JPH07212658A - 撮像装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＣＣＤの経時変化により点欠陥の発生位置が
変わったり、新たな点欠陥が発生したり、あるいは点欠
陥が消滅したりする状況にも迅速にしかも正確に対応可
能となり、常に点欠陥が発生している箇所に正確に補正
がなされる。 【構成】 撮像装置に電源を投入する毎に、初期状態と
して点欠陥検知モードとなり、絞り機構２を全閉状態に
した上で、ＣＣＤ３出力が異常レベルを示す点欠陥の画
素位置を検知してメモリ８に記憶し、電源がＯＦＦ状態
になるまで、この記憶データに基づいて点欠陥の発生個
所のＣＣＤ３出力を前の画素のレベルで補正し、電源が
ＯＦＦ状態になるとメモリ８の内容はクリアされること
を特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ビデオカメラやカメラ
一体型ＶＴＲのように、固体撮像素子（ＣＣＤ）にて被
写体を撮像して得られた撮像映像信号を得る装置に関
し、特に撮像映像信号中のＣＣＤの点欠陥の影響を受け
た部分の補正処理回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】ビデオカメラやカメラ一体型ＶＴＲに用
いられているＣＣＤの短所の一つとして、点欠陥があ
る。即ち、点欠陥を有するＣＣＤをビデオカメラに用い
ると、撮像画面上に被写体とは関係なく白い点または黒
い点が現れ、見苦しい画面となる。この点欠陥の主な原
因は、ＣＣＤ製造プロセス上での不純物の混入により、
この点欠陥が生じている箇所でＣＣＤ出力が白方向（白
点）あるいは黒方向（黒点）への異常出力となることに
よる。

【０００３】この点欠陥を除去する方法として、完全に
不純物が取り除かれたＣＣＤを選別すれば最良である
が、実際にこのような選別を行えば、ＣＣＤの歩留まり
が著しく悪くなり、ビデオカメラ自体のコストアップに
つながる。

【０００４】そこで、次善の策として、例えば特開昭６
１−５１６７０号公報（Ｇ１１Ｂ２０／１８）が提案さ
れている。この従来技術は、ＣＣＤの良品判別機（ＣＣ
Ｄテスタ）により実際に試験的にＣＣＤによる撮像を行
い、この撮像出力中での画素毎に出力レベルを監視し
て、点欠陥に伴う白あるいは黒の異常レベル及びその発
生箇所を点欠陥情報として記憶素子に記憶しておき、通
常の撮影状態での撮像映像信号を演算回路に入力し、先
に得られた点欠陥情報に基づいて、点欠陥が生じる画素
の映像信号を補正しようとするものである。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、ＣＣＤの点
欠陥には、ＣＣＤ自体の使用時間により出力レベルが変
化したり、ＣＣＤを使用している間に、点欠陥が生じた
り、逆に消滅したりするといったように経時変化が存在
する。そこで、このような点欠陥を前記従来技術のよう
に、予め実験により点欠陥のレベル及び発生位置を決定
してしまうと、経時変化に対応できず、不適当な補正が
為されることになる。

【０００６】また、個々のＣＣＤについて良品判別機で
の分析により予め記憶素子に点欠陥情報をＣＣＤに１：
１に対応させるには、ビデオカメラの組立て工程及び製
造工程において、作業上の負担が大きく、生産性が著し
く悪化する。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は、ＣＣＤ出力で
ある撮像信号の黒レベル期間の所定の第１タイミングに
て第１サンプルホールドパルスを発し、撮像信号の入射
光に依存する信号期間の所定の第２タイミングにて第２
サンプルホールドパルスを発するタイミング信号発生手
段と、第１サンプルホールドパルスに同期して撮像信号
をサンプルホールドする第１サンプルホールド手段と、
第２サンプルホールドパルスに同期して撮像信号をサン
プルホールドする第２サンプルホールド手段と、第２サ
ンプルホールドパルスに同期して第１サンプルホールド
手段出力をサンプルホールドする第３サンプルホールド
手段と、第２サンプルホールド手段出力及び第３サンプ
ルホールド出力の差を算出する減算手段と、電源投入直
後の点欠陥検出モードにおいて、絞り機構にてＣＣＤへ
の入射光の入射を遮断した状態で、ＣＣＤの画素毎に減
算手段出力と所定の基準レベルを比較して、基準レベル
を越える画素を点欠陥画素と判断し点欠陥画素の位置を
検出する点欠陥位置検出手段と、点欠陥画素の位置を点
欠陥位置情報として記憶する記憶手段と、点欠陥検出モ
ードに引き続く通常撮影モードにおいて、点欠陥位置情
報に応じて点欠陥画素に対応するタイミングにおいて第
２サンプルホールドパルスの第２及び第３サンプルホー
ルド手段への入力を遮断するゲート手段を備えることを
特徴とする。特に点欠陥位置検出手段は減算手段出力と
基準レベルを比較する比較手段と、ＣＣＤの駆動クロッ
クパルスをカウントして各画素の位置に対応するカウン
ト値を発するカウンタより成ることを特徴とする。

