JPH07231033A - 基板保持装置 - Google Patents

基板保持装置

Info

Publication number
JPH07231033A
JPH07231033A JP1905594A JP1905594A JPH07231033A JP H07231033 A JPH07231033 A JP H07231033A JP 1905594 A JP1905594 A JP 1905594A JP 1905594 A JP1905594 A JP 1905594A JP H07231033 A JPH07231033 A JP H07231033A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
substrate
mounting surface
recess
board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1905594A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuaki Ishimaru
勝昭 石丸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP1905594A priority Critical patent/JPH07231033A/ja
Publication of JPH07231033A publication Critical patent/JPH07231033A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 大きさの異なる複数の基板の各々を、常に基
板のそりやうねりを矯正した状態で保持することのでき
る基板保持装置を提供する。 【構成】 基板を載置する載置面の中央部に第1の凹部
(8a〜8d)が設けられ、その載置面の周辺部に第1
の凹部と連通されている第2の凹部(8e、8f)が設
けられる。また、第1の凹部(8a〜8d)は該第1の
凹部内を減圧するための減圧手段と連通されている。そ
して、第1の凹部を減圧して載置面上に載置された基板
を吸着保持する際、開閉部材(2)により、載置された
基板の大きさに応じて第1の凹部(8a〜8d)と第2
の凹部(8e、8f)とが連通されいてる通路を開閉す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、板状の基板を保持する
装置に関するもので、特に、半導体チップや液晶表示素
子等を製造する投影露光装置内に設けられ、半導体ウェ
ハやセラミックスプレート等の基板を保持する基板保持
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体チップや液晶表示素子等
を製造する際に用いられる投影露光装置においては、感
光基板のそりやうねりを矯正して、所定の平面内にほぼ
平坦に保持するための基板保持装置(以下、「ウェハホ
ルダー」と記す)が使用されている。
【0003】図4は従来のこの種のウェハホルダーを示
す上面図であり、図5は図4に示すウェハホルダーのB
−B’矢視断面図である。図4に示すように、ウェハホ
ルダーの載置面には、ホルダーの中心から放射方向に輪
帯状の複数の凹部(溝)が形成されている。そして、各
凹部の間の複数の環状の凸部の上端面によって規定され
る面上にウェハ6が配置される。これらの複数の溝内に
は夫々1つの吸気孔が設けられており、この吸気孔は載
置面の中心から放射方向に並んで配置されている。そし
て、図5に示すようにこれらの吸気孔は夫々ウェハホル
ダーの側壁に貫通して設けられた通気孔7と連通されて
おり、この通気孔7は不図示の真空減圧源につながれて
いる。そして、ウェハ6が載置面上に載置された後、真
空減圧源によってこれらの溝内を減圧することにより、
ウェハ6の裏面がほぼ全面に渡って載置面上に真空吸着
される。このことによってウェハ6はそりやうねりが矯
正された状態でウェハホルダー上に保持される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
如き従来のウェハホルダーにおいては、ウェハの裏面を
真空吸着する範囲が予め決まっているため、載置するウ
ェハの大きさは1つの種類(適応サイズ)に対応したも
のであった。従って、この適応サイズのウェハよりも大
きなサイズのウェハを保持した場合、そのウェハの周縁
部分のそりやうねりが矯正されずに保持されてしまい、
この周縁部におけるウェハの平面度が著しく低下してし
まう。従って、露光装置において半導体素子等を製造す
る際、ウェハの周縁部は焦点外れを起こし、所望の線幅
のパターンが露光できない、あるいは重ね合せの精度が
上がらないと言った不都合が生じる。さらに、適応サイ
ズのウェハよりも小さなウェハを載置した場合、図5に
示した複数の吸気孔のうちの載置面の中心からもっとも
離れた位置にある溝部はウェハの外周縁からはみ出して
しまうため、真空減圧源によって凹部内全体を減圧する
とリークが生じてしまい、全体としてのウェハの吸着力
が著しく低下してしまう。
【0005】従来、ウェハホルダー上に載置するウェハ
のサイズが変わった際には、ウェハホルダー自体をその
サイズに適応したウェハホルダーに交換することによっ
て対応していた。しかしながら、ウェハホルダーの交換
には多大な労力と時間を費やしてしまう。本発明は上述
の問題点に鑑み、大きさの異なる複数の基板の各々にお
いて、常に基板のそりやうねりを矯正した状態で保持す
ることのできる基板保持装置を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】かかる問題点を解決する
