JPH07212081A - 電子部品の自動調整方法 - Google Patents
電子部品の自動調整方法Info
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- JPH07212081A JPH07212081A JP6003888A JP388894A JPH07212081A JP H07212081 A JPH07212081 A JP H07212081A JP 6003888 A JP6003888 A JP 6003888A JP 388894 A JP388894 A JP 388894A JP H07212081 A JPH07212081 A JP H07212081A
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- H01F41/045—Trimming
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子部品の自動調整を適切且つ高速に行うこ
と。 【構成】 電子部品６のもつ可変範囲について、一定間
隔（角度）で出力信号をサンプリングし、得られた調整
部品変化量及び出力信号データ点を基に、この調整部品
変化量−出力信号特性を示す近似関数を簡単な補間代数
演算により求め、調整目標値に到達させるに必要な調整
量を算出するとともに、回路動作上の調整可変範囲にお
ける出力信号の最大値、最小値及び可変幅のデータを実
データを測定することなく得られた関数の演算によって
行うようにした。 【効果】 計測回数の低減により調整検査時間の短縮が
図れる。また、調整部品可変範囲の特性を関数として近
似することができるばかりか、調整部品毎に応答信号が
サンプリングされ近似関数が生成されるため、調整部品
の個体差による影響が排除され、非線形応答特性に対応
可能となる。
と。 【構成】 電子部品６のもつ可変範囲について、一定間
隔（角度）で出力信号をサンプリングし、得られた調整
部品変化量及び出力信号データ点を基に、この調整部品
変化量−出力信号特性を示す近似関数を簡単な補間代数
演算により求め、調整目標値に到達させるに必要な調整
量を算出するとともに、回路動作上の調整可変範囲にお
ける出力信号の最大値、最小値及び可変幅のデータを実
データを測定することなく得られた関数の演算によって
行うようにした。 【効果】 計測回数の低減により調整検査時間の短縮が
図れる。また、調整部品可変範囲の特性を関数として近
似することができるばかりか、調整部品毎に応答信号が
サンプリングされ近似関数が生成されるため、調整部品
の個体差による影響が排除され、非線形応答特性に対応
可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板に実装さ
れたコイル、半固定抵抗器、トリマーコンデンサ等の電
子部品の調整を自動的に行う電子部品の自動調整方法に
関する。
れたコイル、半固定抵抗器、トリマーコンデンサ等の電
子部品の調整を自動的に行う電子部品の自動調整方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】電子部品の自動調整は、プリント基板に
実装されたコイル、半固定抵抗器、トリマーコンデンサ
等の電子部品を、回路動作上の最適値に調整することで
あり、製品の品質向上と工程の完全無人化を目的に開発
されたものである。
実装されたコイル、半固定抵抗器、トリマーコンデンサ
等の電子部品を、回路動作上の最適値に調整することで
あり、製品の品質向上と工程の完全無人化を目的に開発
されたものである。
【０００３】自動調整に際しては、プリント基板上の任
意の測定ポイントにおける信号を最大値に調整する場
合、プリント基板の測定ポイントから信号を取り出し、
その信号が最大点になるまで調整ドライバーで電子部品
の調整部位を回転させる。
意の測定ポイントにおける信号を最大値に調整する場
合、プリント基板の測定ポイントから信号を取り出し、
その信号が最大点になるまで調整ドライバーで電子部品
の調整部位を回転させる。
【０００４】このような調整は、複雑な手順と判断力を
要する場合が多いので、作業者が調整する場合において
も、ある程度熟練した技術が要求される。
要する場合が多いので、作業者が調整する場合において
も、ある程度熟練した技術が要求される。
【０００５】図１及び図２は、上記の電子部品の調整方
法の手順の一例を示すものであり、回路動作上の出力信
号を測定した後、調整部品を回転させつつ出力信号を測
定し、調整目標値との偏差が零になるまで調整を繰り返
す（ステップ１０１〜１０５）。
法の手順の一例を示すものであり、回路動作上の出力信
号を測定した後、調整部品を回転させつつ出力信号を測
定し、調整目標値との偏差が零になるまで調整を繰り返
す（ステップ１０１〜１０５）。
【０００６】また、他の調整方法として、図３及び図４
に示すように、回路動作上の出力信号を測定した後、実
験的或は理論上得られる被調整電子回路上の調整部品の
調整量と回路動作上の出力信号特性を関数化し、関数化
が複雑でない場合には、調整部品の調整量を演算によっ
て求めてから調整部品を回転させて収束させる（ステッ
プ３０１〜３０４）。また、関数演算時間が記憶媒体ア
クセスに要する時間よりも長い場合は、予めテーブルに
セットされている演算結果を参照することによって関数
演算時間の短縮を図るようにしている（ステップ３０
５）。
に示すように、回路動作上の出力信号を測定した後、実
験的或は理論上得られる被調整電子回路上の調整部品の
調整量と回路動作上の出力信号特性を関数化し、関数化
が複雑でない場合には、調整部品の調整量を演算によっ
て求めてから調整部品を回転させて収束させる（ステッ
プ３０１〜３０４）。また、関数演算時間が記憶媒体ア
クセスに要する時間よりも長い場合は、予めテーブルに
セットされている演算結果を参照することによって関数
演算時間の短縮を図るようにしている（ステップ３０
５）。
【０００７】図５及び図６は、これらの自動調整を行う
調整装置の駆動制御部及び計測制御部のフローを示すも
のである。駆動制御部にあっては、停止指令が有るまで
調整部品を回転させるようになっている（ステップ５０
１，５０２）。計測制御部にあっては、調整目標値にな
るまで出力信号測定を行い、調整目標値に達した時点で
停止命令がセットされる（ステップ６０１〜６０３）。
調整装置の駆動制御部及び計測制御部のフローを示すも
のである。駆動制御部にあっては、停止指令が有るまで
調整部品を回転させるようになっている（ステップ５０
１，５０２）。計測制御部にあっては、調整目標値にな
るまで出力信号測定を行い、調整目標値に達した時点で
停止命令がセットされる（ステップ６０１〜６０３）。
【０００８】図７は、図５及び図６のフローに基づいた
出力信号−部品角度特性を示すものである。
出力信号−部品角度特性を示すものである。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】このように、上述した
従来の電子部品の自動調整方法にあっては、調整対象部
品をモータ等で構成された調整機構により調整量を変化
させ、それに対応する電気信号を計測し、電気信号が予
め設定値になるように調整量を変化させて計測を繰り返
し調整していく方法と、実験的に得られた応答信号−調
整量特性から調整量を得て調整する方法とがある。
従来の電子部品の自動調整方法にあっては、調整対象部
品をモータ等で構成された調整機構により調整量を変化
させ、それに対応する電気信号を計測し、電気信号が予
め設定値になるように調整量を変化させて計測を繰り返
し調整していく方法と、実験的に得られた応答信号−調
整量特性から調整量を得て調整する方法とがある。
【００１０】ところが、前者の調整方法では、サンプリ
ングの回数が多く時間がかかるばかりか、応答特性の検
査を行うことができないといった不具合がある。一方、
後者の調整方法では、個体差のある製品や非線形応答特
性に対応することができないばかりか、調整可能範囲を
検査する別工程が必要となってしまうという不具合があ
る。
ングの回数が多く時間がかかるばかりか、応答特性の検
査を行うことができないといった不具合がある。一方、
後者の調整方法では、個体差のある製品や非線形応答特
性に対応することができないばかりか、調整可能範囲を
検査する別工程が必要となってしまうという不具合があ
る。
【００１１】本発明は、このような事情に対処してなさ
れたもので、電子部品の自動調整を適切且つ高速に行う
ことができる電子部品の自動調整方法を提供することを
目的とする。
れたもので、電子部品の自動調整を適切且つ高速に行う
ことができる電子部品の自動調整方法を提供することを
目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、プリント基板に実装された各種電子部品
の調整を行う電子部品の自動調整方法であって、前記各
種電子部品の特性の変化量に応答する出力信号を一定間
隔でサンプリングするステップと、調整の変化量と出力
信号の変化の特性を示す近似関数とを補間代数演算で求
めるステップと、調整目標値へ到達させるに必要な変化
量を算出するステップと、前記各種電子部品の調整量を
前記調整目標値に収束させるステップとを含むことを特
徴とする。
成するために、プリント基板に実装された各種電子部品
の調整を行う電子部品の自動調整方法であって、前記各
種電子部品の特性の変化量に応答する出力信号を一定間
隔でサンプリングするステップと、調整の変化量と出力
信号の変化の特性を示す近似関数とを補間代数演算で求
めるステップと、調整目標値へ到達させるに必要な変化
量を算出するステップと、前記各種電子部品の調整量を
前記調整目標値に収束させるステップとを含むことを特
徴とする。
【００１３】
【作用】本発明の電子部品の自動調整方法では、各種電
子部品の特性の変化量に応答する出力信号を一定間隔で
サンプリングし、調整の変化量と出力信号の変化の特性
を示す近似関数を補間代数演算で求め、調整目標値へ到
達させるに必要な変化量を算出して各種電子部品の調整
量を調整目標値に収束させるようにしたものである。
子部品の特性の変化量に応答する出力信号を一定間隔で
サンプリングし、調整の変化量と出力信号の変化の特性
