JP2007329297A - 薄膜状物体の保持装置及び薄膜状物体を保持するためのハンド - Google Patents

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Abstract

【課題】直径が異なる薄膜状物体を保持すると共に、保持したときにその薄膜状物体のエッジを破損しないようにする。
【解決手段】ユニバーサルハンド1は、略円形を有する小径ウェハ31及び大径ウェハ32を吸着して保持可能な吸着面1Aを有する。吸着面1Aは、小径ウェハ31を吸着したときに、エッジ部31Aが吸着面1Aに接触しないように凹部13有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、薄膜状物体の保持装置に関し、特に、直径が異なる半導体ウェハなどの薄膜状物体を保持可能なユニバーサル型の保持装置に関する。
薄膜状物体、例えば半導体ウェハなどの搬送などに用いられる保持装置では、比較的薄いウェハを保持する場合は、ウェハのほぼ全面を真空吸着して保持するハンドが用いられている。このハンドの吸着部には、ポーラスセラミックスが用いられ、ウェハとハンドとが接触するときの衝撃や、傾きによる傷を防止するためにバネによって支持する構造が知られている(例えば、特許文献1)。
また、直径が異なるウェハを搬送するためには、それぞれのウェハの大きさに適したハンドを装着して行っており、そのためにハンドを簡単に着脱できる機構を備えている半導体ウェハの保持装置も知られている(例えば、特許文献2)。
特開平8−55896号公報 特開2003−77982号公報
近年、半導体技術の向上に伴ってウェハの薄膜化が進んでいる。ウェハの厚みが100μm以上あるときは、ウェハとハンドとが接触したときの衝撃や、傾きによってウェハに微小な傷が発生しても、ウェハが割れることはなかった。ところが、最近ではウェハの厚みが50μm以下になる場合もあり、この場合には微小な傷でもウェハが割れてしまうことがある。特に、バックグラインド加工をした極薄ウェハ(例えば厚さ50μm以下)の場合、ウェハのエッジ部分が「ナイフエッジ」と呼ばれる鋭く尖った形状になる。この「ナイフエッジ」は、ハンドの吸着面と接触しただけでも破損しやすい。そこで、極薄ウェハであっても破損させずに保持するために、ハンドにもシビアなセッティングが求められている。
しかしながら、従来のようにウェハサイズが変わる毎にハンドを交換するとすれば、その度にハンドの微妙なセッティングがズレてしまい、ウェハを破損してしまう可能性が高くなる。
そこで、本発明の目的は、直径が異なる薄膜状物体を保持すると共に、保持したときにその薄膜状物体のエッジを破損しないようにするための技術を提供することである。
本発明の一実施態様に従う略円形を有する薄膜状物体の保持装置は、第1の薄膜状物体(32)及び前記第1の薄膜状物体よりも直径の小さい第2の薄膜状物体(31)を吸着して保持可能な吸着面(1A)を有するハンド(1)を備える。そして、前記吸着面は、前記直径の小さい第2の薄膜状物体を吸着したときに、当該第2の薄膜状物体のエッジが前記吸着面に接触しないように凹部(13)有するように構成されている。
これにより、大きさの異なる薄膜状物体を保持可能なユニバーサルハンドを有する保持装置が、小径の薄膜状物体を保持したときに、その物体のエッジ部が吸着面と当たらないようにすることができ、エッジ部の破損を防止できる。
好適な実施形態では、前記ハンドは、前記第1の薄膜状物体が前記吸着面に吸着されたときに、前記凹部と前記第1の薄膜状物体とで形成される空間が外気と連通するための連通孔(14)を、さらに有していてもよい。
これにより、大径の薄膜状物体を保持したときに、凹部に負圧が発生して大径の薄膜状物体が撓んでしまうことを防止できる。
本発明の一実施態様に従う略円形を有する薄膜状物体を保持するためのハンド(1)は、第1の薄膜状物体(32)及び前記第1の薄膜状物体よりも直径の小さい第2の薄膜状物体(31)を吸着して保持可能な吸着面(1A)を有し、前記吸着面は、前記直径の小さい第2の薄膜状物体を吸着したときに、当該第2の薄膜状物体のエッジが前記吸着面に接触しないように凹部(13)を有するように構成されている。
以下、本発明の略円形を有する薄膜状物体の保持装置の一実施形態として、半導体ウェハの保持装置について、図面を参照して説明する。
図1及び図2は、半導体ウェハの保持装置において、図示しないアームの先端に取り付けられ、実際に半導体ウェハを吸着して保持するためのハンドの構成を示す。本実施形態に係るハンドは、直径が異なる半導体ウェハを保持可能なユニバーサルハンドである。
図1は、ハンド1の半導体ウェハを吸着するための吸着面1Aを示し、図2は、ハンド1のA−A断面図を示す。
ハンド1の吸着面1Aには、同心状に区分けされている中央吸着部11及び外周吸着部12の吸着部と、中央吸着部11と外周吸着部12との間に設けられた凹部13とが設けられている。凹部13には、ハンド裏面1Bへ連通する連通孔14が設けられている。
ハンド裏面1Bには、中央吸着部11を吸引する中央吸引口15と、外周吸着部12を吸引する外周吸引口16と、中央吸着部11及び外周吸着部12を保持している緻密部17とを備える。
中央吸着部11は、吸着面1Aの中央に配置された、半導体ウェハ31,32を吸着するための円形の吸着部であり、中央吸引口15から吸引されることにより、ウェハ31,32を真空吸着する。