ため本発明においては、基板を載置する載置面と、載置
面に設けられた複数の凹部と、基板を載置したときに凹
部内を減圧する減圧手段とを有し、大きさの異なる複数
の基板の各々を載置面上に吸着保持する基板保持装置に
おいて、載置面の中央部に設けられ、減圧手段と連通さ
れている第1の凹部(8a〜8d)と、載置面の周辺部
に設けられた第2の凹部(8e、8f)と、第1の凹部
(8a〜8d)と第2の凹部とを連通する通路(4b、
4c、4d)と、減圧手段によって第1の凹部(8a〜
8d)を減圧する際、載置面上に載置される基板の大き
さに応じて、前記通路(4b、4c、4d)を開閉する
開閉部材(2)とを有することとする。
【0007】
【作用】本発明においては、例えば図1に示すように載
置面上に設けられた全ての凹部8a〜8fを覆う大きさ
の基板(ウェハ)3aが載置されたとき、開閉手段2は
減圧装置と連通されている第1の凹部8a〜8dと、第
2の凹部8e、8fとを通気孔10e、10f、10g
を介して連通させ、凹部8a〜8fをウェハ3aの裏面
の吸着範囲とする。同様に、凹部8a〜8eを覆う大き
さのウェハ3bが載置されたとき、開閉部材2は第1の
凹部8a〜8dと第2の凹部8eとを通気孔10e、1
0fを介して連通させ、第1の凹部8a〜8dと第2の
凹部8fとが連通されている通路を閉じる。そして凹部
8a〜8eをウェハ3bの裏面の吸着範囲とする。ま
た、第1の凹部8a〜8dしか覆わない大きさのウェハ
3cが載置されたとき、開閉部材2は通気孔10f及び
10gと通気孔10eとを連通する通路を閉じて、凹部
8a〜8dをウェハ3cの裏面の吸着範囲とする。ま
た、第1の凹部8a〜8dはウェハ3cの大きさに対応
してウェハホルダー1に設けられており、第2の凹部8
e、8fもウェハ3b、3aの大きさに対応してウェハ
ホルダー1に設けられている。
【0008】このように、開閉部材2は載置されるウェ
ハの大きさに応じて第1の凹部(8a〜8d)と第2の
凹部(8e、8f)とが連通されている通路を開閉し、
ウェハ裏面の吸着範囲を切り換えるので、各ウェハサイ
ズに最適な吸着範囲が得られる。従って大きさの異なる
複数のウェハの各々において、ウェハのそりやうねりを
矯正し、ほぼ平坦に保持することができる。
【0009】
【実施例】図1は本発明の実施例における基板保持装置
(ウェハホルダー)の概略的な構成を示す図であり、図
2は図1におけるA−A’矢視断面図である。以下、本
発明の一実施例について図1、図2を用いて説明する。
本実施例におけるウェハホルダーは、例えば図1の2点
鎖線で示すように、直径が4インチのウェハ3c、5イ
ンチのウェハ3b、6インチのウェハ3aの3種類の大
きさのウェハを夫々保持することのできる。そして、ウ
ェハホルダー1の載置面には、ホルダーの中心から放射
方向に輪帯状の複数の凹部(溝部)8a、8b、8c、
8d、8e、8fが形成されている。そして、各凹部の
間の複数の環状の凸部の上端面によって規定される面上
にウェハが配置される。また、このウェハホルダーの外
周部8gも先の溝部8a〜8fと同様に凹部となってい
る。ウェハが載置面上に載置されたとき、これらの溝部
8a〜8fは夫々閉じた空隙になる。ここで、溝部8d
の外周縁の直径は、ウェハ3cの外周縁の直径より若干
小さく、ウェハ3cが載置されたときのウェハ3cにほ
ぼ対応して載置面上に形成されている。同様に溝部8e
はウェハ3bの外周部にほぼ対応して載置面上に形成さ
れており、溝部8eはウェハ3aの外周部にほぼ対応し
て載置面上に形成されている。
【0010】また、溝部8a、8b、8c、8d内には
真空吸着のための複数の吸気孔10a、10b、10
c、10dが夫々設けられている。これらの吸気孔10
a〜10dは、ウェハホルダー1の載置面の中心から放
射方向に並んで配置されている。そして、図2に示すよ
うにこれらの吸気孔(10a〜10d)はウェハホルダ
ー1の側壁に貫通するように設けられた通気孔4aによ
って互いに連通されている。この通気孔4aは不図示の
真空減圧源につながれており、ウェハを真空吸着する
際、真空減圧源はこの通気孔4aを介して溝部8a〜8
d内を減圧する。
【0011】また、溝部8d内には先の吸気孔10dと
は異なる位置に吸気孔10eが設けられており、溝部8
e、8f内にも吸気孔10f、10gが夫々設けられて
いる。これらの吸気孔10e、10f、10gは夫々ウ
ェハホルダー1の内部に設けられた通気孔4e、4f、
4gと連通されており、これらの通気孔4e、4f、4
gは互いに連通されていない。これら3つの通気孔はウ
ェハホルダー1の側面に設けられた切り換え装置2内に
通じている。この切り換え装置2は通気孔4e、通気孔
4f、及び通気孔4gの夫々を連通する通路を閉じる第
1状態(各通気孔が互いに連通しない状態)と、通気孔
4eと通気孔4fとを連通させ、通気孔4eと通気孔4
gとを連通する通路を閉じる第2状態と、通気孔4eと
通気孔4f及び4gとを連通させる第3状態との切り換
えを、切り換えレバー2bを回転させることによって行
うことができる。
【0012】ここで、この切り換え装置2について図3
(a)、図3(b)を用いて詳細に説明する。図3
(a)は回転部材の概略的な構成を示す斜視部であり、
図3(b)は切り換え装置2の断面図である。図3
(a)及び図3(b)は先の第2状態のときの様子を示
す。各通気孔(4b〜4d)は切り換え装置2内の円筒
状の回転部材2aに通じている。そして、この円筒状の
回転部材2aの側面には通気孔4eと通気孔4fを連通
させることができる溝12a、及び通気孔4e、4f、
4gの全てを連通させることができる溝12bが夫々設
けられている。溝12a、12bは夫々回転部材2aの