を示す近似関数を補間代数演算で求め、調整目標値へ到
達させるに必要な変化量を算出して各種電子部品の調整
量を調整目標値に収束させるようにしたものである。
【００１４】したがって、計測回数が減らされるので、
計測の高速化が可能となり、調整に留まらず調整域内の
特性の検査が可能となるばかりか、個体差のある製品や
非線形応答特性にも対応することができる。
計測の高速化が可能となり、調整に留まらず調整域内の
特性の検査が可能となるばかりか、個体差のある製品や
非線形応答特性にも対応することができる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づい
て説明する。図８は、本発明の電子部品の自動調整方法
の一実施例に係る調整検査機を示すものである。
て説明する。図８は、本発明の電子部品の自動調整方法
の一実施例に係る調整検査機を示すものである。
【００１６】すなわち、プリント基板１は、触針プレー
ト２上に基板押えプレート３によって固定されている。
基板押えプレート３の上部には、ドライバビット駆動部
４によって駆動されるドライバビット５が取り付けられ
ている。ドライバビット５は、図９に示すように、プリ
ント基板１に搭載されている被調整部品たる電子部品６
の調整部位を回転させるようになっている。回路動作上
の特性は、計測器７，８によって計測されるようになっ
ており、これらの計測器７，８からの計測値に基づいて
コントローラ９がドライバビット５の駆動量をコントロ
ールする。
ト２上に基板押えプレート３によって固定されている。
基板押えプレート３の上部には、ドライバビット駆動部
４によって駆動されるドライバビット５が取り付けられ
ている。ドライバビット５は、図９に示すように、プリ
ント基板１に搭載されている被調整部品たる電子部品６
の調整部位を回転させるようになっている。回路動作上
の特性は、計測器７，８によって計測されるようになっ
ており、これらの計測器７，８からの計測値に基づいて
コントローラ９がドライバビット５の駆動量をコントロ
ールする。
【００１７】このような構成の調整検査機による電子部
品の調整方法を図１０に示す。すなわち、回路動作上の
出力信号を測定した後、ドライバビット５により電子部
品６の調整部位を回転させる（ステップ１００１，１０
０２）。
品の調整方法を図１０に示す。すなわち、回路動作上の
出力信号を測定した後、ドライバビット５により電子部
品６の調整部位を回転させる（ステップ１００１，１０
０２）。
【００１８】電子部品６の調整部位の回転を可変範囲内
（たとえば１周期分）にて行い、この範囲内の出力信号
の計測を数点行う（ステップ１００３，１００４）。次
いで、サンプリングした数点の計測値から補間演算処理
によって近似関数を算出し、調整目標値への調整量たる
調整角度を算出する（ステップ１００５，１００６）。
（たとえば１周期分）にて行い、この範囲内の出力信号
の計測を数点行う（ステップ１００３，１００４）。次
いで、サンプリングした数点の計測値から補間演算処理
によって近似関数を算出し、調整目標値への調整量たる
調整角度を算出する（ステップ１００５，１００６）。
【００１９】すなわち、図１１に示すように、サンプリ
ング（＋点）した＋点間が補間演算処理によって求めら
れる。ここで、補間演算処理によって算出された近似関
数は、スプライン、ラグランジュ、ニュートン、最小２
乗法等の補間代数演算によって求められたものである。
ング（＋点）した＋点間が補間演算処理によって求めら
れる。ここで、補間演算処理によって算出された近似関
数は、スプライン、ラグランジュ、ニュートン、最小２
乗法等の補間代数演算によって求められたものである。
【００２０】このとき、補間演算処理によって出力信号
の最大値、最小値及び可変幅のデータが実データを測定
することなく同時に得られることになる。
の最大値、最小値及び可変幅のデータが実データを測定
することなく同時に得られることになる。
【００２１】次いで、算出された調整量に基づき、電子
部品６の調整部位が回転され、調整目標値に達するよう
出力信号が収束される（ステップ１００７，１００
８）。
部品６の調整部位が回転され、調整目標値に達するよう
出力信号が収束される（ステップ１００７，１００
８）。
【００２２】このように、本実施例では、電子部品６の
もつ可変範囲について、一定間隔（角度）で出力信号を
サンプリングし、得られた調整部品変化量及び出力信号
データ点を基に、この調整部品変化量−出力信号特性を
示す近似関数を簡単な補間代数演算により求め、調整目
標値に到達させるに必要な調整量を算出するとともに、
回路動作上の調整可変範囲における出力信号の最大値、
最小値及び可変幅のデータを実データを測定することな
く得られた関数の演算によって行うようにしたので、計
測回数の低減により調整検査時間の短縮が図れる。ま
た、調整部品可変範囲の特性を関数として近似すること
ができるばかりか、調整部品毎に応答信号がサンプリン
グされ近似関数が生成されるため、調整部品の個体差に
よる影響が排除され、非線形応答特性に対応可能とな
る。
もつ可変範囲について、一定間隔（角度）で出力信号を
