JPH07252652A - 荷重変換器の製造方法 - Google Patents

荷重変換器の製造方法

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JPH07252652A
JPH07252652A JP7138794A JP7138794A JPH07252652A JP H07252652 A JPH07252652 A JP H07252652A JP 7138794 A JP7138794 A JP 7138794A JP 7138794 A JP7138794 A JP 7138794A JP H07252652 A JPH07252652 A JP H07252652A
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JP
Japan
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ion beam
target
load converter
substrate
thin film
Prior art date
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Application number
JP7138794A
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English (en)
Inventor
Kazufumi Naito
和文 内藤
Michito Utsunomiya
道人 宇都宮
Eiji Kamijo
榮治 上條
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Ishida Co Ltd
Original Assignee
Ishida Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板上に金属薄膜が形成されてなる荷重変換
器を製造する際、成膜手段としてのイオンビームスパッ
タ装置とスパッタ条件を工夫することにより、TCR値
が0に近い荷重変換器を容易に製造する方法を提供する
ことを目的とする。 【構成】 Cr:Ni=1:1の組成比を持つ合金をタ
ーゲット2とし、イオンビームスパッタ装置10で成膜
を行う。その際、真空チャンバ11内のターゲット2に
照射されるスパッタイオンビームIとは別にアシストイ
オンビームAをスパッタ原子Gが堆積される薄膜成長面
に直接照射すると共に、その加速電圧を調節する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はロードセルや、歪み検出
センサに用いられる荷重変換器の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】基板上にCu−NiやNi−Cr等の合
金薄膜を形成した荷重変換器は、歪み検出センサやロー
ドセルとして応用されている。
【0003】上記荷重変換器をロードセルとして応用す
る場合のロードセルの製造法としては、基板を起歪体と
し、該起歪体の表面に絶縁膜を形成すると共に、さら
に、その上に形成した金属薄膜にフォトエッチング等を
施すことにより、ストレインゲージ抵抗体パターンを作
製し、リード線で結線することにより製造される。
【0004】ロードセルの製造法としては、上記方法の
他にも、起歪体に直接絶縁膜とストレインゲージを貼り
付ける方法があるが、上記の方法によると、製造工程が
少なくかつ容易に製造出来ると共に、高性能なロードセ
ルが出来るのでより有利である。
【0005】ところで、ロードセルのストレインゲージ
抵抗体パターンに通常用いられるNi−Cr合金は、通
常抵抗温度係数(以下、TCRと記す)が数百PPm/
℃である。ロードセルで正確な測定を行うためには、ブ
リッジ出力の零点ドリフトを抑える必要がある。上記の
ように抵抗温度係数が大きい場合には、通電時のジュー
ル熱および周囲温度の変化により、抵抗変化を生じて零
点が動いてしまうので、環境温度が大きく違う用途、お
よび、環境変化が小さくても高精度の測定を要求される
用途の使用には問題がある。したがって、TCRを0に
近づけることがロードセルの製造上重要な要素であると
いえる。
【0006】TCRを制御しながら起歪体の表面に金属
膜を形成する方法としては、特開昭63−34414号
公報には、Ni−Cr合金をターゲットとして高周波マ
グネトロンスパッタ法により成膜を行うと共に、成膜に
際してその合金の成分比を調節することにより起歪体表
面に形成される金属薄膜の成分比を調整し、これによっ
てTCRの制御を行う方法が開示されている。
【0007】また、特開昭61−223524号公報に
は、いわゆるICB法を用いて成膜および物性制御を行
う方法が開示されている。この方法は、材料金属、ここ
ではCu−Ni合金、を溶融蒸気化して真空中に放出さ
