JPH07194107A - 整流回路及び電源装置 - Google Patents
整流回路及び電源装置Info
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- JPH07194107A JPH07194107A JP33531893A JP33531893A JPH07194107A JP H07194107 A JPH07194107 A JP H07194107A JP 33531893 A JP33531893 A JP 33531893A JP 33531893 A JP33531893 A JP 33531893A JP H07194107 A JPH07194107 A JP H07194107A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 MOS型FETを整流素子として用いた整流
回路、電源装置の、MOS型FETドライブ用の制御回
路の低コスト及び小形化を実現する。 【構成】 MOS型FETQ6のドレイン電圧の立ち上
りを微分パルス発生回路C11、R11、D11、IC12-2に
より検出し、この検出信号をフリップフロップC14-1、
IC14-2にて、パルス発生回路D12、R12、C12のパル
ス幅TCRの時間だけラッチする。そして3入力ANDゲ
ートIC11にて、上記フリップフロップのラッチ信号と
インバータIC12-1の出力であるドレイン電圧の反転信
号との論理積をとり、その結果をゲートドライブ信号と
してMOS型FETQ6に出力する。これによりMOS
型FETQ6は、ドレインに印加された正電圧が除去さ
れてからオン状態になり、次にドレインに正電圧が印加
される前にオフ状態となるといった最適なオン/オフ切
り替えのタイミングでドライブされる。
回路、電源装置の、MOS型FETドライブ用の制御回
路の低コスト及び小形化を実現する。 【構成】 MOS型FETQ6のドレイン電圧の立ち上
りを微分パルス発生回路C11、R11、D11、IC12-2に
より検出し、この検出信号をフリップフロップC14-1、
IC14-2にて、パルス発生回路D12、R12、C12のパル
ス幅TCRの時間だけラッチする。そして3入力ANDゲ
ートIC11にて、上記フリップフロップのラッチ信号と
インバータIC12-1の出力であるドレイン電圧の反転信
号との論理積をとり、その結果をゲートドライブ信号と
してMOS型FETQ6に出力する。これによりMOS
型FETQ6は、ドレインに印加された正電圧が除去さ
れてからオン状態になり、次にドレインに正電圧が印加
される前にオフ状態となるといった最適なオン/オフ切
り替えのタイミングでドライブされる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器用の整流回路
及び電源装置に関する。
及び電源装置に関する。
【0002】
【従来の技術】高周波トランス出力の整流素子としてM
OS型FETを使用したスイッチング電源装置の例を図
11に示す。
OS型FETを使用したスイッチング電源装置の例を図
11に示す。
【0003】同図において、1は直流電源、C1、C2
はコンデンサ、Q1、Q2は交番電圧発生用のスイッチ
ング素子としてのMOS型FET、T1は高周波トラン
ス、T2、T3はMOS型FETQ1、Q2をドライブ
するためのドライブ用トランスである。またQ3、Q4
は高周波トランスT1の出力を整流するためのMOS型
FETである。L1及びC3は出力電圧を平滑するイン
ダクタ及びコンデンサ、R1は負荷である。さらにCC
1は制御回路であり、出力電圧を一定化するよう各MO
S型FETQ1、Q2のゲートに供給するドライブ信号
のオン幅を制御すると同時に整流用の各MOS型FET
Q3、Q4のゲートにドライブ信号を供給する。AUX
は補助電源回路であり、制御回路CC1で使用する直流
電源を生成する。
はコンデンサ、Q1、Q2は交番電圧発生用のスイッチ
ング素子としてのMOS型FET、T1は高周波トラン
ス、T2、T3はMOS型FETQ1、Q2をドライブ
するためのドライブ用トランスである。またQ3、Q4
は高周波トランスT1の出力を整流するためのMOS型
FETである。L1及びC3は出力電圧を平滑するイン
ダクタ及びコンデンサ、R1は負荷である。さらにCC
1は制御回路であり、出力電圧を一定化するよう各MO
S型FETQ1、Q2のゲートに供給するドライブ信号
のオン幅を制御すると同時に整流用の各MOS型FET
Q3、Q4のゲートにドライブ信号を供給する。AUX
は補助電源回路であり、制御回路CC1で使用する直流
電源を生成する。
【0004】以上の構成において、コンデンサC1、C
2、MOS型FETQ1、Q2及び高周波トランスT1
はハーフブリッジ回路を構成している。すなわち、各M
OS型FETQ1、Q2を交互にオン/オフさせること
により高周波の交番電圧を発生させ、高周波トランスT
1を介してその交番電圧を二次側に伝送する。二次側に
伝達された交番電圧は各MOS型FETQ3、Q4によ
って整流され、インダクタL1及びコンデンサC3によ
って平滑化されたのち出力電圧となって負荷R1に与え
られる。
2、MOS型FETQ1、Q2及び高周波トランスT1
はハーフブリッジ回路を構成している。すなわち、各M
OS型FETQ1、Q2を交互にオン/オフさせること
により高周波の交番電圧を発生させ、高周波トランスT
1を介してその交番電圧を二次側に伝送する。二次側に
伝達された交番電圧は各MOS型FETQ3、Q4によ
って整流され、インダクタL1及びコンデンサC3によ
って平滑化されたのち出力電圧となって負荷R1に与え
られる。
【0005】図12は制御回路CC1から各MOS型F
ETQ1、Q2、Q3、Q4にそれぞれ出力されるドラ
イブ信号のタイミングを示す図である。同図に示すよう
に、スイッチング用の各MOS型FETQ1、Q2に出
力される2つのドライブ信号は、互いに時間差を置いて
交互にオンされる。またQ3の整流用のMOS型FET
に出力されるドライブ信号はQ2のMOS型FETに出
力されるドライブ信号を反転させた信号であり、同様に
Q4の整流用のMOS型FETに出力されるドライブ信
号はQ1のMOS型FETに出力されるドライブ信号を
反転させた信号である。
ETQ1、Q2、Q3、Q4にそれぞれ出力されるドラ
イブ信号のタイミングを示す図である。同図に示すよう
に、スイッチング用の各MOS型FETQ1、Q2に出
力される2つのドライブ信号は、互いに時間差を置いて
交互にオンされる。またQ3の整流用のMOS型FET
に出力されるドライブ信号はQ2のMOS型FETに出
力されるドライブ信号を反転させた信号であり、同様に
Q4の整流用のMOS型FETに出力されるドライブ信
号はQ1のMOS型FETに出力されるドライブ信号を
反転させた信号である。
【0006】ここで注意すべき点は、例えばQ1のMO
S型FETのオン期間とQ4のMOS型FETのオン期
間とが重なると、Q4のMOS型FETにショート電流
が流れてMOS型FETQ4の破壊をもたらす危険があ
ることである。このため、Q1のMOS型FETへのゲ
ートドライブ信号がオンしてからMOS型FETQ1が
オンするまでの送れ時間tdon1 と、Q4のMOS型F
