JPH07225481A - ポジ型レジスト組成物 - Google Patents
ポジ型レジスト組成物Info
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- JPH07225481A JPH07225481A JP6037541A JP3754194A JPH07225481A JP H07225481 A JPH07225481 A JP H07225481A JP 6037541 A JP6037541 A JP 6037541A JP 3754194 A JP3754194 A JP 3754194A JP H07225481 A JPH07225481 A JP H07225481A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 Ｘ線や電子線を用いたリソグラフィに好適
な、高感度で高解像のポジ型レジスト組成物を提供す
る。 【構成】 アニオン重合法を用いて合成されたものであ
り、かつ重量平均分子量が８千より大きく２万より小さ
いポリ（ｐ−ヒドロキシスチレン）、ビス（ｐ−ｔ−ブ
トキシカルボニルメチル）チモールフタレインなる溶解
阻害剤、ビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）ヨードニウム
トリフレートなるオニウム塩、１分子中に１つのアミノ
基と１つのカルギキシル基を含む化合物なる酸失活剤、
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートな
る有機溶媒、及びノニオン系界面活性剤を含むポジ型レ
ジスト組成物。 【効果】 １００ｍＪ／ｃｍ2 以下の感度、０．２μｍ
以上の解像性を満足し、膜厚制御性、パタン形状、耐熱
性、寸法制御性も優れている。
な、高感度で高解像のポジ型レジスト組成物を提供す
る。 【構成】 アニオン重合法を用いて合成されたものであ
り、かつ重量平均分子量が８千より大きく２万より小さ
いポリ（ｐ−ヒドロキシスチレン）、ビス（ｐ−ｔ−ブ
トキシカルボニルメチル）チモールフタレインなる溶解
阻害剤、ビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）ヨードニウム
トリフレートなるオニウム塩、１分子中に１つのアミノ
基と１つのカルギキシル基を含む化合物なる酸失活剤、
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートな
る有機溶媒、及びノニオン系界面活性剤を含むポジ型レ
ジスト組成物。 【効果】 １００ｍＪ／ｃｍ2 以下の感度、０．２μｍ
以上の解像性を満足し、膜厚制御性、パタン形状、耐熱
性、寸法制御性も優れている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロリソグラフィ
技術における化学増幅系のポジ型レジスト組成物に関す
る。
技術における化学増幅系のポジ型レジスト組成物に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】化学増幅レジストは、露光によって生成
する強酸を触媒とし、露光後の熱処理（ポストイクスポ
ージャーベーク、以後、ＰＥＢと略す）によって、酸分
解性官能基の分解あるいは酸架橋性官能基の架橋を促進
することを、パタン形成反応上の特徴とするものであ
る。エキシマレーザ、電子線、Ｘ線等、種々のリソグラ
フィに用いることができるが、触媒反応を利用して増感
することから、高感度が求められる電子線やＸ線を用い
たリソグラフィに特に好適な材料である。リソグラフィ
技術において一般的に言われている要求値は、電子線レ
ジストでは１μＣ／ｃｍ2 、Ｘ線レジストでは１００ｍ
Ｊ／ｃｍ2 である。電子線に感応するレジストはＸ線に
も感応することはよく知られた事実であり、実際、電子
線感度とＸ線感度とは良い相関がある。線源の特性や条
件によっても異なるが、電子線感度の１μＣ／ｃｍ2 は
大体、Ｘ線感度の５０〜１００ｍＪ／ｃｍ2 と対応する
と見積もられる。化学増幅レジストを用いると、ＰＥＢ
条件により自在に感度を調整できるために、感度だけに
着目するならば、このような要求を満たすことは容易で
ある。しかし、レジストは感度だけでなく、解像性、寸
法制御性、耐熱性、ドライエッチング耐性、経時安定
性、膜厚制御性、といった多岐にわたる特性をすべてク
リアしなければ、実用に供することができない。更に、
電子線リソグラフィやＸ線リソグラフィにおいては、光
リソグラフィの適用下限より更に微細な寸法が適用ター
ゲットとなるため、各特性の要求が極めて厳しいものと
なる。そのため、今まで実用に供するに十分な、電子線
用あるいはＸ線用のポジ型レジストはなかったのが実情
である。特にポジ型の化学増幅レジストに特徴的な問題
として、プラズマを用いた基板加工時や、あるいは基板
加工の前処理としてのＵＶキュア時に、酸分解性保護基
が分解してガス化する結果、レジストの膜厚が減少した
り、パタンが歪んだりすることがある。ポリ（ｐ−ｔ−
ブトキシカルボニルオキシスチレン）（ＰＢＯＣＳＴ）
はｔ−ブトキシカルボニル（ｔＢＯｃ）基を４５ｗｔ％
も含むので、これを主成分とする２成分系ポジ型レジス
ト、例えば９０ｗｔ％のＰＢＯＣＳＴを含むレジスト組
成物では、４０ｗｔ％以上の重量損失が起こる。レジス
トの密度はあまり変化しないため、重量損失が膜厚減少
やパタン歪みを引き起こし、深刻な問題となっていた。
これはＰＢＯＣＳＴに限らず、２成分系ポジ型レジスト
では一般に保護基の導入量が多くなるために、共通する
問題である。
する強酸を触媒とし、露光後の熱処理（ポストイクスポ
ージャーベーク、以後、ＰＥＢと略す）によって、酸分
解性官能基の分解あるいは酸架橋性官能基の架橋を促進
することを、パタン形成反応上の特徴とするものであ
る。エキシマレーザ、電子線、Ｘ線等、種々のリソグラ
フィに用いることができるが、触媒反応を利用して増感
することから、高感度が求められる電子線やＸ線を用い
たリソグラフィに特に好適な材料である。リソグラフィ
技術において一般的に言われている要求値は、電子線レ
ジストでは１μＣ／ｃｍ2 、Ｘ線レジストでは１００ｍ
Ｊ／ｃｍ2 である。電子線に感応するレジストはＸ線に
も感応することはよく知られた事実であり、実際、電子
線感度とＸ線感度とは良い相関がある。線源の特性や条
件によっても異なるが、電子線感度の１μＣ／ｃｍ2 は
大体、Ｘ線感度の５０〜１００ｍＪ／ｃｍ2 と対応する
と見積もられる。化学増幅レジストを用いると、ＰＥＢ
条件により自在に感度を調整できるために、感度だけに
着目するならば、このような要求を満たすことは容易で
ある。しかし、レジストは感度だけでなく、解像性、寸
法制御性、耐熱性、ドライエッチング耐性、経時安定
性、膜厚制御性、といった多岐にわたる特性をすべてク
リアしなければ、実用に供することができない。更に、
電子線リソグラフィやＸ線リソグラフィにおいては、光
リソグラフィの適用下限より更に微細な寸法が適用ター
ゲットとなるため、各特性の要求が極めて厳しいものと
なる。そのため、今まで実用に供するに十分な、電子線
用あるいはＸ線用のポジ型レジストはなかったのが実情
である。特にポジ型の化学増幅レジストに特徴的な問題
として、プラズマを用いた基板加工時や、あるいは基板
加工の前処理としてのＵＶキュア時に、酸分解性保護基
が分解してガス化する結果、レジストの膜厚が減少した
り、パタンが歪んだりすることがある。ポリ（ｐ−ｔ−
ブトキシカルボニルオキシスチレン）（ＰＢＯＣＳＴ）
はｔ−ブトキシカルボニル（ｔＢＯｃ）基を４５ｗｔ％
も含むので、これを主成分とする２成分系ポジ型レジス
ト、例えば９０ｗｔ％のＰＢＯＣＳＴを含むレジスト組
成物では、４０ｗｔ％以上の重量損失が起こる。レジス
トの密度はあまり変化しないため、重量損失が膜厚減少
やパタン歪みを引き起こし、深刻な問題となっていた。
これはＰＢＯＣＳＴに限らず、２成分系ポジ型レジスト
では一般に保護基の導入量が多くなるために、共通する
問題である。
【０００３】上述した問題は３成分系レジストでも同様
である。本発明者らが以前に開発した３成分系レジスト
は、ＵＶキュア時における保護基の分解によって重量損
失が約９％起きたが、パタン周囲がレジストで取り囲ま
れることになるホールパタンではパタン変形が顕著とな
り、時には変形が０．１μｍ以上にもなる場合が有っ
た。このことから、ガス化しうる保護基の含有量をレジ
スト全体の９ｗｔ％に抑えても、０．２μｍ級の微細加
工には供するに十分でないことが判った。保護基の分解
及びガス化によるレジストの重量損失をどの程度に抑え
るべきかは、当業者の中でも明確な指針が得られていな
い。しかし、電子線やＸ線リソグラフィにおいても、従
来のフォトリソグラフィと同等以上の寸法精度が必要で
あることから、従来のジアゾナフトキノン−ノボラック
系フォトレジストの重量損失が指針となりうると考えら