せることにより金属原子クラスターとし、該原子クラス
ターにイオン化処理を施すと共に、該イオン化クラスタ
ーに加速電圧を加えて基板上に照射し、該基板上に薄膜
を形成させる方法である。この方法によれば、イオン化
処理の条件と加速電圧とを変化させることにより、基板
上に形成される金属薄膜の構造、すなわち、結晶性、配
向性、組成比のうち、少なくとも一つを変えることがで
き、これにより電気特性の制御が可能となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記公報に
おいて示すように、マグネトロンスパッタ法により基板
上に金属薄膜を形成し、荷重変換器を製造する場合、そ
のTCR値は、基板表面に形成される多成分系合金の金
属薄膜の成分比を調節することにより制御される。そし
て、その成分比はターゲットとして用いる合金の組成比
に大部分が依存するので、そして、金属薄膜の成分比と
ターゲット合金の組成比の関係は、経験によって求める
以外知りようがないので、目的のTCR値の金属薄膜を
得るためには、組成比の違うターゲットを複数種用意
し、ターゲットを取り替えながら成膜を行う必要があ
り、目的とする金属薄膜を得るまでには多大なコストと
時間とを要した。
【0009】本発明は荷重変換器を製造する際の上記の
問題に対処するもので、装置を工夫することにより、T
CR値が0に近い荷重変換器を容易に製造する方法を提
供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明に係る荷重変換器の製造方法は、次のよう
な方法としたことを特徴とする。
【0011】まず、本願の請求項1に係る発明(以下、
第1発明という)は、所定のターゲットと所定の基板を
材料とし、イオンビームを上記ターゲットに照射し、タ
ーゲットから飛び出した原子で上記基板表面に成膜する
イオンビームスパッタ法を用いた荷重変換器の製造方法
において、基板上の薄膜成長面にアシストイオンビーム
を照射すると共に、その加速電圧を適切に制御すること
によって、金属簿膜の抵抗温度係数がほぼ0とされた荷
重変換器を製造することを特徴とする。
【0012】また、本願の請求項2に係る発明(以下、
第2発明という)は、上記第1発明において、ターゲッ
トとして、CrとNiとでなり、かつ、その組成比がほ
ぼ1:1である合金を用いることを特徴とする。
【0013】
【作用】上記の発明によれば、次のような作用が得られ
る。
【0014】まず、第1発明と第2発明のいずれにおい
ても、イオンビームスパッタ法による荷重変換器の製造
において、ターゲットにイオンビームを照射し、ターゲ
ットから原子を飛び出させ、該原子により基板上に成膜
すると共に、別にイオン源を設け、そのイオンビームを
アシストイオンビームとして基板の薄膜成長面に照射し
たので、該アシストイオンビームを基板上に形成される
金属薄膜の物性の制御のためのパラメータとすることが
可能となる。すなわち、その加速電圧を変化させること
によって荷重変換器の諸特性の制御が可能となるので、
同じターゲットを使いながらアシストイオンビームの加
速電圧を変化させるだけで諸物性を連続的に異なる複数
の金属薄膜を作製することが可能となる。したがって、
所望のTCR値を持つ荷重変換器を製造することが容易
になる。
【0015】特に、第2発明によれば、上記第1発明に
おいて、アシストイオンビームを照射しなくとも、成膜
される金属薄膜のTCR値が0に近くなるようなターゲ
ットとして、CrとNiとでなり、かつ、その組成比が
1:1の合金を用いたので、アシストイオンビームの加
速電圧を微調整するだけでTCR値がほぼ0の荷重変換
器が得られることになり、さらに荷重変換器の製造は容
易になる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。
【0017】基板1の表面に形成される金属薄膜の原料
となるターゲット2の素材としてはCrとNiよりな
り、その組成比が1:1の合金を用いた。また、比較の
ため、Cr:Ni=1:0、Cr:Ni=4:1の組成
比を持つ合金についても実験を行った。
【0018】次に、基板表面に金属薄膜を成膜するため
のイオンスパッタ装置10について図1を用いて説明す
ると、該装置10は、真空チャンバ11と該チャンバ1
1内に配置されたスパッタイオン源12およびアシスト
イオン源13と、ターゲット2を固定するためのターゲ
ットホルダ14と、基板1を位置決めし固定するための
基板ホルダ15とを主な構成要素として有する。
【0019】真空チャンバ11には、該チャンバ11内
の真空度を表示するための真空計16が設置されている
と共に、その側部には通路17を介して真空ポンプ18
が接続されており、下方には実験終了後チャンバ11内
の圧力を常圧に戻す時のための吸気通路19が形成され
ており、いずれの通路17,19にもバルブ20,20