外周吸着部12は、中央吸着部11の外縁から凹部13を隔てて配置された、リング形状の吸着部である。そして、中央吸着部11と同様に、外周吸引口16から吸引されることにより、ウェハ32を真空吸着する。
中央吸着部11及び外周吸着部12は、例えば、セラミック製またはカーボン製のポーラス体により構成されている。
凹部13は、吸着面1Aにおいて、中央吸着部11と外周吸着部12との間に設けられた、リング状の溝である。
ところで、本実施形態に係るハンド1は、異なる径を有する半導体ウェハ31,32を保持可能なユニバーサルハンドである。ここでは、直径が小さい小径ウェハ31と直径が大きい大径ウェハ32とが保持可能である(図1では、それぞれのウェハ31,32の大きさを破線で示す)。
凹部13が設けられている位置は、中央吸着部11が小径ウェハ31を吸着して保持したときのウェハ31のエッジ部分31Aが来る位置である。これは、ウェハ31のエッジ部分31Aは鋭く尖ったナイフエッジになっており、破損しやすいので、エッジ部分31が吸着面1Aと接触しないようにするためである。
図3は、小径ウェハ31を吸着したときの、エッジ31A近傍の拡大図である。
同図に示すように、中央吸着部11によって小径ウェハ31が吸着されているときに、エッジ31Aが凹部13のところに位置するので、エッジ31Aが吸着面1Aと接触しないようになっている。これにより、エッジ31Aの破損を防止できる。
再び図1を参照すると、ハンド1の直径は、大径ウェハ32の直径よりもわずかに小さくなっている。これは、大径ウェハ32を吸着して保持した場合も同様に、大径ウェハ32のエッジ部分32Aが吸着面1Aと接触しないようにして、破損を防止するためである。
図4は、大径ウェハ32を吸着したときの、エッジ32A近傍の拡大図である。
同図に示すように、中央吸着部11及び外周吸着部12によって大径ウェハ32が吸着面1Aに吸着されているときに、大径ウェハ32のエッジ32Aがハンド1の外側に突出するようになっている。これにより、エッジ32Aが吸着面1Aと接触することがないので、エッジ32Aの破損を防止できる。
ここで、大径ウェハ32が吸着面1Aに吸着されているときは、吸着面1Aは大径ウェハ32によって完全に覆われるので、凹部13の開口部分も大径ウェハ32で覆われることになる。このとき、もし連通孔14が存在しないとすれば、凹部13と大径ウェハ32とで形成される空間が閉空間になる。また、凹部13と中央吸着部11及び外周吸着部12とは、緻密部17で隔てられているが、中央吸着部11及び外周吸着部12が、それぞれ中央吸引口15及び外周吸引口16から吸引されると、この影響で凹部13と大径ウェハ32で形成される閉空間もわずかに負圧となる。このため、極めて薄い大径ウェハ32は、凹部13において撓んでしまい、破損の原因となりやすい。
そこで本発明では、凹部13を連通孔14により、ハンド裏面1Bにおいて外部と連通するようにしたので、凹部13が大径ウェハ32で覆われたときでも、凹部13と大径ウェハ32とで囲まれた空間を大気圧に保つことができ、撓みの発生を防止できる。
次に、図5は、一つの変形例を示す。
図4の例では、凹部13と中央吸着部11及び外周吸着部12とは、緻密部17で隔てられているのに対して、図5の例では中央吸着部11のポーラス体と外周吸着部12のポーラス体とは、ハンド1の内部で一体となっていて、分離されていない。このため、凹部13もポーラス体によって形成されているので、凹部13の領域と吸着部11,12とを分離するために、ハンド1の内部には樹脂などでできた仕切り板21,22が内蔵されている。
これにより、中央吸着部11及び外周吸着部12を真空引きするときに、凹部13の領域も仕切り板21,22の下端からわずかに空気が引かれるが、連通孔14によりほぼ大気圧に保つことができるので、ウェハ32の撓みを防止できる。
なお、図示していないが、中央吸着部11及び外周吸着部12の真空引きをするための中央吸引口15及び外周吸引口16は、いずれか一方のみを設けるようにしてもよい。
本実施形態のユニバーサルハンドによれば、直径の異なるウェハを、ハンドを交換することなく保持することができると共に、どの大きさのウェハを保持したときでも、ウェハのエッジ部がハンドと接触することがないので、エッジの破損を防止できる。
上述した本発明の実施形態は、本発明の説明のための例示であり、本発明の範囲をそれらの実施形態にのみ限定する趣旨ではない。当業者は、本発明の要旨を逸脱することなしに、他の様々な態様で本発明を実施することができる。
例えば、上述の実施形態では、小径ウェハ及び大径ウェハの大きさが異なる2種類のウェハを保持できるユニバーサルハンドについて説明したが、本発明は、大きさが異なる3種類のウェハを保持できるユニバーサルハンドにも適用できる。
本発明の一実施形態に係るユニバーサルハンドの吸着面を示す。 本発明の一実施形態に係るユニバーサルハンドのA−A断面図を示す。 小径ウェハを吸着したときの、エッジ近傍の拡大図である。 大径ウェハを吸着したときの、エッジ近傍の拡大図である。 ユニバーサルハンドの変形例を示す図である。
符号の説明
1 ユニバーサルハンド
1A 吸着面
11 中央吸着部
12 外周吸着部
13 凹部
14 連通孔
15 中央吸引口
16 外周吸引口
17 緻密部
31 小径ウェハ
32 大径ウェハ
31A エッジ部
32A エッジ部