れる。フォトレジストでは、ジアゾナフトキノン化合物
の構造や添加量によって異なるが、光化学反応による窒
素の脱離による重量損失はせいぜい３〜４％程度であ
る。したがって、化学増幅ポジ型レジストにおいても、
保護基の脱離による重量損失は少なくとも４％未満に抑
えるべきである。これは一次的には保護基の導入量によ
って決るため、解像性や残膜特性などを犠牲にさえすれ
ば容易に達成できる性質のものであり、既に公知になっ
ている化学増幅ポジ型レジスト組成物においても理論上
では達成されている。しかし、実用に供するに十分なレ
ジストとしての諸特性を有する組成物においては、実現
されていないのが実情である。
である。本発明者らが以前に開発した３成分系レジスト
は、ＵＶキュア時における保護基の分解によって重量損
失が約９％起きたが、パタン周囲がレジストで取り囲ま
れることになるホールパタンではパタン変形が顕著とな
り、時には変形が０．１μｍ以上にもなる場合が有っ
た。このことから、ガス化しうる保護基の含有量をレジ
スト全体の９ｗｔ％に抑えても、０．２μｍ級の微細加
工には供するに十分でないことが判った。保護基の分解
及びガス化によるレジストの重量損失をどの程度に抑え
るべきかは、当業者の中でも明確な指針が得られていな
い。しかし、電子線やＸ線リソグラフィにおいても、従
来のフォトリソグラフィと同等以上の寸法精度が必要で
あることから、従来のジアゾナフトキノン−ノボラック
系フォトレジストの重量損失が指針となりうると考えら
れる。フォトレジストでは、ジアゾナフトキノン化合物
の構造や添加量によって異なるが、光化学反応による窒
素の脱離による重量損失はせいぜい３〜４％程度であ
る。したがって、化学増幅ポジ型レジストにおいても、
保護基の脱離による重量損失は少なくとも４％未満に抑
えるべきである。これは一次的には保護基の導入量によ
って決るため、解像性や残膜特性などを犠牲にさえすれ
ば容易に達成できる性質のものであり、既に公知になっ
ている化学増幅ポジ型レジスト組成物においても理論上
では達成されている。しかし、実用に供するに十分なレ
ジストとしての諸特性を有する組成物においては、実現
されていないのが実情である。
【０００４】また、耐熱性も大きな課題である。ジアゾ
ナフトキノン−ノボラック系フォトレジストの場合は、
アルカリ水溶液による現像の際に、ジアゾナフトキノン
化合物とノボラック樹脂とがジアゾカップリングにより
結合して、実質的に耐熱性が向上する。しかし、従来の
化学増幅ポジ型レジストではそのような機構がないため
に、ノボラック樹脂を主成分として用いると、プラズマ
を用いた基板加工時に熱フローしやすく、耐熱性に問題
があった。これをＵＶキュアで改善しようとしても、キ
ュアが進み難いあるいは長時間を要するといった欠点が
あった。このようなことから高いガラス転移温度を有す
るポリヒドロキシスチレン（ＰＨＳ）を用いるレジスト
が有望であると指摘されている。これまでＰＨＳは他の
材料と相溶し難いとされていたが、特定の構造を有する
化合物とは特定の配合比で相溶することが判ってきたた
め、ＰＨＳを主成分とする３成分系レジストが開発され
つつある。ＰＨＳのオルト、メタ、パラ異性体の中で、
市場で入手できるのは唯一ポリ（ｐ−ヒドロキシスチレ
ン）（ｐ−ＰＨＳ）であり、レジスト組成物の原料とし
ては、入手の容易さと価格の点で他の異性体を選択する
余地はない。特開平３−３４４６８６号公報において
は、ｐ−ＰＨＳとオニウム塩と溶解阻害剤を含む３成分
系の化学増幅ポジ型レジストが開示されている。しか
し、この組成物の解像性はせいぜい０．３μｍであり、
また、感度は明示していないものの、他の樹脂を用いた
実施例３２〜５６の結果より類推すると高々５μＣ／ｃ
ｍ2 に過ぎない。しかも本発明者らの検討によれば、ｐ
−ＰＨＳを用いた３成分系レジスト組成物は、組成比や
溶媒の選択によって、塗布膜のストリエーションが著し
かったり、現像後のレジスト表面にミクロン程度の大き
さのパーティクルが顕著に生じたり、現像後のレジスト
表面にサブミクロン程度の大きさのクレーター状のへこ
みが生じたり、パタンが逆テーパ状になったりするた
め、非常に厳しく組成を限定しないと実用に供するには
不十分であることが判明した。したがって、該発明は実
用に供するに十分とは言い難い。
ナフトキノン−ノボラック系フォトレジストの場合は、
アルカリ水溶液による現像の際に、ジアゾナフトキノン
化合物とノボラック樹脂とがジアゾカップリングにより
結合して、実質的に耐熱性が向上する。しかし、従来の
化学増幅ポジ型レジストではそのような機構がないため
に、ノボラック樹脂を主成分として用いると、プラズマ
を用いた基板加工時に熱フローしやすく、耐熱性に問題
があった。これをＵＶキュアで改善しようとしても、キ
ュアが進み難いあるいは長時間を要するといった欠点が
あった。このようなことから高いガラス転移温度を有す
るポリヒドロキシスチレン（ＰＨＳ）を用いるレジスト
が有望であると指摘されている。これまでＰＨＳは他の
材料と相溶し難いとされていたが、特定の構造を有する
化合物とは特定の配合比で相溶することが判ってきたた
め、ＰＨＳを主成分とする３成分系レジストが開発され
つつある。ＰＨＳのオルト、メタ、パラ異性体の中で、
市場で入手できるのは唯一ポリ（ｐ−ヒドロキシスチレ
ン）（ｐ−ＰＨＳ）であり、レジスト組成物の原料とし
ては、入手の容易さと価格の点で他の異性体を選択する
余地はない。特開平３−３４４６８６号公報において
は、ｐ−ＰＨＳとオニウム塩と溶解阻害剤を含む３成分
系の化学増幅ポジ型レジストが開示されている。しか
し、この組成物の解像性はせいぜい０．３μｍであり、
また、感度は明示していないものの、他の樹脂を用いた
実施例３２〜５６の結果より類推すると高々５μＣ／ｃ
ｍ2 に過ぎない。しかも本発明者らの検討によれば、ｐ
−ＰＨＳを用いた３成分系レジスト組成物は、組成比や
溶媒の選択によって、塗布膜のストリエーションが著し
かったり、現像後のレジスト表面にミクロン程度の大き
さのパーティクルが顕著に生じたり、現像後のレジスト
表面にサブミクロン程度の大きさのクレーター状のへこ
みが生じたり、パタンが逆テーパ状になったりするた
め、非常に厳しく組成を限定しないと実用に供するには
不十分であることが判明した。したがって、該発明は実
用に供するに十分とは言い難い。
【０００５】以上述べてきたように、電子線感度が１μ
Ｃ／ｃｍ2 程度若しくはＸ線感度が１００ｍＪ／ｃｍ2
程度、０．１〜０．２μｍの解像性、プラズマを用いた
基板加工に耐え得る耐熱性、保護基の分解による重量損
失が４％未満、塗布膜厚の均一性、パタン形状、現像後
のレジスト残膜特性、などの観点を満足し、実用に供す
るに十分なほど完成された、電子線若しくはＸ線用の化
学増幅ポジ型レジストはいまだなかった。
Ｃ／ｃｍ2 程度若しくはＸ線感度が１００ｍＪ／ｃｍ2
程度、０．１〜０．２μｍの解像性、プラズマを用いた
基板加工に耐え得る耐熱性、保護基の分解による重量損
失が４％未満、塗布膜厚の均一性、パタン形状、現像後
のレジスト残膜特性、などの観点を満足し、実用に供す
るに十分なほど完成された、電子線若しくはＸ線用の化
学増幅ポジ型レジストはいまだなかった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、高感度かつ
高解像であり、なおかつ耐熱性、寸法制御性、パタン形
状に優れた特性を有する、電子線若しくはＸ線リソグラ
フィに好適な化学増幅ポジ型レジストを提供することに
ある。
高解像であり、なおかつ耐熱性、寸法制御性、パタン形
状に優れた特性を有する、電子線若しくはＸ線リソグラ
フィに好適な化学増幅ポジ型レジストを提供することに
ある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明を概説すれば、本
発明はポジ型レジスト組成物に関する発明であって、ｐ
−ＰＨＳ、溶解阻害剤、オニウム塩、ノニオン系界面活
性剤、酸失活剤、有機溶媒を含むポジ型レジスト組成物
において、前記ｐ−ＰＨＳはアニオン重合法を用いて合
成されたものであって、かつ重量平均分子量が８０００
より大きくて２００００より小さく、前記溶解阻害剤は
下記式（化１）で表されるビス（ｐ−ｔ−ブトキシカル
ボニルメチル）チモールフタレイン（ＢＡＴＰ）であ
り、前記オニウム塩はビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）
ヨードニウムトリフレートであり、前記酸失活剤は１分
子中に１つのアミノ基と１つのカルギキシル基を含む化
合物であり、前記有機溶媒はプロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテートであることを特徴とする。
発明はポジ型レジスト組成物に関する発明であって、ｐ
−ＰＨＳ、溶解阻害剤、オニウム塩、ノニオン系界面活
性剤、酸失活剤、有機溶媒を含むポジ型レジスト組成物