【０００８】また、別の手段として、ＣＣＤ出力である
撮像信号の黒レベル期間の所定の第１タイミングにて第
１サンプルホールドパルスを発し、撮像信号の入射光に
依存する信号期間の所定の第２タイミングにて第２サン
プルホールドパルスを発するタイミング信号発生手段
と、第１サンプルホールドパルスに同期して撮像信号を
サンプルホールドする第１サンプルホールド手段と、第
２サンプルホールドパルスに同期して撮像信号をサンプ
ルホールドする第２サンプルホールド手段と、第２サン
プルホールドパルスに同期して第１サンプルホールド手
段出力をサンプルホールドする第３サンプルホールド手
段と、第２サンプルホールド手段出力及び第３サンプル
ホールド出力の差を算出する減算手段と、減算手段出力
より垂直及び水平同期信号を付加した映像信号を作成す
る信号処理手段と、電源投入直後の点欠陥検出モードに
おいて、絞り機構にてＣＣＤへの入射光の入射を遮断し
た状態で、ＣＣＤの画素毎に映像信号と所定の基準レベ
ルを比較して、基準レベルを越える画素を点欠陥画素と
判断し、点欠陥画素の位置を検出する点欠陥位置検出手
段と、点欠陥画素の位置を点欠陥位置情報として記憶す
る記憶手段と、点欠陥検出モードに引き続く通常撮影モ
ードにおいて、点欠陥位置情報に応じて点欠陥画素に対
応するタイミングにおいて第２サンプルホールドパルス
の第２及び第３サンプルホールド手段への入力を遮断す
るゲート手段を備えることを特徴とし、特に点欠陥位置
検出手段は映像信号と基準レベルを比較する比較手段
と、水平同期信号にてリセットされ所定のクロックパル
スをカウントして各画素の水平方向の位置に対応するカ
ウント値を発する水平カウンタと、垂直同期信号にてリ
セットされ水平同期信号をカウントして各画素の垂直方
向の位置に対応するカウント値を発する垂直カウンタよ
り成ることを特徴とする。

【０００９】

【作用】本発明は上述のように構成したので、撮像装置
に電源を投入する毎に、ＣＣＤの点欠陥の発生個所を新
たに検知でき、この新しい検知結果に基づいて点欠陥の
補正が逐次為される。

【００１０】

【実施例】以下、図面に従い本発明の一実施例について
説明する。図１は本発明の一実施例に係わるビデオカメ
ラのカメラ部の要部ブロック図である。

【００１１】図１において、１は集光用のレンズ、２は
メカ的な絞り機構、３はＣＣＤイメ−ジャ、４はＣＣＤ
３出力よりノイズを除去するノイズ除去動作と点欠陥の
発生時点で点欠陥の影響を補正する点欠陥補正動作を実
行する相関二重サンプリング回路（ＣＤＳ回路）、６は
通常撮影モードにおいてＣＤＳ回路４出力を信号処理し
て映像信号を作成する信号処理回路、７は点欠陥検知モ
ードにおいてＣＤＳ回路４出力に点欠陥が生じている場
合にその発生位置を検知する点欠陥検知回路、８は点欠
陥がどの画素にて生じているかを示す点欠陥位置情報を
記憶するメモリ、９はメモリ８に記憶されている点欠陥
位置情報に基づいて後段のゲート回路１１の開閉を制御
するゲート制御回路、１０はＣＣＤ３を駆動するクロッ
ク及びＣＤＳ回路４に２種類のサンプルホールドパルス
を出力するタイミングパルス発生回路である。また、１
２はカメラ部への電力供給を制御する電源釦、１３は電
源釦１２の出力を受けてカメラ部を作動させ、カメラ部
を点欠陥検知モードと通常撮影モードのいずれかにモー
ド設定するマイクロコンピュータ（マイコン）である。