Claims (3)

  1. 略円形を有する薄膜状物体の保持装置であって、
    第1の薄膜状物体(32)及び前記第1の薄膜状物体よりも直径の小さい第2の薄膜状物体(31)を吸着して保持可能な吸着面(1A)を有するハンド(1)を備え、
    前記吸着面は、前記直径の小さい第2の薄膜状物体を吸着したときに、当該第2の薄膜状物体のエッジが前記吸着面に接触しないように凹部(13)有するように構成されている、薄膜状物体の保持装置。
  2. 前記ハンドは、前記第1の薄膜状物体が前記吸着面に吸着されたときに、前記凹部と前記第1の薄膜状物体とで形成される空間が外気と連通するための連通孔(14)を、さらに有する請求項1記載の薄膜状物体の保持装置。
  3. 略円形を有する薄膜状物体を保持するためのハンド(1)であって、
    第1の薄膜状物体(32)及び前記第1の薄膜状物体よりも直径の小さい第2の薄膜状物体(31)を吸着して保持可能な吸着面(1A)を有し、
    前記吸着面は、前記直径の小さい第2の薄膜状物体を吸着したときに、当該第2の薄膜状物体のエッジが前記吸着面に接触しないように凹部(13)を有するように構成されている、薄膜状物体を保持するためのハンド。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011023433A (ja) * 2009-07-14 2011-02-03 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハ搬送装置
CN105870047A (zh) * 2016-06-01 2016-08-17 爱普科斯科技(无锡)有限公司 一种芯片拾取装置
JP2017140676A (ja) * 2016-02-11 2017-08-17 株式会社デンソー 吸着装置
US11450549B2 (en) 2019-12-27 2022-09-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Substrate transfer apparatus and substrate transfer system using the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06345262A (ja) * 1993-06-10 1994-12-20 Tokyo Electron Ltd 処理装置
JPH07231033A (ja) * 1994-02-16 1995-08-29 Nikon Corp 基板保持装置
JPH1167795A (ja) * 1997-08-08 1999-03-09 Nec Corp 半導体チップ搭載装置及び半導体チップ搭載方法並びに半導体装置
JP2001024051A (ja) * 1999-07-09 2001-01-26 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェーハ吸着パッド

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06345262A (ja) * 1993-06-10 1994-12-20 Tokyo Electron Ltd 処理装置
JPH07231033A (ja) * 1994-02-16 1995-08-29 Nikon Corp 基板保持装置
JPH1167795A (ja) * 1997-08-08 1999-03-09 Nec Corp 半導体チップ搭載装置及び半導体チップ搭載方法並びに半導体装置
JP2001024051A (ja) * 1999-07-09 2001-01-26 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェーハ吸着パッド

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011023433A (ja) * 2009-07-14 2011-02-03 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハ搬送装置
JP2017140676A (ja) * 2016-02-11 2017-08-17 株式会社デンソー 吸着装置
CN105870047A (zh) * 2016-06-01 2016-08-17 爱普科斯科技(无锡)有限公司 一种芯片拾取装置
US11450549B2 (en) 2019-12-27 2022-09-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Substrate transfer apparatus and substrate transfer system using the same

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