において、前記ｐ−ＰＨＳはアニオン重合法を用いて合
成されたものであって、かつ重量平均分子量が８０００
より大きくて２００００より小さく、前記溶解阻害剤は
下記式（化１）で表されるビス（ｐ−ｔ−ブトキシカル
ボニルメチル）チモールフタレイン（ＢＡＴＰ）であ
り、前記オニウム塩はビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）
ヨードニウムトリフレートであり、前記酸失活剤は１分
子中に１つのアミノ基と１つのカルギキシル基を含む化
合物であり、前記有機溶媒はプロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテートであることを特徴とする。
【０００８】
【化１】
【０００９】主成分となるマトリックス樹脂にはリビン
グアニオン重合を用いて合成されたｐ−ＰＨＳを用い
る。リビングアニオン重合に由来して、重量平均分子量
を数平均分子量で除した比、いわゆる分子量分布が１．
１±０．１のものが特別な工夫を要することなく得られ
る。分子量分布が狭いので、溶媒組成に対する溶解性の
変化が急峻であり、ラジカル重合を用いて合成されたｐ
−ＰＨＳを用いるよりも解像性の向上が図れる。しか
し、分子量が５０００〜６０００の物を用いると０．３
μｍ以下のラインアンドスペース（Ｌ／Ｓ）でパタン間
にブリッジが生じたり、スカムが目立った。これらの現
象は分子量の増加に伴って少なくなるが分子量が８００
０位までは観測された。したがって、分子量８０００よ
り大きくなることが必須となった。一方、分子量が２０
０００以上となると、塗布膜厚の制御が困難になる上
に、解像性も低下したことから、２００００以上は好ま
しくなかった。このようなことから、重量平均分子量は
８０００より大きく、２００００より小さいものとな
り、より好ましくは９０００〜１３０００が好適であっ
た。
グアニオン重合を用いて合成されたｐ−ＰＨＳを用い
る。リビングアニオン重合に由来して、重量平均分子量
を数平均分子量で除した比、いわゆる分子量分布が１．
１±０．１のものが特別な工夫を要することなく得られ
る。分子量分布が狭いので、溶媒組成に対する溶解性の
変化が急峻であり、ラジカル重合を用いて合成されたｐ
−ＰＨＳを用いるよりも解像性の向上が図れる。しか
し、分子量が５０００〜６０００の物を用いると０．３
μｍ以下のラインアンドスペース（Ｌ／Ｓ）でパタン間
にブリッジが生じたり、スカムが目立った。これらの現
象は分子量の増加に伴って少なくなるが分子量が８００
０位までは観測された。したがって、分子量８０００よ
り大きくなることが必須となった。一方、分子量が２０
０００以上となると、塗布膜厚の制御が困難になる上
に、解像性も低下したことから、２００００以上は好ま
しくなかった。このようなことから、重量平均分子量は
８０００より大きく、２００００より小さいものとな
り、より好ましくは９０００〜１３０００が好適であっ
た。
【００１０】溶解阻害剤としては、式（化１）に示すＢ
ＡＴＰを用いる。鋭意検討した結果、フェノールフタレ
インを基本骨格とする類似化合物、すなわち、フェノー
ルフタレイン、クレゾールフタレイン、チモールフタレ
インの３種類のｔ−ブトキシカルボニル誘導体、いわゆ
るｔＢＯｃ化物は、この表記順に従って有機溶媒への溶
解性が悪くなり使用に供するには不都合であった。一
方、これらのｔ−ブトキシカルボニルメチル誘導体は有
機溶媒への溶解性も良く、更にこの順に従って、ｐ−Ｐ
ＨＳに対する溶解阻害効果が大きくなることが判った。
ｔ−ブトキシカルボニルメチル誘導体は酸触媒反応によ
ってカルボン酸を生成するため、レジスト組成物とした
場合に溶解促進効果を発現した。また、副生成物として
はイソブテンを生成するのみのため、分解による重量損
失を低く抑えることができ得る。このようなことから、
チモールフタレインのｔ−ブトキシカルボニルメチル誘
導体、すなわち式（化１）で示される化合物が最も好適
であることが判明した。
ＡＴＰを用いる。鋭意検討した結果、フェノールフタレ
インを基本骨格とする類似化合物、すなわち、フェノー
ルフタレイン、クレゾールフタレイン、チモールフタレ
インの３種類のｔ−ブトキシカルボニル誘導体、いわゆ
るｔＢＯｃ化物は、この表記順に従って有機溶媒への溶
解性が悪くなり使用に供するには不都合であった。一
方、これらのｔ−ブトキシカルボニルメチル誘導体は有
機溶媒への溶解性も良く、更にこの順に従って、ｐ−Ｐ
ＨＳに対する溶解阻害効果が大きくなることが判った。
ｔ−ブトキシカルボニルメチル誘導体は酸触媒反応によ
ってカルボン酸を生成するため、レジスト組成物とした
場合に溶解促進効果を発現した。また、副生成物として
はイソブテンを生成するのみのため、分解による重量損
失を低く抑えることができ得る。このようなことから、
チモールフタレインのｔ−ブトキシカルボニルメチル誘
導体、すなわち式（化１）で示される化合物が最も好適
であることが判明した。
【００１１】酸発生剤としては、下記式（化２）：
【００１２】
【化２】
【００１３】で示されるビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニ
ル）ヨードニウムトリフレート（ＢＰＩＴｆ）を用い
る。金属元素を化学量論的に含まず、なおかつ、化学増
幅を効率良く進める酸発生剤としては、トリフレート系
のオニウム塩が非常に良い特性を示した。該酸発生剤の
代りに、トリフェニルスルホニウムトリフレート、（ｐ
−メトキシフェニル）ジフェニルスルホニウムトリフレ
ート、（ｐ−メトキシフェニル）フェニルヨードニウム
トリフレート、ビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）フェニ
ルスルホニウムトリフレートなどのオニウム塩を用いて
本発明によるところのレジスト組成物を作製しても、現
像後の残膜特性が悪く、本発明者らが検討した中では唯
一ＢＰＩＴｆが良好な残膜特性を示し、したがって優れ
たパタン形状を示した。
ル）ヨードニウムトリフレート（ＢＰＩＴｆ）を用い
る。金属元素を化学量論的に含まず、なおかつ、化学増
幅を効率良く進める酸発生剤としては、トリフレート系
のオニウム塩が非常に良い特性を示した。該酸発生剤の
代りに、トリフェニルスルホニウムトリフレート、（ｐ
−メトキシフェニル）ジフェニルスルホニウムトリフレ
ート、（ｐ−メトキシフェニル）フェニルヨードニウム
トリフレート、ビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）フェニ
ルスルホニウムトリフレートなどのオニウム塩を用いて
本発明によるところのレジスト組成物を作製しても、現
像後の残膜特性が悪く、本発明者らが検討した中では唯
一ＢＰＩＴｆが良好な残膜特性を示し、したがって優れ
たパタン形状を示した。
【００１４】ｐ−ＰＨＳ、ＢＡＴＰ、ＢＰＩＴｆ、の３
成分は本発明によるところのレジスト組成物の主要構成
材料であり、不揮発成分の９９ｗｔ％以上を占める。こ
れら３成分の重量比率をそれぞれａ、ｂ、ｃと記する
と、それらの好適な値は、 ０．１６≦ｂ＜０．３ ０．０４≦ｃ＜０．０７ ａ＋ｂ＋ｃ＝１ ａ、ｂ、ｃは正の値 で表される範囲である。ｂが０．１６よりも小さい時に
は、現像後の残膜特性が悪くてレジスト表面が荒れるこ
とが、垂直入射光の散乱より容易に判別できた。ｂが
０．３以上の場合には、現像時にレジスト表面にパーテ
ィクルが顕著に発生した。ｃは０．０４よりも小さいと
きはレジストの残膜特性が悪く、また、０．０７以上の
場合には、逆テーパ状のパタン形状となった。
成分は本発明によるところのレジスト組成物の主要構成
材料であり、不揮発成分の９９ｗｔ％以上を占める。こ
れら３成分の重量比率をそれぞれａ、ｂ、ｃと記する
と、それらの好適な値は、 ０．１６≦ｂ＜０．３ ０．０４≦ｃ＜０．０７ ａ＋ｂ＋ｃ＝１ ａ、ｂ、ｃは正の値 で表される範囲である。ｂが０．１６よりも小さい時に
は、現像後の残膜特性が悪くてレジスト表面が荒れるこ
とが、垂直入射光の散乱より容易に判別できた。ｂが
０．３以上の場合には、現像時にレジスト表面にパーテ
ィクルが顕著に発生した。ｃは０．０４よりも小さいと
きはレジストの残膜特性が悪く、また、０．０７以上の
場合には、逆テーパ状のパタン形状となった。
【００１５】このような性状は塗布溶媒にも依存して変
化した。例えば、酢酸２−エトキシエチルを用いた場合
には、現像後のレジスト表面に、サブミクロンオーダの
クレータ状のへこみがパタン近傍に所々不規則に生じ
た。また、乳酸エチルを用いるとｂ及びｃの量にほとん
ど依存せずに、パタンは逆テーパ状となった。ジグリム
を用いると相分離し易い性状を示した。酢酸イソアミル
を用いると、均一な塗布膜が得られなかった。当業者に
おいて、いわゆるレジスト溶媒として知られている溶媒
の中では、唯一、プロピレングリコールモノメチルエー
テルアセテート（ＰＧＭＥＡ）のみが、塗布特性、パタ
ン形状、現像後のレジスト表面の荒れ、などの観点で使