筒状の長手方向に伸びた溝であり、図3(b)に示すよ
うに、回転部材2aの回転軸を中心に90°離れた位置
に夫々独立して設けられている。そして、オペレーター
は図1に示す切り換えレバー2bを回転させることによ
って回転部材2aを回転させ、溝12a、溝12b、又
は溝の設けられていない部分を通気孔4b〜4d側に配
置することによって、先の第1〜第3状態を切り換える
ことが可能となる。
【0013】以上の構成からなるウェハホルダーによ
り、例えば図1に示すウェハ3cを保持するとき、オペ
レーターは切り換え装置2によって先の第1の状態にす
る。そして、真空減圧源は気穴4aを介して溝部8a〜
8dを減圧してウェハ3cの裏面のほぼ全面を載置面上
に吸着させる。同様に、ウェハ3bを保持する際、オペ
レーターは切り換え装置2によって先の第2の状態にす
る。そして真空減圧源は気穴4aを介して溝部8a〜8
dを減圧するとともに、通気孔4b及び4cを介して溝
部8dを減圧して、ウェハ3bの裏面のほぼ全面を載置
面上に吸着させる。そして、ウェハ3aを保持する際、
オペレーターは切り換え装置2によって先の第3の状態
にする。そして真空減圧源は通気孔4a、4b、4c、
4dを介して溝部8a〜8eを減圧し、ウェハ3bの裏
面のほぼ全面を載置面上に吸着させる。
【0014】このように、載置されるウェハの大きさ
(サイズ)に応じてそのウェハを吸着する範囲を切り換
えることが可能となるので、各ウェハサイズに最適な吸
着範囲が得られる。また、ウェハを載置面に吸着固定す
る際にリークが生じないので、ウェハ裏面をほぼ均一の
吸着力で、ウェハのそりやうねりを矯正した状態で当該
ウェハをほぼ平坦に保持することができる。また、切り
換え装置2は、溝部(8a〜8d)と溝部8e及び溝部
8fとの連通及び遮断を通気孔4b〜4cを介しておこ
な行うだけであるので、簡単に構成することができる。
【0015】また、本実施例においては載置可能なウェ
ハの大きさ、即ち、切り換え装置2によって切り換え可
能な吸着範囲は3種類であるが、載置面上に設ける溝部
の数をさらに増やすとともに、切り換え装置2と連通さ
せる溝部の数を増やすことにより、吸着可能なウェハの
種類(サイズ)をさらに増やすことが可能となる。ま
た、本実施例では切り換え装置2はウェハホルダー1と
一体となっているが、投影露光装置内の所定の場所に設
置しても構わない。このとき、穴4b〜4dを配管を介
して切り換え装置2に接続することにより、切り換え装
置2を所望の場所に設けることができる。このことによ
り、ウェハホルダー1の構成を簡素化することができ
る。さらに、溝部8a〜8dと真空減圧源とを連通する
通気孔4aと、溝部8dと溝部8e及び8fとを連通す
る通気孔4b、4c、4dとを独立して設けることによ
り、切り換え手段の構成を簡素化することができ、切り
換え装置2を投影露光装置内の所望の位置に配置するこ
とができる。
【0016】また、本実施例において切り換え装置2に
よる切り換えはマニュアル操作であるが、例えば切り換
えレバー2bの回転を駆動する駆動制御装置を投影露光
装置内に設け、処理すべきウェハのサイズの情報に基づ
いて通気孔4bと通気孔4c及び4dとの連通及び遮断
の切り換えを自動的に行うようにしてもよい。また、切
り換え装置の機構は上述の実施例に限らず、例えば電磁
弁等により各通気孔4bと4c及び4dとの連通、及び
遮断を切り換えるような機構であってもよい。
【0017】また、本発明の実施例としては上述のよう
な構成のものに限らず、例えば図1に示す通気孔4bが
溝部8dではなく、通気孔4aに通じているような構成
であってもよい。その他の構成は図1と全く同様であ
る。そして、切り換え装置2はウェハ3bが載置された
とき溝部8eと通気孔4aとを連通させ、ウェハ3cが
載置されたとき溝部8e及び8fと通気孔4aとを連通
させることにより、上述の実施例と同様の効果が得るこ
とができる。さらに、切り換え装置2に通気孔4a、通
気孔4c、及び通気孔4dを通じさせ、さらにこの切り
換え装置2と真空減圧源とを通じさせるような構成でも
よい。このときも同様に、ウェハ3cが載置されたとき
は溝部8a〜8dと真空減圧源とを連通させ、ウェハ3
bが載置されたときは溝部8a〜8d、及び8fを真空
減圧源に連通させ、ウェハ3aが載置されたときは溝部
8a〜8d、8e、及び8fを真空減圧源に連通させる
ことにより、上述の実施例と同様の効果が得ることがで
きる。
【0018】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、基板のサ
イズ(大きさ)によって基板の裏面を吸着する範囲を簡
単に切り換えることができるため、基板の大きさに係わ
らず、常に基板のそりやうねりを矯正した状態で載置面
上にほぼ平坦に当該基板を保持することができる。その
ため、露光装置等に組み込んで半導体素子等を製造する
際、基板のそりやうねりによる解像不良や重ね合わせ精
度の低下等を回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例における基板保持装置(ウェハ
ホルダー)の概略的な構成を示す図である。
【図2】図1に示すウェハホルダーの断面構造を示す断
面図である。
【図3】図3(a)は回転部材2aの概略的な構成を示
す斜視図であり、図3(b)は切り換え装置2の断面図
である。
【図4】従来のウェハホルダーの概略的な構成を示す図
である。
【図5】図4に示すウェハホルダーの断面構造を示す断
面図である。
【符号の説明】
1、5・・・ウェハホルダー 2・・・切り換え装置 2a・・・回転部材 3a〜3c、6・・・ウェハ 4a〜4d、7・・・通気孔 8a〜8f・・・溝部 10a〜10g・・・吸気孔 12a、12b・・・溝