ETへのゲートドライブ信号がオフしてからこのMOS
型FETQ4がオフするまでの送れ時間tdoFF4との間
には、tdon1 >tdoFF4 の関係を満足することが必
要となる。同時に、Q1のMOS型FETへのゲートド
ライブ信号がオフしてからこのMOS型FETQ1がオ
フするまでの送れ時間tdoff1と 、Q4のMOS型F
ETへのゲートドライブ信号がオンしてからこのMOS
型FETQ4がオンするまでの送れ時間tdon4 との間
には、tdoff1<tdon4 の関係を満足することが必要
となる。これらの条件は、Q2とQ3のMOS型FET
間においても同様である。ただし、これらの条件を満足
するように各MOS型FETの駆動回路を構成すること
はさほど困難ではなく、この点はすでに解決済みと言っ
てよい。
S型FETのオン期間とQ4のMOS型FETのオン期
間とが重なると、Q4のMOS型FETにショート電流
が流れてMOS型FETQ4の破壊をもたらす危険があ
ることである。このため、Q1のMOS型FETへのゲ
ートドライブ信号がオンしてからMOS型FETQ1が
オンするまでの送れ時間tdon1 と、Q4のMOS型F
ETへのゲートドライブ信号がオフしてからこのMOS
型FETQ4がオフするまでの送れ時間tdoFF4との間
には、tdon1 >tdoFF4 の関係を満足することが必
要となる。同時に、Q1のMOS型FETへのゲートド
ライブ信号がオフしてからこのMOS型FETQ1がオ
フするまでの送れ時間tdoff1と 、Q4のMOS型F
ETへのゲートドライブ信号がオンしてからこのMOS
型FETQ4がオンするまでの送れ時間tdon4 との間
には、tdoff1<tdon4 の関係を満足することが必要
となる。これらの条件は、Q2とQ3のMOS型FET
間においても同様である。ただし、これらの条件を満足
するように各MOS型FETの駆動回路を構成すること
はさほど困難ではなく、この点はすでに解決済みと言っ
てよい。
【0007】問題は、補助電源回路AUX及びドライブ
用トランスT2、T3が必要であるためコスト的に割高
になると言う点である。
用トランスT2、T3が必要であるためコスト的に割高
になると言う点である。
【0008】この点を改善したスイッチング電源装置の
構成を図13に示す。この電源装置では、Q1及びQ2
の各MOS型FETをドライブ制御するための制御回路
CC2を一次側に設けることでドライブ用トランスを削
除することに成功している。しかしながら、この方式で
は、図12の各MOS型FETのタイミングを得るため
に、一次側制御回路CC2と二次側制御回路CC3とを
パルストランスT4で接続し、このパルストランスT4
を介して各制御回路間で制御信号を伝送しなければなら
ない。したがって、トランスの数は確かに2から1に減
るが、もともと高価であるトランスを用いる以上割高に
なることは避けられない。
構成を図13に示す。この電源装置では、Q1及びQ2
の各MOS型FETをドライブ制御するための制御回路
CC2を一次側に設けることでドライブ用トランスを削
除することに成功している。しかしながら、この方式で
は、図12の各MOS型FETのタイミングを得るため
に、一次側制御回路CC2と二次側制御回路CC3とを
パルストランスT4で接続し、このパルストランスT4
を介して各制御回路間で制御信号を伝送しなければなら
ない。したがって、トランスの数は確かに2から1に減
るが、もともと高価であるトランスを用いる以上割高に
なることは避けられない。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような課
題を解決するためのもので、MOS型FETのドレイン
電圧を監視してこのMOS型FETの最適なオン/オフ
切替タイミングを得ることができ、これにより一次側/
二次側制御回路間のトランスを排除し、これにより二次
側制御回路の集積化を実現し、コスト低減及び小形化を
図ることのできる整流回路及び電源装置の提供を目的と
している。
題を解決するためのもので、MOS型FETのドレイン
電圧を監視してこのMOS型FETの最適なオン/オフ
切替タイミングを得ることができ、これにより一次側/
二次側制御回路間のトランスを排除し、これにより二次
側制御回路の集積化を実現し、コスト低減及び小形化を
図ることのできる整流回路及び電源装置の提供を目的と
している。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の整流回路は上記
した目的を達成するために、MOS型FETを整流素子
として用いて構成される整流回路において、MOS型F
ETのドレインに印加される正電圧の立ち上がり(また
は立ち下がり)を検出する検出手段と、検出手段により
検出された正電圧の立ち上がり(または立ち下がり)の
タイミングを基準として、MOS型FETのオン/オフ
切替タイミングを、少なくともドレインに正電圧が印加
される間はオフとなるように生成するタイミング生成手
段と、タイミング生成手段によって生成されたオン/オ
フ切替タイミングに従って、MOS型FETを駆動する
駆動手段とを具備することを特徴としている。
した目的を達成するために、MOS型FETを整流素子
として用いて構成される整流回路において、MOS型F
ETのドレインに印加される正電圧の立ち上がり(また
は立ち下がり)を検出する検出手段と、検出手段により
検出された正電圧の立ち上がり(または立ち下がり)の
タイミングを基準として、MOS型FETのオン/オフ
切替タイミングを、少なくともドレインに正電圧が印加
される間はオフとなるように生成するタイミング生成手
段と、タイミング生成手段によって生成されたオン/オ
フ切替タイミングに従って、MOS型FETを駆動する
駆動手段とを具備することを特徴としている。
【0011】
【作用】すなわち、本発明では、検出手段により、MO
S型FETのドレインに印加される正電圧の立ち上がり
(または立ち下がり)を検出し、タイミング生成手段に
て、この正電圧の立ち上がり(または立ち下がり)のタ
イミングを基準として、少なくともドレインに正電圧が
印加される間はオフとなるようなMOS型FETのオン
/オフ切替タイミングを生成し、このオン/オフ切替タ
イミングに従って、MOS型FETを駆動する。したが
って、従来必要であったMOS型FETの最適なタイミ
ング確保のための一次側/二次側制御回路間での制御信
号の伝送が不要となって、一次側/二次側制御回路間の
パルストランス等を排除することが可能になり、コスト
低減及び小形化を図ることができる。
S型FETのドレインに印加される正電圧の立ち上がり
(または立ち下がり)を検出し、タイミング生成手段に
て、この正電圧の立ち上がり(または立ち下がり)のタ
イミングを基準として、少なくともドレインに正電圧が
印加される間はオフとなるようなMOS型FETのオン
/オフ切替タイミングを生成し、このオン/オフ切替タ
イミングに従って、MOS型FETを駆動する。したが
って、従来必要であったMOS型FETの最適なタイミ
ング確保のための一次側/二次側制御回路間での制御信
号の伝送が不要となって、一次側/二次側制御回路間の
パルストランス等を排除することが可能になり、コスト
低減及び小形化を図ることができる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しなから