サンプリングし、得られた調整部品変化量及び出力信号
データ点を基に、この調整部品変化量−出力信号特性を
示す近似関数を簡単な補間代数演算により求め、調整目
標値に到達させるに必要な調整量を算出するとともに、
回路動作上の調整可変範囲における出力信号の最大値、
最小値及び可変幅のデータを実データを測定することな
く得られた関数の演算によって行うようにしたので、計
測回数の低減により調整検査時間の短縮が図れる。ま
た、調整部品可変範囲の特性を関数として近似すること
ができるばかりか、調整部品毎に応答信号がサンプリン
グされ近似関数が生成されるため、調整部品の個体差に
よる影響が排除され、非線形応答特性に対応可能とな
る。
【００２３】図１２は、被調整検査対象をプリント基板
ではなくユニット或はモジュールとし、外部信号の供給
と出力信号の取得をコネクタによって行う場合の他の実
施例を示すものである。
ではなくユニット或はモジュールとし、外部信号の供給
と出力信号の取得をコネクタによって行う場合の他の実
施例を示すものである。
【００２４】すなわち、コネクタ１１を介して得られる
被調整検査対象１０の出力信号を計測モジュール１２に
てディジタル信号に変換し、演算回路１３によって出力
信号の検査と調整の結果を演算し、調整目標値に収束さ
せるに必要な制御信号を送出することによりモータ駆動
回路１４を介してモータ１５が駆動される。
被調整検査対象１０の出力信号を計測モジュール１２に
てディジタル信号に変換し、演算回路１３によって出力
信号の検査と調整の結果を演算し、調整目標値に収束さ
せるに必要な制御信号を送出することによりモータ駆動
回路１４を介してモータ１５が駆動される。
【００２５】この場合、汎用の計測器を使用することな
く出力特性の調整が可能となるばかりか、より高速な調
整検査が可能となる。
く出力特性の調整が可能となるばかりか、より高速な調
整検査が可能となる。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子部品
の自動調整方法によれば、各種電子部品の特性の変化量
に応答する出力信号を一定間隔でサンプリングし、調整
の変化量と出力信号の変化の特性を示す近似関数を補間
代数演算で求め、調整目標値へ到達させるに必要な変化
量を算出して各種電子部品の調整量を調整目標値に収束
させるようにしたものである。
の自動調整方法によれば、各種電子部品の特性の変化量
に応答する出力信号を一定間隔でサンプリングし、調整
の変化量と出力信号の変化の特性を示す近似関数を補間
代数演算で求め、調整目標値へ到達させるに必要な変化
量を算出して各種電子部品の調整量を調整目標値に収束
させるようにしたものである。
【００２７】したがって、計測回数が減らされるので、
計測の高速化が可能となり、調整に留まらず調整域内の
特性の検査が可能となるばかりか、個体差のある製品や
非線形応答特性にも対応することができるので、電子部
品の自動調整を適切且つ高速に行うことができる。
計測の高速化が可能となり、調整に留まらず調整域内の
特性の検査が可能となるばかりか、個体差のある製品や
非線形応答特性にも対応することができるので、電子部
品の自動調整を適切且つ高速に行うことができる。
【図１】従来の電子部品の調整方法の手順の一例を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図２】図１の調整方法の手順に基づく出力信号−部品
角度特性を示す図である。
角度特性を示す図である。
【図３】従来の電子部品の調整方法の手順の他の例を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図４】図３の調整方法の手順に基づく出力信号−部品
角度特性を示す図である。
角度特性を示す図である。
【図５】従来の自動調整を行う調整装置の駆動制御部の
フローを示す図である。
フローを示す図である。
【図６】従来の自動調整を行う調整装置の計測制御部の
フローを示す図である。
フローを示す図である。
【図７】図５及び図６の制御フローに基づく出力信号−
部品角度特性を示す図である。
部品角度特性を示す図である。
【図８】本発明の電子部品の自動調整方法の一実施例に
係る調整検査機を示す図である。
係る調整検査機を示す図である。
【図９】図８のドライバビットを示す図である。
【図１０】図８の調整検査機の動作を示すフローチャー
トである。
トである。
【図１１】図８の調整検査機の動作を示す図である。
【図１２】被調整検査対象をプリント基板ではなくユニ
ット或はモジュールとし、外部信号の供給と出力信号の
取得をコネクタによって行う場合の他の実施例を示す図
である。
ット或はモジュールとし、外部信号の供給と出力信号の
取得をコネクタによって行う場合の他の実施例を示す図
である。
１ プリント基板 ２ 触針プレート ３ 基板押えプレート ４ ドライバビット駆動部 ５ ドライバビット ６ 電子部品 ７，８ 計測器 ９ コントローラ
Claims (1)
- 【請求項１】 プリント基板に実装された各種電子部品
の調整を行う電子部品の自動調整方法であって、 前記各種電子部品の特性の変化量に応答する出力信号を
