JPH07233222A - ビニルフェノール共重合体の製造方法 - Google Patents

ビニルフェノール共重合体の製造方法

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JPH07233222A
JPH07233222A JP6255811A JP25581194A JPH07233222A JP H07233222 A JPH07233222 A JP H07233222A JP 6255811 A JP6255811 A JP 6255811A JP 25581194 A JP25581194 A JP 25581194A JP H07233222 A JPH07233222 A JP H07233222A
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Japan
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vinylphenol
copolymer
weight
ethylphenol
acid
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JP6255811A
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English (en)
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Mikio Yamachika
幹雄 山近
Hidekazu Kobayashi
英一 小林
Toshiyuki Ota
利幸 大田
Akira Tsuji
昭 辻
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JSR Corp
Original Assignee
Japan Synthetic Rubber Co Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F212/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by an aromatic carbocyclic ring
    • C08F212/02Monomers containing only one unsaturated aliphatic radical
    • C08F212/04Monomers containing only one unsaturated aliphatic radical containing one ring
    • C08F212/14Monomers containing only one unsaturated aliphatic radical containing one ring substituted by heteroatoms or groups containing heteroatoms
    • C08F212/22Oxygen
    • C08F212/24Phenols or alcohols

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  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 エチルフェノールの存在下にビニルフェノー
ルをラジカル共重合することを特徴とするビニルフェノ
ール共重合体の製造方法。 【効果】 本発明の製造方法で副生物が少なくかつ収率
良く製造されたビニルフェノール共重合体を化学増幅型
レジストの樹脂成分として用いると、該レジストは良好
な微細パターンを形成すると共に優れた解像度を有す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レジストとして使用さ
れる感放射線性樹脂組成物を構成するアルカリ可溶性樹
脂(以下、単に「樹脂」という)として好適なビニルフ
ェノール共重合体の製造方法に関する。さらに詳しく
は、各種放射線、特に紫外線、遠紫外線、X線または荷
電粒子線の如き放射線により超微細加工を行う際に用い
られる高集積度の集積回路作製用の化学増幅型レジスト
を構成する樹脂として好適に用いることができるビニル
フェノール共重合体の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】集積回路の製造に代表される微細加工の
分野において、集積回路のより高い集積度を得るため