用に耐え得る溶媒であった。
化した。例えば、酢酸２−エトキシエチルを用いた場合
には、現像後のレジスト表面に、サブミクロンオーダの
クレータ状のへこみがパタン近傍に所々不規則に生じ
た。また、乳酸エチルを用いるとｂ及びｃの量にほとん
ど依存せずに、パタンは逆テーパ状となった。ジグリム
を用いると相分離し易い性状を示した。酢酸イソアミル
を用いると、均一な塗布膜が得られなかった。当業者に
おいて、いわゆるレジスト溶媒として知られている溶媒
の中では、唯一、プロピレングリコールモノメチルエー
テルアセテート（ＰＧＭＥＡ）のみが、塗布特性、パタ
ン形状、現像後のレジスト表面の荒れ、などの観点で使
用に耐え得る溶媒であった。
【００１６】固形成分とＰＧＭＥＡとの比率は、求める
塗布膜厚に応じて若干変える必要が生じ得る。１例を示
すと、通常のスピン塗布法で０．７〜１．２μｍ程度の
膜厚に塗布する場合では、固形成分は１５〜２０ｗｔ％
程度が好適な濃度である。
塗布膜厚に応じて若干変える必要が生じ得る。１例を示
すと、通常のスピン塗布法で０．７〜１．２μｍ程度の
膜厚に塗布する場合では、固形成分は１５〜２０ｗｔ％
程度が好適な濃度である。
【００１７】主要３成分と塗布溶媒の好適な組成は以上
の通りであるが、これをスピン塗布すると、塗布膜に著
しいストリエーションが生じた。ストリエーションは光
学的なアライメントにおいて重大な問題であり、また、
寸法誤差の原因にもなるので、電子線やＸ線リソグラフ
ィにおいても忌避されるべき問題である。
の通りであるが、これをスピン塗布すると、塗布膜に著
しいストリエーションが生じた。ストリエーションは光
学的なアライメントにおいて重大な問題であり、また、
寸法誤差の原因にもなるので、電子線やＸ線リソグラフ
ィにおいても忌避されるべき問題である。
【００１８】本発明者らは、鋭意検討した結果、カチオ
ン系でもなく、アニオン系でもなく、唯一、ノニオン系
の界面活性剤のみが、パタン形成能を損ねることなく、
ストリエーションを防止できることを見いだした。その
濃度は、レジスト溶液に対して、０．００６５ｗｔ％以
上必要であった。そして０．０５ｗｔ％以上で、現像後
のパタン表面が荒れたため、０．０５ｗｔ％未満が求め
られた。この範囲の中で、レジストのロット再現性と塗
布条件のマージンを検討した結果、０．０１〜０．０３
ｗｔ％がより好ましい範囲であった。
ン系でもなく、アニオン系でもなく、唯一、ノニオン系
の界面活性剤のみが、パタン形成能を損ねることなく、
ストリエーションを防止できることを見いだした。その
濃度は、レジスト溶液に対して、０．００６５ｗｔ％以
上必要であった。そして０．０５ｗｔ％以上で、現像後
のパタン表面が荒れたため、０．０５ｗｔ％未満が求め
られた。この範囲の中で、レジストのロット再現性と塗
布条件のマージンを検討した結果、０．０１〜０．０３
ｗｔ％がより好ましい範囲であった。
【００１９】なお、化学増幅レジストは露光後、ＰＥＳ
までの放置により、レジスト特性が変化し易いが、本発
明におけるレジスト評価ではすべて、ポリ（α−メチル
スチレン）をキシレンを塗布溶媒としてレジストの上層
に塗布して２層構成とし、ＰＥＢ後にキシレンを用いて
はく離するという、オーバーコート法を用いた。これは
直接的に本発明によるところのレジストを何ら、変質や
改善するものではなく、ただ単に、大気中の酸失活性不
純物による悪影響を避けるために用いるものであり、も
し、減圧中、あるいは純度の高い不活性ガス中で露光か
らＰＥＢまでを行うことができたら、不要のものであ
る。このような条件下で塗布を行うことのできる装置は
高価であるために、本実施例でははるかに安価に塗布等
を行えるオーバーコート法を用いた。
までの放置により、レジスト特性が変化し易いが、本発
明におけるレジスト評価ではすべて、ポリ（α−メチル
スチレン）をキシレンを塗布溶媒としてレジストの上層
に塗布して２層構成とし、ＰＥＢ後にキシレンを用いて
はく離するという、オーバーコート法を用いた。これは
直接的に本発明によるところのレジストを何ら、変質や
改善するものではなく、ただ単に、大気中の酸失活性不
純物による悪影響を避けるために用いるものであり、も
し、減圧中、あるいは純度の高い不活性ガス中で露光か
らＰＥＢまでを行うことができたら、不要のものであ
る。このような条件下で塗布を行うことのできる装置は
高価であるために、本実施例でははるかに安価に塗布等
を行えるオーバーコート法を用いた。
【００２０】以上の構成により、非常に高い感度でパタ
ン形成できるレジストを作製することができた。すなわ
ち、レジスト塗布後のプリベークを１１０℃で８０秒
間、加速電圧が３０ｋＶの電子線あるいは中心波長が
０．８ｎｍのシンクロトロン軟Ｘ線を用いて露光後、８
５℃で１２０秒間ＰＥＢ、２．１ｗｔ％のテトラメチル
アンモニウムヒドロキシド（ＴＭＡＨ）水溶液で４０秒
間現像することにより、電子線においては０．８μＣ／
ｃｍ2 、軟Ｘ線では４０ｍＪ／ｃｍ2 の感度を達成する
ことができた。
ン形成できるレジストを作製することができた。すなわ
ち、レジスト塗布後のプリベークを１１０℃で８０秒
間、加速電圧が３０ｋＶの電子線あるいは中心波長が
０．８ｎｍのシンクロトロン軟Ｘ線を用いて露光後、８
５℃で１２０秒間ＰＥＢ、２．１ｗｔ％のテトラメチル
アンモニウムヒドロキシド（ＴＭＡＨ）水溶液で４０秒
間現像することにより、電子線においては０．８μＣ／
ｃｍ2 、軟Ｘ線では４０ｍＪ／ｃｍ2 の感度を達成する
ことができた。
【００２１】しかし、パタン形状を詳しく観察すると、
ラインパタンが中細りし、開口部あるいは基板界面で張
り出す性状が見られた。Ｘ線露光でパタン形成を行う
と、基板に対して垂直なプロファイルの潜像を形成する
ので、原理的には垂直なパタンが形成できるはずである
が、それにも関わらず、特に０．３μｍ以下のパタンで
明りょうとなり、寸法を設計値の±１０％以内に抑える
という制御性を満足するところの最小寸法で解像限界を
定義すると、せいぜい０．３μｍの解像限界しか達成で
きなかった。
ラインパタンが中細りし、開口部あるいは基板界面で張
り出す性状が見られた。Ｘ線露光でパタン形成を行う
と、基板に対して垂直なプロファイルの潜像を形成する
ので、原理的には垂直なパタンが形成できるはずである
が、それにも関わらず、特に０．３μｍ以下のパタンで
明りょうとなり、寸法を設計値の±１０％以内に抑える
という制御性を満足するところの最小寸法で解像限界を
定義すると、せいぜい０．３μｍの解像限界しか達成で
きなかった。
【００２２】ＰＥＢ温度を下げて、感度を４５０ｍＪ／
ｃｍ2 と約一桁下げた条件で露光を行っても、解像限界
は０．２μｍに達せず、プロセス条件で改善できる見通
しは得られなかった。そこで、材料的に改善するために
本発明者らは鋭意検討した結果、１分子中に１つのアミ
ノ基と１つのカルボキシル基を含む化合物をレジスト溶
液にごく微量に添加するだけで、垂直なパタン形状を得
ることに成功し、解像限界はラインパタンで０．２μ
ｍ、ポールパタンでは０．１５μｍを達成するに到っ
た。ラインパタンが０．２μｍまでしか解像しなかった
主原因は、マスク−ウエハ間のギャップを３０μｍとし
たことによるＸ線光学的な問題である。劇的な解像性の
向上が達成できたにもかからず、感度は無添加の場合と
比べて少々低下するのみであった。添加量は、レジスト
固形成分１ｇ当り０．５マイクロモルでパタン形状改善
の効果が出始め、１．２マイクロモル以上で、０．２μ
ｍ設計に対する許容範囲内になった。そして６マイクロ
モル以上で、解像性が逆に低下し、０．２μｍ領域のパ
タンが開口しなくなった。添加量は１．２マイクロモル
／ｇ以上６マイクロモル／ｇ未満であり、更に好適な量
は１．８〜３．７マイクロモル／ｇであった。２．４マ
イクロモル／ｇ添加した場合で感度は５５ｍＪ／ｃｍ2
であり、無添加の場合よりも１５ｍＪ／ｃｍ2 低くなる
だけであった。特に、アントラニル酸、ｍ−あるいはｐ
−アミノ安息香酸が好適であった。
ｃｍ2 と約一桁下げた条件で露光を行っても、解像限界
は０．２μｍに達せず、プロセス条件で改善できる見通
しは得られなかった。そこで、材料的に改善するために
本発明者らは鋭意検討した結果、１分子中に１つのアミ
ノ基と１つのカルボキシル基を含む化合物をレジスト溶
液にごく微量に添加するだけで、垂直なパタン形状を得
ることに成功し、解像限界はラインパタンで０．２μ
ｍ、ポールパタンでは０．１５μｍを達成するに到っ
た。ラインパタンが０．２μｍまでしか解像しなかった
主原因は、マスク−ウエハ間のギャップを３０μｍとし
たことによるＸ線光学的な問題である。劇的な解像性の
向上が達成できたにもかからず、感度は無添加の場合と
比べて少々低下するのみであった。添加量は、レジスト
固形成分１ｇ当り０．５マイクロモルでパタン形状改善
の効果が出始め、１．２マイクロモル以上で、０．２μ
ｍ設計に対する許容範囲内になった。そして６マイクロ
モル以上で、解像性が逆に低下し、０．２μｍ領域のパ