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を載置する載置面と、前記載置面に
    設けられた複数の凹部と、前記基板を前記載置面上に載
    置したときに前記凹部内を減圧する減圧手段とを有し、
    大きさの異なる複数の基板の各々を前記載置面上に吸着
    保持する基板保持装置において、 前記載置面の中央部に設けられ、前記減圧手段と連通さ
    れている第1の凹部と、 前記載置面の周辺部に設けられた第2の凹部と、 前記第1の凹部と前記第2の凹部とを連通する通路と、 前記減圧手段によって前記第1の凹部を減圧する際、前
    記載置面上に載置される基板の大きさに応じて、前記通
    路を開閉する開閉部材とを有することを特徴とする基板
    保持装置。
  2. 【請求項2】 前記第1の凹部は、前記複数の基板のう
    ち最小の基板が載置されたときに、該基板によって覆わ
    れる前記載置面上の領域のほぼ全体に設けられ、前記第
    2の凹部は、前記最小の基板とは異なる基板が載置され
    たときに、該基板によって覆われる前記載置面上の前記
    第1の凹部の外側の領域のほぼ全体に設けられることを
    特徴とする請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】 前記第1の凹部と前記第2の凹部とを連
    通させる通路は、前記第1の凹部と前記減圧手段とを連
    通させる通路と独立して設けられることを特徴とする請
    求項2に記載の装置。
JP1905594A 1994-02-16 1994-02-16 基板保持装置 Pending JPH07231033A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1905594A JPH07231033A (ja) 1994-02-16 1994-02-16 基板保持装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1905594A JPH07231033A (ja) 1994-02-16 1994-02-16 基板保持装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07231033A true JPH07231033A (ja) 1995-08-29