説明する。
説明する。
【0013】図1は本発明に係る一実施例のフォワード
方式のスイッチング電源装置の構成を示す回路図であ
る。
方式のスイッチング電源装置の構成を示す回路図であ
る。
【0014】同図において、1は直流電源、T1は高周
波トランス、Q5はトランスT1の入力側において高周
波の交番電圧を発生させるためのMOS型FET、D1
はトランスT1のリセット用ダイオード、R2はMOS
型FETQ5のドレイン電流検出用の抵抗である。D2
及びQ6はトランスT1の出力を整流するダイオード及
びMOS型FETである。L1及びC3は出力電圧を平
滑化するインダクタ及びコンデンサ、R1は負荷であ
る。CC4はMOS型FETQ5のスイッチングを制御
する一次側制御回路であり、出力電圧が所定値に安定す
るようにMOS型FETQ5に出力するゲートドライブ
信号のオン幅を制御する。CC5は抵抗R2で検出した
MOS型FETQ5のドレイン電流値からインダクタL
1の電流値を監視し、この電流値が所定値以下となった
場合にQ6のMOS型FETのドライブを禁止する信号
を生成するドライブ禁止信号生成回路である。CC6は
Q6のMOS型FETのドライブを制御する二次側制御
回路であり、その詳細を次に説明する。
波トランス、Q5はトランスT1の入力側において高周
波の交番電圧を発生させるためのMOS型FET、D1
はトランスT1のリセット用ダイオード、R2はMOS
型FETQ5のドレイン電流検出用の抵抗である。D2
及びQ6はトランスT1の出力を整流するダイオード及
びMOS型FETである。L1及びC3は出力電圧を平
滑化するインダクタ及びコンデンサ、R1は負荷であ
る。CC4はMOS型FETQ5のスイッチングを制御
する一次側制御回路であり、出力電圧が所定値に安定す
るようにMOS型FETQ5に出力するゲートドライブ
信号のオン幅を制御する。CC5は抵抗R2で検出した
MOS型FETQ5のドレイン電流値からインダクタL
1の電流値を監視し、この電流値が所定値以下となった
場合にQ6のMOS型FETのドライブを禁止する信号
を生成するドライブ禁止信号生成回路である。CC6は
Q6のMOS型FETのドライブを制御する二次側制御
回路であり、その詳細を次に説明する。
【0015】二次側制御回路CC6において、AUX2
はMOS型FETQ6のドレイン電圧から制御回路CC
6内の各回路を動作させるための直流電源を生成する補
助電源回路である。C11、R11、D11及びIC12-2はM
OS型FETQ6のドレイン電圧の立ち上り微分パルス
を発生する回路(微分パルス発生回路)を構成するコン
デンサ、抵抗、ダイオード及びインバータである。IC
14-1及びIC14-2はフリップフロップを構成する2つの
NANDゲートである。D12、R12及びC12はNAND
ゲートIC14-2に入力する一定時間幅のパルスを発生す
る回路(パルス発生回路)を構成するダイオード、抵抗
及びコンデンサである。IC12-1はMOS型FETQ6
のドレイン電圧信号を反転するインバータである。IC
11は3入力ANDゲートであり、NANDゲートIC14
-1の出力信号、インバータIC12-1のドレイン電圧反転
信号及びVCCとの論理積をとって、その結果をMOS型
FETQ6のゲートドライブ信号として出力する。
はMOS型FETQ6のドレイン電圧から制御回路CC
6内の各回路を動作させるための直流電源を生成する補
助電源回路である。C11、R11、D11及びIC12-2はM
OS型FETQ6のドレイン電圧の立ち上り微分パルス
を発生する回路(微分パルス発生回路)を構成するコン
デンサ、抵抗、ダイオード及びインバータである。IC
14-1及びIC14-2はフリップフロップを構成する2つの
NANDゲートである。D12、R12及びC12はNAND
ゲートIC14-2に入力する一定時間幅のパルスを発生す
る回路(パルス発生回路)を構成するダイオード、抵抗
及びコンデンサである。IC12-1はMOS型FETQ6
のドレイン電圧信号を反転するインバータである。IC
11は3入力ANDゲートであり、NANDゲートIC14
-1の出力信号、インバータIC12-1のドレイン電圧反転
信号及びVCCとの論理積をとって、その結果をMOS型
FETQ6のゲートドライブ信号として出力する。
【0016】またCC7は出力電圧から一次側制御回路
CC4へのフィードバック信号を生成する出力電圧フィ
ードバック回路である。PC1は出力電圧フィードバッ
ク回路CC7により生成されたフィードバック信号を一
次側制御回路CC4に伝送するためのフォトカプラであ
る。PC2はドライブ禁止信号生成回路CC5で生成さ
れたドライブ禁止信号を二次側制御回路CC6に伝送す
るフォトカプラである。 次に本実施例のスイッチング
電源装置の動作を説明する。
CC4へのフィードバック信号を生成する出力電圧フィ
ードバック回路である。PC1は出力電圧フィードバッ
ク回路CC7により生成されたフィードバック信号を一
次側制御回路CC4に伝送するためのフォトカプラであ
る。PC2はドライブ禁止信号生成回路CC5で生成さ
れたドライブ禁止信号を二次側制御回路CC6に伝送す
るフォトカプラである。 次に本実施例のスイッチング
電源装置の動作を説明する。
【0017】この電源装置では、MOS型FETQ5を
高周波でスイッチングすることによって高周波交番電圧
を発生させ、この交番電圧をトランスT1を介して二次
側に伝達する。二次側に伝達された交番電圧はダイオー
ドD2及びMOS型FETQ6によって整流され、イン
ダクタL1及びコンデンサC3で平滑化されて出力電圧
となって負荷R1に供給される。
高周波でスイッチングすることによって高周波交番電圧
を発生させ、この交番電圧をトランスT1を介して二次
側に伝達する。二次側に伝達された交番電圧はダイオー
ドD2及びMOS型FETQ6によって整流され、イン
ダクタL1及びコンデンサC3で平滑化されて出力電圧
となって負荷R1に供給される。
【0018】その間、一次側制御回路CC4は、出力電
圧フィードバック回路CC7によって生成される出力電
圧のフィードバック信号をフォトカプラPC1を介して
入力し、この出力電圧を所定値に保つようにMOS型F
ETQ5に供給するドライブ信号のオン幅を制御する。
圧フィードバック回路CC7によって生成される出力電
圧のフィードバック信号をフォトカプラPC1を介して
入力し、この出力電圧を所定値に保つようにMOS型F
ETQ5に供給するドライブ信号のオン幅を制御する。
【0019】一方、ドライブ禁止信号生成回路CC5
は、図2の(a)に示すように、MOS型FETQ5の
ドレイン電流値からインダクタL1の電流値が所定値以
下となった場合を検出すると、ドライブ禁止信号をフォ
トカプラPC2を通じて二次側制御回路CC6内の3入
力ANDゲートIC11に入力する。具体的には、図2
(b)に示すように、フォトカプラPC2のコレクタレ
ベルをLOWにすることで、3入力ANDゲートIC11
へのVcc入力がオフとなり、図2(c)に示すように、
3入力ANDゲートIC11の出力(MOS型FETQ6
へのドライブ信号出力)がオフとなる。
は、図2の(a)に示すように、MOS型FETQ5の
ドレイン電流値からインダクタL1の電流値が所定値以