タンが開口しなくなった。添加量は１．２マイクロモル
／ｇ以上６マイクロモル／ｇ未満であり、更に好適な量
は１．８〜３．７マイクロモル／ｇであった。２．４マ
イクロモル／ｇ添加した場合で感度は５５ｍＪ／ｃｍ2
であり、無添加の場合よりも１５ｍＪ／ｃｍ2 低くなる
だけであった。特に、アントラニル酸、ｍ−あるいはｐ
−アミノ安息香酸が好適であった。
【００２３】本発明によるところのレジストは１４０℃
まで熱フローしなかった。そのため、絶縁膜基板のプラ
ズマエッチングにおけるレジストとしてそのままで使用
することができた。従来のノボラック系化学増幅レジス
トは１２０℃程度で熱フローするのに比較して明らかに
高い耐熱性を示した。また、溶解阻害剤の添加量が２０
ｗｔ％の場合で、保護基の分解によるレジスト固形成分
の重量損失は高々３．４％にしかならず、プラズマエッ
チングにおけるレジストの収縮及びそれに伴う寸法変化
が、通常求められる±１０％の寸法制御性を十分に満足
するほど小さいという優れた特徴を具現化することがで
きた。
まで熱フローしなかった。そのため、絶縁膜基板のプラ
ズマエッチングにおけるレジストとしてそのままで使用
することができた。従来のノボラック系化学増幅レジス
トは１２０℃程度で熱フローするのに比較して明らかに
高い耐熱性を示した。また、溶解阻害剤の添加量が２０
ｗｔ％の場合で、保護基の分解によるレジスト固形成分
の重量損失は高々３．４％にしかならず、プラズマエッ
チングにおけるレジストの収縮及びそれに伴う寸法変化
が、通常求められる±１０％の寸法制御性を十分に満足
するほど小さいという優れた特徴を具現化することがで
きた。
【００２４】
【実施例】以下、本発明の感光性組成物を実施例及び比
較例により、詳細に説明するが、本発明はこれら実施例
に限定されない。
較例により、詳細に説明するが、本発明はこれら実施例
に限定されない。
【００２５】なお、各例においては、以下の条件を用い
た。 １）レジスト溶液の調整方法 ｐ−ＰＨＳ、ＢＡＴＰ、ＢＰＩＴｆの所定量を秤量し、
ＰＧＭＥＡに１８ｗｔ％の溶液になるように溶解させ
た。ノニオン系界面活性剤あるいは解像性向上剤を添加
する場合には、この溶液に所定量加えて調合した。塗布
前に０．２μｍのメンブランフィルタでろ過した。 ２）製膜法 レジスト塗布装置として東京エレクトロン社のＭａｒｋ
Ｖを用い、６インチのシリコン基板にレジスト溶液を
スピン塗布し、１１０℃で８０秒間プリベークした。そ
の上層に、ポリスチレン（ポリサイエンス社製）の１０
％キシレン溶液をスピン塗布し、８５℃で６０秒間ベー
クした。 ３）Ｘ線露光 中心波長が０．８ｎｍのシンクロトロン軟Ｘ線を用いた
場合には、マスクはパタン化した０．６５μｍのタンタ
ル吸収体と２μｍの窒化ケイ素メンブランからなるもの
を用い、基板−マスク間隔を３０μｍとして、大気中で
露光した。 ４）電子線露光 電子線で露光する場合には、アプコ社製ＡＢＬ−２００
０描画装置を用い、加速電圧を３０ｋＶ若しくは２０ｋ
Ｖで行った。 ５）現 像 露光した基板は１時間以内にホットプレートを用いて、
８５℃で１２０秒間ＰＥＢした。その後、室温に基板を
回転させながらキシレンをスプレー状に３０秒間吹き付
け、１分間スピン乾燥することによって、ポリスチレン
をはく離した。２．１％のＴＭＡＨ水溶液を用いて、６
０秒間パドル現像し、しかるのちに純水で３０秒間リン
スし、パタンを得た。
た。 １）レジスト溶液の調整方法 ｐ−ＰＨＳ、ＢＡＴＰ、ＢＰＩＴｆの所定量を秤量し、
ＰＧＭＥＡに１８ｗｔ％の溶液になるように溶解させ
た。ノニオン系界面活性剤あるいは解像性向上剤を添加
する場合には、この溶液に所定量加えて調合した。塗布
前に０．２μｍのメンブランフィルタでろ過した。 ２）製膜法 レジスト塗布装置として東京エレクトロン社のＭａｒｋ
Ｖを用い、６インチのシリコン基板にレジスト溶液を
スピン塗布し、１１０℃で８０秒間プリベークした。そ
の上層に、ポリスチレン（ポリサイエンス社製）の１０
％キシレン溶液をスピン塗布し、８５℃で６０秒間ベー
クした。 ３）Ｘ線露光 中心波長が０．８ｎｍのシンクロトロン軟Ｘ線を用いた
場合には、マスクはパタン化した０．６５μｍのタンタ
ル吸収体と２μｍの窒化ケイ素メンブランからなるもの
を用い、基板−マスク間隔を３０μｍとして、大気中で
露光した。 ４）電子線露光 電子線で露光する場合には、アプコ社製ＡＢＬ−２００
０描画装置を用い、加速電圧を３０ｋＶ若しくは２０ｋ
Ｖで行った。 ５）現 像 露光した基板は１時間以内にホットプレートを用いて、
８５℃で１２０秒間ＰＥＢした。その後、室温に基板を
回転させながらキシレンをスプレー状に３０秒間吹き付
け、１分間スピン乾燥することによって、ポリスチレン
をはく離した。２．１％のＴＭＡＨ水溶液を用いて、６
０秒間パドル現像し、しかるのちに純水で３０秒間リン
スし、パタンを得た。
【００２６】比較例１ リビングアニオン重合で合成された、重量平均分子量＝
１０５００、分散度＝１．１のｐ−ＰＨＳを用い、ＢＡ
ＴＰを１４ｗｔ％から３０ｗｔ％まで２％刻みに９水準
変えて添加し、ＢＰＩＴｆを３ｗｔ％から７ｗｔ％まで
１％刻みに５水準変えて添加して、ＰＧＭＥＡに溶解せ
しめてレジスト溶液を調合し、塗布膜厚を０．８〜１．
１μｍとして、Ｘ線露光による評価を行った。現像後に
おける表面荒れ、膜減り、パーティクルの有無、及びＸ
線感度を調べた。図１に結果を示す。すなわち図１は溶
解阻害剤と酸発生剤の添加量を変えた場合のレジスト特
性を示す図であり、格子点は実験した組成を示し、Ａ、
Ｂ、Ｃ、Ｄは領域を示す。なお、横軸はＢＡＴＰ（ｗｔ
％）、縦軸はＢＰＩＴｆ（ｗｔ％）を示す。Ｂの領域
は、現像後にレジスト表面が荒れ、垂直光入射に対して
表面からの散乱光が顕著であった。また、膜減りも０．
１μｍ以上であった。Ｃの領域は現像後にレジスト表面
にパーティクルが顕著に発生した。Ｄの領域はレジスト
パタンが逆テーパ状になった。Ａの領域はこのような表
面荒れ、膜減り、パーティクルの発生などがないか、あ
るいはあっても極めて軽微であり、感度は（４０±４）
ｍＪ／ｃｍ2 であった。
１０５００、分散度＝１．１のｐ−ＰＨＳを用い、ＢＡ
ＴＰを１４ｗｔ％から３０ｗｔ％まで２％刻みに９水準
変えて添加し、ＢＰＩＴｆを３ｗｔ％から７ｗｔ％まで
１％刻みに５水準変えて添加して、ＰＧＭＥＡに溶解せ
しめてレジスト溶液を調合し、塗布膜厚を０．８〜１．
１μｍとして、Ｘ線露光による評価を行った。現像後に
おける表面荒れ、膜減り、パーティクルの有無、及びＸ
線感度を調べた。図１に結果を示す。すなわち図１は溶
解阻害剤と酸発生剤の添加量を変えた場合のレジスト特
性を示す図であり、格子点は実験した組成を示し、Ａ、
Ｂ、Ｃ、Ｄは領域を示す。なお、横軸はＢＡＴＰ（ｗｔ
％）、縦軸はＢＰＩＴｆ（ｗｔ％）を示す。Ｂの領域
は、現像後にレジスト表面が荒れ、垂直光入射に対して
表面からの散乱光が顕著であった。また、膜減りも０．
１μｍ以上であった。Ｃの領域は現像後にレジスト表面
にパーティクルが顕著に発生した。Ｄの領域はレジスト
パタンが逆テーパ状になった。Ａの領域はこのような表
面荒れ、膜減り、パーティクルの発生などがないか、あ
るいはあっても極めて軽微であり、感度は（４０±４）
ｍＪ／ｃｍ2 であった。
【００２７】比較例２ 重量平均分子量が、５５００、６５００、７３００、８
２００、１０５００、１５０００のｐ−ＰＨＳを用い、
ＢＡＴＰの添加量＝２０ｗｔ％、ＢＰＩＴｆの添加量＝
５ｗｔ％のレジスト溶液を６水準調合した。塗布膜厚が
０．６〜１．４μｍとなった。Ｘ線露光によりパタン形
成を行い、０．２μｍのＬ／Ｓパタン領域における、２
μｍ四方に生じたパタン間ブリッジ及びひげ状のスカム
の総数を調べた。図２に示す。すなわち図２はＰＨＳの
重量平均分子量と０．２μｍのＬ／Ｓ領域における２μ
ｍ四方の面積内に現れたパタン間ブリッジ及びスカムの
総数の関係を示すグラフである。図２において横軸は重
量平均分子量、縦軸は（ブリッジ及びスカムの個数）／
４μｍ2 を示す。分子量が５５００〜７３００では１個
以上見られたが、８２００以上では観測されなかった。
２００、１０５００、１５０００のｐ−ＰＨＳを用い、
ＢＡＴＰの添加量＝２０ｗｔ％、ＢＰＩＴｆの添加量＝
５ｗｔ％のレジスト溶液を６水準調合した。塗布膜厚が
０．６〜１．４μｍとなった。Ｘ線露光によりパタン形
成を行い、０．２μｍのＬ／Ｓパタン領域における、２
μｍ四方に生じたパタン間ブリッジ及びひげ状のスカム
の総数を調べた。図２に示す。すなわち図２はＰＨＳの
重量平均分子量と０．２μｍのＬ／Ｓ領域における２μ
ｍ四方の面積内に現れたパタン間ブリッジ及びスカムの
総数の関係を示すグラフである。図２において横軸は重
量平均分子量、縦軸は（ブリッジ及びスカムの個数）／
４μｍ2 を示す。分子量が５５００〜７３００では１個
以上見られたが、８２００以上では観測されなかった。
【００２８】比較例３ 重量平均分子量が１０５００のｐ−ＰＨＳを用い、ＢＡ