に、近年では、0.5μm以下の微細加工を再現性よく
行うことができるリソグラフィーの開発が進められてい
る。特にリソグラフィーに使用する放射線の波長を短く
する方法は、集積回路のデザインルールの微細化に有効
であることから、KrFエキシマレーザー(波長248
nm)やArFエキシマレーザー(波長193nm)等
の遠紫外線、電子線およびX線を用いるリソグラフィー
の開発が進められている。
【0003】リソグラフィーに用いられるレジストも、
短波長の放射線に対応するために改良が行われ、現在で
はインターナショナル ビジネス マシンズ コーポレ
ーションの研究者らにより提唱された化学増幅機構を有
する化学増幅型レジストの開発が精力的に行われてい
る。
【0004】このようななかにあって、特開平5−11
3667号公報は、下記式(I)
【0005】
【化1】
【0006】(式中、R1はメチル基、R2およびR3
水素原子またはメチル基、R4は3級アルコール残基ま
たはアリル基を示し、mは0、1、2のいずれかであ
り、xは0.6〜0.9の正数、yは0.4〜0.1の正数
であり、x+y=1の関係を満す)で表わされる高分子
化合物を樹脂成分とする化学増幅型レジストを提案して
いる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明者らは、上記公
報に開示される化学増幅型レジストの追試験により上記
式(I)において、R2およびR3が水素原子であり、m
が0であり、R4がt−ブチル基である場合に相当する
ビニルフェノールとアクリル酸t−ブチルとの共重合体
をアルカリ可溶性樹脂として用いた化学増幅型レジスト
は、基板上に比較的良好なレジストパターンを与え得る
ことおよびドライエッチング耐性において良好であるこ
とを知った。しかしながら、本発明者らは、上記公報の
実施例の重合条件で得られる共重合体を樹脂成分とする
レジストは、微細パターンの解像度においてなお不充分
であることを知った。
【0008】本発明の目的は、化学増幅型レジストの樹
脂成分として好適に用いることのできる共重合体の製造
方法を提供することである。本発明の他の目的は、化学
増幅型レジストの樹脂成分として用いたときに、該レジ
ストが放射線の照射(以下、「露光」という)により良
好なパターン形状を形成すると共に優れた解像度を有す
ることが可能となる共重合体の製造方法を提供すること
である。本発明のさらなる他の目的は、共重合体を製造
するにあたり、副生物が少なく、目的とする共重合体の
収率が良好な共重合体の製造方法を提供することであ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、エチル
フェノールの存在下にビニルフェノールをラジカル共重
合するビニルフェノール共重合体の製造方法が提供さ
れ、本発明の目的が達成される。より具体的には、エチ
ルフェノールを含有するビニルフェノール混合物とアク
リル酸t−ブチルとを接触せしめてビニルフェノールと
アクリル酸t−ブチルをラジカル共重合するビニルフェ
ノール共重合体の製造方法が提供され、本発明の目的が
達成される。
【0010】以下、本発明を詳述するが、それにより本
発明の他の目的、利点および効果が明らかとなろう。
【0011】ビニルフェノール共重合体 本発明により製造されるビニルフェノール共重合体は、
例えば下記式(1)および(2)
【0012】
【化2】
【0013】で表わされる繰り返し単位より主として構
成される共重合体であり、好ましくはランダム共重合体
である。
【0014】該ビニルフェノール共重合体に関して、式
(1)で表わされる繰り返し単位と式(2)で表わされ
る繰り返し単位とのモル比[(1):(2)]は、好ま
しくは80:20〜10:90、より好ましくは75:
25〜30:70、最も好ましくは70:30〜40:
60である。また、該ビニルフェノール共重合体のポリ
スチレン換算重量平均分子量Mw(以下、単に「Mw」
ということができる)は、好ましくは20,000〜6
0,000、より好ましくは21,000〜50,00
0、最も好ましくは22,000〜40,000であり、
そして該ビニルフェノール共重合体のMwとポリスチレ
ン換算数平均分子量Mn(以下、単に「Mn」というこ
とができる)との比(Mw/Mn)は、好ましくは1.
2〜2.5、より好ましくは1.3〜2.5、最も好まし
くは1.5〜2.3である。
【0015】前記式(1)で表わされる繰返し単位と前
記式(2)で表わされる繰返し単位のモル比が前記のよ
うな範囲であることにより、レジストの解像度および耐
ドライエッチング性の点で好ましい結果をもたらす。