【００１２】このカメラ部での各動作は電源釦１２の操
作によりカメラ部に電力供給が為された時点で開始さ
れ、電源釦１２をＯＮしたことがマイコン１３に認識さ
れると、マイコン１３はカメラ部を点欠陥検知モードに
初期設定する。

【００１３】この点欠陥検知モードでは、マイコン１３
は信号処理回路６を非作動にし、同時に絞り機構２を完
全に閉状態にする。従って、レンズ１にて集光された被
写体からの入射光は、絞り機構２によりＣＣＤ３への通
過を阻止される。これにより、全く暗い状態での撮像出
力がＣＣＤ３より後段のＣＤＳ回路４に出力されること
になる。

【００１４】ここで、ＣＣＤイメ−ジャ３は多数のイメ
ージセンサに結合された垂直シフトレジスタとこれらの
垂直シフトレジスタの終端に結合された水平シフトレジ
スタからなる所謂インターライン方式で、タイミングパ
ルス発生回路１０からのクロック信号により駆動する。

【００１５】ＣＤＳ回路４は、ＣＣＤ３出力からノイズ
成分を除去して有効な信号成分のみをできるだけ高いＳ
／Ｎで取り出す周知のノイズ除去動作を、タイミングパ
ルス発生回路１０からのタイミングパルスにより実行す
ると共に、後述するように点欠陥に対する補正動作も併
せて実行する。

【００１６】ここで、ノイズ除去動作に先だってＣＣＤ
３からの出力形態について簡単に説明する。イメージセ
ンサにて１フィールド期間の所定の露光時間において光
電変換して得られた電荷は、垂直シフトレジスタ内を転
送されて、垂直シフトレジスタの終端に配された水平シ
フトレジスタに入力され、この水平シフトレジスタ内の
電荷は、１Ｈ（水平走査期間）をかけてＣＣＤ３の外部
に出力される。

【００１７】この出力に際して、水平シフトレジスタの
最終段まで送られた電荷はフローティングディフュ−ジ
ョン（ＦＤ）へと転送された上で、外部に導出される。
これを図示したものが図２であり、ＡのタイミングでＰ
ＧパルスをＨレベルにして電極ＰＧをＯＮさせると、Ｆ
ＤはＰＤ（プリチャ−ジドレインバイアス）の電位に充
電される。次にＢのタイミングでＰＧパルスをＬレベル
にして電極ＰＧをＯＦＦにすると、この状態ではＦＤは
ハイインピ−ダンスに浮いていることになる。次にＣの
タイミングで電極Ｈ１に対応する井戸のポテンシャルが
浅くなり、電荷はＦＤへ移る。ここでＦＤの等価容量Ｃ
によりＶ＝Ｑ／Ｃの割合で電圧に変換されてＣＣＤ外に
出力される。そして、再びＡのタイミングとなり、Ｈ１
のポテンシャルが深くなって電極ＰＧはＯＮする。この
ようにＦＤの電位は転送される電荷の量に比例して変化
し、これを出力回路のソースフォロワで受けてＣＣＤ出
力とする。尚、図２のＨ１、Ｈ２は２相駆動を為す場合
の２種類の電極を表している。

【００１８】ところで、ＦＤでの雑音として、ソ−スフ
ォロアの雑音とフローティングディフュ−ジョンのリセ
ット時、即ち電極ＰＧをＯＮさせる際の雑音があり、特
に後者の雑音はＫＴＣ雑音と呼ばれ、全ての雑音の中で
特に支配的なものである。尚、このＫＴＣ雑音について
は、昭和６１年１１月３日付けラジオ技術社発行の文献
「ＣＣＤカメラ技術」のＰ６６にも記載があるように周
知のものである。