一定間隔でサンプリングするステップと、 調整の変化量と出力信号の変化の特性を示す近似関数と
を補間代数演算で求めるステップと、 調整目標値へ到達させるに必要な変化量を算出するステ
ップと、 前記各種電子部品の調整量を前記調整目標値に収束させ
るステップとを含むことを特徴とする電子部品の自動調
整方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00388894A JP3259937B2 (ja) | 1994-01-19 | 1994-01-19 | 電子部品の自動調整方法 |
| US08/374,124 US5548537A (en) | 1994-01-19 | 1995-01-18 | Adjusting method for an electronic part |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00388894A JP3259937B2 (ja) | 1994-01-19 | 1994-01-19 | 電子部品の自動調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07212081A true JPH07212081A (ja) | 1995-08-11 |
| JP3259937B2 JP3259937B2 (ja) | 2002-02-25 |
Family
ID=11569725
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00388894A Expired - Fee Related JP3259937B2 (ja) | 1994-01-19 | 1994-01-19 | 電子部品の自動調整方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5548537A (ja) |
| JP (1) | JP3259937B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006080197A (ja) * | 2004-09-08 | 2006-03-23 | Juki Corp | 電子部品実装装置における吸着ノズルの位置補正方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11191513A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-07-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 回路基板、および回路基板におけるインダクタンスまたはキャパシタンスの調整方法 |
| DE102007054454B4 (de) * | 2007-11-13 | 2010-08-26 | Tyco Electronics Amp Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Bestücken von Leiterplatten mit Kontaktstiften |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2977535A (en) * | 1958-08-20 | 1961-03-28 | Itt | Automatic digital evaluator |
| US4300196A (en) * | 1975-09-15 | 1981-11-10 | Western Electric Co., Inc. | Method of adjusting circuit components |
| US4686627A (en) * | 1984-12-24 | 1987-08-11 | Honeywell Inc. | Electrical test apparatus |
| JPH0777302B2 (ja) * | 1985-12-06 | 1995-08-16 | ソニー株式会社 | 自動調整装置 |
-
1994
- 1994-01-19 JP JP00388894A patent/JP3259937B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-01-18 US US08/374,124 patent/US5548537A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006080197A (ja) * | 2004-09-08 | 2006-03-23 | Juki Corp | 電子部品実装装置における吸着ノズルの位置補正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5548537A (en) | 1996-08-20 |
| JP3259937B2 (ja) | 2002-02-25 |
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