【0016】前記ビニルフェノール共重合体のMwが前
記範囲であることおよび分子量分布の目安であるMw/
Mnが前記のように小さい値であって分子量分布が狭い
ことにより、この共重合体を樹脂成分として用いる化学
増幅型レジストの解像度および現像性が良好に維持され
得る。
【0017】さらに、前記ビニルフェノール共重合体
は、前記式(1)および(2)で表わされる繰り返し単
位より主として構成され、これら二つの単位の合計が共
重合体を構成する全繰り返し単位の60モル%以上、特
に80モル%以上を占めることが好ましい。
【0018】また式(1)および(2)で表わされる繰
り返し単位以外に、炭素−炭素2重結合を含有するモノ
マーの2重結合が解裂した繰り返し単位が40モル%以
下、好ましくは20モル%以下の割合で該ビニルフェノ
ール共重合体中に含まれていてもよい。炭素−炭素2重
結合を含有するモノマーととして、スチレン、アクリル
酸、イソプロペニルフェノール等を挙げることができ
る。
【0019】ここで、前記式(1)で表わされる繰り返
し単位は、下記式(3)
【0020】
【化3】
【0021】で表わされる繰り返し単位であることが好
ましい。
【0022】ビニルフェノール共重合体の製造方法 本発明により製造されるビニルフェノール共重合体は、
エチルフェノールの存在下、好ましくはビニルフェノー
ル100重量部に対して、10〜2,000重量部、よ
り好ましくは60〜1,800重量部のエチルフェノー
ルの存在下にビニルフェノールをラジカル共重合するこ
とにより製造することができる。例えば該ビニルフェノ
ール共重合体はエチルフェノールを含有するビニルフェ
ノール混合物とアクリル酸t−ブチルとを接触させてビ
ニルフェノールとアクリル酸t−ブチルをラジカル共重
合することによって製造することができる。ビニルフェ
ノールは、o、m、p体あるいはこれらの混合物である
ことができるが、前記式(3)で表わされる繰り返し単
位を形成するためにp体であることが好ましい。
【0023】ビニルフェノール混合物中のエチルフェノ
ールは、o、m、p体あるいはこれらの混合物であるこ
とができるが、p体であることが好ましい。特に、前記
ビニルフェノール混合物中にはエチルフェノールが30
〜90重量%、ビニルフェノールが5〜50重量%を占
めることが好ましい。ビニルフェノール混合物中に、そ
の他の成分として、水、フェノール、クレゾール等を、
好ましくは65重量%以下で含有することができる。こ
のようなビニルフェノール混合物は、特開昭54−55
529号公報に記載される方法で容易に得ることができ
る。このようなビニルフェノール混合物を共重合の原料
として用いることにより、ビニルフェノールの純品、例
えばp−ビニルフェノールの純品を用いた場合より透明
性において優れたビニルフェノール共重合体を収率良く
得ることができる。
【0024】上記のとおり、本発明の製造方法では、副
生物が少ないので、ビニルフェノールの熱重合物等の発
生を防ぐための保護基をビニルフェノールの水酸基に導
入する前処理および共重合により得られた共重合体につ
いて該保護基を脱離する後処理を必要としない。さら
に、化学増幅型レジストの樹脂として本発明により製造
されるビニルフェノール共重合体を用いることによっ
て、解像度およびパターン形状において優れた結果が得
られる。
【0025】なお、前記ビニルフェノール混合物の貯蔵
にあたっては、5℃以下の温度で保存することが推奨さ
れる。このような注意を払うことによりビニルフェノー
ルの熱重合が実質的に抑制され、特に分子量分布の狭い
目的とするビニルフェノール共重合体を製造することが
できる。
【0026】共重合は、前記ビニルフェノール混合物と
アクリル酸t−ブチルとを接触混合し、ラジカル重合開
始剤の存在下に、窒素気流下で行うことができる。前記
ビニルフェノール混合物を用いることによって該混合物
中のエチルフェノールが重合溶媒となるので、他の有機
溶媒を加えずに共重合を行うこともできる。さらに共重
合時の溶液粘度を調整する目的で、メタノール、エタノ
ールまたはフェノール等のアルコール類等を重合溶媒と
して添加することもできる。
【0027】共重合を行うにあたってのモノマーの仕込
割合は、ビニルフェノール対アクリル酸t−ブチルのモ
ル比で9:1〜4:6であることが好ましい。目的の共
重合体にビニルフェノールおよびアクリル酸t−ブチル
以外の繰り返し単位を共重合する場合、例えばスチレ
ン、アクリル酸等のモノマーをモノマー合計量10モル
に対して4モル以下、好ましくは2モル以下の割合で添
加できる。
【0028】共重合は、50℃での半減期が10時間以
下のラジカル重合開始剤の存在下に、50℃以下の温
度、特には0〜50℃の温度で行うことが好ましい。こ
のようなラジカル開始剤の使用および温度条件の設定に
より、副生物の生成が減少し、適切なMwを有しかつ分
子量分布の狭いビニルフェノール共重合体を容易に取得
することが可能となる。また、共重合時間は、好ましく
は4〜10時間である。
【0029】50℃での半減期が10時間以下のラジカ
ル重合開始剤の例としては、アセチルシクロヘキシルス
ルホニルパーオキサイド、イソブチリルパーオキサイ
ド、クミルパーオキシネオデカノエート、ジイソプロピ
ルパーオキシジカルボネート、ジアリルパーオキシジカ
ルボネート、ジn−プロピルパーオキシカルボネート、
ジミリスチルパーオキシジカルボネート、クミルパーオ
キシネオヘキサノエート、ジ(2−エトキシエチル)パ
ーオキシジカルボネート、ジ(メトキシイソプロピル)
パーオキシジカルボネート、(2−エチルヘキシル)パ
ーオキシジカルボネート、t−ヘキシルパーオキシネオ
カルボネート、ジ(3−メチル−3−メトキシブチル)
パーオキシカルボネート、t−ブチルパーオキシネオデ
カネート、t−ヘキシルパーオキシネオヘキサノエー
ト、2,2’−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチ
ルバレロニトリル)等を挙げることができる。この中で
特に好ましいラジカル重合開始剤としては、アセチルシ
クロヘキシルスルホニルパーオキサイド、イソブチリル
パーオキサイド、クミルパーオキシネオデカノエート、
2,2’−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチルバ
レロニトリル)等を挙げることができる。ラジカル重合
開始剤は、全モノマー量に対して、0.01〜100モ
ル%、好ましくは0.1〜50モル%の割合で使用され
る。
【0030】共重合終了後、多量のペンタン、ヘキサン
等の脂肪族炭化水素に代表される貧溶媒中に共重合溶液
を加えて共重合体を凝固させ、この凝固した共重合体を
アセトン、メチルエチルケトン等のケトンに代表される
良溶媒に再度溶解後、多量の貧溶媒中に加えて共重合体
を再度凝固させる操作を数回繰り返すことにより、未反
応のモノマーを共重合体に対し10重量%以下、好まし
くは3重量%以下となるように除去し、乾燥することに
よりビニルフェノール共重合体を得ることができる。
【0031】なお、本発明により製造されるビニルフェ
ノール共重合体が前記した好ましいMwおよびMw/M
nの範囲の値を有するようにするには、使用するモノマ
ーの種類、モノマーの仕込割合、使用するラジカル重合
開始剤の種類、共重合温度および重合時間等の共重合条
件とMwおよびMw/Mnの関係を予め実験的に知るこ
とができるので、この知見に基づいて行うことができ
る。
【0032】本発明により製造されるビニルフェノール
共重合体は、化学増幅型レジストの樹脂として好適に用
いられる。このビニルフェノール共重合体を用いる化学
増幅型レジストは、共重合体の他に(1)感放射線酸発
生剤(以下、単に「酸発生剤」という)、並びに必要に
応じて(2)溶解制御剤、(3)酸拡散制御剤および
(4)各種添加剤を(5)溶媒に溶解した溶液として調
製される。前記の(1)〜(5)の各成分につき以下に
説明する。
【0033】(1)酸発生剤 酸発生剤は、放射線の照射により酸を発生する化合物で
あり、例えばジフェニルヨードニウムトリフレート、ト
リフェニルスルホニウムトリフレート等のオニウム塩化
合物、フェニルビストリクロロメチル−S−トリアジ
ン、メトキシフェニル−ビストリクロロメチル−S−ト
リアジン等のハロゲン含有化合物、フェナシルフェニル
スルホン、メシチルフェニルスルホン等のスルホン化合
物、ベンゾイントシレート、ピロガロールのメタスルホ
ン酸トリエステル、イミドスルホネート等のスルホネー
ト化合物、トリヒドロキシフェノンの1,2−ナフトキ
ノンジアジド−4−スルホン酸エステル等のキノンジア
ジド化合物の如き酸発生剤を挙げることができる。
【0034】特に好ましい酸発生剤として、例えばトリ
フェニルスルホニウムトリフレート、ピロガロールのメ
タスルホン酸トリエステル、N−(トリフルオロメチル
スルホニルオキシ)ビシクロ−[2.2.1]−ヘプト−
5−エン−2,3−ジカルボキシド、N−(カンファニ
ルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(2−トリ
フルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)フタルイミ
ド等を挙げることができる。
【0035】(2)溶解制御剤 化学増幅型レジストは、必要に応じて溶解制御剤が配合
される。溶解制御剤は、化学増幅型レジストのアルカリ
可溶性を制御する機能を有する化合物であり、酸の存在
下で分解、例えば加水分解させることにより、化学増幅
型レジストのアルカリ溶解性制御効果を低下もしくは消
失させる作用を有するか、または化学増幅型レジストの
アルカリ溶解性を促進させる作用を有する化合物であ
る。このような溶解制御剤としては、例えばフェノール
性水酸基、カルボキシル基等の酸性官能基を酸分解性基
で置換した化合物を挙げることができる。
【0036】溶解制御剤は、低分子化合物でも高分子化
合物でもよいが、好ましい溶解制御剤としては、ビスフ
ェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS等の
多価フェノール性化合物およびヒドロキシフェニル酢酸
等のカルボン酸化合物の酸性官能基をアルキル基、アル
コキシカルボニル基、シリル基等の酸分解性基で置換し
た化合物を挙げることができる。
【0037】(3)酸拡散制御剤 化学増幅型レジストは、必要に応じて酸拡散制御剤が配
合される。酸拡散制御剤は、露光により酸発生剤から生
じた酸のレジスト被膜中における拡散現象を制御し、未
露光領域での好ましくない化学反応を制御する作用を有
するものである。酸拡散制御剤を使用することにより、
パターン形状、特にパターン上層部の庇の発生程度、マ
スク寸法に対する寸法忠実度等をさらに改良することが
できる。
【0038】このような酸拡散制御剤としては、露光や
加熱により塩基性が変化しない含窒素有機化合物が好ま
しく、例えばアンモニア;ヘキシルアミン、ヘプチルア
ミン、オクチルアミン等のモノアルキルアミン類;ジブ
チルアミン、ジペンチルアミン、ジヘキシルアミン、ジ
ヘプチルアミン、ジオクチルアミン等のジアルキルアミ
ン類;トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロ
ピルアミン、トリブチルアミン、トリペンチルアミン、
トリヘキシルアミン、トリヘプチルアミン、トリオクチ
ルアミン等のトリアルキルアミン類等の他、アニリン、
N−メチルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、ナフ
チルアミン、ジフェニルアミン、エチレンジアミン、テ
トラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、ピロ
リドン、ピペリジン、イミダゾール、チアベンダゾー
ル、ピリジン、ニコチン酸アミド、ジベンゾイルチアミ
ン、四酪酸リボフラミン、4,4’−ジアミノジフェニ
ルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,
4’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノジ
フェニルアミン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)
プロパン、1,4−ビス[1−(4−アミノフェニル)
−1−メチルエチル]ベンゼン等を挙げることができ
る。
【0039】(4)各種添加剤 化学増幅型レジストには、必要に応じてポリオキシエチ
レンラウリルエーテル等の界面活性剤、ベンゾフェノン
類、フェノチアジン類等の増感剤の如き各種添加剤が配
合される。
【0040】(5)溶剤 化学増幅型レジストは、固形分濃度が例えば5〜50重
量%、好ましくは15〜40重量%となるように本発明
により製造されるビニルフェノール共重合体等の各成分
を溶剤に溶解したのち、例えば孔径0.2μm程度のフ
ィルターで濾過することによって溶液として調製され
る。
【0041】この溶液の調製に使用される溶剤として
は、例えばエチレングリコールモノアルキルエーテル
類、エチレングリコールモノアルキルエーテルアセテー
ト類、ジエチレングリコールジアルキルエーテル類、プ
ロピレングリコールモノアルキルエーテル類、プロピレ
ングリコールジアルキルエーテル類、プロピレングリコ
ールモノアルキルエーテルアセテート類、乳酸エステル
類、酪酸エステル類、イソ酪酸エステル類、脂肪族カル
ボン酸エステル類、他のエステル類、芳香族炭化水素
類、ケトン類、アミド類、ラクトン類等を挙げることが
できる。前記の化学増幅型レジストにおいて、ビニルフ
ェノール共重合体100重量部に対して、(1)成分は
0.05〜20重量部、(2)成分は100重量部以
下、(3)成分は10重量部以下、(4)成分は50重
量部以下、(5)成分は20〜500重量部使用するの