Family

ID=11988753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1905594A Pending JPH07231033A (ja) 1994-02-16 1994-02-16 基板保持装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07231033A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007329297A (ja) * 2006-06-08 2007-12-20 Komatsu Machinery Corp 薄膜状物体の保持装置及び薄膜状物体を保持するためのハンド
JP2017074628A (ja) * 2015-10-13 2017-04-20 株式会社ディスコ 加工装置
WO2017178005A1 (de) * 2016-04-12 2017-10-19 Laser Imaging Systems Gmbh Vorrichtung zum fixieren von objekten mittels vakuum
JP2018082019A (ja) * 2016-11-15 2018-05-24 日本特殊陶業株式会社 真空吸着部材
KR102491012B1 (ko) * 2021-10-21 2023-01-27 제이에스프리시젼(주) 진공 척

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007329297A (ja) * 2006-06-08 2007-12-20 Komatsu Machinery Corp 薄膜状物体の保持装置及び薄膜状物体を保持するためのハンド
JP2017074628A (ja) * 2015-10-13 2017-04-20 株式会社ディスコ 加工装置
WO2017178005A1 (de) * 2016-04-12 2017-10-19 Laser Imaging Systems Gmbh Vorrichtung zum fixieren von objekten mittels vakuum
US11417560B2 (en) 2016-04-12 2022-08-16 Laser Imagine Systems GmbH Apparatus for fixing objects by means of vacuum
JP2018082019A (ja) * 2016-11-15 2018-05-24 日本特殊陶業株式会社 真空吸着部材
KR102491012B1 (ko) * 2021-10-21 2023-01-27 제이에스프리시젼(주) 진공 척

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20040242129A1 (en) Polishing head of chemical mechanical polishing apparatus and polishing method using the same
JPH09134949A (ja) 真空チャック
US6371430B1 (en) Automatically adapting vacuum holder
JPH09205128A (ja) 半導体ウェハ移送ロボット用アーム
JP2006310697A (ja) 吸着チャック
JP2002217276A (ja) ステージ装置
JP2000012663A (ja) 基板保持方法及び装置、及びそれを備えた露光装置
JP3323797B2 (ja) 疎水化処理装置
US5856906A (en) Backside gas quick dump apparatus for a semiconductor wafer processing system
JPH07231033A (ja) 基板保持装置
JP2003031531A (ja) ウェーハ研磨装置及びウェーハ研磨方法
JPH0582631A (ja) 半導体ウエーハ用真空チヤツク
KR20160047857A (ko) 웨이퍼 트레이, 웨이퍼 트레이 조립 지그 및 조립 방법
KR100423909B1 (ko) 화학적 기계적 평탄화 기계의 폴리싱 헤드 및 그것을이용한 폴리싱방법
KR20030028985A (ko) 반도체 소자 제조용 장비에서의 웨이퍼 척
KR20050042971A (ko) 화학적 기계적 연마 장치 및 이에 사용되는 연마 패드
JP2000286185A (ja) スピンチャック
JPH06260409A (ja) 熱処理装置
JP4068783B2 (ja) 膜形成装置及び膜形成方法における膜の均一性を向上させる方法
JPH06333799A (ja) 半導体製造装置
JPH0745692A (ja) 基板の吸着保持装置
JP2721896B2 (ja) 試料吸着装置
JP3821400B2 (ja) 処理液塗布装置および処理液塗布方法
JP2004039978A (ja) 基板保持装置
JPS6393127A (ja) ウエハチヤツク

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040323