下となった場合を検出すると、ドライブ禁止信号をフォ
トカプラPC2を通じて二次側制御回路CC6内の3入
力ANDゲートIC11に入力する。具体的には、図2
(b)に示すように、フォトカプラPC2のコレクタレ
ベルをLOWにすることで、3入力ANDゲートIC11
へのVcc入力がオフとなり、図2(c)に示すように、
3入力ANDゲートIC11の出力(MOS型FETQ6
へのドライブ信号出力)がオフとなる。
【0020】また、二次側制御回路CC6は、整流用M
OS型FETQ6のドレイン電圧からこのMOS型FE
TQ6のゲートドライブ信号を次のように生成する。
OS型FETQ6のドレイン電圧からこのMOS型FE
TQ6のゲートドライブ信号を次のように生成する。
【0021】図3はこの制御回路CC6によるゲートド
ライブ信号生成の動作を説明するための各信号波形図で
ある。同図において、(a)はMOS型FETQ6のド
レイン電圧である。制御回路CC6ではこのドレイン電
圧の立ち上りをコンデンサC11、抵抗R11、ダイオード
D11及びインバータIC12-2から構成される微分パルス
発生回路によって検出する。この検出信号(図3
(b))は2つのNANDゲートIC14-1、IC14-2か
らなるフリップフロップでラッチされる。ここで、ダイ
オードD12、抵抗R12及びコンデンサC12から構成され
るパルス発生回路はフリップフロップのラッチ時間を決
めるパルスを一定時間TCR発生する。これによりフリッ
プフロップ(NANDゲートIC14-1)の出力は、図3
(c)に示すように、ドレイン電圧の立ち上がり時点か
らTCR時間後にLレベルに切り替わる。すなわち、微分
パルス発生回路の検出信号(Lレベル)がNANDゲー
トIC14-1に入力されてその出力がHレベルとなると、
NANDゲートIC14-2の出力はLレベルになるが、パ
ルス発生回路によってNANDゲートIC14-2の入力は
一定時間TCR遅れてLレベルになるので、NANDゲー
トIC14-1の出力をTCR時間後に、はじめてLレベルに
切り替えることができる。
ライブ信号生成の動作を説明するための各信号波形図で
ある。同図において、(a)はMOS型FETQ6のド
レイン電圧である。制御回路CC6ではこのドレイン電
圧の立ち上りをコンデンサC11、抵抗R11、ダイオード
D11及びインバータIC12-2から構成される微分パルス
発生回路によって検出する。この検出信号(図3
(b))は2つのNANDゲートIC14-1、IC14-2か
らなるフリップフロップでラッチされる。ここで、ダイ
オードD12、抵抗R12及びコンデンサC12から構成され
るパルス発生回路はフリップフロップのラッチ時間を決
めるパルスを一定時間TCR発生する。これによりフリッ
プフロップ(NANDゲートIC14-1)の出力は、図3
(c)に示すように、ドレイン電圧の立ち上がり時点か
らTCR時間後にLレベルに切り替わる。すなわち、微分
パルス発生回路の検出信号(Lレベル)がNANDゲー
トIC14-1に入力されてその出力がHレベルとなると、
NANDゲートIC14-2の出力はLレベルになるが、パ
ルス発生回路によってNANDゲートIC14-2の入力は
一定時間TCR遅れてLレベルになるので、NANDゲー
トIC14-1の出力をTCR時間後に、はじめてLレベルに
切り替えることができる。
【0022】ここで、パルス発生回路のパルス幅TCR
は、MOS型FETQ6のドレインの印加正電圧が除去
されてから次に正電圧が印加される前の任意の時点でN
ANDゲートIC14-1の出力がLレベルになるように設
定される。パルス幅TCRは抵抗R12及びコンデンサC12
による時定数とNANDゲートIC14-2の入力のスレッ
ショドレベルとで調整することができる。
は、MOS型FETQ6のドレインの印加正電圧が除去
されてから次に正電圧が印加される前の任意の時点でN
ANDゲートIC14-1の出力がLレベルになるように設
定される。パルス幅TCRは抵抗R12及びコンデンサC12
による時定数とNANDゲートIC14-2の入力のスレッ
ショドレベルとで調整することができる。
【0023】ゲートドライブ信号の極性を決定する3入
力ANDゲートIC11は、上記フリップフロップの出力
とインバータIC12-1の出力であるドレイン電圧の反転
信号との論理積をとり、その結果をゲートドライブ信号
(図3(d))としてMOS型FETQ6に出力する。
これにより、MOS型FETQ6は、ドレインに印加さ
れた正電圧が除去されてからオンになり、次にドレイン
に正電圧が印加される前にオフとなるといった最適なオ
ン/オフ切替タイミングでドライブされる。
力ANDゲートIC11は、上記フリップフロップの出力
とインバータIC12-1の出力であるドレイン電圧の反転
信号との論理積をとり、その結果をゲートドライブ信号
(図3(d))としてMOS型FETQ6に出力する。
これにより、MOS型FETQ6は、ドレインに印加さ
れた正電圧が除去されてからオンになり、次にドレイン
に正電圧が印加される前にオフとなるといった最適なオ
ン/オフ切替タイミングでドライブされる。
【0024】またこの動作において、ドライブ禁止信号
を二次側制御回路CC6が入力した場合、その入力期間
は3入力ANDゲートIC11の出力が無条件でLレベル
となり、MOS型FETQ6のドライブが禁止される。
を二次側制御回路CC6が入力した場合、その入力期間
は3入力ANDゲートIC11の出力が無条件でLレベル
となり、MOS型FETQ6のドライブが禁止される。
【0025】かくして本実施例のスイッチング電源装置
によれば、MOS型FETQ6のドレイン電圧を監視す
るだけでMOS型FETQ6の最適なオン/オフ切替タ
イミングを得ることができるので、従来必要であった一
次側/二次側制御回路間のパルストランスを排除でき、
装置のコスト低減及び小形化を実現できる。
によれば、MOS型FETQ6のドレイン電圧を監視す
るだけでMOS型FETQ6の最適なオン/オフ切替タ
イミングを得ることができるので、従来必要であった一
次側/二次側制御回路間のパルストランスを排除でき、
装置のコスト低減及び小形化を実現できる。
【0026】また、二次側制御回路CC6は構成が簡単
であり、よって集積化も容易である。したがって、二次
側制御回路CC6を集積化することによってのコスト低
減・サイズ縮小効果も得られる。
であり、よって集積化も容易である。したがって、二次
側制御回路CC6を集積化することによってのコスト低
減・サイズ縮小効果も得られる。
【0027】次に本発明の他の実施例を説明する。
【0028】図4は図1のMOS型FETの制御方式を
フライバック方式のスイッチング電源装置に適用した場
合の構成を示す図である。
フライバック方式のスイッチング電源装置に適用した場
合の構成を示す図である。
【0029】同図において、T5はフライバックトラン
ス、Q8はトランスT5の出力を整流するMOS型FE
T、C4は平滑用のコンデンサである。その他図1と同
一符号の部分は図1と共通である。
ス、Q8はトランスT5の出力を整流するMOS型FE
T、C4は平滑用のコンデンサである。その他図1と同
一符号の部分は図1と共通である。
【0030】この実施例では、一次側のMOS型FET