が好ましい。
【0042】このような溶液からレジストパターンを形
成するには、回転塗布、流延塗布、ロール塗布等の手段
によって、例えばシリコンウェハー、アルミニウムで被
覆されたウェハー等の基板上に溶液を塗布することによ
りレジスト被膜を形成し、所望のパターンを形成するよ
うに該レジスト被膜に露光することによって行われる。
その際に使用する放射線は、使用する酸発生剤の種類に
応じて、i線等の紫外線;エキシマレーザー等の遠紫外
線;シンクロトロン放射線等のX線;電子線等の荷電粒
子線を適宜選択して使用する。また、放射線量等の露光
条件は、化学増幅型レジストの配合組成等に応じて、適
宜選定される。露光後に、必要に応じてさらに加熱(露
光後ベーク)を行うことにより得られるレジストパター
ンの解像度、パターン形状が良好になる。
【0043】次いで、アルカリ現像液で現像することに
より、所定のレジストパターンを形成させる。前記アル
カリ現像液としては、例えば水酸化ナトリウム、水酸化
カリウム、炭酸ナトリウム、珪酸ナトリウム、メタ珪酸
ナトリウム、アンモニア水、エチルアミン、n−プロピ
ルアミン、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン、
トリエチルアミン、メチルジエチルアミン、ジメチルエ
タノールアミン、トリエタノールアミン、テトラメチル
アンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウム
ヒドロキシド、コリン、ピロール、ピペリジン、1,8
−ジアザビシクロ−[5.4.0]−7−ウンデセン、
1,5−ジアザビシクロ−[4.3.0]−5−ノネン等
のアルカリ性化合物を、通常、1〜10重量%、好まし
くは2〜5重量%の濃度となるように溶解したアルカリ
性水溶液が使用される。
【0044】
【実施例】以下、実施例に基づき本発明を具体的に説明
する。なお、以下における各種の特性は、次のようにし
て求めた。
【0045】(1)MwおよびMw/Mn 東ソー(株)製GPCカラム(G2000HXL 2本、
G3000HXL 1本、G4000XL 1本)を用い、流
量:1.0ml/分、溶出溶媒:テトラヒドロフラン、
カラム温度:40℃の分析条件で、単分散ポリスチレン
を標準とするゲルパーミエーションクロマトグラフ法に
より測定した。
【0046】(2)透過率 共重合体をプロピレングリコールモノメチルエーテルに
溶解し、均一溶液とした後、孔径0.2μmのメンブラ
ンフィルターでろ過し溶液を調製し、石英板上にスピナ
ーで塗布した後、90℃で120秒間プレベークし、膜
厚1.0μmの共重合体膜を形成し、248nmの放射
線の透過率を日立製作所(株)製UV測定機U−321
0を用いて測定した。
【0047】(3)最適露光量 レジスト被膜に露光したのち露光後ベークを行い、現像
後、水洗、乾燥して、シリコンウェハー上にレジストパ
ターンを形成したときの、0.5μmのライン・アンド
・スペースパターン(1L1S)を1対1の幅に形成す
る露光量を、最適露光量とした。
【0048】(4)解像度 最適露光量で露光したときに解像されるレジストパター
ンの最小寸法を、解像度とした。
【0049】(5)パターン形状 シリコンウェハー上に形成した線幅0.5μmの1L1
Sのレジストパターンの方形状断面の下辺の寸法Laと
上辺の寸法Lbとを、走査型電子顕微鏡を用いて測定
し、0.85≦Lb/La≦1を満足し、基板付近のパ
ターンのえぐれやパターン頭部のオーバーハングのない
ものをパターン形状が良好であるとし、これらの条件を
満たさないものをパターン形状が不良であるとした。
【0050】[実施例1]p−ビニルフェノール20重
量%、p−エチルフェノール65重量%およびその他の
成分15重量%(水10重量%、p−クレゾール4重量
%、フェノール1重量%)の組成のビニルフェノール混
合物120gとアクリル酸t−ブチル17gおよびプロ
ピレングリコールモノメチルエーテル50gを加え均一
溶液とした後、窒素ガスで30分間バブリングを行い、
ラジカル重合開始剤として2,2’−アゾビス(4−メ
トキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル)1.9g(全
モノマー量に対して2モル%)を加えて、バブリングを
継続しながら内温を40℃に保ち7時間共重合を行っ
た。共重合後、共重合溶液を多量のヘキサンと混合する
ことによって共重合体を凝固させた。この共重合体をア
セトンに溶解した後、再度ヘキサン中で凝固させる操作
を数回繰り返して、未反応モノマーを完全に除去し、5