ＴＰの添加量＝２０ｗｔ％、ＢＰＩＴｆの添加量＝５ｗ
ｔ％のレジスト溶液を調合した。これにノニオン系の界
面活性剤として、３Ｍ社のＦＣ４３０を添加した。６イ
ンチのシリコン基板に２３００ｒｐｍでスピン塗布した
際に生じるストリエーションを、段差計を用い、２ｍｍ
走査して、数１０μｍの周期で生じた膜厚変動の中の最
大値をもって評価した。測定して得られた膜厚変動の値
はＦＣ４３０の添加量と共に図３に示すように低下し、
レジスト溶液に対して０．０６５ｗｔ％以上の添加で、
５０Ａ以内とすることができた。０．０５ｗｔ％として
も、膜厚変動に影響はなかったが、感度や寸法制御性等
の他の特性への影響を考慮して、０．０１ｗｔ％が最も
好適であった。しかし、パタン形状の垂直性に関しては
不十分であった。なお、図３は界面活性剤の添加量とス
トリエーションによる膜厚変動の関係を示すグラフであ
る。図３において、横軸は界面活性剤添加量（ｗｔ
％）、縦軸は膜厚変動（Ａ）を示す。
ＴＰの添加量＝２０ｗｔ％、ＢＰＩＴｆの添加量＝５ｗ
ｔ％のレジスト溶液を調合した。これにノニオン系の界
面活性剤として、３Ｍ社のＦＣ４３０を添加した。６イ
ンチのシリコン基板に２３００ｒｐｍでスピン塗布した
際に生じるストリエーションを、段差計を用い、２ｍｍ
走査して、数１０μｍの周期で生じた膜厚変動の中の最
大値をもって評価した。測定して得られた膜厚変動の値
はＦＣ４３０の添加量と共に図３に示すように低下し、
レジスト溶液に対して０．０６５ｗｔ％以上の添加で、
５０Ａ以内とすることができた。０．０５ｗｔ％として
も、膜厚変動に影響はなかったが、感度や寸法制御性等
の他の特性への影響を考慮して、０．０１ｗｔ％が最も
好適であった。しかし、パタン形状の垂直性に関しては
不十分であった。なお、図３は界面活性剤の添加量とス
トリエーションによる膜厚変動の関係を示すグラフであ
る。図３において、横軸は界面活性剤添加量（ｗｔ
％）、縦軸は膜厚変動（Ａ）を示す。
【００２９】実施例１ 重量平均分子量が１０５００のｐ−ＰＨＳを用い、ＢＡ
ＴＰの添加量＝２０ｗｔ％、ＢＰＩＴｆの添加量＝５ｗ
ｔ％のレジスト溶液を調合し、更にレジスト溶液に対し
て界面活性剤は０．０１ｗｔ％添加した。酸失活剤とし
て、アントラニル酸を添加した。塗布膜厚は１．０μｍ
とし、Ｘ線露光によりパタン形成した。０．２μｍ径の
ホールパタンにおける、基板界面寸法と開口寸法の差Δ
ｄをもって、パタン形状の垂直性を評価した。結果を図
４に示す。すなわち図４はアントラニル酸の添加量（縦
軸、マイクロモル／レジスト固形分１ｇ）と、０．２μ
ｍ径のホールパタンにおける基板界面寸法と開口寸法の
差で定義したパタン寸法誤差Δｄ（横軸、μｍ）の関係
を示すグラフである。図４に示すように、アントラニル
酸を含まない場合には、Δｄ＝０．１３μｍとなって逆
テーパ状のパタンとなったが、アントラニル酸の添加量
の増加に伴ってΔｄは小さくなり、レジスト固形分１ｇ
当り、２．４マイクロモルのアントラニル酸添加で、垂
直なパタンが得られるようになった。１．２マイクロモ
ルの添加で、Δｄ＝０．０３μｍ以下となり、０．２μ
ｍ以上の解像特性を十分に満足することができた。６マ
イクロモル未満の添加で、他の特性に影響を与えること
なく垂直なパタンが得られた。ただし、最も好適には
２．４マイクロモルで十分であった。
ＴＰの添加量＝２０ｗｔ％、ＢＰＩＴｆの添加量＝５ｗ
ｔ％のレジスト溶液を調合し、更にレジスト溶液に対し
て界面活性剤は０．０１ｗｔ％添加した。酸失活剤とし
て、アントラニル酸を添加した。塗布膜厚は１．０μｍ
とし、Ｘ線露光によりパタン形成した。０．２μｍ径の
ホールパタンにおける、基板界面寸法と開口寸法の差Δ
ｄをもって、パタン形状の垂直性を評価した。結果を図
４に示す。すなわち図４はアントラニル酸の添加量（縦
軸、マイクロモル／レジスト固形分１ｇ）と、０．２μ
ｍ径のホールパタンにおける基板界面寸法と開口寸法の
差で定義したパタン寸法誤差Δｄ（横軸、μｍ）の関係
を示すグラフである。図４に示すように、アントラニル
酸を含まない場合には、Δｄ＝０．１３μｍとなって逆
テーパ状のパタンとなったが、アントラニル酸の添加量
の増加に伴ってΔｄは小さくなり、レジスト固形分１ｇ
当り、２．４マイクロモルのアントラニル酸添加で、垂
直なパタンが得られるようになった。１．２マイクロモ
ルの添加で、Δｄ＝０．０３μｍ以下となり、０．２μ
ｍ以上の解像特性を十分に満足することができた。６マ
イクロモル未満の添加で、他の特性に影響を与えること
なく垂直なパタンが得られた。ただし、最も好適には
２．４マイクロモルで十分であった。
【００３０】実施例２ 実施例１において、アントラニル酸の添加量を２．４マ
イクロモル／ｇとした組成物のＸ線感度及び電子線感度
を調べた。その結果、感度はそれぞれ６２ｍＪ／ｃ
ｍ2 、３０ｋＶにおける電子線感度は１．４μＣ／ｃｍ
2 、２０ｋＶにおける電子線感度は０．９μＣ／ｃｍ2
であった。
イクロモル／ｇとした組成物のＸ線感度及び電子線感度
を調べた。その結果、感度はそれぞれ６２ｍＪ／ｃ
ｍ2 、３０ｋＶにおける電子線感度は１．４μＣ／ｃｍ
2 、２０ｋＶにおける電子線感度は０．９μＣ／ｃｍ2
であった。
【００３１】実施例３ 実施例１において、アントラニル酸の替りにｍ−あるい
はｐ−アミノ安息香酸を等量用いても、効果は全く同じ
であり、同じレジスト特性が得られた。
はｐ−アミノ安息香酸を等量用いても、効果は全く同じ
であり、同じレジスト特性が得られた。
【００３２】
【発明の効果】以上記述したように、本発明によれば、
電子線やＸ線を用いたリソグラフィにおいて１００ｍＪ
／ｃｍ2 以下の優れた感度と０．２μｍ以上の解像性を
有し、膜厚制御性に優れ、プラズマエッチングを用いて
基板をエッチングする際にも、十分な耐熱性と±１０％
以下の寸法制御性を有して忠実に加工できる、ポジ型レ
ジスト組成物を提供できる。特に断面形状の垂直性に優
れるポジ型レジスト組成物を提供できる。
電子線やＸ線を用いたリソグラフィにおいて１００ｍＪ
／ｃｍ2 以下の優れた感度と０．２μｍ以上の解像性を
有し、膜厚制御性に優れ、プラズマエッチングを用いて
基板をエッチングする際にも、十分な耐熱性と±１０％
以下の寸法制御性を有して忠実に加工できる、ポジ型レ
ジスト組成物を提供できる。特に断面形状の垂直性に優
れるポジ型レジスト組成物を提供できる。
【図１】溶解阻害剤と酸発生剤の添加量を変えた場合の
レジスト特性を示す図であり、格子点は実験した組成を
示し、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは領域を示す。
レジスト特性を示す図であり、格子点は実験した組成を
示し、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは領域を示す。
【図２】ｐ−ＰＨＳの重量平均分子量と０．２μｍのＬ
／Ｓ領域における２μｍ四方の面積内に現れたパタン間
ブリッジ及びスカムの総数の関係を示すグラフである。
／Ｓ領域における２μｍ四方の面積内に現れたパタン間
ブリッジ及びスカムの総数の関係を示すグラフである。
【図３】界面活性剤の添加量とストリエーションによる
膜厚変動の関係を示すグラフである。
膜厚変動の関係を示すグラフである。
【図４】アントラニル酸の添加量と、０．２μｍ径のホ
ールパタンにおける基板界面寸法と開口寸法の差で定義
したパタン寸法誤差Δｄの関係を示すグラフである。
ールパタンにおける基板界面寸法と開口寸法の差で定義
したパタン寸法誤差Δｄの関係を示すグラフである。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成６年９月３０日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正内容】
【化１】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００２
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００２】
【従来の技術】化学増幅レジストは、露光によって生成
する強酸を触媒とし、露光後の熱処理（ポストイクスポ
ージャーベーク、以後、ＰＥＢと略す）によって、酸分
解性官能基の分解あるいは酸架橋性官能基の架橋を促進
することを、パタン形成反応上の特徴とするものであ
る。エキシマレーザ、電子線、Ｘ線等、種々のリソグラ
フィに用いることができるが、触媒反応を利用して増感
することから、高感度が求められる電子線やＸ線を用い
たリソグラフィに特に好適な材料である。リソグラフィ
技術において一般的に言われている要求値は、電子線レ
ジストでは１μＣ／ｃｍ２、Ｘ線レジストでは１００ｍ
Ｊ／ｃｍ２である。電子線に感応するレジストはＸ線に
も感応することはよく知られた事実であり、実際、電子
線感度とＸ線感度とは良い相関がある。線源の特性や条
件によっても異なるが、電子線感度の１μＣ／ｃｍ２は
大体、Ｘ線感度の５０〜１００ｍＪ／ｃｍ２と対応する
と見積もられる。化学増幅レジストを用いると、ＰＥＢ
条件により自在に感度を調整できるために、感度だけに
着目するならば、このような要求を満たすことは容易で
ある。しかし、レジストは感度だけでなく、解像性、寸
法制御性、耐熱性、ドライエッチング耐性、経時安定
性、膜厚制御性、といった多岐にわたる特性をすべてク
リアしなければ、実用に供することができない。更に、
電子線リソグラフィやＸ線リソグラフィにおいては、光
リソグラフィの適用下限より更に微細な寸法が適用ター
ゲットとなるため、各特性の要求が極めて厳しいものと
なる。そのため、今まで実用に供するに十分な、電子線
用あるいはＸ線用のポジ型レジストはなかったのが実情
である。特にポジ型の化学増幅レジストに特徴的な問題
として、プラズマを用いた基板加工時や、あるいは基板
加工の前処理としてのＵＶキュア時に、酸分解性保護基
が分解してガス化する結果、レジストの膜厚が減少した
り、パタンが歪んだりすることがある。ポリ（ｐ−ｔ−
ブトキシカルボニルオキシスチレン）（ＰＢＯＣＳＴ）
はｔ−ブトキシカルボニル（ｔＢｏｃ）基を４５ｗｔ％
も含むので、これを主成分とする２成分系ポジ型レジス
ト、例えば９０ｗｔ％のＰＢＯＣＳＴを含むレジスト組
成物では、４０ｗｔ％以上の重量損失が起こる。レジス
トの密度はあまり変化しないため、重量損失が膜厚減少
やパタン歪みを引き起こし、深刻な問題となっていた。
これはＰＢＯＣＳＴに限らず、２成分系ポジ型レジスト
では一般に保護基の導入量が多くなるために、共通する
問題である。
する強酸を触媒とし、露光後の熱処理（ポストイクスポ
ージャーベーク、以後、ＰＥＢと略す）によって、酸分
解性官能基の分解あるいは酸架橋性官能基の架橋を促進
することを、パタン形成反応上の特徴とするものであ
る。エキシマレーザ、電子線、Ｘ線等、種々のリソグラ
フィに用いることができるが、触媒反応を利用して増感
することから、高感度が求められる電子線やＸ線を用い
たリソグラフィに特に好適な材料である。リソグラフィ
技術において一般的に言われている要求値は、電子線レ
ジストでは１μＣ／ｃｍ２、Ｘ線レジストでは１００ｍ
Ｊ／ｃｍ２である。電子線に感応するレジストはＸ線に
も感応することはよく知られた事実であり、実際、電子
線感度とＸ線感度とは良い相関がある。線源の特性や条
件によっても異なるが、電子線感度の１μＣ／ｃｍ２は
大体、Ｘ線感度の５０〜１００ｍＪ／ｃｍ２と対応する
と見積もられる。化学増幅レジストを用いると、ＰＥＢ
条件により自在に感度を調整できるために、感度だけに
着目するならば、このような要求を満たすことは容易で
ある。しかし、レジストは感度だけでなく、解像性、寸
法制御性、耐熱性、ドライエッチング耐性、経時安定
性、膜厚制御性、といった多岐にわたる特性をすべてク
リアしなければ、実用に供することができない。更に、
電子線リソグラフィやＸ線リソグラフィにおいては、光
リソグラフィの適用下限より更に微細な寸法が適用ター
ゲットとなるため、各特性の要求が極めて厳しいものと
なる。そのため、今まで実用に供するに十分な、電子線
用あるいはＸ線用のポジ型レジストはなかったのが実情
である。特にポジ型の化学増幅レジストに特徴的な問題
として、プラズマを用いた基板加工時や、あるいは基板
加工の前処理としてのＵＶキュア時に、酸分解性保護基
が分解してガス化する結果、レジストの膜厚が減少した
り、パタンが歪んだりすることがある。ポリ（ｐ−ｔ−
ブトキシカルボニルオキシスチレン）（ＰＢＯＣＳＴ）
はｔ−ブトキシカルボニル（ｔＢｏｃ）基を４５ｗｔ％
も含むので、これを主成分とする２成分系ポジ型レジス
ト、例えば９０ｗｔ％のＰＢＯＣＳＴを含むレジスト組
成物では、４０ｗｔ％以上の重量損失が起こる。レジス
トの密度はあまり変化しないため、重量損失が膜厚減少
やパタン歪みを引き起こし、深刻な問題となっていた。
これはＰＢＯＣＳＴに限らず、２成分系ポジ型レジスト
では一般に保護基の導入量が多くなるために、共通する
問題である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明を概説すれば、本
発明はポジ型レジスト組成物に関する発明であって、ｐ
−ＰＨＳ、溶解阻害剤、オニウム塩、ノニオン系界面活
性剤、酸失活剤、有機溶媒を含むポジ型レジスト組成物
において、前記ｐ−ＰＨＳはアニオン重合法を用いて合
成されたものであって、かつ重量平均分子量が８０００
より大きくて２００００より小さく、前記溶解阻害剤は
下記式（化１）で表されるビス（ｐ−ｔ−ブトキシカル
ボニルメチル）チモールフタレイン（ＢＡＴＰ）であ
り、前記オニウム塩はビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）
ヨードニウムトリフレートであり、前記酸失活剤は１分
子中に１つのアミノ基と１つのカルボキシル基を含む化
合物であり、前記有機溶媒はプロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテートであることを特徴とする。
発明はポジ型レジスト組成物に関する発明であって、ｐ
−ＰＨＳ、溶解阻害剤、オニウム塩、ノニオン系界面活
性剤、酸失活剤、有機溶媒を含むポジ型レジスト組成物
において、前記ｐ−ＰＨＳはアニオン重合法を用いて合
成されたものであって、かつ重量平均分子量が８０００
より大きくて２００００より小さく、前記溶解阻害剤は
下記式（化１）で表されるビス（ｐ−ｔ−ブトキシカル
ボニルメチル）チモールフタレイン（ＢＡＴＰ）であ
り、前記オニウム塩はビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）
ヨードニウムトリフレートであり、前記酸失活剤は１分
子中に１つのアミノ基と１つのカルボキシル基を含む化
合物であり、前記有機溶媒はプロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテートであることを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１０】溶解阻害剤としては、式（化１）に示すＢ
ＡＴＰを用いる。鋭意検討した結果、フェノールフタレ
インを基本骨格とする類似化合物、すなわち、フェノー
ルフタレイン、クレゾールフタレイン、チモールフタレ
インの３種類のｔ−ブトキシカルボニル誘導体、いわゆ
るｔＢｏｃ化物は、この表記順に従って有機溶媒への溶
解性が悪くなり使用に供するには不都合であった。一
方、これらのｔ−ブトキシカルボニルメチル誘導体は有
機溶媒への溶解性も良く、更にこの順に従って、ｐ−Ｐ
ＨＳに対する溶解阻害効果が大きくなることが判った。
ｔ−ブトキシカルボニルメチル誘導体は酸触媒反応によ
ってカルボン酸を生成するため、レジスト組成物とした
場合に溶解促進効果を発現した。また、副生成物として
はイソブテンを生成するのみのため、分解による重量損
失を低く抑えることができ得る。このようなことから、
チモールフタレインのｔ−ブトキシカルボニルメチル誘
導体、すなわち式（化１）で示される化合物が最も好適
であることが判明した。
ＡＴＰを用いる。鋭意検討した結果、フェノールフタレ
インを基本骨格とする類似化合物、すなわち、フェノー
ルフタレイン、クレゾールフタレイン、チモールフタレ
インの３種類のｔ−ブトキシカルボニル誘導体、いわゆ
るｔＢｏｃ化物は、この表記順に従って有機溶媒への溶
解性が悪くなり使用に供するには不都合であった。一
方、これらのｔ−ブトキシカルボニルメチル誘導体は有
機溶媒への溶解性も良く、更にこの順に従って、ｐ−Ｐ
ＨＳに対する溶解阻害効果が大きくなることが判った。
ｔ−ブトキシカルボニルメチル誘導体は酸触媒反応によ
ってカルボン酸を生成するため、レジスト組成物とした
場合に溶解促進効果を発現した。また、副生成物として
はイソブテンを生成するのみのため、分解による重量損
失を低く抑えることができ得る。このようなことから、
チモールフタレインのｔ−ブトキシカルボニルメチル誘
導体、すなわち式（化１）で示される化合物が最も好適
であることが判明した。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１９】なお、化学増幅レジストは露光後、ＰＥＢ
までの放置により、レジスト特性が変化し易いが、本発
明におけるレジスト評価ではすべて、ポリ（α−メチル
スチレン）をキシレンを塗布溶媒としてレジストの上層
に塗布して２層構成とし、ＰＥＢ後にキシレンを用いて
はく離するという、オーバーコート法を用いた。これは
直接的に本発明によるところのレジストを何ら、変質や
改善するものではなく、ただ単に、大気中の酸失活性不
純物による悪影響を避けるために用いるものであり、も
し、減圧中、あるいは純度の高い不活性ガス中で露光か
らＰＥＢまでを行うことができたら、不要のものであ
る。このような条件下で塗布を行うことのできる装置は