Q5のオン期間にフライバックトランスT5に磁気エネ
ルギーが蓄積される。この間、整流用のMOS型FET
Q8はオフ状態であり、ドレインには正電圧が印加され
る。この後、MOS型FETQ5がオフになるとMOS
型FETQ8がオンになり、MOS型FETQ8の寄生
ダイオードを通じてフライバックトランスT5の磁気エ
ネルギーが二次側に放出され、コンデンサC4が充電さ
れて行く。
Q5のオン期間にフライバックトランスT5に磁気エネ
ルギーが蓄積される。この間、整流用のMOS型FET
Q8はオフ状態であり、ドレインには正電圧が印加され
る。この後、MOS型FETQ5がオフになるとMOS
型FETQ8がオンになり、MOS型FETQ8の寄生
ダイオードを通じてフライバックトランスT5の磁気エ
ネルギーが二次側に放出され、コンデンサC4が充電さ
れて行く。
【0031】ところで、このフライバック方式のスイッ
チング電源装置においては、フライバックトランスT5
からの磁気エネルギーの放出が終了した後、MOS型F
ETQ5がオフ状態、MOS型FETQ8がオン状態に
あると、コンデンサC4の両端電圧によりフライバック
トランスT5に磁気エネルギーが戻され、効率の低下を
招くことになる。そこで本実施例では、フライバックト
ランスTのインダクタ電流が零になったことをドライブ
禁止信号生成回路CC5にて検出し、ドライブ禁止信号
を二次側制御回路CC6に送ってMOS型FETQ8の
ゲートドライブを禁止させる。これにより効率の改善を
実現している。
チング電源装置においては、フライバックトランスT5
からの磁気エネルギーの放出が終了した後、MOS型F
ETQ5がオフ状態、MOS型FETQ8がオン状態に
あると、コンデンサC4の両端電圧によりフライバック
トランスT5に磁気エネルギーが戻され、効率の低下を
招くことになる。そこで本実施例では、フライバックト
ランスTのインダクタ電流が零になったことをドライブ
禁止信号生成回路CC5にて検出し、ドライブ禁止信号
を二次側制御回路CC6に送ってMOS型FETQ8の
ゲートドライブを禁止させる。これにより効率の改善を
実現している。
【0032】次に本発明のさらに他の実施例を説明す
る。
る。
【0033】図5は図1のMOS型FETの制御方式を
ハーフブリッジ方式及びプッシュブル方式のスイッチン
グ電源装置に適用した場合の構成を示す図である。同図
に示す電源装置において、トランスT1の出力巻線には
中間タップが設けられている。この中間タップを挟んだ
出力巻線の両端にはそれぞれ整流素子としてのMOS型
FETQ3、Q4のドレイン側が接続されている。そし
て各MOS型FETQ3、Q4のソース側同士が接続さ
れている。各MOS型FETQ3、Q4はそれぞれ別個
の制御回路CC6−1、CC6−2によってドライブが
制御されるようになっている。
ハーフブリッジ方式及びプッシュブル方式のスイッチン
グ電源装置に適用した場合の構成を示す図である。同図
に示す電源装置において、トランスT1の出力巻線には
中間タップが設けられている。この中間タップを挟んだ
出力巻線の両端にはそれぞれ整流素子としてのMOS型
FETQ3、Q4のドレイン側が接続されている。そし
て各MOS型FETQ3、Q4のソース側同士が接続さ
れている。各MOS型FETQ3、Q4はそれぞれ別個
の制御回路CC6−1、CC6−2によってドライブが
制御されるようになっている。
【0034】図6は各MOS型FETQ3、Q4の動作
波形を示す図である。各制御回路CC6−1、CC6−
2による個々のMOS型FETQ3、Q4のドライブ制
御の方法は図1の実施例で説明した通りである。つま
り、各MOS型FETQ3、Q4はそれぞれ、自MOS
型FETのドレイン電圧が立ち下がってからオン状態に
なり、次のドレイン正電圧の印加前にオフ状態となるよ
うにそれぞれ制御される。この場合、各MOS型FET
Q3、Q4間のオン/オフは両者のオン期間が重ならな
いように交互に行われる。
波形を示す図である。各制御回路CC6−1、CC6−
2による個々のMOS型FETQ3、Q4のドライブ制
御の方法は図1の実施例で説明した通りである。つま
り、各MOS型FETQ3、Q4はそれぞれ、自MOS
型FETのドレイン電圧が立ち下がってからオン状態に
なり、次のドレイン正電圧の印加前にオフ状態となるよ
うにそれぞれ制御される。この場合、各MOS型FET
Q3、Q4間のオン/オフは両者のオン期間が重ならな
いように交互に行われる。
【0035】ここで、MOS型FETにショート電流を
流さないための条件の成立性について述べる。まずdof
f1<tdon4 の条件は、本実施例の場合、MOS型FE
TQ4のドレイン電圧の立ち下がりと同時にゲート電圧
がオンすることから自動的に満足することになる。don
1 >tdoFF4の条件に関しては、図6中のTCR4 の時間
(ドレイン電圧が立ち上ってからゲート電圧が立ち下が
るまでの時間)をスイッチング1周期の時間Tよりも短
く設定することで満たされる。
流さないための条件の成立性について述べる。まずdof
f1<tdon4 の条件は、本実施例の場合、MOS型FE
TQ4のドレイン電圧の立ち下がりと同時にゲート電圧
がオンすることから自動的に満足することになる。don
1 >tdoFF4の条件に関しては、図6中のTCR4 の時間
(ドレイン電圧が立ち上ってからゲート電圧が立ち下が
るまでの時間)をスイッチング1周期の時間Tよりも短
く設定することで満たされる。
【0036】なお、本実施例においては、負荷電流が小
さくなると各MOS型FETQ3、Q4共にドレインに
正電圧が印加されない期間でインダクタL1の電流が負
荷側からトランスT1側に戻され、効率の低下を招くこ
とになる。これを防止するため、本実施例では、負荷電
流の低下によってインダクタL1の電流が零になったこ
とをドライブ禁止信号生成回路CC5にて検出し、ドラ
イブ禁止信号を二次側制御回路CC6−1、CC6−2
に送ってMOS型FETQ3、Q4のゲートドライブを
禁止させる。これにより効率の改善を実現している。
さくなると各MOS型FETQ3、Q4共にドレインに
正電圧が印加されない期間でインダクタL1の電流が負
荷側からトランスT1側に戻され、効率の低下を招くこ
とになる。これを防止するため、本実施例では、負荷電
流の低下によってインダクタL1の電流が零になったこ
とをドライブ禁止信号生成回路CC5にて検出し、ドラ
イブ禁止信号を二次側制御回路CC6−1、CC6−2
に送ってMOS型FETQ3、Q4のゲートドライブを
禁止させる。これにより効率の改善を実現している。
【0037】図7は図5に示したハーフブリッジ方式及
びプッシュブル方式のスイッチング電源装置の二次側回
路の結線方法を変えた例である。このように、各制御回
路CC6−1、CC6−2は出力GNDと共有化しなけ
ればならないラインを持たないため、各MOS型FET
Q3、Q4の配置の自由度が、各制御回路CC6−1、
CC6−2のドレイン電圧検出線の接続によって失われ
る心配はない。
びプッシュブル方式のスイッチング電源装置の二次側回
路の結線方法を変えた例である。このように、各制御回
路CC6−1、CC6−2は出力GNDと共有化しなけ
ればならないラインを持たないため、各MOS型FET
Q3、Q4の配置の自由度が、各制御回路CC6−1、
CC6−2のドレイン電圧検出線の接続によって失われ
る心配はない。
【0038】次に、図5に示したハーフブリッジ方式及
びプッシュブル方式のスイッチング電源装置に適用可能
な二次側制御回路の他の構成例を説明する。
びプッシュブル方式のスイッチング電源装置に適用可能
な二次側制御回路の他の構成例を説明する。
【0039】図8にその制御回路を含む二次側回路の構
成を示す。なお、同図に示す二次側回路の構成は図5に
示したハーフブリッジ方式あるいはプッシュブル方式の
スイッチング電源装置の二次側回路とまったく同じであ
る。
成を示す。なお、同図に示す二次側回路の構成は図5に
示したハーフブリッジ方式あるいはプッシュブル方式の
スイッチング電源装置の二次側回路とまったく同じであ
る。
【0040】同図において、C22、D21、R21はMOS
型FETQ3のドレイン電圧の立ち下がり微分パルスを
発生する回路(第1微分パルス発生回路)を構成するコ
ンデンサ、ダイオード及び抵抗である。C23、D22、R
22はMOS型FETQ4のドレイン電圧の立ち下がり微
分パルスを発生する回路(第2微分パルス発生回路)を
構成するコンデンサ、ダイオード及び抵抗である。IC
1-1 、IC1-2 はフリップフロップを構成する2つのN
ANDゲートである。IC2-1 及びIC2-2 はANDゲ
ートである。ANDゲートIC2-1 の出力はMOS型F
ETQ4にゲートドライブ信号として供給される。AN
DゲートIC2-2 の出力はMOS型FETQ3にゲート
ドライブ信号として供給される。C24、D23、R23はN
ANDゲートIC1-2 の出力から一定時間幅のパルス信
号を発生してANDゲートIC2-1 に入力する第1パル
ス信号発生回路である。C25、D24、R24はNANDゲ
ートIC1-1 の出力から一定時間幅のパルス信号を発生
してANDゲートIC2-2に入力する第2のパルス信号
発生回路である。
型FETQ3のドレイン電圧の立ち下がり微分パルスを
発生する回路(第1微分パルス発生回路)を構成するコ
ンデンサ、ダイオード及び抵抗である。C23、D22、R
22はMOS型FETQ4のドレイン電圧の立ち下がり微
分パルスを発生する回路(第2微分パルス発生回路)を
構成するコンデンサ、ダイオード及び抵抗である。IC
1-1 、IC1-2 はフリップフロップを構成する2つのN
ANDゲートである。IC2-1 及びIC2-2 はANDゲ
ートである。ANDゲートIC2-1 の出力はMOS型F
ETQ4にゲートドライブ信号として供給される。AN
DゲートIC2-2 の出力はMOS型FETQ3にゲート
ドライブ信号として供給される。C24、D23、R23はN
ANDゲートIC1-2 の出力から一定時間幅のパルス信
号を発生してANDゲートIC2-1 に入力する第1パル
ス信号発生回路である。C25、D24、R24はNANDゲ
ートIC1-1 の出力から一定時間幅のパルス信号を発生
してANDゲートIC2-2に入力する第2のパルス信号
発生回路である。
【0041】次に、この制御回路の動作を図9を参照し
ながら説明する。同図において、(a)(b)はMOS
型FETQ3及びMOS型FETQ4のドレイン電圧で
ある。制御回路では、個々の微分パルス発生回路にてこ
れらMOS型FETQ3、Q4のドレイン電圧の立ち下
がりを検出し、その検出信号であるドレイン電圧立ち下
がり微分信号(c)(d)を各NANDゲートIC1-1
、IC1-2 に入力する。各NANDゲートIC1-1 、
IC1-2 はフリップフロップを構成しており、上記各検
出信号を交互に入力する度にセット/リセットを繰り返
して各出力端から互いに極性の異なる信号を出力する。
各NANDゲートIC1-1 、IC1-2 の出力はANDゲ
ートC2-1 、C2-2 の各一方の入力端に直接入力される
と共にパルス信号発生回路に入力される。各パルス信号
発生回路は一定時間パルスを発生し、それぞれ対応する
ANDゲートC2-1 、C2-2 の各他方の入力端に入力す
る。 ここで、各パルス信号発生回路が発生するパルス
の長さT′CRは、図10に示すように、MOS型FET
Q3のドレイン電圧が立ち下がってパルスが発生したと
すると、MOS型FETQ4のドレイン電圧の立ち下が
り時点と次にMOS型FETQ3のドレイン電圧の立ち
上がり時点との間にパルスの末端がくるように設定され
ている。
ながら説明する。同図において、(a)(b)はMOS
型FETQ3及びMOS型FETQ4のドレイン電圧で
ある。制御回路では、個々の微分パルス発生回路にてこ
れらMOS型FETQ3、Q4のドレイン電圧の立ち下
がりを検出し、その検出信号であるドレイン電圧立ち下
がり微分信号(c)(d)を各NANDゲートIC1-1
、IC1-2 に入力する。各NANDゲートIC1-1 、
IC1-2 はフリップフロップを構成しており、上記各検
出信号を交互に入力する度にセット/リセットを繰り返
して各出力端から互いに極性の異なる信号を出力する。
各NANDゲートIC1-1 、IC1-2 の出力はANDゲ
ートC2-1 、C2-2 の各一方の入力端に直接入力される
と共にパルス信号発生回路に入力される。各パルス信号
発生回路は一定時間パルスを発生し、それぞれ対応する
ANDゲートC2-1 、C2-2 の各他方の入力端に入力す
る。 ここで、各パルス信号発生回路が発生するパルス
の長さT′CRは、図10に示すように、MOS型FET
Q3のドレイン電圧が立ち下がってパルスが発生したと
すると、MOS型FETQ4のドレイン電圧の立ち下が
り時点と次にMOS型FETQ3のドレイン電圧の立ち
上がり時点との間にパルスの末端がくるように設定され
ている。
【0042】したがって、各MOS型FETQ3、Q4
のドレイン電圧が正常なタイミングで発生している場
合、各ANDゲートC2-1 、C2-2 の出力つまり各ゲー
トドライブ信号は、図9(e)(f)に示すように、各
NANDゲートIC1-1 、IC1-2 の出力とまったく同
じものとなる。すなわち、Q3のMOS型FETのドレ
イン電圧が立ち下がったタイミングでQ3のMOS型F
ETへのゲートドライブ信号がオン状態となり、Q4の
MOS型FETへのゲートドライブ信号がオフ状態とな
る。同様にQ4のMOS型FETのドレイン電圧が立ち
下がったタイミングで、Q4のMOS型FETへのゲー
トドライブ信号がオン状態となり、Q3のMOS型FE
Tへのゲートドライブ信号がオフ状態となる。
のドレイン電圧が正常なタイミングで発生している場
合、各ANDゲートC2-1 、C2-2 の出力つまり各ゲー
トドライブ信号は、図9(e)(f)に示すように、各
NANDゲートIC1-1 、IC1-2 の出力とまったく同
じものとなる。すなわち、Q3のMOS型FETのドレ
イン電圧が立ち下がったタイミングでQ3のMOS型F
ETへのゲートドライブ信号がオン状態となり、Q4の
MOS型FETへのゲートドライブ信号がオフ状態とな
る。同様にQ4のMOS型FETのドレイン電圧が立ち
下がったタイミングで、Q4のMOS型FETへのゲー
トドライブ信号がオン状態となり、Q3のMOS型FE
Tへのゲートドライブ信号がオフ状態となる。
【0043】次に、パルス信号発生回路の出力パルスが
有効に働く場合の動作を説明する。図10は、その
(a)(b)に示すように、Q3のMOS型FETのド
レイン電圧立ち下がりの後にQ4のMOS型FETのド
レイン電圧が発生せずに、Q3ドレイン電圧が立ち上が
った場合の動作波形を示している。この場合、図10
(e)に示すように、Q3のMOS型FETへのゲート
ドライブ信号はオン状態のままとなるためQ3のMOS
型FETにショート電流が流れる。図10(e)の斜線
部はショート電流発生の期間を示している。
有効に働く場合の動作を説明する。図10は、その
(a)(b)に示すように、Q3のMOS型FETのド
レイン電圧立ち下がりの後にQ4のMOS型FETのド
レイン電圧が発生せずに、Q3ドレイン電圧が立ち上が
った場合の動作波形を示している。この場合、図10
(e)に示すように、Q3のMOS型FETへのゲート
ドライブ信号はオン状態のままとなるためQ3のMOS
型FETにショート電流が流れる。図10(e)の斜線
部はショート電流発生の期間を示している。
【0044】そこで前述したように、パルス信号発生回
路からANDゲートC2-1 、C2-2に長さをT′CRに制
限したパルスを入力し、図10(f)に示すように、次
のドレイン電圧が立ち上がる前にゲートドライブ信号を
T′CRの長さで強制的にオフにする。
路からANDゲートC2-1 、C2-2に長さをT′CRに制
限したパルスを入力し、図10(f)に示すように、次
のドレイン電圧が立ち上がる前にゲートドライブ信号を
T′CRの長さで強制的にオフにする。
【0045】以上本発明の実施例をいくつか説明した
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
い。例えば、図1及び図8に示した制御回路CC6の構
成において、ドレイン電圧の立ち上がりまたは立ち下が
り微分信号を入力としてゲートドライブ信号のオン/オ
フ切り替えタイミングを生成する部分の回路ブロックC
B1を、論理ゲートではなくタイマー回路を用いて構成
してもよい。
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
い。例えば、図1及び図8に示した制御回路CC6の構
成において、ドレイン電圧の立ち上がりまたは立ち下が
り微分信号を入力としてゲートドライブ信号のオン/オ
フ切り替えタイミングを生成する部分の回路ブロックC
B1を、論理ゲートではなくタイマー回路を用いて構成
してもよい。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように本発明の整流回路及
び電源装置によれば、MOS型FETを整流素子として
用いる場合のMOS型FETの最適なオン/オフ切替タ
イミングをMOS型FETのドレイン電圧の監視するだ
けで得ることができ、これにより、前記タイミング確保
のための一次側/二次側制御回路間での制御信号の伝送
が不要となって一次側/二次側制御回路間のパルストラ
ンス等を排除することが可能になり、コスト低減及び小
形化を図ることができる。
び電源装置によれば、MOS型FETを整流素子として
用いる場合のMOS型FETの最適なオン/オフ切替タ
イミングをMOS型FETのドレイン電圧の監視するだ
けで得ることができ、これにより、前記タイミング確保
のための一次側/二次側制御回路間での制御信号の伝送
が不要となって一次側/二次側制御回路間のパルストラ
ンス等を排除することが可能になり、コスト低減及び小
形化を図ることができる。
【図1】本発明に係る一実施例のフォワード方式のスイ
ッチング電源装置の構成を示す回路図である。
ッチング電源装置の構成を示す回路図である。
【図2】図1中のドライブ禁止信号生成回路の動作を説
明するための各信号波形を示す図である。
明するための各信号波形を示す図である。
【図3】図1中の二次側制御回路によるゲートドライブ
信号生成の動作を説明するための各信号波形を示す図で
ある。
信号生成の動作を説明するための各信号波形を示す図で
ある。
【図4】本発明の他の実施例のフライバック方式のスイ
ッチング電源装置の構成を示す図である。
ッチング電源装置の構成を示す図である。
【図5】本発明のさらに他の実施例のハーフブリッジ方
式及びプッシュブル方式のスイッチング電源装置を示す
図である。
式及びプッシュブル方式のスイッチング電源装置を示す
図である。
【図6】図5に示すスイッチング電源装置内の各MOS
型FETのドレイン・ゲート電圧波形を示す図である。
型FETのドレイン・ゲート電圧波形を示す図である。
【図7】図5に示すスイッチング電源装置の変形例を示
す図である。
す図である。
【図8】ハーフブリッジ方式及びプッシュブル方式のス
イッチング電源装置に適用可能な二次側制御回路の他の
構成例を示す図である。
イッチング電源装置に適用可能な二次側制御回路の他の
構成例を示す図である。
【図9】図8の制御回路内の各信号波形を示す図であ
る。
る。
【図10】ドレイン電圧が発生しなかった場合の動作を
説明するための図8の制御回路内の各信号波形を示す図
である。
説明するための図8の制御回路内の各信号波形を示す図
である。
【図11】従来のスイッチング電源装置を示す回路図で
ある。
ある。
【図12】図11における各MOS型FETへのドライ
ブ信号のタイミングを示す図である。
ブ信号のタイミングを示す図である。
【図13】他の従来のスイッチング電源装置を示す回路
図である。
図である。
1…直流電源、T1…トランス、Q5…MOS型FE
T、D2…ダイオード、Q5…スイッチング用のMOS
型FET、Q6…整流用のMOS型FET、L1…イン
ダクタ、C3…コンデンサ、CC4…一次側制御回路、
CC5…ドライブ禁止信号生成回路、CC6…二次側制
御回路、AUX2…補助電源回路、C11、R11、D11、
IC12-2…微分パルス発生回路、IC14-1、IC14-2…
フリップフロップ(NANDゲート)、D12、R12、C
12はパルス発生回路、IC12-1…インバータ、IC11…
3入力ANDゲート。
T、D2…ダイオード、Q5…スイッチング用のMOS
型FET、Q6…整流用のMOS型FET、L1…イン
ダクタ、C3…コンデンサ、CC4…一次側制御回路、
CC5…ドライブ禁止信号生成回路、CC6…二次側制
御回路、AUX2…補助電源回路、C11、R11、D11、
IC12-2…微分パルス発生回路、IC14-1、IC14-2…
フリップフロップ(NANDゲート)、D12、R12、C
12はパルス発生回路、IC12-1…インバータ、IC11…
3入力ANDゲート。
Claims (9)
- 【請求項1】 MOS型FETを整流素子として用いて
構成される整流回路において、 前記MOS型FETのドレインに印加される正電圧の立
ち上がりを検出する検出手段と、 前記検出手段により検出された正電圧の立ち上がりのタ
イミングを基準として、少なくとも前記ドレインに正電
圧が印加される間は前記MOS型FETがオフとなる、
前記MOS型FETの最適なオン/オフ切替タイミング
を生成するタイミング生成手段と、 前記タイミング生成手段によって生成されたオン/オフ
切替タイミングに従って、前記MOS型FETにゲート
ドライブ信号を出力するドライブ信号出力手段とを具備
することを特徴とする整流回路。 - 【請求項2】 MOS型FETを二次側整流素子として
用いて構成される整流回路において、 前記MOS型FETのドレインに印加される正電圧の立
ち下がりを検出する検出手段と、 前記検出手段により検出された正電圧の立ち下がりのタ
イミングを基準として、少なくとも前記ドレインに正電
圧が印加される間は前記MOS型FETがオフとなる、
前記MOS型FETの最適なオン/オフ切替タイミング
を生成するタイミング生成手段と、 前記タイミング生成手段によって生成されたオン/オフ
切替タイミングに従って、前記MOS型FETにゲート
ドライブ信号を出力するドライブ信号出力手段とを具備
することを特徴とする整流回路。 - 【請求項3】 請求項1記載の整流回路において、 前記タイミング生成手段は、 前記検出手段によって検出された正電圧の立ち上がりタ
イミングから、この正電圧の立ち下がり後における所定
時間経過後を、前記MOS型FETをオフに切り替える
タイミングとして生成することを特徴とする整流回路。 - 【請求項4】 請求項1または3記載の整流回路におい
て、 前記タイミング生成手段は、 前記MOS型FETのドレインに正電圧が印加される期
間を検出してこの正電圧印加期間の終了時点を、前記M
OS型FETをオンに切り替えるタイミングとして生成
することを特徴とする整流回路。 - 【請求項5】 請求項1または2記載の整流回路におい
て、 前記MOS型FETのドレインに印加される正電圧を取
り込んで、少なくとも前記タイミング生成手段及び前記
ドライブ信号出力手段を動作させるための直流電源を生
成する直流電源生成手段をさらに具備することを特徴と
する整流回路。 - 【請求項6】 中間タップを挟んで互いに逆極性となる
よう接続された2つの出力巻線を有するトランスと、 前記各出力巻線の前記中間タップと逆側端にドレインが
接続され、かつソース同士が互いに接続された整流用の
2つのMOS型FETと、 前記ソース同士の接続点と前記中間タップとの間に接続
された負荷と、 前記中間タップと前記負荷との間に接続されたインダク
タと、 前記インダクタの電流値を検出する検出手段と、 前記検出手段により検出された電流値が所定値以下とな
った時、前記各MOS型FETのドライブを禁止する禁
止手段とを具備することを特徴とする電源装置。 - 【請求項7】 トランスと、 前記トランスの入力巻線に供給する直流をスイッチング
するスイッチング素子と、 前記トランスの出力巻線に接続された負荷と、 前記トランスの出力巻線と前記負荷との間にドレインを
前記出力巻線側に向けて接続された整流用のMOS型F
ETと、 前記トランスの出力巻線の電流値を検出する検出手段
と、 前記検出手段により検出された電流値が所定値以下とな
った時、前記各MOS型FETのドライブを禁止する禁
止手段とを具備することを特徴とする電源装置。 - 【請求項8】 中間タップを挟んで互いに逆極性となる
よう接続された2つの出力巻線を有するトランスと、 前記各出力巻線の前記中間タップと逆側両端にドレイン
が接続され、かつソース同士が互いに接続された2つの
MOS型FETと、 前記各MOS型FETのドレインに印加される正電圧の
立ち下がりをそれぞれ検出する検出手段と、 前記検出手段により一方の前記MOS型FETのドレイ
ンに印加される正電圧の立ち下がりが検出されたとき、
該MOS型FETをオン状態にすると共に、他方のMO
S型FETをオフ状態にするように前記各MOS型FE
Tのドライブをそれぞれ制御する制御手段とを具備する
ことを特徴とする電源装置。 - 【請求項9】 請求項8記載の電源装置において、 前記制御手段の制御に拘らず、前記MOS型FETのオ
ン状態が同じMOS型FETのドレインに次の正電圧が
印加される前に終了するように、前記MOS型FETの
オン時間を制限する手段をさらに具備することを特徴と
する電源装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33531893A JPH07194107A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 整流回路及び電源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33531893A JPH07194107A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 整流回路及び電源装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07194107A true JPH07194107A (ja) | 1995-07-28 |
Family
ID=18287186
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33531893A Withdrawn JPH07194107A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 整流回路及び電源装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07194107A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19841341A1 (de) * | 1998-09-10 | 2000-03-16 | Bosch Gmbh Robert | Abwärts-Drosselwandler |
WO2013018787A1 (ja) * | 2011-08-04 | 2013-02-07 | 株式会社村田製作所 | スイッチング電源装置 |
JP2014147282A (ja) * | 1999-07-02 | 2014-08-14 | Advanced Energ Ind Inc | Dcコンピュータ構成要素への電力送達を制御するシステム |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP33531893A patent/JPH07194107A/ja not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE19841341A1 (de) * | 1998-09-10 | 2000-03-16 | Bosch Gmbh Robert | Abwärts-Drosselwandler |
US6541947B1 (en) | 1998-09-10 | 2003-04-01 | Robert Bosch Gmbh | Step-down constant-current transformer |
JP2014147282A (ja) * | 1999-07-02 | 2014-08-14 | Advanced Energ Ind Inc | Dcコンピュータ構成要素への電力送達を制御するシステム |
WO2013018787A1 (ja) * | 2011-08-04 | 2013-02-07 | 株式会社村田製作所 | スイッチング電源装置 |
JPWO2013018787A1 (ja) * | 2011-08-04 | 2015-03-05 | 株式会社村田製作所 | スイッチング電源装置 |
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