0℃の減圧下で共重合体を乾燥した。得られた共重合体
は白色で、収率は55%であった。13C−NMR分析の
結果、共重合体の組成は、ビニルフェノールとアクリル
酸t−ブチルが6:4の割合(モル比)で共重合したも
のであり、Mwは31,000、Mw/Mnは1.8であ
った。また、透過率は78%であった。この共重合体を
共重合体(I)とする。結果を表1に示す。
【0051】[実施例2]p−ビニルフェノール35重
量%およびp−エチルフェノール65重量%の組成のビ
ニルフェノール混合物120gとアクリル酸t−ブチル
36gおよびプロピレングリコールモノメチルエーテル
150gを加え均一溶液とした後、窒素ガスで30分間
バブリングを行い、ラジカル重合開始剤として2,2’
−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニ
トリル)2.0g(全モノマー量に対して1.5モル%)
を加えて、バブリングを継続しながら内温を40℃に保
ち7時間共重合を行った。共重合後、共重合溶液を多量
のヘキサンと混合することによって共重合体を凝固させ
た。この共重合体をアセトンに溶解した後、再度ヘキサ
ン中で凝固させる操作を数回繰り返して、未反応モノマ
ーを完全に除去し、50℃の減圧下で共重合体を乾燥し
た。得られた共重合体は白色で、収率は68%であっ
た。13C−NMR分析の結果、共重合体の組成は、ビニ
ルフェノールとアクリル酸t−ブチルが4:6の割合
(モル比)で共重合したものであり、Mwは30,00
0、Mw/Mnは1.9であった。また、透過率は80
%であった。この共重合体を共重合体(II)とする。
結果を表1に示す。
【0052】[比較例1]純度80重量%以上のp−ビ
ニルフェノール24g、アクリル酸t−ブチル17gお
よびプロピレングリコールモノメチルエーテル150g
を溶解し、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル3.3
g(全モノマー量に対して6モル%)を加えて窒素ガス
で30分間バブリングを行い、バブリングを継続しなが
ら70℃に加熱し7時間共重合を行った。共重合後、共
重合溶液を多量のヘキサンと混合することによって共重
合体を凝固させた。この共重合体をアセトンに溶解した
後、再度ヘキサン中で凝固させる操作を数回繰り返し
て、未反応モノマーを完全に除去し、50℃の減圧下で
共重合体を乾燥した。得られた共重合体は白色で、収率
は64%であった。13C−NMR分析の結果、共重合体
の組成は、ビニルフェノールとアクリル酸t−ブチルが
ほぼ6:4の割合(モル比)で共重合したものであり、
Mwは17,200、Mw/Mnは2.1であった。ま
た、透過率は65%であった。この共重合体を重合体
(III)とする。結果を表1に示す。
【0053】[比較例2〜4]2,2’−アゾビスイソ
ブチロニトリルの量を、比較例2では1.7g(全モノ
マー量に対して3モル%)、比較例3では1.1g(同
2モル%)、比較例4では0.82g(同1.5モル%)
とした以外は、比較例1と同様にして共重合体を合成し
た。得られた共重合体は白色で、13C−NMR分析の結
果、共重合体の組成は、いずれもビニルフェノールとア
クリル酸t−ブチルが6:4の割合(モル比)で共重合
したものであった。これらの共重合体を各々共重合体
(IV)、共重合体(V)、共重合体(VI)とする。
これらの共重合体のMwおよびMw/Mnの値並びに透
過率を表1に示す。
【0054】[比較例5]重合温度を40℃、重合時間
を14時間とした以外は、比較例1と同様にして共重合
体を合成した。得られた共重合体は白色で、13C−NM
R分析の結果、共重合体の組成は、いずれもビニルフェ
ノールとアクリル酸t−ブチルが6:4の割合(モル
比)で共重合したものであった。収率は38%であっ
た。Mw、Mw/Mnの値および透過率の値を表1に示
した。この共重合体を共重合体(VII)とする。
【0055】[実験No.1〜19:共重合体(I)〜
(VII)の評価]共重合体(I)〜(VII)、酸発
生剤、溶解制御剤および溶剤を表2に示す割合で混合し
て均一溶液とした後、孔径0.2μmのメンブランフィ
ルターでろ過し、溶液を調製した。このレジスト溶液を
シリコンウエハー上にスピナーで塗布した後、90℃で
120秒間プレベークし、膜厚1.0μmのレジスト被
膜を形成し、露光したのち、90℃で120秒間露光後
ベークを行った。次に2.38重量%のテトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液を用いて23℃で1分間
浸漬法によりパターンを現像し水で30秒間洗浄した。
