JP2752533B2 - コンデンサーの製造における通電エージング試験方法 - Google Patents
コンデンサーの製造における通電エージング試験方法Info
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- JP2752533B2 JP2752533B2 JP3175064A JP17506491A JP2752533B2 JP 2752533 B2 JP2752533 B2 JP 2752533B2 JP 3175064 A JP3175064 A JP 3175064A JP 17506491 A JP17506491 A JP 17506491A JP 2752533 B2 JP2752533 B2 JP 2752533B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、タンタルコンデンサー
等のコンデンサーを、フープ状リードフレームを使用し
て製造する場合において、前記各コンデンサーに対して
通電エージング試験（高温負荷試験）を、当該各コンデ
ンサーを前記リードフレームに支持した状態で行うよう
にした方法に関するものである。
等のコンデンサーを、フープ状リードフレームを使用し
て製造する場合において、前記各コンデンサーに対して
通電エージング試験（高温負荷試験）を、当該各コンデ
ンサーを前記リードフレームに支持した状態で行うよう
にした方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、タンタルコンデンサーは、その
製造工程の略最終段階において、当該タンタルコンデン
サーに対して最高使用温度で定格電圧の１．５〜２倍の
試験電圧を適宜時間にわたって繰り返して印加すると言
う通電エージング試験（高温負荷試験）を行い、不合格
品を除去したのち、一対のリード端子の曲げ加工等を施
することによって製造される。
製造工程の略最終段階において、当該タンタルコンデン
サーに対して最高使用温度で定格電圧の１．５〜２倍の
試験電圧を適宜時間にわたって繰り返して印加すると言
う通電エージング試験（高温負荷試験）を行い、不合格
品を除去したのち、一対のリード端子の曲げ加工等を施
することによって製造される。
【０００３】そこで、従来、図２に示すように、タンタ
ルコンデンサーＡを、フープ状のリードフレーム１を使
用して製造するに際しては、前記通電エージング試験
（高温負荷試験）を行う前の段階において、前記リード
フレーム１を適宜長さＬの短冊状リードフレーム１ａに
切断したのち、この短冊状リードフレーム１ａにおける
両サイドフレーム２，３のうち一方のサイドフレーム２
を残し、他方のサイドフレーム３を切除し、次いで、こ
の短冊状リードフレーム１ａをタンタルコンデンサーＡ
の最高使用温度に保持した恒温炉内に入れた状態で、そ
の一方のサイドフレーム２と、各タンタルコンデンサー
Ａにおける一方のリード端子Ａ1 とにプローブ４，５を
各々接触することによって、この各プローブ４，５を介
して短冊状リードフレーム１ａにおける各タンタルコン
デンサーＡに、バッテリー６等の電源からの試験電圧を
適宜時間にわたって繰り返して印加するようにしてい
る。
ルコンデンサーＡを、フープ状のリードフレーム１を使
用して製造するに際しては、前記通電エージング試験
（高温負荷試験）を行う前の段階において、前記リード
フレーム１を適宜長さＬの短冊状リードフレーム１ａに
切断したのち、この短冊状リードフレーム１ａにおける
両サイドフレーム２，３のうち一方のサイドフレーム２
を残し、他方のサイドフレーム３を切除し、次いで、こ
の短冊状リードフレーム１ａをタンタルコンデンサーＡ
の最高使用温度に保持した恒温炉内に入れた状態で、そ
の一方のサイドフレーム２と、各タンタルコンデンサー
Ａにおける一方のリード端子Ａ1 とにプローブ４，５を
各々接触することによって、この各プローブ４，５を介
して短冊状リードフレーム１ａにおける各タンタルコン
デンサーＡに、バッテリー６等の電源からの試験電圧を
適宜時間にわたって繰り返して印加するようにしてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この従来の通
電エージング試験方法は、フープ状のリードフレーム１
を適宜長さＬの短冊状リードフレーム１ａに切断した状
態で行うものであって、フープ状リードフレーム１から
短冊状リードフレーム１ａに切断したあとでは、フープ
状の状態で移送・取り扱うことができず、短冊状リード
フレーム１ａの状態で移送・取り扱うようにしなければ
ならないから、リードフレームを移送・取り扱うための
設備が複雑になると共に、速度が遅くなるから、コスト
のアップを招来するばかりか、前記設備が大型化すると
言う問題があった。
電エージング試験方法は、フープ状のリードフレーム１
を適宜長さＬの短冊状リードフレーム１ａに切断した状
態で行うものであって、フープ状リードフレーム１から
短冊状リードフレーム１ａに切断したあとでは、フープ
状の状態で移送・取り扱うことができず、短冊状リード
フレーム１ａの状態で移送・取り扱うようにしなければ
ならないから、リードフレームを移送・取り扱うための
設備が複雑になると共に、速度が遅くなるから、コスト
のアップを招来するばかりか、前記設備が大型化すると
言う問題があった。
【０００５】本発明は、タンタルコンデンサー等のコン
デンサーを、フープ状のリードフレームを使用して製造
するに際して、各コンデンサーに対する通電エージング
試験が、前記フープ状リードフレームの形態のままで行
うことができる方法を提供することを技術的課題とする
ものである。
デンサーを、フープ状のリードフレームを使用して製造
するに際して、各コンデンサーに対する通電エージング
試験が、前記フープ状リードフレームの形態のままで行
