に切替わり、異常信
号を切離す。したがって、算術平均回路17では正常系
のみの平均となり、その出力信号が変化率制限回路19
に入力される。このとき、変化率制限回路19には異常
判定信号AI1Dが論理和回路18を通して入力される
ので、この変化率制限回路19は算術平均回路17の出
力信号に変化率制限をかけ、これを制御変数PVとして
出力する。
【0028】以上は第1の検出器が異常になった場合で
あるが、逆に第2の検出器が異常になった場合も前述と
ほぼ同様の作用となる。このように本実施例では、同一
測定点に設けられた第1および第2の検出器からの計測
信号を移動平均回路11,12で過去と現在のデータを
平均し、さらに算術平均回路17により算術平均し、検
出器に異常が発生した場合には切替器15,16により
正常な検出器からの計測信号にバンプレスに切替えて出
力させるようにしたので、急変した計測信号が制御変数
として制御演算装置に入力されることがなく、何等支障
なく制御演算を行うことができる。
【0029】また、検出器の異常の有無の判定は第1お
よび第2の検出器の測定信号の差分を減算回路20によ
り求め、絶対値回路21によりその差分の絶対値を求め
て比較回路22により設定値と比較し、差分の絶対値が
設定値を越えていること、変化率大検知回路24,25
により測定信号が一定時間に大幅に変化していることを
条件に異常判定信号を出力するようにしているので、検
出器がダウンする直前に異常が検知でき、また異常判定
信号を警報器に入力するようにしておけば、予測警報を
行うこともできる。
【0030】なお、上記実施例では2個の検出器からの
計測信号を切替える信号選択回路および検出器の異常の
有無を判定する判定処理回路について述べたが、3個以
上の検出器からの計測信号の場合にも前述同様に適用実
施できるものである。
【0031】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、同一
測定点に設けられた2個以上の検出器からの計測信号を
平滑化し、検出器に異常が発生しても他方の検出器から
の計測信号にバンプレスに切替えて出力させることがで
きる検出系の異常処理装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による検出系の異常処理装置の一実施例
における信号選択回路を示すブロック図。
【図2】同実施例における異常判定処理回路を示すブロ
ック図。
【図3】従来の検出系の異常処理装置における信号選択
回路を示すブロック図。
【図4】同異常処理装置における異常判定処理回路を示
すブロック図。
【符号の説明】
11,12……移動平均回路、13,14……否定回
路、15,16……切替器、17……算術平均回路 18……論理和回路、19……変化率大制限回路、20
……減算回路、21……絶対値回路、22比較回路、2
3……設定器、24,25……変化率大検知回路、2
6,27……メモリ、28,29……論理積回路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 同一測定点に設けられた複数個の検出器
    によりそれぞれ検出された測定信号が各別に入力され、
    現在と過去の測定信号の移動平均処理を行う移動平均回
    路と、これら各移動平均回路で平均処理された測定信号
    がそれぞれ入力され、これらの測定信号を平均化処理す
    る算術平均回路と、前記各移動平均回路と前記算術平均
    回路との間に設けられ、何ずれかの検出器の異常時に該
    検出器からの異常信号を切離して他の正常な検出器から
    の計測信号に切替える切替器と、前記各検出器からの計
    測信号に基づいて正常であるか、異常であるかを判別す
    る論理回路と、この論理回路により検出器の異常が判別
    されると前記算術平均回路より出力される算術平均値に
    変化率制限を加える変化率制限回路とを備えたことを特
    徴とする検出系の異常処理装置。
  2. 【請求項2】 同一測定点に設けられた少なくとも2個
    の検出器によりそれぞれ検出された測定信号がそれぞれ
    入力され、これら測定信号の差分を演算する減算回路
    と、この減算回路により求められた測定信号の差分の絶
    対値を演算する絶対値回路と、この絶対値回路で求めら
    れた絶対値が設定値を越えているかどうかを判別する比
    較回路と、前記各検出器からの計測信号が一定時間に大
    幅に変化しているか否かをそれぞれ検知する変化率大検
    知回路と、前記比較回路の判定結果と前記各変化率大検
    知回路の検知結果の論理積により前記各検出器の測定信
    号が異常かどうかを判別する論理回路とを備えたことを
    特徴とする検出系の異常処理装置。
JP4458794A 1994-03-16 1994-03-16 検出系の異常処理装置 Pending JPH07253342A (ja)

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JP (1) JPH07253342A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010008326A (ja) * 2008-06-30 2010-01-14 Yamatake Corp 湿度計測装置
JP2014182098A (ja) * 2013-03-21 2014-09-29 Tokyo Gas Co Ltd センサ装置、そのセンサ制御プログラム、そのセンサ制御方法およびセンサ制御システム

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010008326A (ja) * 2008-06-30 2010-01-14 Yamatake Corp 湿度計測装置
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