JPH07211599A - コンデンサ用エージング検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 コンデンサの漏れ電流を検査する際に使用さ
れるコンデンサ用エージング検査装置に関し、コストダ
ウン、小型化が図れるコンデンサ用エージング検査装置
を提供することを目的とする。 【構成】 ＬＣ検査・冷却部１１をドラム１５の外周部
に配置することにより、パレット搬送部をなくし装置の
コストを従来の２／３に、大きさは１／２にすることが
できる。また、パレット１３の一端に数個の給電接点を
設けて給電部と接続し、複数のコンデンサ１７に電圧印
加しエージングするようにしているため、給電接点のメ
ンテナンスを容易にし、給電接点不良によるエージン
グ、ＬＣ検査の信頼性の低下、不良率の増加を抑えるこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はコンデンサの漏れ電流を
検査する際に使用されるコンデンサ用エージング検査装
置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、コンデンサは電子機器市場の拡大
ならびに高性能化、小型化によりその特徴を生かして市
場を拡大しており、電子機器の高性能化、小型化の流れ
はますます進展を続け、コンデンサに対する高性能、高
信頼性の要求は年々厳しくなっている。

【０００３】以下に、従来のコンデンサ用エージング検
査装置について説明する。図８は従来のコンデンサ用エ
ージング検査装置の概要を示した斜視図であり、コンデ
ンサ８３を供給・取出しする搬送部８１により搬送され
てきたコンデンサ８３を移し替え部８２でパレット８４
に移し替え、パレット８４をパレット移し替え部８６で
ドラム８７に移し替える。ドラム８７はパレット８４と
共に加熱炉８８内を回転し、コンデンサ８３はその際所
定温度に加熱されると共に電圧を印加されてエージング
される。エージングが終了したコンデンサ８３はパレッ
ト８４と共にパレット移し替え部８６によりパレット搬
送部８５に移し替えられた後、パレット搬送部８５上に
設けたＬＣ検査部８９によりコンデンサ８３の漏れ電流
検査（以下、ＬＣ検査という）を行う。ＬＣ検査を行っ
たコンデンサ８３は、移し替え部８２で搬送部８１に移
し替えられて搬送される。

【０００４】また、このコンデンサ用エージング検査装
置のＬＣ検査部８９の構成を示した回路図を図９に示
す。図９（ａ）はコンデンサのエージング時の回路図
を、同（ｂ）はＬＣ検査時の回路図を示し、エージング
は各コンデンサ８３ごとにパレット８４に設けた給電接
点９１を電源９４に接続された給電レール９８に当て、
コンデンサ８３に印加電圧を加えることにより行われ
る。なお、パレット８４にはコンデンサ８３がショート
しても他のコンデンサ８３のエージングに影響を及ぼさ
ないように抵抗９２，９３が各回路に取り付けられてい
る。

【０００５】また、ＬＣ検査時には給電接点９１と給電
レール９８の接続を切り離してコンデンサ８３への電圧
印加を中止し、＋側電源接点９７とＬＣ検査回路９５に
接続されたＬＣ検査接点９６をコンデンサ８３の陽極と
陰極にそれぞれ接続することにより行われる構成となっ
ていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のコンデンサ用エージング検査装置では、ＬＣ検査を行
う際には給電接点９１と給電レール９８の接続を切り離
してエージングのためのコンデンサ８３への電圧印加を
中止しなくてはならないためにＬＣ検査部８９をドラム
８７の外周部に配置することは困難であり、また、ＬＣ
検査部８９をドラム８７の外周部以外の場所に配置する
場合には、パレット搬送部８５が新たに必要になり、そ
のために装置が大型化し、コストアップとなる問題があ
った。

【０００７】また、各コンデンサ８３ごとに給電接点を
介して電圧印加を行っているため、装置全体では数万個
の給電接点９１が必要で、メンテナンスが難しく、かつ
給電接点９１の不良によるエージングおよびＬＣ検査の
信頼性低下、製品不良率の増加等の問題も有していた。

【０００８】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、コンデンサ用エージング検査装置のコストダウン、
小型化が図れると共に、給電接点のメンテナンスを容易
にし、エージング、ＬＣ検査の信頼性向上、製品不良率
の低減も達成できるコンデンサ用エージング検査装置を
提供することを目的とするものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明のコンデンサ用エージング検査装置は、複数の
コンデンサを保持すると共に保持したコンデンサをエー
ジングするために電圧を印加する電極を備えたパレット
を外周に等間隔に複数個結合した間欠回転するドラム
と、このドラムの外周部に配置され上記パレットに保持
されたコンデンサを所定の温度に加熱する加熱炉と、こ
の加熱炉の終端部に隣接しかつドラムの外周部に配置さ
れ上記パレットに保持されたコンデンサの漏れ電流を検
査するＬＣ検査・冷却部と、上記パレットに設けた電極
に電圧を印加する給電部と、複数のコンデンサを定間隔
で保持し所定数量を間欠搬送するベルトを用いた搬送部
と、この搬送部により所定数量間欠搬送されたコンデン
サを上記ドラムに結合されたパレットに移し替えたり、
あるいはＬＣ検査・冷却部で検査を終えたコンデンサを
搬送部に移し替えたりする移し替え部からなる構成とし
たものである。