結果を表3に示した。
【0056】なお、表2における酸発生剤、溶解制御剤
および溶剤の略語が示す化合物は以下の如くである。 酸発生剤 P1:トリフェニルスルホニウムトリフレート P2:ピロガロールのメタンスルホン酸トリエステル P3:N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)ビ
シクロ−[2.2.1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジ
カルボキシミド P4:N−(カンファニルスルホニルオキシ)ナフチル
イミド P5:N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニ
ルオキシ)フタルイミド 溶解制御剤
【0057】
【化4】
【0058】酸拡散制御剤 C1:トリプロピルアミン C2:トリ−n−ブチルアミン C3:ジアミノジフェニルメタン C4:オクチルアミン
【0059】溶剤 EL:乳酸エチル PGMEA:プロピレングリコールモノメチルエーテル
アセテート EEP:3−エトキシプロピン酸エチル
【0060】
【表1】
【0061】
【表2】
【0062】
【表3】
【0063】
【発明の効果】本発明により製造されるビニルフェノー
ル共重合体を化学増幅型レジストの樹脂成分として用い
ることにより、該レジストは良好な微細パターンを形成
すると共に優れた解像度を有することが可能となる。さ
らにはビニルフェノールとアクリル酸t−ブチルとの共
重合体を、副生物が少なくかつ収率良く製造する方法が
提供される。
【0064】以上詳述した本発明のビニルフェノール共
重合体の製造方法に関して好ましい態様を以下に付記す
る。 1. エチルフェノールの存在下にビニルフェノールとア
クリル酸t−ブチルをラジカル共重合するビニルフェノ
ール共重合体の製造方法。 2. 上記1において、エチルフェノールがビニルフェノ
ール100重量部に対して100〜2,000重量部存
在しているビニルフェノール共重合体の製造方法。 3. 上記ラジカル共重合を、エチルフェノールを含有す
るビニルフェノール混合物とアクリル酸t−ブチルを接
触せしめて行うビニルフェノール共重合体の製造方法。 4. 上記ビニルフェノール混合物中にエチルフェノール
が30〜90重量%、ビニルフェノールが5〜50重量
%占めるビニルフェノール共重合体の製造方法。 5. ラジカル共重合を50℃での半減期が10時間以下
のラジカル重合開始剤の存在下に行うビニルフェノール
共重合体の製造方法。 6. 上記5のラジカル重合開始剤がアセチルシクロヘキ
シルスルホニルパーオキサイド、イソブチリルパーオキ
サイド、クミルパーオキシネオデカノエートおよび2,
2’−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレ
ロニトリル)からなる群から選択される少なくとも1種
であるビニルフェノール共重合体の製造方法。 7. ラジカル共重合を0〜50℃の温度で行うビニルフ
ェノール共重合体の製造方法。
【0065】8. ビニルフェノール共重合体の式(1)
で表わされる繰り返し単位と式(2)で表わされる繰り
返し単位とのモル比[(1):(2)]が好ましくは8
0:20〜10:90、より好ましくは75:25〜3
0:70、最も好ましくは70:30〜40:60であ
るビニルフェノール共重合体の製造方法。 9. ビニルフェノール共重合体のMwが好ましくは2
0,000〜60,000、より好ましくは21,000
〜50,000、最も好ましくは22,000〜40,0
00であるビニルフェノール共重合体の製造方法。 10. ビニルフェノール共重合体のMw/Mnが好まし
くは1.2〜2.5、より好ましくは1.3〜2.5、最も
好ましくは1.5〜2.3であるビニルフェノール共重合
体の製造方法。 11. ビニルフェノール共重合体の式(1)で表わされ
る繰り返し単位が前記式(3)で表わされる繰り返し単
位であるビニルフェノール共重合体の製造方法。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 辻 昭 東京都中央区築地二丁目11番24号 日本合 成ゴム株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 エチルフェノールの存在下にビニルフェ
    ノールをラジカル共重合することを特徴とするビニルフ
    ェノール共重合体の製造方法。
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