【００１９】ＣＣＤ出力信号の波形は図３のように示さ
れるが、この図から明らかなように、横軸の時間軸はリ
セット期間ＴＲ、ゼロレベル期間Ｔ０、信号期間ＴＳの
３期間に分かれ、前述のＫＴＣ雑音はリセット期間ＴＲ
にて電圧レベルＶ０として現れる。そこで、通常のＣＤ
Ｓ回路にて、ゼロレベルト期間Ｔ０の電位をクランプし
て信号期間ＴＳでの信号レベルＶＳの信号をサンプルホ
ールドすることにより、ＫＴＣ雑音を除去した信号が得
られる。

【００２０】そこで、このＣＤＳ回路４の構成及び周知
のノイズ除去動作について説明する。ＣＤＳ回路４は、
図４に示されるように、第１〜第３サンプルホールド
（Ｓ／Ｈ）回路４１、４２、４３と減算器４４から構成
され、第１Ｓ／Ｈ回路４１及び第２Ｓ／Ｈ回路４２にＣ
ＣＤ３出力が入力され、タイミングパルス発生回路１０
にて発生される第１サンプルホールドパルス（ＳＨＰ）
に同期してＣＣＤ３出力を第１Ｓ／Ｈ回路４１にてサン
プルホールドし、同じくタイミングパルス発生回路１０
にて発生される第２サンプルホールドパルス（ＳＨＤ）
に同期してＣＣＤ３出力を第２Ｓ／Ｈ回路４２にてサン
プルホールドし、更に、第１Ｓ／Ｈ回路４１出力を第２
サンプルホールドパルス（ＳＨＤ）に同期して第３Ｓ／
Ｈ回路４３にてサンプルホールドし、減算器４４にて第
２Ｓ／Ｈ回路４２出力から第３Ｓ／Ｈ回路４３出力を減
算するように動作する。

【００２１】ここで、第１サンプルホールドパルス（Ｓ
ＨＰ）は図５の（ｂ）のようにＣＣＤ３出力（図５
（ａ））のゼロ期間Ｔ０内の所定のタイミングで発生す
るように設定され、これにより、図５（ｄ）に示すよう
に第１Ｓ／Ｈ回路４１にてＣＣＤ３出力の黒レベルが検
出されることになる。また、第２サンプルホールドパル
ス（ＳＨＤ）は図５の（ｃ）のようにＣＣＤ３出力の信
号期間ＴＳの所定のタイミングで発生するように設定さ
れ、これにより図５（ｆ）に示すように第２Ｓ／Ｈ回路
４２にて信号成分が検出されることになる。

【００２２】ところで、第２Ｓ／Ｈ回路４２出力から第
１Ｓ／Ｈ回路４１出力を減ずれば有効な信号成分を得る
ことができるが、これらの信号にはサンプルホールドパ
ルスの漏れ込みによるノイズが含まれており、このまま
ではＳ／Ｎが悪い。そこで、図５（ｅ）のように第１Ｓ
／Ｈ回路４１出力を第３Ｓ／Ｈ回路４３にて第２サンプ
ルホールドパルス（ＳＨＤ）に同期してサンプルホール
ドすると、この第３Ｓ／Ｈ回路４３出力のパルス漏れに
よるノイズの位相を第２Ｓ／Ｈ回路４２出力に合わせる
ことができる。こうした上で、第２Ｓ／Ｈ回路４２出力
から第３Ｓ／Ｈ回路４３出力を減じれば、図５の（ｇ）
のようにノイズが除去された信号成分を得ることができ
る。

【００２３】この点欠陥検知回路７は、具体的には図６
のようにＣＤＳ回路４出力と所定の基準レベルＥｒとを
レベル比較する比較回路７１と、ＣＣＤ３の電荷転送時
の駆動タイミング信号として用いられるクロック信号を
カウントすると共にイメージセンサの露光出力を垂直レ
ジスタに移行させるタイミングにてリセットされるカウ
ンタ７２と、比較回路７１出力によりカウンタ７２のカ
ウント値をラッチするラッチ回路７３から構成される。