【００１０】

【作用】上記構成により、ＬＣ検査・冷却部をドラムの
外周部に配置することによってパレット搬送部をなくす
ことができるため、装置のコストダウンならびに小型化
が図れる。

【００１１】また、パレットの一端を数個の給電接点で
給電部と接続し、複数のコンデンサに同時に電圧印加し
てエージングするようにしているため、給電接点のメン
テナンスを容易にし、給電接点不良によるエージング、
ＬＣ検査の信頼性の低下、不良率の増加を抑えることが
できる。

【００１２】

【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て説明する。

【００１３】図１は同実施例によるコンデンサ用エージ
ング検査装置の概要を示したものであり、図１において
１６は複数のコンデンサ１７を定間隔で保持すると共に
所定数量を間欠搬送するように構成されたベルトからな
る搬送部、１５は間欠回転するドラム、１２はこのドラ
ム１５の周縁に設けられた加熱炉、１１は同じくドラム
１５の周縁でかつ上記加熱炉１２の終端に隣接して設け
られたＬＣ検査・冷却部、１３は上記ドラム１５の外周
に等間隔に複数個結合されて加熱炉１２内ならびにＬＣ
検査・冷却部１１内を間欠移動するパレット、１４は上
記搬送部１６により間欠搬送されたコンデンサ１７をパ
レット１３に移し替えたり、あるいはこの逆の動作を行
ったりする移し替え部である。

【００１４】このように構成された本発明のコンデンサ
用エージング検査装置について、以下に動作順に各部の
詳細を説明する。

【００１５】まず、搬送部１６により所定数量が間欠搬
送されてきた複数のコンデンサ１７を移し替え部１４に
より所定数量を１回分としてパレット１３に移し替え
る。

【００１６】図２はこの移し替え部１４の構成を示す斜
視図であり、コンデンサ１７を保持するチャック２０
ａ，２０ｂを複数個（図面では両端部のみ図示し、中央
部は省略している）備えた揺動する保持板２１を支持枠
２２の一端に回動自在に取付けて構成され、図示しない
外力により上記チャック２０ａ，２０ｂを開いて所定数
量のコンデンサ１７を同時に保持し、保持板２１を揺動
させて下端に待ち受けるパレット１３に所定数量のコン
デンサ１７を同時に移し替えるようにするものである。

【００１７】図３は上記加熱炉１２の構成を示す斜視図
であり、この加熱炉１２は上記図１に示したドラム１５
の外周部に取付けられ、温風発生器３１により加熱炉１
２内に温風を供給し、加熱炉１２内が所定の温度に保た
れるように断熱構造にしている。

【００１８】このように構成された加熱炉１２内をパレ
ット１３に保持されたコンデンサ１７を通過させること
により、コンデンサ１７は１００℃強に加熱されると同
時に、後述する給電部からの印加電圧を受けてエージン
グが行われる。

【００１９】図４は給電部の構成を示したものであり、
図４において４１は給電レール、４２はパレット１３の
一端に取付けられた１組の給電接点、４３は電源であ
る。

【００２０】上記移し替え部１４で複数個のコンデンサ
１７を保持してドラム１５と共に間欠回転するパレット
１３は、電源４３を接続した給電レール４１と給電接点
４２が常時接触しているために電源４３から電圧を印加
され、このパレット１３に保持された複数のコンデンサ
１７に同時に均等に電圧を印加するものである。

【００２１】図５はＬＣ検査・冷却部１１の構成を示し
たものであり、同図において１３は複数の（図面では一
部のみ記載し、他は省略している）コンデンサ１７を保
持したパレット、１７ａはコンデンサ１７の陰極端子、
４１は給電レール、５６はＬＣ検査・冷却部１１内に組
込まれた冷却ファン、５１はコンデンサ１７の陰極端子
１７ａに押し当てて漏れ電流を検査するＬＣ検査接点、
５２はプラス側電源接点、５３はプラス側電源端子、５
４はマイナス側電源接点、５５はマイナス側電源端子、
５７はＬＣ検査接点５１とプラス側電源接点５２とマイ
ナス側電源接点５４が取付けられた接点取付板である。

【００２２】このように構成されたＬＣ検査・冷却部１
１では、上記加熱炉１２で加熱と電圧印加によりエージ
ングを行ったコンデンサ１７を冷却ファン５６で常温ま
で冷却すると同時にコンデンサ１７の漏れ電流を検査す
るＬＣ検査を行うものであり、このＬＣ検査の詳細を図
６を用いて説明する。

【００２３】図６において、まず電源４３のプラス極６
１に接続されたプラス側電源接点５２をプラス側電極６
３に接続されたプラス側電源端子５３に押し当てる。ま
た、同様に電源４３のマイナス極６２に接続されたマイ
ナス側電源接点５４をマイナス側電極６４に接続された
マイナス側電源端子５５に押し当てる。ここで、ＬＣ検
査接点５１を上記図５に示したコンデンサ１７の陰極端
子１７ａに押し当ててＬＣ値を測定することができる。
なお、この場合、エージングのための給電接点４２と給
電レール４１との接触は維持した状態のままである。

【００２４】また、このようにＬＣ検査を行う際の本発
明のコンデンサ用エージング検査装置の概略回路図を図
７に示す。図７において明らかなようにＬＣ検査の際、
電源４３に接続されたプラス側電源接点５２とマイナス
側電源接点５４を新たにコンデンサ１７に接続している
のは、給電レール４１と給電接点４２との間には接触抵
抗がありＬＣ検査精度を悪化させるため、その影響をな
くすためである。また、７１と６６はコンデンサ１７が
ショートしても他のコンデンサ１７のエージングに影響
を及ぼさないように設けられた抵抗である。

【００２５】このようにしてＬＣ検査を終えたコンデン
サ１７は、移し替え部１４によりパレット１３から搬送
部１６へ移し替えられて搬送され、作業が終了するもの
である。また、同図において７２はＬＣ検査回路を示す
ものである。

【００２６】

【発明の効果】以上のように本発明のコンデンサ用エー
ジング検査装置によれば、ＬＣ検査部をドラムの外周部
に配置することができるためにパレット搬送部をなくす
ことができ、このために同装置のコストを従来の約２／
３に引き下げることができるばかりでなく、大きさは従
来の約１／２にすることができる。

【００２７】また、パレットの一端に数個の給電接点を
設けて給電部と接続し、複数のコンデンサに電圧印加し
エージングするようにしているため、給電接点のメンテ
ナンスを容易にし、給電接点不良によるエージング、Ｌ
Ｃ検査の信頼性の低下、不良率の増加を抑えることがで
きるなど、多くの効果を得ることができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例によるコンデンサ用エージン
グ検査装置の概要を示す斜視図

【図２】同移し替え部の構成を示す斜視図

【図３】同加熱炉の構成を示す斜視図

【図４】同給電部の構成を示す斜視図

【図５】同ＬＣ検査・冷却部の構成を示す一部切欠斜視
図

【図６】同ＬＣ検査部を示す斜視図

【図７】同ＬＣ検査部の検査回路構成を示す回路図

【図８】従来のコンデンサ用エージング検査装置の概要
を示す斜視図

【図９】（ａ）従来のコンデンサ用エージング検査装置
のエージング時の回路構成を示す回路図 （ｂ）同ＬＣ検査時の回路構成を示す回路図

【符号の説明】

１１ ＬＣ検査・冷却部 １２ 加熱炉 １３ パレット １４ 移し替え部 １５ ドラム １６ 搬送部 １７ コンデンサ １７ａ コンデンサの陰極端子 ２０ａ，２０ｂ チャック ２１ 保持板 ２２ 支持枠 ３１ 温風発生器 ４１ 給電レール ４２ 給電接点 ４３ 電源 ５１ ＬＣ検査接点 ５２ プラス側電源接点 ５３ プラス側電源端子 ５４ マイナス側電源接点 ５５ マイナス側電源端子 ５６ 冷却ファン ６１ 電源プラス極 ６２ 電源マイナス極 ６３ プラス側電極 ６４ マイナス側電極 ６５ コンデンサの陽極端子 ６６ 抵抗 ７１ 抵抗 ７２ ＬＣ検査回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 倉谷 悦司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数のコンデンサを保持すると共に保持
   したコンデンサをエージングするために電圧を印加する
   電極を備えたパレットを外周に等間隔に複数個結合した
   間欠回転するドラムと、このドラムの外周部に配置され
   上記パレットに保持されたコンデンサを所定の温度に加
   熱する加熱炉と、この加熱炉の終端部に隣接しかつドラ
   ムの外周部に配置され上記パレットに保持されたコンデ
   ンサの漏れ電流を検査するＬＣ検査・冷却部と、上記パ
   レットに設けた電極に電圧を印加する給電部と、複数の
   コンデンサを定間隔で保持し所定数量を間欠搬送するベ
   ルトを用いた搬送部と、この搬送部により所定数量間欠
   搬送されたコンデンサを上記ドラムに結合されたパレッ
   トに移し替えたり、あるいはＬＣ検査・冷却部で検査を
   終えたコンデンサを搬送部に移し替えたりする移し替え
   部からなるコンデンサ用エージング検査装置。
2. 【請求項２】 給電部がパレットに保持された複数のコ
   ンデンサをエージングするために常時電圧を印加する回
   路と、ＬＣ検査・冷却部で上記コンデンサの漏れ電流を
   検査する時のみ接続されてコンデンサに電圧を印加する
   回路を備えたものである請求項１記載のコンデンサ用エ
   ージング検査装置。