が配置されている。そして、真空ポンプ18と接続され
ている通路17には、さらに、真空系バック圧を示す真
空計21が配置されている。
【0020】真空チャンバ11内の図面上左側下方に位
置する上記スパッタイオン源12は、真空チャンバ11
内の上面中央部に配置されたターゲットホルダ14に固
定されたターゲット2に向けてイオンビームIを照射で
きるような向きに配置されていると共に、該スパッタイ
オン源12にはイオン化されるアルゴンガスボンベに接
続されたガス流量コントローラ22と、イオンビームI
の加速電圧を調節できるよう構成された電源23とが接
続されている。同様に、真空チャンバ11の中央部に配
置されて、図面上右側に位置する基板ホルダ15に固定
されている複数の基板1…1にアシストイオンビームA
を照射できるような向きに配置されたアシストイオン源
13にもアルゴンガスボンベに接続されたガス流量コン
トローラ22とイオンビームの加速電圧を調節できるよ
う構成された電源23とが接続されている。
【0021】また、図面上右下に位置する基板ホルダ1
5は、円板状の回転板15aと、該回転板15aをその
中心軸に対して回転自在に支持する支持部15bとによ
り構成されていると共に、上記回転板上には複数個の基
板1…1が位置決めされ、固定されるように構成されて
いる。そして、該基板ホルダ15は、イオンビームIに
よりターゲット2から飛び出した金属原子Gが堆積され
やすいように、その回転板15aをターゲット2の方向
に向けて配置されていると共に、該回転板15aの回転
をコントロールする回転コントロールユニット24が接
続されている。
【0022】したがって、スパッタリングに際して、上
記回転板15aを任意の回転数で回転させることによ
り、該回転板15a上に固定される複数の基板は、その
配置場所による影響を受けることなく同じ条件で膜形成
が行われることとなる。
【0023】荷重変換器の製造に当たって上記装置を用
いることにより、次に示す表1および表2に記載の各項
目における条件を任意に変えながら基板上に成膜するこ
とが可能となる。
【0024】本実施例においては、上記ターゲットおよ
び装置10を用いて、表1および表2に示す条件で成膜
を行った。
【0025】
【表1】
【0026】
【表2】 ここで、表1における真空系バック圧は、図1に示す真
空計21により測定される圧力を、成膜時真空度は図1
に示す真空計16により測定される真空チャンバ内の圧
力をそれぞれ示す。そして、表2に示す加速電圧および
減速電圧は、発生したアルゴンイオンをビームにするた
めに電極間にかける電圧を示し、加速電圧を大きくする
ほどビームの持つ運動エネルギーは大きくなり、逆に減
速電圧のマイナスの値を大きくする程ビームの持つ運動
エネルギーは小さくなる。また、アーク電圧はアルゴン
ガスをイオン化するために電極間にかける電圧を示し、
イオン化率を制御する為の指標となる。ターゲット電流
はターゲットに照射されるスパッタイオンビームの流れ
を電流としてモニターした場合の値で、スパッタイオン
ビームの強度を示す。
【0027】次に、Cr:Ni=1:1の組成を持つ合
金をターゲット2とし、上記装置10および条件でアシ
ストイオンビームAの加速電圧を変えながら作製した複
数の金属薄膜のTCRを測定し、上記方法の効果の確認
を行ったので結果を図2に示す。
【0028】図の縦軸はTCR値を、また、横軸はアシ
ストイオンビームAの加速電圧を示す。アシストイオン
ビームAの加速電圧を大きくするとTCRの値は2次関
数的に変化することが分かる。すなわち、アシストイオ
ンビームAのない時のTCR値が最初プラスの値を示し
ているのに対して加速電圧が50Vの地点で極小値とし
てマイナスの値を示し、以後増加していく。したがっ
て、TCR値は図の符号X、Yで示すように、アシスト
イオンビームAの加速電圧の増大にしたがって0の値を
取る地点が2箇所あることになり、この付近で加速電圧
を微調節することによりTCR値がほぼ0の荷重変換器
を製造することが可能となる。
【0029】なお、比較のために、Cr:Ni=1:
0、Cr:Ni=4:1の組成を持つ2種類のターゲッ
トについても、上記と同様アシストイオンビームAの加
速電圧を変化させて金属薄膜の成膜をおこないTCRの
測定を行った。Cr:Ni=1:0についての結果を図
3に、Cr:Ni=4:1についての結果を図4にそれ
ぞれ示す。
【0030】図3と図4に示す結果を図2に示す結果と
比較しながら検討して見ると、いずれも成膜時のアシス
トイオンビームAの加速電圧に応じてTCR値が変化す
ることが分かる。したがって、アシストイオンビームA
により、TCR値を成膜時に用いるターゲットの組成比
による調整とは別に変えることが出来る。結果として、
TCR値は合金の組成比とアシストイオンビームAの加
圧電圧の条件において決定される。
【0031】以上のことより、本実施例、および比較例
で示したイオンスパッタ法により成膜を行う場合、予め
ターゲット2のCr:Niの組成比をTCR値が0に近
くなるように大まかに決めておき、(例えばCr:Ni
=1:1)その上でアシストイオンビームの加速電圧を
変化させると、TCR値がほぼ0の荷重変換器を製造す
ることが可能となることが確認された。すなわち、組成
比の異なるターゲット複数種用意し、それらを何度も交
換することなく、容易に目的のTCR値の荷重変換器を
製造することが可能となる。
【0032】
【発明の効果】上記の発明によれば、次のような効果が
得られる。
【0033】まず、第1発明と第2発明のいずれにおい
ても、イオンビームスパッタ法による荷重変換器の製造
において、スパッタリングのためにターゲットに照射す
るイオンビームとは別にイオン源を設け、アシストイオ
ンビームとして基板の薄膜成長面に照射したので、該ア
シストイオンビームを基板上に形成される金属薄膜の物
性の制御のためのパラメータとすることが可能となる。
すなわち、その加速電圧を変化させることによって得ら
れる荷重変換器の諸特性を連続的に変化させることが可
能となるので、複数の組成比の異なったターゲットを取
り替えながらスパッタリングする必要はなく、単一のタ
ーゲットで所望のTCR値を持つ荷重変換器を製造する
ことが可能となり、製造時間が短縮される。言い換える
と、所望のTCR値を持った荷重変換器を製造する場
合、その材料となるターゲットの組成比にはある程度の
ばらつきが許容されることとなる。
【0034】また、起歪体の材料を変更した場合でも、
その線膨張係数に応じて加速電圧を制御すると、所定の
TCR値を持った荷重変換器を製造することが可能とな
るので、各種材料を用いた起歪体の特徴を生かしたロー
ドセルや歪センサの開発が容易になる。
【0035】特に、第2発明によれば、上記第1発明に
おいて、アシストイオンビームを照射しなくとも、成膜
される金属薄膜のTCR値が0に近くなるようなターゲ
ットとして組成比がCr:Ni=1:1の合金を用いた
ので、アシストイオンビームの加速電圧を微調整するだ
けでTCR値をほぼ0にすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明において用いられるイオンビームスパ
ッタ装置を示す該略図である。
【図2】 Cr:Ni=1:1の合金をターゲットとし
て本発明による方法により製造した複数の荷重変換器に
ついて、TCRを測定した結果を示すグラフである。
【図3】 Cr:Ni=1:0の合金をターゲットとし
て本発明による方法により製造した複数の荷重変換器に
ついて、TCRを測定した結果を示すグラフである。
【図4】 Cr:Ni=4:1の合金をターゲットとし
て本発明による方法により製造した複数の荷重変換器に
ついて、TCRを測定した結果を示すグラフである。
【符号の説明】
1 基板 2 ターゲット I イオンビーム A アシストイオンビーム G 金属原子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定のターゲットと所定の基板を材料と
    し、イオンビームを上記ターゲットに照射し、ターゲッ
    トから飛び出した原子で上記基板表面に成膜するイオン
    ビームスパッタ法を用いた荷重変換器の製造方法であっ
    て、基板上の薄膜成長面にアシストイオンビームを照射
    すると共に、その加速電圧を適切に制御することによっ
    て、金属簿膜の抵抗温度係数がほぼ0とされた荷重変換
    器を製造することを特徴とする荷重変換器の製造方法。
  2. 【請求項2】 ターゲットとして、CrとNiとでな
    り、かつ、その組成比がほぼ1:1である合金を用いる
    ことを特徴とする請求項1に記載の荷重変換器の製造方
    法。
JP7138794A 1994-03-15 1994-03-15 荷重変換器の製造方法 Pending JPH07252652A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004207692A (ja) * 2002-12-09 2004-07-22 Seiko Epson Corp 圧電体デバイス、液体吐出ヘッド、強誘電体デバイス及び電子機器並びにこれらの製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004207692A (ja) * 2002-12-09 2004-07-22 Seiko Epson Corp 圧電体デバイス、液体吐出ヘッド、強誘電体デバイス及び電子機器並びにこれらの製造方法
JP4507564B2 (ja) * 2002-12-09 2010-07-21 セイコーエプソン株式会社 圧電体デバイスの製造方法と液体吐出ヘッドの製造方法と液体吐出装置の製造方法

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