高価であるために、本実施例でははるかに安価に塗布等
を行えるオーバーコート法を用いた。
までの放置により、レジスト特性が変化し易いが、本発
明におけるレジスト評価ではすべて、ポリ（α−メチル
スチレン）をキシレンを塗布溶媒としてレジストの上層
に塗布して２層構成とし、ＰＥＢ後にキシレンを用いて
はく離するという、オーバーコート法を用いた。これは
直接的に本発明によるところのレジストを何ら、変質や
改善するものではなく、ただ単に、大気中の酸失活性不
純物による悪影響を避けるために用いるものであり、も
し、減圧中、あるいは純度の高い不活性ガス中で露光か
らＰＥＢまでを行うことができたら、不要のものであ
る。このような条件下で塗布を行うことのできる装置は
高価であるために、本実施例でははるかに安価に塗布等
を行えるオーバーコート法を用いた。
【手続補正書】
【提出日】平成７年２月７日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項２
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１９】なお、化学増幅レジストは露光後、ＰＥＢ
までの放置により、レジスト特性が変化し易いが、本発
明におけるレジスト評価ではすべて、ポリスチレンをキ
シレンを塗布溶媒としてレジストの上層に塗布して２層
構成とし、ＰＥＢ後にキシレンを用いてはく離するとい
う、オーバーコート法を用いた。これは直接的に本発明
によるところのレジストを何ら、変質や改善するもので
はなく、ただ単に、大気中の酸失活性不純物による悪影
響を避けるために用いるものであり、もし、減圧中、あ
るいは純度の高い不活性ガス中で露光からＰＥＢまでを
行うことができたら、不要のものである。このような条
件下で塗布を行うことのできる装置は高価であるため
に、本実施例でははるかに安価に塗布等を行えるオーバ
ーコート法を用いた。
までの放置により、レジスト特性が変化し易いが、本発
明におけるレジスト評価ではすべて、ポリスチレンをキ
シレンを塗布溶媒としてレジストの上層に塗布して２層
構成とし、ＰＥＢ後にキシレンを用いてはく離するとい
う、オーバーコート法を用いた。これは直接的に本発明
によるところのレジストを何ら、変質や改善するもので
はなく、ただ単に、大気中の酸失活性不純物による悪影
響を避けるために用いるものであり、もし、減圧中、あ
るいは純度の高い不活性ガス中で露光からＰＥＢまでを
行うことができたら、不要のものである。このような条
件下で塗布を行うことのできる装置は高価であるため
に、本実施例でははるかに安価に塗布等を行えるオーバ
ーコート法を用いた。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２５】なお、各例においては、以下の条件を用い
た。 １）レジスト溶液の調整方法 ｐ−ＰＨＳ、ＢＡＴＰ、ＢＰＩＴｆの所定量を秤量し、
ＰＧＭＥＡに１８ｗｔ％の溶液になるように溶解させ
た。ノニオン系界面活性剤あるいは酸失活剤を添加する
場合には、この溶液に所定量加えて調合した。塗布前に
０．２μｍのメンブランフィルタでろ過した。 ２）製膜法 レジスト塗布装置として東京エレクトロン社のＭａｒｋ
Ｖを用い、６インチのシリコン基板にレジスト溶液を
スピン塗布し、１１０℃で８０秒間プリベークした。そ
の上層に、ポリスチレン（ポリサイエンス社製）の１０
％キシレン溶液をスピン塗布し、８５℃で６０秒間ベー
クした。 ３）Ｘ線露光 中心波長が０．８ｎｍのシンクロトロン軟Ｘ線を用いた
場合には、マスクはパタン化した０．６５μｍのタンタ
ル吸収体と２μｍの窒化ケイ素メンブランからなるもの
を用い、基板−マスク間隔を３０μｍとして、大気中で
露光した。 ４）電子線露光 電子線で露光する場合には、アプコ社製ＡＢＬ−２００
０描画装置を用い、加速電圧を３０ｋＶ若しくは２０ｋ
Ｖで行った。 ５）現 像 露光した基板は１時間以内にホットプレートを用いて、
８５℃で１２０秒間ＰＥＢした。その後、室温に基板を
回転させながらキシレンをスプレー状に３０秒間吹き付
け、１分間スピン乾燥することによって、ポリスチレン
をはく離した。２．１％のＴＭＡＨ水溶液を用いて、６
０秒間パドル現像し、しかるのちに純水で３０秒間リン
スし、パタンを得た。
た。 １）レジスト溶液の調整方法 ｐ−ＰＨＳ、ＢＡＴＰ、ＢＰＩＴｆの所定量を秤量し、
ＰＧＭＥＡに１８ｗｔ％の溶液になるように溶解させ
た。ノニオン系界面活性剤あるいは酸失活剤を添加する
場合には、この溶液に所定量加えて調合した。塗布前に
０．２μｍのメンブランフィルタでろ過した。 ２）製膜法 レジスト塗布装置として東京エレクトロン社のＭａｒｋ
Ｖを用い、６インチのシリコン基板にレジスト溶液を
スピン塗布し、１１０℃で８０秒間プリベークした。そ
の上層に、ポリスチレン（ポリサイエンス社製）の１０
％キシレン溶液をスピン塗布し、８５℃で６０秒間ベー
クした。 ３）Ｘ線露光 中心波長が０．８ｎｍのシンクロトロン軟Ｘ線を用いた
場合には、マスクはパタン化した０．６５μｍのタンタ
ル吸収体と２μｍの窒化ケイ素メンブランからなるもの
を用い、基板−マスク間隔を３０μｍとして、大気中で
露光した。 ４）電子線露光 電子線で露光する場合には、アプコ社製ＡＢＬ−２００
０描画装置を用い、加速電圧を３０ｋＶ若しくは２０ｋ
Ｖで行った。 ５）現 像 露光した基板は１時間以内にホットプレートを用いて、
８５℃で１２０秒間ＰＥＢした。その後、室温に基板を
回転させながらキシレンをスプレー状に３０秒間吹き付
け、１分間スピン乾燥することによって、ポリスチレン
をはく離した。２．１％のＴＭＡＨ水溶液を用いて、６
０秒間パドル現像し、しかるのちに純水で３０秒間リン
スし、パタンを得た。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０３Ｆ 7/029 Ｈ０１Ｌ 21/027 (72)発明者 八木橋 不二夫 東京都千代田区大手町２丁目６番１号 信 越化学工業株式会社内 (72)発明者 渡辺 淳 東京都千代田区大手町２丁目６番１号 信 越化学工業株式会社内 (72)発明者 高見沢 稔 東京都千代田区大手町２丁目６番１号 信 越化学工業株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 ポリ（ｐ−ヒドロキシスチレン）、溶解
阻害剤、オニウム塩、ノニオン系界面活性剤、酸失活
剤、有機溶媒を含むポジ型レジスト組成物において、前
記ポリ（ｐ−ヒドロキシスチレン）はアニオン重合法を
用いて合成されたものであって、かつ重量平均分子量が
８０００より大きくて２００００より小さく、前記溶解
阻害剤は下記式（化１）で表されるビス（ｐ−ｔ−ブト
キシカルボニルメチル）チモールフタレインであり、前
記オニウム塩はビス（ｐ−ｔ−ブチルフェニル）ヨード
ニウムトリフレートであり、前記酸失活剤は１分子中に
１つのアミノ基と１つのカルギキシル基を含む化合物で
あり、前記有機溶媒はプロピレングリコールモノメチル
エーテルアセテートであることを特徴とするポジ型レジ
スト組成物。 【化１】 - 【請求項２】 請求項１において組成比が、下記のとお
り： 該ポリ（ｐ−ヒドロキシスチレン）：６５重量部以上か
つ８０重量部以下、 該溶解阻害剤：１６重量部以上かつ７重量部未満、 該オニウム塩：４重量部以上かつ７重量部未満、 該ノニオン系界面活性剤：レジスト溶液に対して０．０
０６５ｗｔ％以上かつ０．０５ｗｔ％未満、 該酸失活剤：該ポリ（ｐ−ヒドロキシスチレン）と該溶
解阻害剤と該オニウム塩の混合組成１ｇ当り、１．２マ
イクロモル以上６マイクロモル未満、 であることを特徴とするポジ型レジスト組成物。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03754194A JP3271728B2 (ja) | 1994-02-14 | 1994-02-14 | ポジ型レジスト組成物 |
| US08/388,508 US5512417A (en) | 1994-02-14 | 1995-02-14 | Positive resist composition comprising a bis (t-butoxycarbonylmethly(thymolphthalein as a dissolution inhibitor |
| KR1019950002706A KR100216109B1 (ko) | 1994-02-14 | 1995-02-14 | 포지티브형 레지스트 조성물 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03754194A JP3271728B2 (ja) | 1994-02-14 | 1994-02-14 | ポジ型レジスト組成物 |
Publications (2)
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