うことができる方法を提供することを技術的課題とする
ものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この技術的課題を達成す
るため本発明は、「フープ状リードフレームにおける左
右一対のサイドフレームの間に、コンデンサーを、当該
コンデンサーにおける両リード端子が両サイドフレーム
の各々に対して一体的に連結した状態で製作するように
したコンデンサーの製造方法において、前記フープ状リ
ードフレームにおける両サイドフレームのうちいずれか
一方のサイドフレームを、リードフレームの長手方向に
沿って複数個のコンデンサーを含む適宜長さの間隔で分
断する一方、両サイドフレームのうち他方のサイドフレ
ームを分断しない形態にし、この形態において、前記適
宜長さの間隔で分断した各一方のサイドフレームと、分
断しない他方のサイドフレームとに、試験電圧を印加す
ることを特徴とする。」ものである。
るため本発明は、「フープ状リードフレームにおける左
右一対のサイドフレームの間に、コンデンサーを、当該
コンデンサーにおける両リード端子が両サイドフレーム
の各々に対して一体的に連結した状態で製作するように
したコンデンサーの製造方法において、前記フープ状リ
ードフレームにおける両サイドフレームのうちいずれか
一方のサイドフレームを、リードフレームの長手方向に
沿って複数個のコンデンサーを含む適宜長さの間隔で分
断する一方、両サイドフレームのうち他方のサイドフレ
ームを分断しない形態にし、この形態において、前記適
宜長さの間隔で分断した各一方のサイドフレームと、分
断しない他方のサイドフレームとに、試験電圧を印加す
ることを特徴とする。」ものである。
【０００７】
【作 用】このようにすると、フープ状リードフレー
ムにおける各コンデンサーのうち、適宜長さに分断した
各一方のサイドフレームに対して一体的に連結している
各コンデンサーの各々に対して、通電エージング試験の
ための試験電圧を、一斉に、印加することができる。
ムにおける各コンデンサーのうち、適宜長さに分断した
各一方のサイドフレームに対して一体的に連結している
各コンデンサーの各々に対して、通電エージング試験の
ための試験電圧を、一斉に、印加することができる。
【０００８】この場合において、リードフレームにおけ
る両サイドフレームのうち他方のサイドフレームは、一
方のサイドフレームのように分断されていないことによ
り、各コンデンサーに対する通電エージング試験を、フ
ープ状リードフレームのままの状態で行うことができる
のである。
る両サイドフレームのうち他方のサイドフレームは、一
方のサイドフレームのように分断されていないことによ
り、各コンデンサーに対する通電エージング試験を、フ
ープ状リードフレームのままの状態で行うことができる
のである。
【０００９】
【発明の効果】従って、本発明によると、フープ状リー
ドフレームを、その長手方向に沿って連続的に移送しな
がら、各コンデンサーの通電エージング試験を行うこと
ができて、換言すると、通電エージング試験を、フープ
状リードフレームのままで、このフープ状リードフレー
ムをその長手方向に移送しながら連続的に行うことがで
きるから、例えば、前記フープ状リードフレームを、適
宜長さの短冊状のリードフレームに切断し、通電エージ
ング試験を、この短冊状リードフレームごとに行う場合
によりも、設備が簡単になると共に、速度を向上できる
から、通電エージング試験に要するコストを大幅に低減
できるばかりか、前記設備を小型化できる効果を有す
る。
ドフレームを、その長手方向に沿って連続的に移送しな
がら、各コンデンサーの通電エージング試験を行うこと
ができて、換言すると、通電エージング試験を、フープ
状リードフレームのままで、このフープ状リードフレー
ムをその長手方向に移送しながら連続的に行うことがで
きるから、例えば、前記フープ状リードフレームを、適
宜長さの短冊状のリードフレームに切断し、通電エージ
ング試験を、この短冊状リードフレームごとに行う場合
によりも、設備が簡単になると共に、速度を向上できる
から、通電エージング試験に要するコストを大幅に低減
できるばかりか、前記設備を小型化できる効果を有す
る。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面（図１）につい
て説明する。この図において、符号１は、フープ状のリ
ードフレームを示し、このリードフレーム１における左
右一対のサイドフレーム２，３の間には、多数個のタン
タルコンデンサーＡが、当該タンタルコンデンサーＡに
おける両リード端子Ａ１，Ａ２が両サイドフレーム２，
３の各々に対して一体的に連接した状態で製作されてい
る。
て説明する。この図において、符号１は、フープ状のリ
ードフレームを示し、このリードフレーム１における左
右一対のサイドフレーム２，３の間には、多数個のタン
タルコンデンサーＡが、当該タンタルコンデンサーＡに
おける両リード端子Ａ１，Ａ２が両サイドフレーム２，
３の各々に対して一体的に連接した状態で製作されてい
る。
【００１１】そして、このフープ状リードフレーム１を
その長手方向に沿って矢印で示すように移送する途中に
おいて、両サイドフレーム２，３のうち一方のサイドフ
レーム３のみを、リードフレーム１の長手方向に沿って
複数個のタンタルコンデンサーＡを含む適宜長さＬの間
隔で分断する（この分断部を符号１０で示す）一方、前
記両サイドフレーム２，３のうち他方のサイドフレーム
２を分断しない形態にする。
その長手方向に沿って矢印で示すように移送する途中に
おいて、両サイドフレーム２，３のうち一方のサイドフ
レーム３のみを、リードフレーム１の長手方向に沿って
複数個のタンタルコンデンサーＡを含む適宜長さＬの間
隔で分断する（この分断部を符号１０で示す）一方、前
記両サイドフレーム２，３のうち他方のサイドフレーム