【００２４】この点欠陥検知モードでは、絞り機構２は
完全に閉状態にあるため、点欠陥がなければＣＤＳ回路
４出力は一定の低レベルを維持するはずであるが、点欠
陥が生じていれば図７に示すように、この点欠陥の発生
個所でＣＤＳ回路４出力が基準レベルＥｒ（白点の点欠
陥の発生が生じる閾値であり実験により求められる値）
を上回る異常レベルを示すことになる。従って、比較回
路７１は点欠陥が発生していない状態では常にＬ（ロ
−）レベルの比較結果を出力するが、点欠陥発生個所で
のみＨ（ハイ）レベルの比較結果を出力することにな
る。

【００２５】ラッチ回路７３は比較回路７１からＨレベ
ルの比較結果、即ち点欠陥の発生がが発見されたときに
のみ、カウンタ７２のカウント値をラッチし、このラッ
チデータがメモリ８に点欠陥位置情報として記録され
る。尚、このメモリ８での点欠陥位置情報の記憶に際し
ては、メモリ８の容量を最小限に抑えるために、点欠陥
が生じている画素のみについて、その位置情報を記憶す
るようにすればよく、メモリ８の記憶容量の効率化が図
れ、更にメモリ８にＣＣＤ３の各画素に１：１に対応す
るアドレスを付与する必要がなくなり、ＣＣＤ３のカメ
ラ部への組み込み工程に際しての負担を小さくできる。

【００２６】こうして一画面分の全画素について点欠陥
の検知が完了すると、マイコン１３は直ちにカメラ部を
点欠陥検知モードから通常撮影モードに移行させる。
尚、マイコン１３がこの全画素についての点欠陥の検知
が完了したことを判断するのは、カウンタ７２のカウン
ト値が所定値（全画素分に相当するカウント値で、予め
実験により求められている値）に達した時に完了信号を
マイコン１３に供給することにより可能になるが、これ
以外にもイメージセンサの露光出力が再度、垂直レジス
タに移行されるタイミングをＣＣＤの起動信号にて認識
することによっても実現可能である。

【００２７】通常撮影モードでは、信号処理回路６を作
動させ、逆に点欠陥検知回路７を非作動にしてメモリ８
の点欠陥位置情報の更新は禁止される。また、同時に絞
り機構２の強制的な閉状態を解除して図示省略の露出制
御回路を作動せしめる。この露出制御回路は撮像映像信
号中の輝度信号の平均値が最適露出状態が実現される基
準値に一致するように機械的に入射光量を制御するもの
である。

【００２８】次にこの通常撮影モードでのカメラ部の動
作について説明する。レンズ１を経た入射光は絞り機構
２にて最適露出状態を維持するように光量が調節された
上で、ＣＣＤ３上に結像されて光電変換され、撮像信号
として後段のＣＤＳ回路４に入力される。

【００２９】ＣＤＳ回路４は、前述と同様に撮像信号か
らノイズを除去するノイズ除去動作を実行するが、点欠
陥が生じる画素に関しては、ノイズ除去動作と同時に点
欠陥補正動作を実行する。即ち、ゲート制御回路９がメ
モリ８に記憶されている点欠陥位置情報に基づいて第２
サンプルホールドパルス（ＳＨＤ）のＣＤＳ回路４への
入力を制御し、点欠陥がない画素についてはゲート回路
１１を開いて第２サンプルホールドパルスを無条件で通
過させ、前述のようなノイズ除去動作を行う。逆に点欠
陥がある画素についてはゲート回路１１を閉じてこの画
素に対応する期間だけ第２サンプルホールドパルス（Ｓ
ＨＤ）のＣＤＳ回路４への入力を阻止する。

【００３０】この場合のＣＤＳ回路４の各部の波形は、
図８のようになる。図８の（ａ）はＣＣＤ出力であり、
ある画素に点欠陥が生じていることを示している。図８
の（ｂ）は第１サンプルホールドパルス（ＳＨＰ）を示
し、このパルスにて（ｄ）のようにＣＣＤ出力の黒レベ
ルがサンプルホールドされる。一方、第２サンプルホー
ルドパルス（ＳＨＤ）は点欠陥発生画素においては図８
の（ｃ）のように一時的に第２サンプルホールドパルス
（ＳＨＤ）が欠落して歯抜け状態となり、これにより図
８の（ｆ）のように第２Ｓ／Ｈ回路４２ではＣＣＤ出力
の信号成分、即ち点欠陥による異常レベルのサンプルホ
ールドがこの欠落時点では為されず、第２Ｓ／Ｈ回路４
２出力には１回前のサンプルホールド値を保持される。
同様に図８の（ｅ）のように第３Ｓ／Ｈ回路４３でもこ
の欠落時のサンプルホ−ルドは為されない。従って、減
算器４４にて第２Ｓ／Ｈ回路４２から第３Ｓ／Ｈ回路４
３出力を減算すると、図８の（ｇ）のようにその減算値
は点欠陥が発生する画素については１個前の画素の信号
で置換して点欠陥の補正をしたことになり、点欠陥によ
る異常レベルの発生が防止される。

【００３１】こうしてＣＤＳ回路にてノイズ除去及び点
欠陥の補正が為された撮像信号は信号処理回路６にて周
知の信号処理が為され、水平及び垂直同期信号を付加し
て映像信号に変換されて出力される。

【００３２】以上の点欠陥補正動作を伴う通常撮影モー
ドは、電源釦１２を操作して電源ＯＦＦ状態になるまで
メモリ８の点欠陥位置情報に基づいて継続され、電源が
ＯＦＦされるとメモリ８に記憶されている点欠陥位置情
報は消去される。そして、次に改めて電源がＯＮされる
とカメラ部は再び通常撮影モードに先だって点欠陥検知
モードとなり新しい点欠陥位置情報がメモリ８に記憶さ
れ、これに基づいて点欠陥補正が実行される。

【００３３】前記実施例では、点欠陥検知回路７での比
較回路７１での基準レベルＥｒとの比較の対象には、Ｃ
ＤＳ回路４出力を用いたが、信号処理回路６を点欠陥検
知モードにおいても作動させて、ここから得られる映像
信号と所定の基準レベルと比較することにより点欠陥位
置を検知することも可能である。

【００３４】この場合、点欠陥検知回路７を図９の点欠
陥検知回路９０にて置き換えられる。点欠陥検知回路９
０は、比較回路２７１と、水平同期信号（ＨＳ）にてリ
セットされ、ＣＣＤ３を駆動する所定周期のクロックを
カウントして映像信号により形成される画面の水平方向
の画素位置を示す水平位置データを出力する水平カウン
タ９１と、垂直同期信号（ＶＳ）にてリセットされ水平
同期信号をカウントして画面の垂直方向の画素位置を示
す垂直位置データを出力する垂直カウンタ９２と、比較
回路２７１の比較結果により映像信号が基準レベルＥＲ
（白点の点欠陥の発生が認められる際の閾値で予め実験
により求められる）を上回る異常レベルを示すＨレベル
の比較結果が出力されたときに水平及び垂直カウンタ９
１のカウント値をラッチするラッチ回路９３、９４から
成り、点欠陥を示すＨレベルの比較出力が比較回路２７
１から発せられると直ちに両ラッチ回路９３、９４にて
水平及び垂直位置情報をラッチして、両位置情報をセッ
トにしてメモリ８に記憶するように構成すればよい。

【００３５】また、通常のビデオカメラでは映像信号の
輝度信号の水平方向の輪郭補正処理が為されるが、この
輪郭補正処理用の水平輪郭補正用信号を比較対象にする
こともできる。即ち、映像信号の立ち上がりエッジを強
調するようにして作成した水平輪郭補正用信号は絞り機
構２を完全に閉じた状態で得られる映像信号中の点欠陥
による立ち上がりエッジのみが強調され、ノイズ成分の
影響が映像信号自体よりも小さくなり都合がよい。

【００３６】更に、ＣＤＳ回路４出力をＡ／Ｄ変換器に
よりディジタル値に変換して、撮像信号をディジタル値
にて処理する、所謂ディジタルカメラにおいても採用で
き、この場合、ＣＤＳ回路以降の信号処理はディジタル
的に処理される。

【００３７】尚、前記実施例では、ＣＣＤとしてインタ
ーライン方式のものを用いたが、ＣＤＳ回路を必要とす
るＣＣＤであれば、フレームトランスファー方式等のも
のも使用可能であることは言うまでもない。

【００３８】また、前記実施例では点欠陥としてＣＣＤ
出力が異常に高レベルとなる白点についての補正を説明
したが、異常に低レベルとなる黒点についての補正も可
能であり、この場合には、図１０に示すように、点欠陥
検知回路７において、基準レベルＥｒ２を点欠陥による
黒点の発生が認められる閾値に設定し、比較回路７１へ
のＣＤＳ出力と基準レベルの印加端子を逆にした比較回
路１７１を設け、ＣＤＳ出力が基準レベルＥｒ２を下回
る時にＨレベルの比較出力を発するように構成すれば、
このＨレベルの比較出力の発生タイミングでカウンタ７
２のカウント値がラッチされ点欠陥の位置情報としてメ
モリ８に記憶されることになる。また、同様に図１１に
示すように、点欠陥検知回路９０において、基準レベル
ＥＲ２を点欠陥による黒点の発生が認められる閾値に設
定し、比較回路２７１への映像信号と基準レベルの印加
端子を逆にした比較回路３７１を設け、映像信号が基準
レベルＥＲ２を下回る時にＨレベルの比較出力を発する
ように構成すれば、このＨレベルの比較出力の発生タイ
ミングでカウンタ９１、９２のカウント値がラッチされ
点欠陥の位置情報としてメモリ８に記憶されることにな
る。さらに、図１０のような黒点検知用の比較回路１７
１と図６の白点検知用の比較回路７１を夫々用意し、両
比較回路の論理和出力をラッチ回路７３に出力するよう
に構成するか、あるいは図１１の比較回路３７１と図９
の比較回路２７１を夫々用意し、両比較回路の論理和出
力をラッチ回路９３、９４に出力するように構成すれ
ば、白点及び黒点の両方の点欠陥が検知可能になる。

【００３９】

【発明の効果】上述の如く本発明によれば、撮像装置に
電源を投入する毎に、点欠陥の発生位置を新たに検知し
て、ＣＣＤの経時変化により点欠陥の発生位置が変わっ
たり、新たな点欠陥が発生したり、あるいは点欠陥が消
滅したりする状況にも迅速に対応可能となり、常に点欠
陥が発生している箇所に正確に補正がなされ、撮像信号
あるいは映像信号に異常レベルが生じることを抑えるこ
とが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のブロック図である。

【図２】ＣＣＤの水平転送と電圧の取り出し方法を説明
する図である。

【図３】ＣＣＤ出力波形を示す図である。

【図４】本発明の一実施例の要部ブロック図である。

【図５】本発明の一実施例のＣＤＳ回路での点欠陥非発
生時の波形図である。

【図６】本発明の一実施例の点欠陥検知回路のブロック
図である。

【図７】点欠陥検出を説明する図である。

【図８】本発明の一実施例のＣＤＳ回路の点欠陥発生時
の波形図である。

【図９】本発明の他の実施例の点欠陥検知回路のブロッ
ク図である。

【図１０】本発明の他の実施例の点欠陥検知回路のブロ
ック図である。

【図１１】本発明の他の実施例の点欠陥検知回路のブロ
ック図である。

【符号の説明】 ３ ＣＣＤ ２ 絞り機構 ４１ 第１サンプルホールド回路 ４２ 第２サンプルホールド回路 ４３ 第３サンプルホールド回路 ４４ 減算回路 ７ 点欠陥検知回路 ９０ 点欠陥検知回路 ８ メモリ １１ ゲート回路 ６ 信号処理回路

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入射光を光電変換して撮像信号を出力す
   るＣＣＤと、 該ＣＣＤへの入射光量を調節する絞り機構と、 該撮像信号の黒レベル期間の所定の第１タイミングにて
   第１サンプルホールド信号を発し、前記撮像信号の入射
   光に依存する信号期間の所定の第２タイミングにて第２
   サンプルホールド信号を発するタイミング信号発生手段
   と、 前記第１サンプルホールド信号に同期して前記撮像信号
   をサンプルホールドする第１サンプルホールド手段と、 前記第２サンプルホールド信号に同期して前記撮像信号
   をサンプルホールドする第２サンプルホールド手段と、 前記第２サンプルホールド信号に同期して前記第１サン
   プルホールド手段出力をサンプルホールドする第３サン
   プルホールド手段と、 該第２サンプルホールド手段出力から前記第３サンプル
   ホールド出力を減ずる減算手段と、 点欠陥検出モードにおいて、前記絞り機構にて前記ＣＣ
   Ｄへの入射光の入射を遮断した状態で、前記ＣＣＤの画
   素毎に該減算手段出力と基準レベルを比較して、基準レ
   ベルを越える画素を点欠陥画素と判断し、該点欠陥画素
   の位置を検出する点欠陥位置検出手段と、 該点欠陥画素の位置を点欠陥位置情報として記憶する記
   憶手段と、 通常撮影モードにおいて、前記点欠陥位置情報に応じて
   点欠陥画素に対応するタイミングにおいて前記第２サン
   プルホールド信号の前記第２及び第３サンプルホールド
   手段への入力を遮断するゲート手段を備え、 電源投入直後に前記点欠陥検出モードが実行され、前記
   点欠陥検出モードが終了すると前記通常撮影モードが引
   き続き実行されることを特徴とする撮像装置。
2. 【請求項２】 前記点欠陥位置検出手段は前記減算手段
   出力と前記基準レベルを比較する比較手段と、前記ＣＣ
   Ｄの駆動クロックパルスをカウントして各画素の位置に
   対応するカウント値を発するカウンタよりなる請求項１
   記載の撮像装置。
3. 【請求項３】 入射光を光電変換して撮像信号を出力す
   るＣＣＤと、 該ＣＣＤへの入射光量を調節する絞り機構と、 該撮像信号の黒レベル期間の所定の第１タイミングにて
   第１サンプルホールド信号を発し、前記撮像信号の入射
   光に依存する信号期間の所定の第２タイミングにて第２
   サンプルホールド信号を発するタイミング信号発生手段
   と、 前記第１サンプルホールド信号に同期して前記撮像信号
   をサンプルホールドする第１サンプルホールド手段と、 前記第２サンプルホールド信号に同期して前記撮像信号
   をサンプルホールドする第２サンプルホールド手段と、 前記第２サンプルホールド信号に同期して前記第１サン
   プルホールド手段出力をサンプルホールドする第３サン
   プルホールド手段と、 該第２サンプルホールド手段出力から前記第３サンプル
   ホールド出力を減ずる減算手段と、 前記減算手段出力より垂直及び水平同期信号を付加した
   映像信号を作成する信号処理手段と、 点欠陥検出モードにおいて、前記絞り機構にて前記ＣＣ
   Ｄへの入射光の入射を遮断した状態で、前記ＣＣＤの画
   素毎に該映像信号と基準レベルを比較して、基準レベル
   を越える画素を点欠陥画素と判断し、該点欠陥画素の位
   置を検出する点欠陥位置検出手段と、 該点欠陥画素の位置を点欠陥位置情報として記憶する記
   憶手段と、 通常撮影モードにおいて、前記点欠陥位置情報に応じて
   点欠陥画素に対応するタイミングにおいて前記第２サン
   プルホールド信号の前記第２及び第３サンプルホールド
   手段への入力を遮断するゲート手段を備え、 電源投入直後に前記点欠陥検出モードが実行され、前記
   点欠陥検出モードが終了すると前記通常撮影モードが引
   き続き実行されることを特徴とする撮像装置。
4. 【請求項４】 前記点欠陥位置検出手段は前記映像信号
   と前記基準レベルを比較する比較手段と、水平同期信号
   にてリセットされ所定のクロックパルスをカウントして
   各画素の水平方向の位置に対応するカウント値を発する
   水平カウンタと、垂直同期信号にてリセットされ水平同
   期信号をカウントして各画素の垂直方向の位置に対応す
   るカウント値を発する垂直カウンタより成る請求項２記
   載の撮像装置。