２を分断しない形態にする。
【００１２】次いで、前記フープ状リードフレーム１
が、その移送経路中に設けた恒温炉（図示せず）内を通
過するとき、当該リードフレーム１における両サイドフ
レーム２，３のうち分断されていない他方のサイドフレ
ーム２は、分断した各一方のサイドフレーム３との各々
各々に、バッテリー１１等の電源からのからのプローブ
１２，１３を接触する。
が、その移送経路中に設けた恒温炉（図示せず）内を通
過するとき、当該リードフレーム１における両サイドフ
レーム２，３のうち分断されていない他方のサイドフレ
ーム２は、分断した各一方のサイドフレーム３との各々
各々に、バッテリー１１等の電源からのからのプローブ
１２，１３を接触する。
【００１３】すると、前記リードフレーム１における各
タンタルコンデサーＡのうち、適宜長さＬに分断した一
方のサイドフレーム２に対して一体的に連結している各
タンタルコンデンサーＡの各々に対して、試験電圧を、
一斉に、印加することができるから、前記各タンタルゴ
ンデサーＡに対する通電エージング試験を行うことがで
きる。
タンタルコンデサーＡのうち、適宜長さＬに分断した一
方のサイドフレーム２に対して一体的に連結している各
タンタルコンデンサーＡの各々に対して、試験電圧を、
一斉に、印加することができるから、前記各タンタルゴ
ンデサーＡに対する通電エージング試験を行うことがで
きる。
【００１４】なお、前記通電エージング試験が終わる
と、不合格品をリードフレーム１から切断・除去したの
ち、各タンタルコンデサーＡにおける両リード端子
Ａ1 ，Ａ2の曲げ加工等を施したのち、リードフレーム
１から切り離して製品とするのである。
と、不合格品をリードフレーム１から切断・除去したの
ち、各タンタルコンデサーＡにおける両リード端子
Ａ1 ，Ａ2の曲げ加工等を施したのち、リードフレーム
１から切り離して製品とするのである。
【図１】本発明の実施例を示す斜視図である。
【図２】従来の方法を示す斜視図である。
１ リードフレーム ２，３ サイドフレーム Ａ タンタルコンデンサー Ａ1 ，Ａ2 リード端子 １０ 分断部 １１ バッテリー １２，１３ プローブ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01G 13/00 H01G 9/04
Claims (1)
- 【請求項１】フープ状リードフレームにおける左右一対
のサイドフレームの間に、コンデンサーを、当該コンデ
ンサーにおける両リード端子が両サイドフレームの各々
に対して一体的に連結した状態で製作するようにしたコ
ンデンサーの製造方法において、 前記フープ状リードフレームにおける両サイドフレーム
のうちいずれか一方のサイドフレームを、リードフレー
ムの長手方向に沿って複数個のコンデンサーを含む適宜
長さの間隔で分断する一方、両サイドフレームのうち他
方のサイドフレームを分断しない形態にし、この形態に
おいて、前記適宜長さの間隔で分断した各一方のサイド
フレームと、分断しない他方のサイドフレームとに、試
験電圧を印加することを特徴とするコンデンサーの製造
における通電エージング試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3175064A JP2752533B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | コンデンサーの製造における通電エージング試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3175064A JP2752533B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | コンデンサーの製造における通電エージング試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0521299A JPH0521299A (ja) | 1993-01-29 |
| JP2752533B2 true JP2752533B2 (ja) | 1998-05-18 |
Family
ID=15989603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3175064A Expired - Fee Related JP2752533B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | コンデンサーの製造における通電エージング試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2752533B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101975896B1 (ko) | 2016-07-08 | 2019-05-07 | (주)유미랩코리아 | 커피 부산물을 포함하는 천연 세제 조성물 및 이의 제조방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6349229U (ja) * | 1986-09-18 | 1988-04-04 | ||
| JPH01179329A (ja) * | 1988-01-05 | 1989-07-17 | Nec Corp | 半導体装置の製造方法 |
-
1991
- 1991-07-16 JP JP3175064A patent/JP2752533B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0521299A (ja) | 1993-01-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |